JP2009283897A - 基板の製造方法 - Google Patents

基板の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2009283897A
JP2009283897A JP2008327187A JP2008327187A JP2009283897A JP 2009283897 A JP2009283897 A JP 2009283897A JP 2008327187 A JP2008327187 A JP 2008327187A JP 2008327187 A JP2008327187 A JP 2008327187A JP 2009283897 A JP2009283897 A JP 2009283897A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cutting
speed
block
wire
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2008327187A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5430143B2 (ja
Inventor
Satoshi Kawamura
聡 川村
Tomoyasu Sumi
智康 角
Seiichi Azuma
誠一 東
Takaaki Nishizawa
孝昭 西澤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kyocera Corp filed Critical Kyocera Corp
Priority to JP2008327187A priority Critical patent/JP5430143B2/ja
Publication of JP2009283897A publication Critical patent/JP2009283897A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5430143B2 publication Critical patent/JP5430143B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
  • Processing Of Stones Or Stones Resemblance Materials (AREA)

Abstract

【課題】基板の厚み精度が向上された基板の製造方法を提供する。
【解決手段】ワイヤー3を一方向に移動走行させるとともに、断面形状が矩形からなるブロック1をワイヤー3に押しつけて、砥粒を含む切削液を供給してブロック1を切断して基板を形成する製造方法であって、ブロック中心近傍を切断する時のワイヤー3の走行速度は、切断を開始する初期の切断時のワイヤー3の走行速度よりも速くする。
【選択図】図1

Description

本発明は基板の製造方法に関する。
従来、太陽電池素子などをはじめとする半導体基板を作製する場合、インゴットを所定の寸法に切断してブロック状にし、ブロックを接着剤にてスライスベースに接着した後、ワイヤーソー装置などを用いて複数枚に切断して基板を製造していた。
厚さ精度のよい基板を得るために、例えば、特許文献1には初期の切断時の被加工物の送り出し速度(フィード速度)を定常状態での切断時の被加工物の送り出し速度の1.5倍〜4倍とする方法が記載されている。
なお、基板厚みの管理として、基板端部から10mm以上内側の部分を数点測定して基板厚みを管理することが一般的であった。
特開平6−155278号公報
近年、太陽電池に用いられる基板は厚みが薄型化されており、カーフロス(切断代)を少なくするために線径の小さいワイヤーが用いられる。このとき、図6に示されるように基板の厚み精度が悪いという問題があった。特に、基板の端部の厚みが、基板全体の平均厚みと異なる場合、太陽電池素子の製造工程において、割れやクラック等が発生し歩留まりを低下させる問題があった。
本発明は、このような問題に鑑みてなされたものであり、基板の厚み精度が向上された基板の製造方法を提供することを目的とする。
本発明の基板の製造方法は、平面を有するインゴットを準備する工程と、前記インゴットの前記平面に第一の速度で走行するワイヤーを進め、前記インゴットの切断を開始する工程と、前記第一の速度より速い第二の速度で走行するワイヤーにより、前記第一の速度で切断された前記インゴットの中心部分を切断する工程と、を有する。
本発明は、上述した構成により、基板の厚みばらつきが低減された太陽電池素子を製造することができる。特に、基板の端部(切断開始部分)の厚みが基板全体の平均厚みとほぼ同じ厚みとなり、太陽電池素子の素子工程における割れやクラック等の発生による歩留まり低下が生じにくい。
以下、本発明の実施の形態に係る基板の製造方法について、図面を用いて詳細に説明する。
(第一の実施形態)
本実施形態の基板の製造方法は、平面を有するブロックを準備する工程と、ブロックの平面に第一の速度で走行するワイヤーを進め、ブロックの切断を開始する工程と、第一の速度より速い第二の速度で走行するワイヤーにより、第一の速度で切断されたブロックの中心部分を切断する工程と、を有する。
ブロックはインゴットの端部を切断することで形成される。このようなインゴットは、例えば、単結晶シリコンや、多結晶シリコンからなる。例えば、単結晶シリコンのインゴットが用いられた場合、単結晶シリコンインゴットは円柱形状であるため、高さ方向に沿って四箇所の側面を切断することにより、断面形状が略矩形(正方形を含む)のシリコンブロックを得ることができる。なお、上記断面形状において角部が円弧状を有するものも矩形とみなすこととする。また、多結晶シリコンインゴットは一般的に略直方体で、複数本のシリコンブロックを取り出すことができる大きさを有しており、シリコンブロックは断面形状が矩形(正方形を含む)で、例えば156×156×300mmの直方体に形成される。なお、上記断面形状において角部が面取りされたものも矩形とみなすこととする。
図1は、本実施形態に係る基板の製造方法で使用するワイヤーソー装置を示す斜視図である。図1に示す構成において、走行するワイヤー3とスライスベース2に固定された角型のブロック1とを押し当てて、ワイヤー3によってブロック1を切断し、基板を製造する。
ブロック1は、カーボン材もしくはガラス、樹脂等の材質からなるスライスベース2上に接着剤などによって接着される。接着剤としては熱硬化型二液性のエポキシ系や、アクリル系・リアクレート系またはワックスなどの接着剤からなり、スライス後、基板1aをスライスベース2から剥離しやすくするために、温度を上げることで接着力が低下する接着剤が用いられる。
そして、スライスベース2に接着された半導体ブロック1はワークホルダーにより装置内に1本又は複数本配置される。
第一の実施形態においては砥粒を含む切削液を供給することによってワイヤー3のラッピング作用でブロック1を切断する遊離砥粒タイプのワイヤーソー装置が用いられる。
使用するワイヤー3は、メインローラー5に巻かれており、例えば鉄または鉄合金を主成分とするピアノ線を用いればよく、線径は100μm〜180μm、より好ましくは140μm以下である。
切削液は、例えば炭化珪素、アルミナ、ダイヤモンド等の砥粒、鉱物油、界面活性剤及び分散剤からなるラッピングオイルを混合して構成され、複数の開口部を有する供給ノズル4より複数本に張られたワイヤー3に切削液が供給される。砥粒の平均粒径としては、例えば5μm〜20μmで粒度分布が狭いものが用いられる。供給ノズル4に供給する切削液の供給流量はブロックの大きさや本数によって適宜設定される。また、切削液を循環して使用してもよく、その際に新しい砥粒を追加供給するようにしても構わない。
メインローラー5は、例えば、エステル系やエーテル系・尿素系のウレタンゴムやニューライト等の樹脂からなり、直径150〜500mm、長さ200〜1000mm程度の大きさを有している。メインローラー5の表面には、ワイヤー供給リール7から供給されたワイヤー3を所定間隔に配列させるための多数の溝部が設けられている。この溝部の間隔とワイヤー3の直径との関係によって、基板の厚みが定まる。
