JP5564509B2 - 高速シリアルインターフェイス受信器回路における自動較正 - Google Patents

高速シリアルインターフェイス受信器回路における自動較正 Download PDF

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Description

(発明の背景)
本発明は高速シリアルインターフェイス(HSSI)回路に関し、より具体的にはそのような回路の受信器部の自動較正に関する。
高速シリアルデータシグナリングは電子システムにおけるデバイス間でデータを送信するために広く用いられている。単なる一例としては、そのようなシグナリングは印刷回路基板上のいくつかの集積回路デバイス間でデータを送信するために用いられ得る。典型的な高速シリアルデータ速度は約6Gps(ギガビット/秒)と約10Gpsの範囲内であるが、さらに高いまたは低いデータ速度も可能である。
高速シリアルデータシグナリングを用いる多くのシステムでは、シリアルデータ信号は付随するクロック信号なしで送信される。そのクロック信号は、データ信号を受け取る回路によって用いられ得、受信器(RX)回路が、受け取られた信号における連続的なビットをキャプチャするために受け取られたデータ信号をいつサンプリングするか知ることを可能にする。そのような場合、RX回路は、サンプリングする時間を決定するため、いわゆるクロックデータリカバリ(CDR)回路を含み得る。受け取られた信号も、典型的には、送信の間、いく分かの損失および/またはひずみの対象となる。加えて、入ってくる信号を最初に受け取り、処理する受信器回路コンポーネントは完璧ではないことがあり得る。そして受け取った信号を、上述のCDR回路のようなダウンストリーム回路へパスする前に、そのコンポーネント自身がさらなる損失および/またはひずみを生む傾向があり得る。そのような損失および/またはひずみは、受信器でシリアルデータ信号からデータを正確に復元する難しさを増加させる。電圧または送信信号パワーが低くなった、その信号のデータ速度が上がったというような設計目標によって、この困難さはさらに増す。
(発明の概要)
上記のことから考えて、本発明の可能な側面が、高速シリアルデータ信号を受け取る回路に、(1)その信号のさまざまな種類と量の損失および/またはひずみ、および/または(2)最初にその信号を受け取り、信号をさらなる損失および/またはひずみにさらす回路のいかなる傾向、を自動的に補正する能力を与える。
本発明のある可能な側面によって、シリアルデータ信号を受け取る回路は、シリアルデータ信号を受け取り、その信号のイコライゼーションされたバージョンを発生させる調節可能なイコライザ回路を含み得る。イコライザ回路は制御可能に可変な利得(例えば、制御可能に可変なDC利得および/または制御可能に可変なAC利得)を有し得る。その回路は、イコライゼーションされたバージョンのアイの属性をモニターするアイモニター回路をさらに含み得る。そのような属性の例はアイ高さおよび/またはアイ幅を含む。アイモニター回路によって検知された属性に少なくとも部分的には基づいて、利得は制御される。例えば、アイモニター回路によって検知されたアイ高さに少なくとも部分的には基づいて、DC利得が制御され得、かつ/または、アイモニター回路によって検知されたアイ幅に少なくとも部分的には基づいて、AC利得が制御され得る。
本発明のある他の可能な側面によって、シリアルデータ信号を受け取る方法は、その信号を受け取り、制御可能に可変な利得(例えば、制御可能に可変なDC利得および/または制御可能に可変なAC利得)でその信号のイコライゼーションされたバージョンを発生させることを含み得る。その方法は、イコライゼーションされたバージョンのアイの属性をモニターすることをさらに含み得る。そのような属性の例はアイ高さおよび/またはアイ幅を含む。その方法は、属性をモニターすることにおいて、検知される属性に少なくとも部分的には基づいて利得を制御することをまだその上含み得る。例えば、DC利得が、アイモニター回路によって検知されたアイ高さに少なくとも部分的に基づいて制御され得、かつ/または、AC利得が、アイモニター回路によって検知されたアイ幅に少なくとも部分的に基づいて制御され得る。
本明細書は、例えば、以下の項目も提供する。
(項目1)
シリアルデータ信号を受け取る回路であって、
シリアルデータ信号を受け取り、該信号のイコライゼーションされたバージョンを発生させる調節可能なイコライザ回路であって、制御可能に可変な利得を有するイコライザ回路と、
該イコライゼーションされたバージョンのアイの属性をモニターするアイモニター回路であって、該アイモニター回路によって検知された該属性に少なくとも部分的に基づいて該利得を制御するアイモニター回路と
を含む回路。
(項目2)
項目1に記載の回路であって、前記制御可能に可変な利得がDC利得である、回路。
(項目3)
項目1に記載の回路であって、前記属性が高さである、回路。
(項目4)
項目1に記載の回路であって、前記制御可能に可変な利得がAC利得である、回路。
(項目5)
項目1に記載の回路であって、前記属性が幅である、回路。
(項目6)
項目3に記載の回路であって、前記アイモニター回路が、
レファレンスアイ高さの源と、
該レファレンスアイ高さを該アイモニター回路によって検知された前記高さと比較する回路と
を含む、回路。
(項目7)
項目6で定義された回路であって、レファレンスアイ高さの前記源が、
前記シリアルデータ信号のDC成分を検知する回路
を含む、回路。
(項目8)
項目7に記載の回路であって、レファレンスアイ高さの前記源が、
前記検知する回路のDC成分出力信号をフィルターする回路
をさらに含む、回路。
(項目9)
項目6に記載の回路であって、レファレンスアイ高さの前記源が、
DCレファレンス電圧の源
を含む、回路。
(項目10)
項目5に記載の回路であって、前記アイモニター回路が、
レファレンスアイ幅の源と、
該レファレンスアイ幅を該アイモニター回路によって検知された前記幅と比較する回路と
を含む、回路。
(項目11)
項目10に記載の回路であって、レファレンスアイ幅の前記源が、
前記シリアルデータ信号のAC成分を検知する回路
を含む、回路。
(項目12)
項目11に記載の回路であって、レファレンスアイ幅の前記源が、
前記検知する回路のAC成分出力信号をフィルターする回路
をさらに含む、回路。
(項目13)
項目10に記載の回路であって、レファレンスアイ高さの前記源が、
レファレンス電圧の源
を含む、回路。
(項目14)
項目2に記載の回路であって、前記イコライザ回路が、
可変な負荷抵抗器と可変な縮退抵抗器であって、該負荷抵抗器と該縮退抵抗器間の比率が前記DC利得に影響するよう、回路関係上、互いに接続されており、前記アイモニター回路が該負荷抵抗器と該縮退抵抗器の少なくとも一方の抵抗を制御する、可変な負荷抵抗器と可変な縮退抵抗器
を含む、回路。
(項目15)
項目4に記載の回路であって、前記イコライゼーション回路が、
前記AC利得に影響する可変なイコライゼーションコンデンサーであって、前記アイモニター回路が該イコライゼーションコンデンサーの静電容量を制御する、イコライゼーションコンデンサー
を含む、回路。
(項目16)
シリアルデータ信号を受け取る回路であって、
該シリアルデータ信号を受け取り、該信号のイコライゼーションされたバージョンを発生させる調節可能なイコライザ回路であって、該シリアルデータ信号と比較したときのイコライゼーションされたバージョンの利得を調節する制御可能に可変な要素を含むイコライザ回路と、
該イコライゼーションされたバージョンのアイの属性を示す出力信号を発生させるアイモニター回路と、
該制御可能に可変な要素を制御する基準としての出力信号を用いる制御回路と
を含む、回路。
(項目17)
項目16に記載の回路であって、前記属性が高さである、回路。
(項目18)
項目16に記載の回路であって、前記利得がDC利得である、回路。
(項目19)
項目16に記載の回路であって、前記属性が幅である、回路。
(項目20)
項目16に記載の回路であって、前記利得がAC利得である、回路。
(項目21)
シリアルデータ信号を受け取る方法であって、
シリアルデータ信号を受け取り、制御可能に可変な利得で該信号のイコライゼーションされたバージョンを発生させることと、
該イコライゼーションされたバージョンのアイの属性をモニターすることと、
該属性をモニターすることにおいて検知された該属性に少なくとも部分的に基づいて該利得を制御することと
を含む、方法。
(項目22)
項目21に記載の方法であって、前記制御可能に可変な利得がDC利得である、方法。
(項目23)
項目21に記載の方法であって、前記属性が高さである、方法。
(項目24)
項目21に記載の方法であって、前記制御可能に可変な利得がAC利得である、方法。
(項目25)
項目21に記載の方法であって、前記属性が幅である、方法。
(項目26)
項目23に記載の方法であって、前記利得を制御することが、
前記検知された高さをレファレンスアイ高さと比較すること
を含む、方法。
(項目27)
項目26に記載の方法であって、前記利得を制御することが、
前記シリアルデータ信号から前記レファレンスアイ高さを導出すること
をさらに含む、方法。
(項目28)
項目27に記載の方法であって、前記導出することが、
前記シリアルデータ信号のDC成分を検知することと、
該検知することの出力をフィルターすることと
を含む、方法。
(項目29)
項目25に記載の方法であって、前記利得を制御することが、
前記検知された幅をレファレンスアイ幅と比較すること
を含む、方法。
(項目30)
項目29に記載の方法であって、前記利得を制御することが、
前記シリアルデータ信号から前記レファレンスアイ幅を導出すること
をさらに含む、方法。
(項目31)
項目30に記載の方法であって、前記導出することが、
前記シリアルデータ信号のAC成分を検知することと、
該検知することの出力をフィルターすることと
を含む、方法。
(項目32)
項目22に記載の方法であって、前記DC利得を制御することが、
複数の抵抗器の抵抗の値間の比率を制御すること
を含む、方法。
(項目33)
項目24に記載の方法であって、前記AC利得を制御することが、
イコライゼーションコンデンサーの静電容量を制御すること
を含む、方法。
本発明のさらなる特徴、その性質およびさまざまな利点は、付随の図および以下の詳細な記載より、より明らかとなる。
(図面の簡単な説明)
図1は、本発明による回路の例示的な実施形態の単純化した概略的なブロックダイアグラムである。 図2は、本発明による図1の回路の部分の例示的な実施形態の単純化した概略的なブロックダイアグラムである。 図3は、本発明による図1の回路の部分の別の例示的な実施形態の単純化した概略的なブロックダイアグラムである。 図4は、より詳細ではあるが、本発明による図1の回路の代表的部分の例示的な実施形態の依然単純化した概略的なブロックダイアグラムである。
(詳細な記載)
図1に示されるように、本発明による例示的な受信器回路10は高速シリアルデータ信号を差分形式で受け取るための入力端子20a、20bのペアを含む。当業者に周知であるように、これは、高速シリアルデータ信号が実際は互いの論理的補完である信号のペアであることを意味する。例えば、バイナリ1のデータビットは、比較的ハイ電圧を有する入力端子20aに印加された信号によって示さ得るか、または信号を送られ得る。一方で、入力端子20bに印加された信号は比較的ロー電圧を有する。そのような場合、バイナリ0のデータビットは、比較的ロー電圧を有する入力端子20aに印加された信号によって示されるか、または信号を送られる。一方で、入力端子20bに印加された信号は比較的ハイ電圧を有する。
入力端子20aおよび入力端子20bに印加された信号は、信号検知回路30に印加され、その回路は、例えば、受信器10のための入力バッファ電気回路として機能する。信号検知回路30は、端子20aおよび端子20bを介して受け取られる高速シリアルデータ信号に対応する差分信号のペアを出力する。
信号検知回路30の出力信号は、一連の制御可能に可変な差分イコライザ回路40a〜40dに印加される。4つのイコライザ回路40a〜40dが図1に示されるが、これは、なされ得ることの単なる例であることが理解される。必要に応じて、代わりに、より少ないまたはより多くの、このようなイコライザ回路40が提供され得る。各イコライザ回路40の例示的な構成は、2008年6月6日に出願されたShumarayev et al.の米国特許出願第12/134,777に示される。そのShumarayev et al.参照文献に示されるように、各イコライザ回路40はいくつかの制御可能に可変な回路要素を有する。その要素は、その回路40が、回路40に印加された差分信号に、制御可能に可変な量のDC利得および/または制御可能に可変な量のAC利得を与えさせるために用いられ得る(慣習通り、DCは直流を表し、ACは交流を表している)。DC利得の例はいわゆるDCオフセット、つまり、回路40を通過するハイ信号の電圧とロー信号の電圧との差の最大量である。DC利得の別の例は、コモンモード電圧のレベル(すなわち、回路40を通過するハイ信号とロー信号間の平均電圧)である。AC利得の例は、イコライザ回路40を通過する信号が、比較的ロー電圧から比較的ハイ電圧へ、またはその逆に遷移する急激さの程度である。イコライザ回路40を通過する信号における各遷移の直後に、そのような信号を、イコライザ回路40が最初にオーバードライブする傾向があり、AC利得の別の例は、その量(存在する場合)である。イコライザステージ40a〜40dの各々における制御可能に可変な要素は、そのステージのDC利得を制御し、図1において、図1のそのステージの概略ブロックダイアグラムの記号を通る「DC利得」の矢印で示される。同様に、各イコライザステージ40a〜40dにおける制御可能に可変な要素は、そのステージのAC利得を制御し、図1において、図1のそのステージの概略ブロックダイアグラムの記号を通る「AC利得」の矢印で示される。
直前のパラグラフより、イコライザ回路の各ステージ40a〜40dは、その回路に印加された信号に、制御可能に可変な量のDC利得および/またはAC利得を与え得るということ、および、これら利得は、いくつかのイコライザ回路40a〜40dは直列で接続されているために累積的または追加的であるということが分かる。イコライザ回路40a〜40dのDC利得およびAC利得が本発明により制御される様態は、本明細書の後半でカバーされる。
イコライザ回路の最後のステージ40dの差分出力信号は、(1)アイ高さモニター回路50、(2)アイ幅モニター回路60、および(3)利用回路70と並列に印加される。アイ高さモニター回路50は、例えば、2008年4月11日に出願されたDing et al.の米国特許出願第12/082,483に示されるような回路であり得る。アイ幅モニター回路60の例は、2008年4月9日に出願されたDing et al.の米国特許出願第12/082,343に示される。利用回路70は、イコライザ回路40a〜40dによって出力された高速シリアルデータ信号を使用する集積回路10または受信器チップの上の任意の回路であり得る。例えば、利用回路70はCDR回路で始まり、さまざまなタイプの復号化回路、暗号解読回路、定格マッチング回路、非直列化回路、デジタル信号処理(DSP)回路、ロジック(例えばプログラマブルロジック)回路などのような多くの他の種類の任意の回路が続き得る。
上述のDing et al.参照文献(および当業者に周知の慣習的技術)より明らかなように、シリアルデータ信号の「アイ」は信号のアスペクト間の分離であり、信号のアスペクトは、その信号におけるバイナリ数字またはバイナリビットを表す。例えば、図1に示されるような差分データ信号の場合、数ビット(典型的には多数ビット)のそれら信号のトレースが、1つの「ユニットインターバル」すなわち「UI」(すなわち、シリアルデータストリームまたは信号で1ビットが占める時間)で互いに重ねられるとき、信号のアイはハイ信号とロー信号間の「開いた」エリアである。そのようなアイの「高さ」は、この開いたエリアの(「アイのダイアグラム」の垂直電圧軸に沿った)最大の高−低の寸法である。アイ高さはデータ信号における、使用可能または信頼性をもって検知可能な電圧のふり幅の尺度である。そのようなアイの「幅」は、この開いたエリアの(アイのダイアグラムの水平時間軸に沿った)最大の左−右の寸法である。アイ幅はデータストリームにおける、個別ビットの、使用可能または信頼性をもって検知可能な持続時間の尺度である。一般的に、より大きいアイ高さは、回路70のようなダウンストリーム回路が、シリアルデータストリームの連続したバイナリ1および0を正確に識別するのを可能にするのに、有用であり得る。同様に、(UIのパーセンテージとして)より大きいアイ幅は、ダウンストリーム回路70がシリアルデータストリームの連続したバイナリ1および0を正確に識別するのを助け得る。回路50は、最終イコライザステージ40dによってその時点で出力されたシリアルデータ信号のアイの高さを示す出力信号を発生させる。回路60は、最終イコライザステージ40dによってその時点で出力されたシリアルデータ信号のアイの幅を示す出力信号を発生させる。
アイ高さレファレンス回路52は、最終イコライザステージ40dの出力信号のアイが有することが所望されている高さを示す出力信号を生成する。例えば、回路52によって提供されるレファレンスは、信号検知回路50のフィルターされたDC出力信号であり得る。別の例として、このレファレンスは内部的に利用可能なDCレファレンス電圧であり得る。同様に、アイ幅レファレンス回路62は、最終イコライザステージ40dの出力信号のアイが有することが所望されている幅を示す出力信号を発生させる。例えば、回路62によって提供されるレファレンスは、信号検知回路30のフィルターされたAC出力または内部的に生成された電圧に基づき得る。
比較回路54は要素50および要素52の出力信号を比較し、その比較の結果を示す出力信号(単数または複数)を発生させる。比較回路54の出力信号(単数または複数)は、イコライザ回路ステージ40a〜40dのDC利得を制御するために用いられる。例えば、比較回路54が、モニター50によって測定されたアイ高さが回路52からのレファレンスアイ高さより小さいと感知した場合、比較回路54の出力信号(単数または複数)はイコライザステージ40a〜40dのDC利得を増加させる。このようなDC利得増加は、比較回路54が、測定された(モニター50からの)アイ高さが(レファレンス52からの)所望のアイ高さと等しいと検知したとき、止まる。
比較回路64は要素60および要素62の出力信号を比較し、この比較の結果を示す出力信号(単数または複数)を生成する。比較回路64の出力信号(単数または複数)は、イコライザ回路ステージ40a〜40dのAC利得を制御するために用いられる。例えば、比較回路64が、モニター60によってその時点で測定されたアイ幅が回路62からのレファレンスアイ幅より小さいと感知した場合、比較回路64の出力信号(単数または複数)はイコライザステージ40a〜40dのAC利得を増加させる。このようなAC利得増加は、比較回路64が、測定された(モニター60からの)アイ幅が(レファレンス62からの)所望のアイ幅と等しいと検知したとき、止まる。
先述より、少なくとも2つのイコライゼーション制御ループが提供されていることが分かる。第一ループはDCループである。このループはRX DC利得制御を含む。モニターされたアイ高さは、DC利得変化に応じた、測定されたアイ高さである。測定されたアイ高さが外部レファレンスと同じとき、このループは安定する。外部レファレンスは、信号検知30のフィルターされたDC出力または内部的に利用可能なDC電圧レファレンスのどちらかであり得る。例えば、このような電圧レファレンスが内部バンドギャップレファレンスに基づいて作成され得る。このバンドギャップレファレンスは通常、本明細書に記載されたタイプの集積回路上に提供される。現在の目的のために、このバンドギャップレファレンス回路は、どのような正確な電圧レファレンスが必要とされても、その発生を促進するためのプログラマブルレジスタディバイダーを含み得る。第二ループはACループである。このループは、信号検知30(または内部的に生成されたレファレンス電圧)のフィルターされたAC成分、RXバッファまたはイコライザステージ40a〜40dのAC利得制御、およびアイ幅モニター60に基づく。
好ましくは、上記2つのループの協働的相互作用がある。各ループの周波数応答は、全体のシステムの安定を確実にするために、他のループの周波数応答と有意に異なるべきである。例えば、あるループはそのモニターされた値とレファレンス値間の違いに応答するのに比較的遅くあり得る。一方で、他のループは、そのモニターされた値とレファレンス値間の違いへより速く応答し得る。
上記2つのループは、入力バッファデザインの一部としてのハードウェアか、またはプログラマブルロジック(例えば、フィールドプログラマブルゲートアレイ「FPGA」のいわゆるソフトIP(intellectual property))のどちらかでインプリメントされ得る。
本発明の結果として、そして適切なフィルターを用いることにより、上記の閉じたループシステムは、変化する外部環境または内部環境のどちらかによって、バッファステージ40a〜40dのDC利得特性およびAC利得特性を常に適合させ得る。適合(イコライゼーション)基準はこのようなシステムにおいて修正され得る。例えば、データパターンおよびデータ密度は、現データ通信に基づいたソフトIPフィルターの全部分であり得る。常に較正される入力バッファ40は、一回限りの較正された入力バッファより性能が常に優れている。
図2は、アイ高さレファレンス52が、信号検知30のフィルターされたDC出力に基づく代替案を描写している。そのため、図2は信号検知30の出力信号が(イコライザステージ40aに加えて)DC検知回路110に印加されていることを示す。DC検知110は、信号検知30出力信号のDC成分(例えばDCレベル)を示す出力信号を発生させる。DC検知110の出力信号はフィルター回路120によって、(例えば、その信号を平滑化するために)フィルターされる。フィルター120の結果の出力信号が直接的か、または、増幅、スケーリング、および/またはシフトのようないくつかのさらなる処理の後かのどちらかで用いられ、アイ高さレファレンス52を発生させる。
図2はまた、アイ幅レファレンス62が、信号検知30のフィルターされたAC出力に基づく代替案を描写している。そのため、図2は信号検知30の出力信号がAC検知器回路130にも印加されていることを示す。例えば、AC検知器130は、特定のAC周波数バンドにおいて、信号検知30の出力のエンベロープを示す出力信号を発生させ得る。AC検知器130の出力信号はフィルター回路140によって、(例えば、その信号を平滑化するために)フィルターされる。フィルター140の結果の出力信号が(直接的か、または増幅、スケーリング、および/またはシフトのようないくつかのさらなる処理の後かのどちらかで)用いられ、アイ幅レファレンス62を発生させる。
図3はアイ高さレファレンス52が、(例えば、図1で示された回路を含む集積回路上の)DC電圧レファレンス150である(またはそれに由来したものである)代替案を描写している。図3はまた、アイ幅レファレンス62が、(例えば、図1で示された回路を含む集積回路上の)レファレンス電圧160である(またはそれに由来したものである)代替案を描写している。
制御可能に可変なDC利得およびAC利得を有する例示的なバッファデザインは、図4に示される。代表的なバッファステージ40の要素は、パワー供給電圧Vccとアース(小さな下を向いた三角形で表される)間に接続される。True入力信号および補完の入力信号は、それぞれ、入力端子In、In_Bに印加される(InおよびIn_BはそれぞれNMOSトランジスタ1310、1312のゲートである)。True出力信号および補完の出力信号は、それぞれ、出力端子Out、Out_Bで利用可能である。負荷抵抗器1306、NMOSトランジスタ1310のドレイン端子およびソース端子、およびテール電流源1318は互いに直列に(この順に)Vccとアース間で接続される。同様に、負荷抵抗器1307、NMOSトランジスタ1312のドレイン端子およびソース端子、およびテール電流源1320は互いに直列に(この順に)Vccとアース間で接続される。縮退抵抗器1314はトランジスタ1310のソース端子とトランジスタ1312のソース端子間に接続される。イコライゼーションコンデンサー1316は縮退抵抗器1314と並列に接続される。
図4に示されるように、負荷抵抗器1306の抵抗RL1は制御可能に可変である。負荷抵抗器1307の抵抗RL2および縮退抵抗器1314の抵抗Rdegに対して同じことがいえる。イコライゼーションコンデンサー1316の静電容量Ceqは、また制御可能に可変である。テール電流源1318の電流の強さIt1は、また制御可能に可変であり、テール電流源1320の電流の強さIt2に対して同じことがいえる。
イコライゼーションコンデンサー1316は代表的なバッファステージ40に調節可能な高周波数ピークを提供する。これに応じて、図4はAC利得制御回路54(例えば、図1の比較回路54)によって制御されるCeqの値を示す。このように、回路54はバッファステージ40のAC利得を制御し得る。
負荷抵抗器1306、1307は、代表的なバッファステージ40の望ましくないDCオフセット(つまり、Inにおける電圧とIn_Bにおける電圧が等しいとき、Outにおける電圧とOut_Bにおける電圧間における不均衡)を除去するために用いられ得る。これに応じて、図4はDC利得制御回路64(例えば、図1の比較回路64)によって制御されるRL1とRL2の値を示す。図4はまた、バッファ40に所望のコモンモード電圧を与えるため、It1およびIt2の値を制御するDC利得制御回路64を示す。さらに、RL1とRL2に対する調節がコモンモード電圧に影響を与える場合、DC利得制御回路64はまた、所望のコモンモード電圧が常に維持されるようにIt1とIt2を制御し得る。
上記オフセット補正能力に加えて、調節可能な抵抗器1306、1307および1314は、代表的なバッファステージ40に制御可能に可変なDC利得を与える。出力Out_BにおけるDC利得、出力OutにおけるDC利得は、それぞれ、2Rdegに対するRL1の比率、2Rdegに対するRL2の比率によって定義される。それゆえ、図4は、RL1とRL2の値を制御する回路64の上記能力に加えて、DC利得制御回路64がRdegの値を制御することを示す。このように、回路64はバッファ40のDC利得を制御し得る。
上記事項は、本発明の原理の例示に過ぎないこと、および、本発明の範囲および精神から離れることなしに、当業者によってさまざまな変更がなされ得ることが理解される。例えば、回路内に採用されたイコライザステージ40の数は、記載の例示的実施形態で示される数よりも、多くも少なくもあり得る。

Claims (30)

  1. シリアルデータ信号を受け取る回路であって、
    シリアルデータ信号を受け取り、該信号のイコライゼーションされたバージョンを発生させる調節可能なイコライザ回路であって、制御可能に可変な利得を有するイコライザ回路と、
    該イコライゼーションされたバージョンのアイのアイ高さおよびアイ幅のうちの少なくとも1つをモニターするアイモニター回路であって、該アイモニター回路は、該アイモニター回路によって検知された該アイ高さおよびアイ幅のうちの1つに少なくとも部分的に基づいて該利得を制御するアイモニター回路と
    を含み、
    該アイモニター回路は、
    該アイ高さおよびアイ幅のうちの少なくとも1つと比較されるレファレンス源を含み、
    該レファレンス源は、
    レファレンスアイ高さの源として該シリアルデータ信号のDC成分を検知する回路と、
    レファレンスアイ幅の源として該シリアルデータ信号のAC成分を検知する回路と
    のうちの少なくとも1つを含む、回路。
  2. 請求項1に記載の回路であって、前記制御可能に可変な利得がDC利得である、回路。
  3. 請求項1に記載の回路であって、前記アイ高さおよびアイ幅のうちの少なくとも1つアイ高さである、回路。
  4. 請求項1に記載の回路であって、前記制御可能に可変な利得がAC利得である、回路。
  5. 請求項1に記載の回路であって、前記アイ高さおよびアイ幅のうちの少なくとも1つアイ幅である、回路。
  6. 請求項3に記載の回路であって、前記レファレンス源は、レファレンスアイ高さの源として前記シリアルデータ信号のDC成分を検知する回路を含み、前記アイモニター回路は、該レファレンスアイ高さを該アイモニター回路によって検知された前記アイ高さと比較する回路をさらに含む、回路。
  7. 請求項に記載の回路であって、前記レファレンスアイ高さの源が、
    前記シリアルデータ信号のDC成分を検知する回路のDC成分出力信号をフィルターする回路
    をさらに含む、回路。
  8. 請求項5に記載の回路であって、前記レファレンス源は、レファレンスアイ幅の源として前記シリアルデータ信号のAC成分を検知する回路を含み、前記アイモニター回路は、該レファレンスアイ幅を該アイモニター回路によって検知された前記アイ幅と比較する回路をさらに含む、回路。
  9. 請求項に記載の回路であって、前記レファレンスアイ幅の源が、
    前記シリアルデータ信号のAC成分を検知する回路のAC成分出力信号をフィルターする回路
    をさらに含む、回路。
  10. 請求項2に記載の回路であって、前記イコライザ回路が、
    可変な負荷抵抗器と可変な縮退抵抗器であって、該負荷抵抗器と該縮退抵抗器間の比率が前記DC利得に影響するよう、回路関係上、互いに接続されており、前記アイモニター回路が該負荷抵抗器と該縮退抵抗器の少なくとも一方の抵抗を制御する、可変な負荷抵抗器と可変な縮退抵抗器
    を含む、回路。
  11. 請求項4に記載の回路であって、前記イコライゼーション回路が、
    前記AC利得に影響する可変なイコライゼーションコンデンサーであって、前記アイモニター回路が該イコライゼーションコンデンサーの静電容量を制御する、イコライゼーションコンデンサー
    を含む、回路。
  12. シリアルデータ信号を受け取る回路であって、
    該シリアルデータ信号を受け取り、該信号のイコライゼーションされたバージョンを発生させる調節可能なイコライザ回路であって、該シリアルデータ信号と比較したときのイコライゼーションされたバージョンの利得を調節する制御可能に可変な要素を含むイコライザ回路と、
    該イコライゼーションされたバージョンのアイのアイ高さおよびアイ幅のうちの少なくとも1つを示す出力信号を発生させるアイモニター回路と、
    該制御可能に可変な要素を制御する基準として出力信号を用いる制御回路と
    を含み、
    該アイモニター回路は、
    該アイ高さおよびアイ幅のうちの少なくとも1つと比較されるレファレンス源を含み、
    該レファレンス源は、
    レファレンスアイ高さの源として該シリアルデータ信号のDC成分を検知する回路と、
    レファレンスアイ幅の源として該シリアルデータ信号のAC成分を検知する回路と
    のうちの少なくとも1つを含む、回路。
  13. 請求項12に記載の回路であって、前記アイ高さおよびアイ幅のうちの少なくとも1つアイ高さである、回路。
  14. 請求項12に記載の回路であって、前記利得がDC利得である、回路。
  15. 請求項12に記載の回路であって、前記アイ高さおよびアイ幅のうちの少なくとも1つアイ幅である、回路。
  16. 請求項12に記載の回路であって、前記利得がAC利得である、回路。
  17. シリアルデータ信号を受け取る方法であって、
    シリアルデータ信号を受け取り、制御可能に可変な利得で該信号のイコライゼーションされたバージョンを発生させることと、
    該イコライゼーションされたバージョンのアイのアイ高さおよびアイ幅のうちの少なくとも1つをモニターすることと、
    アイ高さおよびアイ幅のうちの少なくとも1つをモニターすることにおいて検知された該アイ高さおよびアイ幅のうちの少なくとも1つに少なくとも部分的に基づいて該利得を制御することと
    を含み、
    該制御することは、
    該シリアルデータ信号のDC成分を検知することにより、該シリアルデータ信号からレファレンスアイ高さを導出することと、
    該シリアルデータ信号のAC成分を検知することにより、該シリアルデータ信号からレファレンスアイ幅を導出することと
    のうちの少なくとも1つを含む、方法。
  18. 請求項17に記載の方法であって、前記制御可能に可変な利得がDC利得である、方法。
  19. 請求項17に記載の方法であって、前記アイ高さおよびアイ幅のうちの少なくとも1つアイ高さである、方法。
  20. 請求項17に記載の方法であって、前記制御可能に可変な利得がAC利得である、方法。
  21. 請求項17に記載の方法であって、前記アイ高さおよびアイ幅のうちの少なくとも1つアイ幅である、方法。
  22. 請求項19に記載の方法であって、前記利得を制御することが、
    前記検知されたアイ高さを前記レファレンスアイ高さと比較すること
    を含む、方法。
  23. 請求項17に記載の方法であって、前記レファレンスアイ高さを導出することが、前記DC成分を検知することの出力をフィルターすることをさらに含む、方法。
  24. 請求項21に記載の方法であって、前記利得を制御することが、
    前記検知されたアイ幅を前記レファレンスアイ幅と比較すること
    を含む、方法。
  25. 請求項21に記載の方法であって、前記レファレンスアイ幅を導出することが、前記AC成分を検知することの出力をフィルターすることをさらに含む、方法。
  26. 請求項18に記載の方法であって、前記DC利得を制御することが、
    複数の抵抗器の抵抗の値間の比率を制御すること
    を含む、方法。
  27. 請求項20に記載の方法であって、前記AC利得を制御することが、
    イコライゼーションコンデンサーの静電容量を制御すること
    を含む、方法。
  28. 請求項1に記載の回路であって、前記アイ高さおよびアイ幅のうちの少なくとも1つは、アイ高さおよびアイ幅の両方であり、前記レファレンス源は、
    レファレンスアイ高さの源として前記シリアルデータ信号のDC成分を検知する回路、および
    レファレンスアイ幅の源として該シリアルデータ信号のAC成分を検知する回路
    の両方を含む、回路。
  29. 請求項12に記載の回路であって、前記アイ高さおよびアイ幅のうちの少なくとも1つは、アイ高さおよびアイ幅の両方であり、前記レファレンス源は、
    レファレンスアイ高さの源として前記シリアルデータ信号のDC成分を検知する回路、および
    レファレンスアイ幅の源として該シリアルデータ信号のAC成分を検知する回路
    の両方を含む、回路。
  30. 請求項17に記載の方法であって、前記アイ高さおよびアイ幅のうちの少なくとも1つは、アイ高さおよびアイ幅の両方であり、前記制御することは、
    前記シリアルデータ信号のDC成分を検知することにより、該シリアルデータ信号からレファレンスアイ高さを導出すること、および
    該シリアルデータ信号のAC成分を検知することにより、該シリアルデータ信号からレファレンスアイ幅を導出すること
    の両方を含む、方法。
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