JPH05258705A - 顕微鏡像表示装置 - Google Patents
顕微鏡像表示装置Info
- Publication number
- JPH05258705A JPH05258705A JP4052417A JP5241792A JPH05258705A JP H05258705 A JPH05258705 A JP H05258705A JP 4052417 A JP4052417 A JP 4052417A JP 5241792 A JP5241792 A JP 5241792A JP H05258705 A JPH05258705 A JP H05258705A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- microscope
- observation
- frame memory
- image
- display device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Controls And Circuits For Display Device (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 観察位置や観察条件を変えた複数の顕微鏡像
を1つの表示装置内で表示しこれを適宜選択して観察可
能な顕微鏡像表示装置を提供する。 【構成】 複数の顕微鏡像を記憶するフレームメモリ8
と、該複数のフレームメモリに記憶された顕微鏡像を同
時にまたは切換えて表示する表示手段9とを具備する。
を1つの表示装置内で表示しこれを適宜選択して観察可
能な顕微鏡像表示装置を提供する。 【構成】 複数の顕微鏡像を記憶するフレームメモリ8
と、該複数のフレームメモリに記憶された顕微鏡像を同
時にまたは切換えて表示する表示手段9とを具備する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光学顕微鏡や走査型電
子顕微鏡等の試料像表示装置に関し、例えば、半導体ウ
エハの観察、検査および測定用の顕微鏡に対し適用され
る顕微鏡像表示装置に関するものである。
子顕微鏡等の試料像表示装置に関し、例えば、半導体ウ
エハの観察、検査および測定用の顕微鏡に対し適用され
る顕微鏡像表示装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の顕微鏡試料像の表示装置を半導体
ウエハの観察、検査、測定用走査型電子顕微鏡を例に取
って説明する。近年半導体ディバイスの高集積化に伴
い、半導体ディバイス製造の途中工程でディバイスを観
察、検査、測定するために、光学顕微鏡より分解能が高
い走査型電子顕微鏡が使われるようになってきた。
ウエハの観察、検査、測定用走査型電子顕微鏡を例に取
って説明する。近年半導体ディバイスの高集積化に伴
い、半導体ディバイス製造の途中工程でディバイスを観
察、検査、測定するために、光学顕微鏡より分解能が高
い走査型電子顕微鏡が使われるようになってきた。
【0003】従来の走査型電子顕微鏡は試料に当てる電
子線の走査に直接同期した表示装置を使用していたた
め、表示の周期が長く長残光のCRTを使用しても明る
いところでは観察しにくいという欠点があった。しかし
ながらこのような欠点は、最近の技術進歩により、試料
から得られる画像情報をデジタル化してフレームメモリ
に記憶しこのメモリの内容を適度に加工処理して、試料
上を走査する電子線とはまったく非同期の高速走査でC
RT上に表示することが可能になったため解消され、従
来に比べ格段に電子顕微鏡での観察がしやすくなった。
また、このものは、一度メモリに記憶してしまうと試料
上の電子線の走査を止めても試料像表示が可能であるた
め、長時間観察する場合の試料の電子線照射によるダメ
ージを少なくできるという長所をもっている。
子線の走査に直接同期した表示装置を使用していたた
め、表示の周期が長く長残光のCRTを使用しても明る
いところでは観察しにくいという欠点があった。しかし
ながらこのような欠点は、最近の技術進歩により、試料
から得られる画像情報をデジタル化してフレームメモリ
に記憶しこのメモリの内容を適度に加工処理して、試料
上を走査する電子線とはまったく非同期の高速走査でC
RT上に表示することが可能になったため解消され、従
来に比べ格段に電子顕微鏡での観察がしやすくなった。
また、このものは、一度メモリに記憶してしまうと試料
上の電子線の走査を止めても試料像表示が可能であるた
め、長時間観察する場合の試料の電子線照射によるダメ
ージを少なくできるという長所をもっている。
【0004】このような走査型電子顕微鏡を用いて半導
体ディバイス製造工程の途中でプロセスをモニターする
場合、半導体ウエハ上の複数の位置でパターン形状や構
造形成状態等が観察される。この場合、各観察位置で観
察目的に応じて倍率や観察層深さ等を変えて顕微鏡像を
観察し、あるいは同一位置で時間を経過させて顕微鏡像
を観察し、プロセス経過をモニターしていた。
体ディバイス製造工程の途中でプロセスをモニターする
場合、半導体ウエハ上の複数の位置でパターン形状や構
造形成状態等が観察される。この場合、各観察位置で観
察目的に応じて倍率や観察層深さ等を変えて顕微鏡像を
観察し、あるいは同一位置で時間を経過させて顕微鏡像
を観察し、プロセス経過をモニターしていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
走査型電子顕微鏡においては、1つの顕微鏡像を表示す
ることしか考えられていなかった。このため異なる観察
位置同士を比較する場合には不便であった。また、前の
観察位置に戻って観察する場合にはオペレータが観察条
件を設定し直さなければならず、操作が面倒であった。
走査型電子顕微鏡においては、1つの顕微鏡像を表示す
ることしか考えられていなかった。このため異なる観察
位置同士を比較する場合には不便であった。また、前の
観察位置に戻って観察する場合にはオペレータが観察条
