JPS6296874A - 光フアイバ磁力計 - Google Patents

光フアイバ磁力計

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JPS6296874A
JPS6296874A JP23647285A JP23647285A JPS6296874A JP S6296874 A JPS6296874 A JP S6296874A JP 23647285 A JP23647285 A JP 23647285A JP 23647285 A JP23647285 A JP 23647285A JP S6296874 A JPS6296874 A JP S6296874A
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JP
Japan
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magnetic field
light
optical fiber
field detection
elements
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Pending
Application number
JP23647285A
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English (en)
Inventor
Hironobu Nishimoto
西本 博信
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National Space Development Agency of Japan
Original Assignee
National Space Development Agency of Japan
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、磁界により偏光面が回転する磁気光学効果
を有する物質からなる光ファイバを用いた光ファイバ磁
力計に関する。
〔従来の技術〕
従来、磁界を加えることによって偏光面が回転する磁気
光学効果と呼ばれる特性をもつ物質、例えば、鉛ガラス
等が知られている。
かかる特性をもつ物質は、偏光子と組み合わせて用い、
該物質への特定方向、例えば物質を透過する光の伝播方
向に磁界が印加されるように送電線の近傍に配置して、
該送電線の電流測定などに利用されている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
ところで、このような磁気光学効果物質と偏光子の組み
合わせ構成によって磁界の強度を検出することは可能で
あるが、かかる構成のみによっては、特定方向の磁界の
強度を検出できるだけであって、不特定方向の磁界強度
や磁界方向を検出することは不可能であった。更に、磁
気光学効果をもつ物質を単純な光伝搬路として偏光子と
組み合わせて用いるだけなので、微弱な磁界を検出する
ことは不可能であった。
本発明は、従来の磁気光学効果物質を用いた磁界測定手
段の上記問題点を解消するためになされたもので、微弱
な全方向の磁界の強度及びその方向を測定できるように
した小型で軽量の光ファイバ磁力針を提供することを目
的とするものである。
〔問題点を解決するための手段及び作用〕本発明は、磁
気光学効果を有する物質からなる光ファイバを多数回巻
回して形成した磁界検出素子を、3&lI互いに直交す
るように配置し、所定の偏光面をもつ光を前記各磁界検
出素子に入射させ、該各磁界検出素子への印加磁界によ
って偏光面の回転を生じた該磁界検出素子からの各出力
光を検出するようにして光ファイバ磁力計を構成するも
のである。
このように構成した光ファイバ磁力計における、3組の
磁界検出素子の各出力光を検出することによって、全方
向の磁界強度とその方向を容易に検出でき、また磁気光
学効果を有する物質からなる光ファイバを多数回巻回し
て磁界検出素子を構成しているため、検出感度を向上さ
せ微弱な磁界の測定を行うことができる。
〔実施例〕 以下、本発明の実施例について説明する。まず第1図に
基づいて本発明の詳細な説明する。今、磁気光学効果特
性をもつ物質からなる光ファイバを多数回巻回して形成
した3mの磁界検出素子1゜2.3を互いに直交するよ
うに、すなわち図示のように、X−Y平面上に磁界検出
素子1、Y−Z平面上に磁界検出素子2、Z−X平面上
に磁界検出素子3をそれぞれ配置し、これに磁界Hを印
加した状態を考察する。
磁界Hの入射方向をX−Y平面上でX軸となすす角をφ
とし、X−Y平面となす角をθとすると、各磁界検出素
子1.2.3に印加される磁界のX軸成分は、cosθ
・cosφに、Y軸成分はCO3θ・sinφに、X軸
成分はsinθにそれぞれ比例する。
磁界HのX、Y、Z各軸成分H,、Hア、H2は、Ho
をその振幅とした時、第1図から次のように表される。
Hx=H,−cosθ−cosφ・・・・・・・・(1
)H,=H,−cosθ・sinφ・、 、 、 ・・
・・f21H寞=H6−sinθ・・・・・・・・・・
・・・・・(31次に磁気光学効果をもつ光ファイバで
構成した磁界検出素子に入射された光の出力光について
説明する。第2図に示すように、半径Rの円周上にN回
巻回した光ファイバ束からなる磁界検出素子4の円周の
なす平面と平行に、磁界H,がかかっているとする。光
ファイバ束からなる磁界検出素子4の入射側に、ある直
線偏光成分だけを透過させる偏光子5を配置し、そして
、この偏光子5を透過した出力光を送導光器6を介して
、磁界検出素子4に入射する。ここで磁界検出素子4に
は電界強度LPの光の直線偏光成分だけが入射したとす
る。磁界検出素子4を構成する光ファイバ束内の光の伝
搬方向が磁界H,の方向と同じ方向の長さ、すなわち光
ファイバ束の長さの磁界方向成分は、2・N−Rとなり
、また、光ファイバ束内の光の伝搬方向が磁界方向と真
反対になっている部分の長さ、すなわち光ファイバ束の
長さの磁界反対方向成分は同じく2・N−Rとなる。光
が光ファイバ束中を磁界方向に長さ2・N−Hに亘って
伝搬した時に、磁界により回転させられる偏光面の回転
角と、光が光ファイバ束中を磁界方向と真反対方向に2
・N−R伝搬した時に磁界により回転させられる偏光面
の回転角とは、その大きさと回転方向が加算されるよう
に作用する。したがって、光ファイバ束からなる磁界検
出素子4に入射した光の偏光面が、磁界検出素子4から
出力する時にはδだけ回転するとすれば、その回転角δ
は次式で表される。
δ= 4− H,−N −R−V、・−・−・−・+4
1ここで、■4はベルデ定数で、物質の種類によって異
なった値をとる。
磁界検出素子4の出力側に光導光器7を介して、電界強
度L2の入力光の直線偏光成分と同じ方向の直線偏光成
分だけを透過させる検光子8を配置すると、該検光子8
を透過した出力光の振幅り。
は、Dを定数とすると、次式のように表される。
L、=D −L、・cosδ・・・・・・・・・・・・
・(5)その出力光を光検出器9で検出し、その検出電
流を■とした場合、次式で表される。
I=A−D2・L、x・cos2δ・・・・・・・(6
)但し、Aは光電流変換係数。
すなわち、検出電流■は、光の電界強度り、の2乗に比
例し、光ファイバ束からなる磁界検出素子4に平行に印
加される磁界の強度の関数であるcosδにより定まる
ものであり、このcosδは任意の方向の磁界が磁界検
出素子4に印加される場合は、その強度と方向により定
まるものであるから、印加磁界の強度と方向の関数であ
ることがわかる。
そして一般に磁界の方向は第1図に示すように、2つの
角度成分θ、φで示されるから、磁界が任意の方向から
印加される場合は、出力電流■は結局3つの未知数で表
されることになる。
したがって、第2図に示した如き構成の磁界検出手段を
3組用い、それらの各光ファイバ束からなる磁界検知素
子を、第1図に示す如く配置すると、3つの光検出器か
らの出力電流により磁界強度と磁界方向とを検出するこ
とが可能となる。
次に本発明の具体的実施例について説明する。
第3図は本発明に係る光ファイバ磁力計の一実施例の概
略図である0図において、10は光源で、該光源10か
らの光は分光器11により等しく3つに分光されて、そ
れぞれ偏光子12を介して送導光器13に導かれる。各
送導光器13の先端は、磁気光学効果を有する光ファイ
バ束からなる3個の磁界検出素子14.15.16の入
力端にそれぞれ接続されている。各磁界検出素子14.
15.16は互いに直交するように、例えば、X−Y平
面上、Y−X平面上。
及びZ−X平面上にそれぞれ配置されている。そして、
各磁界検出素子14.15.16の出力端にはそれぞれ
光導光器17が配置されており、それらの先端はそれぞ
れ検光子18に接続されている。検光子18は、光導光
器17を介して伝播された各磁界検出素子14.15.
