JP4974523B2 - 基板検査装置および基板検査方法 - Google Patents
基板検査装置および基板検査方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4974523B2 JP4974523B2 JP2005374969A JP2005374969A JP4974523B2 JP 4974523 B2 JP4974523 B2 JP 4974523B2 JP 2005374969 A JP2005374969 A JP 2005374969A JP 2005374969 A JP2005374969 A JP 2005374969A JP 4974523 B2 JP4974523 B2 JP 4974523B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- recipe
- inspection
- recipe information
- slot
- information
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
また、本発明は、基板の処理内容を定義するレシピ情報に基づいて前記基板の検査を1つのカセット内の複数品種に対して行う基板検査装置において、品種ごとの前記レシピ情報を記憶する記憶手段と、検査する品種ごとの前記レシピ情報を前記記憶手段から読み出し、読み出した前記レシピ情報の内容を、前記カセット内の指定された複数のスロットに対して一括で割り付けることにより、新たなレシピ情報を生成する情報生成手段とを具備し、前記情報生成手段は、事前に設定された前記レシピ情報の割付モードに従って前記レシピ情報の内容を一括で割り付けることによって、前記新たなレシピ情報を生成し、生成された前記新たなレシピ情報を、事前に入力された検査時必要条件に適合するように再度編集することを特徴とする基板検査装置である。
また、本発明は、基板の処理内容を定義するレシピ情報に基づいて前記基板の検査を1つのカセット内の複数品種に対して行う基板検査方法において、前記レシピ情報の割付モードを入力するステップと、検査対象の基板の品種、および該基板が収納されたスロットの位置情報を取得するステップと、前記基板の品種に対応する前記レシピ情報を取得するステップと、入力された前記割付モードに従って、各品種の前記レシピ情報を、該レシピ情報に対応した前記カセット内の指定された複数のスロットに対して一括で割り付けることにより、新たなレシピ情報を生成するステップと、事前に設定された前記レシピ情報の割付モードに従って前記レシピ情報の内容を一括で割り付けることによって、前記新たなレシピ情報を生成するステップと、生成された前記新たなレシピ情報を、事前に入力された検査時必要条件に適合するように再度編集するステップと、を含むことを特徴とする基板検査方法である。
Claims (9)
- 基板の処理内容を定義するレシピ情報に基づいて前記基板の検査を1つのカセット内の複数品種に対して行う基板検査装置において、
品種ごとの前記レシピ情報を記憶する記憶手段と、
検査する品種ごとの前記レシピ情報を前記記憶手段から読み出し、読み出した前記レシピ情報の内容を、前記カセット内の指定された複数のスロットに対して一括で割り付けることにより、新たなレシピ情報を生成する情報生成手段とを具備し、
前記情報生成手段は、前記レシピ情報の内容を割り付けたスロットが存在しない場合に、該スロットに割り付けた内容を他の同じ品種に対応するスロットに割り付ける
ことを特徴とする基板検査装置。 - 基板の処理内容を定義するレシピ情報に基づいて前記基板の検査を1つのカセット内の複数品種に対して行う基板検査装置において、
品種ごとの前記レシピ情報を記憶する記憶手段と、
検査する品種ごとの前記レシピ情報を前記記憶手段から読み出し、読み出した前記レシピ情報の内容を、前記カセット内の指定された複数のスロットに対して一括で割り付けることにより、新たなレシピ情報を生成する情報生成手段とを具備し、
前記情報生成手段は、事前に設定された前記レシピ情報の割付モードに従って前記レシピ情報の内容を一括で割り付けることによって、前記新たなレシピ情報を生成し、生成された前記新たなレシピ情報を、事前に入力された検査時必要条件に適合するように再度編集する
ことを特徴とする基板検査装置。 - 前記情報生成手段はさらに、前記記憶手段から読み出したレシピ情報に基づいて、処理単位の品種ごとの複数のスロットに対して抜き取り検査を一括で割り付けることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の基板検査装置。
- 前記情報生成手段は、品種ごとに割り付けられる前記レシピ情報のスロット番号の1番から順に前記レシピ情報の内容を一括で割り付けることを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれかの項に記載の基板検査装置。
- 前記情報生成手段は、検査対象のスロットのスロット番号と、該スロットに割り付けられる前記レシピ情報のスロット番号とが同一となるように前記レシピ情報の内容を一括で割り付けることを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれかの項に記載の基板検査装置。
- 前記検査時必要条件は、検査種類ごとの抜き取り検査比率であることを特徴とする請求項2に記載の基板検査装置。
- 前記検査時必要条件は、検査種類ごとの最低検査回数であることを特徴とする請求項2に記載の基板検査装置。
- 基板の処理内容を定義するレシピ情報に基づいて前記基板の検査を1つのカセット内の複数品種に対して行う基板検査方法において、
前記レシピ情報の割付モードを入力するステップと、
検査対象の基板の品種、および該基板が収納されたスロットの位置情報を取得するステップと、
前記基板の品種に対応する前記レシピ情報を取得するステップと、
入力された前記割付モードに従って、各品種の前記レシピ情報を、該レシピ情報に対応した前記カセット内の指定された複数のスロットに対して一括で割り付けることにより、新たなレシピ情報を生成するステップと、
前記レシピ情報の内容を割り付けたスロットが存在しない場合に、該スロットに割り付けた内容を他の同じ品種に対応するスロットに割り付けるステップと、
を含むことを特徴とする基板検査方法。 - 基板の処理内容を定義するレシピ情報に基づいて前記基板の検査を1つのカセット内の複数品種に対して行う基板検査方法において、
前記レシピ情報の割付モードを入力するステップと、
検査対象の基板の品種、および該基板が収納されたスロットの位置情報を取得するステップと、
前記基板の品種に対応する前記レシピ情報を取得するステップと、
