JP5567088B2 - 真空保持バルブ及びこれを用いた走査電子顕微鏡 - Google Patents

真空保持バルブ及びこれを用いた走査電子顕微鏡 Download PDF

Info

Publication number
JP5567088B2
JP5567088B2 JP2012209345A JP2012209345A JP5567088B2 JP 5567088 B2 JP5567088 B2 JP 5567088B2 JP 2012209345 A JP2012209345 A JP 2012209345A JP 2012209345 A JP2012209345 A JP 2012209345A JP 5567088 B2 JP5567088 B2 JP 5567088B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
valve
chamber
vacuum holding
main body
rotating roller
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2012209345A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2014022359A (ja
Inventor
サム イ ヘン
キム ソク
ピョ イ ウィ
Original Assignee
エス エヌ ユー プレシジョン カンパニー リミテッド
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by エス エヌ ユー プレシジョン カンパニー リミテッド filed Critical エス エヌ ユー プレシジョン カンパニー リミテッド
Publication of JP2014022359A publication Critical patent/JP2014022359A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5567088B2 publication Critical patent/JP5567088B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/18Vacuum locks ; Means for obtaining or maintaining the desired pressure within the vessel
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/04Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement or ion-optical arrangement
    • H01J37/147Arrangements for directing or deflecting the discharge along a desired path
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/26Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes
    • H01J37/28Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes with scanning beams
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/18Vacuum control means
    • H01J2237/186Valves
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/20Positioning, supporting, modifying or maintaining the physical state of objects being observed or treated
    • H01J2237/202Movement
    • H01J2237/20214Rotation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/20Positioning, supporting, modifying or maintaining the physical state of objects being observed or treated
    • H01J2237/202Movement
    • H01J2237/2025Sensing velocity of translation or rotation

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Sliding Valves (AREA)
  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)
  • Self-Closing Valves And Venting Or Aerating Valves (AREA)

