JP5469057B2 - X線診断装置 - Google Patents
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- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 258
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 claims description 78
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims description 50
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 38
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 7
- 238000003702 image correction Methods 0.000 description 6
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
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Description
そこで、本発明は、X線平面検出器の異常状態を検出することができるX線診断装置を提供することを目的とする。
また、前記欠陥画素を中心として設置された2次元探索領域内に含まれる前記欠陥画素の塊数をカウントする塊数カウント手段を備え、前記異常判断手段は前記塊数に基づいて前記X線平面検出器が異常か否かを判断するものであってもよい。また、前記欠陥画素の位置情報に基づいて、隣接する前記欠陥画素の繋がり数をカウントする繋がり数カウント手段を備え、前記異常判断手段は前記繋がり数に基づいて前記X線平面検出器が異常か否かを判断するものであってもよい。
以下、図を用いて第1の実施形態を説明する。図1にX線診断装置の全体構成を示す。実施形態におけるX線診断装置は、被検体12にX線を照射するX線発生器10と、X線発生器10に対向配置され被検体12の透過X線を検出するX線平面検出器14と、X線平面検出器14から得られるX線情報から欠陥素子の塊度合いを把握する信号処理部20と、X線平面検出器14の状態を表示する表示手段34とからなる。
図1〜6を用いて第2の実施形態を説明する。第1の実施形態と異なる点は、欠陥素子に対応する欠陥画素の繋がり状態からX線平面検出器14が異常かどうかを判断する点である。本実施形態における選択手段304は、繋がり数カウント手段302を選択している。
図1〜6を用いて第3の実施形態を説明する。第1の実施形態と第2の実施形態と異なる点は、欠陥素子に対応する欠陥画素の塊数と繋がり数からX線平面検出器14が異常かどうかを判断する点である。本実施形態における選択手段304は、塊数カウント手段301と繋がり数カウント手段302を選択している。
具体的には、異常判断手段32は、図2(B)に表示されている塊数と図6に表示されている繋がり数をそれぞれの欠陥画素において足し合わせる。例えば、欠陥画素(1,1)の場合、塊数“1”であり、繋がり数“0”であるため、“N+R”が1である。欠陥画素(8,2)の場合、塊数“8”であり、繋がり数“9”であるため、“N+R”が17である。欠陥画素(9,9)の場合、塊数“3”であり、繋がり数“2”であるため、“N+R”が5である。このように、異常判断手段32は、塊数カウント手段301と繋がり数カウント手段302に基づいて、X線画像データ50の全ての欠陥画素について上記カウントを行なう。X線画像データ50の中で最も“N+R”が大きい数は“21”であり、閾値以上(“15”以上)であるため、異常判断手段32は、“異常”として判断する。
次に、第1の実施形態〜第3の実施形態の動作について図7を用いて説明する。
欠陥画素検出手段26は、画像収集手段22と画像処理手段24を介して得られたX線画像データの欠陥画素の画素値と全画素の平均画素値との差に基づいて、画素値が低い欠陥画素を検出する(S101)。
次に図1〜図8を用いて第4の実施形態を説明する。第1の実施形態〜第3の実施形態と異なる点は、欠陥素子として検出された欠陥画素群の所定方向に欠陥画素が存在する場合、重みを付加する点である。本実施形態における選択手段304は、塊数カウント手段301と重み設定手段303、又は繋がり数カウント手段と重み設定手段303を選択している。
次に図1〜図8を用いて第5の実施形態を説明する。第1の実施形態〜第4の実施形態と異なる点は、欠陥素子として検出された欠陥画素群の形状に基づいて重みを付加する点である。
次に、第4の実施形態、第5の実施形態の動作について図6を用いて説明する。
欠陥画素検出手段26は、画像収集手段22と画像処理手段24を介して得られたX線画像データの欠陥画素の画素値と全画素の平均画素値との差に基づいて、画素値が低い欠陥画素を検出する(S201)。
次に図2〜図10を用いて第6の実施形態を説明する。第1の実施形態〜第5の実施形態と異なる点は、異常判断手段32で“正常”として判断された場合、X線画像データの欠陥画素を補正する点である。
次に図2〜図10を用いて第7の実施形態を説明する。第1の実施形態〜第6の実施形態と異なる点は、ネットワークを介して、欠陥画素情報をメンテナンスサーバ36に連絡し、第2の異常判断手段40で判断を行なう点である。
メンテナンスサーバ36は、欠陥画素情報を取得した時間情報が欠陥画素情報とともに記憶している。例えば、時間T1のとき、塊数が“3”であったとし、時間T1から所定時間経過した時間T2のとき、塊数が“5”であったとする。第2の異常判断手段40は、単位時間当たりの塊数の増加率(5-3/(T2-T1))から、後どのくらい時間((T2-T1)×3)で塊数が閾値以上(“9”以上)となるかを計算する。第2の表示手段42は、その残り時間を表示する。よって、X線平面検出器14が“異常”となる前にメンテナンス会社に知らせることができ、メンテナンス会社は、適宜、X線平面検出器14の取替えや修理を行なうことができる。
なお、本実施形態では、第1の実施形態で説明した塊数に特化したが、他の実施形態に開示した繋がり数などを用いても同様に本実施形態を行なうことができる。
Claims (5)
- X線管を有したX線発生器と、X線発生器と対向配置されたX線平面検出器と、前記X線平面検出器から読み出されたX線画像データに基づいて画像処理を行う画像処理手段と、該画像処理したX線画像又は透視画像を表示する表示手段と、を備えたX線診断装置において、
前記X線画像データの画素情報から前記X線平面検出器の欠陥素子に対応する欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、前記検出された欠陥画素を中心として設定された2次元探索領域内に含まれる前記欠陥画素の塊数をカウントする塊数カウント手段と、前記検出された欠陥画素で構成される欠陥画素群の所定方向に前記欠陥画素が存在する場合、前記塊数に重みを付加する重み設定手段と、前記重みを付加された塊数に基づいて前記X線平面検出器が異常か否かを判断する異常判断手段と、を備えることを特徴とするX線診断装置。 - X線管を有したX線発生器と、X線発生器と対向配置されたX線平面検出器と、前記X線平面検出器から読み出されたX線画像データに基づいて画像処理を行う画像処理手段と、該画像処理したX線画像又は透視画像を表示する表示手段と、を備えたX線診断装置において、
前記X線画像データの画素情報から前記X線平面検出器の欠陥素子に対応する欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、前記検出された欠陥画素の位置情報に基づいて隣接する前記欠陥画素の繋がり数をカウントする繋がり数カウント手段と、前記検出された欠陥画素で構成される欠陥画素群の所定方向に前記欠陥画素が存在する場合、前記繋がり数に重みを付加する重み設定手段と、前記重みを付加された繋がり数に基づいて前記X線平面検出器が異常か否かを判断する異常判断手段と、を備えることを特徴とするX線診断装置。 - X線管を有したX線発生器と、X線発生器と対向配置されたX線平面検出器と、前記X線平面検出器から読み出されたX線画像データに基づいて画像処理を行う画像処理手段と、該画像処理したX線画像又は透視画像を表示する表示手段と、を備えたX線診断装置において、
前記X線画像データの画素情報から前記X線平面検出器の欠陥素子に対応する欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、前記検出された欠陥画素を中心として設定された2次元探索領域内に含まれる前記欠陥画素の塊数をカウントする塊数カウント手段と、前記検出された欠陥画素で構成される欠陥画素群の形状に基づいて前記塊数に重みを付加する重み設定手段と、前記重みを付加された塊数に基づいて前記X線平面検出器が異常か否かを判断する異常判断手段と、を備えることを特徴とするX線診断装置。 - X線管を有したX線発生器と、X線発生器と対向配置されたX線平面検出器と、前記X線平面検出器から読み出されたX線画像データに基づいて画像処理を行う画像処理手段と、該画像処理したX線画像又は透視画像を表示する表示手段と、を備えたX線診断装置において、
前記X線画像データの画素情報から前記X線平面検出器の欠陥素子に対応する欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、前記検出された欠陥画素の位置情報に基づいて隣接する前記欠陥画素の繋がり数をカウントする繋がり数カウント手段と、前記検出された欠陥画素で構成される欠陥画素群の形状に基づいて前記繋がり数に重みを付加する重み設定手段と、前記重みを付加された繋がり数に基づいて前記X線平面検出器が異常か否かを判断する異常判断手段と、を備えることを特徴とするX線診断装置。 - X線管を有したX線発生器と、X線発生器と対向配置されたX線平面検出器と、前記X線平面検出器から読み出されたX線画像データに基づいて画像処理を行う画像処理手段と、該画像処理したX線画像又は透視画像を表示する表示手段と、を備えたX線診断装置において、
前記X線画像データの画素情報から前記X線平面検出器の欠陥素子に対応する欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、検出された前記欠陥画素から前記X線平面検出器の欠陥素子の塊度合いを検出する塊度合い検出手段と、前記塊度合いに基づいて前記X線平面検出器が異常か否かを判断する第1の異常判断手段と、前記第1の異常判断手段と異なる閾値が設定され前記欠陥画素とその周囲の前記欠陥画素に基づいて前記X線平面検出器が異常か否かを判断する第2の異常判断手段と、を有し、前記第2の異常判断手段は、単位時間当たりの塊数の増加率に基づいて前記X線平面検出器が異常と判断される時間を計算することを特徴とするX線診断装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010502771A JP5469057B2 (ja) | 2008-03-13 | 2009-03-02 | X線診断装置 |
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008063867 | 2008-03-13 | ||
JP2008063867 | 2008-03-13 | ||
JP2010502771A JP5469057B2 (ja) | 2008-03-13 | 2009-03-02 | X線診断装置 |
PCT/JP2009/053829 WO2009113418A1 (ja) | 2008-03-13 | 2009-03-02 | X線診断装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2009113418A1 JPWO2009113418A1 (ja) | 2011-07-21 |
JP5469057B2 true JP5469057B2 (ja) | 2014-04-09 |
Family
ID=41065086
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010502771A Expired - Fee Related JP5469057B2 (ja) | 2008-03-13 | 2009-03-02 | X線診断装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5469057B2 (ja) |
CN (1) | CN101959461B (ja) |
WO (1) | WO2009113418A1 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010249621A (ja) * | 2009-04-15 | 2010-11-04 | Shimadzu Corp | 2次元画像検出装置 |
JP6116899B2 (ja) * | 2012-01-16 | 2017-04-19 | 東芝メディカルシステムズ株式会社 | 医用画像診断装置及び制御プログラム |
WO2014041836A1 (ja) * | 2012-09-12 | 2014-03-20 | 三菱電機株式会社 | 放射能分析装置 |
CN104780844B (zh) * | 2012-11-16 | 2019-09-20 | 东芝医疗系统株式会社 | X射线计算机断层摄影装置以及信息处理装置 |
CN109034262B (zh) * | 2018-08-13 | 2021-08-31 | 东北大学 | 一种x射线定向仪缺陷识别的批量处理方法 |
CN111728631A (zh) * | 2020-07-30 | 2020-10-02 | 上海联影医疗科技有限公司 | Pet系统探测数据修正方法、装置和计算机设备 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02306233A (ja) * | 1989-05-20 | 1990-12-19 | Fujitsu Ltd | デジタルx線装置 |
JP2008229102A (ja) * | 2007-03-22 | 2008-10-02 | Fujifilm Corp | 放射線画像撮影方法および放射線画像撮影装置 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005287661A (ja) * | 2004-03-31 | 2005-10-20 | Shimadzu Corp | 放射線撮像装置 |
-
2009
- 2009-03-02 JP JP2010502771A patent/JP5469057B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2009-03-02 WO PCT/JP2009/053829 patent/WO2009113418A1/ja active Application Filing
- 2009-03-02 CN CN200980106292.4A patent/CN101959461B/zh not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02306233A (ja) * | 1989-05-20 | 1990-12-19 | Fujitsu Ltd | デジタルx線装置 |
JP2008229102A (ja) * | 2007-03-22 | 2008-10-02 | Fujifilm Corp | 放射線画像撮影方法および放射線画像撮影装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN101959461A (zh) | 2011-01-26 |
JPWO2009113418A1 (ja) | 2011-07-21 |
CN101959461B (zh) | 2013-05-29 |
WO2009113418A1 (ja) | 2009-09-17 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120228 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20121023 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121119 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130507 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130520 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20131105 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20131114 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140114 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140130 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 5469057 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |