JP5572145B2 - 複数の電子素子の外観を検出するためのマルチチャンネル検出システム - Google Patents
複数の電子素子の外観を検出するためのマルチチャンネル検出システム Download PDFInfo
- Publication number
- JP5572145B2 JP5572145B2 JP2011230963A JP2011230963A JP5572145B2 JP 5572145 B2 JP5572145 B2 JP 5572145B2 JP 2011230963 A JP2011230963 A JP 2011230963A JP 2011230963 A JP2011230963 A JP 2011230963A JP 5572145 B2 JP5572145 B2 JP 5572145B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electronic elements
- hollow transparent
- rotating disk
- disk structure
- electronic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67242—Apparatus for monitoring, sorting or marking
- H01L21/67271—Sorting devices
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2893—Handling, conveying or loading, e.g. belts, boats, vacuum fingers
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
E1 内側表面
E’ 良品の電子素子
E’’ 不良品の電子素子
E’’’ 再測定の電子素子
1 回転盤モジュール
10 回転底盤構造
11 中空透明回転盤構造
110 インナーサークル領域
111 アウターサークル領域
11A 中空部分
11B インナーサークル部分
11C アウターサークル部分
11R 収容空間
11G 環形案内領域
2 インレットモジュール
20 インレットユニット
200 V形インレット溝
3 無振動モジュール
30 無振動案内ブロック
300 V形無振動案内溝
4 補正モジュール
40 補正ユニット
400 補正素子
400P 電子素子案内通路
5 微調整モジュール
50 微調整ユニット
500 微調整素子
6 検出モジュール
60 電子素子検出ユニット
601 反射鏡
602 画像捕捉レンズ
7 分類モジュール
7A 第1の収容ユニット
7B 第2の収容ユニット
7C 第3の収容ユニット
70A 第1の種類選別入り口
70B 第2の種類選別入り口
70C 第3の種類選別入り口
71A 第1のノズル
71B 第2のノズル
71C 第3のノズル
72A 第1の輸送パイプ
72B 第2の輸送パイプ
72C 第3の輸送パイプ
73A 第1の収集ケース
73B 第2の収集ケース
73C 第3の収集ケース
Claims (10)
- 回転底盤構造と前記回転底盤構造上に設けられた中空透明回転盤構造とを含み、前記中空透明回転盤構造の下表面がインナーサークル領域と前記インナーサークル領域を取り囲むアウターサークル領域とに区画され、前記中空透明回転盤構造の前記インナーサークル領域が前記回転底盤構造によって被覆され、前記中空透明回転盤構造の前記アウターサークル領域が外部に露出され、前記中空透明回転盤構造の上表面に前記アウターサークル領域の上方に位置する少なくとも2つの環形案内領域を有し、複数の電子素子が前記少なくとも2つの環形案内領域上に順に配列されたように構成された回転盤モジュールと、
前記複数の電子素子を案内するための少なくとも2つのV形インレット溝を備えるとともに前記中空透明回転盤構造に隣接する少なくとも1つのインレットユニットを含むインレットモジュールと、
前記中空透明回転盤構造に隣接するとともに前記中空透明回転盤構造と前記インレットユニットとの間に設置される少なくとも1つの無振動案内ブロックを含み、前記少なくとも1つの無振動案内ブロックが、前記少なくとも2つのV形インレット溝にそれぞれ連通するとともに前記少なくとも2つの環形案内領域にそれぞれ対応する少なくとも2つのV形無振動案内溝を備え、前記少なくとも2つのV形インレット溝の内部にある前記複数の電子素子が、前記少なくとも2つのV形無振動案内溝によって前記少なくとも2つの環形案内領域に順に案内されるように構成された無振動モジュールと、
前記中空透明回転盤構造に隣接するとともに前記中空透明回転盤構造を順に取り囲む複数の電子素子検出ユニットを含む検出モジュールと、
前記中空透明回転盤構造に隣接するとともに前記インレットモジュールと前記複数の電子素子検出ユニットのうちの最後の1つの電子素子検出ユニットとの間に設置される分類モジュールと、を備え、
前記中空透明回転盤構造は、中空部分と、前記中空部分を取り囲むインナーサークル部分と、前記インナーサークル部分を取り囲むアウターサークル部分とに区画され、
前記中空透明回転盤構造の前記中空部分は、前記回転底盤構造上に位置することで収容空間が形成され、
前記中空透明回転盤構造の前記インナーサークル部分は、前記回転底盤構造上に設けられ、
前記中空透明回転盤構造の前記アウターサークル部分は、懸架され、
前記少なくとも2つの環形案内領域は、前記中空透明回転盤構造の前記アウターサークル部分上に位置することを特徴とする複数の電子素子の外観を検出するためのマルチチャンネル検出システム。 - 前記回転底盤構造は、非中空の金属底盤であり、
前記中空透明回転盤構造は、前記回転底盤構造上に固定された透明ガラス回転盤であることを特徴とする請求項1に記載の複数の電子素子の外観を検出するためのマルチチャンネル検出システム。 - 前記複数の電子素子検出ユニットの一部は、前記収容空間の内部及び上方に設けられ、
