JP2008292166A - 放射性表面汚染検査装置および放射線表面汚染検査方法 - Google Patents

Abstract

【課題】被検査対象の放射性汚染を、小面積の検出器により局所的な汚染を測定した場合と同程度の検出限界性能を持ちつつ、大面積を一度に検査できるようにする。
【解決手段】放射性表面汚染検査装置に、平面状の検出領域に入射した放射線を検出する放射線検出器２１と、検出領域をメッシュ状に分割した区画のうちのいずれの区画に放射線が入射したかを特定する入射位置演算器２２と、放射線の量を入射した区画ごとに積算した区画放射線積算量を記憶するカウント保持器２３と、連続する区画を組み合わせて設けられた設定領域のそれぞれに対してこの設定領域に属する区画に対応する区画放射線積算量を足し合わせて設定領域放射線積算量を求める設定領域積算器２４とを備える。
【選択図】図１

Description

本発明は、表面に付着した放射性物質などによる被検査対象の放射性汚染を検査する放射線汚染検査装置および放射性表面汚染検査方法に関する。

放射線検出器は、放射線源による汚染の測定などを目的として表面汚染検査装置に用いられる。大型の被検査対象の汚染を効率的に測定するために、大面積の放射線検出器が用いられる場合がある。

たとえば特許文献１には、位置を検出することができる大面積の放射線検出器が開示されている。特許文献２には、大面積の汚染検査装置を複数の検出器を用いて実現した例が開示されている。
特開２００１−２２８２５５号公報 特開２００１−２４９１７９号公報

放射線検出器は、その面積が大きくなるにつれてバックグラウンドが大きくなるため、検出限界が悪化する。大きな被検査体を一度に測定するには大面積が必要である反面、検出限界は小さいことが要求される。この相反する性能を両立させる技術の確立が求められている。

そこで、本発明は、被検査対象の放射性汚染を、小面積の検出器により局所的な汚染を測定した場合と同程度の検出限界性能を持ちつつ、大面積を一度に検査できるようにすることを目的とする。

上述の課題を解決するため、本発明は、放射性表面汚染検査装置において、平面状の検出領域に入射した放射線を検出する放射線検出器と、前記検出領域をメッシュ状に分割した区画のうちのいずれの区画に前記放射線が入射したかを特定する入射位置演算器と、前記放射線の量を入射した前記区画ごとに積算した区画放射線積算量を記憶するカウント保持器と、連続する前記区画を組み合わせて設けられた設定領域のそれぞれに対してこの設定領域に属する前記区画に対応する前記区画放射線積算量を足し合わせて設定領域放射線積算量を求める設定領域積算器と、を有することを特徴とする。

また、本発明は、放射性表面汚染検査方法において、平面状の検出領域に入射した放射線を検出する工程と、前記検出領域をメッシュ状に分割した区画のうちのいずれの区画に前記放射線が入射したかを特定する工程と、前記放射線の量を入射した前記区画ごとに積算した区画放射線積算量を記憶する工程と、連続する前記区画を組み合わせて設けられた設定領域のそれぞれに対してこの設定領域に属する前記区画に対応する前記区画放射線積算量を足し合わせて設定領域放射線積算量を求める工程と、を有することを特徴とする。

本発明によれば、被検査対象の放射性汚染を、小面積の検出器により局所的な汚染を測定した場合と同程度の検出限界性能を持ちつつ、大面積を一度に検査できる。

本発明に係る放射性表面汚染検査装置の実施の形態を、図面を参照して説明する。なお、同一または類似の構成には同一の符号を付し、重複する説明は省略する。

［第１の実施の形態］
図１は、本発明に係る放射性表面汚染検査装置の第１の実施の形態におけるブロック図である。

本実施の形態の放射性表面汚染検査装置は、放射線検出器２１、入射位置演算器２２、カウント保持器２３および設定領域積算器２４を備えている。入射位置演算器２２は、放射線検出器２１に接続されている。カウント保持器２３は、入射位置演算器２２に接続されている。設定領域積算器２４は、カウント保持器２３に接続されている。

また、この放射性表面汚染検査装置は、設定領域汚染量記憶器２５、警報判定器２６、警報位置記憶器２７および表示伝送器２８を備えていてもよい。設定領域汚染量記憶器２５および警報判定器２６は、設定領域積算器２４に接続されている。警報位置記憶器２７は、警報判定器２６に接続されている。表示伝送器２８は、設定領域汚染量記憶器２５および警報位置記憶器２７に接続されている。

図２は、本実施の形態における放射線検出器の図３におけるII−II矢視断面図である。図３は、図２におけるIII−III矢視断面図である。

放射線検出器２１は、平面状の検出領域に入射した放射線を検出する。放射線検出器２１は、たとえば正方形の検出領域を覆うシンチレータ１９と、シンチレータ１９の背面に設けられた複数の光電子増倍管１５，１６，１７とを備えている。本実施の形態では、３台の光電子増倍管１５，１６，１７を設けている。これらの光電子増倍管１５，１６，１７は、一直線上に並ばないように配置されている。また、光電子増倍管１５，１６，１７は、たとえば一つの面が開放された直方体形状のケース２９にその半分程度が収められていて、このケース２９の開放された面が検出領域であり、シンチレータ１９はこの面に取り付けられている。シンチレータ１９は、たとえばプラスティックシンチレータである。

ケース２９の上面のシンチレータ１９では、放射線との相互作用により発光が生じる。発生した光子は距離の近い光電子増倍管１５，１６，１７により多く入射する。光電子増倍管１５，１６，１７の出力波高は、入射した光子の数に応じて高くなるので、放射線の相互作用の起きた位置から近い光電子増倍管１５，１６，１７の出力波高値は高くなり、遠い光電子増倍管１５，１６，１７の出力波高値は小さくなる。また、一つ一つの放射線相互作用によるそれぞれの光電子増倍管１５，１６，１７の出力は、ほぼ同時になされる。このため、同時性をもつそれぞれの光電子増倍管１５，１６，１７の出力波高値を組み合わせて用いることで、位置の検出が可能となる。それぞれの光電子増倍管１５，１６，１７の出力波高値は、ある一定量の光子数の入射に対して一定の応答を示すように調整されている。

図４は、本実施の形態における検出領域の分割方法を示す平面図である。

通常の汚染の検査においては、ある一定の面積における放射性物質の量を判定基準としている。たとえば、β線放出核種に対して定められる４Ｂｑ／ｃｍ^２の表面汚染密度の１／１０に相当する０．４Ｂｑ／ｃｍ^２を超える汚染があるか否かを判断するために、１０ｃｍ×１０ｃｍ以内に４０Ｂｑ以上の汚染がないことを判定基準とする。

本実施の形態では、検出領域４０の大きさを縦２５ｃｍ×横２５ｃｍとし、被検査対象を放射線検出器２１に密着させて測定する場合について説明する。

検出領域４０は、適切な幅、たとえば要求される位置分解能程度の幅でメッシュ状に分割されている。たとえばメッシュ幅が５ｃｍのメッシュ状に分割されている。つまり、検出領域４０は、縦５ｃｍ×横５ｃｍの正方形の２５個の区画４１に分割されている。図４には、区画４１の位置を示すために、列の位置を示す記号Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ、および、行の位置を示す記号１，２，３，４，５をあわせて示している。区画４１の位置は、これらの符号を用いて、Ａ１、Ａ２、…、Ｅ５と表すこととする。

また、設定領域１２は、連続する区画４１を組み合わせて設ける。本実施の形態では、区画４１を３行３列に並べた縦１５ｃｍ×横１５ｃｍの正方形の領域を設定領域１２とする。この設定領域１２は区画４１の全ての組み合わせに対して設けられている。つまり、本実施の形態では、９つの設定領域１２が設けられていて、それぞれの設定領域１２を構成する区画４１は以下の通りである。

第１の設定領域： Ａ１，Ａ２，Ａ３，Ｂ１，Ｂ２，Ｂ３，Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３
第２の設定領域： Ａ２，Ａ３，Ａ４，Ｂ２，Ｂ３，Ｂ４，Ｃ２，Ｃ３，Ｃ４
第３の設定領域： Ａ３，Ａ４，Ａ５，Ｂ３，Ｂ４，Ｂ５，Ｃ３，Ｃ４，Ｃ５
第４の設定領域： Ｂ１，Ｂ２，Ｂ３，Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３，Ｄ１，Ｄ２，Ｄ３
第５の設定領域： Ｂ２，Ｂ３，Ｂ４，Ｃ２，Ｃ３，Ｃ４，Ｄ２，Ｄ３，Ｄ４
第６の設定領域： Ｂ３，Ｂ４，Ｂ５，Ｃ３，Ｃ４，Ｃ５，Ｄ３，Ｄ４，Ｄ５
第７の設定領域： Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３，Ｄ１，Ｄ２，Ｄ３，Ｅ１，Ｅ２，Ｅ３
第８の設定領域： Ｃ２，Ｃ３，Ｃ４，Ｄ２，Ｄ３，Ｄ４，Ｅ２，Ｅ３，Ｅ４
第９の設定領域： Ｃ３，Ｃ４，Ｃ５，Ｄ３，Ｄ４，Ｄ５，Ｅ３，Ｅ４，Ｅ５
また、図４には、放射線の入射位置の例を模式的に示している。被検査対象から放出された放射線が入射した位置、すなわち、その放射線がシンチレータ１９と相互作用を起こした位置を白抜きの丸１３で示した。バックグラウンドの放射線が入射した位置、すなわち、その放射線がシンチレータ１９と相互作用を起こした位置を白抜きの三角１４で示した。バンクグラウンドの放射線は、検出領域４０の全体に亘って均一に入射するが、被検査対象から放出される放射線は、被検査対象の汚染範囲に対向する領域１１に多く入射する。

次に、この放射性表面汚染検査装置の動作を説明する。以下の説明において、図３および図４における横方向をＸ方向と呼び、縦方向をＹ方向と呼ぶこととする。

光電子増倍管１５，１６，１７のうち、Ｙ方向に並んだ２つの光電子増倍管１５，１６を第１の光電子増倍管１５および第２の光電子増倍管１６と呼ぶこととする。また、第１および第２の光電子増倍管１５，１６とＸ方向の位置が異なる光電子増倍管を第３の光電子増倍管１７と呼ぶこととする。

第１の光電子増倍管１５の出力波高値をＰ_１、第２の光電子増倍管１６からの出力波高値をＰ_２、第３の光電子増倍管１７からの出力波高値をＰ_３とすると、放射線の入射位置座標（Ｘ，Ｙ）は、以下の式により求めることができる。

Ｘ＝Ｐ_３／（Ｐ_１＋Ｐ_２＋Ｐ_３）×Ｌ_Ｘ …（１）
Ｙ＝Ｐ_１／（Ｐ_１＋Ｐ_２）×Ｌ_Ｙ …（２）
ここで、Ｌ_Ｘは検出領域４０のＸ方向の長さ、Ｌ_Ｙは検出領域４０のＹ方向の長さである。

入射位置演算器２２は、たとえば式（１）および式（２）により放射線の入射位置を求めて、いずれの区画４１に放射線が入射したかを特定する。

なお、理想的には式（１）および式（２）により位置を求める事ができるが、誤差が生じる場合がある。この誤差の原因としては、たとえば集光のばらつきや電気信号への変換の際のゲインのばらつきがある。また、光電子増倍管１５，１６，１７は検出領域４０の末端に位置することが理想的であるが、実際には多少内部側に位置しているため、誤差の原因となる場合がある。そこで、検出領域４０上の何点かに放射線源を置いた場合の入射位置を演算してみて、各演算出力値に対する位置補正量の関係を求めて補正を行ってもよい。

また、入射位置演算器２２は、ニューラルネットワークを用いたものであってもよい。この場合、放射線源を検出領域４０上の異なる位置においたときの光電子増倍管１５，１６，１７の出力の組み合わせを何点か用意し、その組み合わせを学習パターンとしてニューラルネットワークに学習させる。これにより、光電子増倍管１５，１６，１７の出力を学習済みのニューラルネットワークに入力することにより、放射線の入射位置をニューラルネットワークから出力させることができる。出力が連続的に出力されるニューラルネットワークでは、学習パターンに含まれた以外の位置での結果に対しても適切な補間が行われた出力がなされる。他のパターン識別アルゴリズムを用いて、入射位置を求めてもよい。

カウント保持器２３は、放射線の量を入射した区画４１ごとに積算した区画放射線積算量を記憶する。たとえば、カウント保持器２３は、２５個のそれぞれの区画４１に対応する区画カウンタ３１を備えていて、区画カウンタ３１のそれぞれが、対応する区画４１に入射した放射線の量を積算して区画放射線積算量を求め、この値を記憶する。

設定領域積算器２４は、９個の設定領域１２のそれぞれに対して、設定領域１２に属する区画４１に対応する区画放射線積算量を足し合わせて設定領域放射線積算量を求める。この設定領域放射線積算量は、設定領域汚染量記憶器２５に記憶される。

警報判定器２６は、設定領域放射線積算量が所定の警報設定値よりも大きい場合に警報を発生させる。警報位置記憶器２７は、設定領域放射線積算量が警報設定値よりも大きい設定領域１２を記憶する。

区画放射線積算量、設定領域放射線積算量および警報設定値としては、たとえば単位面積当たりの放射線の計数率を用いることができる。また、本実施の形態では、全ての区画４１は同じ面積であり、全ての設定領域１２は同じ面積であるため、それぞれ、放射線の計数率そのものの値を面積で除することなく用いることもできる。さらに、計数率ではなく、所定の期間における放射線の係数そのものを用いてもよい。区画放射線積算量および設定領域放射線積算量の積算、並びに、設定領域放射線積算量と警報設定値との比較は、たとえば周期的に行う。

表示伝送器２８は、設定領域放射線積算量を表示するとともに、その放射線設定領域積算量を示す信号を外部の機器に出力する。また、表示伝送器２８は、警報判定器２６から警報が発生した信号を受け取ってその旨を表示し、警報位置記憶器２７から設定領域放射線積算量が警報設定値よりも大きい設定領域１２を示す信号を受け取って、その位置を表示してもよい。

たとえば図４において、破線で示す領域１１と対向する位置に被検査対象の汚染範囲が存在した場合、第１の設定領域１２（Ａ１，Ａ２，Ａ３，Ｂ１、Ｂ２，Ｂ３，Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３）における設定領域放射線積算量を求めることにより、１５ｃｍ×１５ｃｍの範囲内の十分な汚染検査を行うことができる。

また、メッシュ状に分割した場合、複数の区画４１に亘る汚染は、放射線の計数が複数の区画４１に分かれることで検出効率が下がることになる。しかし、本実施の形態では、上述のように区画４１を組み合わせた９通りの設定領域１２に対して汚染を監視している。このため、被検査対象の１０ｃｍ×１０ｃｍ以下のいかなる領域の汚染についても、最低限１つの設定領域１２が、その汚染領域の全域を覆うことになり、その汚染領域からの計数をひとつの設定領域１２で計数することとなる。よって、十分な検出効率を確保する事ができる。

バックグラウンドの放射線は検出領域４０の全体に満遍なく分布するのに対して、汚染による計数は汚染している場所周辺に集中する。このため、汚染範囲周辺のみの計数に限定して評価することで、汚染の計数はそのままでバックグラウンドの放射線による影響を低減することができる。たとえば、２５ｃｍ×２５ｃｍの領域に対して、１５ｓ^−１のバックグラウンドによるカウントがあるとした場合、１５ｃｍ×１５ｃｍの領域に限定すれば、そのときのバックグラウンドによるカウント（Ｃ_ＢＧ）は、
Ｃ_ＢＧ＝１５（ｓ^−１）／（２５ｃｍ×２５ｃｍ）×（１５ｃｍ×１５ｃｍ）
＝５．４（ｓ^−１）
となり、検出領域４０の全体におけるバックグラウンドの放射線の影響の３６％となる。

検出限界Ａ（Ｂｑ／ｃｍ^２）は、たとえば（３）式で評価することができる。

ここで、Ｋは検出効率の逆数にほぼ比例する校正定数（Ｂｑ／ｃｍ^２／ｓ^−１）、Ｔｓは測定時間（ｓ）、Ｔｂはバックグラウンドの放射線の計数率（ｓ^−１）、Ｔｂはバックグラウンド測定時間（ｓ）である。

（３）式からわかるとおり、検出限界は検出効率に逆比例し、バックグラウンドの放射線の計数率の１／２乗に影響される。検出効率は、汚染領域を測定する場合には減少することはなく、バックグラウンドの放射線の計数率は上述の例の場合には３６％にまで減少するので、検出限界が改善されることがわかる。

このように、本実施の形態では、被検査対象の放射性汚染を、小面積の検出器により局所的な汚染を測定した場合と同程度の検出限界性能を持ちつつ、大面積を一度に検査できる。なお、ここでは被検査対象を放射線検出器２１に密着させて測定する場合について説明しているが、両者が離れている場合であっても、立体角に応じて放射線の入射位置の分布は広がるものの、汚染領域を中心に分布するため、同様の方法で領域ごとの放射性汚染を検査できる。

また、本実施の形態では、放射線検出器２１として複数の光電子増倍管１５，１６，１７とシンチレータ１９を用いたが、たとえばピクセル型の半導体検出器、微細な電極を有するガス検出器などを用いてもよい。

［第２の実施の形態］
図５は、本発明に係る放射性表面汚染検査装置の第２の実施の形態における放射線検出器の図６におけるV−V矢視断面図である。図６は、図５におけるVI−VI矢視断面図である。

本実施の形態では、４台の光電子増倍管１５，１６，１７，１８を用いている。これらの光電子増倍管１５，１６，１７，１８は、ケース２９の四隅にそれぞれ配置されている。図６における横方向をＸ方向と呼び、縦方向をＹ方向と呼ぶこととする。また、４台の光電子増倍管１５，１６，１７，１８のそれぞれを、図６において、左上に位置するものを第１の光電子増倍管１５、左下に位置するものを第２の光電子増倍管１６、右上に位置するものを第３の光電子増倍管１７、右下に位置するものを第４の光電子増倍管１８と呼ぶこととする。

第１の光電子増倍管１５の出力波高値をＰ_１、第２の光電子増倍管１６からの出力波高値をＰ_２、第３の光電子増倍管１７からの出力波高値をＰ_３、第４の光電子増倍管１８からの出力波高値をＰ_４とすると、放射線の入射位置座標（Ｘ，Ｙ）は、以下の式により求めることができる。

Ｘ＝（Ｐ_３＋Ｐ_４）／（Ｐ_１＋Ｐ_２＋Ｐ_３＋Ｐ_４）×Ｌ_Ｘ …（４）
Ｙ＝（Ｐ_１＋Ｐ_３）／（Ｐ_１＋Ｐ_２＋Ｐ_３＋Ｐ_４）×Ｌ_Ｙ …（５）
ここで、Ｌ_Ｘは検出領域４０のＸ方向の長さ、Ｌ_Ｙは検出領域４０のＹ方向の長さである。

このようにして求めた放射線の入射位置を用いて、第１の実施の形態と同様に、放射性汚染を検査できる。このため、被検査対象の放射性汚染を、小面積の検出器により局所的な汚染を測定した場合と同程度の検出限界性能を持ちつつ、大面積を一度に検査できる。さらに、第１の実施の形態に比べて光電子増倍管の数を多くしているため、放射線の入射位置の特定精度および検出限界が改善される。

［第３の実施の形態］
図７は、本発明に係る放射性表面汚染検査装置の第３の実施の形態における放射線検出器の図８におけるVII−VII矢視断面図である。図８は、図７におけるVIII−VIII矢視断面図である。

本実施の形態では、検出領域４０が一方向に長い長方形であり、検出領域４０は、Ｘ方向に分割されていて、Ｙ方向には分割されていない。この放射性表面汚染検査装置は、特に一方向に長い被検査対象の放射性汚染を検査に好適である。

放射線検出器２１は、２台の光電子増倍管１５，１６を用いている。これらの光電子増倍管１５，１６は、ケース２９の両端部にそれぞれ配置されている。図８における横方向をＸ方向と呼ぶこととする。また、２台の光電子増倍管１５，１６のそれぞれを、図８において、左に位置するものを第１の光電子増倍管１５、右に位置するものを第２の光電子増倍管１６と呼ぶこととする。

検出領域４０はＸ方向にのみ分割されているため、入射位置演算器２２は、放射線のＸ方向の入射位置を求める。第１の光電子増倍管１５の出力波高値をＰ_１、第２の光電子増倍管１６からの出力波高値をＰ_２とすると、放射線の入射位置座標（Ｘ）は、以下の式により求めることができる。

Ｘ＝Ｐ_１／（Ｐ_１＋Ｐ_２）×Ｌ_Ｘ …（６）
ここで、Ｌ_Ｘは検出領域４０のＸ方向の長さ、Ｌ_Ｙは検出領域４０のＹ方向の長さである。

このようにして求めた放射線の入射位置を用いて、第１の実施の形態と同様に、放射性汚染を検査できる。このため、被検査対象の放射性汚染を、小面積の検出器により局所的な汚染を測定した場合と同程度の検出限界性能を持ちつつ、大面積を一度に検査できる。また、被検査対象が一方向に長い場合には、２台の光電子増倍管を用いればよいため、放射性表面汚染検査装置を単純化することが可能で、製造コストを削減することができる。

［その他の実施の形態］
なお、以上の説明は単なる例示であり、本発明は上述の各実施の形態に限定されず、様々な形態で実施することができる。また、各実施の形態の特徴を組み合わせて実施することもできる。

本発明に係る放射性表面汚染検査装置の第１の実施の形態におけるブロック図である。 本発明に係る放射性表面汚染検査装置の第１の実施の形態における放射線検出器の図３におけるII−II矢視断面図である。 図２におけるIII−III矢視断面図である。 本発明に係る放射性表面汚染検査装置の第１の実施の形態における検出領域の分割方法を示す平面図である。 本発明に係る放射性表面汚染検査装置の第２の実施の形態における放射線検出器の図６におけるV−V矢視断面図である。 図５におけるVI−VI矢視断面図である。 本発明に係る放射性表面汚染検査装置の第３の実施の形態における放射線検出器の図８におけるVII−VII矢視断面図である。 図７におけるVIII−VIII矢視断面図である。

符号の説明

１２…設定領域、１５，１６，１７，１８…光電子増倍管、１９…シンチレータ、２１…放射線検出器、２２…入射位置演算器、２３…カウント保持器、２４…設定領域積算器、２５…設定領域汚染量記憶器、２６…警報判定器、２７…警報位置記憶器、２８…表示伝送器、２９…ケース、３１…区画カウンタ、４０…検出領域、４１…区画

Claims (13)

1. 平面状の検出領域に入射した放射線を検出する放射線検出器と、
   前記検出領域をメッシュ状に分割した区画のうちのいずれの区画に前記放射線が入射したかを特定する入射位置演算器と、
   前記放射線の量を入射した前記区画ごとに積算した区画放射線積算量を記憶するカウント保持器と、
   連続する前記区画を組み合わせて設けられた設定領域のそれぞれに対してこの設定領域に属する前記区画に対応する前記区画放射線積算量を足し合わせて設定領域放射線積算量を求める設定領域積算器と、
   を有することを特徴とする放射性表面汚染検査装置。
2. 前記区画は互いに同じ面積であって、前記設定領域は互いに同じ数の前記区画を組み合わせたものである、ことを特徴とする請求項１に記載の放射性表面汚染検査装置。
3. 前記設定領域は前記区画の全ての組み合わせに対して設けられていることを特徴とする請求項２に記載の放射性表面汚染検査装置。
4. 前記区画は一辺の長さが５ｃｍの正方形であり、前記設定領域は一辺の長さが１５ｃｍの正方形であることを特徴とする請求項２または請求項３に記載の放射性表面汚染検査装置。
5. 前記設定領域放射線積算量が所定の警報設定値よりも大きい場合に警報を発生させる警報判定器、を有することを特徴とする請求項１ないし請求項４のいずれか１項に記載の放射性表面汚染検査装置。
6. 前記警報設定値は、４０Ｂｑ相当の放射能を検知したときの値であることを特徴とする請求項５に記載の放射性表面汚染検査装置。
7. 前記警報設定値は、４Ｂｑ相当の放射能を検知したときの値であることを特徴とする請求項５に記載の放射性表面汚染検査装置。
8. 前記設定領域放射線積算量が前記警報設定値よりも大きい前記設定領域を記憶する警報位置記憶器、を有することを特徴とする請求項５ないし請求項７のいずれか１項に記載の放射性表面汚染検査装置。
9. 前記設定領域放射線積算量を表示する表示手段、を有することを特徴とする請求項１ないし請求項８のいずれか１項に記載の放射性表面汚染検査装置。
10. 前記設定領域放射線積算量を示す信号を出力する伝送手段、を有することを特徴とする請求項１ないし請求項９のいずれか１項に記載の放射性表面汚染検査装置。
11. 前記検出器は、前記検出領域を覆うシンチレータとこのシンチレータの背面に設けられた複数の光電子増倍管とを備え、前記入射位置演算器は、前記光電子増倍管のそれぞれの出力波高値に基づいて前記放射線が入射した位置を演算することを特徴とする請求項１ないし請求項１０のいずれか１項に記載の放射性表面汚染検査装置。
12. 前記入射位置演算器は、前記出力波高値を入力として前記放射線が入射した位置を出力するニューラルネットワークを備えることを特徴とする請求項１１に記載の放射性表面汚染検査装置。
13. 平面状の検出領域に入射した放射線を検出する工程と、
    前記検出領域をメッシュ状に分割した区画のうちのいずれの区画に前記放射線が入射したかを特定する工程と、
    前記放射線の量を入射した前記区画ごとに積算した区画放射線積算量を記憶する工程と、
    連続する前記区画を組み合わせて設けられた設定領域のそれぞれに対してこの設定領域に属する前記区画に対応する前記区画放射線積算量を足し合わせて設定領域放射線積算量を求める工程と、
    を有することを特徴とする放射性表面汚染検査方法。

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