JP5430144B2 - 基板の製造方法および太陽電池素子 - Google Patents

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本発明は基板の製造方法および太陽電池素子に関する。
従来、太陽電池素子などをはじめとする半導体基板を作製する場合、インゴットを所定の寸法に切断してブロック状にし、ブロックを接着剤にてスライスベースに接着した後、ワイヤーソー装置などを用いて複数枚に切断して基板を製造していた。
厚さ精度のよい基板を得るために、例えば、特許文献1には初期の切断時の被加工物の送り出し速度(フィード速度)を定常状態での切断時の被加工物の送り出し速度の1.5倍〜4倍とする方法が記載されている。
なお、基板厚みの管理として、基板端部から10mm以上内側の部分を数点測定して基板厚みを管理することが一般的であった。
特開平6−155278号公報
近年、太陽電池に用いられる基板は厚みが薄型化されており、カーフロス(切断代)を少なくするために線径の小さいワイヤーが用いられる。このとき、ブロックは、中央部分に比べて切断が終了する側の端部において、厚みがばらついて切断されやすいという問題があった。特に、基板の端部の厚みが、基板全体の平均厚みと異なる場合、太陽電池素子の素子工程において、割れやクラック等が発生し歩留まりを低下させる問題があった。
本発明は、このような問題に鑑みてなされたものであり、厚み精度が向上した基板の製造方法を提供することを目的とする。
本発明の基板の製造方法は、第一の面と、ベースに接着された前記第一の面の裏側の第二の面とを有するブロックを準備する工程と、前記第一の面にワイヤーを進め、前記ブロックの切断を開始する工程と、前記ブロックの中心部分を、第一の速度で走行するワイヤーにより切断する工程と、前記第一の速度で前記ブロックを切断した後、前記中心部分より前記第二の面側の前記ブロックを、前記第一の速度より遅い第二の速度で走行するワイヤーにより切断する工程と、を有し、前記ブロックを前記ワイヤーに向けて移動させるフ
ィード速度を、前記ブロックの前記中心部分の切断時よりも、前記中心部分より前記第二の面側の切断時に遅くすることを特徴とする。
本発明の太陽電池素子は、上述の製造方法により製造されたシリコンからなる基板と、前記基板に形成された半導体接合領域と電極と、を有する。
本発明は、上述した工程により、厚みばらつきが低減された基板を製造することができる。特に、基板の端部(切断終了部分)の厚みが基板全体の平均厚みとほぼ同じ厚みとなり、基板を太陽電池素子として用いる場合、太陽電池素子の素子工程における割れやクラック等の発生による歩留まり低下が生じにくい。
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて詳細に説明する。
(第1の実施形態)
本実施形態の基板の製造方法は、第一の面1sと、ベース2に接着された第一の面1sの裏側の第二の面1tとを有するブロック1を準備する工程と、第一の面1sにワイヤーを進め、ブロック1の切断を開始する工程と、ブロック1の中心部分を、第一の速度で走行するワイヤー3により切断する工程と、第一の速度でブロック1を切断した後、中心部分より第二の面1t側のブロックを、第一の速度より遅い第二の速度で走行するワイヤー3により切断する工程と、を有する。ここで、本実施形態において、ブロック1の中心部分を切断するワイヤーの走行速度(第一の速度)、切削液の供給流量、フィード速度とは、定常状態で切断している際の速度、流量であり、第一の面1sから第二の面1tまでの長さをaとしたとき、第一の面1sから1/3a以上2/3a未満の範囲を切断するときにおける平均速度、平均流量を意味することとする。また、第一の速度で切断されたブロックの第二の面1t側を切断するワイヤーの走行速度(第二の速度)、切削液の供給流量、フィード速度とは、2/3a以上17/20a未満の範囲における最低速度、最低流量を意味することとする。
ブロック1はインゴットの端部を切断することで形成される。このようなインゴットは、例えば、単結晶シリコンや、多結晶シリコンからなる。例えば、単結晶シリコンのインゴットが用いられた場合、単結晶シリコンインゴットは円柱形状であるため、高さ方向に四箇所の端部を切断することにより、断面形状が略矩形(正方形を含む)のシリコンブロックを得ることができる。なお、上記断面形状において角部が円弧状を有するものも矩形とみなすこととする。また、多結晶シリコンインゴットは一般的に略直方体で、複数本のシリコンブロックを取り出すことができる大きさを有しており、シリコンブロックは断面形状が矩形(正方形を含む)で、例えば156×156×300mmの直方体に形成される。なお、上記断面形状において角部が面取りされたものも矩形とみなすこととする。