前記収容空間の内部及び上方に設けられた前記複数の電子素子検出ユニットは、反射鏡と前記反射鏡の上方に設けられた画像捕捉レンズとをそれぞれ備えることを特徴とする請求項1に記載の複数の電子素子の外観を検出するためのマルチチャンネル検出システム。 - 前記少なくとも1つの無振動案内ブロックと前記少なくとも1つのインレットユニットとは、それぞれの前記電子素子の長さよりも短い距離だけ離間され、
前記少なくとも1つの無振動案内ブロックと前記中空透明回転盤構造とは、所定の距離だけ互いに離間されることを特徴とする請求項1に記載の複数の電子素子の外観を検出するためのマルチチャンネル検出システム。 - 前記複数の電子素子は、前記複数の電子素子検出ユニットの検出によって複数の良品の電子素子と、複数の不良品の電子素子と、複数の再測定の電子素子とに分類され、
前記分類モジュールは、
前記複数の良品の電子素子を収集するための少なくとも1つの第1の収容ユニットと、
前記複数の不良品の電子素子を収集するための少なくとも1つの第2の収容ユニットと、
前記複数の再測定の電子素子を収集するための少なくとも1つの第3の収容ユニットと、を備える
ことを特徴とする請求項1に記載の複数の電子素子の外観を検出するためのマルチチャンネル検出システム。 - 前記少なくとも1つの第1の収容ユニットは、
少なくとも2つの第1の種類選別入り口と、
前記中空透明回転盤構造の上方に設けられ、前記少なくとも2つの環形案内領域上に位置する前記複数の良品の電子素子を前記少なくとも2つの第1の種類選別入り口内に吹き付けるための少なくとも2つの第1のノズルと、
前記少なくとも2つの第1の種類選別入り口にそれぞれ連通された少なくとも2つの第1の輸送パイプと、
前記少なくとも2つの第1の輸送パイプに連通された少なくとも1つの第1の収集ケースと、
を備えることを特徴とする請求項5に記載の複数の電子素子の外観を検出するためのマルチチャンネル検出システム。 - 前記少なくとも1つの第2の収容ユニットは、
少なくとも2つの第2の種類選別入り口と、
前記中空透明回転盤構造の上方に設けられ、前記少なくとも2つの環形案内領域上に位置する前記複数の不良品の電子素子を前記少なくとも2つの第2の種類選別入り口内に吹き付けるための少なくとも2つの第2のノズルと、
前記少なくとも2つの第2の種類選別入り口にそれぞれ連通された少なくとも2つの第2の輸送パイプと、
前記少なくとも2つの第2の輸送パイプに連通された少なくとも1つの第2の収集ケースと、
を備えることを特徴とする請求項5に記載の複数の電子素子の外観を検出するためのマルチチャンネル検出システム。 - 前記少なくとも1つの第3の収容ユニットは、
少なくとも2つの第3の種類選別入り口と、
前記中空透明回転盤構造の上方に設けられ、前記少なくとも2つの環形案内領域上に位置する前記複数の再測定の電子素子を前記少なくとも2つの第3の種類選別入り口内に吹き付けるための少なくとも2つの第3のノズルと、
前記少なくとも2つの第3の種類選別入り口にそれぞれ連通された少なくとも2つの第3の輸送パイプと、
前記少なくとも2つの第3の輸送パイプに連通された少なくとも1つの第3の収集ケースと、
を備えることを特徴とする請求項5に記載の複数の電子素子の外観を検出するためのマルチチャンネル検出システム。 - 前記中空透明回転盤構造の上方に設けられた少なくとも2つの補正ユニットを含む補正モジュールをさらに備え、
前記2つの補正ユニットは、互いに組み合わせられ前記複数の電子素子のそれぞれの方位を補正するための少なくとも2つの補正素子をそれぞれ含み、
前記少なくとも2つの補正素子は、所定の距離だけ互いに離間され、前記少なくとも2つの補正素子の間に位置する電子素子案内通路が形成されることを特徴とする請求項1に記載の複数の電子素子の外観を検出するためのマルチチャンネル検出システム。 - 前記中空透明回転盤構造の上方に設けられるとともに前記少なくとも2つの補正ユニットにそれぞれ隣接された少なくとも2つの微調整ユニットを含む微調整モジュールをさらに備え、
前記少なくとも2つの微調整ユニットのそれぞれは、前記少なくとも2つの環形案内領域の内側近傍に位置しており、前記複数の電子素子のそれぞれの方位を微調整するために前記複数の電子素子のそれぞれの内側表面に接触する少なくとも1つの微調整素子を備えることを特徴とする請求項9に記載の複数の電子素子の外観を検出するためのマルチチャンネル検出システム。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW100110563 | 2011-03-28 | ||
TW100110563A TWI421488B (zh) | 2011-03-28 | 2011-03-28 | 用於檢測多個電子元件外觀的多軌式檢測系統 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012208107A JP2012208107A (ja) | 2012-10-25 |
JP5572145B2 true JP5572145B2 (ja) | 2014-08-13 |
Family
ID=46926366
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011230963A Active JP5572145B2 (ja) | 2011-03-28 | 2011-10-20 | 複数の電子素子の外観を検出するためのマルチチャンネル検出システム |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8525524B2 (ja) |
JP (1) | JP5572145B2 (ja) |
KR (1) | KR101340196B1 (ja) |
TW (1) | TWI421488B (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102233906B1 (ko) * | 2016-10-19 | 2021-03-30 | 주식회사 코글릭스 | 검사 방법 및 장치 |
TWI649571B (zh) * | 2018-06-05 | 2019-02-01 | 華邦電子股份有限公司 | 電子元件檢測設備 |
CN110567365A (zh) * | 2019-07-26 | 2019-12-13 | 艾力机器人科技(苏州)有限公司 | 一种手机零件自动检测装置 |
CN113560212A (zh) * | 2021-07-27 | 2021-10-29 | 浙江安瑞电器有限公司 | 一种换向器外壁的在线影像检测设备 |
Family Cites Families (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2458956A1 (fr) * | 1979-06-12 | 1981-01-02 | Thomson Csf | Systeme de liaison optique pour l'echange bidirectionnel de donnees entre une unite centrale et des unites peripheriques et antenne a balayage electronique comportant un tel systeme |
JPH0654226B2 (ja) * | 1988-03-31 | 1994-07-20 | ティーディーケイ株式会社 | チップ状部品の自動外観検査機 |
JP2585133B2 (ja) * | 1990-08-24 | 1997-02-26 | ティーディーケイ株式会社 | 部品外観選別装置 |
JPH0587744A (ja) * | 1991-03-01 | 1993-04-06 | Fujisawa Pharmaceut Co Ltd | 物品の表面検査方法およびそれに使用する装置 |
JPH05142154A (ja) * | 1991-11-18 | 1993-06-08 | Shikoku Seisakusho:Kk | 穀粒の等級判別装置 |
JPH05249049A (ja) * | 1992-03-09 | 1993-09-28 | Komatsu Ltd | 部品の外観検査装置 |
JPH06307828A (ja) * | 1993-04-23 | 1994-11-04 | Seiko Instr Inc | 部品検査装置及びその装置を用いた検査方法 |
JP2757776B2 (ja) * | 1994-05-24 | 1998-05-25 | ニチデン機械株式会社 | ワーク外観検査装置 |
JP3382741B2 (ja) * | 1995-01-31 | 2003-03-04 | 三井化学株式会社 | 樹脂ペレットの検査方法及び装置 |
JP4345148B2 (ja) * | 1999-07-30 | 2009-10-14 | 株式会社サタケ | 米粒品位判別装置 |
JP4653279B2 (ja) * | 1999-04-23 | 2011-03-16 | 第一三共株式会社 | 粉体検査装置 |
JP2001305061A (ja) * | 2000-04-24 | 2001-10-31 | Kitamura Masahiro | ワークの検査装置 |
JP2002205019A (ja) * | 2001-01-11 | 2002-07-23 | Daily Foods Kk | 自動選別装置 |
JP2002319021A (ja) * | 2001-04-19 | 2002-10-31 | Murata Mfg Co Ltd | 二値化処理方法、外観検査方法および外観検査装置 |
JP2002310935A (ja) * | 2001-04-19 | 2002-10-23 | Murata Mfg Co Ltd | 照明条件抽出方法、照明条件抽出装置、外観検査システム |
JP3855733B2 (ja) * | 2001-10-30 | 2006-12-13 | 株式会社村田製作所 | 電子部品の外観検査装置および外観検査方法 |
KR100527211B1 (ko) * | 2005-02-28 | 2005-11-08 | 윈텍 주식회사 | 전자부품 검사 시스템 |
JP2007285844A (ja) * | 2006-04-17 | 2007-11-01 | Okano Denki Kk | 外観検査装置 |
KR100924575B1 (ko) * | 2007-10-24 | 2009-11-02 | (주)알티에스 | 전자부품 검사장치 |
TW200942824A (en) * | 2008-04-07 | 2009-10-16 | Youngtek Electronics Corp | Testing system and method for electronic devices |
JP4867972B2 (ja) * | 2008-10-27 | 2012-02-01 | Tdk株式会社 | 外観検査装置 |
KR101056105B1 (ko) * | 2009-01-20 | 2011-08-10 | (주)알티에스 | 전자부품 검사기의 분류장치 |
TWI369331B (en) * | 2009-02-02 | 2012-08-01 | Detection system for detection the appearance of many electronic elements | |
TWM358971U (en) * | 2009-02-04 | 2009-06-11 | Youngtek Electronics Corp | Inspection system for inspecting appearance of multiple electronic components |
JP4868017B2 (ja) * | 2009-03-27 | 2012-02-01 | Tdk株式会社 | 外観検査装置 |
JP4905495B2 (ja) * | 2009-04-10 | 2012-03-28 | Tdk株式会社 | 外観検査装置 |
TWM374570U (en) * | 2009-05-27 | 2010-02-21 | Wu mao xiang | Rotary plate-type substrate testing mechanism |
US8803515B2 (en) * | 2010-02-10 | 2014-08-12 | Jentek Sensors, Inc. | Durability enhanced and redundant embedded sensors |
US8564304B2 (en) * | 2010-04-23 | 2013-10-22 | AFA Micro Co. | Integrated circuit device test apparatus |
-
2011
- 2011-03-28 TW TW100110563A patent/TWI421488B/zh active
- 2011-06-27 US US13/169,086 patent/US8525524B2/en active Active
- 2011-10-20 JP JP2011230963A patent/JP5572145B2/ja active Active
- 2011-11-08 KR KR1020110115683A patent/KR101340196B1/ko active IP Right Grant
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR101340196B1 (ko) | 2013-12-10 |
TWI421488B (zh) | 2014-01-01 |
US20120249156A1 (en) | 2012-10-04 |
US8525524B2 (en) | 2013-09-03 |
KR20120109977A (ko) | 2012-10-09 |
JP2012208107A (ja) | 2012-10-25 |
TW201239312A (en) | 2012-10-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5572145B2 (ja) | 複数の電子素子の外観を検出するためのマルチチャンネル検出システム | |
US11714250B2 (en) | Welding structure for optical module and application thereof | |
CN101427563B (zh) | 复眼方式的照相机模块 | |
JP2006211648A (ja) | 光学フィルターの異物不良を最小化したカメラモジュール | |
CN112098333B (zh) | 高精度的成像系统、方法、图像采集装置及检测设备 | |
US9097878B2 (en) | Image capture module | |
CN104103657A (zh) | 晶圆级阵列相机及其制造方法 | |
JP2012058379A (ja) | 固体撮像装置 | |
JP2017191003A (ja) | 透明板表面検査装置、透明板表面検査方法、およびガラス板の製造方法 | |
KR101474969B1 (ko) | 기판 처리 장치, 투광 부재 및 뷰포트를 갖는 챔버 | |
TWI432815B (zh) | 鏡頭模組 | |
KR101796931B1 (ko) | 렌즈 어셈블리 결함 검사장치 | |
US7457051B2 (en) | Imaging apparatus | |
JP3169547U (ja) | マルチチャンネル検出装置 | |
JP5418458B2 (ja) | 光学式変位センサの調整方法、光学式変位センサの製造方法、および光学式変位センサ | |
JP6598405B2 (ja) | レンズモジュール | |
JP5621615B2 (ja) | 撮像装置 | |
JP4714619B2 (ja) | カメラ装置および撮像装置 | |
JP5614207B2 (ja) | 撮像装置及び撮像装置における視軸整合方法 | |
TW201307982A (zh) | 相機模組 | |
JP2007295140A (ja) | 撮像装置 | |
KR20100020200A (ko) | 3차원 영상 획득을 위한 스테레오 비젼 카메라 | |
JP2008164565A (ja) | 撮像ユニット及びこれを用いた外観検査装置 | |
JP2007065335A (ja) | 撮像装置 | |
JP2012199633A (ja) | 撮像素子及び該撮像素子を備えた撮像装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130705 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130709 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20131003 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140603 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140627 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5572145 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |