JP5396535B2 - スパークプラグ用の電極を形成するための電極用複合体の製造方法、及びスパークプラグの製造方法 - Google Patents

Description

本発明は、エンジンの着火に使用されるスパークプラグに関し、詳しくは、そのスパークプラグ用の電極を形成するための電極用複合体であって、第１電極部材と第２電極部材とを溶接してなる電極用複合体の製造方法、及びスパークプラグの製造方法に関する。

この種のスパークプラグにおいては、着火性を高めるため、中心電極又は接地側電極の火花ギャップ側の各端に、白金やイリジウム等の貴金属チップを溶接により固定してなるものがある。近時は、それらの電極の低コスト化を図るため、貴金属チップの小径、小型化の要請が強く、このような小径、小型化のためには、これを直接、各電極に溶接するのは効率的ではない。このため、貴金属チップ単体ではなく、図１０−Ａに示したように、予め、第１電極部材であるＮｉ等からなるチップ本体（以下、第１チップともいう）１１と、従来より小さ目に、別途形成された第２電極部材である貴金属チップ（以下、第２チップともいう）２１とを、図１０−Ｂに示したように位置決め、溶接して電極用複合体である複合チップ３１としておき、これを、そのチップ本体１１側を介して、スパークプラグの例えば主体金具の先端に形成された接地側電極本体（又は中心電極本体）に溶接してなるものが知られている（特許文献１、特許文献２）。なお、図１１は、このようなスパークプラグ４１の一例を示したもので、軸線Ｇ方向に軸孔を有する絶縁体４３と、この軸孔の先端側に配置された中心電極７１と、絶縁体４３の周囲を取り囲む主体金具５１と、一端がこの主体金具５１の先端５２に接合され、他端が中心電極７１の先端に対向するように設けられた接地側電極６１とを有するスパークプラグ４１であり、接地側電極６１は、接地側電極本体６０に、第１チップ１１と第２チップ２１とが接合されてなる複合チップ３１が接合されてなるものである。

ところで、このような貴金属チップ（第２チップ）２１は、その外径が１ｍｍ以下（例えば、０．７〜０．８ｍｍ程度）で、高さも０．５ｍｍ程度の微小な円柱形状をなすものである。そして、この第２チップ２１の端面２３が溶接される相手方のチップ本体（第１チップ）１１の接合面である端面（先端面）１３の外径も、これと同様に例えば、０．８ｍｍ程度と微小である。一方、この相手方の第１チップ１１が各電極（中心電極又は接地側電極）に接合される部位１５は、比較的、大径に形成される。したがって、このような第１チップは、図１０に示したように、通常、各電極（中心電極、接地側電極）に接合される側の端面１２を有する基部１５が大径で、第２チップ２１が溶接される端面１３側（先端面側）が小径の円柱部１７をなす同心異径の凸形円柱構造とされる。

一方、このような第１チップ１１の小径側の先端面（端面）１３に、第２チップ２１の端面２３を溶接するには、従来、次のようにしてその作業が行われていた。例えば、図１０中に示したように、チャック８１にて第１チップ１１を保持させ、その第１チップ１１の上に第２チップ２１を位置決め配置して溶接するというものである。そして、この場合には、そのチャック８１にて、第１チップ１１の大径をなす基部１５の外周面を挟み付けて保持し、その保持された第１チップ１１の小径側である円柱部１７の端面１３に、第２チップ２１の端面２３を同心状に位置決めして載せ、その他方の端面を押さえピン（図示せず）で押さえ付ける。そして、この押さえ付け状態の下で、チャック８１をその中心軸Ｃ１回りに回転させて、両チップ１１，２１の接合されるべき端面の外周縁を周回状にレーザ溶接する、というものである。

ところで、上記のようなチャック８１には、通常、複数のチャック爪（以下、単に爪ともいう）８３を有するコレットチャック機構のチャックが使用される。図１２に示したように、このようなチャック８１では、１つのシリンダ（図示せず）の駆動により、そのロッドと直交し、かつ、ロッドの軸方向から見て、通常、等角度間隔（３等分）に配置された各爪８３が、同時に、各爪８３を閉じる方向に同速度で前進して、第１チップ１１を締め付ける構成を有している。このため、理論上は第１チップ１１はチャック８１のチャック面８２の基準となる中心（基準中心軸）Ｃ１に正しく同心状態で固定されるようになっている。

特開２００４−１３４２０９号公報 特開２００９−１５８４０８号公報

しかし、このようなチャック８１で第１チップ１１をチャックすると、第１チップ１１は、図１２の破線の円で示した、チャック面８２において基準となる中心（チャックの基準中心軸）Ｃ１と同心をなす位置から、実線の円で誇張して示したように、多くの場合には微量ではあるが、ズレ（偏心誤差）Ｚのある状態で固定される。すなわち、第１チップ１１の実際の中心軸（中心とも言う）Ｃ２は、図１２に示したように、チャック８１の基準中心軸Ｃ１から偏心した位置となって固定される。これは、コレットチャックにかかわらず、複数の爪を有するチャックでは、複数の爪を１００％同時に、同速度で、同ストロークを数μ単位で前進させることは、その機構上からして不可能であることに起因している。したがって、このようなチャック８１により第１チップ１１を保持する場合には、チャックの基準中心軸Ｃ１に対して、最小でも片側で０．０２５ｍｍ程度のズレＺが生じるという問題があった。

一方、図１３に示したように、このようなズレＺのある状態でチャックされた第１チップ１１に対し、第２チップ２１を供給して配置する際には、予め設定されているチャック８１の基準中心軸Ｃ１が一定であることから、その中心軸Ｃ１を中心として、第２チップ２１が配置されるように制御しておくことで、その配置においては、チャック８１の基準中心軸Ｃ１に対する第２チップ２１の中心軸の誤差は、チャックの機構に基づいて不可避的に発生する固有の誤差に比べると、無視できる程度（０．００５ｍｍ単位の誤差）に小さく抑えることができる。すなわち、第２チップ２１は、チャック８１の基準中心軸Ｃ１に対しては、サーボ機構などを用いた供給手段によることで略誤差なく、高精度で配置できるわけである。したがって、従来の製法では、第１チップに対する第２チップの芯ズレ（軸度）の許容範囲としては、第１チップのチャック時に発生する、チャックの機構に基づいて不可避的に発生する固有の誤差を考慮し、片側で少なくとも±０．０２５ｍｍ程度の偏心誤差Ｚを許容範囲として与える必要があった。

反面、スパークプラグの性能向上のため、第１チップに第２チップを溶接する際の寸法精度向上の要請は益々高くなってきている。具体的には、両者の同軸度（偏心誤差）でみると、その許容範囲は、片側で、０．０１ｍｍ〜０．０１５ｍｍ程度が要求されるようになってきている。このため、上記のようなチャックで第１チップを固定して、第２チップを供給して溶接する方法では、このような厳しい同軸精度の要求を満たすことは困難になってきている。

そこで、このような対策としては、チャックに保持された第１チップに、第２チップを供給して配置した後において、両者の軸度（偏心量）を画像処理等により測定、検出して、その偏心量（誤差）に応じて、例えば、第２チップをずらして第１チップの中心軸に合わせ込む位置補正をすることも考えられる。しかし、このような位置補正は、一旦、第１チップに第２チップを供給、配置してからの位置補正であるから、接する両チップの各端面相互が擦りあい、キズが付く等の不具合が発生する可能性がある。また、第１チップに第２チップを供給、配置してからの位置補正であるから、工程が増加し、複合チップの製造効率の低下を招く原因ともなり、結果としてスパークプラグの生産性の低下を招く原因ともなる。さらに、チャックに保持された第１チップに対して、第２チップをずらして同軸に位置決め補正した後、チャックを回転させて両者の接合面の外周縁を溶接する際には、チャックの回転中心はチャックの基準中心軸Ｃ１であるのに対し、両チップの実際の中心軸はこの基準中心軸Ｃ１から誤差分ずれることになる。このため、レーザ溶接装置と溶接対象部位までの距離（レーザの照射距離）がチャックの回転に伴って変動するという問題もある。

前記した問題は、第１電極部材である第１チップ（チップ本体）と、第２電極部材である第２チップ（貴金属チップ）とを溶接してなる電極用複合体である複合チップを製造する場合に限られるものではない。図１１に例示のスパークプラグ４１は、その中心電極７１が、第１電極部材である中心電極本体７０とその先端に溶接された第２電極部材である電極用チップ７７とからなる電極用複合体をなしている。このような電極用複合体である中心電極７１の製造においても、上記したのと同様の装置を用い、中心電極本体７０をチャックして、この先端に電極用チップ７７を供給して位置決め配置し、上記したのと同様の工程を経ることで、その製造が行われていたためである。すなわち、上記した複合体チップ３１や中心電極７１に限らず、スパークプラグ用の電極を形成するための、第１電極部材と第２電極部材とを溶接してなる電極用複合体の製造においては、上記したのと同様の理由から同様の問題があった。

本発明は、上記した問題点に鑑みてなされたもので、製造効率の低下やキズ等の不具合発生を招くことなく、第１電極部材である第１チップ（チップ本体）に、第２電極部材である貴金属チップ（第２チップ）を高い同軸精度で効率的に配置し、溶接できるようにし、両チップを溶接してなる複合チップのような、スパークプラグ用の電極を形成するための電極用複合体を効率的に製造できる方法、及びスパークプラグの製造方法を提供することをその目的とする。

請求項１に記載の発明は、第１電極部材と、第２電極部材とがレーザ溶接によって接合されてなる、スパークプラグ用の電極を形成するための電極用複合体の製造方法であって、
前記第１電極部材を、チャックユニットのチャックに保持させる第１電極部材保持工程と、
前記第２電極部材をその端面が前記第１電極部材の端面に接するように供給する第２電極部材供給工程と、
前記第１電極部材と前記第２電極部材とが接する両端面の外周縁を溶接するレーザ溶接工程とを含む、スパークプラグ用の電極を形成するための電極用複合体の製造方法において、
前記第１電極部材保持工程の後、第２電極部材供給工程の前に、
前記第１電極部材の実際の中心軸の位置と、前記チャックユニットを構成する前記チャックを回転可能に支持する基台の基軸との偏心誤差を検出する偏心誤差検出工程を有しており、
該偏心誤差検出工程の後においてその偏心誤差が許容範囲を超えている場合に、前記第１電極部材の実際の中心軸を、前記基台の基軸の軸線にあわせ込む補正をする第１電極部材の中心軸位置補正工程を備えていることを特徴とする。

請求項２に記載の発明は、前記第２電極部材供給工程の後、前記レーザ溶接の前に、
前記第１電極部材と前記第２電極部材とが接する両端面の外周縁を仮溶接する仮溶接工程を含んでいることを特徴とする、請求項１に記載のスパークプラグ用の電極を形成するための電極用複合体の製造方法である。

請求項３に記載の発明は、前記チャックユニットは、周回する周回移動手段にその周回に伴って、順次、移動するように複数、配置されており、
前記偏心誤差検出工程と前記中心軸位置補正工程とが、その周回過程における同じ位置で行われることを特徴とする、請求項１又は２のいずれか１項に記載のスパークプラグ用の電極を形成するための電極用複合体の製造方法である。

請求項４に記載の発明は、前記チャックユニットは、周回する周回移動手段にその周回に伴って、順次、移動するように複数、配置されており、
前記第１電極部材保持工程と前記偏心誤差検出工程とが、その周回過程における異なる位置で行われることを特徴とする、請求項１〜３のいずれか１項に記載のスパークプラグ用の電極を形成するための電極用複合体の製造方法である。