図1は、本実施形態に係る基板の製造方法で使用するワイヤーソー装置を示す斜視図である。図1に示す構成において、走行するワイヤー3とスライスベース2に固定された角型のブロック1とを押し当てて、ワイヤー3によってブロック1を切断し、基板を製造する。
ブロック1は、カーボン材もしくはガラス、樹脂等の材質からなるスライスベース2上に接着剤などによって接着される。接着剤としては熱硬化型二液性のエポキシ系や、アクリル系・リアクレート系またはワックスなどの接着剤からなり、スライス後、基板1aをスライスベース2から剥離しやすくするために、温度を上げることで接着力が低下する接着剤が用いられる。
そして、スライスベース2に接着されたブロック1はワークホルダーにより装置内に1本又は複数本配置される。図1においては2本配置されている。
本実施形態においては砥粒を含む切削液を供給することによってワイヤー3のラッピング作用でブロック1を切断する遊離砥粒タイプのワイヤーソー装置が用いられる。
ワイヤーソー装置のワイヤー3は、メインローラー5に巻かれており、例えば鉄または鉄合金を主成分とするピアノ線を用いればよく、線径は100μm〜180μm、より好ましくは140μm以下である。
切削液は、例えば炭化珪素、アルミナ、ダイヤモンド等の砥粒、鉱物油、界面活性剤及び分散剤からなるラッピングオイルを混合して構成され、複数の開口部を有する供給ノズル4より複数本に張られたワイヤー3に切削液が供給される。砥粒の平均粒径としては、例えば5μm〜20μmで粒度分布が狭いものが用いられる。供給ノズル4に供給する切削液の供給流量はブロックの大きさや本数によって適宜設定される。また、切削液を循環して使用してもよく、その際に新しい砥粒を追加供給するようにしても構わない。
メインローラー5は、例えば、エステル系やエーテル系・尿素系のウレタンゴムやニューライト等の樹脂からなり、直径150〜500mm、長さ200〜1000mm程度のである。メインローラー5の表面には、ワイヤー供給リール7から供給されたワイヤー3を所定間隔に配列させるための多数の溝部が設けられている。この溝部の間隔とワイヤー3の直径との関係によって、基板の厚みが定まる。
ディップ槽6は、切断時に発生するブロックの屑や切削液の回収を目的としてワイヤー3の下方に設けられる。
以下に、ワイヤーソー装置を用いた本実施形態のスライス方法について説明する。
(ア)まず、複数列に設けられたワイヤー3と、ブロック1とを準備する。
(イ)次に、ブロック1の第一の面1sに対し走行するワイヤー3を進め、ブロック1の切断を開始する。
(ウ)その後、第一の速度で走行するワイヤー3により、ブロック1の中心部分を切断する。
(エ)そして、第一の速度より遅い第二の速度で走行するワイヤー3により、第一の速度で切断されたブロック1を続けて切断する。
上記工程(ア)について説明する。
ワイヤー3はワイヤー供給リール7から供給され、メインローラー5に巻きつけて所定間隔に配列している。メインローラー5が所定の回転速度で回転させることによって、ワイヤー3の長手方向にワイヤー3を走行させることができる。ワイヤー3を往復走行させずに一方向走行させる場合、ワイヤー3を回転させる主軸を駆動させるモーターの負荷を減らし装置寿命を延ばすことができる。
上記工程(イ)〜(エ)について説明する。
ブロック1の切断は、切断部近傍に設けられた供給ノズル4より、走行しているワイヤー3に向かって切削液を供給しながら、ブロック1を下降させて、ワイヤー3にブロック1の第一の面1sを相対的に押圧することによりなされる。ブロック1は、例えば厚さ200μm以下の複数枚の基板1aに分割される。このとき、ワイヤー3の張力、ワイヤー3
が走行する速度(走行速度)、ブロックを下降させる速度(フィード速度)は適宜制御されている。
本実施形態においては遊離砥粒タイプのワイヤーソー装置を用いてワイヤー3を一方向に走行させることにより、ワイヤー3に供給する切削液が一方向でブロックに供給されることから、切削液が基板間に安定して入り込み、スライス後の基板1aの厚みバラツキを低減させるとともに、ワイヤー3の断線が低減されたスライスが可能となる。
そして、ブロック1をスライスすると同時に、スライスベース2も2〜5mm程度切断され、基板1aはスライスベース2に接着された状態で次工程の洗浄工程に投入される。
