JPS5984170A - ベクトル磁束計 - Google Patents
ベクトル磁束計Info
- Publication number
- JPS5984170A JPS5984170A JP19348782A JP19348782A JPS5984170A JP S5984170 A JPS5984170 A JP S5984170A JP 19348782 A JP19348782 A JP 19348782A JP 19348782 A JP19348782 A JP 19348782A JP S5984170 A JPS5984170 A JP S5984170A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic
- magnetic field
- measurement
- angled
- section
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/02—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
- G01R33/032—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using magneto-optic devices, e.g. Faraday or Cotton-Mouton effect
- G01R33/0322—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using magneto-optic devices, e.g. Faraday or Cotton-Mouton effect using the Faraday or Voigt effect
Landscapes
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- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は光ファイバと光の偏波面の回転能（ファラデー
回転能）を利用した磁束計に係シ、特に磁束密度の大き
さのみでなく、その方向をも同時に測定可能なベクトル
磁束計に関する。
回転能）を利用した磁束計に係シ、特に磁束密度の大き
さのみでなく、その方向をも同時に測定可能なベクトル
磁束計に関する。
従来の磁束計は、磁束密度の大きさの測定を主目的とし
ておシ、磁束密度の方向をも検知しようとする場合には
、たとえば、単一の測定器のみの場合は、同一点で磁界
検出部を回転しながら多数 −回の測定を行うか、複
数個の測定器を用意し、測一定点で、各磁界検出部をｔ
ｌは直交させて測定していた。このため、測定が煩雑と
なったシ、測定誤差を生じたりし、特に、狭い場所での
測定は、断念しなければならない欠点があった。
ておシ、磁束密度の方向をも検知しようとする場合には
、たとえば、単一の測定器のみの場合は、同一点で磁界
検出部を回転しながら多数 −回の測定を行うか、複
数個の測定器を用意し、測一定点で、各磁界検出部をｔ
ｌは直交させて測定していた。このため、測定が煩雑と
なったシ、測定誤差を生じたりし、特に、狭い場所での
測定は、断念しなければならない欠点があった。
本発明の目的は磁束密度の大きさと方向を同時に、かつ
簡便に測定できる、光ファイバとファラデー回転材料を
用いたベクトル磁束計を提供することにある。
簡便に測定できる、光ファイバとファラデー回転材料を
用いたベクトル磁束計を提供することにある。
上記目的を達成するために、磁界検出部に、少なくとも
１つの直角偏光ビームスプリッタ偏光子、少なくとも２
枚の検光子、および少なくとも２枚の７アラデ一回転能
を有し、ファラデー回転能を有する媒質として、光の進
行方向に磁化されてなる磁性ガーネット薄膜を使用し、
かつ少なくとも２枚の該磁性ガーネット薄膜を各々、偏
光子、検光子間に少なくとも１枚ずつ、両者が直交する
ように配置する。磁界検出部が磁界内に挿入されると、
該磁性ガーネット薄膜では、各々の磁化方向の磁界の大
きさに応じてファラデー回転が起るので、光学的に方向
まで含めた磁束測定、すなわち、磁束のベクトル測定を
可能となる。
１つの直角偏光ビームスプリッタ偏光子、少なくとも２
枚の検光子、および少なくとも２枚の７アラデ一回転能
を有し、ファラデー回転能を有する媒質として、光の進
行方向に磁化されてなる磁性ガーネット薄膜を使用し、
かつ少なくとも２枚の該磁性ガーネット薄膜を各々、偏
光子、検光子間に少なくとも１枚ずつ、両者が直交する
ように配置する。磁界検出部が磁界内に挿入されると、
該磁性ガーネット薄膜では、各々の磁化方向の磁界の大
きさに応じてファラデー回転が起るので、光学的に方向
まで含めた磁束測定、すなわち、磁束のベクトル測定を
可能となる。
以下、本発明の一実施例を第１図にょシ説明する。第１
図において、磁束計は、光源部Ａ１磁界検出部Ｂ１計測
部Ｃ１光伝送部りよシなる。光源部Ａでは電源１によシ
、発光ダイオード２が励起され、波長０．８μｍ１出力
６０ｍＷのランダム偏光の光が発射される。光源部よシ
出た光は、プラスチッククランド、石英光ファイバ１０
−１によシ磁界検出部Ｂに導かれる。磁界検出部では、
ロッドレンズ３−１によシ光束径が広げられ、直角偏光
プリズム４で、直角な２方向の偏光光束に分離され、各
々磁性ガーネッ、ト薄膜５−１．５−２に導かれる。磁
性ガーネット薄膜では、測定点の磁束の各方向成分の大
きさに応じた７アラデ一回転が起シ、その７アラデ一回
転を検出する意図で、検光子６−１．６−２が使用され
る。その出力光は、直角プリズム７−１．７〜２および
７−３によシ、ロッドレンズ３−２．３−３に導かれ、
再び集束されて、光ファイバ１０−２．１０−３で、ｇ
１測部Ｃに送られる。磁界検出部において、直角プリズ
ム偏光子４からの２出射光の強度は、はぼ同程度で、偏
光子と検光子のなす角は、ともに４５°としである。計
測部Ｃでは、入射光がＰＩＮフォトダイオード８−１．
８−２によシミ気信号に変換されて、表示回路９−１．
９−２により磁束の大きさに応じた光強度として表示さ
れる。
図において、磁束計は、光源部Ａ１磁界検出部Ｂ１計測
部Ｃ１光伝送部りよシなる。光源部Ａでは電源１によシ
、発光ダイオード２が励起され、波長０．８μｍ１出力
６０ｍＷのランダム偏光の光が発射される。光源部よシ
出た光は、プラスチッククランド、石英光ファイバ１０
−１によシ磁界検出部Ｂに導かれる。磁界検出部では、
ロッドレンズ３−１によシ光束径が広げられ、直角偏光
プリズム４で、直角な２方向の偏光光束に分離され、各
々磁性ガーネッ、ト薄膜５−１．５−２に導かれる。磁
性ガーネット薄膜では、測定点の磁束の各方向成分の大
きさに応じた７アラデ一回転が起シ、その７アラデ一回
転を検出する意図で、検光子６−１．６−２が使用され
る。その出力光は、直角プリズム７−１．７〜２および
７−３によシ、ロッドレンズ３−２．３−３に導かれ、
再び集束されて、光ファイバ１０−２．１０−３で、ｇ
１測部Ｃに送られる。磁界検出部において、直角プリズ
ム偏光子４からの２出射光の強度は、はぼ同程度で、偏
光子と検光子のなす角は、ともに４５°としである。計
測部Ｃでは、入射光がＰＩＮフォトダイオード８−１．
８−２によシミ気信号に変換されて、表示回路９−１．
９−２により磁束の大きさに応じた光強度として表示さ
れる。
磁性薄膜としては、（Ｙｏ、ｔ ５ｆＱ）、３Ｊ、０１
．。Ｃａｏ、５Ｏｄｏａ）（Ｆｅ４．ｚ Ｇａｏ、ｓ
） ０１ｓよシ成る、片面１５μｍで、ストライプ磁区
の消減磁界が約１０００ｅの磁性ガーネット薄膜を、厚
み０．３５＋ｗのガドリニウム・ガリウム・ガーネット
Ｇｄｌ Ｇａｓ Ｏｔｚの両面に、磁化方向が上記面に
垂直となるように液相成長法によって形成したものを各
２枚ずつ用いた。
．。Ｃａｏ、５Ｏｄｏａ）（Ｆｅ４．ｚ Ｇａｏ、ｓ
） ０１ｓよシ成る、片面１５μｍで、ストライプ磁区
の消減磁界が約１０００ｅの磁性ガーネット薄膜を、厚
み０．３５＋ｗのガドリニウム・ガリウム・ガーネット
Ｇｄｌ Ｇａｓ Ｏｔｚの両面に、磁化方向が上記面に
垂直となるように液相成長法によって形成したものを各
２枚ずつ用いた。
表示回路９−１．９−２は、無信号時一定値を表示して
おシ、磁界の大きさに応じて、その値が増減し、各成分
の符号を含めた大きさが測定できる。
おシ、磁界の大きさに応じて、その値が増減し、各成分
の符号を含めた大きさが測定できる。
電磁石に直流電流を流し、その近傍にて、磁束のベクト
ル測定を、本発明の磁束計を用いて行ったところ、理論
どおシの磁束分布が測定でき、本発明の有用性が確認で
きた。
ル測定を、本発明の磁束計を用いて行ったところ、理論
どおシの磁束分布が測定でき、本発明の有用性が確認で
きた。
本実施例では、平面内のベクトル測定について述べたが
、必要に応じて、立体的なベクトル測定も可能である。
、必要に応じて、立体的なベクトル測定も可能である。
たとえば、磁界検出部に直角偏光ビームスプリッタ偏光
子を２個用意し、その出力光の方向がｘ、ｙ、ｚ軸とな
るようにして、本実施例と全く同様にして立体的な磁束
のベクトル測定を行えばよい。
子を２個用意し、その出力光の方向がｘ、ｙ、ｚ軸とな
るようにして、本実施例と全く同様にして立体的な磁束
のベクトル測定を行えばよい。
本発明によれば、一台の磁束計で、磁束密度の大きさと
その方向を瞬時に測定できる効果がある。
その方向を瞬時に測定できる効果がある。
第１図は、本発明の実施例を示す構成図である。
ｌ・・・電源、２・・・発光ダイオード、３−１．３−
２゜３−３・・・ロッドレンズ、４・・・直角偏光ビー
ムスプリッタ偏光子、５−１．５−２・・・磁性ガーネ
ット薄膜、６−１．６−２・・・検光子、７−１．７−
２゜７−３・・・直角ブリジム、８−１．８−２・・・
ＰＩＮフォトダイオード、９−１．９−２・・・表示回
路、１０−１．１０−２．１０−３・・・光ファイバ。
２゜３−３・・・ロッドレンズ、４・・・直角偏光ビー
ムスプリッタ偏光子、５−１．５−２・・・磁性ガーネ
ット薄膜、６−１．６−２・・・検光子、７−１．７−
２゜７−３・・・直角ブリジム、８−１．８−２・・・
ＰＩＮフォトダイオード、９−１．９−２・・・表示回
路、１０−１．１０−２．１０−３・・・光ファイバ。
Claims (1)
- １、光源部、ファラデー回転能を有する媒質を有する磁
界検出部、該検出部からの光を計測する計測部、ならび
に該光源部と該検出部および該計測部を光学的に結合す
る光伝送部からなる磁束計において、磁界検出部に、少
なくとも１つの直角偏光ビームスプリンタ偏光子、少な
くとも２つの検光子、および少なくとも２つのファラデ
ー回転能を有する媒質を有し、ファラデー回転能を有す
る媒質として、光の進行方向に磁化されてなる磁性ガー
ネット薄膜を使用し、かつ少なくとも２枚の該磁性ガー
ネット薄膜を各々、偏光子、検光子間に少なくとも１枚
ずつ、両者が直光するように配置することにより磁束の
ベクトル測定を可能ならしめたことを特徴とするベクト
ル磁束計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19348782A JPS5984170A (ja) | 1982-11-05 | 1982-11-05 | ベクトル磁束計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19348782A JPS5984170A (ja) | 1982-11-05 | 1982-11-05 | ベクトル磁束計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5984170A true JPS5984170A (ja) | 1984-05-15 |
Family
ID=16308846
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19348782A Pending JPS5984170A (ja) | 1982-11-05 | 1982-11-05 | ベクトル磁束計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5984170A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6296874A (ja) * | 1985-10-24 | 1987-05-06 | Natl Space Dev Agency Japan<Nasda> | 光フアイバ磁力計 |
| JPS6296875A (ja) * | 1985-10-24 | 1987-05-06 | Natl Space Dev Agency Japan<Nasda> | 光磁力計 |
-
1982
- 1982-11-05 JP JP19348782A patent/JPS5984170A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6296874A (ja) * | 1985-10-24 | 1987-05-06 | Natl Space Dev Agency Japan<Nasda> | 光フアイバ磁力計 |
| JPS6296875A (ja) * | 1985-10-24 | 1987-05-06 | Natl Space Dev Agency Japan<Nasda> | 光磁力計 |
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