ディップ槽6は、切断時に発生するブロックの屑や切削液の回収を目的として設けられる。
以下に、ワイヤーソー装置を用いたスライス方法について説明する。
(ア)まず、複数列に設けられたワイヤー3と、ブロック1とを準備する。
(イ)次に、ブロック1の平面1sに向かって第一の速度で走行するワイヤー3を進め、ブロック1の切断を開始する。
(ウ)その後、第一の速度より速い第二の速度で走行するワイヤー3により、第一の速度で切断されたブロック1の中心部分を切断する。
上記工程(ア)について説明する。
ワイヤー3はワイヤー供給リール7から供給され、メインローラー5に巻きつけて所定間隔に配列している。メインローラー5が所定の回転速度で回転させることによって、ワイヤー3の長手方向にワイヤー3を走行させることができる。第一の実施形態においてはワイヤー3を往復走行させずに一方向走行させることによって、ワイヤー3を回転させる主軸を駆動させるモーターの負荷を減らし装置寿命を延ばすことができる。
上記工程(イ)〜(ウ)について説明する。
ブロック1の切断は、切断部近傍に設けられた供給ノズル4より走行しているワイヤー3に向かって切削液を供給しながら、ブロック1を下降させてワイヤー3に近づけ、ワイヤー3にブロック1の平面1sを相対的に押圧することによりなされる。ブロック1は、例えば厚さ200μm以下の複数枚の基板1aに分割される。このとき、ワイヤー3の張力、ワイヤー3が走行する速度(走行速度)、ブロックを下降させる速度(フィード速度)は適宜制御されている。
本実施形態においては遊離砥粒タイプのワイヤーソー装置を用いてワイヤー3を一方向に走行させることにより、ワイヤー3に供給する切削液が一方向でブロックに供給されることから、切削液が基板内に安定して入り込み、スライス後の基板1aの厚みバラツキを低減させ、ワイヤー3の断線が低減されたスライスが可能となる。
そして、ブロック1をスライスすると同時に、スライスベース2も2〜5mm程度切断され、基板1aはスライスベース2に接着された状態で次工程の洗浄工程に投入される。
洗浄工程では、まず灯油などからなる洗油で、スライス加工時に付着したスラッジなどを落とす。その後アルカリ系の洗剤で油をおとし、その後洗剤を水で洗い流す。そして熱風やエアーなどにより、基板1a表面を完全に乾燥させて、スライスベース2から剥離することで基板1aが完成する。
本実施形態における基板1aの製造方法においては、ワイヤー3の走行速度は、ブロック1の中心部分の切断時(第二の速度)よりも初期の切断時(第一の速度)の方が遅い。ここで、第二の速度は、中心部分の切断時の定常状態のワイヤー3の速度をいう。このようなスライス条件にすることによって、図2に示されるように切り初めの部分において、厚みが厚い基板と厚みの薄い基板が交互に形成されにくく、切り始めの端部の厚みが基板全体の平均厚みとほぼ同じ厚みに管理することができる。
基板1aの厚みは、接触型または非接触型の厚み測定装置を用いて測定することができる。特に基板1aの端部から10mmまでの範囲の厚みを測定する場合には非接触型の厚み測定装置を用いることが好ましい。なお、基板1aの全体の平均厚みは図3に示される中央A点と隣接する端部から各々15mm離れた4つのB点からなる計5点の厚みを測定し、その平均値とした。切り初め端部の厚みは、基板端部から2〜5mm離れたC点の厚みを測定した。
また、ワイヤー3の走行速度を変化させるとともに、切削液の供給流量も中心部分の切断時よりも初期の切断時(切断開始時)の方を小さくすることによって、切り初め端部(切断開始部分)の厚みが基板全体の平均厚みとほぼ同じ厚みに、さらに精度よく管理できるとともに、基板全体の厚みバラツキを抑えることができる。
さらに、ワイヤー3の走行速度を変化させるとともに、ブロック1をワイヤー3に向けて移動させるフィード速度も、中心部分の切断時よりも初期の切断時の方を遅くすることによって、ワイヤー3の断線等の問題を低減し、基板全体の厚みバラツキを抑えることができる。
なお、初期の切断時における走行速度、供給流量、フィード速度とは、ワイヤー3に対向したブロック1の端面1sから1mmの深さまでを切断する際の最低速度、最低流量を意味することとし、ブロック1の中心部分を切断する走行速度、供給流量、フィード速度とは、定常状態で切断している際の速度、流量であり、ブロック1の切り初め端面1sを0とし、切り終わり端面を1としたとき、1/3〜2/3を切断するときにおける平均速度、平均流量を意味することとする。
また、図4(a)、(b)に示されるようにワイヤーの走行速度を初期の切断時から段階的または連続的に速くしていくことにより、ワイヤー3にかかる負担を軽減することができ、ワイヤー3が断線するといった問題を抑制することができる。
さらに、ワイヤー3の走行速度の変化に合わせて、切削液の供給流量または/およびブロック1のフィード速度を初期の切断時から段階的または連続的に大きくしていくことによって、基板全体の厚みバラツキを抑えることができる。ここで段階的とは、速度または流量をある値で一定時間維持した後、変化させる場合のことをいい、連続的とは速度または流量をある値で一定時間維持することなく時間と共に変化させる場合のことをいう。
また、ワイヤー3の走行速度は、ブロックの切り初め端面1sから2mm以上50mm以下、より好ましくは5〜20mmの深さ範囲で中心部分の切断時における走行速度にすることによって、切り始めの端部の厚みが基板全体の平均厚みとほぼ同じ厚みに管理することができる。
さらに、ワイヤーの走行速度の変化に合わせて、切削液の供給流量または/およびブロックのフィード速度も、ブロックの切り初め端面1sから2mm以上50mm以下、より好ましくは5〜20mmの深さ範囲で中心部分の切断時における供給流量、フィード速度にすることで、切り始めの端部の厚みが基板全体の平均厚みとほぼ同じ厚みに管理しつつ、切削性を高めてスライスにかかる時間を抑えることができる。
ワイヤー3の第一の速度は、例えば、200m/min以上500m/min以下であり、第二の速度は、600m/min以上1000m/min以下である。
また、切削液の供給流量において、初期の切断時の供給流量は中心部分の切断時の供給流量の60%以上80%以下である。なお、ブロックの大きさや本数によって切削液の供給流量は異なるが、例えば、長さ300mmのブロック1を2本スライスする場合には、ブロック1の中心部分の切断時において80L/min以上150L/min以下で用いられる。
また、ブロック1のフィード速度において、初期の切断時のフィード速度は中心部分の切断時のフィード速度の30%以上60%以下である。なお、ブロックの大きさや本数によってブロックのフィード速度は異なるが、例えば、長さ300mmのブロックを2本スライスする場合には、中心部分の切断時において220μm/min以上500μm/min以下で用いられる。
また、図5(a)に示されるようにワイヤー3の走行速度と、切削液の供給流量とは、切断工程において定常状態となる。図5(a)において、ワイヤー3の走行速度が定常状態となるタイミングは、切削液の供給流量が定常状態となるタイミングより遅いまたは同じである。ワイヤー3の第一の速度が、第二の速度になるまでにブロック1が切断された深さ(切断位置)Xは、切削液の供給流量が切断開始時から定常状態になるまでにブロック1が切断された深さ(切断位置)Yよりも深いか、または同じにする。つまり、ワイヤー3の走行速度よりも切削液の供給流量の方が早いまたは同じタイミングで中心部分の値まで大きくなることを意味している。スライス条件を上記範囲に制御することにより、切削性を落とさずに、またワイヤー3に負担をかけることなくブロック1をスライスすることができる。
さらに、図5(b)に示すようにワイヤー3の走行速度と、ブロック1のフィード速度とは、切断工程において定常状態となる。図5(a)において、ワイヤーの3の走行速度が定常状態となるタイミングは、シリコンブロック1のフィード速度が定常状態となるタイミングより早いまたは同じである。ここで、定常状態(中心部分の切断時)のワイヤー3の速度を第二の速度という。ワイヤー3の第一の速度が、第二の速度になるまでにブロック1が切断された深さ(切断位置)Xは、ブロック1のフィード速度が切断開始時から定常状態になるまでにブロック1が切断された深さ(切断位置)Zよりも浅くするか、または同じにする。つまり、ブロック1のフィード速度よりもワイヤー3の走行速度の方が早いまたは同じタイミングで中心部分の値まで大きくなることを意味している。スライス条件を上記範囲に制御することにより、切削性を落とさずに、またワイヤー3に負担をかけることなくブロック1をスライスすることができる。なお、図5(b)の縦軸において走行速度の値とフィード速度の値との整合性はなく、実際はフィード速度に比べて走行速度の方がはるかに大きい。
(第二の実施形態)
次に、第二の実施形態について、第一の本実施形態と異なる点を説明する。第二の実施形態においては初めから砥粒をワイヤーに固着させた砥粒固着ワイヤーで切断する固着砥粒タイプのワイヤーソー装置が用いられる。
本実施形態におけるワイヤー3は、例えば鉄または鉄合金を主成分とするピアノ線からなり、線径は80μm〜180μm、より好ましくは120μm以下である。ワイヤー3は、周囲にダイヤモンドもしくは炭化珪素からなる砥粒がニッケルや銅・クロムによるメッキにて固着されている。砥粒の平均粒径は、5μm以上30μm以下とした方がよい。
そして、切削液の変わりにクーラント液が用いられ、クーラント液は、例えばグリコール等の水溶性溶剤からなり、複数の開口部を有する供給ノズル4の開口部より、複数本のワイヤー3に対して供給される。
以下に、本実施形態のワイヤーソー装置を用いたスライス方法について説明する。
(ア)まず、複数列に設けられたワイヤー3と、ブロック1とを準備する。
(イ)次に、ブロック1の平面1sに向かって第一の速度で走行するワイヤー3を進め、ブロック1の切断を開始する。
(ウ)その後、第一の速度より速い第二の速度で走行するワイヤー3により、第一の速度で切断されたブロック1の中心部分を切断する。
上記工程(ア)について説明する。
第二の実施形態においてはワイヤー3を往復走行させることによって、ワイヤー3に固着した砥粒を有効に利用し、生産性を向上させることができる。
上記工程(イ)〜(ウ)について説明する。
ブロック1の切断は、切断部近傍に設けられた供給ノズル4より走行しているワイヤー3に向かってクーラント液を供給しながら、ブロック1を下降させてワイヤー3に近づけ、ワイヤー3にブロック1の平面1sを相対的に押圧することによりなされる。ブロック1は、例えば厚さ200μm以下の複数枚の基板1aに分割される。
本実施形態における基板1aの製造方法においても、ワイヤー3の走行速度は、ブロック1の中心部分の切断時(第二の速度)よりも初期の切断時(第一の速度)の方が遅い。このようなスライス条件にすることによって、図2に示されるように切り初めの部分において、厚みが厚い基板と厚みの薄い基板が交互に形成されにくく、切り始めの端部の厚みが基板全体の平均厚みとほぼ同じ厚みに管理することができる。なお、本実施形態のワイヤー3は一方向に定常速度で走行した後、減速して一旦停止し、逆方向に加速走行して定常速度となり、その後減速走行して停止し、再度逆方向に走行する(往復走行)。そのため、ここでいう走行速度とは定常速度のことを意味する。
さらに、ワイヤー3の走行速度を変化させるとともに、ブロック1のフィード速度も、中心部分の切断時よりも初期の切断時の方を遅くすることによって、ワイヤー3の断線等の問題を低減し、基板全体の厚みバラツキを抑えることができる。また、フィード速度においても上記で述べた往復運動するワイヤー3の走行速度に合わせて速度調節、つまりワイヤー3の走行速度が遅くなるときにフィード速度を遅くし、走行速度が速くなるときにフィード速度が速くなるように行われてもよい。そのため、速度調節が行われる場合におけるフィード速度とは定常速度のことを意味する。
また、ワイヤーの走行速度やワイヤー3の走行速度の変化に合わせて、フィード速度を初期の切断時から段階的または連続的に速くしていくことにより、ワイヤー3にかかる負担を軽減することができ、ワイヤー3が断線するといった問題を低減できる。
また、フィード速度は、ワイヤー3の走行速度やワイヤー3の走行速度の変化に合わせて、ブロックの切り初め端面1sから2mm以上50mm以下、より好ましくは5〜20mmの深さ範囲で中心部分の切断時における走行速度またフィード速度にすることによって、切り始めの端部の厚みが基板全体の平均厚みとほぼ同じ厚みに管理することができる。
ワイヤー3の第一の速度は、例えば、350m/min以上500m/min以下であり、第二の速度は、600m/min以上1000m/min以下である。
また、ブロック1のフィード速度において、初期の切断時のフィード速度は中心部分の切断時のフィード速度の40%以上80%以下である。なお、ブロックの大きさや本数によってブロックのフィード速度は異なるが、例えば、長さ300mmのブロックを2本スライスする場合には、中心部分の切断時において350μm/min以上1100μm/min以下で用いられる。
このように上記製造方法で形成された基板1aは基板端部の厚みの管理ができていることから、太陽電池素子の素子工程において、割れやクラック等の発生を防ぎ、高い歩留まりで太陽電池素子を作製することができる。
なお、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の範囲内で多くの修正および変更を加えることが出来る。
例えば、インゴット1を切断することなく、そのままスライス工程を行っても構わない。
(実施例1)
以下、実施例について説明する。
まず、ガラス板からなるスライスベースにエポキシ系接着剤を塗布し、156mm×156mm×300mmの直方体の多結晶シリコンブロックをスライスベースに設置し接着剤を硬化させた。図1に示されるように、2本のスライスベースに接着したシリコンブロックをワイヤーソー装置に設置し、炭化珪素の砥粒(#1200)、鉱物油、界面活性剤及び分散剤からなる切削液を一方向に走行しているワイヤー(線径120μm)に供給しながら、スライスベースに接着したブロックをスライスして、平均厚み200μmのシリコン基板を作製した。スライス条件は、初期の切断時におけるワイヤーの走行速度を150m/min、180m/min、200m/min、300m/min、350m/min、400m/min、500m/min、600m/minの8条件、切削液の供給流量を120L/min、シリコンブロックのフィード速度を150μm/min、中心部分の切断時におけるワイヤーの走行速度を700m/min、切削液の供給流量を120L/min、シリコンブロックのフィード速度を270μm/minとした。なお、切り始め端部から10mm切断した際に中心部分の切断時の条件となるように、各値を連続的に大きくした。
また、比較例のスライス条件はワイヤーの走行速度を700m/min、切削液の供給流量を120L/min、シリコンブロックのフィード速度を270μm/minとした。
各条件において得られたシリコン基板の平均厚みと切り初め端部の厚みを測定し、その差を絶対値で評価した。なお、厚みの差は500枚測定した際の平均値である。また、各条件におけるワイヤーの断線率についても確認を行った。断線率は50回スライスを行った際の断線の回数を百分率で評価した。
その結果を表1に表す。
Figure 2009283897