洗浄工程では、まず灯油などからなる洗油で、スライス加工時に付着したスラッジなどを落とす。その後アルカリ系の洗剤で油をおとし、その後洗剤を水で洗い流す。そして熱風やエアーなどにより、基板1a表面を完全に乾燥させて、スライスベース2から剥離す
ることで基板1aが完成する。
インゴット1がシリコンからなる場合、上記方法によって得られた基板1aは、半導体接合領域と電極を形成することで太陽電池素子として利用できる。
本実施形態における基板1aの製造方法においては、ワイヤー3の走行速度は、ブロック1の中心部分の切断時の速度(第一の速度)よりも、ブロック1の第二の面1t側を切断する時の速度(すなわち、中心部分切断後となる後半の切断時の速度、第二の速度)の方が遅い。ここで、ブロックを切断する場合、ブロックの中心部分の切断終了後は、一般的に、図2に示すように、基板間が表面張力の力を受け易い。特に、基板が薄型化されている場合、基板間において表面張力の影響を受け易く、ブロックの切り初め側の端部間は、互いに引き合う力が生じ接触し易い。このような接触部分では、切削液が排出されにくくなることから、基板間に存在する切削液の量が多くなり、切削性が高くなり易い。また、ワイヤー3のねじれ等の影響からワイヤー3は一方の基板1aに寄り易く、このためワイヤー3を挟む2つの基板1aに対するワイヤー3の切削量は、一方の基板1aに対して大きくなりやすい。これらの要因から、基板1aの厚みは、切断が終了する側の端部においてばらつきやすい。しかしながら、本実施形態においてワイヤー3の走行速度を遅くすることによって、単位時間当たりに通過するワイヤー長さが短くなり切削性を低減させるとともに、ねじれ等の影響を低減することができ、切り終わりの部分において、基板の厚みにばらつきが生じにくく、切断が終了する側の基板端部の厚みと基板全体の平均厚みとをほぼ同じに管理することができる。このようなワイヤー3の第一の速度は、例えば、600m/min以上1000m/min以下であり、第二の速度は、400m/min以上600m/min未満である。このような速度範囲とすることにより、ワイヤーが断線することなくスライスしやすい。
基板1aの厚みは、接触型または非接触型の厚み測定装置を用いて測定することができる。なお、本実施形態において基板1aの全体の平均厚みは図3に示される中央A点と隣接する端部から各々30mm離れた8つのB点からなる計9点の厚みを測定し、その平均値とした。切り終わり端部の厚みは、基板上端部から30mm、側端部から5mm離れたC点の厚みを測定した。また、バリ(基板の端部にできる出っ張り)の確認においては基板上端部(ブロック切断の終端部分)から2mm離れたD点の厚みを測定した。
また、ワイヤー3の走行速度を変化させるとともに、切削液の供給流量も中心部分の切断時よりも後半の切断時の方を小さくすることによって、切り終わり端部(切断終了部分)の厚みが基板全体の平均厚みとほぼ同じ厚みに、さらに精度よく管理できるとともに、基板全体の厚みバラツキを抑えることができる。このような切断工程における切削液の供給流量の関係は、例えば、後半の切断時の供給流量は中心部分の切断時の供給流量の70%以上90%以下である。このような範囲とすることにより、ワイヤーが断線することなく均一な厚みでスライスしやすい。
なお、ブロックの大きさや本数によって切削液の供給流量は異なるが、例えば、長さ300mmのブロック1を2本スライスする場合には、ブロック1の中心部分の切断時において80L/min以上150L/min以下で用いられる。
さらに、ワイヤー3の走行速度を変化させるとともに、ブロック1をワイヤー3に向けて移動させるフィード速度も、中心部分の切断時よりも後半の切断時の方を遅くすることによって、ワイヤー3の断線等の問題を低減し、基板全体の厚みバラツキを抑えることができる。このような切断工程におけるブロック1のフィード速度の関係は、例えば、後半の切断時のフィード速度は中心部分の切断時のフィード速度の70%以上90%以下である。なお、ブロックの大きさや本数によってブロックのフィード速度は異なるが、例えば、長さ300mmのブロックを2本スライスする場合には、中心部分の切断時において220μm/min以上500μm/min以下で用いられる。このような範囲とすることにより、ワイヤーが断線することなく均一な厚みでスライスしやすい。
また、図4(a)、(b)に示されるように、ワイヤーの走行速度を、ブロック1の中心部分から第二の面側へ進むに従い、段階的または連続的に遅くしていくことにより、ワイヤー3にかかる負担を軽減することができ、ワイヤー3が断線するといった問題を低減することができる。
さらに、ワイヤー3の走行速度の変化に合わせて、切削液の供給流量または/およびブロック1のフィード速度を、ブロック1の中心部分の切断時から第二の面1t側へ進むに従い、段階的または連続的に小さくしていくことによって、基板全体の厚みバラツキを抑えることができる。ここで段階的とは、速度または流量をある値で一定時間維持した後、変化させる場合のことをいい、連続的とは速度または流量をある値で一定時間維持することなく時間と共に変化させる場合のことをいう。
また、ブロック1の切り終わりの部分となる第二の面1tの切断時に切削液の供給流量を後半の切断時に比べて大きくすることにより、バリを低減することができる。
さらに、ブロック1の切り終わりの部分となる第二の面1tの切断時にワイヤー3の走行速度を第二の速度に比べて小さくすることにより、バリの形成をより低減することができる。ブロック1の切り終わり部分はスライスベース2と接着されていることから、その界面において切削性が異なるため、一般的にバリが形成され易いが、切削液の供給量を大きくして切削性を高めつつ、ワイヤー3の走行速度を小さくして丁寧にスライスすることによって、バリの形成が低減できるものと考えられる。このような第二の面1tを切断するときの走行速度は、例えば、第二の速度の66%以上85%以下とすることでバリの形成を低減しやすい。
また、切削液の供給流量を大きくするタイミングとしては、ブロック1の17/20a以上19/20a以下の範囲の切断時がよく、ブロック1の第二の面1tを切断するときの供給流量は、例えば、中心部分の切断時と同等とすればよい。また、ワイヤー3の走行速度を小さくするタイミングとしては、ブロック1の17/20a以上19/20a以下の範囲の切断時がよい。
また、図5(a)に示されるようにワイヤー3の走行速度と、切削液の供給流量とは、切断工程において定常状態となる。図5(a)において、ワイヤー3の走行速度が遅くなるタイミングは、切削液の供給流量が小さくなるタイミングより早いか、または同じである。つまり、ワイヤー3の第一の速度から速度を落とすまでにブロック1が切断された深さ(切断位置)Xは、切削液の供給流量が小さくなるまでにブロック1が切断された深さ(切断位置)Yよりも浅いか、または同じとなる。第一の速度を600m/min以上1000m/min以下、第二の速度を400m/min以上600m/min未満、後半の切断時の供給流量は中心部分の切断時の供給流量の70%以上90%以下とすることで、切削性を落とさずに、またワイヤー3に負担をかけることなくブロック1をスライスすることができる。
さらに、図5(b)に示されるようにワイヤー3の走行速度と、ブロック1のフィード速度とは、切断工程において定常状態となる。図5(b)において、ワイヤー3の走行速度が遅くなるタイミングは、ブロック1のフィード速度が遅くなるタイミングより早いまたは同じである。つまり、ワイヤー3の第一の速度から速度を落とすまでにブロック1が切断された深さ(切断位置)Xは、ブロック1のフィード速度が遅くなるまでにブロック1が切断された深さ(切断位置)Zよりも浅くするか、または同じとなる。第一の速度を600m/min以上1000m/min以下、第二の速度を400m/min以上600m/min未満、後半の切断時のフィード速度は中心部分の切断時のフィード速度の70%以上90%以下とすることで、切削性を落とさずに、またワイヤー3に負担をかけることなくブロック1をスライスすることができる。なお、図5(b)の縦軸において走行速度の値とフィード速度の値との整合性はなく、実際はフィード速度に比べて走行速度の方がはるかに大きい。
さらに、切削液の供給流量が小さくなるまでにブロック1が切断された深さ(切断位置)Yはブロック1のフィード速度が遅くなるまでにブロック1が切断された深さ(切断位置)Zよりも浅くするか、または同じにする。スライス条件を上記範囲に制御することにより、切削性を落とさずに、またワイヤー3に負担をかけることなくブロック1をスライスすることができる。
このように上記製造方法で形成された基板1aは基板端部の厚みの管理ができていることから、太陽電池素子の素子工程において、割れやクラック等の発生を防ぎ、高い歩留まりにて太陽電池素子を作製することができる。
(第2の実施形態)
次に、第2の実施形態について、第1の実施形態と異なる点を主に説明する。第2の実施形態においては、初めから砥粒をワイヤーに固着させた砥粒固着ワイヤーで切断する固着砥粒タイプのワイヤーソー装置を用いる。
本実施形態の基板の製造方法は、第一の面1sと、ベース2に接着された第一の面1sの裏側の第二の面1tとを有するブロック1を準備する工程と、第一の面1sに砥粒が固着したワイヤーを進め、ブロック1の切断を開始する工程と、ブロック1の中心部分を、第一の速度で走行するワイヤー3により切断する工程と、第一の速度でブロック1を切断した後、ブロックの第二の面1tを、第一の速度より遅い第二の速度で走行するワイヤー3により切断する工程と、を有する。
ワイヤーソー装置のワイヤー3は、メインローラー5に巻かれており、例えば鉄または鉄合金を主成分とするピアノ線からなり、線径は80μm〜180μm、より好ましくは120μm以下である。ワイヤー3は、ワイヤーの周囲にダイヤモンドもしくは炭化珪素からなる砥粒がニッケルや銅・クロムによるメッキにて固着されている。砥粒の平均粒径は、5μm以上30μm以下とした方がよい。
供給ノズル4は、クーラント液を排出する複数の開口部を有する。クーラント液は、例えばグリコール等の水溶性溶剤からなり、複数の開口部を有する供給ノズル4の開口部より、複数本のワイヤー3に対して供給される。供給ノズル4に供給するクーラント液の供給流量はブロックの大きさや本数によって適宜設定される。また、クーラント液を循環して使用してもよく、その際にクーラント液中に含まれる切屑等を除去して使用される。
以下に、ワイヤーソー装置を用いた本実施形態のスライス方法について説明する。
(ア)まず、複数列に設けられたワイヤー3と、ブロック1とを準備する。
(イ)次に、ブロック1の第一の面1sに対し走行するワイヤー3を進め、ブロック1の切断を開始する。
(ウ)その後、第一の速度で走行するワイヤー3により、ブロック1の中心部分を切断する。
(エ)そして、第一の速度より遅い第二の速度で走行するワイヤー3により、ブロック1の第二の面1tを続けて切断する。
本実施形態においては固着砥粒タイプのワイヤーソー装置を用いてワイヤー3を双方向に走行させることにより、ワイヤー3に固着した砥粒を有効に利用し、生産性を向上させたスライスが可能となる。
本実施形態における基板1aの製造方法においては、ワイヤー3の走行速度は、ブロッ
ク1の中心部分の切断時の速度(第一の速度)よりも、ブロック1の第二の面1tを切
断する時の第二の速度の方が遅い。前述したように、ブロックを切断する場合、ブロックの中心部分の切断終了後は、一般的に、図6に示すように、基板間が表面張力の力を受け易く、基板の表面が砥粒によって傷つけられる可能性が高い。しかしながら、本実施形態においてワイヤー3の走行速度を遅くすることによって、切断が終了する側の基板端部に発生するクラックを低減することができる。これは、ワイヤー3の走行速度を遅くすることによって、ワイヤー3に生じるブレ等が低減するためと考えられる。なお、本実施形態のワイヤー3は一方向に定常速度で走行した後、減速して一旦停止し、逆方向に加速走行して定常速度となり、その後減速走行して停止し、再度逆方向に走行する(往復走行)。そのため、ここでいう走行速度とは定常速度のことを意味する。このようなワイヤー3の第一の速度は、例えば、600m/min以上1000m/min以下であり、第二の速度は、300m/min以上500m/min未満である。このような速度範囲とすることにより、ワイヤーが断線することなくクラックの発生を低減させてスライスを行うことができる。また、ワイヤー3の走行速度を小さくするタイミングとしては、ブロック1の17/20a以上39/40a以下の範囲の切断時がよい。
また、ワイヤー3の走行速度を変化させるとともに、ブロック1のフィード速度も、中心部分の切断時よりも、第二の面1tの切断時の方を遅くすることによって、ワイヤー3の断線等の問題を低減し、クラックの発生を低減することができる。なお、フィード速度についても、ワイヤー3の走行速度が遅くなるときにフィード速度を遅くし、走行速度が速くなるときにフィード速度が速くなるよう速度調節を行ってもよい。そのため、速度調節が行われる場合におけるフィード速度とは定常速度のことを意味する。このような切断工程におけるブロック1のフィード速度の関係は、例えば、第二の面の切断時のフィード速度は中心部分の切断時のフィード速度の50%以上90%以下である。なお、ブロックの大きさや本数によってブロックのフィード速度は異なるが、例えば、長さ300mmのブロックを2本スライスする場合には、中心部分の切断時において350μm/min以上1100μm/min以下で用いられる。このような範囲とすることにより、ワイヤーの断線を低減しクラックの発生を低減させてスライスを行うことができる。
また、図4(a)、(b)に示すように、ワイヤーの走行速度を、ブロック1の中心部分から第二の面1t側へ進むに従い、段階的または連続的に遅くしていくことにより、ワイヤー3にかかる負担を軽減することができ、ワイヤー3が断線するといった問題を低減することができる。
さらに、ワイヤー3の走行速度の変化に合わせて、ブロック1のフィード速度を、ブロック1の中心部分の切断時から第二の面1t側へ進むに従い、段階的または連続的に小さくしていくことによって、基板全体の厚みバラツキを抑えることができる。ここで段階的とは、速度または流量をある値で一定時間維持した後、変化させる場合のことをいい、連続的とは速度をある値で一定時間維持することなく時間と共に変化させる場合のことをいう。
上記製造方法で形成された基板1aを用い太陽電池素子を製造する場合、製造工程における割れ等の発生を防ぎ、高い歩留まりにて太陽電池素子を作製することができる。
なお、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の範囲内で多くの修正および変更を加えることが出来る。
例えば、インゴット1を切断することなく、そのままスライス工程を行っても構わない。
(実施例1)
以下、実施例について説明する。
まず、ガラス板からなるスライスベースにエポキシ系接着剤を塗布し、156mm×156mm×300mmの直方体の多結晶シリコンブロックをスライスベースに配置し、接着剤を硬化させた。図1に示されるように、2本のスライスベースに接着したシリコンブロックをワイヤーソー装置に設置し、炭化珪素の砥粒(#1200)、鉱物油、界面活性剤及び分散剤からなる切削液を一方向に走行しているワイヤー(線径130μm)に供給しながら、スライスベースに接着したブロックをスライスして、平均厚み200μmのシリコン基板を作製した。中心部分の切断時のスライス条件は、ワイヤーの第一の走行速度を700m/min、切削液の供給流量を120L/min、シリコンブロックのフィード速度を270μm/min後半の切断時のスライス条件は、ワイヤーの第二の走行速度を300m/min、350m/min、400m/min、450m/min、500m/min、550m/min、600m/min、650m/minの8条件(No.1〜No.8)、切削液の供給流量を120L/min、シリコンブロックのフィード速度を220μm/min、とした。なお、切り始め端部から120mm切断した際に第二の面側の切断時の条件となるように、各値を中心部分の値から連続的に小さくした。
また、比較例のスライス条件はワイヤーの走行速度を700m/min、切削液の供給流量を120L/min、シリコンブロックのフィード速度を270μm/minで一定とした。
各条件において得られたシリコン基板の平均厚みと、インゴットのうち切断が終了した側のシリコン基板の端部(第二の面側)の厚みを測定し、その差を絶対値で評価した。なお、厚みの差は500枚測定した際の平均値である。また、各条件におけるワイヤーの断線率についても確認を行った。断線率は1000回スライスを行った際の断線の回数を百分率で評価した。その結果を表1に表す。
Figure 0005430144
表1に示されるように、ワイヤーの第二の走行速度を第一の速度よりも遅くすることにより、基板の平均厚みと切り終わり端部の厚みの差が小さくなることが確認された。特に、600mm/min以下とすることによって、より効果的に厚みの差を抑えることができ、また、400mm/min以上、また、フィード速度を遅くすることによって、ワイヤーが断線することなくスライスすることができた。
(実施例2)
次に、実施例1のスライス条件の一部を下記の条件として、シリコンブロックのスライスを実施した。後半の切断時のスライス条件については、第二の速度を500m/min、切削液の供給流量を75L/min、84L/min、90L/min、95L/min、108L/min、115L/minの6条件(No.9〜No.14)、フィード速度を220μm/minとした。
各条件において得られたシリコン基板の平均厚みと切り終わり側面端部の厚みを測定し、その差を絶対値で評価した。また、各条件におけるワイヤーの断線率についても確認を行った。その結果を表2に表す。
Figure 0005430144
No.5と結果とNo.9〜14の結果から、切削液の供給流量を中心部分の切断時の条件よりも小さくすることにより、基板の平均厚みと切り終わり端部の厚みの差が小さくなることが確認された。特に、後半の切断時における切削液の供給流量を108L/min以下、つまり後半の切断時の供給流量を中心部分の切断時の供給流量の90%以下とすることによって、より効果的に厚みの差を抑えることができ、また、84L/min以上、つまり後半の切断時の供給流量を中心部分の切断時の供給流量の70%以上とすることによって、ワイヤーが断線することなくスライスすることができた。
(実施例3)
次に、実施例1のスライス条件の一部を下記記載の条件として、シリコンブロックのスライスを実施した。後半の切断時のスライス条件については、ワイヤーの第二の走行速度を600m/min、切削液の供給流量を90L/minとし、切り終わり時における切削液の供給流量を110L/min、ワイヤーの走行速度を400m/min、450m/
min、510m/min、550m/min、600m/minの5条件(No.15〜19)、とした。なお、切り始め端部から145mm切断した際に終端部分の切断時の条件となるようにした。
各条件において得られたシリコン基板のバリの有無を確認し、20μm以上のバリについては×、20μm以上10μm以下のバリには△、10μm以下のバリについては○とした。その結果を表3に表す。
Figure 0005430144
No.15〜19の結果から、終端部分の切断において後半の切断時の条件よりも切削液の供給流量を大きくし、ワイヤーの走行速度を小さくすることにより、バリが減少することが確認された。特に、終端部分の切断時におけるワイヤーの走行速度を510m/min以下、つまり終端部分の切断時のワイヤーの走行速度を後半の切断時のワイヤーの走行速度の85%以下とすることによって、より効果的にバリの発生を低減させ、バリの厚みも抑えることができた。
(実施例4)
まず、カーボンからなるスライスベースにエポキシ系接着剤を塗布し、156mm×156mm×300mmの直方体の多結晶シリコンブロックをスライスベースに配置し、接着剤を硬化させた。図1に示されるように、2本のスライスベースに接着したシリコンブロックをワイヤーソー装置に設置し、グリコールからなるクーラント液を双方向に走行しているダイヤモンドの砥粒(平均粒径10μm)が固着したワイヤー(線径120μm)に供給しながら、スライスベースに接着したブロックをスライスして、平均厚み200μmのシリコン基板を作製した。中心部分の切断時のスライス条件は、ワイヤーの第一の走行速度を800m/min、シリコンブロックのフィード速度を500μm/min、第二の面の切断時のスライス条件は、ワイヤーの第二の走行速度を250m/min、300m/min、350m/min、400m/min、450m/min、500m/min、550m/min、600m/minの8条件(No.20〜No.27)、シリコンブロックのフィード速度を400μm/min、とした。なお、切り始め端部から150mm切断した際に第二の面の切断時の条件となるようにした。
また、比較例のスライス条件はワイヤーの走行速度を800m/min、シリコンブロックのフィード速度を500μm/minで一定とした。
各条件において得られたシリコン基板のクラックの発生率と基板にワイヤーの跡が残るソーマークの不良率についても確認を行った。その結果を表4に表す。
Figure 0005430144
表4に示されるように、ワイヤーの第二の走行速度を第一の速度よりも遅くすることにより、クラックの発生率が小さくなることが確認された。特に、500mm/min以下とすることによって、より効果的にクラックの発生率を低減することができ、また、300mm/min以上とすることによって、ソーマークの不良を低減してスライスすることができた。
本発明の基板の製造方法におけるワイヤーソー装置の一実施形態を示す概略図である。 本発明の基板の製造方法における切り初め端部の一実施形態を示す拡大図である。 基板の厚みを測定する場所の一例を示した図である。 (a)、(b)は基板の製造方法におけるワイヤー走行速度の経時変化の一実施形態を示す図である。 (a)は基板の製造方法におけるワイヤー走行速度と切削液の供給流量の経時変化を示す図であり、(b)は基板の製造方法におけるワイヤー走行速度とブロックのフィード速度の経時変化の一実施形態を示す図である。 本発明の基板の製造方法における切り初め端部の一実施形態を示す拡大図である。
符号の説明
1 :ブロック
1a :基板
1s:ブロックの切断が開始される側の第一の面
1t:ブロックの切断が終了される側の第二の面