Description

本発明は、真空保持バルブ及びこれを用いた電子顕微鏡に関し、より詳細には、鏡筒内部の真空を保持しながらバルブの開閉時のパーティクルの発生を防止することができる真空保持バルブ及びこれを用いた電子顕微鏡に関する。
近年、情報機器の極小化趨勢だけでなく、先端素材分野でも極微細技術の産業化により微細構造物または材料表面の形状に対する情報が切実に求められている。特に、1990年代の後半から全世界的にナノ研究が盛んになり、ナノ物質の構造と特性を究明するための研究が進んでおり、電子顕微鏡はこれに重要な軸を担っている。
真空顕微鏡の鏡筒の内部は、光の散乱を防止し、電子を発生させるフィラメントを保護するために真空を保持しなければならないが、10−10〜10−8の高真空を保持しなければならない。これを保持するために鏡筒の光投入口を開閉する真空保持バルブが使用される。
図1は、従来の真空保持バルブを概略的に示す正面図である。従来の真空保持バルブ1は、チャンバ10と、本体部20と、バルブ部30と、シーリング部31と、ストッパ40と、板スプリング50と、を含む。
図1を参照すると、前記バルブ部30は、板スプリング50により前記本体部20と連結され、シリンダ12により前記本体部20と連結された状態で左側に移動して前記ストッパ40と衝突することになる。衝突のとき、ストッパ0の外面に形成されたピン41によりバルブ部30の斜面に沿ってバルブ部30が開口部11側に移動することになる。
このような従来技術の場合、バルブ部30は、ピン41との衝突によりバルブ部30の一部が割れて粉塵が発生したり、バルブ部30が破損したりする問題点が発生する。また、本体部20とバルブ部30との衝突が頻繁に発生して粉塵が発生したり、本体部20またはバルブ部30が破損したりする問題点が発生する。このような粉塵の発生は、チャンバ内部の真空状態を汚染させ、光源が発生する電子と衝突して光源を破損する問題点を発生させる。
一方、板スプリング50により本体部20とバルブ部30とを連結することにより、バルブ部30が開口部11を開閉する過程を板スプリング50が主に制御することになるが、このような制御過程において板スプリング50の弾性力を調節し難く、板スプリング50の変形が大きく発生するほど粉塵が発生する問題点がある。
また、本体部20と結合されて運動するバルブ部30の並進運動は、シリンダ12により左右されるが、シーリング部31がチャンバ10の壁面と接触した状態でもバルブ部30の前進または後進をすることができ、摩擦によりシーリング部31が破損したり、粉塵を生成したりする問題点が発生する。
本発明の目的は、このような従来の問題点を解決するためのものであって、バルブの開閉時、ストッパとバルブ部との衝突時に発生する衝撃を緩和し、本体部の運動とは別個の運動が可能であるようにバルブ部を設けてシーリング部がチャンバの壁面に沿って滑らないようにして粉塵の発生を抑制する真空保持バルブ及びこれを用いた走査電子顕微鏡を提供することにある。
また、バルブ部の対向する面を同時に支持して光投入口の密閉が均一になされて高真空を保持することができる真空保持バルブ及びこれを用いた走査電子顕微鏡を提供することにある。
前記目的は、本発明による、チャンバに形成された開口部を密閉してチャンバの内部を真空に保持する真空保持バルブであって、外部から動力が印加されて前記チャンバの壁面に沿って並進運動する本体部と、前記チャンバの壁面の上に位置し、回転ローラを備えるストッパと、前記本体部と連結された状態で移動し、一面が前記回転ローラと接触して移動方向が前記開口部側の方向及び前記開口部から離隔される方向のいずれかに転換されて前記チャンバを開閉するバルブ部と、前記本体部上に前記回転ローラと対向するように設けられ、前記ストッパと前記バルブ部の接触時に前記バルブ部の他面と接触し、前記バルブ部の移動方向を案内する回転部材と、を備えることを特徴とする真空保持バルブにより達成される。
ここで、前記バルブ部の前記回転ローラ及び前記回転部材との接触時において、前記回転ローラと前記回転部材との離隔距離が減少すると、前記バルブ部が前記開口部側に接近し、前記回転ローラと前記回転部材との離隔距離が増加すると、前記バルブ部が前記開口側から離隔されることができる。
また、回転ローラとの接触時においてバルブ部が開口部側に向かって移動するように、回転ローラと接触するバルブ部の面が、開口部側に向かうほどストッパ側に偏向されるように傾斜することができる。
ここで、本体部の端部は、バルブ部の上側に突出するとともに、バルブ部が回転ローラと接触ときに本体部の移動方向と反対方向に運動するように案内するスリット溝が形成され、一側が、スリット溝内に収容された状態でチャンバの開放時にストッパ側に偏向されるように位置し、チャンバの密閉時に回転部材側に偏向されるように位置し、他側が、バルブ部に挿入されて本体部とバルブ部を連結する連結部をさらに備えることができる。
また、連結部は、バルブ部側に挿入される端部に凹凸部が形成された軸部材と、軸部材の外周面に沿って設けられて凹凸部と接触し、チャンバの密閉時に圧縮され、チャンバの開放時に引張される弾性部材を備えることができる。
ここで、本体部とバルブ部との間に設けられ、弾性部材の引張時に発生する復元力による衝撃を緩衝させる緩衝部材をさらに備えることができる。
また、バルブ部の下面に設けられ、チャンバの密閉時において、チャンバの壁面とバルブ部との間に介在されるシーリング部をさらに備えることができる。
ここで、チャンバに設けられ、前記本体部が通過することができるように互いに離隔されるように配置された一対のガイド部をさらに備えることができる。
また、前記目的は、光源と、該光源を収容するとともに開口部が形成されたチャンバと、該チャンバを密閉するように設けられた上記いずれかに記載の真空保持バルブと、光源から放出される電子ビームを一点に集束する集束レンズと、該集束レンズを通過した電子ビームを波長が一定の形態に変換するアパチャと、該アパチャにより波長が一定の形態に変換された電子ビームが通過する対物レンズと、チャンバ、真空保持バルブ、集束レンズ、アパチャ及び対物レンズを収容する鏡筒と、試料を支持するステージと、を備えることを特徴とする走査電子顕微鏡により達成される。

ここで、前記真空保持バルブの上部に設けられ、前記光源から放出される電子ビームの量を測定する測定部をさらに備えることができる。
本発明によると、回転ローラと回転部材とによりバルブ部の運動が案内されて本体部の前進または後進時に発生する衝撃を防止し、粉塵発生を抑制することができる真空保持バルブ及びこれを用いた走査電子顕微鏡が提供される。
また、バルブ部と本体部とが連結部により連結され、バルブ部と本体部との間に緩衝部材が設けられてバルブ部と本体部との接触を防止するため、接触による粉塵の発生を抑制することができる。
また、バルブ部の下面にシーリング部が設けられ、外部空気の流入を防止してチャンバの内部の高真空を保持することができる。
また、本体部に形成されたスリット溝に沿って連結部が移動可能なように設けられ、チャンバの密閉時にシーリング部がチャンバの壁面で滑ることを防止し、摩擦によるシーリング部の粉塵の発生または破損を防止することができる。
また、チャンバの密閉時に回転部材と回転ローラとによりバルブ部の両側面が支持されることにより、シーリング部を均等に押して高真空でも遮蔽が保持されることができる。
また、ガイド部が本体部を中心に離隔されるように設けられ、本体部の移動経路が離脱されることを防止することができる。
従来の走査電子顕微鏡においてチャンバの真空を保持する真空保持バルブを概略的に示す正面図である。 本発明の第1実施例に係る真空保持バルブを概略的に示す斜視図である。 図2による真空保持バルブを概略的に示す分解斜視図である。 図2による真空保持バルブにおいてチャンバの開口部が開いた状態を概略的に示す断面図である。 図2による真空保持バルブにおいてチャンバの開口部が閉じた状態を概略的に示す断面図である。 図2による真空保持バルブにおいてバルブ部の作動を概略的に示す断面図である。 本発明の第2実施例に係る真空保持バルブを含む走査電子顕微鏡を概略的に示す断面図である。
説明に先立って、様々な実施例において、同一の構成を持つ構成要素については同一の符号を使用して代表的に第1実施例で説明し、その他の実施例では第1実施例と異なる構成についてのみ説明する。
以下、添付の図面を参照して本発明の第1実施例に係る真空保持バルブ100について、詳細に説明する。
図2は、本発明の第1実施例に係る真空保持バルブを概略的に示す斜視図であり、図3は、図2による真空保持バルブを概略的に示す分解斜視図であり、図4は、図2による真空保持バルブにおいてチャンバの開口部が開いた状態を概略的に示す断面図であり、図5は、図2による真空保持バルブにおいてチャンバの開口部が閉じた状態を概略的に示す断面図であり、図6は、図2による真空保持バルブにおいてバルブ部の作動を概略的に示す断面図である。
図2ないし図6を参照すると、本発明の第1実施例に係る真空保持バルブ100は、本体部110と、バルブ部120と、シーリング部130と、連結部140と、ストッパ150と、回転部材160と、緩衝部材170と、ガイド部180と、を含む。
本発明の一実施例に係る真空保持バルブ100は、本体部110とバルブ部120との接触を最小化して粉塵の発生を抑制し、チャンバ105の開口部106がバルブ部120により密閉されたときに、バルブ部120がスリット溝に沿って本体部110の運動方向と反対方向に移動可能なように設けられ、シーリング部130がチャンバ105の壁面に沿って滑ることを防止してシーリング部130の破損及び粉塵の発生を抑制するように設けられる。
前記本体部110の右側面は、シリンダ部107に連結されてシリンダ部107の往復運動にしたがって並進運動をすることになる。また、本体部110の左側面は、後述するバルブ部120の上側に突出し、後述する連結部140によりバルブ部120と連結され、バルブ部120が本体部110と結合された状態で並進運動をするように動力を伝達する。
一方、本体部110の左側面の上側においてバルブ部120と連結されるように突出した部位には、本体部110の幅方向より長さ方向に長く形成されたスリット溝111が形成される。
スリット溝111には、後述する連結部140が挿入されて本体部110とバルブ部120とが連結され、バルブ部120は、スリット溝111に沿って移動が可能となる。これについての詳細な説明は、後述する。
前記バルブ部120は、本体部110と連結され、本体部110と連結された状態でシリンダ部107により往復運動を行う。バルブ部120は、シリンダ部107により左側に移動して回転ローラ151に接触すると、バルブ部120の左側面の傾斜方向に沿って移動方向を開口部106側に切り換え、チャンバ105面に接触して開口部106を密閉させる。また、バルブ部120は、シリンダ部107により右側に移動すると、回転部材160と接触したバルブ部120の右側面の傾斜方向に沿って移動し、後述する緩衝部材170が本体部110と接触すると、本体部110と連結された状態で右側に移動することになる。
また、少なくとも前記バルブ部120の左側面は、開口部側に向かうほど外側に偏向されるように傾斜が形成され、回転ローラ151によりバルブ部120は、バルブ部120の外面の傾斜方向に沿って開口部106側に移動することになる。右側面も左側面と対称になるように設けられることが好ましく、即ち、バルブ部120の断面形状は、台形状となることが好ましい。これは、後述する回転部材160により、バルブ部120が本体部110側に移動する方向を案内することになり、後述する弾性部材142の復元力が回転部材160を回転させて緩衝部材170と本体部110との接触時に発生する衝撃を緩和させる。
前記シーリング部130は、バルブ部120の下面に設けられて、開口部106の密閉時にチャンバ105の壁面に密着されるように圧縮される。シーリング部130によりバルブ部120と開口部106との間に外部空気が流入することが防止されるため、チャンバ105の内部を高真空に保持することができる。本発明の第1実施例によると、シーリング部130は、オーリング(O−ring)として設けられるが、これに制限されるものではない。
前記連結部140において、上側がスリット溝111に挿入され、下側がバルブ部120に挿入されて本体部110とバルブ部120を連結する軸部材141と、弾性部材142とを含む。
図4ないし図6を参照すると、前記軸部材141は、連結部140のメインフレームの役目をすることになり、軸部材141の上側はスリット溝111に沿って移動可能であり、下側は凹凸部が形成されて弾性部材142を支持する。即ち、軸部材141はバルブ部120と結合されて、バルブ部120の回転ローラ151との接触時において、軸部材141とバルブ部120とは一体に運動することになる。
前記弾性部材142は、前記軸部材141の外周面に沿って設けられ、上側は後述する緩衝部材170に接触し、下側は軸部材141の凹凸部に接触して緩衝部材170と凹凸部との間で引張または圧縮運動を行うことになる。
さらに説明すると、本体部110が左側に移動したときに、バルブ部120は、回転ローラ151と接触してバルブ部120の外面に沿って開口部106側に移動するため、弾性部材142は圧縮され、本体部110が右側に移動したときに、バルブ部120は、圧縮された弾性部材142の復元力により上側に移動することになる。本発明の第1実施例によると、弾性部材142としてスプリングが設けられるが、これに制限されるものではない。
本体部110とバルブ部120と連結部140との結合関係をさらに説明すると、本体部110のスリット溝111に沿って移動可能であるようにスリット溝111に軸部材141が挿入され、スリット溝111を通過した軸部材141の端部がバルブ部120に挿入される。
また、軸部材141の外周面に沿って弾性部材142が設けられ、弾性部材142は、バルブ部120の内部に収容されて外部に露出されない。すなわち、弾性部材142は、バルブ部120の内部で圧縮または引張運動を行い、引張運動のときに復元力によりバルブ部120を上昇させる。
一方、軸部材141の凹凸部が、軸部材141が挿入されるバルブ部120の内面に接触し、軸部材141がスリット溝111に沿って移動するときにバルブ部120も軸部材141と一体に移動することになる。
前記ストッパ150は、チャンバ105上に位置が固定され、本体部110と連結された状態で移動するバルブ部120の運動方向をバルブ部120の外面の傾斜方向に切り換える回転ローラ151を備える。即ち、ストッパ150は、本体部110の運動を停止させ、また、バルブ部120が開口部106を密閉させるようにバルブ部120の運動方向を切り換える。
前記回転ローラ151は、直接的にバルブ部120と接触して回転を通じてバルブ部120の移動方向を切り換える。即ち、回転ローラ151と接触した状態でバルブ部120が前進すると、回転ローラ151は時計方向に回転してバルブ部120が前進及び下降して開口部を密閉するように移動方向を案内し、反時計方向に回転してバルブ部が後進及び上昇して開口部を開放するように移動方向を案内する。
前記回転部材160は、回転ローラ151と対向するように本体部110に設けられ、バルブ部120の右側面と接触してバルブ部120が開口部106側に運動してチャンバ105を密閉するように移動経路を案内し、バルブ部120が開口部106側から遠ざかる運動時に、バルブ部120が元の状態に移動する移動経路を案内する。
即ち、回転部材160は、回転ローラ151とともに作用してバルブ部120が下降するように反時計方向に回転し、バルブ部120の上昇時には時計方向に回転してバルブ部120の上下運動の運動方向を案内することになる。
前記緩衝部材170は、本体部110とバルブ部120との間に設けられ、弾性部材142の弾性力により発生し得る衝撃を緩和させる。
前記ガイド部180は、互いに離隔されるように対をなしてチャンバに設けられ、その間に本体部110が通過することができるように本体部110の併進運動方向を案内する。シリンダ部107により本体部110の併進運動の方向が決まるが、シリンダ部107の長さにしたがって、本体部110が運動方向から離脱しうるため、これを防止する。
次に、前述の真空保持バルブ及びこれを用いた走査電子顕微鏡の第1実施例において、バルブ部120により開口部106が開閉される真空保持バルブの作動について説明する。説明に先立ち、本体部110の移動方向をX軸方向とし、これと垂直な方向をY軸方向と定義して説明する。
図4ないし図6を参照すると、回転ローラ151にバルブ部120が接触する前までは、バルブ部120は、本体部110と連結された状態でシリンダ部107から動力を受けてX軸方向に沿って移動することになる。
回転ローラ151にバルブ部120が接触しても、本体部110はX軸方向に沿って移動する。バルブ部120は、回転ローラ151がバルブ部120の傾斜した外面に沿って回転することにより、傾斜した外面の傾斜方向に沿って開口部106に向かって移動する。即ち、X軸方向だけでなく−Y軸方向にも移動することになる。このとき、回転部材160もバルブ部120の右側面に接触して回転することにより、バルブ部120の移動を案内することになる。
一方、−Y軸方向にバルブ部120が移動するとき、バルブ部120の内面に設けられて凹凸部と緩衝部材170の間に備えられた弾性部材142が圧縮されることになる。凹凸部のY軸方向の位置は固定されるが、バルブ部120と結合された緩衝部材170も−Y軸方向に移動するため、凹凸部と緩衝部材170の間の空間が狭くなるため、弾性部材142も圧縮することになる。
また、これと同時にバルブ部120は、スリット溝111に沿って本体部110の運動方向とは反対方向(−X軸方向)に移動することになる。もし、バルブ部120がスリット溝111に沿って移動しなければ、バルブ部120が斜面に沿って対角線に移動するため、バルブ部120のX軸方向の移動距離が本体部110のX軸方向の移動距離より少なくなり、連結部140に損傷を加え得る。これを防止するため、バルブ部120がスリット溝111に沿って−X軸方向に移動することになる。
即ち、本体部110がX軸方向に最大限移動して停止したとき、バルブ部120の下面のシーリング部130が圧縮されてチャンバ105面に密着され、バルブ部120は、スリット溝111の右側に偏向されるように位置して停止することになる。このとき、開口部106は、シーリング部130の内部に位置し、シーリング部130とバルブ部120により空気の流入が防止される。
一方、バルブ部120が開口部106を密閉して停止状態にある場合、回転ローラ151と回転部材160がバルブ部120の両面と接触して支持するようになることにより、シーリング部130を均等に加圧して高真空状態でも真空を保持することが可能になる。
一方、チャンバ105が開いた場合のバルブ部120の作動について説明すると、シリンダ部107により本体部110が−X軸方向に移動することになる。
本体部110の移動とともにバルブ部120は、弾性部材142の復元力によりY軸方向に移動することになる。復元力とは、平衡をなす系で平衡状態が壊れたとき、改めて平衡状態に戻ろうとする方向に作用する力を意味し、スプリングのような弾性部材142の場合、圧縮された状態で改めて元の状態に引張されたり、引張された状態で改めて元の状態に圧縮されようとする力を意味する。
このとき、このような復元力により、回転部材160によりY軸方向の移動が案内され、Y軸方向だけでなくスリット溝111に沿ってX軸方向にも移動することになる。即ち、回転部材160の回転によりバルブ部120の斜面方向に沿ってバルブ部120が移動することになる。
これを言い換えると、バルブ部120は、チャンバ105を密閉する前に左側面が回転ローラ151と、右側面が回転部材160と接触することになる。チャンバ105を密閉するため、本体部110が左側に移動すると、即ち、バルブ部120と接触していた回転ローラ151と回転部材160の間の隔離距離が狭まれば、回転ローラ151は時計方向に回転し、回転部材160は反時計方向に回転してバルブ部120を開口部106側に押し出し、回転ローラ151と回転部材160との間の離隔距離が最小になると、シーリング部130がチャンバ105の壁面に接触してチャンバ105を密閉させる。
一方、最小に保持された回転ローラ151と回転部材160との間の離隔距離が広がると、バルブ部120の内部に収容された弾性部材142を圧縮させる力を支持することができなくなり、バルブ部120は開口部106側に遠ざかるように移動する。これは弾性部材142の復元力により説明することができ、これは前述したため、これについての詳しい説明は省略する。もし、本体部110がストッパ150の反対方向に微細に移動すると仮定すれば、回転ローラ151は反時計方向に回転し、回転部材160は時計方向に回転しながら、バルブ部120が開口部106から離隔される方向への移動を案内することになる。
緩衝部材170が本体部110と接触すると、バルブ部120は本体部110と連結された状態で−X軸方向に移動することになる。
即ち、回転ローラ151の回転及びスリット溝111によるバルブ部120の運動により、シーリング部130がチャンバ105面で滑ることを防止するようになり、シーリング部130とチャンバ105面との間の摩擦による粉塵発生、又は破損を防止することになる。
次に、本発明の第2実施例に係る真空保持バルブ及びこれを用いた走査電子顕微鏡200について説明する。
図7は、本発明の第2実施例に係る真空保持バルブを含む走査電子顕微鏡を概略的に示す断面図である。
図7を参照すると、本発明の第2実施例に係る真空保持バルブ及びこれを用いた走査電子顕微鏡は、真空保持バルブを含む走査電子顕微鏡に関する発明であって、光源210と、真空保持バルブ220と、チャンバ230と、集束レンズ240と、アパチャ250と、対物レンズ260と、鏡筒270と、ステージ280と、測定部290と、を含む。
前記光源210は、後述する鏡筒270内部の負極を加熱して発生される電子ビームを下方のステージ側へ走査するための部材である。
前記真空保持バルブ220は、光源210を収容する後述するチャンバ230を高真空に保持するための装置であって、本発明の第1実施例で既に前述している。本発明の第2実施例では、チャンバ230の内部に収容されていると表現されているが、これに制限されず、チャンバ230の外部に設けられてチャンバ230の下面に接触するように設けられても構わない。
前記チャンバ230は、光源210を収容するために設けられた空間であって、光源210の破損を防止するために高真空を保持するように別途に光源210を収容するように設けられる。別途のチャンバ230が設けられず、鏡筒270の内部に光源210を直接収容することもできるが、鏡筒270の内部を高真空に保持するために鏡筒270の製作に多くの費用が消耗され得るため、別途にチャンバ230を設けることが好ましい。
前記集束レンズ240は、前述の光源210から放出される電子ビームを一点に集束するための部材である。
前記アパチャ250は、集束レンズ240を通過することにより集束された電子ビームを、波長が一定の形態に変換するための部材である。
前記対物レンズ260は、試料に近接するように位置したレンズであって、これは周知の技術であるため、詳しい説明は省略する。
前記鏡筒270は、光源210と、真空保持バルブ220と、チャンバ230と、集束レンズ240と、アパチャ250と、対物レンズ260と、を内部に収容するための外装材であって、電子ビームが出射する側の端部、即ち、試料が装着される試料側の端部は、真空状態が保持されるように構成される。
前記ステージ280は、本発明の第2実施例に係る真空保持バルブ及びこれを用いた走査電子顕微鏡200により測定されようとする試料を支持する場所となる。
前記測定部290は、本体部110の上面に設けられ、光源210から放出される電子ビームの濃度を測定するための装置である。本発明の第2実施例によると、測定部290は銅板として設けられるが、これに制限されるものではない。
また、測定部290から測定されたデータを外部に伝達するために測定部290と連結されるフィード・スルー291をさらに含むことが好ましく、測定されたデータをフィード・スルーを通じて確認することができる。本発明の第2実施例ではフィード・スルー291がストッパ150側に設けられているが、これに制限されるものではない。
本発明の第2実施例に係る真空保持バルブ及びこれを用いた走査電子顕微鏡200の作動は、周知の走査電子顕微鏡の作動と同一であるため、ここで詳しい説明は省略する。
また、真空保持バルブ220の作動方法には、本発明の第1実施例の作動で前述したので、これについて詳しい説明は省略する。
但し、測定部290は、光源210から放出される電子ビームのチャンバ内部での濃度を測定することになる。測定された濃度はフィード・スルー291に伝達されて外部の別途の装置を活用して確認できることになる。
本発明の権利範囲は前述の実施例に限定されず、添付の特許請求の範囲内で多様な形態の実施例として具現することができる。特許請求の範囲で請求する本発明の要旨を逸脱せず、当該発明が属する技術分野で通常の知識を持つ者なら誰でも変形可能な多様な範囲までは本発明の請求の範囲の記載の範囲内にあるものと見做す。
100 真空保持バルブ
110 本体部
120 バルブ部
130 シーリング部
140 連結部
150 ストッパ
160 回転部材
170 緩衝部材
180 ガイド部
200 走査電子顕微鏡
210 光源
220 真空保持バルブ
230 チャンバ
240 集束レンズ
250 アパチャ
260 対物レンズ
270 鏡筒
280 ステージ
290 測定部