表1に示されるように、初期の切断時におけるワイヤーの走行速度を中心部分の切断時の条件よりも遅くすることにより、基板の平均厚みと切り初め端部の厚みの差が小さくなることが確認された。なお、比較例においては、目視確認により切り初め端部が厚い基板と薄い基板が交互に形成されていたが、実施例のNo.1〜8では初期の切断時におけるワイヤーの走行速度を遅くすることにより上記問題を抑制していることが確認できた。特に、500mm/min以下とすることによって、より効果的に厚みの差を抑えることができ、また、200mm/min以上とすることによって、ワイヤーが断線することなくスライスすることができた。
(実施例2)
次に、実施例1のスライス条件の一部を下記記載の条件として、シリコンブロックのスライスを実施した。スライス条件については、初期の切断時におけるワイヤーの走行速度を350m/min、切削液の供給流量を60L/min、72L/min、80L/min、90L/min、96L/min、110L/minの6条件とした。
各条件において得られたシリコン基板の平均厚みと切り初め端部の厚みを測定し、その差を絶対値で評価した。また、各条件におけるワイヤーの断線率についても確認を行った。
その結果を表2に表す。
Figure 2009283897

No.5と結果とNo.9〜14の結果から、切削液の供給流量を中心部分の切断時の条件よりも小さくすることにより、基板の平均厚みと切り初め端部の厚みの差が小さくなることが確認された。特に、初期の切断時における切削液の供給流量を96L/min以下、つまり初期の切断時の供給流量を中心部分の切断時の供給流量の80%以下とすることによって、より効果的に厚みの差を抑えることができ、また、72L/min以上、つまり初期の切断時の供給流量を中心部分の切断時の供給流量の60%以上とすることによって、ワイヤーが断線することなくスライスすることができた。
(実施例3)
まず、カーボンからなるスライスベースにエポキシ系接着剤を塗布し、156mm×156mm×300mmの直方体の多結晶シリコンブロックをスライスベースに設置し接着剤を硬化させた。図1に示されるように、2本のスライスベースに接着したシリコンブロックをワイヤーソー装置に設置し、グリコールからなるクーラント液を双方向に走行しているダイヤモンドの砥粒(平均粒径10μm)が固着したワイヤー(線径120μm)に供給しながら、スライスベースに接着したブロックをスライスして、平均厚み200μmのシリコン基板を作製した。スライス条件は、初期の切断時におけるワイヤーの走行速度を300m/min、350m/min、400m/min、450m/min、500m/min、550m/min、600m/min、700m/minの8条件、シリコンブロックのフィード速度を300μm/min、中心部分の切断時におけるワイヤーの走行速度を800m/min、シリコンブロックのフィード速度を500μm/minとした。なお、切り始め端部から10mm切断した際に中心部分の切断時の条件となるように、各値を連続的に大きくした。
また、比較例のスライス条件はワイヤーの走行速度を800m/min、切削液の供給流量を120L/min、シリコンブロックのフィード速度を500μm/minとした。
各条件において得られたシリコン基板の平均厚みと切り初め端部の厚みを測定し、その差を絶対値で評価した。なお、厚みの差は500枚測定した際の平均値である。また、各条件における基板にワイヤーの跡が残るソーマークの不良率についても確認を行った。
その結果を表3に表す。
Figure 2009283897
表1に示されるように、初期の切断時におけるワイヤーの走行速度を中心部分の切断時の条件よりも遅くすることにより、基板の平均厚みと切り初め端部の厚みの差が小さくなることが確認された。なお、比較例においては、目視確認により切り初め端部が厚い基板と薄い基板が交互に形成されていたが、実施例のNo.15〜22では初期の切断時におけるワイヤーの走行速度を遅くすることにより上記問題を抑制していることが確認できた。特に、350mm/min以上500mm/min以下とすることによって、より効果的に厚みの差を抑えることができ、また、ソーマークの不良を抑えてスライスすることができた。
本発明の基板の製造方法におけるワイヤーソー装置の一実施形態を示す概略図である。 本発明の基板の製造方法における切り初め端部の一実施形態を示す拡大図である。 基板の厚みを測定する場所を示した図である。 (a)、(b)は基板の製造方法におけるワイヤー走行速度の経時変化の一実施形態を示す図である。 (a)は基板の製造方法におけるワイヤー走行速度と切削液の供給流量の経時変化を示す図であり、(b)は基板の製造方法におけるワイヤー走行速度とブロックのフィード速度の経時変化の一実施形態を示す図である。 従来の基板の製造方法における切り初め端部の拡大図である。
符号の説明

1 :ブロック
1a :基板
1s:ブロックの平面
3 :ワイヤー

Claims (14)

  1. 平面を有するブロックを準備する工程と、
    前記ブロックの前記平面に向かって第一の速度で走行するワイヤーを進め、前記ブロックの切断を開始する工程と、
    前記第一の速度より速い第二の速度で走行するワイヤーにより、前記第一の速度で切断された前記ブロックの中心部分を切断する工程と、
    を有する基板の製造方法。
  2. 前記ブロックの切断は、砥粒を含む切削液が供給されて行われ、前記切削液の供給流量は、前記ブロックの前記中心部分の切断時よりも切断開始時の方が小さいことを特徴とする請求項1に記載の基板の製造方法。
  3. 前記ブロックが角型ブロックであることを特徴とする請求項1または2に記載の基板の製造方法。
  4. 前記ブロックを前記ワイヤーに向けて移動させるフィード速度は、前記ブロックの前記中心部分の切断時よりも切断開始時の方が遅いことを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の基板の製造方法。
  5. 前記ワイヤーの走行速度を切断開始時から段階的または連続的に速くすることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の基板の製造方法。
  6. 前記切削液の供給流量を切断開始時から段階的にまたは連続的に大きくすることを特徴とする請求項2〜5のいずれかに記載の基板の製造方法
  7. 前記ブロックのフィード速度を切断開始時から段階的にまたは連続的に速くすることを特徴とする請求項4〜6のいずれかに記載の基板の製造方法
  8. 前記ワイヤーの走行速度を、前記ブロックの前記平面から2mm以上50mm以下の深さ範囲で前記第一の速度から前記第二の速度に移行することを特徴とする請求項1〜7のいずれかに記載の基板の製造方法。
  9. 前記第一の速度は、200m/min以上500m/min以下であることを特徴とする請求項1〜8のいずれかに記載の基板の製造方法。
  10. 前記第二の速度は、600m/min以上1000m/min以下であることを特徴とする請求項1〜9のいずれかに記載の基板の製造方法。
  11. 前記切断開始時の前記切削液の供給流量は、前記中心部分の切断時の前記切削液の供給流量の60%以上80%以下であることを特徴とする請求項2〜10のいずれかに記載の基板の製造方法。
  12. 前記切断開始時の前記ブロックのフィード速度は、前記中心部分の切断時のフィード速度の30%以上60%以下であることを特徴とする請求項4〜11のいずれかに記載の基板の製造方法。
  13. 前記ワイヤーの前記第一の速度が、前記第二の速度になるまでに前記ブロックが切断された深さは、前記切削液の供給流量が切断開始時から定常状態になるまでに前記ブロックが切断された深さよりも深いか、または同じであることを特徴とする請求項2〜12のい
    ずれかに記載の基板の製造方法。
  14. 前記ワイヤーの前記第一の速度が、前記第二の速度になるまでに前記ブロックが切断された深さは、前記ブロックのフィード速度が切断開始時から定常状態になるまでに前記ブロックが切断された深さよりも浅い、または同じであることを特徴とする請求項4〜13のいずれかに記載の基板の製造方法。
JP2008327187A 2008-04-24 2008-12-24 基板の製造方法 Expired - Fee Related JP5430143B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008327187A JP5430143B2 (ja) 2008-04-24 2008-12-24 基板の製造方法

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008114121 2008-04-24
JP2008114121 2008-04-24
JP2008327187A JP5430143B2 (ja) 2008-04-24 2008-12-24 基板の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009283897A true JP2009283897A (ja) 2009-12-03
JP5430143B2 JP5430143B2 (ja) 2014-02-26

Family

ID=41450747

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008327187A Expired - Fee Related JP5430143B2 (ja) 2008-04-24 2008-12-24 基板の製造方法
JP2008327196A Expired - Fee Related JP5430144B2 (ja) 2008-04-24 2008-12-24 基板の製造方法および太陽電池素子

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008327196A Expired - Fee Related JP5430144B2 (ja) 2008-04-24 2008-12-24 基板の製造方法および太陽電池素子

Country Status (1)

Country Link
JP (2) JP5430143B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102014208187B4 (de) * 2014-04-30 2023-07-06 Siltronic Ag Verfahren zum gleichzeitigen Trennen einer Vielzahl von Scheiben mit besonders gleichmäßiger Dicke von einem Werkstück

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0752149A (ja) * 1993-08-19 1995-02-28 Shin Etsu Chem Co Ltd ウエーハの製造方法
JPH0938854A (ja) * 1995-07-31 1997-02-10 Sharp Corp マルチワイヤーソーのワイヤー供給装置
JPH09254143A (ja) * 1996-03-26 1997-09-30 Shin Etsu Handotai Co Ltd ワイヤーソー及び円柱形ワークを切断する方法
JPH10166255A (ja) * 1996-12-06 1998-06-23 Nippei Toyama Corp ワイヤソー
JPH10217095A (ja) * 1997-01-29 1998-08-18 Shin Etsu Handotai Co Ltd ワイヤーソーによるワークの切断方法およびワイヤーソー
JPH11138412A (ja) * 1997-11-14 1999-05-25 Tokyo Seimitsu Co Ltd 固定砥粒付ワイヤソー及びその被加工物切断方法
JP2002052456A (ja) * 2001-07-06 2002-02-19 Shin Etsu Chem Co Ltd ウエーハの製造方法
JP2002237476A (ja) * 2001-02-08 2002-08-23 Tkx:Kk 半導体ウェハ及びその製造方法
JP2007180527A (ja) * 2005-11-29 2007-07-12 Kyocera Corp 半導体基板の製造方法及び半導体基板の製造装置

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0752149A (ja) * 1993-08-19 1995-02-28 Shin Etsu Chem Co Ltd ウエーハの製造方法
JPH0938854A (ja) * 1995-07-31 1997-02-10 Sharp Corp マルチワイヤーソーのワイヤー供給装置
JPH09254143A (ja) * 1996-03-26 1997-09-30 Shin Etsu Handotai Co Ltd ワイヤーソー及び円柱形ワークを切断する方法
JPH10166255A (ja) * 1996-12-06 1998-06-23 Nippei Toyama Corp ワイヤソー
JPH10217095A (ja) * 1997-01-29 1998-08-18 Shin Etsu Handotai Co Ltd ワイヤーソーによるワークの切断方法およびワイヤーソー
JPH11138412A (ja) * 1997-11-14 1999-05-25 Tokyo Seimitsu Co Ltd 固定砥粒付ワイヤソー及びその被加工物切断方法
JP2002237476A (ja) * 2001-02-08 2002-08-23 Tkx:Kk 半導体ウェハ及びその製造方法
JP2002052456A (ja) * 2001-07-06 2002-02-19 Shin Etsu Chem Co Ltd ウエーハの製造方法
JP2007180527A (ja) * 2005-11-29 2007-07-12 Kyocera Corp 半導体基板の製造方法及び半導体基板の製造装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP5430143B2 (ja) 2014-02-26
JP2009279746A (ja) 2009-12-03
JP5430144B2 (ja) 2014-02-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4525353B2 (ja) Iii族窒化物基板の製造方法
JP5430294B2 (ja) 基板の製造方法
JP2009302410A (ja) 半導体ウェーハの製造方法
JP2009302409A (ja) 半導体ウェーハの製造方法
JP2014162206A (ja) スクライビングホイール、ホルダーユニット、スクライブ装置及びスクライビングホイールの製造方法
CN106079126A (zh) 一种半导体单晶硅多线切割夹紧装置及方法
JP5371355B2 (ja) 基板の製造方法および太陽電池素子
JP5806082B2 (ja) 被加工物の切断方法
JP5495981B2 (ja) 半導体基板の製造方法
JP5430143B2 (ja) 基板の製造方法
JP2009152622A (ja) Iii族窒化物基板及びその製造方法
JP5876388B2 (ja) 被加工物切断方法
JP2006278701A (ja) 半導体ウェハの製造方法
JP2003159642A (ja) ワーク切断方法およびマルチワイヤソーシステム
JP2017168763A (ja) ダイシング装置及びダイシング方法
JP2016101611A (ja) 基板の製造方法
JP2000288903A (ja) マルチワイヤーソーを用いた平面研削方法及び平面研削装置
JP5769681B2 (ja) 基板の製造方法
JP2016097497A (ja) ウェーハの製造方法
JP5355249B2 (ja) ワイヤーソー装置
JP5527987B2 (ja) ワイヤーソー装置と基板の製造方法
JP5821679B2 (ja) 硬脆性インゴットの切断加工方法
JP5311964B2 (ja) ワイヤーソー装置
JP6705399B2 (ja) ウェーハの製造方法
KR20130074711A (ko) 잉곳 절단 장치 및 잉곳 절단 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110818

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130305

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130507

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20131105

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20131203

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 5430143

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees