JP6305008B2 - 放射線撮影装置およびその制御方法、放射線画像処理装置および方法、並びに、プログラムおよびコンピュータ可読記憶媒体 - Google Patents

放射線撮影装置およびその制御方法、放射線画像処理装置および方法、並びに、プログラムおよびコンピュータ可読記憶媒体 Download PDF

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Description

本発明は、放射線画像(たとえばX線画像)中に存在する、放射線に損失が生じた画素を補正する技術に関する。
近年、X線を電荷信号として蓄積し、それをデジタル信号に変換して診断画像を提供するフラットパネルディテクタ(以下、FPD)が実用化されている。このようなFPDを用いたX線撮影装置では、X線発生装置によるX線照射とFPDによる撮影動作の間の同期をとって撮影を実行するように構成されている。
これに対し、既存のモダリティのフィルムやイメージングプレート部分をFPDに置き換えたいという市場要求も多くある。このような既存のモダリティの撮影部をFPDに置き換えようとする場合、X線発生装置とFPD間を同期させるためのインターフェースの構築が困難なことがある。特許文献1ではX線発生装置とFPD間のインターフェースを設けずに、FPD側でX線照射を検出し、自動的に蓄積動作を開始するFPDが提案されている。
しかしながら、FPD側で自動的にX線照射を検出して蓄積動作を開始する場合、X線を検出して蓄積動作を開始するまではある程度のX線照射が必要であり、その間はリセット動作が行われてしまう。このため、実際にX線照射が開始されてからX線の検出により蓄積動作が開始するまでの間に照射されたX線による電荷は排出され、排出された電荷は出力値に寄与することはできない。従って、電荷が排出されてX線情報に損失が生じた画素(以後、この画素をX線欠損画素と呼ぶ)と電荷が排出されていない画素(以後、この画素を非X線欠損画素と呼ぶ)においては、同一の入射X線量であっても出力値に相違が生じるという課題がある。
例えば、特許文献1ではX線検出時のリセット動作を1ラインごとに行い、フレーム毎に偶数ライン、奇数ラインを入れ替えてリセット動作を行うため、X線照射から蓄積動作開始までに電荷が排出されるのは1ライン置きとなる。その結果、電荷が排出されたライン(以後、このラインをX線欠損ラインと呼ぶ)と電荷が排出されていないライン(以後、このラインを非X線欠損ラインと呼ぶ)が交互に発生し、ライン間での出力値の相違が画像上において縞状に現れるという課題がある。なお、この課題について特許文献1ではX線欠損ラインのデータを欠陥として破棄し、周囲の画素の線形補間によって補正する方法が開示されている。
また、上述以外の方法として、X線欠損ラインと隣接する非X線欠損ラインからX線欠損ラインにおけるX線の欠損率を求め、欠損率に応じてデジタル的に出力値を増幅する方法が近年提案されている。この方法では、X線欠損ラインを欠陥として破棄する方法に比べ、X線欠損ラインの情報を有効活用できるため、より好適な補正結果が得られる。
特開2011−249891号公報
上述したようなX線の自動検出とFPDのリセット動作に起因したものに限らず、X線欠損画素(X線欠損ライン)と非X線欠損画素(非X線欠損ライン)が存在するX線画像において、X線欠損画素(X線欠損ライン)を適切に補正することは重要である。X線画像におけるX線欠損画素あるいは不適切に補正されたX線欠損画素は、医師が行う読影に影響をおぼすからである。
しかしながら、上述のように、X線画像におけるX線欠損ラインの欠損率に応じて出力値を増幅する場合、信号だけでなく重畳するノイズもあわせて増幅されてしまう。そのため、特許文献1に記載のような駆動を用いた場合では、隣接するX線欠損ラインと非X線欠損ラインにおいて、入射X線量が略同等にも関わらず、ノイズレベルが異なることとなり、不自然な画像となってしまうという課題がある。
そこで、本発明の例示的な目的は、画素を補正する際に生じるノイズレベルの悪化を抑えることが可能な補正方法を提供することにある。
上記の目的を達成するための本発明の一態様による放射線撮影装置は以下の構成を備える。すなわち、
放射線検出手段により検出されたX線からX線画像を取得する取得手段と、
前記放射線画像における、補正対象である第一の画素を、前記第一の画素に隣接する第二の画素を参照して補正する補正手段と、
前記補正手段により前記第一の画素を補正したことにより生じるノイズレベルの増加を評価する評価値を算出する算出手段と、
前記算出手段により算出された評価値に基づいて、補正後の前記第一の画素に対してノイズレベルを低減する処理を行う低減手段と、を備える。
本発明によれば、画素の補正の際に生じるノイズレベルの悪化を低減することができる。
実施形態によるX線撮影装置の構成例を示す図。 実施形態における処理手順を示すフローチャート。 FPDの回路構成を説明する図。 FPDの駆動を説明する図。 X線欠損ラインでの出力値の低下を説明する図。 補正係数の算出方法を説明する図。
以下、添付の図面を参照して本発明の好適な実施形態を説明する。本発明は、放射線を検出する放射線検出部により検出された放射線量から放射線画像を取得し、放射線画像処理を行う放射線撮影装置、例えば図1に示すようなX線撮影装置100に適用される。X線撮影装置100は、X線照射を自動的に検出してX線画像を取得した際に、リセット動作によってX線が損失することにより発生する、X線画像中のX線欠損画素を補正するためのX線画像処理を実行する機能を有する。
上述のようなX線撮影装置100において、X線管101は被検体103にX線を照射する。X線発生装置104は曝射スイッチ(不図示)の押下でX線管101に高電圧パルスを与え、X線を発生させる。FPD102はFPD制御部105に制御されて、被検体103を透過したX線を蛍光体により可視光に変換し、フォトダイオードで検出する。検出された電気信号はAD変換されてFPD制御部105に送信される。FPD制御部105には画像処理部109、画像保存部108が備えられ、1又は複数のコンピュータ(不図示)が内蔵される。
FPD制御部105が有するコンピュータには、例えば、CPU等の主制御部、ROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)等の記憶部が具備されている。また、コンピュータには、GPU(Graphics Processing Unit)等のグラフィック制御部、ネットワークカード等の通信部、キーボード、ディスプレイ又はタッチパネル等の入出力部等が具備されていてもよい。なお、これらの各構成は、バス等により接続され、主制御部が記憶部に記憶されたプログラムを実行することで制御される。モニタ106は受信されたデジタル信号や画像処理部109で処理したデジタル信号を画像として表示する。操作部107は画像処理部109やFPD102に対するユーザからの指示を入力する。画像保存部108はFPD制御部105から出力されたデジタル信号や画像処理部109で処理された画像データを保存する。また、画像処理部109は、FPD102で撮影した画像のX線欠損画素を補正するものであり、補正係数算出部110、補正部111、悪化度算出部112、ノイズ低減部113を具備する。
以上のような構成を備えた本実施形態のX線撮影装置100の動作について、図2に示すフローチャートを用いて具体的に説明する。まず、X線発生装置104により高電圧パルスをX線管101に印加し、X線を被検体103に照射する。FPD102はX線照射が開始されたのち、X線照射を自動で検出することで蓄積動作を開始し、X線画像を取得する(S201)。
ここで、X線の照射開始を自動で検出、判定するための駆動について図3〜図5を用いて具体的に説明する。図3にFPD102の回路構成を示す。FPD102は、TFT302とフォトダイオード303から形成された画素を有し、ガラス基板301上には、縦横ともに数千個の画素が形成されている。なお、図3では説明のため縦横ともに4画素から構成されるFPDを示している。走査線制御回路306はG1〜G4に順次オン信号を印加してTFT302のスイッチをオンにする。G1〜G4は走査線であり、各走査線にオン信号を印加するとTFT302がスイッチオンになり、1ラインずつフォトダイオード303の出力電荷を読み出せる。S1〜S4は信号線であり、フォトダイオード303から読み出された電荷は信号線を伝達して、信号検出回路305で読み取られる。信号検出回路305は読み取られた信号を保持、増幅、AD変換などの処理を経てデジタル信号としてFPD制御部105に出力する。電源304は各フォトダイオード303に動作電圧を供給する。
図4に本実施形態におけるFPD102の駆動を示すタイミングチャートを示す。FPD102はX線が照射されていない場合、X線検出駆動で待機する。このとき、走査線制御回路306は第1フレームにおいて、走査線をG1、G3…というように奇数番目だけ順次駆動する。そして、奇数番目の走査線に接続された画素の暗電荷を読み取り、リセットする。次の第2フレームにおいて走査線制御回路306は走査線をG2、G4…というように偶数番目だけを順次駆動して、偶数番目の走査線に接続された画素をリセットする。こうして、奇数フレームでは奇数ラインをリセットし、偶数フレームでは偶数ラインをリセットすることで、奇数ラインと偶数ラインが交互にリセットされる。
ここで、FPD制御部105の信号検出回路305ではX線照射を検出するためにリセットされた電荷をモニタリングしている。X線が照射されると、フォトダイオード303により電荷が生成されるため、信号線の出力が上昇する。FPD制御部105は、この出力があらかじめ決められた閾値を超えたとき、X線が照射されたとみなし、全てのTFT302をオフにすることで、蓄積動作を開始する。
ところで、上述のX線照射を検出するための閾値が小さいほどX線照射を素早く検出できるが、ノイズなどによる誤検知が発生しやすくなる。したがって、閾値はそのような誤動作を考慮してある程度大きな値に設定する必要がある。その結果、X線照射が開始されてからX線照射を検出するまでに少なからずタイムラグが生じる。このタイムラグにより、蓄積動作に入るまでに照射されたX線による電荷は出力値に寄与することはできず、本来の出力値よりも値が小さくなる。すなわち、X線が損失した補正対象画素(本明細書では欠損画素と呼ぶ)が並ぶ補正対象ラインが生成されてしまう。
図5は、均一なX線が照射された場合における出力値の低下を示した模式図である。ここで、図5(a)は1つの矩形を1つの画素として表したものである。図5(b)は、図5(a)の各行の画素の出力値の和を棒グラフで表したものである。なお、均一なX線が照射された場合、X線照射を検出するまでにタイムラグがなければ各行の出力値の和は略同じになる。ここで、偶数ラインG4でX線の照射が開始され、偶数ラインG8でX線の照射が検出されたとする。この場合、図5(b)のようにリセット動作が行われた偶数ラインG4、G6、G8においてX線が損失しており、本来の出力値よりも値が小さくなる。これらのラインG4、G6、G8は補正対象ラインである。一方、その他のラインには、リセット動作によるX線の損失が発生しておらず、これらのラインは補正の必要の無い画素(すなわち、補正対象の画素以外の画素、以下、非補正対象画素という)が並ぶ非補正対象ラインとなる。
なお、出力値の低下はX線照射が開始されてからリセット動作が行われるまでのタイムラグに依存し、タイムラグが大きいほど低下も大きくなる。よって、本実施形態の動作では、G1から順次リセット動作を行うため、図5(b)のようにX線照射が開始されたG4からG6、G8と出力値の低下は大きくなる。
以上、説明したような動作によって得られたX線画像は、補正対象画素が並ぶ補正対象ラインと、非補正対象画素が並ぶ非補正対象ラインとが交互に存在する部分を有することになる。そして、そのようなX線画像は、画像処理部109に転送され出力値が低下した補正対象ライン(以下、X線欠損ラインと称する)の補正が行われる。以下に具体的な補正方法について説明する。
まず、補正係数算出部110において、X線欠損ラインの出力値を補正するための補正係数を算出する(S202)。通常、各画素の出力値V(以後、各画素の出力値を画素値と呼ぶ場合がある)は画素に入射されるX線量Xに比例したゲイン成分と暗電流等によるオフセット成分Dとの和で決まり、比例定数をAとおけば、画素値VとX線量Xとの関係は以下となる。
Figure 0006305008
これに対し、X線欠損ラインの画素値Vdでは、画素に入射されるX線量Xの一部がリセット動作により失われ、画素値に寄与するX線量は1/G倍に減少する。よって、X線欠損ラインの画素値VdとX線量Xとの関係は以下となる。
Figure 0006305008
したがって、式(1)、式(2)よりX線欠損ラインの画素値Vdと本来の画素値Vとの関係は以下となる。
Figure 0006305008
なお、式(3)のG,Dの値は未知であり、これら2つを補正係数として算出することで、X線欠損ラインの画素値Vdを本来の画素値Vに補正することができる。
そこで、本実施形態では、X線欠損ラインと相関の高い隣接する非X線欠損ライン(すなわち非補正対象ライン)の画素値を利用して補正係数G,Dを回帰分析により算出する。より具体的には、図6のようにX線欠損ラインの各列iの画素値を{xi|i=1,2,…,n}、上下に隣接する非X線欠損ラインの各列iの画素値をそれぞれ{yi,1|i=1,2,…,n}、{yi,2|i=1,2,…,n}とする。そして、各列の画素値は略同じ値をとると仮定すれば、X線欠損ラインの画素値xと非X線欠損ラインの画素値yの関係は以下の式(4)となる。
Figure 0006305008
ここで、式(4)のようにxとyの関係は、傾きG、切片D・(1−G)の1次式で表され、直線回帰分析により、G,Dを算出することができる。例えば、直線回帰分析の方法として最小二乗回帰を用いる場合、式(5)で表わされる誤差Eを最小化する傾きaおよび切片bを求め、求めた傾きaと切片bから式(6)により補正係数G,Dを算出すれば良い。
Figure 0006305008
Figure 0006305008
ここで、本実施形態では、最小二乗回帰を用いた方法を説明したが、この方法に限定されるものではなく、MA回帰やRMA回帰等の既に公知の方法を用いても同様に補正係数を算出することができる。また、本実施形態では各列の画素値は略同じ値をとることを仮定して補正係数を求めたが、急峻なエッジ等が存在する場合においては、この仮定が成り立たない画素が存在する。よって、このような外れ値の対策としてM推定、LMedS推定、RANSAC等の公知のロバスト回帰を用いることもできる。
以上、1つのX線欠損ラインに対する補正係数G,Dの算出方法について説明したが、すべてのX線欠損ラインに対して同様の処理を行い、各々のX線欠損ラインに対する補正係数G,Dを算出する。なお、X線照射が開始されたタイミングは未知であるため、どのラインまでがX線欠損ラインであるかは不明である。そこで、本実施形態では、補正対象ラインか否かの判定をいかようにして行う。すなわち、X線照射を検出したタイミングにリセット動作がなされたラインから順次リセット動作がなされたラインをさかのぼって補正対象ライン(X線欠損ライン)を選択してく。そして、選択された補正対象ライン(X線欠損ライン)の補正係数を求め、補正係数Gが所定の範囲、たとえば略1となるラインまで補正係数G,Dを算出すればよい。例えば、図5(b)では、X線照射を検出したタイミングにリセット動作がなされたG8から順にG6、G4と補正係数G,Dを求めていき、その補正量が所定範囲となった場合に補正係数の算出を終了する。たとえば、補正係数Gが略1となるラインG2で補正係数の算出を終了する。なお、X線照射を検出したタイミングにリセット動作がなされたラインから所定のライン数分をさかのぼって補正対象のラインとしてもよい。この場合、所定のライン数とは、予め十分なライン数を計算あるいは実験により求めておけばよい。
次に、補正部111において、求めた補正係数G,Dを用いて欠損ラインの各欠損画素の補正を行う(S203)。具体的には、X線欠損ラインの各列iの画素値をそれぞれ{Vd(i)|i=1,2,…,n}、そのラインに対する補正係数をG,Dとし、下記の式(7)により補正後の画素値V(i)を全てのX線欠損ラインに対して算出する。
Figure 0006305008
次に、悪化度算出部112において、補正がなされたすべての画素の各々に対し、ノイズの悪化の度合いを算出する(S204)。ここでは、補正前の補正対象画素の画素値に対応したX線量におけるノイズレベルが、上述のような補正を行ったことにより増加したノイズレベルと、その補正後の画素値に対応したX線量におけるノイズレベルとに基づいて評価値を算出する。したがって、この評価値は、補正によるノイズレベルの悪化度を示すものとなる。通常、各画素の出力に重畳されるノイズレベルは、画素に入射されるX線量Xに比例する量子ノイズとX線量に依存しないシステム固有のシステムノイズが支配的である。そこで、量子ノイズの標準偏差をσQ、システムノイズの標準偏差をσSとすれば、各画素の出力に重畳されるノイズの標準偏差σは分散の加法性により下記式となる。
Figure 0006305008
これに対し、X線欠損ラインの画素では、画素に入射されるX線量Xの一部がリセット動作により失われ、出力に寄与するX線量は1/G倍に減少する。よって、X線欠損ラインの画素の出力に重畳されるノイズの標準偏差σdは下記式となる。
Figure 0006305008
ここで、式(7)にて補正されたX線欠損ラインでは、補正の倍率であるGにより、画素の出力値に含まれる信号成分がG倍されると同時に、ノイズもG倍される。すなわち、補正後のX線欠損ラインの画素の出力値に重畳されるノイズの標準偏差σCは、下記の式(10)となる。
Figure 0006305008
したがって、補正されたX線欠損ラインの画素の出力値に含まれるノイズレベルは、本来の画素の出力値(X線量がXの場合の出力値)に含まれるノイズレベルに対し、σC/σ倍にノイズレベルが増加することとなる。よって、各画素に対してこの値をノイズレベルの増加を表す評価値(以下、ノイズ悪化度W)として算出する。具体的な算出方法は下記の式(11)となる。
Figure 0006305008
ここで、量子ノイズの標準偏差σQ、システムノイズの標準偏差σSは、撮影系で一意に決まる値であり、事前に算出した値を予め保持しておき、その値を用いれば良い。また、入射されるX線量Xは、上述した(1)式の関係を用いることで算出することができる。具体的には、補正された画像Vのi行j列における画素値をV(i,j)とすれば、下記式にて各画素に入射されるX線量X(i,j)を各々算出することができる。
Figure 0006305008
ここで、Nはノイズの影響を除去するためのフィルタサイズを決定するものであり、本実施の形態では、例えば2とする。また、AはX線量Xを画素値Vに変換するために比例定数であり、センサによって一意に決まる値である。よって、事前に算出した値を予め保持しておき、その値を用いれば良い。
次に、ノイズ低減部113において、補正がなされたすべての画素に対し、ノイズ低減を行う(S205)。ここでは、隣接する画素におけるノイズレベルは同じであると仮定し、補正されたX線欠損画素のノイズレベルを隣接する非X線欠損画素と略等価となるように補正する。
本実施形態では、補正されたX線欠損画素と隣接する上下の非X線欠損画素の3点の重み付け加算(フィルタリング)によって補正されたX線欠損画素のノイズを低減する。具体的には、補正された画像Vのi行j列における画素値をV(i,j)とすれば、下記式にてX線欠損画素のノイズを低減する。
Figure 0006305008
なお、式(13)において、aはノイズの低減度合を決定する重み係数であり、補正された画素V(i,j)のノイズレベルが隣接する画素V(i-1,j)、V(i+1,j)のノイズレベルと略等価となるように設定する。以下、aの決定方法について説明する。
まず、補正されたX線欠損画素の出力に重畳するノイズの標準偏差をσT、隣接する画素の出力に重畳するノイズの標準偏差をσRとすれば、ノイズ低減後に得られる出力に重畳するノイズの標準偏差σは下記式となる。
Figure 0006305008
ここで、補正された画素V(i,j)のノイズレベルが隣接する画素V(i-1,j)、V(i+1,j)のノイズレベルと略等価になるための条件は以下である。
Figure 0006305008
また、σTとσRの関係は上述したノイズ悪化度Wから下記式となる。
Figure 0006305008
ここで、式(15)と式(16)を式(14)に代入し、整理すると、
Figure 0006305008
となる。よって、(17)式の条件を満たすように、すなわち、下記の式(18)にてaを設定すれば良い。
Figure 0006305008
ここで、重み係数aは悪化度Wに依存した値となるため、悪化度算出部112で算出した各画素の悪化度に基づいて各々の画素に対するaを算出し、ノイズ補正を行う。
なお、上記実施形態では、X線欠損画素のノイズ低減に上下2画素を用いたが、これに限定されるものではなく、例えば、斜めも含む6画素を用いてノイズ低減を行ってもよい。また、本実施形態は、線形フィルタでノイズ低減を行う方法を用いたが、これに限定されるものではなく、例えばεフィルタやバイラテラルフィルタ等のエッジを保存する非線形なフィルタを用いても良い。
さらに、上記実施形態では、補正対象画素が並ぶ補正対象ラインと、非補正対象画素が並ぶ非補正対象ラインとが交互に存在する場合を説明したが、これに限られるものではない。たとえば、X線の損失が生じている補正対象画素がX線の損失が生じていない非補正対象画素により補正可能に配置された画像であれば、上記実施形態による補正、ノイズレベルの低減を適用することができる。したがって、たとえば、ラインごとにリセットを行う構成ではなく、列ごとにリセットを行う構成に適用してもかまわない。また、たとえば補正対象画素と非補正対象画素が格子柄状に配置されるようなX線画像にも、上記処理を適用できることは明らかである。さらに、上記実施形態では、ライン単位でのリセット動作として、1ラインずつリセットを行う例を示したが、複数の偶数ラインまたは奇数ライン(例えば、図5の「G2とG4」、「G6とG8」を同時にリセットするようにしてもよい。
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されないことはいうまでもなく、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。
また、本発明は、前述した実施形態の機能を実現するソフトウェアのプログラム(実施形態では図に示すフローチャートに対応したプログラム)を、システムあるいは装置に直接あるいは遠隔から供給し、そのシステムあるいは装置のコンピュータが該供給されたプログラムコードを読み出して実行することによっても達成される場合を含む。
従って、本発明の機能処理をコンピュータで実現するために、該コンピュータにインストールされるプログラムコード自体も本発明を実現するものである。つまり、本発明は、本発明の機能処理を実現するためのコンピュータプログラム自体も含まれる。
プログラムを供給するためのコンピュータ可読記録媒体としては、例えば、ハードディスク、光ディスク、光磁気ディスク、MO、CD-ROM、CD-R、CD-RW、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ROM、DVD(DVD-ROM,DVD-R)などがある。
その他、プログラムの供給方法としては、クライアントコンピュータのブラウザを用いてインターネットのホームページに接続し、該ホームページから本発明のコンピュータプログラムそのもの、もしくは圧縮され自動インストール機能を含むファイルをハードディスク等の記録媒体にダウンロードすることによっても供給できる。また、本発明のプログラムを構成するプログラムコードを複数のファイルに分割し、それぞれのファイルを異なるホームページからダウンロードすることによっても実現可能である。つまり、本発明の機能処理をコンピュータで実現するためのプログラムファイルを複数のユーザに対してダウンロードさせるWWWサーバも、本発明に含まれるものである。
また、本発明のプログラムを暗号化してCD-ROM等の記憶媒体に格納してユーザに配布し、所定の条件をクリアしたユーザに対し、インターネットを介してホームページから暗号化を解く鍵情報をダウンロードさせ、その鍵情報を使用することにより暗号化されたプログラムを実行してコンピュータにインストールさせて実現することも可能である。
また、コンピュータが、読み出したプログラムを実行することによって、前述した実施形態の機能が実現される他、そのプログラムの指示に基づき、コンピュータ上で稼動しているOSなどが、実際の処理の一部または全部を行ない、その処理によっても前述した実施形態の機能が実現され得る。

Claims (19)

  1. 放射線検出手段により検出された放射線から放射線画像を取得する取得手段と、
    前記放射線画像における、補正対象である第一の画素を、前記第一の画素に隣接する第二の画素を参照して補正する補正手段と、
    前記補正手段により前記第一の画素を補正したことにより生じるノイズレベルの増加を評価する評価値を算出する算出手段と、
    前記算出手段により算出された評価値に基づいて、補正後の前記第一の画素に対してノイズレベルを低減する処理を行う低減手段と、を備えることを特徴とする放射線撮影装置。
  2. 前記補正手段は、前記第一の画素の画素値と、前記第二の画素の画素値の関係を回帰分析することにより補正係数を取得し、前記補正係数を用いて前記第一の画素を補正することを特徴とする請求項1に記載の放射線撮影装置。
  3. 前記算出手段は、
    前記第一の画素の補正前の画素値に対応した放射線量におけるノイズレベルが前記補正手段の補正により増加したノイズレベルと、前記第一の画素の補正後の画素値に対応した放射線量におけるノイズレベルとに基づいて前記評価値を算出することを特徴とする請求項1または2に記載の放射線撮影装置。
  4. 前記ノイズレベルはノイズの標準偏差であることを特徴とする請求項3に記載の放射線撮影装置。
  5. 前記算出手段は、σQを放射線量に依存した量子ノイズの標準偏差、σSを放射線量に依存しないシステムノイズの標準偏差、Gを前記補正手段による補正の倍率、Xを補正後の画素値に対応した放射線量とした場合に、
    Figure 0006305008
    により前記評価値を求めることを特徴とする請求項4に記載の放射線撮影装置。
  6. 前記低減手段は、前記第一の画素の補正後のノイズレベルが、前記第二の画素のノイズレベルと等価になるように、前記ノイズレベルを低減することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の放射線撮影装置。
  7. 前記低減手段は、補正後の前記第一の画素に対して、前記評価値に基づいて決定されるフィルタを適用してノイズレベルの低減を行うことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の放射線撮影装置。
  8. 前記低減手段は、補正後の前記第一の画素のノイズレベルを、隣接する複数の第二の画素とのフィルタリングによって行うことを特徴とする請求項7に記載の放射線撮影装置。
  9. 前記第一の画素は、前記放射線検出手段のリセット動作により、放射線の情報に損失が生じた画素であることを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の放射線撮影装置。
  10. 前記放射線画像は、前記第一の画素が並ぶ補正対象ラインと、前記第二の画素が並ぶ非補正対象ラインとが交互に存在する部分を有することを特徴とする請求項1乃至9のいずれか1項に記載の放射線撮影装置。
  11. 前記放射線検出手段をライン単位でリセットしながら、リセットの際に読み出された信号に基づいて放射線の照射開始を判定する判定手段を更に備え、
    前記放射線検出手段に放射線が照射されてから前記判定手段が照射開始と判定するまでの間に前記リセットが繰り返されることにより、前記放射線画像における前記補正対象ラインと前記非補正対象ラインとが交互に存在する部分が生成されることを特徴とする請求項10に記載の放射線撮影装置。
  12. 前記補正手段は、前記補正対象ラインごとに、隣接する非補正対象ラインとの関係を直線回帰分析することにより前記補正対象ラインの補正係数を決定し、前記補正係数を用いて前記補正対象ラインの画素を補正することを特徴とする請求項11に記載の放射線撮影装置。
  13. 前記判定手段により照射開始と判定されたラインから、前記リセットの実行の順をさかのぼって補正対象ラインを選択し、
    前記補正係数が示す画素値の補正量が所定範囲となるラインまでを補正対象ラインとすることを特徴とする請求項12に記載の放射線撮影装置。
  14. 放射線画像における、補正対象である第一の画素を、前記第一の画素に隣接する第二の画素を参照して補正する補正手段と、
    前記補正手段により前記第一の画素を補正したことにより生じるノイズレベルの増加を評価する評価値を算出する算出手段と、
    前記算出手段により算出された評価値に基づいて、補正後の前記第一の画素に対してノイズレベルを低減する処理を行う低減手段と、を備えることを特徴とする放射線画像処理装置。
  15. 放射線検出手段により検出された放射線から放射線画像を取得する取得工程と、
    前記放射線画像における、補正対象である第一の画素を、前記第一の画素に隣接する第二の画素を参照して補正する補正工程と、
    前記補正工程で前記第一の画素を補正したことにより生じるノイズレベルの増加を評価する評価値を算出する算出工程と、
    前記算出工程で算出された評価値に基づいて、補正後の前記第一の画素に対してノイズレベルを低減する処理を行う低減工程と、を有することを特徴とする放射線撮影装置の制御方法。
  16. 放射線画像における、補正対象である第一の画素を、前記第一の画素に隣接する第二の画素を参照して補正する補正工程と、
    前記補正工程で前記第一の画素を補正したことにより生じるノイズレベルの増加を評価する評価値を算出する算出工程と、
    前記算出工程で算出された評価値に基づいて、補正後の前記第一の画素に対してノイズレベルを低減する処理を行う低減工程と、を有することを特徴とする放射線画像処理方法。
  17. コンピュータを、請求項1乃至13のいずれか1項に記載された放射線撮影装置の各手段として機能させるためのプログラム。
  18. コンピュータを、請求項14に記載された放射線画像処理装置の各手段として機能させるためのプログラム。
  19. 請求項17または18に記載されたプログラムを格納したことを特徴とするコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
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