JP5567908B2 - ３次元計測装置、その計測方法及びプログラム - Google Patents

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Families Citing this family (53)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9607239B2 (en) 2010-01-20 2017-03-28 Faro Technologies, Inc. Articulated arm coordinate measurement machine having a 2D camera and method of obtaining 3D representations
US9879976B2 (en) 2010-01-20 2018-01-30 Faro Technologies, Inc. Articulated arm coordinate measurement machine that uses a 2D camera to determine 3D coordinates of smoothly continuous edge features
JP5624394B2 (ja) 2010-07-16 2014-11-12 キヤノン株式会社 位置姿勢計測装置、その計測処理方法及びプログラム
TWI420081B (zh) * 2010-07-27 2013-12-21 Pixart Imaging Inc 測距系統及測距方法
JP5671281B2 (ja) 2010-08-20 2015-02-18 キヤノン株式会社 位置姿勢計測装置、位置姿勢計測装置の制御方法及びプログラム
JP5839971B2 (ja) * 2010-12-14 2016-01-06 キヤノン株式会社 情報処理装置、情報処理方法及びプログラム
JP5138119B2 (ja) * 2011-04-25 2013-02-06 三洋電機株式会社 物体検出装置および情報取得装置
US9182221B2 (en) * 2011-06-13 2015-11-10 Canon Kabushiki Kaisha Information processing apparatus and information processing method
US8447443B1 (en) 2011-06-21 2013-05-21 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Systems and methods for peak-seeking control
JP6143747B2 (ja) * 2011-06-24 2017-06-07 ソフトキネティック ソフトウェア 深度測定の品質の向上
US9279661B2 (en) * 2011-07-08 2016-03-08 Canon Kabushiki Kaisha Information processing apparatus and information processing method
US9437005B2 (en) 2011-07-08 2016-09-06 Canon Kabushiki Kaisha Information processing apparatus and information processing method
JP5777507B2 (ja) 2011-12-27 2015-09-09 キヤノン株式会社 情報処理装置、情報処理方法、及びそのプログラム
JP6004809B2 (ja) 2012-03-13 2016-10-12 キヤノン株式会社 位置姿勢推定装置、情報処理装置、情報処理方法
US8690063B2 (en) * 2012-05-01 2014-04-08 Symbol Technologies, Inc. Apparatus for and method of electro-optically reading direct part marking indicia by image capture
JP6092530B2 (ja) * 2012-06-18 2017-03-08 キヤノン株式会社 画像処理装置、画像処理方法
WO2014064990A1 (ja) * 2012-10-25 2014-05-01 シャープ株式会社 平面検出装置、平面検出装置を備えた自律移動装置、路面段差検出方法、路面段差検出装置、および路面段差検出装置を備えた車両
JP6030405B2 (ja) * 2012-10-25 2016-11-24 シャープ株式会社 平面検出装置およびそれを備えた自律移動装置
JP5818773B2 (ja) * 2012-11-22 2015-11-18 キヤノン株式会社 画像処理装置、画像処理方法及びプログラム
JP6091864B2 (ja) * 2012-11-27 2017-03-08 株式会社キーエンス 形状測定装置、形状測定方法および形状測定プログラム
EP2939423A1 (en) * 2012-12-28 2015-11-04 Metaio GmbH Method of and system for projecting digital information on a real object in a real environment
JP2014185996A (ja) * 2013-03-25 2014-10-02 Toshiba Corp 計測装置
CN104344795A (zh) * 2013-07-24 2015-02-11 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 点云剖面量测系统及方法
CN104424655A (zh) * 2013-09-10 2015-03-18 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 点云曲面重构系统及方法
JP6253368B2 (ja) 2013-11-25 2017-12-27 キヤノン株式会社 三次元形状計測装置およびその制御方法
US9747680B2 (en) 2013-11-27 2017-08-29 Industrial Technology Research Institute Inspection apparatus, method, and computer program product for machine vision inspection