件を設定し直さなければならず、操作が面倒であった。
【0006】本発明は、上記従来技術の欠点に鑑みなさ
れたものであって、観察位置や観察条件を変えた複数の
顕微鏡像の観察の容易な顕微鏡像表示装置の提供を目的
とする。
れたものであって、観察位置や観察条件を変えた複数の
顕微鏡像の観察の容易な顕微鏡像表示装置の提供を目的
とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、請求項1の発明に係る顕微鏡像表示装置において
は、複数の顕微鏡像、を記憶するフレームメモリと、該
フレームメモリに記憶された複数の顕微鏡像を同時にま
たは切換えて表示する表示手段とを具備している。請求
項2の発明においては、前記表示手段は、複数のフレー
ムメモリの顕微鏡像を画面分割により一画面上に表示可
能である。
め、請求項1の発明に係る顕微鏡像表示装置において
は、複数の顕微鏡像、を記憶するフレームメモリと、該
フレームメモリに記憶された複数の顕微鏡像を同時にま
たは切換えて表示する表示手段とを具備している。請求
項2の発明においては、前記表示手段は、複数のフレー
ムメモリの顕微鏡像を画面分割により一画面上に表示可
能である。
【0008】請求項3の発明においては、この顕微鏡像
表示装置はさらに、観察すべき試料を搭載する可動ステ
ージと、観察条件を入力する入力手段と、該観察条件に
応じて光学系を制御する光学系制御手段と、予め作成さ
れたシーケンスに従って、異なる条件で観察した複数の
顕微鏡像を前記フレームメモリに記憶させるとともに前
記表示装置に表示させるための顕微鏡制御手段とを具備
している。
表示装置はさらに、観察すべき試料を搭載する可動ステ
ージと、観察条件を入力する入力手段と、該観察条件に
応じて光学系を制御する光学系制御手段と、予め作成さ
れたシーケンスに従って、異なる条件で観察した複数の
顕微鏡像を前記フレームメモリに記憶させるとともに前
記表示装置に表示させるための顕微鏡制御手段とを具備
している。
【0009】請求項4の発明においては、複数の顕微鏡
像を記憶するフレームメモリと;該フレームメモリに記
憶された顕微鏡像を同時にまたは切換えて表示する表示
手段と;観察すべき試料を搭載する可動ステージと;観
察条件を入力する入力手段と;該観察条件に応じて光学
系を制御する光学系制御手段と;前記観察条件を記憶す
る観察条件記憶手段と;前記フレームメモリの顕微鏡像
を選択して指定する指示手段と;異なる条件で観察した
複数の顕微鏡像を前記フレームメモリに記憶させるとと
もに前記表示装置に表示させ、さらに前記指示手段によ
り指定された顕微鏡像の観察条件を前記記憶手段から読
み出し指定された顕微鏡像をその観察条件で実時間で前
記表示装置に表示するように構成した顕微鏡制御手段を
具備している。
像を記憶するフレームメモリと;該フレームメモリに記
憶された顕微鏡像を同時にまたは切換えて表示する表示
手段と;観察すべき試料を搭載する可動ステージと;観
察条件を入力する入力手段と;該観察条件に応じて光学
系を制御する光学系制御手段と;前記観察条件を記憶す
る観察条件記憶手段と;前記フレームメモリの顕微鏡像
を選択して指定する指示手段と;異なる条件で観察した
複数の顕微鏡像を前記フレームメモリに記憶させるとと
もに前記表示装置に表示させ、さらに前記指示手段によ
り指定された顕微鏡像の観察条件を前記記憶手段から読
み出し指定された顕微鏡像をその観察条件で実時間で前
記表示装置に表示するように構成した顕微鏡制御手段を
具備している。
【0010】
【作用】本発明の構成により、一旦フレームメモリに記
憶された複数の顕微鏡像が1つの表示装置により表示さ
れる。この場合、画面分割により同一画面上に複数の顕
微鏡像を表示することもできるし、また画面を切換えて
順次複数の顕微鏡像を表示することもできる。
憶された複数の顕微鏡像が1つの表示装置により表示さ
れる。この場合、画面分割により同一画面上に複数の顕
微鏡像を表示することもできるし、また画面を切換えて
順次複数の顕微鏡像を表示することもできる。
【0011】また、予め観察したい複数の観察位置や観
察条件をシーケンスプログラムとしてファイル化してお
くことにより、同一ロット内のウエハ等類似のウエハに
ついては自動的に複数の観察位置に移動してそれぞれの
観察条件で顕微鏡像が表示される。さらに、表示装置に
表示された複数の顕微鏡像のうち任意の1つについて、
倍率等の観察条件を変更して見たい場合、マウス等の指
示手段を用いてその顕微鏡像を選択指示することによ
り、その顕微鏡像が実時間表示に切換わり観察条件を任
意に変更して観察することができる。
察条件をシーケンスプログラムとしてファイル化してお
くことにより、同一ロット内のウエハ等類似のウエハに
ついては自動的に複数の観察位置に移動してそれぞれの
観察条件で顕微鏡像が表示される。さらに、表示装置に
表示された複数の顕微鏡像のうち任意の1つについて、
倍率等の観察条件を変更して見たい場合、マウス等の指
示手段を用いてその顕微鏡像を選択指示することによ
り、その顕微鏡像が実時間表示に切換わり観察条件を任
意に変更して観察することができる。
【0012】
【実施例】図1は本発明の実施例に係る顕微鏡像表示装
置の構成図である。図において、1はこの表示装置全体
を制御して顕微鏡としての機能を果すためのCPUを備
えた顕微鏡制御装置、2は表示された複数の顕微鏡像の
うち1つを選択して指示するための指示装置(ポインテ
ィングデバイス)である。指示装置2としては、マウ
ス、トラックボール、ライトペン、タッチスクリーン、
ジョイスティックその他適当な画像指示位置入力手段を
用いることができる。3は例えばキーボードからなる入
力パネルであり、倍率や加速電圧等の観察条件および観
察すべき試料の搬送指示等を顕微鏡制御装置1に入力す
るためのものである。4は顕微鏡像取得時の観察条件を
一時的に記憶しておくための観察条件記憶装置、5は試
料の受渡しやステージの位置を制御するためのステージ
制御装置、6は電子顕微鏡の電子光学系を制御するため
