JP5419101B2 - ダイヤモンド半導体装置及びその製造方法 - Google Patents
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Description
(1)ダイヤモンド基板に形成した段差形状の底角を起点に、選択成長した不純物ドープダイヤモンド領域を有するダイヤモンド半導体装置。
(2)前記ダイヤモンド基板は、不純物ドープダイヤモンド基板であることを特徴とする(1)に記載のダイヤモンド半導体装置。
(3)前記ダイヤモンド基板は、基板上にダイヤモンド膜が形成されていることを特徴とする(1)に記載のダイヤモンド半導体装置。
(4)前記ダイヤモンド基板の主表面は、{100}面であり、前記、段差形状の側面は、{110}面であり、底面は{100}面であることを特徴とする(1)、(2)又は(3)に記載のダイヤモンド半導体装置。
(5){100}面を有するダイヤモンド基板と該基板上に形成したp型ダイヤモンド層と該基板に形成した側面{110}、底面が{100}面を有する段差形状の底角を起点に成長したn型ダイヤモンド層とを備えるダイヤモンド半導体素子と該ダイヤモンド素子間を分離するため、前記基板に形成した側面{100}、底面{100}面を有する段差形状の底角を起点に成長した分離領域とを備えるダイヤモンド半導体装置。
(6)n型ダイヤモンド層を形成するマスク方向と絶縁分離領域を形成するマスク方向とを異にして、ダイヤモンド半導体領域と絶縁分離領域とを同一基板に形成してなる(5)に記載のダイヤモンド半導体装置。
(7){100}面ダイヤモンド半導体基板に、底面が{100}面、側面が{110}面の段差形状を選択的に形成する工程と、不純物をドープしながらダイヤモンドを<111>方向へエピタキシャル成長させ、該段差形状の底角を起点として不純物ドープダイヤモンド領域を成長させる工程とを含むダイヤモンド半導体装置の製造方法。
(8)前記不純物は、リンであることを特徴とする(7)に記載のダイヤモンド半導体装置の製造方法。
本発明のダイヤモンド半導体装置及びその製造方法によれば、ダイヤモンド基板に形成した段差形状の底角を起点に、選択された領域に不純物ドープダイヤモンド半導体を成長させることができる。
この他、横型接合を用いたJFETなどパワーデバイスにおいても、電流経路に基板(厚さ500μm前後)を含まない構造が作製できることから、オン抵抗の低減が望める。
本発明は、ダイヤモンド基板(10)及び(20)上に、選択的に形成した段差形状の底角を起点に成長した不純物ドープダイヤモンド領域(30)を有するダイヤモンド半導体装置及びその製造方法に係るものである。
本発明の好ましい実施例では、ダイヤモンド{100}面単結晶基板(10)にまずボロンドープp型ダイヤモンド半導体領域(20)を形成する。その後に、p型半導体層(20)を含むダイヤモンド{100}面単結晶基板(10)を加工し、段差形状を形成する。この形成した段差形状の底角(50)からダイヤモンド半導体を<111>方向へ成長させ、かつ不純物ドーピングを同時に行うことで、断面が三角形状のリンドープダイヤモンド領域(30)を形成する。
ダイヤモンド基板(10)は、ノンドープ、ボロンドープ、リンドープ、窒素ドープ、p型、n型のいずれかの{100}面基板、又は{100}面成長膜である。選択成長する不純物ドープダイヤモンド領域(30)は、リンを代表とするV族元素、及びその他n型ダイヤモンド半導体ができる不純物元素を有する。
なおリンの取り込み効率は、次の数式により算出される。
リンの取り込み効率=ダイヤモンド中の炭素原子に対するリン原子濃度([P]/[C])/気相中のメタンに対するホスフィン濃度([PH3]/[CH4])
これら全て、ダイヤモンド半導体を用いたデバイス開発で必須とされている{100}面方位基板上での不純物ドープダイヤモンド半導体合成技術であるため、実用性が極めて高い。
加工する{100}面ダイヤモンド単結晶基板は、高温高圧法により形成された{100}面基板、化学気相成長(CVD)法で形成された基板及び成長膜のいずれでもよく、また不純物がドープされた導電性基板上の成長膜でもよい。
以下図4乃至図17を引用して、本発明の実施例を詳細に説明する。
図6乃至図15において、それぞれ左図はダイヤモンド半導体装置の平面図、右図はその断面図である。
段差形状の底角(50)を起点に成長したn型ダイヤモンド領域(30)の形成法、及び横型pnダイヤモンド半導体素子間を絶縁分離するための成長した分離領域(31)の形成法をそれぞれ以下に記す。
図7のように、約700nm程度の膜厚のボロンドープp型ダイヤモンド半導体(20)を形成した。ホール効果測定から、室温から700℃付近まで安定してp型判定が得られ、温度依存性の傾きからボロンアクセプターの370meVの活性化エネルギーが見積もられ、{100}面ダイヤモンド単結晶基板上にボロンドープp型ダイヤモンド半導体が形成されたことを確認した。
図14に示すように、段差形状の周囲に、選択的にリンドープダイヤモンド領域(31)が形成された。この時、リンドープダイヤモンドは段差形状の底角(50)(側面{100}面と底面{100}面の交わる角)を起点に<110>方向へ成長している。
例えば本発明に係るダイヤモンド半導体基板には、セラミック等の基板上、あるいはダイヤモンド基板上にダイヤモンド膜が形成された基板も含まれる。
また、{100}面等の面方位には、製造上の精度の問題により、オフ面となることもあるが、このオフ面も含まれる。
Claims (4)
- {100}面を有するダイヤモンド基板と該基板上に形成したp型ダイヤモンド層と該基板に形成した側面{110}、底面が{100}面を有する段差形状の底角を起点に成長したn型ダイヤモンド層とを備える複数の横型pnダイヤモンド半導体素子と該ダイヤモンド半導体素子間を分離するための前記基板に形成した側面{100}、底面{100}面を有する段差形状の底角を起点に成長した絶縁分離領域とを同一基板上に備えるダイヤモンド半導体装置。
- {100}面ダイヤモンド半導体基板に、p型ダイヤモンド層を形成する工程と、底面が{100}面、側面が{110}面の段差形状を選択的に形成する工程と、該段差形状の底角を起点に不純物をドープしながらダイヤモンドを<111>方向へエピタキシャル成長させn型ダイヤモンド層を形成して複数の横型pnダイヤモンド半導体素子を形成する工程と、
底面{100}、側面{100}面の段差形状を選択的に形成する工程と、該段差形状の底角を起点に不純物をドープしながらダイヤモンドを<110>方向へエピタキシャル成長させ該ダイヤモンド半導体素子間を分離するための絶縁分離領域を形成させる工程と、
を含むダイヤモンド半導体装置の製造方法。 - 前記n型ダイヤモンド層の側面{110}面と前記絶縁分離領域の側面{100}面は当該段差形状の側面面方位を制御するようにマスクの方向を配置して形成されることを特徴とする請求項2に記載のダイヤモンド半導体装置の製造方法。
- 前記不純物は、リンであることを特徴とする請求項2または3のいずれか1項に記載のダイヤモンド半導体装置の製造方法。
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