Claims (10)

  1. チャンバに形成された開口部を密閉してチャンバの内部を真空に保持する真空保持バルブであって、
    外部から動力が印加されて前記チャンバの壁面に沿って並進運動する本体部と、
    前記チャンバの壁面の上に位置し、回転ローラを備えるストッパと、
    前記本体部と連結された状態で移動し、一面が前記回転ローラと接触して移動方向が前記開口部側方向及び前記開口部から離隔される方向のいずれかに切り換えられて前記チャンバを開閉するバルブ部と、
    前記本体部上に前記回転ローラと対向するように設けられ、前記ストッパと前記バルブ部の接触時に前記バルブ部の他面と接触し、前記バルブ部の移動方向を案内する回転部材とを備えることを特徴とする真空保持バルブ。
  2. 前記バルブ部の前記回転ローラ及び前記回転部材との接触時において、前記回転ローラと前記回転部材との離隔距離が減少すると、前記バルブ部が前記開口部側に接近し、前記回転ローラと前記回転部材との離隔距離が増加すると、前記バルブ部が前記開口側から離隔されることを特徴とする、請求項1記載の真空保持バルブ。
  3. 前記回転ローラとの接触時において前記バルブ部が前記開口部側に向かって移動するように、前記回転ローラと接触する前記バルブ部の面が、前記開口部側に向かうほど前記ストッパ側に偏向されるように傾斜したことを特徴とする、請求項1記載の真空保持バルブ。
  4. 前記本体部の端部は、前記バルブ部の上側に突出するとともに、前記バルブ部が前記回転ローラと接触したときに前記本体部の移動方向と反対方向に運動するように案内するスリット溝が形成され、
    一方が、前記スリット溝内に収容された状態で、前記チャンバの開放時に前記ストッパ側に偏向されるように位置し、前記チャンバの密閉時に前記回転部材側に偏向されるように位置し、他方が、前記バルブ部に挿入されて前記本体部と前記バルブ部とを連結する連結部をさらに備えることを特徴とする、請求項3記載の真空保持バルブ。
  5. 前記連結部は、
    前記バルブ部側に挿入される端部に凹凸部が形成された軸部材と、
    前記軸部材の外周面に沿って設けられて前記凹凸部と接触し、前記チャンバの密閉時に圧縮され、前記チャンバの開放時に引張される弾性部材とを備えることを特徴とする、請求項4記載の真空保持バルブ。
  6. 前記本体部と前記バルブ部との間に設けられ、前記弾性部材の引張時に発生する復元力による衝撃を緩衝する緩衝部材をさらに備えることを特徴とする、請求項5記載の真空保持バルブ。
  7. 前記バルブ部の下面に設けられ、前記チャンバの密閉時において、前記チャンバの壁面と前記バルブ部との間に介在されるシーリング部をさらに備えることを特徴とする、請求項1記載の真空保持バルブ。
  8. 前記チャンバに設けられ、前記本体部が通過することができるように互いに離隔されるように配置された一対のガイド部をさらに備えることを特徴とする、請求項1記載の真空保持バルブ。
  9. 光源と、
    該光源を収容するとともに開口部が形成されたチャンバと、
    該チャンバを密閉するように設けられた請求項1ないし請求項8のいずれかに記載の真空保持バルブと、
    前記光源から放出される電子ビームを一点に集束する集束レンズと、
    該集束レンズを通過した電子ビームを波長が一定の形態に変換するアパチャと、
    該アパチャにより波長が一定の形態に変換された電子ビームが通過する対物レンズと、
    前記チャンバ、前記真空保持バルブ、前記集束レンズ、前記アパチャ及び前記対物レンズを収容する鏡筒と、
    試料を支持するステージとを備えることを特徴とする、走査電子顕微鏡。
  10. 前記真空保持バルブの上部に設けられ、前記光源から放出される電子ビームの量を測定する測定部をさらに備えることを特徴とする、請求項9記載の走査電子顕微鏡。
JP2012209345A 2012-07-23 2012-09-24 真空保持バルブ及びこれを用いた走査電子顕微鏡 Expired - Fee Related JP5567088B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020120080095A KR101384964B1 (ko) 2012-07-23 2012-07-23 진공 유지 밸브 및 이를 이용하는 주사 전자 현미경
KR10-2012-0080095 2012-07-23