入力された前記割付モードに従って、各品種の前記レシピ情報を、該レシピ情報に対応した前記カセット内の指定された複数のスロットに対して一括で割り付けることにより、新たなレシピ情報を生成するステップと、
事前に設定された前記レシピ情報の割付モードに従って前記レシピ情報の内容を一括で割り付けることによって、前記新たなレシピ情報を生成するステップと、
生成された前記新たなレシピ情報を、事前に入力された検査時必要条件に適合するように再度編集するステップと、
を含むことを特徴とする基板検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005374969A JP4974523B2 (ja) | 2004-12-28 | 2005-12-27 | 基板検査装置および基板検査方法 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004379694 | 2004-12-28 | ||
JP2004379694 | 2004-12-28 | ||
JP2005374969A JP4974523B2 (ja) | 2004-12-28 | 2005-12-27 | 基板検査装置および基板検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006210901A JP2006210901A (ja) | 2006-08-10 |
JP4974523B2 true JP4974523B2 (ja) | 2012-07-11 |
Family
ID=36967329
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005374969A Expired - Fee Related JP4974523B2 (ja) | 2004-12-28 | 2005-12-27 | 基板検査装置および基板検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4974523B2 (ja) |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06120316A (ja) * | 1992-08-21 | 1994-04-28 | Fujitsu Ltd | 部品の試験方法 |
JP3887493B2 (ja) * | 1998-07-16 | 2007-02-28 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 基板処理方法及び同装置 |
-
2005
- 2005-12-27 JP JP2005374969A patent/JP4974523B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2006210901A (ja) | 2006-08-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5411211B2 (ja) | 欠陥分析器 | |
JP5415182B2 (ja) | 画像処理装置及びプログラム作成支援装置並びに画像処理方法 | |
TW201511161A (zh) | 自動檢驗從膜片架正確移除晶粒之系統及其方法 | |
TW200408792A (en) | Automated creation of metrology recipes | |
JP2008004806A (ja) | ウエーハの加工結果管理方法 | |
US7308329B2 (en) | Method and apparatus for inspecting semiconductor wafer | |
CN104977900B (zh) | 具备多个主轴的复合车床的设备状态显示装置 | |
JP2010048789A (ja) | プローブの研磨方法、プローブ研磨用プログラム及びプローブ装置 | |
TW201532121A (zh) | 基板處理裝置之控制裝置、基板處理裝置及顯示控制裝置 | |
US10984520B2 (en) | User interface and maintenance guidance method | |
TWI493204B (zh) | Check the operation of the device and check the operation of the computer program products | |
JP4974523B2 (ja) | 基板検査装置および基板検査方法 | |
JP4801545B2 (ja) | 欠陥検査解析システム、欠陥検査解析方法及びこれに用いる管理コンピュータ | |
JPH05258705A (ja) | 顕微鏡像表示装置 | |
JP2009278029A (ja) | ダイシング装置 | |
JP2013148349A (ja) | レビュー方法、およびレビュー装置 | |
CN112074728B (zh) | 荧光x射线分析系统 | |
JP5696194B2 (ja) | プログラム作成支援装置及び画像処理装置 | |
JP5278057B2 (ja) | 産業用ロボットの位置教示装置、産業用ロボットの動作教示装置およびプログラム | |
JP2020053477A (ja) | 加工装置 | |
JP2008147443A (ja) | 工程管理システム及び工程管理方法 | |
JP2006308360A (ja) | 外観検査装置 | |
CN113495529A (zh) | 加工装置 | |
JP2007127578A (ja) | 欠陥検査装置および欠陥検査方法 | |
JP5466811B2 (ja) | 基板検査装置および基板検査方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20081118 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20111018 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20111213 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20111214 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120403 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120410 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150420 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |