JP5549079B2 - 半導体集積回路 - Google Patents
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Description
ここで、メモリセルアレイの列方向に隣接する第1のメモリセル及び第2のメモリセルにおいて、第1のビット線対の内の一方のビット線と第1のNチャネルトランジスタのソース又はドレインとを接続するコンタクトが共用されると共に、第1のビット線対の内の他方のビット線と第2のNチャネルトランジスタのソース又はドレインとを接続するコンタクトが共用され、メモリセルアレイの列方向に隣接する第2のメモリセル及び第3のメモリセルにおいて、第2のビット線対の内の一方のビット線と第2のPチャネルトランジスタのソース又はドレインとを接続するコンタクトが共用されると共に、第2のビット線対の内の他方のビット線と第4のPチャネルトランジスタのソース又はドレインとを接続するコンタクトが共用されることが望ましい。
図1は、本発明の一実施形態に係る半導体集積回路に内蔵されているデュアルポートSRAMの構成を示すブロック図である。このデュアルポートSRAMは、複数のメモリセルが配置された少なくとも1列のメモリセルアレイを含んでいる。図1には、第1列におけるN個のメモリセルMC1〜MCNが示されている。各メモリセルは、書き込み及び読み出し用の第1ポートと、読み出し専用の第2ポートとを有している。
第1ポートを介してメモリセルMC1にデータを書き込む際には、第1ポート用書き込み/読み出し回路30から、例えば、ビット線BLL1にハイレベルの信号が供給され、ビット線BLR1にローレベルの信号が供給される。また、第1ポート用デコーダ10から、メモリセルMC1のワード線WL1にハイレベルの信号が供給され、トランジスタQN13及びQN14がオン状態となる。これにより、ストアノードN1がビット線BLL1と同じハイレベルとなり、ストアノードN2がビット線BLR1と同じローレベルとなる。第1及び第2のインバータがこの状態を維持することにより、メモリセルMC1に1ビットのデータが保持される。
第1ポートを介してメモリセルMC1からデータを読み出す際には、第1ポート用デコーダ10から、メモリセルMC1のワード線WL1にハイレベルの信号が供給され、トランジスタQN13及びQN14がオン状態となる。これにより、ビット線BLL1がストアノードN1のレベルと同一となり、ビット線BLR1がストアノードN2のレベルと同一となる。第1ポート用書き込み/読み出し回路30が、ビット線BLL1及びBLR1のレベルを差動増幅することにより、メモリセルMC1に保持されている1ビットのデータが読み出される。
Claims (10)
- 複数のメモリセルが複数の行及び複数の列に配置されたメモリセルアレイを含むSRAMを内蔵した半導体集積回路であって、各々のメモリセルが、
第1のストアノードに出力端子が接続され、第2のストアノードに入力端子が接続された第1のインバータと、
前記第2のストアノードに出力端子が接続され、前記第1のストアノードに入力端子が接続された第2のインバータと、
第1のビット線対の内の一方のビット線と前記第1のストアノードとの間にソース・ドレイン経路が接続され、第1のワード線にゲートが接続された第1のNチャネルトランジスタ、及び、前記第1のビット線対の内の他方のビット線と前記第2のストアノードとの間にソース・ドレイン経路が接続され、前記第1のワード線にゲートが接続された第2のNチャネルトランジスタによって構成される書き込み/読み出しポートと、
電源電位にソースが接続され、前記第1のストアノードにゲートが接続された第1のPチャネルトランジスタ、及び、第2のビット線対の内の一方のビット線と前記第1のPチャネルトランジスタのドレインとの間にソース・ドレイン経路が接続され、第2のワード線にゲートが接続された第2のPチャネルトランジスタ、及び、電源電位にソースが接続され、前記第2のストアノードにゲートが接続された第3のPチャネルトランジスタ、及び、前記第2のビット線対の内の他方のビット線と前記第3のPチャネルトランジスタのドレインとの間にソース・ドレイン経路が接続され、前記第2のワード線にゲートが接続された第4のPチャネルトランジスタによって構成される読み出しポートと、
を具備し、
前記メモリセルアレイの列方向に隣接する第1のメモリセル及び第2のメモリセルにおいて、前記第1のビット線対の内の前記一方のビット線と前記第1のNチャネルトランジスタのソース又はドレインとを接続するコンタクトが共用されていると共に、前記第1のビット線対の内の前記他方のビット線と前記第2のNチャネルトランジスタのソース又はドレインとを接続するコンタクトが共用されており、
前記メモリセルアレイの列方向に隣接する第2のメモリセル及び第3のメモリセルにおいて、前記第2のビット線対の内の前記一方のビット線と前記第2のPチャネルトランジスタのソース又はドレインとを接続するコンタクトが共用されていると共に、前記第2のビット線対の内の前記他方のビット線と前記第4のPチャネルトランジスタのソース又はドレインとを接続するコンタクトが共用されており、
前記第1及び第2のインバータが、第5のPチャネルトランジスタ及び第6のPチャネルトランジスタをそれぞれ含み、前記メモリセルアレイの行方向に隣接する2つのメモリセルにおいて、一方のメモリセルにおける前記第1のPチャネルトランジスタのソース及び前記第6のPチャネルトランジスタのソースと、他方のメモリセルにおける前記第3のPチャネルトランジスタのソース及び前記第5のPチャネルトランジスタのソースとが、電源電位に接続された共通の不純物拡散領域を用いて構成されている、
半導体集積回路。 - 複数のメモリセルが複数の行及び複数の列に配置されたメモリセルアレイを含むSRAMを内蔵した半導体集積回路であって、各々のメモリセルが、
第1のストアノードに出力端子が接続され、第2のストアノードに入力端子が接続された第1のインバータと、
前記第2のストアノードに出力端子が接続され、前記第1のストアノードに入力端子が接続された第2のインバータと、
第1のビット線対の内の一方のビット線と前記第1のストアノードとの間にソース・ドレイン経路が接続され、第1のワード線にゲートが接続された第1のNチャネルトランジスタ、及び、前記第1のビット線対の内の他方のビット線と前記第2のストアノードとの間にソース・ドレイン経路が接続され、前記第1のワード線にゲートが接続された第2のNチャネルトランジスタによって構成される書き込み/読み出しポートと、
電源電位にソースが接続され、前記第1のストアノードにゲートが接続された第1のPチャネルトランジスタ、及び、第2のビット線対の内の一方のビット線と前記第1のPチャネルトランジスタのドレインとの間にソース・ドレイン経路が接続され、第2のワード線にゲートが接続された第2のPチャネルトランジスタ、及び、電源電位にソースが接続され、前記第2のストアノードにゲートが接続された第3のPチャネルトランジスタ、及び、前記第2のビット線対の内の他方のビット線と前記第3のPチャネルトランジスタのドレインとの間にソース・ドレイン経路が接続され、前記第2のワード線にゲートが接続された第4のPチャネルトランジスタによって構成される読み出しポートと、
を具備し、半導体基板において各行のメモリセルが配置される領域に、前記メモリセルアレイの行方向に連続するPウエル及びNウエルが平行して形成されており、前記Pウエルに形成された前記第1及び第2のNチャネルトランジスタのゲートが前記メモリセルアレイの行方向に延在すると共に、前記Nウエルに形成された前記第2及び第4のPチャネルトランジスタのゲートが前記メモリセルアレイの行方向に延在することにより、複数の列のメモリセルにおいて、前記第1のワード線と前記第1及び第2のNチャネルトランジスタのゲートとを電気的に接続するコンタクト、及び、前記第2のワード線と前記第2及び第4のPチャネルトランジスタのゲートとを電気的に接続するコンタクトが存在しない、半導体集積回路。 - 前記メモリセルアレイの列方向に隣接する第1のメモリセル及び第2のメモリセルにおいて、前記第1のビット線対の内の前記一方のビット線と前記第1のNチャネルトランジスタのソース又はドレインとを接続するコンタクトが共用されていると共に、前記第1のビット線対の内の前記他方のビット線と前記第2のNチャネルトランジスタのソース又はドレインとを接続するコンタクトが共用されており、
前記メモリセルアレイの列方向に隣接する第2のメモリセル及び第3のメモリセルにおいて、前記第2のビット線対の内の前記一方のビット線と前記第2のPチャネルトランジスタのソース又はドレインとを接続するコンタクトが共用されていると共に、前記第2のビット線対の内の前記他方のビット線と前記第4のPチャネルトランジスタのソース又はドレインとを接続するコンタクトが共用されている、
請求項2記載の半導体集積回路。 - 前記メモリセルアレイの列方向に隣接する第1のメモリセル及び第2のメモリセルにおいて、Pウエルが共用されており、
前記メモリセルアレイの列方向に隣接する第2のメモリセル及び第3のメモリセルにおいて、Nウエルが共用されている、
請求項1〜3のいずれか1項記載の半導体集積回路。 - 前記第1のビット線対が、第1のメタル配線層に形成されており、前記第2のビット線対が、前記第1のメタル配線層とは異なる第2のメタル配線層に形成されている、請求項1〜4のいずれか1項記載の半導体集積回路。
- 前記第2のメタル配線層が、前記第1のメタル配線層よりも下層に位置する、請求項5記載の半導体集積回路。
- 前記第2のメタル配線層に形成されている前記第2のビット線対の少なくとも一部が、前記第1のメタル配線層に形成されている前記第1のビット線対よりも内側に配置されている、請求項5又は6記載の半導体集積回路。
- 前記第2のビット線対が、Nウエルの上層に位置するメタル配線層の所定の領域において立体的にクロスしている、請求項1〜7のいずれか1項記載の半導体集積回路。
- 前記メモリセルアレイが配置された第1の領域に隣接する第2の領域に、前記複数のメモリセルの読み出しポートを介してデータの読み出しを行う読み出し回路が配置されており、
前記第2の領域に隣接する第3の領域に、前記複数のメモリセルの書き込み/読み出しポートを介してデータの書き込み及び読み出しを行う書き込み/読み出し回路が配置されており、
前記第1のビット線対が、前記読み出し回路の上層を通過して、前記書き込み/読み出し回路に接続されている、
請求項1〜8のいずれか1項記載の半導体集積回路。 - 前記SRAMが、選択されたメモリセルアレイの読み出しポートから出力される相補的な信号を差動増幅することによりデータの読み出しを行う読み出し回路をさらに含む、請求項1〜8のいずれか1項記載の半導体集積回路。
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