JP5561849B2 - 検査装置の操作方法及び検査装置の操作プログラム - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 95
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 82
- 230000007717 exclusion Effects 0.000 claims description 180
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 claims description 24
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 21
- 230000000881 depressing effect Effects 0.000 claims 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 25
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 14
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 8
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 8
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 2
- 238000011017 operating method Methods 0.000 description 2
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2894—Aspects of quality control [QC]
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- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
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Description
文字Oが見つかった時には、「Oが見つかった時の処理」を図11に示すフローに従って開始する。文字列に文字Oが入っていない時には、文字列(例えば、1、2など)からボタン押下条件を判定し(ステップS28)、判定の結果がNG(ボタン押下条件を満たさない)であるか否かについて判定する(ステップS29)。判定結果がNGであれば判定結果を返り値にセットし(ステップS30)、排他条件の判定を終了する。判定結果がNGでなければ、排他条件パターンPの文字列を最後まで進め(ステップS31)、ステップS23に戻り、ステップ23において排他条件パターンPの文字列の全てを参照し終えた場合には排他条件の判定処理を終了する。
「Oが見つかった時の処理」を終了する。
13 制御装置(コンピュータ)
14 モニター
14A メイン画面
14A1、14A2 操作ボタン
14B ステージ画面
14B2 操作ボタン
17 ステージ
Claims (5)
- 複数の検査用のステージを備えた検査装置を、複数のモニターにそれぞれ表示される操作画面の操作ボタンを用いて操作する方法であって、
上記検査装置の各種の機能をそれぞれ実行するために必要な機能データを排他条件としてまとめた排他条件データと、上記排他条件データの上記排他条件を、上記各種の機能をそれぞれ実行するための操作ボタンを押下できるか否かのデータとしてまとめた排他条件パターンと、を用意する工程と、
上記検査装置の運用状況に即して上記操作画面または少なくとも一つの上記操作ボタンを排除するための排他条件ボタンを上記モニターの少なくとも一つに準備する工程と、
上記排他条件ボタンを押下して上記排他条件データと上記排他条件パターンを参照して上記排他条件ボタンの排他条件を判定する工程と、
上記判定結果に基づいて上記他のモニターでは上記少なくとも一つのモニターの上記排他条件ボタンの示す排他条件に即した上記操作画面または少なくとも一つの上記操作ボタンの表示を禁止する工程と、を備えた
ことを特徴とする検査装置の操作方法。 - 上記モニターは、上記各ステージにそれぞれ割り振られた複数のステージ画面と、これらのステージ画面以外のメイン画面と、を表示することを特徴とする請求項1に記載の検査装置の操作方法。
- 上記ステージ画面と上記メイン画面にはそれぞれ操作モードが表示され、上記操作モードは、半導体ウエハの検査のために用いられるオペレータモードと、上記ステージを止めて所定の作業するために用いられるシステムモードと、からなることを特徴とする請求項2に記載の検査装置の操作方法。
- 上記モニターに上記システムモードが表示されている時には、上記他のモニターには上記システムモードを表示しないことを特徴とする請求項3に記載の検査装置の操作方法。
- 半導体ウエハの電気的特性検査のために複数のステージを備えた検査装置を操作するために用いられるプログラムであって、コンピュータを駆動させて、請求項1〜4のいずれか1項に記載の検査装置の操作方法を実行することを特徴とする検査装置の操作用プログラム。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009186913A JP5561849B2 (ja) | 2009-08-11 | 2009-08-11 | 検査装置の操作方法及び検査装置の操作プログラム |
CN2010102356065A CN101995539B (zh) | 2009-08-11 | 2010-07-22 | 检查装置的操作方法 |
KR1020100072790A KR101177690B1 (ko) | 2009-08-11 | 2010-07-28 | 검사 장치의 조작 방법 및 검사 장치의 조작 프로그램을 기록한 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체 |
US12/851,817 US8319514B2 (en) | 2009-08-11 | 2010-08-06 | Method and program for operating test apparatus |
TW099126617A TWI493204B (zh) | 2009-08-11 | 2010-08-10 | Check the operation of the device and check the operation of the computer program products |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009186913A JP5561849B2 (ja) | 2009-08-11 | 2009-08-11 | 検査装置の操作方法及び検査装置の操作プログラム |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011038906A JP2011038906A (ja) | 2011-02-24 |
JP2011038906A5 JP2011038906A5 (ja) | 2012-07-19 |
JP5561849B2 true JP5561849B2 (ja) | 2014-07-30 |
Family
ID=43623913
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009186913A Expired - Fee Related JP5561849B2 (ja) | 2009-08-11 | 2009-08-11 | 検査装置の操作方法及び検査装置の操作プログラム |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8319514B2 (ja) |
JP (1) | JP5561849B2 (ja) |
KR (1) | KR101177690B1 (ja) |
CN (1) | CN101995539B (ja) |
TW (1) | TWI493204B (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5086983B2 (ja) * | 2008-12-15 | 2012-11-28 | 株式会社東芝 | プローブ装置、処理装置及びウェハプローブテストの処理方法 |
JP4480796B1 (ja) * | 2009-09-02 | 2010-06-16 | 株式会社アドバンテスト | 試験装置、試験方法およびプログラム |
JP6267928B2 (ja) | 2013-10-29 | 2018-01-24 | 東京エレクトロン株式会社 | ウエハ検査装置の整備用台車及びウエハ検査装置の整備方法 |
JP6827380B2 (ja) * | 2017-07-11 | 2021-02-10 | 東京エレクトロン株式会社 | 検査装置およびメンテナンスのガイダンス方法 |
JP7122236B2 (ja) * | 2018-11-28 | 2022-08-19 | 東京エレクトロン株式会社 | 検査装置、メンテナンス方法、及びプログラム |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4070565A (en) * | 1976-08-18 | 1978-01-24 | Zehntel, Inc. | Programmable tester method and apparatus |
JP2867982B2 (ja) * | 1996-11-29 | 1999-03-10 | 日本電気株式会社 | 半導体装置の製造装置 |
JP4434180B2 (ja) | 1998-04-21 | 2010-03-17 | 株式会社日立製作所 | 自動分析装置 |
US6336204B1 (en) * | 1998-05-07 | 2002-01-01 | Applied Materials, Inc. | Method and apparatus for handling deadlocks in multiple chamber cluster tools |
CN100336027C (zh) * | 2004-04-13 | 2007-09-05 | 英业达股份有限公司 | 多种互斥条件下的多模式测试系统及其方法 |
JP4478603B2 (ja) * | 2005-03-29 | 2010-06-09 | 富士通株式会社 | 動作試験方法、動作試験装置及びプログラム |
JP4960237B2 (ja) * | 2005-08-18 | 2012-06-27 | パナソニック株式会社 | 競合解決装置 |
JP4715692B2 (ja) * | 2006-09-20 | 2011-07-06 | 富士通株式会社 | 動作試験装置、動作試験方法および動作試験情報処理プログラム |
JP5120018B2 (ja) * | 2007-05-15 | 2013-01-16 | 東京エレクトロン株式会社 | プローブ装置 |
KR100841956B1 (ko) | 2008-03-04 | 2008-06-27 | (주)누리시스템 | 모니터링 효율이 향상된 반도체 제품 테스트 장치 |
JP2010157550A (ja) * | 2008-12-26 | 2010-07-15 | Toshiba Corp | ウエハテストシステム |
-
2009
- 2009-08-11 JP JP2009186913A patent/JP5561849B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2010
- 2010-07-22 CN CN2010102356065A patent/CN101995539B/zh active Active
- 2010-07-28 KR KR1020100072790A patent/KR101177690B1/ko active IP Right Grant
- 2010-08-06 US US12/851,817 patent/US8319514B2/en active Active
- 2010-08-10 TW TW099126617A patent/TWI493204B/zh active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2011038906A (ja) | 2011-02-24 |
TW201207415A (en) | 2012-02-16 |
CN101995539B (zh) | 2013-07-10 |
CN101995539A (zh) | 2011-03-30 |
KR101177690B1 (ko) | 2012-08-29 |
TWI493204B (zh) | 2015-07-21 |
US20110050276A1 (en) | 2011-03-03 |
US8319514B2 (en) | 2012-11-27 |
KR20110016397A (ko) | 2011-02-17 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120606 |
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140527 |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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R250 | Receipt of annual fees |
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