JP5399184B2 - 光情報記録媒体およびスパッタリングターゲット - Google Patents
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例えばAlの場合、
4/3Al+O2=2/3Al2O3
の反応における値であり、Znの場合、
2Zn+O2=2ZnO
で表される反応における値である。
(A)X金属(好ましくは、Sn、Zn、Bi、Ge、Co、W、CuおよびAlよりなる群から選択される1種以上)の酸化物(具体的には、例えばX金属の酸化物を50モル%以上含む)と、Pd(例えば酸化Pdおよび/または金属Pd)とを含み、かつ、スパッタリングターゲットに含まれるX金属原子とPd原子の合計に対するPd原子の比率が4〜85原子%である点に特徴を有するスパッタリングターゲットや、
(B)X金属(好ましくは、Sn、Zn、Bi、Ge、Co、W、CuおよびAlよりなる群から選択される1種以上)原子とPd原子の合計に対するPd原子の比率で4〜85原子%のPd(例えば金属Pd)を含む合金からなる点に特徴を有するスパッタリングターゲットを用いることが挙げられる。また、
(C)X金属ターゲット(純X金属ターゲット)と金属Pdターゲット(純Pd金属ターゲット)を用い、これらを同時放電させて多元スパッタリングを行うことが挙げられる。
ディスク基板として、ポリカーボネート基板(厚さ:1.1mm、直径:120mm、トラックピッチ:0.32μm、溝深さ:25nm)を用いた。そして、No.4〜10については、DCマグネトロンスパッタリング法により、酸化物ターゲットまたは純金属ターゲットを用い、表1に示す成分・膜厚の誘電体層(下)を形成した。この誘電体層(下)形成のためのスパッタリング条件は、Ar流量:10〜30sccm、酸素流量(ターゲットとして純金属ターゲットを用いる場合):0〜10sccm、ガス圧:0.2〜0.4Pa、DCスパッタリングパワー:100〜400W、基板温度:室温とした。
作製した光ディスクの耐久性について下記の通り評価した。
Claims (10)
- レーザー光の照射により記録が行われる記録層と、該記録層に隣接して形成される誘電体層とを備えた光情報記録媒体であって、
前記記録層は、酸素1molに対する酸化物の標準生成自由エネルギーの絶対値がPdよりも大きい金属(以下、X金属という)である、Sn、Zn、Bi、Ge、Co、W、CuおよびAlよりなる群から選択される1種以上の元素の酸化物と、酸化Pdと、不可避不純物からなり、該酸化Pdが一酸化Pdと二酸化Pdを含むものであり、かつ、記録層に含まれるX金属原子とPd原子の合計に対するPd原子の比率が4〜85原子%であることを特徴とする光情報記録媒体。 - レーザー光の照射により記録が行われる記録層と、該記録層に隣接して形成される誘電体層とを備えた光情報記録媒体であって、
前記記録層は、酸素1molに対する酸化物の標準生成自由エネルギーの絶対値がPdよりも大きい金属(以下、X金属という)である、Sn、Zn、Bi、Ge、Co、W、CuおよびAlよりなる群から選択される1種以上の元素の酸化物と、酸化Pdと、Nb、Ti、Si、およびTaよりなる群から選択される1種以上の元素を酸化物または金属の状態で合計30原子%以下と、不可避不純物からなり、該酸化Pdが一酸化Pdと二酸化Pdを含むものであり、かつ、記録層に含まれるX金属原子とPd原子の合計に対するPd原子の比率が4〜85原子%であることを特徴とする光情報記録媒体。 - 前記記録層に含まれる一酸化Pdと二酸化Pdの合計に対する二酸化Pdの比率が、5〜70モル%である請求項1または2に記載の光情報記録媒体。
- 前記誘電体層が、酸化物、窒化物、硫化物、炭化物、またはその混合物からなる請求項1〜3のいずれかに記載の光情報記録媒体。
- 前記誘電体層を構成する、前記酸化物はIn、Zn、Sn、Al、Si、Ge、Ti、Ga、Ta、Nb、Hf、Zr、Cr、BiおよびMgよりなる群から選択される1種以上の元素の酸化物であり、前記窒化物はSi、GeおよびTiよりなる群から選択される1種以上の元素の窒化物であり、前記硫化物はZn硫化物であり、前記炭化物はSi、TiおよびWよりなる群から選択される1種以上の元素の炭化物である請求項4に記載の光情報記録媒体。
- 前記誘電体層の膜厚が2〜40nmである請求項1〜5のいずれかに記載の光情報記録媒体。
- 前記記録層の膜厚が5〜100nmである請求項1〜6のいずれかに記載の光情報記録媒体。
- 前記記録層におけるレーザー光の照射された部分に、気泡が生成し、体積変化することにより記録が行われる請求項1〜7のいずれかに記載の光情報記録媒体。
- 請求項1〜8のいずれかに記載の光情報記録媒体の記録層形成用スパッタリングターゲットであって、
X金属であるSn、Zn、Bi、Ge、Co、W、CuおよびAlよりなる群から選択される1種以上の元素の酸化物とPdを含み、かつ、スパッタリングターゲットに含まれる該X金属原子とPd原子の合計に対するPd原子の比率が4〜85原子%であることを特徴とするスパッタリングターゲット。 - 請求項1〜8のいずれかに記載の光情報記録媒体の記録層形成用スパッタリングターゲットであって、
Sn、Zn、Bi、Ge、Co、W、CuおよびAlよりなる群から選択される1種以上のX金属原子とPd原子の合計に対するPd原子の比率で4〜85原子%のPdを含む合金からなることを特徴とするスパッタリングターゲット。
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