JP6351243B2 (ja) * 2013-11-28 2018-07-04 キヤノン株式会社 画像処理装置、画像処理方法
US9233469B2 (en) * 2014-02-13 2016-01-12 GM Global Technology Operations LLC Robotic system with 3D box location functionality
US9098754B1 (en) * 2014-04-25 2015-08-04 Google Inc. Methods and systems for object detection using laser point clouds
JP6317618B2 (ja) * 2014-05-01 2018-04-25 キヤノン株式会社 情報処理装置およびその方法、計測装置、並びに、作業装置
JP6614905B2 (ja) * 2014-12-01 2019-12-04 キヤノン株式会社 三次元計測装置およびその制御方法
US9875535B2 (en) * 2016-02-11 2018-01-23 Caterpillar Inc. Wear measurement system using computer vision
US9880075B2 (en) * 2016-02-11 2018-01-30 Caterpillar Inc. Wear measurement system using a computer model
US20190294914A1 (en) * 2016-05-19 2019-09-26 Vermeer Manufacturing Company Bale detection and classification using stereo cameras
JP6420404B1 (ja) * 2017-04-26 2018-11-07 ファナック株式会社 物体認識装置
JP7078056B2 (ja) 2017-11-30 2022-05-31 株式会社ニコン 検出装置、処理装置、装着物、検出方法、及び検出プログラム
CN108305237B (zh) * 2018-01-23 2021-09-21 中国科学院遥感与数字地球研究所 考虑不同光照成像条件的多立体影像融合制图方法
US11096765B2 (en) 2018-06-22 2021-08-24 Align Technology, Inc. Light field intraoral 3D scanner with structured light illumination
KR102570059B1 (ko) * 2018-08-16 2023-08-23 엘지이노텍 주식회사 센싱 방법 및 장치
JP7233261B2 (ja) * 2019-03-13 2023-03-06 キヤノン株式会社 ３次元測量装置、撮像装置、制御方法及びプログラム
JP2020153718A (ja) * 2019-03-18 2020-09-24 株式会社リコー 測定装置及び造形装置
JP7630947B2 (ja) * 2020-10-05 2025-02-18 キヤノン株式会社 ３次元計測装置、システム、及び、生産方法
JP7163947B2 (ja) * 2020-10-22 2022-11-01 セイコーエプソン株式会社 投写領域の設定支援方法、設定支援システム、及びプログラム
JP7643096B2 (ja) * 2021-03-10 2025-03-11 オムロン株式会社 認識装置、ロボット制御システム、認識方法、およびプログラム
CN113421245A (zh) * 2021-06-27 2021-09-21 王程 用于颜色再现的三维表面粗糙度计算方法
CN114049376B (zh) * 2021-09-17 2024-12-10 北京航空航天大学 位姿实时跟踪方法、设备、计算机可读介质和程序产品
WO2023238741A1 (ja) * 2022-06-07 2023-12-14 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 光検出装置、システム及び情報処理装置
EP4332499A1 (en) * 2022-08-30 2024-03-06 Canon Kabushiki Kaisha Three-dimensional measuring apparatus, three-dimensional measuring method, storage medium, system, and method for manufacturing an article
USD1069851S1 (en) 2022-12-02 2025-04-08 Vermeer Manufacturing Company Bale mover
US12372967B2 (en) * 2023-08-23 2025-07-29 Locus Robotics Corp. Visual robot pose estimation
CN117470122B (zh) * 2023-11-08 2024-07-30 华中科技大学 一种钢筋骨架绑扎质量自动检查装置
WO2025143023A1 (ja) * 2023-12-28 2025-07-03 Ｓｃｉｖａｘ株式会社 モデリング装置、モデリング方法およびモデリングプログラム
CN119714123B (zh) * 2024-11-27 2025-10-03 浙江大学 一种基于双目立体视觉的多视角线激光扫描装置及复杂表面全景测量方法

Family Cites Families (59)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3749369B2 (ja) * 1997-03-21 2006-02-22 株式会社竹中工務店 ハンドポインティング装置
US5893085A (en) * 1997-06-10 1999-04-06 Phillips; Ronald W. Dynamic fuzzy logic process for identifying objects in three-dimensional data
US6204916B1 (en) * 1998-02-03 2001-03-20 Minolta Co., Ltd. Three dimensional information measurement method and apparatus
JP2001143073A (ja) * 1999-11-10 2001-05-25 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 物体の位置姿勢決定の方法
US6549647B1 (en) * 2000-01-07 2003-04-15 Cyberoptics Corporation Inspection system with vibration resistant video capture
DE60118051T2 (de) * 2000-04-06 2006-08-31 Seiko Epson Corp. Verfahren und Vorrichtung zum Lesen von einem zwei-dimensionalen Strichkode und Datenspeichermedium
JP2002191058A (ja) * 2000-12-20 2002-07-05 Olympus Optical Co Ltd ３次元画像取得装置および３次元画像取得方法
US7072502B2 (en) * 2001-06-07 2006-07-04 Applied Materials, Inc. Alternating phase-shift mask inspection method and apparatus
US20030123707A1 (en) * 2001-12-31 2003-07-03 Park Seujeung P. Imaging-based distance measurement and three-dimensional profiling system
JP3796449B2 (ja) * 2002-01-31 2006-07-12 キヤノン株式会社 位置姿勢決定方法および装置並びにコンピュータプログラム
EP1349114A3 (en) * 2002-03-19 2011-06-15 Canon Kabushiki Kaisha Sensor calibration apparatus, sensor calibration method, program, storage medium, information processing method, and information processing apparatus
AU2003217528A1 (en) * 2002-03-26 2003-10-08 So-Woon Kim System and method for 3-dimension simulation of glasses
US7440590B1 (en) * 2002-05-21 2008-10-21 University Of Kentucky Research Foundation System and technique for retrieving depth information about a surface by projecting a composite image of modulated light patterns
JP3859571B2 (ja) * 2002-10-17 2006-12-20 ファナック株式会社 ３次元視覚センサ
JP3953988B2 (ja) * 2003-07-29 2007-08-08 Ｔｄｋ株式会社 検査装置および検査方法
AU2004273275A1 (en) * 2003-08-29 2005-03-24 Nec Corporation Object posture estimation/correlation system using weight information
US7028723B1 (en) * 2003-11-03 2006-04-18 Alouani Ali Tahar Apparatus and method for automatic prescription verification
DE10359415A1 (de) * 2003-12-16 2005-07-14 Trimble Jena Gmbh Verfahren zur Kalibrierung eines Vermessungsgeräts
JP3779308B2 (ja) * 2004-07-21 2006-05-24 独立行政法人科学技術振興機構 カメラ校正システム及び三次元計測システム
CA2577840C (en) * 2004-08-30 2015-03-10 Commonwealth Scientific And Industrial Research Organisation A method for automated 3d imaging
KR100601967B1 (ko) * 2004-10-08 2006-07-18 삼성전자주식회사 영상의 다이나믹 레인지 압축 장치 및 방법
WO2006062132A1 (ja) * 2004-12-07 2006-06-15 The University Of Tokyo 立体画像再構成装置、立体画像再構成方法、及び立体画像再構成プログラム
CA2595239C (en) * 2005-01-19 2016-12-20 Dermaspect Llc Devices and methods for identifying and monitoring changes of a suspect area on a patient
JP4599184B2 (ja) * 2005-02-02 2010-12-15 キヤノン株式会社 指標配置計測方法、指標配置計測装置
US7136765B2 (en) * 2005-02-09 2006-11-14 Deepsea Power & Light, Inc. Buried object locating and tracing method and system employing principal components analysis for blind signal detection
US7505152B2 (en) * 2005-02-24 2009-03-17 The Boeing Company Optical metrology system
JP2006300929A (ja) * 2005-03-22 2006-11-02 Jfe Engineering Kk 物体の３次元位置認識装置およびデパレタイズシステム
JP4230525B2 (ja) * 2005-05-12 2009-02-25 有限会社テクノドリーム二十一 ３次元形状計測方法およびその装置
DE102005029901B4 (de) * 2005-06-25 2022-10-06 Modi Modular Digits Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum visuellen Erfassen von flächigen oder räumlichen Objekten