16からの出力光のある直線偏光成分だけを、それぞれ
光検出器19−1.19−z、 19−3に入力させる
ものである。 20は該光検出器19−1.19−g+
19− sにより検出し変換された電気信号を受けて演
算処理を行う演算器である。
このように構成された光ファイバ磁力計においては、光
源lOからの光は分光器11を通して分光され、それぞ
れ偏光子12と送導光器13を介して各磁界検出素子1
4.15.16に入射される。各磁界検出素子14.1
5.16に入射した光は、該各磁界検出素子14.15
.16に印加された磁界により偏光面が回転し、検光子
18からは偏光子12の出力とは異にした出力光が出射
される。検光子18からの出力光はそれぞれ光検出器I
L1.19−2.19−xで電気信号に変換され、次い
で、演算器20で処理されて各磁界検出素子14.15
.16に印加されている磁界の強度とその方向が求めら
れる。
次に各光検出器1!L、、 19−z+ 19−iによ
り得られる構出電流1+、Iz、l*から、磁界の強度
と方向が求められることについて説明をする。光の電界
強度を偏光子12の出力端でり2、検光子18の出力端
でL9とし、各出力電流Tz  Iz、+sが磁界検出
素子14.15.16を伝播した光の各検光子18にお
ける出力電界強度Lqの2乗に比例するとすれば、+5
)、 +61弐から次式が成立する。
I+=A−D”−L、”・cos”δI −・・−・、
 +711、=A−D”°L、Z・cos ”δ2・・
・・・・(8)I 3= A−D” ・Lp”−cos
”δ、 、 、 、 、 、 、 (91上記+7]、
 +81. +91弐におけるδ1 δ2.δ3は磁界
検出素子14.15.16の偏光面回転角度で、第1図
、第2図の座標系と弐(4)から次の行列で表される。
但し、Rx+、Ry+、R□はそれぞれ磁界検出素子1
4を構成する光ファイバ束のX軸成分、Y軸成分、X軸
成分の長さ、R,g、R□rRMtはそれぞれ磁界検出
素子15を構成する光ファイバ束のX軸成分、Y軸成分
、X軸成分の長さ、RX3+  RVff+R,3はそ
れぞれ磁界検出素子16を構成する光ファイバ束のX軸
成分、Y軸成分、X軸成分の長さで、次式で表される。
Rx、= 4− N −R・・−・・−(11)R,、
=4・N−R・・・・・・(12)R,、−0・・・・
・・・・・・・・・・(13)R,2=O・・・・・・
・・・・・・・・(14)Ryz=4・N−R・・・・
・・(15)R0=4・N−R・・・・・・(16)R
−s=4°N−R・・・・・・(17)R,3=O・・
・・・・・・・・・・・・(1日)Ro−4・N−R・
・・・・・(19)(71,(81,(91式に(11
,(21,(31式及び01式から(19)式までを代
入すると次式が得られる。
[+=A−D”L、”cos” (V。
・ (RXI −H,+R□・)(y+IL+・H,)
)=B−CO32(C−Ho・CO8θ(cosφ+s
inφ))・・・・・・・・・・(20) Ig=A−D”・L、”−CO3” (V4・(Rxz
−Hx+Ryz HHy + Rsz−HJ )=B 
−cos” (C−H,・(cosθsinφ+sin
θ))・・・・・・・・・・(21) It−A−D”LP”cos”[Va ・(HX3−HX” RF3 ・Hy + RII3 
・Hg) 1− B ′cos” [CHo 1(co
sθcosφ+sinθ))・・・・・・・・・・(2
2) 但し、B = A −D ” −L 、”・・・・・−
・−(23)C−4・v−・N−R・・・・・・・・(
24)したがって、未知数は磁界強度H0と2つの角度
θ、φとなり、これらは測定可能な出力電流値11+ 
 TZ+  tffから演算処理により求めることがで
きる。
〔発明の効果〕
以上、実施例に基づいて説明したように本発明によれば
、磁気光学効果を有する物質からなる光ファイバ束で形
成された3組の磁界検出素子を互いに直交するように配
置し、所定の偏光面をもつ光を前記各磁界検出素子に入
力させ、該各磁界検出素子からの所定の偏光面をもつ出
力光を検出して磁界を測定するように構成したので、小
型、軽量で簡単な構成により全方向のしかも微弱な磁界
の強度及び方向を測定することができる。
また、各磁界検出素子は磁気光学効果を存する物質から
なる光ファイバを単に多数回巻回して一体的に形成でき
るので、容易に製作することが可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の詳細な説明するための説明図、第2
図は、磁気光学効果を有する光ファイバ束からなる磁界
検出素子により磁界を検出する手段を示す概略図、第3
図は、本発明に係る光ファイバ磁力計の一実施例を示す
概略図である。 図において、1,2.3.4は磁気光学効果を有する光
ファイバ束からなる磁界検出素子、5は偏光子、6は送
導光器、7は受環光器、8は検光子、9は光検出器を示
す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 磁界によって偏光面が回転する磁気光学効果を有する物
    質からなる光ファイバを多数回巻回して形成した磁界検
    出素子を、3組互いに直交するように配置し、所定の偏
    光面をもつ光を前記各磁界検出素子に入射させ、該磁界
    検出素子から所定の偏光面をもつ各出力光を検出するこ
    とにより、微弱な磁界の強度と方向を測定するように構
    成したことを特徴とする光ファイバ磁力計。
JP23647285A 1985-10-24 1985-10-24 光フアイバ磁力計 Pending JPS6296874A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63197326U (ja) * 1987-06-08 1988-12-19

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS561370A (en) * 1979-06-18 1981-01-09 Tech Res & Dev Inst Of Japan Def Agency Magnetometer
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JPS5984170A (ja) * 1982-11-05 1984-05-15 Hitachi Ltd ベクトル磁束計

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