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014022359A JP2014022359A (ja) 2014-02-03
JP5567088B2 true JP5567088B2 (ja) 2014-08-06

Family

ID=50046519

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012209345A Expired - Fee Related JP5567088B2 (ja) 2012-07-23 2012-09-24 真空保持バルブ及びこれを用いた走査電子顕微鏡

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP5567088B2 (ja)
KR (1) KR101384964B1 (ja)
CN (1) CN103574080B (ja)
TW (1) TWI470664B (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7249897B2 (ja) * 2019-07-10 2023-03-31 日本電子株式会社 バルブ装置
CN116576265B (zh) * 2023-07-12 2023-10-10 国仪量子(合肥)技术有限公司 密封装置和扫描电镜系统

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02138577A (ja) * 1988-11-18 1990-05-28 Hitachi Ltd 真空用ゲートバルブ
JP3505013B2 (ja) * 1995-08-07 2004-03-08 株式会社日立製作所 試料像表示方法
JP2000182554A (ja) * 1998-12-11 2000-06-30 Jeol Ltd エアロックバルブ装置
WO2002033727A1 (en) * 2000-10-18 2002-04-25 Fei Company Focused ion beam system
JP2007287546A (ja) * 2006-04-19 2007-11-01 Tokyo Seimitsu Co Ltd 真空容器及び電子線装置
JP5266648B2 (ja) * 2007-02-27 2013-08-21 日本ゼオン株式会社 パーフルオロ(エキソメチレンシクロアルケン)化合物の製造方法
JP4980794B2 (ja) * 2007-05-24 2012-07-18 日本電子株式会社 荷電粒子ビーム装置
CN102184829B (zh) * 2011-01-28 2013-01-16 北京航空航天大学 电子显微镜用高压箱的换气装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2014022359A (ja) 2014-02-03
CN103574080A (zh) 2014-02-12
TWI470664B (zh) 2015-01-21
KR101384964B1 (ko) 2014-04-14
CN103574080B (zh) 2015-12-09
TW201405621A (zh) 2014-02-01
KR20140012844A (ko) 2014-02-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI617805B (zh) Inspection device
KR102472589B1 (ko) X선관 및 x선 발생 장치
US8558174B2 (en) Processing system
JP2009099568A (ja) 透過型電子顕微鏡の試料を位置決めするための電動マニピュレーター
JP5567088B2 (ja) 真空保持バルブ及びこれを用いた走査電子顕微鏡
JP6010707B2 (ja) 低速電子線回折検出モジュール及び走査型電子顕微鏡
US9741528B2 (en) Charged particle optical apparatus having a selectively positionable differential pressure module
KR101725137B1 (ko) 전자현미경용 시료실 장치 및 이를 구비한 전자현미경
WO2016143450A1 (ja) 検査装置
JP5576810B2 (ja) 荷電粒子線装置の試料位置決め装置
WO2014069325A1 (ja) 電子ビーム顕微装置
JP4980794B2 (ja) 荷電粒子ビーム装置
JP2004295146A (ja) マニピュレータおよびそれを用いたプローブ装置、試料作製装置
JP2012104272A (ja) X線発生装置
KR101623949B1 (ko) 소형 전자 현미경
JP2015170593A (ja) 分析装置
JP6460806B2 (ja) 電子光学装置及び検査装置
KR101512373B1 (ko) 주사전자현미경 및 이를 이용한 시료검사방법
JP6421041B2 (ja) 荷電粒子線装置
JP6326341B2 (ja) 試料ホルダー、および電子顕微鏡
JP2007287546A (ja) 真空容器及び電子線装置
JP2007080668A (ja) 荷電粒子線装置の試料移動装置
US5093578A (en) Valve device for a particle beam apparatus
JP7072457B2 (ja) 試料分析装置、電子顕微鏡、及び集光ミラーユニット
TWI855086B (zh) 特徵化系統及用於使基板曝露於寬頻紫外線輻射之方法

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20131224

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140320

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140603

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140618

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5567088

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees