JPS6296875A - 光磁力計 - Google Patents

光磁力計

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JPS6296875A
JPS6296875A JP23647385A JP23647385A JPS6296875A JP S6296875 A JPS6296875 A JP S6296875A JP 23647385 A JP23647385 A JP 23647385A JP 23647385 A JP23647385 A JP 23647385A JP S6296875 A JPS6296875 A JP S6296875A
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JP
Japan
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magnetic field
light
field detection
magneto
detection elements
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JP23647385A
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English (en)
Inventor
Hironobu Nishimoto
西本 博信
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National Space Development Agency of Japan
Original Assignee
National Space Development Agency of Japan
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、磁界により偏光面が回転する磁気光学効果
を有する物質を用いた光磁力計に関する。
〔従来の技術〕
従来、磁界を加えることによって偏光面が回転する磁気
光学効果と呼ばれる特性をもつ物質、例えば、鉛ガラス
等が知られている。
かかる特性をもつ物質は、偏光子と組み合わせて用い、
該物質への特定方向、例えば物質をj3遇する光の伝播
方向に磁界が印加されるように送電線の近傍に配置して
、該送電線の電流測定などに利用されている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
ところで、このような磁気光学効果物質と偏光子の組み
合わせ構成によって磁界の強度を検出することは可能で
あるが、かかる構成のみによっては、特定方向の磁界の
強度を検出できるだけであって、不特定方向の磁界強度
や磁界方向を検出することは不可能であった。更に、磁
気光学効果をもつ物質を単純な光伝搬路として偏光子と
組み合わせて用いるだけなので、微弱な磁界を検出する
ことは不可能であった。
本発明は、従来の磁気光学効果物質を用いた磁界測定手
段の上記問題点を解消するためになされたもので、微弱
な全方向の磁界の強度及びその方向を測定できるように
した小型で軽量の光(n力計を提供することを目的とす
るものである。
〔問題点を解決するための手段及び作用〕本発明は、磁
気光学効果を有する物質に、該物質内を同−入力光が繰
り返し伝搬するように多数の再入射導光器を結合してな
る磁界検出素子を、3争互いに直交するように配置し、
所定の偏光面をもつ光を前記各磁界検出素子に入射させ
、該各磁界検出素子への印加磁界によって偏光面の回転
を生じた該磁界検出素子からの各出力光を検出するよう
にして光磁力計を構成するものである。
このように構成した光磁力計における、3組の磁界検出
素子の各出力光を検出することによって、全方向の磁界
強度とその方向を容易に検出でき、また磁気光学効果を
有する物質に、該物質内を同−入力光が操り返し伝搬す
るように多数の再入射導光器を結合して磁界検出素子を
構成しているため、検出感度を向上させ微弱な磁界の測
定を行うことができる。
〔実施例] 以下、本発明の実施例について説明する。まず第1図に
基づいて本発明の詳細な説明する。今、磁気光学効果特
性をもつ物質からなる3組の磁界検出素子1,2.3を
互いに直交するように、すなわち図示のように、X−Y
平面上に磁界検出素子1、Y−Z平面上に磁界検出素子
2、Z−X平面上に磁界検出素子3をそれぞれ配置し、
これに磁界Hを印加した状態を考察する。
磁界Hの入射方向をX−Y平面上でX軸となすす角をφ
とし、X−Y平面となす角をθとすると、各磁界検出素
子1,2.3に印加される磁界のX軸成分は、cosθ
・cosφに、X軸成分はcosθ・sinφに、X軸
成分はsinθにそれぞれ比例する。
磁界Hのx、y、z各軸成分H,、Hy、H,は、Ho
をその振幅とした時、第1図から次のように表される。
Hx=Ho1cosθ’cosφ−や−φ・・1争(1
)H,=H,・cosθ・sinφ・・・・・・・・(
2)H露””Ho’Sinθ・・・・・・・・・・・・
・・・(31次に磁気光学効果をもつ物質に、該物質内
を同−入力光が繰り返し伝搬するように多数の再入射導
光器を結合して構成した磁界検出素子に入射された光の
出力光について説明する。第2図に示すように、磁気光
学効果物質にN個の再入射導光器7を結合してなる磁界
検出素子4の、光の伝搬方向に磁界H,がかかっている
とする。磁界検出素子4の入射側に、ある直線偏光成分
だけを透過させる偏光子5を配置し、そして、この偏光
子5を13遇した出力光を送導光器6を介して、磁界検
出素子4に入射する。ここで磁界検出素子4には電界強
度り、の光の直線偏光成分だけが入射したとする。磁界
検出素子4の光の伝搬方向の長さをRとし 磁界検出素
子4に繰り返し入射した光の偏光面が、磁界検出素子4
から出力する時にはδだけ回転すると1+1ば、その回
転角δは次式で表される。
δ−N・■4・Hll・R・・・・・・・・+41ここ
で、Nは磁界検出素子4を構成する6n気光学効果物質
内を、入力光を繰り返し伝搬させるために結合した再入
射導光器7の数であり、■、はベルデ定数で、物質の種
類によって異なった値をとるものである。
磁界検出素子4の出力側に受翼光器8を介して、電界強
度り、の入力光の直線偏光成分と同じ方向の直線偏光成
分だけを透過させる検光子9を配置すると、該検光子9
を透過した出力光の振幅L9は、Dを定数とすると、次
式のように表される。
L、=D −L、・cosδ・・・・・・・・・・・・
・(5)その出力光を光検出器10で検出し、その検出
電流を■とした場合、次式で表される。
1=A−D” L、”cos”δ・・・・・・・(61
但し、Aは光電流変換係数。
すなわち、検出電流■は、光の電界強度り、の2乗に比
例し、磁界検出素子4の光の伝搬方向に印加される磁界
の強度の関数であるcosδにより定まるものであり、
このcosδは任意の方向の磁界が磁界検出素子4に印
加される場合は、その強度と方向により定まるものであ
るから、印加磁界の強度と方向の関数であることがわか
る。そして一般に磁界の方向は第1図に示すように、2
つの角度成分θ、φで示されるから、磁界が任意の方向
から印加される場合は、出力電流Iは結局3つの未知数
で表されることになる。
したがって、第2図に示した如き構成の磁界検出手段を
3組用い、それらの各磁界検知素子を、第1図に示す如
く配置すると、3つの光検出器からの出力電流により磁
界強度と磁界方向とを検出することが可能となる。また
、磁界検出素子を磁気光学効果物質に多数の再入射導光
器を結合して構成し、入力光が磁気光学効果物質内を繰
り返し伝搬するように形成しているので、微弱磁界の検
出も可能となる。
次に本発明の具体的実施例について説明する。
第3図は本発明に係る光磁力計の一実施例の概略図であ
る。図において、11は光源で、該光源11からの光は
分光器12により等しく3つに分光されて、それぞれ偏
光子13を介して送導光器14に導かれる。
各送導光器14の先端は、3個の磁界検出素子15゜1
6、17の入力端にそれぞれ接続されている。各磁界検
出素子15.16.17は、磁気光学効果を有する物質
に多数の再入射導光器工8を、前記導光器14から入射
された入射光が該物質内を伝搬したのち、該再入射導光
器18を順次弁して前記物質内に繰り返し入射されるよ
うに、結合して構成されている。
そして、このように構成されている3個の磁界検出素子
15.16.17は互いに直交するように、例えば、X
−Y平面上、Y−Z平面上、及びZ−X平面上にそれぞ
れ配置されている。各磁界検出素子15、16.17の
出力端にはそれぞれ受環光器19が配置されており、そ
れらの先端はそれぞれ検光子20に接続されている。検
光子20は、受環光器19を介して伝搬された各磁界検
出素子15.16.17からの出力光のある直線偏光成
分だけを、それぞれ光検出器2L、、21..21−3
に入力させるものである。
22は該光検出器21−..21−t、 21.により
検出し変換された電気信号を受けて演算処理を行う演算
器である。
このように構成された光磁力計においては、光a11か
らの光は分光器12を通して分光され、それぞれ偏光子
13と送導光器14を介して各磁界検出素子15.16
.17に入射される。各磁界検出素子15゜16、17
に入射した光は、咳各磁界検出素子15.16゜17に
印加された磁界により偏光面が回転し、検光子20から
は偏光子13の出力とは異にした出力光が出射される。
検光子20からの出力光はそれぞれ光検出器21−= 
21−z、 21−3で電気信号に変換され、次いで、
演算器22で処理されて各磁界検出素子15゜16、1
7に印加されている磁界の強度とその方向が求められる
次に各光検出器2L、、21..2L3により得られる
検出電流rl+  Iz+  r、から、磁界の強度と
方向が求められることについて説明をする。光の電界強
度を偏光子13の出力端でL2、検光子20の出力端で
り、とじ、各出力電流11+  lx、+iが磁界検出
素子15.16.17を伝搬した光の各検光子20にお
ける出力電界強度L9の2乗に比例するとすれば、(5
)、(6)式から次式が成立する。
1、=A ′D2°1−、2・cos 2δ、・・・・
・・(7)1、=A−D”・L、Z・cos ”δア・
・・・・・(8)1 、= A−D”−Lp2・cos
”δ、 、 、 、 、 、 、 (91上記+71.
 +81. +91式におけるδイ、δア、δ2は磁界
検出素子15.16.17の偏光面回転角度で、第1図
、第2図の座標系と式(4)から次のように表される。
δ、=N・■、・H8・R・・・・・・・・・・(10
)δy =N ’ V a・Hア・R・・・・・・・・
自(11)δ−−N ’ V a・H,−R・・・・自
・・・・(12)(10)、 (11)、 (12)弐
及び(1)、 (2)、 (3)弐を(7)。
(8)、 (9)式に代入すると次式が得られる。
I+=A−Dt−Lp” ・cos” (N ・Va 
・Hy+ ・R)−B 0cos” (C3Ha 8c
osθ’ cosφ)・・・・・・・・・・(13) 1!=A−D” Lp”cos” (N ・Vd−H,
−R)=B −cos” (C−Ho・cosθ・si
nφ)・・・・・・・・・・(14) Is=A−D” L、2・cos” (N ・V、・H
,−R)−B −cos” (C−Ha ・sinθ)
、、、、、、、、、(15)但し、B=A−D”・L、
I C−V a・N−R したがって、未知数は磁界強度H0と2つの角度θ、φ
となり、これらは測定可能な出力電流値11+  11
+  13から演算処理により求めることができる。
〔発明の効果〕
以上、実施例に基づいて説明したように本発明によれば
、磁気光学効果を有する物質に、該物質内を同−入力光
が操り返し伝搬するように多数の再入射導光器を結合し
てなる3組の磁界検出素子を、互いに直交するように配
置し、所定の偏光面をもつ光を前記各磁界検出素子に入
力させ、該各磁界検出素子からの所定の偏光面をもつ出
力光を検出して磁界を測定するように構成したので、小
型、軽量で簡単な構成により全方向のしかも微弱な磁界
の強度及び方向を測定することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の詳細な説明するための説明図、第2
図は、磁気光学効果を有する物質からなる磁界検出素子
により磁界を検出する手段を示す概略図、第3図は、本
発明に係る光磁力計の一実施例を示す概略図である。 図において、1,2,3.4は磁気光学効果を有する物
質からなる磁界検出素子、5は偏光子、6は送導光器、
7は再入射導光器、8は受翼光器、9は検光子、10は
光検出器を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 磁界によって偏光面が回転する磁気光学効果を有する物
    質に、該物質内を同一入力光が繰り返し伝搬するように
    多数の再入射導光器を結合してなる磁界検出素子を、3
    組互いに直交するように配置し、所定の偏光面をもつ光
    を前記各磁界検出素子に入射させ、該磁界検出素子から
    所定の偏光面をもつ各出力光を検出することにより、微
    弱な磁界の強度と方向を測定するように構成したことを
    特徴とする光磁力計。
JP23647385A 1985-10-24 1985-10-24 光磁力計 Pending JPS6296875A (ja)

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JP23647385A JPS6296875A (ja) 1985-10-24 1985-10-24 光磁力計

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010243480A (ja) * 2009-03-19 2010-10-28 Seiko Epson Corp 磁場測定装置
JP2014062916A (ja) * 2009-03-19 2014-04-10 Seiko Epson Corp 磁場測定装置、磁場測定装置の測定方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS561370A (en) * 1979-06-18 1981-01-09 Tech Res & Dev Inst Of Japan Def Agency Magnetometer
JPS57120871A (en) * 1981-01-20 1982-07-28 Toshihiko Yoshino Magnetic field measuring device
JPS5984170A (ja) * 1982-11-05 1984-05-15 Hitachi Ltd ベクトル磁束計

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS561370A (en) * 1979-06-18 1981-01-09 Tech Res & Dev Inst Of Japan Def Agency Magnetometer
JPS57120871A (en) * 1981-01-20 1982-07-28 Toshihiko Yoshino Magnetic field measuring device
JPS5984170A (ja) * 1982-11-05 1984-05-15 Hitachi Ltd ベクトル磁束計

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010243480A (ja) * 2009-03-19 2010-10-28 Seiko Epson Corp 磁場測定装置
JP2014062916A (ja) * 2009-03-19 2014-04-10 Seiko Epson Corp 磁場測定装置、磁場測定装置の測定方法

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