JP5447002B2 - 磁場測定装置 - Google Patents
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Description
本発明は、センサーを立方体状に配置する必要がなく光磁気センサーにも適用できる磁場測定装置を提供する。
さらに別の好ましい態様において、前記複数のセンサー群が前記平面の上の第3の軸の軸方向と前記第3の軸に直交する第4の軸の軸方向にそれぞれ均等に配置されてもよい。
図1は、本発明の一実施形態に係る磁場測定装置1の構成を示す概略図である。磁場測定装置1は、制御装置10と、測定子20とを有する。制御装置10は、測定子20からの信号を受けてデータを記憶し、また記憶したデータを処理する装置である。測定子20は、磁場(測定対象)に応じた信号を出力する装置である。信号線30は、測定子20と制御装置10との間でやりとりされる信号を伝送する。
図13は、第2実施形態に係る測定子20の構成を示す図である。以下、第1実施形態と共通する要素には共通の参照符号が用いられる。角度変更部25は、光磁気センサー23を回転軸を中心に回転させ、角θを変化させる。回転軸は、例えば測定子20の筐体に固定されている。角度変更部25は、ステッピングモータまたは圧電素子を有し、制御装置10からの制御信号に応じて、光磁気センサー23の角度を変更する。
Claims (8)
- 測定対象となる磁場内に任意に設定される第1の軸方向の前記磁場の第1軸成分を測定する第1の光磁気センサーと、
前記第1の軸となす角がθ(0<θ<90°)である第2の軸方向の前記磁場の第2軸成分を測定する第2の光磁気センサーと
を有し、
前記第1の光磁気センサーおよび前記第2の光磁気センサーを含むセンサー群を複数有し、
前記複数のセンサー群のうち一のセンサー群における前記第1の軸が、他のセンサー群における前記第1の軸と平行になるように、前記複数のセンサー群が配置され、
前記複数のセンサー群が平面の上に配置され、
前記複数のセンサー群は、少なくとも3つのセンサー群を含む
ことを特徴とする磁場測定装置。 - 前記複数のセンサー群が前記平面の上の第3の軸の軸方向と前記第3の軸に直交する第4の軸の軸方向にそれぞれ均等に配置される
ことを特徴とする請求項1に記載の磁場測定装置。 - 前記第2の光磁気センサーを、前記第1の軸および前記第2の軸と異なる第5の軸成分を測定する方向に回転させる回転手段を有する
ことを特徴とする請求項1または2のいずれかの項に記載の磁場測定装置。 - 前記磁場が、少なくとも1つの電流源により生成されたものであり、
前記第1の光磁気センサーおよび前記第2の光磁気センサーによる測定結果から、前記電流源の数が複数であるかの判断をする判断手段を有し、
前記判断手段による判断の結果を出力する出力手段を有する
ことを特徴とする請求項1に記載の磁場測定装置。 - 前記第2の光磁気センサーを、前記第1の軸および前記第2の軸と異なる第5の軸方向の第5軸成分を測定する方向に回転させる回転手段を有し、
前記判断手段は、前記第2の光磁気センサーによる前記第2軸成分および前記第5軸成分から前記判断をする
ことを特徴とする請求項4に記載の磁場測定装置。 - 前記磁場が、少なくとも1つの電流源により生成されたものであり、
前記第1の光磁気センサーおよび前記第2の光磁気センサーによる測定結果から、前記電流源の位置の推定をする推定手段を有し、
前記推定手段による推定の結果を出力する出力手段を有する
ことを特徴とする請求項1に記載の磁場測定装置。 - 前記第2の光磁気センサーを、前記第1の軸および前記第2の軸と異なる第5の軸方向の第5軸成分を測定する方向に回転させる回転手段を有し、
前記推定手段は、前記第2の光磁気センサーによる前記第2軸成分および前記第5軸成分から前記推定をする
ことを特徴とする請求項6に記載の磁場測定装置。 - 前記第1の光磁気センサーと距離が最も近い光磁気センサーが前記第2の光磁気センサーである
ことを特徴とする請求項1ないし7のいずれか一項に記載の磁場測定装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010044954A JP5447002B2 (ja) | 2009-03-19 | 2010-03-02 | 磁場測定装置 |
US12/725,074 US8362762B2 (en) | 2009-03-19 | 2010-03-16 | Magnetic field measurement device |
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009068907 | 2009-03-19 | ||
JP2009068907 | 2009-03-19 | ||
JP2009068906 | 2009-03-19 | ||
JP2009068906 | 2009-03-19 | ||
JP2010044954A JP5447002B2 (ja) | 2009-03-19 | 2010-03-02 | 磁場測定装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013266646A Division JP5686176B2 (ja) | 2009-03-19 | 2013-12-25 | 磁場測定装置、磁場測定装置の測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010243480A JP2010243480A (ja) | 2010-10-28 |
JP5447002B2 true JP5447002B2 (ja) | 2014-03-19 |
Family
ID=42736972
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010044954A Active JP5447002B2 (ja) | 2009-03-19 | 2010-03-02 | 磁場測定装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8362762B2 (ja) |
JP (1) | JP5447002B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8600480B2 (en) * | 2009-12-31 | 2013-12-03 | Mediguide Ltd. | System and method for assessing interference to a signal caused by a magnetic field |
JP5747556B2 (ja) * | 2011-02-25 | 2015-07-15 | セイコーエプソン株式会社 | 磁場測定装置およびセルアレイ |
US9572521B2 (en) * | 2013-09-10 | 2017-02-21 | PNI Sensor Corporation | Monitoring biometric characteristics of a user of a user monitoring apparatus |
JP6231701B2 (ja) * | 2014-04-16 | 2017-11-15 | エレメント シックス テクノロジーズ リミテッド | 色中心を有するダイヤモンド基材上に圧磁または圧電素子を含むセンサ |
US11493566B2 (en) * | 2016-09-07 | 2022-11-08 | Texas Tech University System | Electric current imaging system |
US10935611B2 (en) * | 2017-07-11 | 2021-03-02 | Lockheed Martin Corporation | Magnetometer apparatus |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6296875A (ja) * | 1985-10-24 | 1987-05-06 | Natl Space Dev Agency Japan<Nasda> | 光磁力計 |
JPH01129179A (ja) * | 1987-11-13 | 1989-05-22 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 生体内磁界断層図測定装置 |
US4947107A (en) * | 1988-06-28 | 1990-08-07 | Sundstrand Corporation | Magneto-optic current sensor |
US4973899A (en) * | 1989-08-24 | 1990-11-27 | Sundstrand Corporation | Current sensor and method utilizing multiple layers of thin film magneto-optic material and signal processing to make the output independent of system losses |
JPH0381576U (ja) * | 1989-12-08 | 1991-08-20 | ||
US5477376A (en) * | 1991-06-04 | 1995-12-19 | Tdk Corporation | Optical attenuators and optical modulators employing magneto-optic element |
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JP3144928B2 (ja) * | 1991-12-19 | 2001-03-12 | 株式会社東芝 | 光センサ |
JP3202059B2 (ja) * | 1992-04-20 | 2001-08-27 | シーエイイー エレクトロニクス リミテッド | 死界のない光学的に励起されるMz磁気計 |
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JP2726218B2 (ja) | 1993-06-30 | 1998-03-11 | 株式会社島津製作所 | 3次元磁界検出コイル |
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EP2097758A2 (en) * | 2006-11-30 | 2009-09-09 | North Sensor A/S | Faraday effect current sensor |
-
2010
- 2010-03-02 JP JP2010044954A patent/JP5447002B2/ja active Active
- 2010-03-16 US US12/725,074 patent/US8362762B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2010243480A (ja) | 2010-10-28 |
US8362762B2 (en) | 2013-01-29 |
US20100237858A1 (en) | 2010-09-23 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130530 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130802 |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
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