JP5507751B1 - 超音波検査装置 - Google Patents

Abstract

【課題】追従ゲート方式において、Ｆゲートを安定して得ることを課題とする。
【解決手段】超音波検査における被検体からの反射エコーのデータである波形データを取得する取得部１１３と、処理対象となっている波形データにおいて、基準波を検出するための補間トリガポイントを、他の波形データから取得されたトリガポイントを基に設定するトリガポイント設定処理部１１５と、設定された補間トリガポイントを基に、処理対象となっている波形データに続くデータに対してＦゲートを設定し、該Ｆゲート内における検出波の有無を判定するＦゲート処理部１１６と、検出波の有無に関する情報を表示するディスプレイを有することを特徴とする
【選択図】図２

Description

本発明は、超音波を用いた追従ゲート方式による超音波検査装置の技術に関する。

超音波検査は、被検体に対して超音波を入射し、被検体中の異なる材料の界面や亀裂による空間等によって超音波が反射されることを利用し、その反射エコーの強度や、反射エコー検出までの時間を計測することによって行われる。超音波検査の映像は被検体上の平面の各位置で超音波検査を繰り返し行うことで得られた波形データを、その位置に基づいて表示することで得られる。このようにすることで、被検体内部の界面の状態や亀裂の位置等の可視化が可能となる。

一般的な超音波検査装置は、被検体内部の界面等、測定対象の任意の深さに位置する断面についての映像を得る方法としてゲート制御を行う。
ゲート制御は、超音波検査毎に基準タイミングから、定められているゲート遅延時間だけ遅れたタイミングで所定のゲート幅の検出ゲートを設定し、この検出ゲート内の反射エコーで、目標物の有無を検出するものである。つまり、ゲート制御において、超音波検査装置は、ある基準エコーから、予め定められている所定時間後に検出ゲート（一般にＦゲートと称される）を設定する。そして、超音波検査装置は、設定されたＦゲート中において、検査画像のためのデータを抽出する。

このゲート制御の方法には、一般に固定ゲート方式と追従ゲート方式がある。
この２つの方式の違いは、基準エコーをどの波にするかというものである。
固定ゲート方式は、ゲート開始の基準タイミングを送信エコーの基準とするものである。つまり、固定ゲート方式は、基準エコーをプローブから発信される送信エコーとするものである。ここで、プローブとは、送信エコーを被検体に向けて発信し、かつ、被検体からの反射エコーを受信するものである。

固定ゲート方式は、前記したように送信エコーをＦゲート設定のための基準エコーとするものである。従って、被検体の状態がどのような状態であっても基準エコーが変わることはない。これにより、固定ゲート方式は、目標となっている検査断面がプローブから常に一定の位置にある場合に有効であるが、被検体が傾いて設置されている場合等では、目標とする測定断面が検出ゲートから外れてしまう。このような場合、固定ゲート方式では、ゲート幅が広く設定されることにより、被検体が傾いて設置されている場合でも目標の測定断面を取得できるようにしている。しかしながら、このようにすると、本来取得すべき部分以外の反射エコーも取得されてしまうため、鮮明な映像が得られにくくなってしまう。

一方、追従ゲート方式は、反射エコー取得のためのゲートではなく、被検体に属する基準面にゲートを設け、そのゲート内で検出したエコーを基準タイミングとするものである。つまり、追従ゲート方式は、被検体由来の反射エコーの中から基準エコーを設定するものである。追従ゲート方式では、一般的に、被検体表面からの反射エコーを基準エコーとすることが多い。これは、送信エコーの後、最初の反射エコーが被検体表面に由来するエコーであるので、基準エコーと特定しやすいことによる。

そして、追従ゲートにおいて、超音波検査装置は、基準面から定められた位置に、定められたゲート幅の検出ゲートを設け、この検出ゲート内において、目標物の有無の検出を行うものである。つまり、基準エコーを被検体表面に由来するエコーとした場合、超音波検査装置は基準エコーから、予め定められた所定時間後にＦゲート（検出ゲート）を設定する。そして、超音波検査装置は設定されたＦゲート内において、目標物の有無の検出を行う。

追従ゲートでは、前記したように被検体由来のエコーをＦゲート設定のための基準エコーとするものである。従って、被検体の状態に応じて基準エコーも変化する。
例えば、基準エコーを被検体表面に由来するエコーとした場合、被検体が傾いて設置されていれば、基準エコーも被検体の傾きに応じて得られることになる。これにより、追従ゲート方式によれば、被検体の設置状態によらずに、被検体表面から一定の深さのところにある測定断面を取得することが可能となる。このように、追従ゲート方式は、被検体に属する基準面を基に検出ゲートを設定するため、被検体が傾いて設置されている場合でも、検出ゲート幅を変えずに目標とする検査断面に関する情報を取得することが可能となる。
追従ゲート方式は、積層構造物のある断面のみを映像化したい場合等に有効である。

そして、追従ゲート方式では、基準エコーを検出するために、基準エコーを検出するためのゲート（一般にＳゲートと称される）を設定する。Ｓゲートは、被検体の設置状態に応じて設定される。例えば、基準エコーを被検体表面に由来するエコーとした場合、プローブから被検体表面までの距離を基にＳゲートを設定する。ここで、Ｓゲートは、被検体が傾いて設置されていること等を考慮して、所定の時間幅を有するゲートとして設定される。

このとき、超音波検査装置には、所定のしきい値としてのトリガレベル（一般にＳトリガレベルと称される）が設定されている。Ｓゲート内でエコーがＳトリガレベルを超えると、超音波検査装置は基準エコーを検知したと判定する。エコーがＳトリガレベルを超えた時刻はＳトリガポイントと称される。そして、超音波検査装置は、Ｓトリガポイントから、予め設定されている所定時間後にＦゲートを設定する。Ｆゲートは、検査したい範囲に応じた幅を有している。

このような追従ゲート方式を用いた技術として、特許文献１及び特許文献２に記載の技術がある。
特許文献１に記載の技術は、焦点合わせ操作のとき、表面波同期ゲートモードを使用する。そして、特許文献１に記載の技術は、被検体を測定する時点で主同期モードとして、計測された時間値と焦点位置に対応して設定された表面波同期ゲートモードにおける所定の遅延時間値との和を主同期ゲートモードの所定時間遅延とする。

また、特許文献２に記載の技術は、超音波反射面の測定中に、直前のビーム路程の測定値等が次の測定位置におけるビーム路程の推定値とされ、ゲート遅延時間がこの推定値に合わせて変更されるものである。

特開平５−２６８５８号公報 特開平７−１１３７９０号公報

しかしながら、追従ゲート方式において、被検体表面の粗さ等が原因で基準エコーが安定して得られない場合がある。つまり、被検体表面の粗さ等が原因で、十分な大きさのエコーを得ることができず、Ｓゲート内のエコーがＳトリガレベルに達しないことがある。このような場合、基準エコーを得ることができないため、基準エコーを基に設定されるＦゲート（検出ゲート）が不定となってしまうという課題がある。
特許文献１及び特許文献２に記載の技術でも、このような課題は考慮されていない。

このような背景に鑑みて本発明がなされたのであり、本発明は、追従ゲート方式において、Ｆゲートを安定して得ることを課題とする。

前記した課題を解決するため、本発明は、トリガポイントを検出できなかった場合、他の波形データを基に、処理対象となっている波形データにおけるトリガポイントを設定することを特徴とする。

本発明によれば、追従ゲート方式において、Ｆゲートを安定して得ることができる。

本実施形態に係る超音波検査システムの構成例を示す図である。 本実施形態に係る検査装置の構成例を示す図である。 被検体の例を示す図である。 比較例に係る超音波検査方法の処理の概要を示す図である。 比較例に係る検査装置による検査画像の例を示す図である。 第１実施形態に係る超音波検査方法の処理の概要を示す図である。 第１実施形態による超音波検査方法を用いた結果、得られる検査画像の例を示す図である。 第１実施形態に係る超音波検査方法の詳細な処理手順を示すフローチャートである。 第２実施形態に係る超音波検査方法の処理の概要を示す図である。 第２実施形態による超音波検査方法を用いた結果、得られる検査画像の例を示す図である。 第２実施形態に係る超音波検査方法の詳細な処理手順を示すフローチャートである。 第３，４実施形態に係る被検体の例を示す図である。 第３実施形態に係る超音波検査方法の概要を示す図である。 第３実施形態による超音波検査方法を用いた結果、得られる検査画像の例を示す図である。 第３実施形態に係る超音波検査方法の詳細な処理手順を示すフローチャートである。 第４実施形態に係る超音波検査方法の概要を示す図である。 第４実施形態による超音波検査方法を用いた結果、得られる検査画像の例を示す図である。 第４実施形態に係る超音波検査方法の詳細な処理手順を示すフローチャートである（その１）。 第４実施形態に係る超音波検査方法の詳細な処理手順を示すフローチャートである（その２）。

次に、本発明を実施するための形態（「実施形態」という）について、適宜図面を参照しながら詳細に説明する。なお、以降の説明において、「トリガポイント」は前記した「Ｓトリガポイント」であるものとする。

《システム構成》
図１は、本実施形態に係る超音波検査システムの構成例を示す図である。
超音波検査システム２０は、水中に設置された被検体２に対して超音波信号を入射するプローブ１が備え付けられている。そして、プローブ１には、プリアンプ３が接続され、プリアンプ３にはパルサ発生器４と、レシーバ５が接続されている。そして、レシーバ５にはＡ／Ｄ（Analog/Digital）変換器６が接続され、Ａ／Ｄ変換器６には、制御装置７が接続されている。
また、制御装置７には、ディスプレイ（表示部）９を備えたデータ処理装置８が接続されている。さらに、制御装置７には、３軸スキャナ１０が接続され、プローブ１の動作を制御している。

パルサ発生器４は、プローブ１に対し、繰り返しパルス電圧を印加する。そして、プローブ１においてパルス電圧は超音波信号に変換される。
続いて、変換された超音波信号は、プローブ１先端の音響レンズによって収束され、水中に設置された被検体２へ入射される。

被検体２の表面や、内部の欠陥や、界面で反射した超音波信号は、再びプローブ１で受信される。そして、プローブ１は受信した超音波信号を電気信号に変換しプリアンプ３へ出力する。プリアンプ３とレシーバ５とを介して変換された電気信号は増幅され、Ａ／Ｄ変換器６へ出力される。Ａ／Ｄ変換器６は、増幅されたアナログの電気信号をデジタル信号に変換する。
変換された電気信号は、Ａ／Ｄ変換器６や、制御装置７内に設置されている検査装置１００（図２）によって、被検体２内部の構造や、欠陥等の検査目標からの反射エコーが処理される。そして、検査目標からの反射エコーのピーク値がデータ処理装置８に出力される。また、デジタル化された波形信号自体がデータ処理装置８に入力されてもよい。
なお、ピーク値の検出は、予め指定されている測定ピッチで実行される。データ処理装置８は、被検体２内部の欠陥の探傷映像として映像を構成し、ディスプレイ９に表示する。

一方、前記したようにプローブ１は３軸スキャナ１０に取り付けられており、制御装置７によって方形走査が可能となっている。

《検査装置構成》
図２は、本実施形態に係る検査装置の構成例を示す図である。
検査装置（超音波検査装置）１００は、メモリ１１０、演算装置１２０、記憶装置１３０を有している。なお、検査装置１００は、図１のＡ／Ｄ変換器６又は制御装置７に搭載されることが望ましい。具体的には、後記する同時処理方式ではＡ／Ｄ変換器６に検査装置１００が搭載され、一括処理方式では制御装置７に検査装置１００が搭載されることが望ましい。
検査装置１００が制御装置７に搭載される場合、メモリ１１０には、記憶装置１３０に格納されているプログラムが展開され、演算装置１２０によって展開されたプログラムが実行されている。これにより、メモリ１１０において、処理部１１１、及び、処理部１１１を構成する取得部１１２、判定部１１３、Ｓゲート処理部１１４、トリガポイント設定処理部１１５、Ｆゲート処理部１１６が具現化されている。ここで、波形データとは、プローブ１（図１）が受信した反射エコーのエコー強度を時系列データとしたものである。

なお、検査装置１００がＡ／Ｄ変換器６に搭載される場合、基板に構成されたディジタル回路によって、処理部１１１、及び、処理部１１１を構成する各部１１２〜１１６が実現される。なお、基板に構成されたディジタル回路によって、各部１１１〜１１６が実現される場合、記憶装置１３０はレジスタ等で構成されることになる。

取得部１１２は、検査装置１００がＡ／Ｄ変換器６に搭載されている場合にはレシーバ５から、検査装置１００が制御装置７に搭載されている場合にはＡ／Ｄ変換器６から波形データを取得する。つまり、取得部１１２は超音波検査における被検体からの反射エコーのデータである波形データを取得する。
判定部１１３は、各種判定を行う。
Ｓゲート処理部１１４は、波形データに対して、Ｓゲート処理を行う。Ｓゲート処理については後記する。なお、第３，４実施形態では、Ｓゲート処理部１１４はＳ１ゲート処理及びＳ２ゲート処理を行う。Ｓ１ゲート処理及びＳ２ゲート処理については後記する。つまり、Ｓゲート処理部１１４は、取得された前記波形データに対して、トリガポイントを検出するためのＳゲート処理を行う。

トリガポイント設定処理部１１５は、Ｓゲート処理部１１４によるＳゲート処理（Ｓ１ゲート処理、Ｓ２ゲート処理）でトリガポイントを検出できなかった場合に、他の波形データを用いてトリガポイントを補間する。つまり、トリガポイント設定処理部１１５は、処理対象となっている波形データにおいて、基準波を検出するためのトリガポイント（補間トリガポイント）を、他の波形データから取得されたトリガポイントを基に設定する。
Ｆゲート処理部１１６は、Ｆゲート処理を行う。Ｆゲート処理において、Ｆゲート処理部１１６は、設定されたトリガポイントから、予め設定されている所定時間後に、目標とする波形を検出するためのＦゲートを設定する。そして、Ｆゲート処理部１１６は、目標とする波形を検出することで、映像化するデータ（検査画像のデータ）の抽出処理を行う。

《比較例》
まず、一般的な追従ゲート方式の超音波検査方法の課題を説明するため、一般的に行われている追従ゲート方式を本願発明における実施形態に対する比較例とし、この比較例について説明する。

(被検体）
図３は、被検体の例を示す図である。
ここで、被検体２は、水平面に対して斜めに配置されている。また、被検体２は、内部に内部界面Ｓ１及び内部構造Ｓ２を有している。つまり、被検体２は異物３００によって斜めに配置されている。
超音波信号は、被検体２における、符号Ｐ１〜Ｐ８の各測定点に入射されるものとする。
内部構造は、測定点Ｐ１，Ｐ３，Ｐ５，Ｐ７において存在している。また、測定点Ｐ２，Ｐ５，Ｐ７では、被検体２表面に反射エコーを弱める不均質部３０１が存在している。
ここで、内部構造Ｓ２の有無を検出することが検査目標であるものとする。

図４は、比較例に係る超音波検査方法の処理の概要を示す図である。図３を適宜参照しつつ、図４で比較例に係る超音波検査方法を説明する。
図４では、測定点Ｐ１〜Ｐ８においてプローブ１で検知された反射エコーの波形が時系列で示されている。
ここで、Ｆ１は被検体２表面における反射エコーであり、Ｆ２は内部界面Ｓ１における反射エコーであり、Ｆ３は内部構造Ｓ２における反射エコーであり、Ｆ４は被検体２底面における反射エコーである。そして、図４において、符号ＴＰはトリガポイントを示している。また、符号ＳＧはＳゲートであり、符号ＦＧはＦゲートである。Ｓゲート、Ｆゲートについては、前記しているので、ここでの説明を省略する。なお、図４において、各反射エコーＦ１〜Ｆ４が測定点Ｐ１〜Ｐ８にかけて徐々に後ろに移動しているのは、被検体２が斜めに設置されていることによる。
図４に示すように、測定点Ｐ２，Ｐ５，Ｐ７では、被検体２表面の不均質部３０１のせいで、反射エコーが小さくなってしまい、超音波検査システムは、トリガポイントＴＰを検出できない。従って、超音波検査システムは、Ｆゲートを設定することができない（破線で示す）。

その結果、測定点Ｐ２，Ｐ５，Ｐ７では内部構造Ｓ２における反射エコーの有無を判定することができない。つまり、測定点Ｐ２，Ｐ５，Ｐ７において、データ抜けが生じてしまう。

図５は、比較例に係る検査装置による検査画像の例を示す図である。ここで、図５（ａ）は図３に示す被検体２に対し、図４に示す処理による検査画像であり、図５（ｂ）は図３に示す被検体２から得られるべき検査画像である。
図５において、内部構造物が検知されたところは「白」で示し、内部構造物が検知されなかったところは「黒」で示し、データ抜けが生じたところ（すなわり、内部構造物Ｓ２の有無が不明なところ）をドットで示す。
図５（ａ）に示すように、測定点Ｐ２，Ｐ５，Ｐ７でデータ抜けが生じてしまっていることが分かる。

《第１実施形態》
次に、図６〜図８を参照して、本発明の第１実施形態を説明する。第１実施形態は同時処理方式に適用されることが望ましいが、一括処理方式に適用されてもよい。
ここで、同時処理方式は、検査装置１００が波形データを取得しつつ、順次ゲート処理を行うものである。これに対して、一括処理方式は、検査装置１００が一旦すべての測定点から得られる波形データを取得した後、取得した波形データに対してゲート処理を行うものである。
なお、第１〜第４実施形態における検査装置１００の構成は、いずれも図２に示す構成と同様であるので、第１〜第４実施形態において、検査装置１００の構成についての説明を省略する。

（処理概要）
図６は、第１実施形態に係る超音波検査方法の処理の概要を示す図である。
図６は、図３に示す被検体２に対して、第１実施形態に係る超音波検査処理を行った例を示す。
なお、図６において、図４と同様の構成に対しては、同一の符号を付して説明を省略する。
検査装置１００は図４においてトリガポイントを検出できなかった測定点Ｐ２，Ｐ５，Ｐ７において、前の測定点Ｐ１，Ｐ４，Ｐ６におけるトリガポイントＴＰ（黒丸で示す）を測定点Ｐ２，Ｐ５，Ｐ７における補間トリガポイント（処理対象となっている波形データのトリガポイント）ＴＰＳ（白丸で示す）として設定する。
前の測定点Ｐ１，Ｐ４，Ｐ６におけるトリガポイントＴＰを測定点Ｐ２，Ｐ５，Ｐ７における補間トリガポイントＴＰＳとして設定するとは、前の測定点Ｐ１，Ｐ４，Ｐ６におけるトリガポイントＴＰの時刻を、測定点Ｐ２，Ｐ５，Ｐ７における補間トリガポイントＴＰＳの時刻とすることである。

具体的には、検査装置１００は、測定点Ｐ１のトリガポイントＴＰ１を測定点Ｐ２の補間トリガポイントＴＰＳ２として設定する。同様に、検査装置１００は、測定点Ｐ４のトリガポイントＴＰ４を、測定点Ｐ５の補間トリガポイントＴＰＳ５として設定し、測定点Ｐ６のトリガポイントＴＰ６を測定点Ｐ７の補間トリガポイントＴＰＳ７として設定する。

このようにすることで、図４に示す手法では、トリガポイントＴＰを取得することができなかった測定点Ｐ２，Ｐ５，Ｐ７でも補間トリガポイントＴＰＳを設定することができる。この結果、検査装置１００は、図４ではＦゲートＦＧを設定することができなかった測定点Ｐ２，Ｐ５，Ｐ７でもＦゲートＦＧを設定することができる。

図７は、第１実施形態による超音波検査方法を用いた結果、得られる検査画像の例を示す図である。
図６に示す処理を行った結果、被検体２表面の不均質部３０１のため、比較例における技術では図５（ａ）に示すようにデータ抜けが生じてしまう測定点Ｐ２，Ｐ５，Ｐ７において、図７に示すように内部構造物の有無に関する情報を検査画像として正確に表示することができる。

（フローチャート）
図８は、第１実施形態に係る超音波検査方法の詳細な処理手順を示すフローチャートである。
まず、判定部１１３は、取得部１１２が、波形データを取得したか否かを判定する（Ｓ１０１）。
ステップＳ１０１の結果、波形データが取得されていない場合（Ｓ１０１→Ｎｏ）、処理部１１１はステップＳ１０１へ処理を戻し、波形データの取得を待機する。
ステップＳ１０１の結果、波形データが取得されている場合（Ｓ１０１→Ｙｅｓ）、Ｓゲート処理部１１４が、取得した波形に対しＳゲート処理を行う（Ｓ１０２）。Ｓゲート処理では、設定されたＳゲート内において、Ｓトリガレベルを超える反射エコーが検出されるか否かをＳゲート処理部１１４が判定するものである。
そして、判定部１１３は、Ｓゲート処理の結果、トリガポイントを検出できたか否かを判定する（Ｓ１０３）。

ステップＳ１０３の結果、トリガポイントを検出できた場合（Ｓ１０３→Ｙｅｓ）、トリガポイント設定処理部１１５が、検出したトリガポイントを保持値として記憶装置１３０に上書き保存することで、保持値を更新する（Ｓ１０４）。そして、処理部１１１は、ステップＳ１０８へ処理を進める。

ステップＳ１０３の結果、トリガポイントを検出できなかった場合、判定部１１３は、記憶装置１３０に保持値があるか否かを判定する（Ｓ１０５）。
ステップＳ１０５の結果、保持値がない場合（Ｓ１０５→Ｎｏ）、処理部１１１はステップＳ１０９へ処理を進める。

ステップＳ１０５の結果、保持値がある場合（Ｓ１０５→Ｙｅｓ）、トリガポイント設定処理部１１５は記憶装置１３０から保持値を取得し（Ｓ１０６）、該保持値を処理対象となっている波形データの補間トリガポイントとして設定する（Ｓ１０７）。

そして、Ｆゲート処理部１１６が、ステップＳ１０３で検出されたトリガポイント、又はステップＳ１０７で保持値を用いて設定された補間トリガポイントを用いて、処理対象となっている波形データに対してＦゲート処理を行う（Ｓ１０８）。Ｆゲート処理では、前記したように、Ｆゲート処理部１１６が、トリガポイント又は補間トリガポイントから、予め設定されている所定時間後にＦゲートを設定する。そして、Ｆゲート処理部１１６が、設定されたＦゲート内において、目標とする波形を検出することで映像化するデータ（検査画像のデータ）の抽出処理を行う。
次に、処理部１１１は、すべての測定点について、ステップＳ１０１〜Ｓ１０８の処理を完了したか否かを判定する（Ｓ１０９）。

ステップＳ１０９の結果、すべての測定点について、ステップＳ１０１〜Ｓ１０８の処理が完了していない場合（Ｓ１０９→Ｎｏ）、処理部１１１は、ステップＳ１０１へ処理を戻し、次の測定点について処理を行う。
ステップＳ１０９の結果、すべての測定点について、ステップＳ１０１〜Ｓ１０８の処理が完了している場合（Ｓ１０９→Ｙｅｓ）、処理部１１１は処理を終了する。
なお、図６に示す処理では、１つ前のトリガポイントを補間トリガポイントとしているが、いくつ前のトリガポイントを補間トリガポイントとしてもよい。つまり、ステップＳ１０６で取得される保持値は、Ｓゲート処理によって検出された直近のトリガポイントの時刻値となる。

以上の処理によって、検査装置１００は、処理対象となっている波形データにおいて、基準波を検出するためのトリガポイント（補間トリガポイント）を、他の波形データから取得されたトリガポイントを基に設定する。このようにすることで、検査装置１００は、被検体２表面の粗さ等が原因で十分な大きさの基準エコーを得ることができない場合でも、補間トリガポイントを設定することができる。これにより、検査装置１００は、追従ゲート方式において、Ｆゲートを安定して得ることができる。

さらに、検査装置１００は、判定部１１３によって、トリガポイントが取得されていないと判定された場合、処理対象となっている波形データのトリガポイント（補間トリガポイント）を、他の波形データから取得されたトリガポイントを基に設定する。このようにすることで、検査装置１００は、効率的に補間トリガポイントを設定することができる。

また、検査装置１００は、処理対象となっている波形データの前に取得された波形データのトリガポイントを、処理対象となっている波形データのトリガポイント（補間トリガポイント）とする。このようにすることで、同時処理方式によるトリガポイントの補間が可能となる。

そして、Ｓゲート処理部１１４、判定部１１３及びトリガポイント設定処理部１１５のそれぞれは、取得部１１３が取得した波形データを、取得順に処理する。つまり、検査装置１００は、同時処理方式でトリガポイントの補間を行う。このようにすることで、超音波検査を行いながらトリガポイントの補間が可能となるので、作業の効率性を向上させることができる。

《第２実施形態》
次に、図９〜図１１を参照して、本発明の第２実施形態を説明する。第２実施形態は、一括処理方式に適用することが望ましい。
図９は、第２実施形態に係る超音波検査方法の処理の概要を示す図である。
なお、図９に示す処理は、図３に示す被検体に対して、第２実施形態に係る超音波検査処理を行った例である。
また、図９において、図４と同様の構成に対しては、同一の符号を付して説明を省略する。
検査装置１００は図４においてトリガポイントを検出できなかった測定点Ｐ２，Ｐ５，Ｐ７において、前後の測定点におけるトリガポイントＴＰから、補間値を算出し、この補間値を測定点Ｐ２，Ｐ５，Ｐ７における補間トリガポイントＴＰＳとして設定する。

具体的には、検査装置１００は、測定点Ｐ１、Ｐ３のトリガポイントＴＰ１，ＴＰ３の時刻の平均値を測定点Ｐ２の補間トリガポイントＴＰＳ２の時刻として設定する。同様に、検査装置１００は、測定点Ｐ４，Ｐ６のトリガポイントＴＰ４，ＴＰ６の時刻の平均値を測定点Ｐ５の補間トリガポイントＴＰＳ５の時刻として設定する。また、検査装置１００は、測定点Ｐ６，Ｐ８のトリガポイントＴＰ６，ＴＰ８の時刻の平均値を測定点Ｐ７の補間トリガポイントＴＰＳ７の時刻として設定する。

このようにすることで、図４に示す手法では、トリガポイントＴＰを取得することができなかった測定点Ｐ２，Ｐ５，Ｐ７でも補間トリガポイントＴＰＳを設定することができる。この結果、検査装置１００は、図４ではＦゲートＦＧを設定することができなかった測定点Ｐ２，Ｐ５，Ｐ７でもＦゲートＦＧを設定することができる。
加えて、補間されたＦゲートＦＧの位置が第１実施形態における技術よりも被検体２の傾きを反映した位置に設定可能となる。

図１０は、第２実施形態による超音波検査方法を用いた結果、得られる検査画像の例を示す図である。
図９に示す処理を行った結果、被検体２表面の不均質部３０１のため、比較例における技術では図５（ａ）に示すようにデータ抜けが生じてしまう測定点Ｐ２，Ｐ５，Ｐ７において、図１０に示すように内部構造物Ｓ２の有無に関する情報を検査画像として正確に表示することができる。

（フローチャート）
図１１は、第２実施形態に係る超音波検査方法の詳細な処理手順を示すフローチャートである。
まず、判定部１１３は、取得部１１２によって、波形データが取得されたか否かを判定する（Ｓ２０１）。
ステップＳ２０１の結果、波形データが取得されていない場合（Ｓ２０１→Ｎｏ）、処理部１１１はステップＳ２０１へ処理を戻し、波形データの取得を待機する。
ステップＳ２０１の結果、波形データが取得されている場合（Ｓ２０１→Ｙｅｓ）、判定部１１３は、すべての測定点について、波形データの取得が完了したか否かを判定する（Ｓ２０２）。

ステップＳ２０２の結果、すべての測定点についての波形データの取得が完了していない場合（Ｓ２０２→Ｎｏ）、処理部１１１はステップＳ２０１へ処理を戻し、次の測定点における波形データを取得する。
ステップＳ２０２の結果、すべての測定点についての波形データの取得が完了している場合（Ｓ２０２→Ｙｅｓ）、Ｓゲート処理部１１４が、波形データを１つ選択し、Ｓゲート処理を行う（Ｓ２０３）。
続いて、判定部１１３は、すべての測定点について、Ｓゲート処理を完了したか否かを判定する（Ｓ２０４）。
ステップＳ２０４の結果、すべての測定点について、Ｓゲート処理を完了していない場合（Ｓ２０４→Ｎｏ）、処理部１１１はステップＳ２０３へ処理を戻す。

ステップＳ２０４の結果、すべての測定点について、Ｓゲート処理を完了している場合（Ｓ２０４→Ｙｅｓ）、判定部１１３は、最初の波形データについてトリガポイントを検出できたか否かを判定する（Ｓ２０５）。
ステップＳ２０５の結果、トリガポイントを検出できた場合（Ｓ２０５→Ｙｅｓ）、処理部１１１はステップＳ２０９へ処理を進める。
ステップＳ２０５の結果、トリガポイントを検出できなかった場合（Ｓ２０５→Ｎｏ）、判定部１１３は、処理対象となっている波形データについて補間可能であるか否かを判定する（Ｓ２０６）。補間可能であるか否かは、補間値の算出が可能か否かである。具体的には、判定部１１３は、処理対象となっている波形データの前後に、Ｓゲート処理によって検出されたトリガポイントがあるか否かを判定する。

ステップＳ２０６の結果、補間不可能な場合（Ｓ２０６→Ｎｏ）、処理部１１１はステップＳ２１０へ処理を進める。
ステップＳ２０６の結果、補間可能である場合（Ｓ２０６→Ｙｅｓ）、トリガポイント設定処理部１１５が、処理対象となっている波形データの前後の波形データからトリガポイントの補間値を算出する（Ｓ２０７）。補間値の算出方法は、前後のトリガポイントの平均値等である。
続いて、トリガポイント設定処理部１１５は、算出した補間値を処理対象となっている波形データの補間トリガポイントとして設定する（Ｓ２０８）

そして、Ｆゲート処理部１１６が、ステップＳ２０５で検出したトリガポイント、又はステップＳ２０８で設定された補間トリガポイントを基に、Ｆゲート処理を行う（Ｓ２０９）。Ｆゲート処理については、前記しているので、ここでは説明を省略する。
次に、処理部１１１は、すべての測定点についてステップＳ２０５〜Ｓ２０９の処理を完了したか否かを判定する（Ｓ２１０）。
ステップＳ２１０の結果、すべての測定点についてステップＳ２０５〜Ｓ２０９の処理が完了していない場合（Ｓ２１０→Ｎｏ）、処理部１１１はステップＳ２０５へ処理を戻し、次の測定点の波形データについて処理を行う。
ステップＳ２０９の結果、すべての測定点について、ステップＳ２０５〜Ｓ２０９の処理が完了している場合（Ｓ２１０→Ｙｅｓ）、処理部１１１は処理を完了する。

なお、第２実施形態において、トリガポイント設定処理部１１５は、処理対象となっている前後の波形データのトリガポイントの平均を補間トリガポイントＴＰＳとしているが、補間値の算出方法はこれに限らない。例えば、トリガポイントを検出できなかった測定点＋１の数で、検出されたトリガポイント間を分割し、その分割点を補間値としてもよい。例えば、３箇所の連続した測定点Ｐ２２〜Ｐ２４（不図示）においてトリガポイントが検出されず、測定点Ｐ２１、Ｐ２５（不図示）においてトリガポイントが検出された場合、トリガポイント設定処理部１１５は以下の処理を行うようにしてもよい。つまり、トリガポイント設定処理部１１５は、測定点Ｐ２１で検出されたトリガポイントの時刻と、測定点Ｐ２５で検出されたトリガポイントの時刻との間を４分割し、それぞれの分割点を測定点Ｐ２２〜Ｐ２４それぞれにおける補間トリガポイントの時刻として設定してもよい。

このように、トリガポイントを検出された測定点の間を分割し、その分割点を補間トリガポイントとする場合、以下のような処理が行われてもよい。つまり、図１１のステップＳ２０７において、トリガポイント設定処理部１１５は、前後いくつの測定点においてトリガポイントが検出されていないかを算出してもよい。そして、トリガポイント設定処理部１１５は、トリガポイントが検出されていない測定点＋１の数で、トリガポイントが検出されている時刻間を分割することで補間値を算出してもよい。

あるいは、トリガポイントを検出された測定点の間を分割し、その分割点を補間トリガポイントとする場合、以下のような処理が行われてもよい。つまり、トリガポイント設定処理部１１５は、図１１のステップＳ２０５で「Ｎｏ」と判定した場合、「Ｎｏ」と判定された数をカウントする。そして、トリガポイント設定処理部１１５はステップＳ２０５で「Ｙｅｓ」が判定されると、トリガポイントが検出された時刻間をステップＳ２０５で「Ｎｏ」と判定された数＋１で分割する。続いて、トリガポイント設定処理部１１５はそれぞれの分割点をトリガポイントが検出されなかった測定点における補間トリガポイントの時刻としてもよい。この場合、トリガポイント設定処理部１１５は、Ｓ１ゲートの処理をすべての測定点について行った後、Ｓ２ゲートの処理を行うようにしてもよい。

また、関数等を用いて、それぞれの補完値を設定してもよい。

以上の処理によれば、検査装置１００は、処理対象となっている波形データの前後に取得された波形データのトリガポイントの値から、該トリガポイントの補間値を算出する。そして、検査装置１００は、該算出された補間値を処理対象となっている波形データのトリガポイント（補間トリガポイント）とする。このようにすることで、検査装置１００は、実際のトリガポイントに近い値（時刻）に補完したトリガポイントを設定することができる。

《第３実施形態》
次に、図１２〜図１５を参照して、本願発明の第３実施形態について説明する。第３実施形態及び後記する第４実施形態では、Ｓゲートが２つ存在する場合について説明する。なお、第３実施形態は、同時処理方式に適用するのが好ましいが、一括処理方式に適用してもよい。

(被検体）
図１２は、第３，４実施形態に係る被検体の例を示す図である。図１２において、図３と同様の構成については、同一の符号を付して説明を省略する。
ここで、被検体２は、図３と同様、水平面に対して斜めに配置されている。
内部構造Ｓ２は、測定点Ｐ１，Ｐ３，Ｐ５，Ｐ７において存在している。また、測定点Ｐ２，Ｐ５，Ｐ７において、被検体２表面に不均質部３０１が存在している。さらに、測定点Ｐ４，Ｐ７では、内部界面Ｓ１でも不均質部３０１が存在している。

（処理概要）
図１３は、第３実施形態に係る超音波検査方法の概要を示す図である。
なお、図１３において、図４、図６と同様の構成については、同一の符号を付して説明を省略する。
ここでは、検査装置１００がＳ１ゲートＳＧａの検出を行い、そのＳ１ゲートＳＧａのＳゲート位置を基に、Ｓ２ゲートＳＧｂを検出する。そして、検査装置１００はＳ２ゲートＳＧｂに基づいてＦゲート位置にＦゲートＦＧを設定する。
ここで、一般的な追従ゲート方式では、測定点Ｐ２では被検体２表面の不均質部３０１のため、Ｓ１ゲートＳＧａが検出されず、測定点Ｐ４では内部界面Ｓ１における不均質部３０１のため、Ｓ２ゲートＳＧｂが検出されないことになってしまう。また、一般的な追従ゲート方式では、測定点Ｐ５では被検体２表面の不均質部３０１のため、Ｓ１ゲートＳＧａが検出されておらず、測定点Ｐ７では被検体２表面及び内部界面Ｓ１における不均質部３０１のため、Ｓ１ゲートＳＧａ、Ｓ２ゲートＳＧｂのそれぞれが検出されないことになってしまう。

そこで、検査装置１００は、測定点Ｐ１におけるＳ１ゲートＳＧａのトリガポイントＴＰ１１を測定点Ｐ２におけるＳ１ゲートＳＧａの補間トリガポイントＴＰＳ２１としている。同様に、検査装置１００は、測定点Ｐ３におけるＳ２ゲートＳＧｂのトリガポイントＴＰ３２を測定点Ｐ４におけるＳ２ゲートＳＧｂの補間トリガポイントＴＰＳ４２としている。また、検査装置１００は、測定点Ｐ４におけるＳ１ゲートＳＧａのトリガポイントＴＰ４１を測定点Ｐ５におけるＳ１ゲートＳＧａの補間トリガポイントＴＰＳ５１としている。さらに、検査装置１００は、測定点Ｐ６におけるＳ１ゲートＳＧａ及びＳ２ゲートＳＧｂのトリガポイントＴＰ６１，ＴＰ６２を、それぞれ測定点Ｐ７におけるＳ１ゲートＳＧａ及びＳ２ゲートＳＧｂの補間トリガポイントＴＰＳ７１，ＴＰＳ７２としている。

このようにすることで、検査装置１００は、Ｓ１ゲートＳＧａが検出できない測定点Ｐ２，Ｐ５，Ｐ７及びＳ２ゲートＳＧｂが検出できない測定点Ｐ４，Ｐ７においてもＦゲートＦＧを確定することができる。

図１４は、第３実施形態による超音波検査方法を用いた結果、得られる検査画像の例を示す図である。
図１３に示す処理を行った結果、被検体２表面や、内部界面Ｓ１における不均質部３０１のため、データ抜けが生じてしまう測定点Ｐ２，Ｐ４，Ｐ５，Ｐ７において、図１４に示すように内部構造物の有無に関する情報を検査画像として正確に表示することができる。

（フローチャート）
図１５は、第３実施形態に係る超音波検査方法の詳細な処理手順を示すフローチャートである。
まず、判定部１１３は、取得部１１２によって、波形データが取得されたか否かを判定する（Ｓ３０１）。
ステップＳ３０１の結果、波形データが取得されていない場合（Ｓ３０１→Ｎｏ）、処理部１１１はステップＳ３０１へ処理を戻し、波形データの取得を待機する。
ステップＳ３０１の結果、波形データが取得されている場合（Ｓ３０１→Ｙｅｓ）、Ｓゲート処理部１１４が、取得した波形に対しＳ１ゲート処理を行う（Ｓ３０２）。Ｓ１ゲート処理では、設定されたＳ１ゲート内において、Ｓ１トリガレベルを超える反射エコーが検出されるか否かをＳゲート処理部１１４が判定するものである。
そして、判定部１１３は、Ｓ１ゲート処理の結果、Ｓ１ゲートにおけるトリガポイントを検出できたか否かを判定する（Ｓ３０３）。

ステップＳ３０３の結果、Ｓ１ゲートにおけるトリガポイントを検出できた場合（Ｓ３０３→Ｙｅｓ）、トリガポイント設定処理部１１５が、検出したトリガポイントを保持値として記憶装置１３０に上書き保存する。このようにすることで、トリガポイント設定処理部１１５はＳ１ゲートにおけるトリガポイントの保持値（Ｓ１保持値）を更新する（Ｓ３０４）。そして、処理部１１１は、ステップＳ３０８へ処理を進める。

ステップＳ３０３の結果、トリガポイントを検出できなかった場合（Ｓ３０３→Ｎｏ）、トリガポイント設定処理部１１５は、記憶装置１３０にＳ１保持値があるか否かを判定する（Ｓ３０５）。
ステップＳ３０５の結果、Ｓ１保持値がない場合（Ｓ３０５→Ｎｏ）、処理部１１１はステップＳ３１５へ処理を進める。

ステップＳ３０５の結果、Ｓ１保持値が保持されている場合（Ｓ３０５→Ｙｅｓ）、トリガポイント設定処理部１１５は記憶装置１３０からＳ１保持値を取得し（Ｓ３０６）、該Ｓ１保持値を処理対象となっている波形データのＳ１ゲートにおける補間トリガポイントとして設定する（Ｓ３０７）。

ステップＳ３０４又はステップＳ３０７の後、Ｓゲート処理部１１４が、ステップＳ３０３で取得されたトリガポイント、又はステップＳ３０７でＳ１保持値を用いて設定された補間トリガポイントを用いて、取得した波形に対しＳ２ゲート処理を行う（Ｓ３０８）。Ｓ２ゲート処理では、Ｓ１ゲートにおけるトリガポイント又は補間トリガポイントを基に設定されたＳ２ゲート内において、Ｓ２トリガレベルを超える反射エコーが検出されるか否かをＳゲート処理部１１４が判定する。
そして、判定部１１３は、Ｓ２ゲート処理の結果、Ｓ２ゲートにおけるトリガポイントを検出できたか否かを判定する（Ｓ３０９）。

ステップＳ３０９の結果、トリガポイントを検出できた場合（Ｓ３０９→Ｙｅｓ）、トリガポイント設定処理部１１５が、取得したＳ２ゲートにおけるトリガポイントをトリガポイントの保持値（Ｓ２保持値）として記憶装置１３０に上書き保存する。このようにすることで、トリガポイント設定処理部１１５はＳ２保持値を更新する（Ｓ３１０）。そして、処理部１１１は、ステップＳ３１４へ処理を進める。

ステップＳ３０９の結果、トリガポイントを取得できなかった場合、トリガポイント設定処理部１１５は、記憶装置１３０にＳ２保持値があるか否かを判定する（Ｓ３１１）。
ステップＳ３１１の結果、Ｓ２保持値がない場合（Ｓ３１１→Ｎｏ）、処理部１１１はステップＳ３１５へ処理を進める。

ステップＳ３１１の結果、Ｓ２保持値がある場合（Ｓ３１１→Ｙｅｓ）、トリガポイント設定処理部１１５は記憶装置１３０からＳ２保持値を取得し（Ｓ３１２）、該Ｓ２保持値を処理対象となっている波形データのＳ２ゲートにおける補間トリガポイントとして設定する（Ｓ３１３）。

そして、Ｆゲート処理部１１６が、ステップＳ３０９で取得されたＳ２ゲートにおけるトリガポイント、又はステップＳ３１３でＳ２保持値を用いて設定された補間トリガポイントを用いて、処理対象となっている波形データに対してＦゲート処理を行う（Ｓ３１４）。Ｆゲート処理については、前記しているので、ここでは説明を省略する。
次に、処理部１１１は、すべての測定点について、ステップＳ３０１〜Ｓ３１４の処理を完了したか否かを判定する（Ｓ３１５）。
ステップＳ３１５の結果、すべての測定点について、ステップＳ３０１〜Ｓ３１４の処理が完了していない場合（Ｓ３１５→Ｎｏ）、処理部１１１は、ステップＳ３０１へ処理を戻し、次の測定点について処理を行う。
ステップＳ３１５の結果、すべての測定点について、ステップＳ３０１〜Ｓ３１４の処理が完了している場合（Ｓ３１５→Ｙｅｓ）、処理部１１１は処理を終了する。

以上の処理によれば、検査装置１００においてＳゲート処理部１１４は、取得された波形データの少なくとも２箇所に対して、トリガポイントを検出するためのＳゲート処理を行う。そして、トリガポイント設定処理部１１５は、判定部によって、トリガポイントが取得されなかった箇所が検出された場合、処理対象となっている波形データにおいて、トリガポイントが検出されなかった箇所のトリガポイント（補間トリガポイント）を、他の波形データから取得されたトリガポイントを基に設定する。このように、Ｓゲートを複数とすることによって、検査装置１００は、Ｆゲートの設定を第１実施形態より確実に行うことができる。

また、検査装置１００は、処理対象となっている波形データの前に取得された波形データのトリガポイントを、処理対象となっている波形データのトリガポイント（補間トリガポイント）とする。このようにすることで、同時処理方式によるトリガポイントの補間が可能となる。

そして、検査装置１００は、Ｓゲート処理部１１４、判定部１１３及びトリガポイント設定処理部１１５のそれぞれは、取得部１１３が取得した波形データを、取得順に処理する。つまり、検査装置１００は、同時処理方式でトリガポイントの補間を行う。このようにすることで、超音波検査を行いながらトリガポイントの補間が可能となるので、作業の効率性を向上させることができる。

《第４実施形態》
次に、図１６〜図１９を参照して、本願発明の第４実施形態について説明する。なお、第４実施形態は、一括処理方式に適用するのが好ましい、

（処理概要）
図１６は、第４実施形態に係る超音波検査方法の概要を示す図である。
なお、使用される被検体２は、第３実施形態の図１２に示される被検体２と同様のものとするため、ここでは説明を省略する。
また、図１６において、図４、図９と同様の構成については、同一の符号を付して説明を省略する。
ここでは、第３実施形態の図１３と同様に、検査装置１００がＳ１ゲートＳＧａの検出を行い、そのＳ１ゲートＳＧａのＳゲート位置を基に、Ｓ２ゲートＳＧｂを検出する。そして、検査装置１００はＳ２ゲートＳＧｂに基づいて、Ｆゲート位置にＦゲートＦＧを設定する。

ここで、一般的な追従ゲート方式では、測定点Ｐ２では被検体２表面の不均質部３０１のため、Ｓ１ゲートＳＧａが検出されず、測定点Ｐ４では界面Ｓ２における不均質部３０１のため、Ｓ２ゲートＳＧｂが検出されないことになってしまう。また、一般的な追従ゲート方式では、測定点Ｐ５では被検体２表面の不均質部３０１のため、Ｓ１ゲートＳＧａが検出されておらず、測定点Ｐ７では被検体２表面及び内部界面Ｓ１における不均質部３０１のため、Ｓ１ゲートＳＧａ、Ｓ２ゲートＳＧｂのそれぞれが検出されないことになってしまう。

そこで、検査装置１００は、測定点Ｐ１及び測定点Ｐ３におけるＳ１ゲートＳＧａのトリガポイントＴＰ１１，ＴＰ３１から、測定点Ｐ２におけるＳ１ゲートＳＧａの補間トリガポイントＴＰＳ２１を補間している。同様に、検査装置１００は、測定点Ｐ３及び測定点Ｐ５におけるＳ２ゲートＳＧｂのトリガポイントＴＰ３２，ＴＰ５２から、測定点Ｐ４におけるＳ２ゲートＳＧｂの補間トリガポイントＴＰＳ４２を補間している。また、検査装置１００は、測定点Ｐ４及び測定点Ｐ６におけるＳ１ゲートＳＧａのトリガポイントＴＰ４１，ＴＰ６１から、測定点Ｐ５におけるＳ１ゲートＳＧａの補間トリガポイントＴＰＳ５１を補間している。さらに、検査装置１００は、測定点Ｐ６及び測定点Ｐ８におけるＳ１ゲートＳＧａのトリガポイントＴＰ６１，ＴＰ８１から、測定点Ｐ７におけるＳ１ゲートＳＧａ及びＳ２ゲートＳＧｂの補間トリガポイントＴＰＳを補間している。さらに、検査装置１００は、測定点Ｐ６及び測定点Ｐ８におけるＳ２ゲートＳＧｂそれぞれのトリガポイントＴＰ６２，ＴＰ８２から、測定点Ｐ７におけるＳ２ゲートＳＧｂの補間トリガポイントＴＰＳ７２を補間している。
補間値の算出方法は、第２実施形態と同様であるので、ここでは説明を省略する。

このようにすることで、検査装置１００は、Ｓ１ゲートＳＧａが検出できない測定点Ｐ２，Ｐ５，Ｐ７及びＳ２ゲートＳＧｂが検出できない測定点Ｐ４，Ｐ７においてもＦゲートＦＧを確定することができる。

図１７は、第４実施形態による超音波検査方法を用いた結果、得られる検査画像の例を示す図である。
図１６に示す処理を行った結果、被検体２表面や、内部界面Ｓ１における不均質部３０１のため、データ抜けが生じてしまう測定点Ｐ２，Ｐ４，Ｐ５，Ｐ７において、図１７に示すように内部構造物の有無に関する情報を検査画像として正確に表示することができる。

（フローチャート）
図１８及び図１９は、第４実施形態に係る超音波検査方法の詳細な処理手順を示すフローチャートである。
まず、判定部１１３は、取得部１１２によって、波形データが取得されたか否かを判定する（図１８のＳ４０１）。
ステップＳ４０１の結果、波形データが取得されていない場合（Ｓ４０１→Ｎｏ）、処理部１１１はステップＳ４０１へ処理を戻し、波形データの取得を待機する。
ステップＳ４０１の結果、波形データが取得されている場合（Ｓ４０１→Ｙｅｓ）、判定部１１３は、すべての測定点について、波形データの取得が完了したか否かを判定する（Ｓ４０２）。

ステップＳ４０２の結果、すべての測定点についての波形データの取得が完了していない場合（Ｓ４０２→Ｎｏ）、処理部１１１はステップＳ４０１へ処理を戻し、次の測定点における波形データを取得する。
ステップＳ４０２の結果、すべての測定点についての波形データの取得が完了している場合（Ｓ４０２→Ｙｅｓ）、Ｓゲート処理部１１４が、波形データを１つ選択し、Ｓ１ゲートを検出するためのＳ１ゲート処理を行う（Ｓ４０３）。
続いて、判定部１１３は、すべての測定点について、Ｓ１ゲート処理を完了したか否かを判定する（Ｓ４０４）。
ステップＳ４０４の結果、すべての測定点について、Ｓ１ゲート処理を完了していない場合（Ｓ４０４→Ｎｏ）、処理部１１１はステップＳ４０４へ処理を戻す。

ステップＳ４０４の結果、すべての測定点について、Ｓ１ゲート処理を完了している場合（Ｓ４０４→Ｙｅｓ）、判定部１１３は、Ｓ１ゲート位置における波形データについてトリガポイントを検出できたか否かを判定する（Ｓ４０５）。
ステップＳ４０５の結果、トリガポイントを検出できた場合（Ｓ４０５→Ｙｅｓ）、処理部１１１はステップＳ４０９へ処理を進める。
ステップＳ４０５の結果、トリガポイントを検出できなかった場合（Ｓ４０５→Ｎｏ）、判定部１１３は、処理対象となっている波形データについてＳ１ゲートにおけるトリガポイントを補間可能であるか否かを判定する（Ｓ４０６）。補間可能であるか否かは、補間値の算出が可能か否かである。具体的には、判定部１１３は、処理対象となっている波形データの前後に、Ｓ１ゲート処理によって取得させたトリガポイントがあるか否かを判定する。

ステップＳ４０６の結果、補間不可能な場合（Ｓ４０６→Ｎｏ）、処理部１１１はステップＳ４１０へ処理を進める。
ステップＳ４０６の結果、補間可能である場合（Ｓ４０６→Ｙｅｓ）、トリガポイント設定処理部１１５が、処理対象となっている波形データの前後の波形データからＳ１ゲートにおけるトリガポイントの補間値であるＳ１補間値を算出する（Ｓ４０７）。
続いて、トリガポイント設定処理部１１５は、算出したＳ１補間値を処理対象となっている波形データのＳ１ゲートにおける補間トリガポイントとして設定する（Ｓ４０８）

そして、Ｓゲート処理部１１４が、ステップＳ４０５で検出したトリガポイント、又はステップＳ４０８で設定された補間トリガポイントを記憶装置１３０に保持する（Ｓ４０９）。
次に、判定部１１３は、すべての測定点についてステップＳ４０５〜Ｓ４０９の処理を完了したか否かを判定する（Ｓ４１０）。
ステップＳ４１０の結果、すべての測定点についてステップＳ４０５〜Ｓ４０９の処理を完了していない場合（Ｓ４１０→Ｎｏ）、処理部１１１はステップＳ４０５へ処理を戻す。

ステップＳ４１０の結果、すべての測定点についてステップＳ４０５〜Ｓ４０９の処理を完了している場合（Ｓ４１０→Ｙｅｓ）、Ｓゲート処理部１１４が、波形データを１つ選択し、Ｓ２ゲートを検出するためのＳ２ゲート処理を行う（図１９のＳ４１１）。
続いて、判定部１１３は、すべての測定点について、Ｓ２ゲート処理を完了したか否かを判定する（Ｓ４１２）。
ステップＳ４１２の結果、すべての測定点について、Ｓ２ゲート処理を完了していない場合（Ｓ４１２→Ｎｏ）、処理部１１１はステップＳ４１１へ処理を戻す。

ステップＳ４１２の結果、すべての測定点について、Ｓ２ゲート処理を完了している場合（Ｓ４１２→Ｙｅｓ）、判定部１１３は、Ｓ２ゲート位置における波形データについてトリガポイントを検出できたか否かを判定する（Ｓ４１３）。
ステップＳ４１３の結果、トリガポイントを検出できた場合（Ｓ４１３→Ｙｅｓ）、処理部１１１はステップＳ４１６へ処理を進める。
ステップＳ４１３の結果、トリガポイントを検出できなかった場合（Ｓ４１３→Ｎｏ）、判定部１１３は、処理対象となっている波形データについてＳ２ゲートにおけるトリガポイントを補間可能であるか否かを判定する（Ｓ４１４）。補間可能であるか否かは、補間値の算出が可能か否かである。具体的には、判定部１１３は、処理対象となっている波形データの前後に、Ｓ２ゲート処理によって取得させたトリガポイントがあるか否かを判定する。

ステップＳ４１４の結果、補間不可能な場合（Ｓ４１４→Ｎｏ）、処理部１１１はステップＳ４１７へ処理を進める。
ステップＳ４１４の結果、補間可能である場合（Ｓ４１４→Ｙｅｓ）、トリガポイント設定処理部１１５が、処理対象となっている波形データの前後の波形データからＳ２ゲートにおけるトリガポイントの補間値であるＳ２補間値を算出する（Ｓ４１５）。
続いて、トリガポイント設定処理部１１５は、算出したＳ２補間値を処理対象となっている波形データの補間トリガポイントとして設定する（Ｓ４１６）

そして、Ｆゲート処理部１１６が、ステップＳ４１３で検出したトリガポイント、又はステップＳ４１６で設定された補間トリガポイントを基に、Ｆゲート処理を行う（Ｓ４１７）。Ｆゲート処理については、前記しているので、ここでは説明を省略する。
次に、判定部１１３は、すべての測定点についてステップＳ４１３〜Ｓ４１７の処理を完了したか否かを判定する（Ｓ４１８）。
ステップＳ４１８の結果、すべての測定点についてステップＳ４１３〜Ｓ４１７の処理が完了していない場合（Ｓ４１８→Ｎｏ）、処理部１１１はステップＳ４１３へ処理を戻し、次の測定点の波形データについて処理を行う。
ステップＳ４１８の結果、すべての測定点について、ステップＳ４１３〜Ｓ４１７の処理が完了している場合（Ｓ４１８→Ｙｅｓ）、処理部１１１は処理を完了する。

なお、第４実施形態において、トリガポイント設定処理部１１５は、処理対象となっている前後の波形データのトリガポイントの平均を補間トリガポイントＴＰＳとしているが、補間値の算出方法はこれに限らない。例えば、トリガポイントを検出できなかった測定点＋１の数で、検出されたトリガポイント間を分割し、その分割点を補間値としてもよい。例えば、３箇所の連続した測定点Ｐ２２〜Ｐ２４（不図示）においてトリガポイントが検出されず、測定点Ｐ２１、Ｐ２５（不図示）においてトリガポイントが検出された場合を考える。このとき、トリガポイント設定処理部１１５は、測定点Ｐ２１で検出されたトリガポイントの時刻と、測定点Ｐ２５で検出されたトリガポイントの時刻との間を４分割し、それぞれの分割点を測定点Ｐ２２〜Ｐ２４それぞれにおける補間トリガポイントの時刻として設定してもよい。

このように、トリガポイントを検出された測定点の間を分割し、その分割点を補間トリガポイントとする場合、以下のような処理が行われてもよい。つまり、図１８のステップＳ４０７や、図１９のステップＳ４１５において、トリガポイント設定処理部１１５は、前後いくつの測定点においてトリガポイントが検出されていないかを算出してもよい。そして、トリガポイント設定処理部１１５は、トリガポイントが検出されていない測定点＋１の数で、トリガポイントが検出されている時刻間を分割することで補間値を算出してもよい。

あるいは、トリガポイントを検出された測定点の間を分割し、その分割点を補間トリガポイントとする場合、以下のような処理が行われてもよい。つまり、トリガポイント設定処理部１１５は、図１８のステップＳ４０５で「Ｎｏ」と判定した場合、「Ｎｏ」と判定された数をカウントする。そして、トリガポイント設定処理部１１５はステップＳ４０５で「Ｙｅｓ」が判定されると、トリガポイントが検出された時刻間をステップＳ４０５で「Ｎｏ」と判定された数＋１で分割する。続いて、トリガポイント設定処理部１１５はそれぞれの分割点をトリガポイントが検出されなかった測定点における補間トリガポイントの時刻としてもよい。そして、トリガポイント設定処理部１１５は、Ｓ２ゲートにおける処理でも同様の処理を行ってもよい。この場合、トリガポイント設定処理部１１５は、Ｓ１ゲートの処理をすべての測定点について行った後、Ｓ２ゲートの処理を行うようにしてもよい。

また、関数等を用いて、それぞれの補完値を設定してもよい。

また、第４実施形態によれば、検査装置１００は、取得された波形データの少なくとも２箇所に対して、トリガポイントを検出するためのＳゲート処理を行う。そして、トリガポイント設定処理部１１５は、判定部によって、トリガポイントが取得されなかった箇所が検出された場合、処理対象となっている波形データにおいて、トリガポイントが検出されなかった箇所のトリガポイント（補間トリガポイント）を、他の波形データから取得されたトリガポイントを基に設定する。このようにすることで、Ｆゲートの設定を第２実施形態より確実にすることができる。

また検査装置１００は、処理対象となっている波形データの前後に取得された波形データのトリガポイントの値から、該トリガポイントの補間値を算出し、該算出された補間値を処理対象となっている波形データのトリガポイント（補間トリガポイント）とする。このようにすることで、検査装置１００は、実際のトリガポイントに近い値（時刻）に補完したトリガポイントを設定することができる。

本発明は前記した実施形態に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、前記した実施形態は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明したすべての構成を有するものに限定されるものではない。また、ある実施形態の構成の一部を他の実施形態の構成に置き換えることが可能であり、ある実施形態の構成に他の実施形態の構成を加えることも可能である。また、各実施形態の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることが可能である。

また、前記した各構成、機能、メモリ１１０、各部１１１〜１１６、演算装置１２０、記憶装置１３０等は、それらの一部又はすべてを、例えば集積回路で設計すること等によりハードウェアで実現してもよい。また、図２に示すように、前記した各構成、機能、メモリ１１０、各部１１１〜１１６、演算装置１２０、記憶装置１３０等は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）等のプロセッサがそれぞれの機能を実現するプログラムを解釈し、実行することによりソフトウェアで実現してもよい。各機能を実現するプログラム、テーブル、ファイル等の情報は、ＨＤ（Hard Disk）に格納すること以外に、メモリや、ＳＳＤ（Solid State Drive）等の記録装置、又は、ＩＣ（Integrated Circuit）カードや、ＳＤ（Secure Digital）カード、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）等の記録媒体に格納することができる。
また、各実施形態において、制御線や情報線は説明上必要と考えられるものを示しており、製品上必ずしもすべての制御線や情報線を示しているとは限らない。実際には、ほとんどすべての構成が相互に接続されていると考えてよい。

１ プローブ
２ 被検体
３ プリアンプ
４ パルサ発生器
５ レシーバ
６ Ａ／Ｄ変換器
７ 制御装置
８ データ処理装置
９ ディスプレイ（表示部）
２０ 超音波検査システム
１００ 検査装置（超音波検査装置）
１１１ 処理部
１１２ 取得部
１１３ 判定部
１１４ Ｓゲート処理部
１１５ トリガポイント設定処理部
１１６ Ｆゲート処理部
３００ 異物
３０１ 不均質部
ＦＧ Ｆゲート
ＳＧ Ｓゲート
ＳＧａ Ｓ１ゲート
ＳＧｂ Ｓ２ゲート
ＴＰ，ＴＰ１，ＴＰ３，ＴＰ４，ＴＰ６，ＴＰ８，ＴＰ１１，ＴＰ３１，ＴＰ４１，ＴＰ６１，ＴＰ８１，ＴＰ３２，ＴＰ５２，ＴＰ６２，Ｔｐ８２ トリガポイント
ＴＰＳ，ＴＰＳ２，ＴＰＳ５，ＴＰＳ７，ＴＰＳ２１，ＴＰＳ５１，ＴＰＳ７１，ＴＰＳ４２，ＴＰＳ７２ 補間トリガポイント

Claims (9)

1. 超音波検査における被検体からの反射エコーのデータである波形データを取得する取得部と、
   取得された前記波形データに対して、基準エコーを検出するために設定されるＳゲート中において、前記波形データの値が、予め設定されているしきい値を超えた時刻である、トリガポイントを検出するためのＳゲート処理を行うＳゲート処理部と、
   前記Ｓゲート処理の結果、前記トリガポイントが検出されたか否かを判定する判定部と、
   前記判定部によって、前記トリガポイントが検出されていないと判定された場合、処理対象となっている波形データにおいて、前記トリガポイントを、他の波形データにおいて検出されたトリガポイントを基に設定するトリガポイント設定処理部と、
   前記設定されたトリガポイントを基に、目標とする波形を検出するためのＦゲートを設定するＦゲート処理部と、
   を有することを特徴とする超音波検査装置。
2. 前記トリガポイント設定処理部は、
   前記処理対象となっている波形データの前に取得された波形データのトリガポイントを、前記処理対象となっている波形データのトリガポイントとする
   ことを特徴とする請求項１に記載の超音波検査装置。
3. 前記Ｓゲート処理部、前記判定部及び前記トリガポイント設定処理部のそれぞれは、前記取得部が取得した波形データを、取得順に処理する
   ことを特徴とする請求項２に記載の超音波検査装置。
4. 前記トリガポイント設定処理部は、前記処理対象となっている波形データの前後で取得された波形データのトリガポイントの値から、該トリガポイントの補間値を算出し、該算出された補間値を前記処理対象となっている波形データのトリガポイントとする
   ことを特徴とする請求項１に記載の超音波検査装置。
5. 前記Ｓゲート処理部は、
   取得された前記波形データの少なくとも２箇所に対して、前記Ｓゲート処理を行い、
   前記判定部は、
   それぞれの前記Ｓゲート処理の結果、前記トリガポイントが検出されたか否かを判定し、
   前記トリガポイント設定処理部は、前記波形データのうちで、前記トリガポイントの検出対象となっている箇所のうち、前記トリガポイントが検出されなかった箇所がある場合、処理対象となっている前記波形データにおいて、前記トリガポイントが検出されなかった箇所のトリガポイントを、他の波形データから検出されたトリガポイントを基に設定する
   ことを特徴とする請求項１に記載の超音波検査装置。
6. 前記トリガポイント設定処理部は、
   前記処理対象となっている波形データの前に取得された波形データのトリガポイントを、前記処理対象となっている波形データのトリガポイントとする
   ことを特徴とする請求項５に記載の超音波検査装置。
7. 前記Ｓゲート処理部、前記判定部及び前記トリガポイント設定処理部のそれぞれは、前記取得部が取得した波形データを、取得順に処理する
   ことを特徴とする請求項６に記載の超音波検査装置。
8. 前記トリガポイント設定処理部は、前記処理対象となっている波形データの前後で取得された波形データのトリガポイントの値から、該トリガポイントの補間値を算出し、該算出された補間値を前記処理対象となっている波形データのトリガポイントとする
   ことを特徴とする請求項５に記載の超音波検査装置。
9. 超音波検査における被検体からの反射エコーのデータである波形データを取得する取得部と、
   取得された前記波形データに対して、基準エコーを検出するために設定されるＳゲート中において、前記波形データの値が、予め設定されているしきい値を超えた時刻である、トリガポイントを検出するためのＳゲート処理を行うＳゲート処理部と、
   前記Ｓゲート処理の結果、前記トリガポイントが検出されたか否かを判定する判定部と、
   前記判定部によって、前記トリガポイントが検出されていないと判定された場合、処理対象となっている波形データにおいて、前記トリガポイントを、他の波形データにおいて検出されたトリガポイントを基に設定するトリガポイント設定処理部と、
   前記設定されたトリガポイントを基に、目標とする波形を検出するためのＦゲートを設定するＦゲート処理部と、
   前記検出波の有無に関する情報を表示する表示部と、
   を有することを特徴とする超音波検査装置。

Images