JP4914039B2 (ja) * 2005-07-27 2012-04-11 キヤノン株式会社 情報処理方法および装置
US7301165B2 (en) * 2005-10-24 2007-11-27 General Electric Company Methods and apparatus for inspecting an object
JP5063023B2 (ja) * 2006-03-31 2012-10-31 キヤノン株式会社 位置姿勢補正装置、位置姿勢補正方法
JP4789745B2 (ja) * 2006-08-11 2011-10-12 キヤノン株式会社 画像処理装置および方法
US7925049B2 (en) * 2006-08-15 2011-04-12 Sri International Stereo-based visual odometry method and system
US20080075234A1 (en) * 2006-09-21 2008-03-27 Bruker Axs, Inc. Method and apparatus for increasing x-ray flux and brightness of a rotating anode x-ray source
JP4403172B2 (ja) * 2006-12-22 2010-01-20 富士フイルム株式会社 ファイル生成方法および装置並びに立体画像の表示制御方法および装置
US8265343B2 (en) * 2006-12-25 2012-09-11 Nec Corporation Apparatus, method and program for distance measurement
JP4344869B2 (ja) * 2007-02-16 2009-10-14 三菱電機株式会社 計測装置
JP4766269B2 (ja) * 2007-03-06 2011-09-07 株式会社安川電機 物体検出方法、物体検出装置、及びそれを備えたロボット
US8218903B2 (en) * 2007-04-24 2012-07-10 Sony Computer Entertainment Inc. 3D object scanning using video camera and TV monitor
US20080309913A1 (en) * 2007-06-14 2008-12-18 James John Fallon Systems and methods for laser radar imaging for the blind and visually impaired
JP4925120B2 (ja) * 2007-07-02 2012-04-25 独立行政法人産業技術総合研究所 物体認識装置および物体認識方法
JP4900204B2 (ja) * 2007-11-22 2012-03-21 株式会社Ｉｈｉ 物体認識方法
EP2232463B1 (en) * 2007-11-30 2018-04-11 Searidge Technologies INC. Airport target tracking system
JP5111210B2 (ja) * 2008-04-09 2013-01-09 キヤノン株式会社 画像処理装置、画像処理方法
JP5529146B2 (ja) * 2008-10-10 2014-06-25 クアルコム，インコーポレイテッド シングルカメラトラッキング装置
US8559699B2 (en) * 2008-10-10 2013-10-15 Roboticvisiontech Llc Methods and apparatus to facilitate operations in image based systems
KR101251372B1 (ko) * 2008-10-13 2013-04-05 주식회사 고영테크놀러지 3차원형상 측정방법
JP2010134649A (ja) * 2008-12-03 2010-06-17 Canon Inc 情報処理装置、その処理方法及びプログラム
JP5310130B2 (ja) * 2009-03-11 2013-10-09 オムロン株式会社 ３次元視覚センサによる認識結果の表示方法および３次元視覚センサ
JP2010210585A (ja) * 2009-03-12 2010-09-24 Omron Corp ３次元視覚センサにおけるモデル表示方法および３次元視覚センサ
TWI392864B (zh) * 2009-04-03 2013-04-11 Ind Tech Res Inst 光學檢測裝置
JP5388932B2 (ja) * 2009-04-30 2014-01-15 キヤノン株式会社 情報処理装置およびその制御方法
JP5290864B2 (ja) * 2009-05-18 2013-09-18 キヤノン株式会社 位置姿勢推定装置及び方法
JP5333344B2 (ja) * 2009-06-19 2013-11-06 株式会社安川電機 形状検出装置及びロボットシステム
US20110069204A1 (en) * 2009-09-23 2011-03-24 Zoran Corporation Method and apparatus for image correction
US8306314B2 (en) * 2009-12-28 2012-11-06 Mitsubishi Electric Research Laboratories, Inc. Method and system for determining poses of objects
JP5170154B2 (ja) * 2010-04-26 2013-03-27 オムロン株式会社 形状計測装置およびキャリブレーション方法
US8334985B2 (en) * 2010-10-08 2012-12-18 Omron Corporation Shape measuring apparatus and shape measuring method

Also Published As

Publication number Publication date
JP2011027724A (ja) 2011-02-10
US9025857B2 (en) 2015-05-05
US20100328682A1 (en) 2010-12-30

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