の電子光学系制御装置、7は電子顕微鏡を構成する電子
レンズ等からなる電子光学系である。8はフレームメモ
リであり、電子光学系7を制御して取込んだ複数の画像
を一時的に記憶する。9は表示装置であり、フレームメ
モリ8に記憶された複数の顕微鏡像を任意に配置合成し
て画面上に表示する。10は観察すべきウエハ等の試
料、11は試料10を搭載する試料ステージである。1
2は電子検出器であり、試料10からの反射電子あるい
は2次電子を検出し観察点の画像信号を得る。電子光学
系7および試料10、試料ステージ11は図示しない真
空チャンバー内に収容され電子顕微鏡本体を構成する。
試料10は、例えばオートウエハローダ、アンローダ等
の試料搬送手段(図示しない)により試料ステージ11
上に搬送される。
置の構成図である。図において、1はこの表示装置全体
を制御して顕微鏡としての機能を果すためのCPUを備
えた顕微鏡制御装置、2は表示された複数の顕微鏡像の
うち1つを選択して指示するための指示装置(ポインテ
ィングデバイス)である。指示装置2としては、マウ
ス、トラックボール、ライトペン、タッチスクリーン、
ジョイスティックその他適当な画像指示位置入力手段を
用いることができる。3は例えばキーボードからなる入
力パネルであり、倍率や加速電圧等の観察条件および観
察すべき試料の搬送指示等を顕微鏡制御装置1に入力す
るためのものである。4は顕微鏡像取得時の観察条件を
一時的に記憶しておくための観察条件記憶装置、5は試
料の受渡しやステージの位置を制御するためのステージ
制御装置、6は電子顕微鏡の電子光学系を制御するため
の電子光学系制御装置、7は電子顕微鏡を構成する電子
レンズ等からなる電子光学系である。8はフレームメモ
リであり、電子光学系7を制御して取込んだ複数の画像
を一時的に記憶する。9は表示装置であり、フレームメ
モリ8に記憶された複数の顕微鏡像を任意に配置合成し
て画面上に表示する。10は観察すべきウエハ等の試
料、11は試料10を搭載する試料ステージである。1
2は電子検出器であり、試料10からの反射電子あるい
は2次電子を検出し観察点の画像信号を得る。電子光学
系7および試料10、試料ステージ11は図示しない真
空チャンバー内に収容され電子顕微鏡本体を構成する。
試料10は、例えばオートウエハローダ、アンローダ等
の試料搬送手段(図示しない)により試料ステージ11
上に搬送される。
【0013】このようにフレームメモリを備えた電子顕
微鏡の画像表示には以下に説明する2通りの表示モード
がある。1つは現在観察している試料像をそのまま表示
する実時間表示モードである。この実時間表示モードで
は、観察倍率や加速電圧およびフォーカス等の観察条件
を変更したり試料を移動して別の場所を観察することが
リアルタイムで行なわれる。
微鏡の画像表示には以下に説明する2通りの表示モード
がある。1つは現在観察している試料像をそのまま表示
する実時間表示モードである。この実時間表示モードで
は、観察倍率や加速電圧およびフォーカス等の観察条件
を変更したり試料を移動して別の場所を観察することが
リアルタイムで行なわれる。
【0014】他の1つはフレームメモリに既に取込んで
ある画像を表示するメモリ表示モードである。このメモ
リ表示モードはメモリに記憶された画像を表示するもの
であるため、当然のことながら表示された画像の観察条
件や観察位置を変えることはできない。ただし、フレー
ムメモリ上の記憶画像を複数枚表示する場合、それぞれ
の画像を表示枠(ウィンドウ)に切取って表示する関係
から、ウィンドウの大きさによってフレームメモリ上の
原画像を多少縮小拡大したりコントラストを調整するこ
とはできる。
ある画像を表示するメモリ表示モードである。このメモ
リ表示モードはメモリに記憶された画像を表示するもの
であるため、当然のことながら表示された画像の観察条
件や観察位置を変えることはできない。ただし、フレー
ムメモリ上の記憶画像を複数枚表示する場合、それぞれ
の画像を表示枠(ウィンドウ)に切取って表示する関係
から、ウィンドウの大きさによってフレームメモリ上の
原画像を多少縮小拡大したりコントラストを調整するこ
とはできる。
【0015】これら2つのモードのうち、実時間表示モ
ードの方が観察条件をただちに変更できるため、オペレ
ータにとっては常に実時間モードで観察することが操作
性の上で好ましい。しかしながら、半導体ウエハを試料
とする場合、ウエハに照射する電子線は極力少ない方が
望ましく実時間モードにおいて常にウエハに電子線が当
った状態としておくことは好ましくない。そこで、オペ
レータは試料上の観察したいパターンを探したり、最適
の観察条件を設定して顕微鏡像を確認するまでは実時間
モードで顕微鏡を操作し、観察条件が確定するとその条
件で画像をフレームメモリに取込み、その後は試料に対
する電子線の照射を停止しメモリ表示モードに切換えて
メモリ上の画像を表示させて観察を行なう。このように
オペレータは、2つの表示モードを適宜切換えながら顕
微鏡を操作する。
ードの方が観察条件をただちに変更できるため、オペレ
ータにとっては常に実時間モードで観察することが操作
性の上で好ましい。しかしながら、半導体ウエハを試料
とする場合、ウエハに照射する電子線は極力少ない方が
望ましく実時間モードにおいて常にウエハに電子線が当
った状態としておくことは好ましくない。そこで、オペ
レータは試料上の観察したいパターンを探したり、最適
の観察条件を設定して顕微鏡像を確認するまでは実時間
モードで顕微鏡を操作し、観察条件が確定するとその条
件で画像をフレームメモリに取込み、その後は試料に対
する電子線の照射を停止しメモリ表示モードに切換えて
メモリ上の画像を表示させて観察を行なう。このように
オペレータは、2つの表示モードを適宜切換えながら顕
微鏡を操作する。
【0016】以下本発明に係る顕微鏡像表示装置の作用
および操作手順を図4のフローチャートに従って説明す
る。まず、オペレータは顕微鏡制御装置1に直結した入
力パネル3を操作し観察したい試料10のパターン位置
を指定する(ステップ21)。顕微鏡制御装置1はこの
観察位置情報に基づいてステージ制御装置5に指令を送
りステージ11を駆動して試料10上の観察したいパタ
ーン位置を電子光学系7の光軸直下に移動させる(ステ
ップ22)。ここで観察したいパターンに応じて電子光
学系7の加速電圧や観察倍率等の観察条件を設定し(ス
テップ23)、検出器12を介して得られた画像をフレ
ームメモリ8を通して表示装置9に表示させ画像を確認
する(ステップ24)。観察条件を最適化し所望の顕微
鏡像が得られると、この画像をフレームメモリ8の第1
面に記憶させる。このときフレームメモリに画像を記録
するとともに、顕微鏡制御装置1はこの画像を取込んだ
時のステージ位置や加速電圧、観察倍率等の観察条件を
観察条件記憶装置4にフレームメモリ8内の画像と対応
づけるため例えば第1というインデックスを付けて自動
的に記憶させる(ステップ25)。
および操作手順を図4のフローチャートに従って説明す
る。まず、オペレータは顕微鏡制御装置1に直結した入
力パネル3を操作し観察したい試料10のパターン位置
を指定する(ステップ21)。顕微鏡制御装置1はこの
観察位置情報に基づいてステージ制御装置5に指令を送
りステージ11を駆動して試料10上の観察したいパタ
ーン位置を電子光学系7の光軸直下に移動させる(ステ
ップ22)。ここで観察したいパターンに応じて電子光
学系7の加速電圧や観察倍率等の観察条件を設定し(ス
テップ23)、検出器12を介して得られた画像をフレ
ームメモリ8を通して表示装置9に表示させ画像を確認
する(ステップ24)。観察条件を最適化し所望の顕微
鏡像が得られると、この画像をフレームメモリ8の第1
面に記憶させる。このときフレームメモリに画像を記録
するとともに、顕微鏡制御装置1はこの画像を取込んだ
時のステージ位置や加速電圧、観察倍率等の観察条件を
観察条件記憶装置4にフレームメモリ8内の画像と対応
づけるため例えば第1というインデックスを付けて自動
的に記憶させる(ステップ25)。
【0017】このようにして、最初の観察点を観察しそ
の画像を観察条件とともに記憶させた後、第2、第
3、...の観察点について順番に、全ての観察すべき
点を観察および記憶終了するまで上記ステップ21〜2
5を繰り返す(ステップ26)。即ち、オペレータは次
の観察位置を指定してステージを移動させ前述と同様に
観察条件を設定し画像を確認した後、フレームメモリ8
の第2面にこの画像を記憶させるとともにその観察条件
を記憶装置4に記憶させる。同様にして、観察したい複
数のパターン位置の顕微鏡像を次々にフレームメモリ8
の第3、第4、...第n面に記憶させる。このとき、
それぞれの画像に対応する観察条件も第2、第3、第
4、...第nのインデックスを付けて観察条件記憶装
置4に記憶される。これらのステップ21からステップ
26までの操作は全て実時間表示モードで行なわれる。
の画像を観察条件とともに記憶させた後、第2、第
3、...の観察点について順番に、全ての観察すべき
点を観察および記憶終了するまで上記ステップ21〜2
5を繰り返す(ステップ26)。即ち、オペレータは次
の観察位置を指定してステージを移動させ前述と同様に
観察条件を設定し画像を確認した後、フレームメモリ8
の第2面にこの画像を記憶させるとともにその観察条件
を記憶装置4に記憶させる。同様にして、観察したい複
数のパターン位置の顕微鏡像を次々にフレームメモリ8
の第3、第4、...第n面に記憶させる。このとき、
それぞれの画像に対応する観察条件も第2、第3、第
4、...第nのインデックスを付けて観察条件記憶装
置4に記憶される。これらのステップ21からステップ
26までの操作は全て実時間表示モードで行なわれる。
【0018】なお、1つの観察点が終了するごとにステ
ップ21に戻って次の観察位置を指定する上記シーケン
ス構成に代えて、最初の観察位置指定ステップ21にお
いて、観察すべき全ての位置を予め入力し、1つの位置
の観察が終了するとステージ移動ステップ22に戻り以
後ステップ23〜25を繰り返すように構成してもよ
い。
ップ21に戻って次の観察位置を指定する上記シーケン
ス構成に代えて、最初の観察位置指定ステップ21にお
いて、観察すべき全ての位置を予め入力し、1つの位置
の観察が終了するとステージ移動ステップ22に戻り以
後ステップ23〜25を繰り返すように構成してもよ
い。
【0019】観察すべき画面を全てフレームメモリ8に
取込み終ると(ステップ26YES)、オペレータは画
面表示のレイアウトを行なう(ステップ27)。この画
面レイアウトの例を図2および図3に示す。図2は最も
基本的な画面4分割表示の例を示す。図3は4つのメモ
リ画面のうち一部が重なるように表示された例を示す。
なお、1画面に表示される顕微鏡像の数や大きさ、形状
あるいは重ね合わせ画像の位置等は例示されたレイアウ
トに限定されず各種レイアウトに変更可能である。この
ようにレイアウトされた画面の各ウィンドウの中にひと
つづつフレームメモリに記憶された顕微鏡像を表示する
(ステップ28)。
取込み終ると(ステップ26YES)、オペレータは画
面表示のレイアウトを行なう(ステップ27)。この画
面レイアウトの例を図2および図3に示す。図2は最も
基本的な画面4分割表示の例を示す。図3は4つのメモ
リ画面のうち一部が重なるように表示された例を示す。
なお、1画面に表示される顕微鏡像の数や大きさ、形状
あるいは重ね合わせ画像の位置等は例示されたレイアウ
トに限定されず各種レイアウトに変更可能である。この
ようにレイアウトされた画面の各ウィンドウの中にひと
つづつフレームメモリに記憶された顕微鏡像を表示する
(ステップ28)。
【0020】上記一連の操作はオペレータによって行な
われるが、この操作をレイアウトまで含めマクロコマン
ドとして手順ファイルにして顕微鏡制御装置1の補助記
憶装置に記憶しておくことにより、次からは手順ファイ
ル名を指定するだけで顕微鏡制御装置1が内部の補助記
憶装置から手順ファイルを読み出し表示画面のレイアウ
トを行ない、次にそのファイルに書かれた手順にしたが
って試料ステージを駆動し、観察条件を設定して画像を
取込み、その度にレイアウトされた画面のウィンドウの
中にひとつづつ顕微鏡像を表示していく。これらの操作
が自動化されることにより大幅な省力化が図られる。
われるが、この操作をレイアウトまで含めマクロコマン
ドとして手順ファイルにして顕微鏡制御装置1の補助記
憶装置に記憶しておくことにより、次からは手順ファイ
ル名を指定するだけで顕微鏡制御装置1が内部の補助記
憶装置から手順ファイルを読み出し表示画面のレイアウ
トを行ない、次にそのファイルに書かれた手順にしたが
って試料ステージを駆動し、観察条件を設定して画像を
取込み、その度にレイアウトされた画面のウィンドウの
中にひとつづつ顕微鏡像を表示していく。これらの操作
が自動化されることにより大幅な省力化が図られる。
【0021】このとき表示されている複数の顕微鏡像は
全てフレームメモリ8に記憶された画像であり、表示モ
ードは自動的にメモリ表示モードに切換わる。したがっ
て、これらの画像は前述のようにこのままでは観察条件
の変更等はできない。しかしながら、この状態からひと
つのウィンドウ内の画像の観察条件を変更してリアルタ
イムで像観察を行ないたい場合が往々にしてある。本発
明では、以下に説明するステップによりこの操作を可能
にしマルチウィンドウ表示の操作性を格段に向上させて
いる。
全てフレームメモリ8に記憶された画像であり、表示モ
ードは自動的にメモリ表示モードに切換わる。したがっ
て、これらの画像は前述のようにこのままでは観察条件
の変更等はできない。しかしながら、この状態からひと
つのウィンドウ内の画像の観察条件を変更してリアルタ
イムで像観察を行ないたい場合が往々にしてある。本発
明では、以下に説明するステップによりこの操作を可能
にしマルチウィンドウ表示の操作性を格段に向上させて
いる。
【0022】いま、図2または図3のように、複数の顕
微鏡像が1画面に表示され、メモリ表示モードになって
いるものとする。オペレータは指示装置(マウス)2を
操作して観察条件を変更して見たい顕微鏡像が表示され
ているウィンドウ内の任意の位置(例えば記号※で示す
位置)にマウスカーソルを移動させる。ここでマウスの
ボタンをクリックしこのウィンドウ内に表示された記憶
画像を指定する(ステップ29)。これによりこのウィ
ンドウ内の画像だけが以下のようにして実時間表示に切
換わる。即ち、まず顕微鏡制御装置1が、マウスボタン
がクリックされた時点のマウスカーソルの位置を読取
り、そのウィンドウに対応する観察条件を観察条件記憶
装置4から読み出す(ステップ30)。次に、顕微鏡制
御装置1は電子光学系制御装置6とステージ制御装置5
に読み出した観察条件の情報指令を送って電子光学系7
およびステージ11を駆動し、その画像がフレームメモ
リ8に取込まれたときと全く同じ観察条件に設定する
(ステップ31)。ここで前述の複数の画面分割レイア
ウト表示を止め、選択したウィンドウの顕微鏡像だけが
1画面全体に表示されるように画面レイアウトを自動的
に変更することも可能である(ステップ32)。このス
テップ32は選択的であり、画面レイアウトを変更しな
いで以下のシーケンスを実行してもよい。画面全体を1
つの画像表示に用いる状態を選択した場合には、前述の
選択指示した顕微鏡像を実時間で画面上に表示する(ス
テップ33)。このような実時間観察においては、顕微
鏡像の倍率や加速電圧等の観察条件を変えたりステージ
を移動して別の画像を観察する等全ての条件を変更する
ことができる。勿論、実時間表示に切換える際、全画面
表示にするかウィンドウ内の表示にするかは選択的であ
るから、ウィンドウ内の表示にするようにプログラムを
組んでもよい。
微鏡像が1画面に表示され、メモリ表示モードになって
いるものとする。オペレータは指示装置(マウス)2を
操作して観察条件を変更して見たい顕微鏡像が表示され
ているウィンドウ内の任意の位置(例えば記号※で示す
位置)にマウスカーソルを移動させる。ここでマウスの
ボタンをクリックしこのウィンドウ内に表示された記憶
画像を指定する(ステップ29)。これによりこのウィ
ンドウ内の画像だけが以下のようにして実時間表示に切
換わる。即ち、まず顕微鏡制御装置1が、マウスボタン
がクリックされた時点のマウスカーソルの位置を読取
り、そのウィンドウに対応する観察条件を観察条件記憶
装置4から読み出す(ステップ30)。次に、顕微鏡制
御装置1は電子光学系制御装置6とステージ制御装置5
に読み出した観察条件の情報指令を送って電子光学系7
およびステージ11を駆動し、その画像がフレームメモ
リ8に取込まれたときと全く同じ観察条件に設定する
(ステップ31)。ここで前述の複数の画面分割レイア
ウト表示を止め、選択したウィンドウの顕微鏡像だけが
1画面全体に表示されるように画面レイアウトを自動的
に変更することも可能である(ステップ32)。このス
テップ32は選択的であり、画面レイアウトを変更しな
いで以下のシーケンスを実行してもよい。画面全体を1
つの画像表示に用いる状態を選択した場合には、前述の
選択指示した顕微鏡像を実時間で画面上に表示する(ス
テップ33)。このような実時間観察においては、顕微
鏡像の倍率や加速電圧等の観察条件を変えたりステージ
を移動して別の画像を観察する等全ての条件を変更する
ことができる。勿論、実時間表示に切換える際、全画面
表示にするかウィンドウ内の表示にするかは選択的であ
るから、ウィンドウ内の表示にするようにプログラムを
組んでもよい。
【0023】この後、さらに他の記憶顕微鏡像をその観
察条件を変更して実時間で観察する必要があれば、再び
画面を分割表示画面としてフレームメモリに記憶された
複数の画像を1画面上に表示する(ステップ28)。こ
のように複数の記憶画像を表示する記憶像表示ステップ
28に戻った後、観察したい画像を指定し前述のステッ
プ29〜33が繰り返される。
察条件を変更して実時間で観察する必要があれば、再び
画面を分割表示画面としてフレームメモリに記憶された
複数の画像を1画面上に表示する(ステップ28)。こ
のように複数の記憶画像を表示する記憶像表示ステップ
28に戻った後、観察したい画像を指定し前述のステッ
プ29〜33が繰り返される。
【0024】なお、上記実施例では複数の顕微鏡像を画
面分割により1画面上に表示しこの中から観察したい1
つの画像を選択して指定する構成としたが、1画面に1
つの画像のみ表示し複数の画面を順番に切換えて表示し
その中から1つの画面を選択するように構成してもよ
い。また、複数の画像を画面分割された複数の画面にレ
イアウトし、これら各々が複数画像を有する複数の画面
を順番に切換えて表示し必要な画像を選択するように構
成してもよい。
面分割により1画面上に表示しこの中から観察したい1
つの画像を選択して指定する構成としたが、1画面に1
つの画像のみ表示し複数の画面を順番に切換えて表示し
その中から1つの画面を選択するように構成してもよ
い。また、複数の画像を画面分割された複数の画面にレ
イアウトし、これら各々が複数画像を有する複数の画面
を順番に切換えて表示し必要な画像を選択するように構
成してもよい。
【0025】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る顕微
鏡像表示装置においては、複数の顕微鏡像をフレームメ
モリに記憶させこれら複数の画像を表示画面上で同時に
または切換えて表示するため、複数の記憶顕微鏡像のう
ちの1つを1つの表示装置上で容易に選択指示して観察
できる。これにより、一枚の試料上の複数の異なる観察
位置を同時に観察できるばかりでなく、同じ観察位置の
試料をプロセス進行に伴って時系列的に比較観察するこ
とが可能になる。これにより、例えば顕微鏡を半導体デ
バイス製造のプロセスモニターとして使用する場合、最
適なプロセス条件で製造したウエハのパターンと現在の
プロセス条件で製造したウエハのパターンを比較してプ
ロセス条件の変化を観察したり、プロセス変更時の問題
を究明するなど半導体製造分野において非常に有意義な
効果が得られる。
鏡像表示装置においては、複数の顕微鏡像をフレームメ
モリに記憶させこれら複数の画像を表示画面上で同時に
または切換えて表示するため、複数の記憶顕微鏡像のう
ちの1つを1つの表示装置上で容易に選択指示して観察
できる。これにより、一枚の試料上の複数の異なる観察
位置を同時に観察できるばかりでなく、同じ観察位置の
試料をプロセス進行に伴って時系列的に比較観察するこ
とが可能になる。これにより、例えば顕微鏡を半導体デ
バイス製造のプロセスモニターとして使用する場合、最
適なプロセス条件で製造したウエハのパターンと現在の
プロセス条件で製造したウエハのパターンを比較してプ
ロセス条件の変化を観察したり、プロセス変更時の問題
を究明するなど半導体製造分野において非常に有意義な
効果が得られる。
【図1】 本発明の実施例に係る顕微鏡像表示装置の構
成図である。
成図である。
【図2】 本発明に係る表示画面の画面分割の一例の説
明図である。
明図である。
【図3】 本発明に係る表示画面の画面分割の別の例の
説明図である。
説明図である。
【図4】 本発明に係る顕微鏡像表示装置の操作および
作用を示すフローチャートである。
作用を示すフローチャートである。
1;顕微鏡制御装置、2;指示装置、3;入力パネル、
4;観察条件記憶装置、5;ステージ制御装置、6;電
子光学系制御装置、7;電子光学系、8;フレームメモ
リ、9;表示装置、10;試料、11;ステージ、1
2;電子検出器。
4;観察条件記憶装置、5;ステージ制御装置、6;電
子光学系制御装置、7;電子光学系、8;フレームメモ
リ、9;表示装置、10;試料、11;ステージ、1
2;電子検出器。
Claims (5)
- 【請求項1】 複数の顕微鏡像、を記憶するフレームメ
モリと、該フレームメモリに記憶された複数の顕微鏡像
を同時にまたは切換えて表示する表示手段とを具備した
ことを特徴とする顕微鏡像表示装置。 - 【請求項2】 前記表示手段は、前記フレームメモリの
複数の顕微鏡像を画面分割により一画面上に表示するこ
とを特徴とする請求項1の顕微鏡像表示装置。 - 【請求項3】 観察すべき試料を搭載する可動ステージ
と、観察条件を入力する入力手段と、該観察条件に応じ
て光学系を制御する光学系制御手段と、予め作成された
シーケンスに従って、異なる条件で観察した複数の顕微
鏡像を前記フレームメモリに記憶させるとともに前記表
示装置に表示させるための顕微鏡制御手段とを具備した
ことを特徴とする請求項1または2の顕微鏡像表示装
置。 - 【請求項4】 複数の顕微鏡像、を記憶するフレームメ
モリと;該フレームメモリに記憶された複数の顕微鏡像
を同時にまたは切換えて表示する表示手段と;観察すべ
き試料を搭載する可動ステージと;観察条件を入力する
入力手段と;該観察条件に応じて光学系を制御する光学
系制御手段と;前記観察条件を記憶する観察条件記憶手
段と;前記フレームメモリに記憶された複数の顕微鏡像
を選択して指定する指示手段と;異なる条件で観察した
複数の顕微鏡像を前記フレームメモリに記憶させるとと
もに前記表示装置に表示させ、さらに前記指示手段によ
り指定された顕微鏡像の観察条件を前記観察条件記憶手
段から読み出し、指定された顕微鏡像をその観察条件で
実時間で前記表示装置に表示するように構成した顕微鏡
制御手段とを具備したことを特徴とする顕微鏡像表示装
置。 - 【請求項5】 前記表示手段は、前記フレームメモリに
記憶された複数の顕微鏡像を画面分割により一画面上に
表示可能であることを特徴とする請求項4の顕微鏡像表
示装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4052417A JPH05258705A (ja) | 1992-03-11 | 1992-03-11 | 顕微鏡像表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4052417A JPH05258705A (ja) | 1992-03-11 | 1992-03-11 | 顕微鏡像表示装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05258705A true JPH05258705A (ja) | 1993-10-08 |
Family
ID=12914218
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4052417A Pending JPH05258705A (ja) | 1992-03-11 | 1992-03-11 | 顕微鏡像表示装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05258705A (ja) |
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10172490A (ja) * | 1996-12-10 | 1998-06-26 | Hitachi Ltd | 走査電子顕微鏡 |
JP2003303567A (ja) * | 2002-04-11 | 2003-10-24 | Keyence Corp | 電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡操作プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 |
JP2003303566A (ja) * | 2002-04-11 | 2003-10-24 | Keyence Corp | 電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡操作プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 |
JP2004006390A (ja) * | 2003-08-11 | 2004-01-08 | Hitachi Ltd | 走査電子顕微鏡 |
JP2004063468A (ja) * | 2003-08-11 | 2004-02-26 | Hitachi Ltd | 走査電子顕微鏡 |
JP2004158365A (ja) * | 2002-11-08 | 2004-06-03 | Keyence Corp | 電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡の操作プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 |
JP2004158358A (ja) * | 2002-11-07 | 2004-06-03 | Keyence Corp | 電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡の操作プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 |
JP2004158364A (ja) * | 2002-11-08 | 2004-06-03 | Keyence Corp | 電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡の操作プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 |
JP2006190567A (ja) * | 2005-01-06 | 2006-07-20 | Hitachi High-Technologies Corp | 電子線装置 |
US7109485B2 (en) | 1999-07-09 | 2006-09-19 | Hitachi, Ltd. | Charged particle beam apparatus |
US7376479B2 (en) | 2001-03-05 | 2008-05-20 | Hitachi, Ltd. | Process monitoring device for sample processing apparatus and control method of sample processing apparatus |
JP2009100186A (ja) * | 2007-10-16 | 2009-05-07 | Canon Inc | 画質調整装置、画質調整方法及びプログラム |
JPWO2015019978A1 (ja) * | 2013-08-09 | 2017-03-02 | 武蔵エンジニアリング株式会社 | 焦点調節方法およびその装置 |
-
1992
- 1992-03-11 JP JP4052417A patent/JPH05258705A/ja active Pending
Cited By (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10172490A (ja) * | 1996-12-10 | 1998-06-26 | Hitachi Ltd | 走査電子顕微鏡 |
US7109485B2 (en) | 1999-07-09 | 2006-09-19 | Hitachi, Ltd. | Charged particle beam apparatus |
US7642514B2 (en) | 1999-07-09 | 2010-01-05 | Hitachi, Ltd. | Charged particle beam apparatus |
US7329868B2 (en) | 1999-07-09 | 2008-02-12 | Hitachi, Ltd. | Charged particle beam apparatus |
US7376479B2 (en) | 2001-03-05 | 2008-05-20 | Hitachi, Ltd. | Process monitoring device for sample processing apparatus and control method of sample processing apparatus |
JP2003303567A (ja) * | 2002-04-11 | 2003-10-24 | Keyence Corp | 電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡操作プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 |
JP2003303566A (ja) * | 2002-04-11 | 2003-10-24 | Keyence Corp | 電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡操作プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 |
JP2004158358A (ja) * | 2002-11-07 | 2004-06-03 | Keyence Corp | 電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡の操作プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 |
JP2004158364A (ja) * | 2002-11-08 | 2004-06-03 | Keyence Corp | 電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡の操作プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 |
JP2004158365A (ja) * | 2002-11-08 | 2004-06-03 | Keyence Corp | 電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡の操作プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体 |
JP2004063468A (ja) * | 2003-08-11 | 2004-02-26 | Hitachi Ltd | 走査電子顕微鏡 |
JP2004006390A (ja) * | 2003-08-11 | 2004-01-08 | Hitachi Ltd | 走査電子顕微鏡 |
JP2006190567A (ja) * | 2005-01-06 | 2006-07-20 | Hitachi High-Technologies Corp | 電子線装置 |
JP2009100186A (ja) * | 2007-10-16 | 2009-05-07 | Canon Inc | 画質調整装置、画質調整方法及びプログラム |
JPWO2015019978A1 (ja) * | 2013-08-09 | 2017-03-02 | 武蔵エンジニアリング株式会社 | 焦点調節方法およびその装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH05258705A (ja) | 顕微鏡像表示装置 | |
US20070058054A1 (en) | Observation apparatus | |
JP4917329B2 (ja) | 画像取得装置、画像取得方法、及び画像取得プログラム | |
JP4526661B2 (ja) | 検査装置および検査方法 | |
JPH07130319A (ja) | 走査電子顕微鏡及びその画像形成方法 | |
US5900859A (en) | Switch-image display method and display apparatus thereof | |
US20020154216A1 (en) | Method and apparatus for microscopic observation | |
US7954069B2 (en) | Microscopic-measurement apparatus | |
US20050270370A1 (en) | Microscope image processing system, microscope image processing method, program, and recording medium | |
US6888137B1 (en) | Instrument and method for observing selected stored images acquired from a scanning charged-particle beam | |
JP5977200B2 (ja) | 電子顕微鏡および電子顕微鏡制御方法 | |
JPH0487148A (ja) | 試料移動経路指定自動分析装置 | |
JP2006003603A (ja) | 画像表示プログラム、画像表示方法、画像表示装置及び記録媒体 | |
JP5550292B2 (ja) | 細胞画像表示装置 | |
US20070023649A1 (en) | Scanning probe microscope control system | |
JP3483293B2 (ja) | 電子顕微鏡用画像処理装置 | |
JPH0729536A (ja) | 走査電子顕微鏡 | |
JPH06250097A (ja) | 顕微鏡遠隔観察システム | |
JP2007127578A (ja) | 欠陥検査装置および欠陥検査方法 | |
JP2002040334A (ja) | 顕微鏡制御装置、顕微鏡制御装置の使用方法、顕微鏡装置の制御方法 | |
JP2002050671A (ja) | ウェーハ観察位置指定装置及びウェーハ表示位置指定方法 | |
JPH07254387A (ja) | 走査型荷電粒子線顕微鏡 | |
JPH0479140A (ja) | 荷電粒子ビーム装置及びその画像処理方法 | |
JPH09127426A (ja) | 拡大観察装置における駆動指令装置 | |
JP2006113247A (ja) | パネル検査装置 |