JP5498314B2 - インピーダンス可変整合回路 - Google Patents

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Description

この発明は、増幅器等に利用されるインピーダンス可変整合回路に関する。
移動機に搭載される電力増幅器は、システムが要求する電力まで高効率に送信信号を増幅することが求められる。通常、電力増幅器などの無線回路は、特定の負荷(インピーダンスZ0)に整合するように設計される。しかし、特に移動機の場合、アンテナ周辺の電磁環境の変動により電力増幅器の見掛け上の負荷が変動し、出力電力及び効率が低下する場合がある。このような負荷の変動に対して、従来より、電力増幅器とアンテナとの間にチューナーを接続して負荷の変動に対応する技術がある。このようなチューナーを、任意の定数を取れる可変デバイス(可変誘導性素子及び可変容量性素子)を用いて構成する場合、最も簡単な回路構成として、図14(a)〜(d)に示す3つの素子を組み合わせた回路が考えられ、このような回路構成で、計算上は任意の負荷変動に対応することができる。
対応可能な負荷変動の範囲を十分に確保するには、可変デバイスの可変範囲が十分に広くなければならない。しかし、可変誘導性素子は、計算上は観念できるものの、現時点では商用レベルに至っていないため、実際には図14に示す回路を構成することは困難である。そのため、対応可能な負荷変動の範囲を広げるためには、使用する素子の数を増やす等の対処が必要であった。
本発明の目的は、可変誘導性素子を用いることなく、あたかも可変誘導性素子を用いているかのようにインピーダンスを調節することができ、よって、少ない素子数で広範囲の負荷変動に対応可能なインピーダンス可変整合回路を提供することにある。
本発明のインピーダンス可変整合回路は、第1直列可変容量素子と第2直列可変容量素子との直列接続と、一端が第1直列可変容量素子と第2直列可変容量素子との接続点に接続され、他端が接地された、並列固定誘導性素子と第1並列可変容量素子との直列接続と、一端が第1直列可変容量素子と第2直列可変容量素子との接続点に接続され、他端が接地された、第2並列可変容量素子と、を備える。
本発明のインピーダンス可変整合回路によれば、可変誘導性素子を用いることなく、あたかも可変誘導性素子を用いているかのようにインピーダンスを調節することができるため、少ない素子数で広範囲の負荷変動に対応可能となる。
本発明のインピーダンス可変整合回路100の構成例を示す図。 本発明のインピーダンス可変整合回路100において固定容量素子を併用した場合の構成例を示す図。 本発明のインピーダンス可変整合回路100における可変容量値−サセプタンス絶対値特性を示す図。 図1の構成に基づく2つの周波数帯に対応可能なインピーダンス可変整合回路の構成例を示す図。 図2の構成に基づく2つの周波数帯に対応可能なインピーダンス可変整合回路の構成例を示す図。 図4のインピーダンス可変整合回路においてスイッチをLp1o_1側に切り替えた時の、入力信号周波数2GHzにおける可変容量値−サセプタンス絶対値特性を示す図。 図4のインピーダンス可変整合回路においてスイッチをLp1o_2側に切り替えた時の、入力信号周波数2GHzにおける可変容量値−サセプタンス絶対値特性を示す図。 本発明のインピーダンス可変整合回路200の構成例を示す図。 本発明のインピーダンス可変整合回路200において固定容量素子を併用した場合の構成例を示す図。 本発明のインピーダンス可変整合回路200における可変容量値−サセプタンス絶対値特性を示す図。 本発明のインピーダンス可変整合回路300の構成例を示す図。 本発明のインピーダンス可変整合回路300において固定容量素子を併用した場合の構成例を示す図。 本発明のインピーダンス可変整合回路300における可変容量値−リアクタンス値特性を示す図。 従来のインピーダンス可変整合回路の構成例を示す図。
以下、本発明の実施の形態について、詳細に説明する。
図1に本発明のインピーダンス可変整合回路100の構成例を示す。インピーダンス可変整合回路100は、図14(a)の可変整合回路における可変誘導性素子Lp1の役割を、1個の固定誘導性素子と2個の可変容量素子とにより代替する構成である。
インピーダンス可変整合回路100は、第1直列可変容量素子Cs1と第2直列可変容量素子Cs2との直列接続と、一端が第1直列可変容量素子Cs1と第2直列可変容量素子Cs2との接続点に接続され他端が接地された、並列固定誘導性素子Lp1oと第1並列可変容量素子Cp1との直列接続と、一端が第1直列可変容量素子Cs1と第2直列可変容量素子Cs2との接続点に接続され他端が接地された、第2並列可変容量素子Cp2と、を備える。
並列固定誘導性素子Lp1oは、インダクタンスLp1oの固定インダクタである。第1、第2並列可変容量素子Cp1、Cp2は、それぞれ容量Cp1、Cp2の可変容量素子である。各可変容量素子は、半導体によって実現しても、MEMS技術の応用によって実現してもよく、製法、構成法に制限はない。
並列固定誘導性素子Lp1oと第1並列可変容量素子Cp1との直列接続のアドミタンスYp1は、ωが入力信号の角周波数であるとき、次式で与えられる。
Figure 0005498314
また、第2並列可変容量素子Cp2のアドミタンスYp2は、次式で与えられる。
Figure 0005498314
よって、Yp1とYp2による合成アドミタンスYpは、次式のようになる。
Figure 0005498314
そのため、次式の関係が成り立つ場合に、Ypは誘導性アドミタンスとなる。
Figure 0005498314
このとき、式(3)および式(4)より次式が得られる。
Figure 0005498314
更に、式 (5a)及び(5b)より次式が得られる。
Figure 0005498314
ここで、式(6b)の右辺をCp1で微分すると次式が得られる。
Figure 0005498314
従って、式(6b)の右辺はCp1に対して単調減少となるため、Cp2の最大値Cp2maxはCp1をCp1の最大値Cp1maxとした場合に最小となる。このことから、Cp1およびCp2に要求される範囲は、次式のようになる。
Figure 0005498314
以上より、Cp1が式(8a)の範囲にあり、かつ、Cp2が式(8b)の範囲にある時、Ypが誘導性アドミタンスとなる。そのため、1個の並列固定誘導性素子Lp1oと2個の並列可変容量素子Cp1、Cp2との組を、あたかも可変誘導性素子であるかのように機能させることができ、よって、図14(a)の可変整合回路における可変誘導性素子Lp1の役割を代替することができる。なお、通常の可変容量素子には、素子固有の可変幅があるため、その可変幅をΔp1、Δp2とすると、Cp1、Cp2には次式の可変範囲を持つ可変容量素子を用いればよいことになる。
Figure 0005498314
ところで、可変容量素子は容量の絶対値が小さいほど小型となる。そこで、容量の絶対値を小さくするため、図2に示すように、第1並列可変容量素子Cp1を第1並列固定容量素子Cp1o(0<Cp1o≦Cp1min)とこれに並列に設けられた可変容量素子Cp1´とにより構成し、同様に、第2並列可変容量素子Cp2を第2並列固定容量素子Cp2o(0<Cp2o≦Cp2max−Δp2)とこれに並列に設けられた可変容量素子Cp2´とにより構成することが考えられる。このように構成することで、使用する可変容量素子Cp1´、Cp2´の容量の絶対値を、次式に示すように、式(9a),(9b)に示したCp1、Cp2の容量の絶対値よりそれぞれCp1o、Cp2o小さくすることができる。このように構成することで、より小型の可変容量素子を使用することができる。
Figure 0005498314
続いて、図1の構成により1個の並列固定誘導性素子Lp1oと2個の並列可変容量素子Cpiとの組をあたかも可変誘導性素子であるかのように機能させたとき、Cp1とCp2を変化させることで得られるサセプタンスの可変幅を計算し、その可変幅をインダクタのみで達成しようとした場合にどの程度のインダクタンス幅に相当するかを確認する。
例として、入力信号の周波数が1GHz、Lp1oが2nHの場合において要求されるCp1およびCp2を算出する。式(8a)よりCp1minは約12.7pFとなる。説明を簡単にするため、Cp1minを12pFとし、Δp1=9pFとすると、12≦Cp1≦21pFとなる。このとき、Cp1maxは21pFであることから式 (8b)よりCp2maxは31.9pFとなる。説明を簡単にするため、Cp2maxを32pFとし、Δp2=9pFとすると、23≦Cp2≦32pFとなる。図3に、図1のCp1とCp2を、それぞれCp1´+Cp1oとCp2´+Cp2oに分離した図2の構成において、Cp1o=12pF、Cp2o=23pFとし、可変容量値Cp1´、Cp2´をそれぞれΔp1、Δp2の範囲(0〜9pF)で変化させた時のサセプタンスの絶対値をプロットしたもの示す(可変容量値−サセプタンス絶対値特性)。●印は、Cp2をCp2min(=23pF)に固定して、Cp1´を変化させることにより得られたプロットである。■印は、Cp1をCp1max(=21pF)に固定して、Cp2´を変化させることにより得られたプロットである。なお、プロットの無い線は、図14(a)の可変誘導性素子Lp1に相当するインダクタンス値を0〜10nHの範囲で変化させた場合のサセプタンスの絶対値を表したものである。図3から、入力信号の周波数=1GHz、Lp1o=2nH、Cp1=12〜21pF、Cp2=23〜32pFとしたとき、Cp1の値とCp2の値を変化させることで、インダクタンス値Lp1を10nH以上変化させた場合と同等のサセプタンス値を可変できることがわかる。
なお、実施例1では、図14(a)の構成を可変誘導性素子を用いない構成に変形する方法を説明したが、図14(b)の構成についても、実施例1と同様な方法により可変誘導性素子を用いない構成に変形可能である。
以上のように、本発明のインピーダンス可変整合回路100によれば、可変誘導性素子を用いることなく、あたかも可変誘導性素子を用いているかのようにインピーダンスを調整することができるため、少ない素子数で広範囲の負荷変動に対応可能となる。
<変形例>
本発明のインピーダンス可変整合回路100において、固定誘導性素子Lp1o、及び固定容量素子Cp1o、Cp2oについて、使用周波数帯ごとに最適化した素子をスイッチにより切替可能とすることで、複数の周波数帯で使用可能なインピーダンス可変整合回路を構成することができる。図4、図5は、それぞれ図1、図2の構成に基づき、2つの周波数帯で使用可能なインピーダンス可変整合回路150を構成した例である。図4は、使用周波数帯に応じ、固定誘導性素子Lp1o_1と固定誘導性素子Lp1o_2とを2つのSPDTスイッチで切替可能としたものである。図5は、使用周波数帯に応じ、固定誘導性素子Lp1o_1と固定誘導性素子Lp1o_2、固定容量素子Cp1o_1と固定容量素子Cp1o_2、及び固定容量素子Cp2o_1と固定容量素子Cp2o_2を、それぞれ2つのSPDTスイッチで切替可能としたものである。
図4の構成において、Lp1o_1を2nH、Lp1o_2を0.5nHとし、各可変容量素子の容量値を図3の場合と同様に変化させた時の可変容量値−サセプタンス絶対値特性を確認する。まず、スイッチをLp1o_1側に切り替えたときは、図1と回路の構成が同じになる。そのため、周波数1GHzの信号を入力した場合の可変容量値−サセプタンス絶対値特性は、図3のようになる。これに対し、周波数2GHzの信号を入力した場合の可変容量値−サセプタンス絶対値特性は、図6のようになる。図6から、入力信号の周波数が1GHzの場合と比べ、取り得るサセプタンスの絶対値の範囲が狭くなっていることがわかる。一方、図7は、スイッチをLp1o_2側に切り替えて、周波数2GHzの信号を入力した場合の可変容量値−サセプタンス絶対値特性である。図7から、入力信号の周波数が2GHzの場合に最適化されたLp1o_2を用いることで、2GHzにおいても1GHzと同等のサセプタンスの絶対値が得られていることがわかる。
図8に本発明のインピーダンス可変整合回路200の構成例を示す。インピーダンス可変整合回路200は、実施例1と同様、図14(a)の可変整合回路における可変誘導性素子Lp1の役割を、1個の固定誘導性素子と2個の可変容量素子とにより代替する、別の構成である。
インピーダンス可変整合回路200は、第1直列可変容量素子Cs1と第2直列可変容量素子Cs2との直列接続と、一端が第1直列可変容量素子Cs1と第2直列可変容量素子Cs2との接続点に接続された並列固定誘導性素子Lp1oと第1並列可変容量素子Cp1との並列接続と、一端が前記並列接続の他端に接続され、他端が接地された、第2並列可変容量素子Cp2と、を備える。
並列固定誘導性素子Lp1oは、インダクタンスLp1oの固定インダクタである。第1、第2並列可変容量素子Cp1、Cp2は、それぞれ容量Cp1、Cp2の可変容量素子である。各可変容量素子は、半導体によって実現しても、MEMS技術の応用によって実現してもよく、製法、構成法に制限はない。
並列固定誘導性素子Lp1oと第1並列可変容量素子Cp1との並列接続のインピーダンスZp1は、次式で与えられる。
Figure 0005498314
また、第2並列可変容量素子Cp2のインピーダンスZp2は、次式で与えられる。
Figure 0005498314
よって、Zp1とZp2による合成インピーダンスZpは、次式のようになる。
Figure 0005498314
そのため、次式の関係が成り立つ場合に、Zpは誘導性インピーダンスとなる。
Figure 0005498314
このとき、式(13)および式(14)より次式が得られる。
Figure 0005498314
更に、式 (15a)及び(15b)より次式が得られる。
Figure 0005498314
ここで、式(16b)の右辺をCp1で微分すると、次式が得られる。
Figure 0005498314
従って、式(16b)の右辺はCp1に対して単調減少となるため、Cp2の最小値Cp2minはCp1をCp1の最小値Cp1mixとした場合に最大となる。このことから、Cp1およびCp2に要求される範囲は、次式のようになる。
Figure 0005498314
以上より、Cp1が式(18a)の範囲にあり、かつ、Cp2が式(18b)の範囲にある時、Zpが誘導性インピーダンスとなる。そのため、1個の並列固定誘導性素子Lp1oと2個の並列可変容量素子Cp1、Cp2との組を、あたかも可変誘導性素子であるかのように機能させることができ、よって、図14(a)の可変整合回路における可変誘導性素子Lp1の役割を代替することができる。なお、通常の可変容量素子には、素子固有の可変幅があるため、その可変幅をΔp1、Δp2とすると、Cp1、Cp2には次式の可変範囲を持つ可変容量素子を用いればよいことになる。
Figure 0005498314
ところで、可変容量素子は容量の絶対値が小さいほど小型となる。そこで、容量の絶対値を小さくするため、図9に示すように、第1並列可変容量素子Cp1を第1並列固定容量素子Cp1o(0<Cp1o≦Cp1max−Δp1)とこれに並列に設けられた可変容量素子Cp1´とにより構成し、同様に、第2並列可変容量素子Cp2を第2並列固定容量素子Cp2o(0<Cp2o≦Cp2min)とこれに並列に設けられた可変容量素子Cp2´とにより構成することが考えられる。このように構成することで、使用する可変容量素子Cp1´、Cp2´の絶対値を、次式に示すように、式(19a),(19b)に示したCp1、Cp2の絶対値よりそれぞれCp1o、Cp2o小さくすることができる。そのため、より小型の可変容量素子を使用することができる。
Figure 0005498314
続いて、図8の構成により1個の並列固定誘導性素子Lp1oと2個の並列可変容量素子Cpiとの組をあたかも可変誘導性素子であるかのように機能させたとき、Cp1とCp2を変化させることで得られるサセプタンス可変幅を計算し、その可変幅をインダクタのみで達成しようとした場合にどの程度のインダクタンスの可変幅に相当するかを確認する。
例として、入力信号の周波数が1GHz、Lp1oが2nHの場合において要求されるCp1およびCp2を算出する。式(18a)よりCp1maxは約12.7pFとなる。説明を簡単にするため、Cp1maxを13pFとし、Δp1=9pFとすると、4≦Cp1≦13pFとなる。このとき、Cp1minは4pFであるから 式(18b)よりCp2minは8.7pF以上となる。説明を簡単にするため、Cp2minを8pFとし、Δp2=9pFとすると、8≦Cp2≦17pFとなる。図10に、図8のCp1とCp2を、それぞれCp1´+Cp1oとCp2´+Cp2oに分離した図9の構成において、Cp1o=4pF、Cp2o=8pFとし、可変容量値Cp1´、Cp2´をそれぞれΔp1、Δp2の範囲(0〜9pF)で変化させた時のサセプタンスの絶対値をプロットしたもの示す(可変容量値−サセプタンス絶対値特性)。●印は、Cp2をCp2max(=17pF)に固定して、Cp1´を変化させることにより得られたプロットである。■印は、Cp1をCp1min(=4pF)に固定して、Cp2´を変化させることにより得られたプロットである。なお、プロットの無い線は、図14(a)の可変誘導性素子Lp1に相当するインダクタンス値を0〜10nHの範囲で変化させた場合のサセプタンスの絶対値を表したものである。図10から、入力信号の周波数=1GHz、Lp1o=2nH、Cp1=4〜13pF、Cp2=8〜17pFとしたとき、Cp1の値とCp2の値を変化させることで、インダクタンス値Lp1を10nH以上変化させた場合と同等のサセプタンス値を可変できることがわかる。
なお、実施例2においても、図14(a)の構成を可変誘導性素子を用いない構成に変形する方法を説明したが、図14(b)の構成についても、実施例2と同様な方法により可変誘導性素子を用いない構成に変形可能である。
以上のように、本発明のインピーダンス可変整合回路200によれば、可変誘導性素子を用いることなく、あたかも可変誘導性素子を用いているかのようにインピーダンスを調整することができるため、少ない素子数で広範囲の負荷変動に対応可能となる。なお、要求されるサセプタンス値がより限定的な場合には、Cp2を固定容量に置き換えてもよい。また、実施例2においても、実施例1の変形例として示した構成により、複数の周波数帯で使用可能なインピーダンス可変整合回路を構成することができる。
図11に本発明のインピーダンス可変整合回路300の構成例を示す。インピーダンス可変整合回路300は、図14(d)の可変整合回路における可変誘導性素子Ls1の役割を、1個の固定誘導性素子と2個の可変容量素子とにより代替する構成である。
インピーダンス可変整合回路300は、直列固定誘導性素子Ls1oと第1直列可変容量素子Cs1との並列接続と、第2直列可変容量素子Cs2との直列接続と、一端が前記直列接続の一端に接続され、他端が接地された第1並列可変容量素子Cp1と、一端が前記直列接続の他端に接続され、他端が接地された第2並列可変容量素子Cp2と、を備える。
直列固定誘導性素子Ls1oはインダクタンスLs1oの固定インダクタである。第1、第2直列可変容量素子Cs1、Cs2は、それぞれ容量Cs1、Cs2の可変容量素子である。ここで、各素子の条件は、実施例2で示した並列固定誘導性素子Lp1oを直列固定誘導性素子Ls1oに、第1並列可変容量素子Cp1を第1直列可変容量素子Cs1に、第2並列可変容量素子Cp2を第2直列可変容量素子Cs2にそれぞれ置き換えた場合に等しい。また、第i直列可変容量素子Csiを、第i直列固定容量素子Csioとより容量の小さい可変容量素子Csi´との並列接続により構成することで、小型の可変容量素子を使用することができる。この際、第i直列可変容量素子Csiに対応する第i直列固定容量素子Csioと可変容量素子Csi´の各容量は、実施例2で示したCpiに対応するCoio、Cpi´を求める方法においてCpi、Coio、Cpi´を、それぞれCsi、Csio、Csi´に置き換えることで求めることができる。
なお、各可変容量素子は、半導体によって実現しても、MEMS技術の応用によって実現してもよく、製法、構成法に制限はない。
続いて、図11の構成により1個の直列固定誘導性素子Ls1oと2個の並列可変容量素子Csiとの組をあたかも可変誘導性素子であるかのように機能させたとき、Cs1とCs2を変化させることで得られるリアクタンス可変幅を計算し、その可変幅をインダクタのみで達成しようとした場合にどの程度のインダクタンスの可変幅に相当するかを確認する。
例として、入力信号の周波数が1GHz、Ls1oが2nHの場合において要求されるCs1およびCs2を算出する。式(18a)よりCs1maxは約12.7pFとなる。ここで、説明を簡単にするため、Cs1maxを13pFとし、Δs1=9pFとすると、4≦Cs1≦13pFとなる。このとき、Cs1minは4pFであるから 式(18b)よりCs2は8.7pF以上となる。説明を簡単にするため、Cs2minを8pFとし、Δs2=9pFとすると、8≦Cs2≦17pFとなる。図13に、図11のCs1とCs2を、それぞれCs1´+Cs1oとCs2´+Cs2oに分離した図12の構成において、Cs1o=4pF、Cs2o=8pFとし、可変容量値Cs1´、Cs2´をそれぞれΔs1、Δs2の範囲(0〜9pF)で変化させた時のリアクタンス値をプロットしたもの示す(可変容量値−リアクタンス値特性)。●印は、Cs2をCs2max(=17pF)に固定して、Cs1´を変化させることにより得られたプロットである。■印は、Cs1をCs1min(=4pF)に固定して、Cs2´を変化させることにより得られたプロットである。なお、プロットの無い線は、図14(d)の可変誘導性素子Ls1に相当するインダクタンス値を0〜10nHの範囲で変化させた場合のリアクタンス値を表したものである。図13から、入力信号の周波数=1GHz、Ls1o=2nH、Cs1=4〜13pF、Cs2=8〜17pFとしたとき、Cs1の値とCs2の値を変化させることで、インダクタンス値Ls1を10nH以上変化させた場合と同等のリアクタンス値を可変できることがわかる。
なお、実施例3においては、図14(d)の構成を可変誘導性素子を用いない構成に変形する方法を説明したが、図14(c)の構成についても、実施例3と同様な方法により可変誘導性素子を用いない構成に変形可能である。
以上のように、本発明のインピーダンス可変整合回路300によれば、可変誘導性素子を用いることなく、あたかも可変誘導性素子を用いているかのようにインピーダンスを調整することができるため、少ない素子数で広範囲の負荷変動に対応可能となる。
以上で説明した本発明のインピーダンス可変整合回路100、150、200、300の各構成要素の機能分担は、各実施例に示す機能分担に限定されるものではなく、本発明を逸脱しない範囲で適宜変更が可能である。

Claims (3)

  1. 第1直列可変容量素子と第2直列可変容量素子との直列接続と、
    一端が第1直列可変容量素子と第2直列可変容量素子との接続点に接続され、他端が接地された、並列固定誘導性素子と第1並列可変容量素子との直列接続と、
    一端が第1直列可変容量素子と第2直列可変容量素子との接続点に接続され、他端が接地された、第2並列可変容量素子と、
    一端が第1並列可変容量素子の一端に接続され、他端が第1並列可変容量素子の他端に接続された第1並列固定容量素子と、
    一端が第2並列可変容量素子の一端に接続され、他端が第2並列可変容量素子の他端に接続された第2並列固定容量素子と、
    を備え、
    前記第1並列固定容量素子の容量値C p1o は、
    Figure 0005498314

    (ωは入力信号の角周波数、C p1min はC p1o と第1並列可変容量素子の容量値との和の最小値、L p1o は並列固定誘導性素子のインダクタンス)
    であり、
    前記第2並列固定容量素子の容量値C p2o は、
    Figure 0005498314

    (C p2max はC p2o と第2並列可変容量素子の容量値との和の最大値、Δ p2 は第2並列可変容量素子の取りうる可変幅)である
    ことを特徴とするインピーダンス可変整合回路。
  2. 第1直列可変容量素子と第2直列可変容量素子との直列接続と、
    一端が第1直列可変容量素子と第2直列可変容量素子との接続点に接続された、並列固定誘導性素子と第1並列可変容量素子との並列接続と、
    一端が前記並列接続の他端に接続され、他端が接地された、第2並列可変容量素子と、
    一端が第1並列可変容量素子の一端に接続され、他端が第1並列可変容量素子の他端に接続された第1並列固定容量素子と、
    一端が第2並列可変容量素子の一端に接続され、他端が第2並列可変容量素子の他端に接続された第2並列固定容量素子と、
    を備え、
    前記第1並列固定容量素子の容量値C p1o は、
    Figure 0005498314

    (ωは入力信号の角周波数、L p1o は並列固定誘導性素子のインダクタンス、C p1max はC p1o と第1並列可変容量素子の容量値との和の最大値、Δ p1 は第1並列可変容量素子の取
    りうる可変幅)であり、
    前記第2並列固定容量素子の容量値C p2o は、
    Figure 0005498314

    (C p1min はC p1o と第1並列可変容量素子の容量値との和の最小値、C p2min はC p2o と第2並列可変容量素子の容量値との和の最小値)である
    ことを特徴とするインピーダンス可変整合回路。
  3. 直列固定誘導性素子と第1直列可変容量素子との並列接続と、第2直列可変容量素子との直列接続と、
    一端が前記直列接続の一端に接続され、他端が接地された第1並列可変容量素子と、
    一端が前記直列接続の他端に接続され、他端が接地された第2並列可変容量素子と、
    一端が第1直列可変容量素子の一端に接続され、他端が第1直列可変容量素子の他端に接続された第1直列固定容量素子と、
    一端が第2直列可変容量素子の一端に接続され、他端が第2直列可変容量素子の他端に接続された第2直列固定容量素子と、
    を備え、
    前記第1直列固定容量素子の容量値C s1o は、
    Figure 0005498314

    (ωは入力信号の角周波数、L s1o は直列固定誘導性素子のインダクタンス、C s1max はC s1o と第1直列可変容量素子の容量値との和の最大値、Δ s1 は第1直列可変容量素子の取りうる可変幅)であり、
    前記第2直列固定容量素子の容量値C s2o は、
    Figure 0005498314

    (C s1min はC s1o と第1直列可変容量素子の容量値との和の最小値、C s2min はC s2o と第2直列可変容量素子の容量値との和の最小値)である
    ことを特徴とするインピーダンス可変整合回路。
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