3 :ワイヤー

Claims (16)

  1. 第一の面と、ベースに接着された前記第一の面の裏側の第二の面とを有するブロックを準備する工程と、
    前記第一の面にワイヤーを進め、前記ブロックの切断を開始する工程と、
    前記ブロックの中心部分を、第一の速度で走行するワイヤーにより切断する工程と、
    前記第一の速度で前記ブロックを切断した後、前記中心部分より前記第二の面側の前記ブロックを、前記第一の速度より遅い第二の速度で走行するワイヤーにより切断する工程と、を有し、
    前記ブロックを前記ワイヤーに向けて移動させるフィード速度を、前記ブロックの前記中心部分の切断時よりも、前記中心部分より前記第二の面側の切断時に遅くすることを特徴とする基板の製造方法。
  2. 前記ブロックの前記第一の面から前記第二の面までの長さをaとしたとき、前記ワイヤーが、前記ブロックの前記第一の面から2/3a以上17/20a未満の範囲を通過する間に、前記ワイヤーの走行速度を前記第一の速度から前記第二の速度に移行させることを特徴とする請求項1に記載の基板の製造方法。
  3. 前記ブロックの前記第一の面から前記第二の面までの長さをaとしたとき、前記ワイヤーが、前記ブロックの前記第一の面から17/20a以上19/20a以下の範囲を通過する間に、前記ワイヤーの走行速度を前記第一の速度から前記第二の速度に移行させることを特徴とする請求項1に記載の基板の製造方法。
  4. 前記第二の速度は、前記ブロックの前記第一の面から17/20a以上19/20a以下の範囲を通過する速度の方が、前記ブロックの前記第一の面から2/3a以上17/20a未満の範囲を通過する間の速度より遅いことを特徴とする請求項2に記載の基板の製造方法。
  5. 前記第二の速度を、前記ワイヤーが前記ブロックの前記中心部分から前記第二の面側へ進むに従い段階的または連続的に遅くすることを特徴とする請求項4に記載の基板の製造方法。
  6. 前記ブロックが角型ブロックであることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の基板の製造方法。
  7. 前記ブロックのフィード速度を、前記ワイヤーが前記ブロックの前記中心部分から前記第二の面側へ進むに従い段階的または連続的に遅くすることを特徴とする請求項に記載の基板の製造方法。
  8. 前記第一の速度は、600m/min以上1000m/min以下であることを特徴とする請求項1〜のいずれかに記載の基板の製造方法。
  9. 前記第二の速度は、400m/min以上600m/min未満であることを特徴とする請求項1〜のいずれかに記載の基板の製造方法。
  10. 前記ブロックの前記第二の面側の切断時の前記ブロックのフィード速度は、前記中心部分の切断時のフィード速度の70%以上90%以下であることを特徴とする請求項のいずれかに記載の基板の製造方法。
  11. 前記ブロックの切断は、砥粒を含む切削液が供給されて行われ、前記切削液の供給流量は、前記ブロックの前記中心部分の切断時よりも、前記中心部分より前記第二の面側の切断時の方が小さいことを特徴とする請求項2に記載の基板の製造方法。
  12. 前記切削液の供給流量を、前記ワイヤーが前記ブロックの前記中心部分から前記第二の面側へ進むに従い段階的または連続的に小さくすることを特徴とする請求項11に記載の基板の製造方法。
  13. 前記切削液の供給流量を、前記ブロックの前記第二の面側の切断時よりも、前記ブロックの前記第二の面の切断時に大きくすることを特徴とする請求項11または12に記載の基板の製造方法。
  14. 前記ブロックの前記第一の面から前記第二の面までの長さをaとしたとき、前記ブロックの前記第一の面から17/20a以上19/20a以下の範囲で、切削液の供給流量を、前記ブロックの前記第一の面から2/3a以上17/20aの切断時よりも大きくすることを特徴とする請求項1113のいずれかに記載の基板の製造方法。
  15. 前記ブロックの前記第二の面側の切断時の前記切削液の供給流量は、前記中心部分の切断時の前記切削液の供給流量の70%以上90%以下であることを特徴とする請求項1114のいずれかに記載の基板の製造方法。
  16. 請求項1〜15のいずれかの製造方法により製造されたシリコンからなる基板と、
    前記基板に形成された半導体接合領域と電極と、を有することを特徴とする太陽電池素子。
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