JP4987564B2 - 放射性表面汚染検査装置および放射線表面汚染検査方法 - Google Patents
放射性表面汚染検査装置および放射線表面汚染検査方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4987564B2 JP4987564B2 JP2007134982A JP2007134982A JP4987564B2 JP 4987564 B2 JP4987564 B2 JP 4987564B2 JP 2007134982 A JP2007134982 A JP 2007134982A JP 2007134982 A JP2007134982 A JP 2007134982A JP 4987564 B2 JP4987564 B2 JP 4987564B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- radiation
- incident
- surface contamination
- area
- rows
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
Description
図1は、本発明に係る放射性表面汚染検査装置の第1の実施の形態におけるブロック図である。
第2の設定領域: A2,A3,A4,B2,B3,B4,C2,C3,C4
第3の設定領域: A3,A4,A5,B3,B4,B5,C3,C4,C5
第4の設定領域: B1,B2,B3,C1,C2,C3,D1,D2,D3
第5の設定領域: B2,B3,B4,C2,C3,C4,D2,D3,D4
第6の設定領域: B3,B4,B5,C3,C4,C5,D3,D4,D5
第7の設定領域: C1,C2,C3,D1,D2,D3,E1,E2,E3
第8の設定領域: C2,C3,C4,D2,D3,D4,E2,E3,E4
第9の設定領域: C3,C4,C5,D3,D4,D5,E3,E4,E5
また、図4には、放射線の入射位置の例を模式的に示している。被検査対象から放出された放射線が入射した位置、すなわち、その放射線がシンチレータ19と相互作用を起こした位置を白抜きの丸13で示した。バックグラウンドの放射線が入射した位置、すなわち、その放射線がシンチレータ19と相互作用を起こした位置を白抜きの三角14で示した。バンクグラウンドの放射線は、検出領域40の全体に亘って均一に入射するが、被検査対象から放出される放射線は、被検査対象の汚染範囲に対向する領域11に多く入射する。
Y=P1/(P1+P2)×LY …(2)
ここで、LXは検出領域40のX方向の長さ、LYは検出領域40のY方向の長さである。
CBG=15(s−1)/(25cm×25cm)×(15cm×15cm)
=5.4(s−1)
となり、検出領域40の全体におけるバックグラウンドの放射線の影響の36%となる。
図5は、本発明に係る放射性表面汚染検査装置の第2の実施の形態における放射線検出器の図6におけるV−V矢視断面図である。図6は、図5におけるVI−VI矢視断面図である。
Y=(P1+P3)/(P1+P2+P3+P4)×LY …(5)
ここで、LXは検出領域40のX方向の長さ、LYは検出領域40のY方向の長さである。
図7は、本発明に係る放射性表面汚染検査装置の第3の実施の形態における放射線検出器の図8におけるVII−VII矢視断面図である。図8は、図7におけるVIII−VIII矢視断面図である。
ここで、LXは検出領域40のX方向の長さ、LYは検出領域40のY方向の長さである。
なお、以上の説明は単なる例示であり、本発明は上述の各実施の形態に限定されず、様々な形態で実施することができる。また、各実施の形態の特徴を組み合わせて実施することもできる。
Claims (12)
- 平面状の検出領域を覆うシンチレータと、前記シンチレータの背面に一直線上に並ばないように配置され、入射した放射線に応じた波高値を出力波高値として出力するi個(iは3以上の整数)の光電子増倍管とを備えた放射線検出器と、
前記i個の光電子増倍管から出力される前記出力波高値に基づいて前記放射線が入射した位置を演算し、前記検出領域をm行m列(mは、3以上の整数、かつ、3≦i<(m×m)を満たす整数)に分割したm行m列の区画のうちのいずれの区画に前記放射線が入射した前記位置を特定する入射位置演算器と、
前記放射線の量を入射した前記区画ごとに積算した区画放射線積算量を記憶するカウント保持器と、
前記m行m列の区画のうちの連続する前記区画を組み合わせて設けられたn行n列の区画(nは、n<mを満たす2以上の整数)を表す設定領域のそれぞれに対して、前記設定領域に属する前記区画に対応する前記区画放射線積算量を足し合わせて設定領域放射線積算量を求める設定領域積算器と、
を有することを特徴とする放射性表面汚染検査装置。 - 前記区画は互いに同じ面積である、ことを特徴とする請求項1に記載の放射性表面汚染検査装置。
- 前記設定領域が表す前記n行n列の区画は、前記m行m列の区画の全ての組み合わせに対して設けられていることを特徴とする請求項2に記載の放射性表面汚染検査装置。
- 前記区画は一辺の長さが5cmの正方形であり、前記設定領域は一辺の長さが15cmの正方形であることを特徴とする請求項2または請求項3に記載の放射性表面汚染検査装置。
- 前記設定領域放射線積算量が所定の警報設定値よりも大きい場合に警報を発生させる警報判定器、を有することを特徴とする請求項1ないし請求項4のいずれか1項に記載の放射性表面汚染検査装置。
- 前記警報設定値は、40Bq相当の放射能を検知したときの値であることを特徴とする請求項5に記載の放射性表面汚染検査装置。
- 前記警報設定値は、4Bq相当の放射能を検知したときの値であることを特徴とする請求項5に記載の放射性表面汚染検査装置。
- 前記設定領域放射線積算量が前記警報設定値よりも大きい前記設定領域を記憶する警報位置記憶器、を有することを特徴とする請求項5ないし請求項7のいずれか1項に記載の放射性表面汚染検査装置。
- 前記設定領域放射線積算量を表示する表示手段、を有することを特徴とする請求項1ないし請求項8のいずれか1項に記載の放射性表面汚染検査装置。
- 前記設定領域放射線積算量を示す信号を出力する伝送手段、を有することを特徴とする請求項1ないし請求項9のいずれか1項に記載の放射性表面汚染検査装置。
- 前記入射位置演算器は、前記出力波高値を入力として前記放射線が入射した位置を出力するニューラルネットワークを備えることを特徴とする請求項1ないし請求項10のいずれか1項に記載の放射性表面汚染検査装置。
- 平面状の検出領域を覆うシンチレータの背面に一直線上に並ばないように配置されたi個(iは3以上の整数)の光電子増倍管が、入射した放射線に応じた波高値を出力波高値として出力する工程と、
前記i個の光電子増倍管から出力される前記出力波高値に基づいて前記放射線が入射した位置を演算し、前記検出領域をm行m列(mは、3以上の整数、かつ、3≦i<(m×m)を満たす整数)に分割したm行m列の区画のうちのいずれの区画に前記放射線が入射した前記位置を特定する工程と、
前記放射線の量を入射した前記区画ごとに積算した区画放射線積算量を記憶する工程と、
前記m行m列の区画のうちの連続する前記区画を組み合わせて設けられたn行n列の区画(nは、n<mを満たす2以上の整数)を表す設定領域のそれぞれに対して、前記設定領域に属する前記区画に対応する前記区画放射線積算量を足し合わせて設定領域放射線積算量を求める工程と、
を有することを特徴とする放射性表面汚染検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007134982A JP4987564B2 (ja) | 2007-05-22 | 2007-05-22 | 放射性表面汚染検査装置および放射線表面汚染検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007134982A JP4987564B2 (ja) | 2007-05-22 | 2007-05-22 | 放射性表面汚染検査装置および放射線表面汚染検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008292166A JP2008292166A (ja) | 2008-12-04 |
JP4987564B2 true JP4987564B2 (ja) | 2012-07-25 |
Family
ID=40167056
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007134982A Active JP4987564B2 (ja) | 2007-05-22 | 2007-05-22 | 放射性表面汚染検査装置および放射線表面汚染検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4987564B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5840503B2 (ja) * | 2012-01-06 | 2016-01-06 | 株式会社東芝 | 2次元放射線表示装置および2次元放射線表示方法 |
CN103163545B (zh) * | 2013-02-26 | 2015-09-30 | 国电锅炉压力容器检验中心 | 一种测量射线剂量的射线测量仪 |
JP6524484B2 (ja) * | 2015-02-17 | 2019-06-05 | 国立研究開発法人日本原子力研究開発機構 | 放射線計測方法及び放射線計測装置 |
JP6595847B2 (ja) * | 2015-08-27 | 2019-10-23 | 株式会社堀場製作所 | 放射線分析装置及び放射線分析装置用プログラム |
JP6889476B2 (ja) * | 2017-12-25 | 2021-06-18 | 東京都公立大学法人 | 放射線測定装置 |
JP2020020577A (ja) * | 2018-07-30 | 2020-02-06 | 学校法人北里研究所 | チェレンコフ検出器 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04301785A (ja) * | 1991-03-29 | 1992-10-26 | Toshiba Corp | 放射線測定装置 |
JP3186969B2 (ja) * | 1996-03-19 | 2001-07-11 | アロカ株式会社 | 放射線検出装置 |
-
2007
- 2007-05-22 JP JP2007134982A patent/JP4987564B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2008292166A (ja) | 2008-12-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4987564B2 (ja) | 放射性表面汚染検査装置および放射線表面汚染検査方法 | |
US8586937B2 (en) | Systems and methods for providing a shared charge in pixelated image detectors | |
JP6367969B2 (ja) | 高いアスペクト比を有することが可能である感光要素を有する放射線検出器 | |
US10379228B2 (en) | Pet detector scintillator arrangement with light sharing and depth of interaction estimation | |
CN101978288B (zh) | 二维位置图校准方法 | |
CN102262237A (zh) | 光子辐射检测装置和此种装置的定制和运行方法 | |
JP2005049137A (ja) | 放射能検査装置 | |
JP2010276519A (ja) | 荷電粒子測定装置およびその測定方法 | |
US10054689B2 (en) | Dose rate monitoring device | |
JP2008190901A (ja) | 陽電子放出型断層撮影装置 | |
CN109521459B (zh) | 一种射线在闪烁晶体中的击中点定位方法及其系统 | |
JP5469057B2 (ja) | X線診断装置 | |
JP2011085418A (ja) | 放射線測定装置 | |
US20070007447A1 (en) | Method for correcting butting zone artifacts with an x-ray detector and an x-ray detector | |
US11056333B2 (en) | Spectrometry method and device for detecting ionising radiation for the implementation thereof | |
CN101576516A (zh) | 气体辐射探测器及辐射成像系统 | |
JP5523407B2 (ja) | 放射線検出装置及び検出方法 | |
KR20160102401A (ko) | 검출기의 픽셀들에 의해 수집된 신호들을 프로세싱하는 방법 | |
JP2014169943A (ja) | 放射線測定装置及び放射線測定プログラム | |
JP5646308B2 (ja) | 放射線測定装置 | |
US11774608B2 (en) | Sensor layout for direct converter detector | |
KR102180970B1 (ko) | 섬광체를 이용한 삼중수소 검출기 | |
JP2000180551A (ja) | 放射線検出装置 | |
JP2000098038A (ja) | 放射線検出器および放射線モニタ | |
JP2014202553A (ja) | 空間放射線検出装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20091027 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20110420 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110721 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110726 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110926 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120403 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120425 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 4987564 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150511 Year of fee payment: 3 |