請求項５に記載の発明は、軸線方向に軸孔を有する絶縁体と、この軸孔の先端側に配置された中心電極と、前記絶縁体の周囲を取り囲む主体金具と、一端が前記主体金具に接合され、他端が前記中心電極の先端に対向するように設けられた接地側電極とを有し、
前記中心電極又は該接地側電極が、第１電極部材と第２電極部材とが接合されてなる電極用複合体、又は該電極用複合体が接合されてなるものであるスパークプラグの製造方法において、
前記電極用複合体が、請求項１〜４のいずれか１項に記載の製造方法によって製造されたものであることを特徴とするスパークプラグの製造方法である。

請求項１の本発明では、第１電極部材（例えば、第１チップ。以下、第１チップともいう）をチャックに保持させたとき、その第１チップの実際の中心軸が、チャックの基準中心軸、すなわち、チャックユニットを構成するチャックを回転可能に支持する基台の基軸（チャックユニットの基軸）に対して偏心誤差があり、その偏心誤差が許容範囲を超えているとしても、第１チップに第２電極部材（例えば、第２チップ。以下、第２チップともいう）を供給して位置決め配置する前に、第１チップの実際の中心軸の位置を、チャックユニットの基台の基軸の軸線（位置）にあわせこむ位置の補正を行うものとしている。したがって、このように位置を補正した後における第１チップの位置は、チャックに伴う誤差のない基軸の位置にあるものとなる。したがって、このような位置にある第１チップに第２チップを供給して位置決め配置する場合には、両チップを簡易に高精度の同軸度で配置できる。そして、その後、チャックユニットを基軸の軸線回りに回転させて両者を溶接する場合には、両チップの中心軸はその基軸と高度の同軸が保持されているから、効率的に同軸精度の高い電極用複合体を得ることができる。

また、本発明では、チャックに保持された第１チップに、第２チップを供給して位置決め配置した後で、その両チップの同軸度を測定し、それが許容範囲外の誤差を有する場合において、第１チップに対する第２チップの軸度（偏心誤差）を調節する、というものではないから、接合面（両チップの当接端面）相互が擦ることもないのでキズが付くこともない。なお、請求項２に記載の発明のように、仮溶接工程含めることにより、本溶接工程の効率化が図られる。

そして、前記偏心誤差検出工程と前記中心軸位置補正工程とは、請求項３に記載のように、その周回過程における同じ位置で行われることとしてもよい。また、請求項４に記載のように、前記第１電極部材保持工程と前記偏心誤差検出工程とが、その周回過程における異なる位置で行われることとするのが好ましい。すなわち、第１電極部材である、例えば、前記第１チップを供給して保持させた後、前記周回移動手段を駆動し、この第１チップを保持したチャックユニットを所定量、移動して停止させた位置で、すなわち、第１チップを供給位置とは別の位置で、そのチャックに保持された第１チップの実際の中心軸の位置を画像処理により測定すると共に、この第１チップの実際の中心軸の位置と、該チャックユニットの前記基軸との偏心誤差を検出する、というものである。このように、これらの工程を１箇所でなく、別の位置で分けて行うと、各工程における所要時間の短縮を図ることができるから、電極用複合体（例えば、複合チップ）の製造効率を高めることができるためである。上記したように本発明によれば、第１電極部材に第２電極部材を、同軸精度の低下を招くこともなく、しかも、接合面にキズを付けることもなく、効率的に高精度の電極用複合体を製造することができる。

本発明の製造方法に用いる製造装置における各チャックユニットが配置された円形テーブルを上から見たときの概略構成図。 製造工程の開始位置にあるチャックユニットを上から見た拡大説明図。 図２のチャックユニットの説明用拡大立面図。 図３においてチャックに第１電極部材である第１チップを固定したときの偏心誤差Ｚを説明する図。 偏心誤差の測定を説明する上から見た説明用概念図。 図４における第１電極部材である第１チップの実際の中心軸Ｃ２が、基軸の軸線Ｃ３に一致するようにチャック位置調節手段を駆動して位置補正したときの説明図。 図６の第１電極部材である第１チップに、第２電極部材である第２チップを供給して位置決め配置する説明図。 レーザ溶接するときの説明図。 図３において、製造されるべき電極用複合体が中心電極である場合のチャックユニットの説明用拡大立面図。 複合チップの構成を説明する図であって、左図はその溶接前の各チップ、右図は溶接後の複合チップの各説明図。 複合チップを使用したスパークプラグの説明図。 チャックに第１チップを固定する際に発生する偏心誤差の説明図。 偏心誤差のある第１チップの上に第２チップを配置したときの説明図。

本発明の製造方法を具体化した実施の形態例について、図面に基づいて詳細に説明するが、まず、本形態例で製造される電極用複合体について説明する。ただし、本例で製造される電極用複合体は、図１０の右図（Ｂ）に示した複合チップ３１とする。そして、図１０の左図（Ａ）に示したように、この複合チップ３１を構成する第１電極部材は第１チップ１１とし、第２電極部材は第２チップ２１とする。詳細は次のようである。この複合チップ３１を構成する第１チップ（ニッケル製のチップ本体）１１は円盤状の基部１５と、これより小径（例えば、外径０．７８ｍｍ）で、この基部１５の図示上方の端面において同心で円柱状に隆起する円柱部１７を備えて凸形に形成されている。ただし、この基部１５の反対側（図示下側）の端面（底面）１２の中心には、円錐台形状をなす微小凸部１９を同心で有している。また、第２チップ（貴金属製（例えば、Ｐｔ製）のチップ）２１は、図１０の左図（Ａ）に示したものと同じで、第１チップ１１における円柱部１７より微量小径（外径が０．７５ｍｍ）の円柱体形状に形成されたものである。

しかして、図１０の右図（Ｂ）に示したように、この第１チップ１１の小径部の端面１３上に、火花ギャップ側をなす第２チップ２１を供給し、第２チップ２１の端面２３が第１チップ１１の端面１３に同心となるように位置決め配置し、両チップ１１，２１が接する両端面１３，２３の外周縁を、周方向に沿ってレーザ溶接することで複合チップ３１をなすものである。なお、この複合チップ３１は、図１１に示したように、本例では、その後、スパークプラグ用の主体金具５１の先端５２に溶接された接地側電極本体（又は中心電極）６１に溶接されてスパークプラグ４１を構成する。なお、本形態では、許容同軸度（許容偏心誤差）は、例えば、片側で０．０１５ｍｍと微量であり、第２チップが第１チップの小径の円柱部より外方に、はみださないことが偏心誤差の許容限度とされている。

次に、このような複合チップ３１を溶接して製造する本例製法に使用される手段（製造装置）について、図１等に基づいて詳細に説明する。ただし、図１中、１０１は、次に説明する各チャックユニット１１０を、それぞれ同時に、周回移動させる周回移動手段としての円形テーブルである。図１は、各チャックユニット１１０が配置された円形テーブル１０１を上から見たときの概略構成図である。この円形テーブルはその中心を回転中心として、図示しない回転駆動手段で６０度回転しては停止する間欠回転をするように構成されている。そして本例では、各チャックユニット１１０は、円形テーブル１０１の中心１００を回転中心とする１仮想円１０３上であって、その１仮想円１０３を６等分する直線１０５との交点（同１仮想円１０１と、円形テーブル１０１の回転中心１００から６０度の等角度間隔で放射状に引いた半径線１０５との交点）を中心Ｃ１として、その各中心Ｃ１に同じ構成のものが６箇所に、高い寸法精度で配置、取り付けられている。これにより、円形テーブル１０１が６０度回転すると、その仮想円１０３を軌道として各チャックユニット１１０もその回転に対応して移動（本例では、図１において左回りに回転（周回））する設定とされている。ただし、各チャックユニット１１０は、詳細は後述するが、円形テーブル１０１において、その仮想円１０３を６等分する半径線１０５との交点を中心Ｃ１として回転可能に配置されている。なお、図１は、円形テーブル１０１が回転していないとき（停止位置しているとき）を示している。

次に、円形テーブル１０１に配置された各チャックユニット１１０について、図２、図３に基づいて説明する。各チャックユニット１１０は、その最上部に、第１チップ１１の基部１５の外周側を保持可能の複数（本例では３）のチャック爪８３を備えたコレットチャック８１方式のチャック８１を備えている。このチャック８１は、その下に、このチャック８１を開閉駆動する図示しないチャック駆動手段（エアシリンダ等）を内蔵したチャック台８５を備えている。チャック８１は、このようなチャック台８５も含んで構成される。このチャック８１を含むチャック台８５は、そのチャック８１の基準中心軸Ｃ１の位置を、平面視、直交する２方向（Ｘ，Ｙ方向）に調節を可能とした公知のチャック位置調節手段９０の上に配置されている。このチャック位置調節手段９０は、その下の基台１２０上においてガイドに沿って、平面視、例えばＸ方向にスライド状に動く横スライド体（盤）９１と、この横スライド体（盤）９１の上においてガイドに沿って、平面視、Ｘ方向と直交するＹ方向にスライド状に動く縦スライド体９３と、そして、これらをＸ，Ｙ方向にそれぞれ駆動する図示しないサーボ機構などから構成されている。チャック台８５は、チャック位置調節手段９０をなす上の縦スライド体９３の上に支持されるように固定されている。また、このチャック位置調節手段９０を支持する基台１２０は、その底部に設けられた基軸９２を、円形テーブル１０１における上記した仮想円１０３と、６０度間隔に引かれた半径線１０５との交点を中心として、高精度で配置された軸受１０６に支持させることで、円形テーブル１０１に配置されている。ただし、この基軸９２は、図示しないチャックユニット回転駆動手段により回転するように設けられており、その駆動に応じて各チャックユニット１１０を円形テーブル１０１において回転させる構成とされている。なお、チャック８１の基準中心軸Ｃ１は、この基軸９２の軸線Ｃ３と、設計上の基準位置として同軸（軸線を同じ）に保持されている。

このように本例では、円形テーブル１０１に対し、基軸９２が回転されることで、それと一体の基台１２０、及びその上に設けられたチャック位置調節手段９０、さらに、その上に設けられたチャック８１を含むチャックユニット１１０が、図示しない回転駆動手段を介して回転できるように設けられている。また、この基軸９２と、チャック８１の基準中心軸Ｃ１とは、チャック位置調節手段９０が基準位置にあるとき、同軸となるように設定されている。このため、チャック位置調節手段９０が基準位置にあるときにおいて、円形テーブル１０１に対し、基軸９２が回転されると、チャック８１は基軸９２の軸線（中心線）と一致する、その基準中心軸Ｃ１を回転中心として回転する構成とされている。なお、本例では、基軸９２の回転は、円形テーブル１０１の周回過程（回転過程）において円形テーブル１０１が停止しているときに行われるように設定されている。

さて、次にこのような円形テーブル１０１を間欠回転させることで、本例における電極用複合体である複合チップ３１を製造する工程について説明する。ただし、本例では、図１の右端の位置が第１電極部材である第１チップ１１を供給して配置する位置、すなわち、工程の開始位置（第１ポジション）Ｐ１として説明するが、先ずその全工程の概要について説明する。すなわち、円形テーブル１０１を回転駆動して停止し、この開始位置にあるチャックユニット１１０のチャック８１に、第１チップ１１を第１チップ供給手段（第１電極部材供給手段。図示せず）にて供給して、第１チップ１１を、その基部１５がチャック面８２側を向くように、チャック８１の上方から配置し、保持（チャック）させる。そして、円形テーブル１０１を６０度、回転（左回転）させ、停止し、これを繰り返すと、第２ポジションＰ２から順次、第６ポジションＰ６に、そのチャックユニット１１０は円軌道（仮想円１０３の円周）に沿って送られ、各停止位置では次のような工程が行われる。すなわち、第２ポジションＰ２以降の各ポジション（停止位置）では、順次、第１チップ１１の位置補正、第２電極部材である第２チップ２１の供給及び仮溶接、第１チップ１１と第２チップ２１との本溶接、溶接状態等の画像検査、そして、溶接された電極用複合体である複合チップ３１の排出（取り出し）の各工程が行われる。このような各工程について、以下、開始位置（第１ポジション）Ｐ１における工程から、工程に沿って順次、説明する。

開始位置（第１ポジション）Ｐ１では、開き状態にあるチャック８１に、第１チップ１１を供給する。そして、上記したようにチャック８１の爪８３を駆動して、その基部１５を外周面側から挟み付けて保持する、第１電極部材保持工程である第１チップ保持工程（以下、第１チップ保持工程ともいう）を行う。本例のチャック８１は、平面視、３等角度間隔で配置された３個のチャック爪８３がチャック面８２に沿って同時に、チャック８１中心に向けて等量移動する構成のものとされている。すなわ、チャック８１の基準中心軸Ｃ１に、第１チップ１１をその基部１５中心が位置するようにして置いたとき、その基部１５の外周面を径方向に、３つの爪８３で締め付ける構成とされている。なお、本例では図３に示したように、各チャック爪８３はその締め付け時において、基部１５をチャック面８２側に押付ける（引き付ける）分力が発生するように、その爪８３の内側（基準中心軸Ｃ１側）がチャック面８２から離れる位置ほどチャック８１の基準中心軸Ｃ１に向かうように、適量（５度から１５度）傾斜する傾斜面を備えている。これにより、第１チップ１１はそのチャック８１時に、チャック面８２から浮き上がるのが防止されている。なお、第１チップ１１は、従来公知のパーツフィーダからなる第１チップ供給手段を介して、その基部１５を、第１ポジションＰ１において開き状態にあるチャック８１の中心に位置するようにしてチャック面８２上に供給される。

そして、上記したような第１チップ保持工程により、この第１ポジションＰ１においてチャックされた第１チップ１１については、図４に示したように、各爪８３の前進速度やストロークの微小な相違に起因して、第１チップ１１の実際の中心軸Ｃ２は、チャック８１の基準中心軸Ｃ１又は基軸９２の軸線Ｃ３に対して微小なズレ（偏心誤差）Ｚがあるものとなっており、その偏心量は、上記もしたように片側で、０．０２５ｍｍ程度である。

次に、前記のようにして開始位置において第１チップ１１をチャックした後、円形テーブル１０１を６０度回転させて停止する。こうすることで、第１チップ１１をチャックした状態のチャックユニット１１０は、第２ポジションに移動させられ、そこで停止する。本例ではその停止位置（第２ポジション）Ｐ２において、チャック８１に保持された第１チップ１１における実際の中心軸Ｃ２の位置を画像処理により測定する。ここでは、図５に示したように、この第１チップ１１の実際の中心軸Ｃ２の位置と、その停止位置において、第１チップ１１の中心軸が本来位置すべき位置として予め設定されている位置（正規の基準位置）とのＸ方向、Ｙ方向の偏心量（偏心誤差：Ｅｘ，Ｅｙ）を検出する。この基準位置は本例では、チャックユニット１１０の基軸９２の位置でもあるから、この基軸９２の軸線Ｃ３の位置に対する第１チップ１１の実際の中心軸Ｃ２の位置との平面上の偏心誤差Ｚを検出する。

そして、この第２ポジションＰ２における偏心誤差検出工程において、その偏心誤差Ｚが許容範囲を超えている場合に、上記したチャック位置調節手段９０を駆動して、図６に示したように、第１チップ１１の実際の中心軸Ｃ２の位置を、基軸９２の軸線Ｃ３の位置にあわせ込むチャック８１の平面位置の補正を行う。この第１チップの中心軸位置補正工程は、本例では、上記したような、チャック位置調節手段９０を構成する横スライド体９１と、縦スライド体９３とをそれぞれ、Ｘ方向、Ｙ方向に所定量駆動して、第１チップ１１の実際の中心軸Ｃ２の位置を、基軸９２の軸線Ｃ３の位置にあわせ込むことによる。なお、このようにあわせこました後でも、チャック８１の基準中心軸Ｃ１に対する第１チップ１１の実際の中心軸Ｃ２の偏心誤差Ｚは存在する。

ここでの第１チップ１１の実際の中心軸Ｃ２の位置の測定等、すなわち、偏心誤差検出工程、第１チップの中心軸位置補正工程は次のように行えばよい。例えば、第１チップ１１の先端面（円柱部の先端面）１３をカメラで撮影してモニタに画像表示し、その第１チップ１１の先端面（円柱部の先端面）１３の中心（又は外周縁）Ｃ２の位置を画像処理により測定する。そして、その測定結果に基づいて、その中心軸Ｃ２が、第２ポジションＰ２において位置すべきものとして予め設定されている正規の基準位置（基軸９２の軸線Ｃ３の位置）に対し、平面的にＸ方向、Ｙ方向にどれだけの誤差（Ｅｘ，Ｅｙ）があるかを検出（誤差検出）する（第１チップ（第１電極部材）の偏心誤差検出工程）。一方、その検出量（誤差）に基づき、それによる偏心誤差Ｚが許容範囲を超えている場合に、そのチャック位置調節手段９０を駆動して、各スライド体９１，９３をＸ方向又はＹ方向に、所定量スライドして微調整する（第１チップ（第１電極部材）の中心軸位置補正工程）。こうして、図６に示したように、その第１チップ１１の実際の先端面（円柱部の先端面）の中心軸Ｃ２を、その停止位置において位置すべき基軸９２の中心Ｃ３の位置に合わせこます。本例では、前記測定結果い基づいて、このような微調整がコンピュータ制御で行われるようにプログラムしてある。なお、カメラやチャック位置調節手段９０の駆動は、第２ポジションＰ２にチャックユニット１１０が送られた信号を検知して順次作動するように設定され、当該チャックユニット１１０が、そのチャック位置調節手段９０によるその位置の補正後、同ポジションから離れることでリセットされるように設定されている。なお、位置調節手段９０による、チャック８１の位置の調整後は、例えば、各スライド体９１，９３をロック機構で機械的にロックするように設定されている。

次に、第２ポジションＰ２において第１チップ１１の位置補正をした後は、円形テーブル１０１を６０度回転させて停止する。こうすることで、第１チップ１１の実際の中心軸Ｃ２が基軸９２の軸線Ｃ３に位置補正されている状態にあるチャックユニット１１０は、図６の状態のまま、第３ポジションＰ３に移動させられる。本例では、そこで、第２電極部材供給工程である第２チップ（Ｐｔチップ）２１の供給（以下、第２チップ供給工程ともいう）及び仮溶接（仮溶接工程）が行われるように設定されている。すなわち、第２チップ２１は、例えば、図７に示したような従来公知のハンドリング手段１３１や搬送手段１３３を含む供給手段１３０により、その外周面をグリップして保持され、その保持状態のまま、その１端面２３が、第３ポジションＰ３にある第１チップ１１の小径の円柱部の先端面の上に位置決めされるようにして載置する。なお、この供給、配置においては、第１チップ１１の位置に対する、第２チップ２１の位置合わせが問題となるが、第１チップ１１は、その中心軸Ｃ２がチャックユニット１１０における基軸９２の軸線Ｃ３に一致するように補正されている。したがって、問題は、第２チップ２１をその中心Ｃ２が基軸９２の軸線（中心）Ｃ３に位置合わせする際の移動精度だけであり、このような第２チップ２１の移動は、サーボ機構などを用いた供給手段１３０によることで、略誤差なく数μないし１０μ単位の高精度で配置できるから、第２チップ２１の供給、配置においては問題となる誤差の発生を招くことはない。

したがって、このように第１チップ１１に第２チップ２１を供給して、両者の端面が接するように位置決め配置した後は、この第３ポジションＰ３において、第２チップ２１の先端面を例えば、押えピンで押え付けた状態の下で、両チップ１１，２１が接する両端面１３，２３の外周縁を周回するようにレーザ溶接すればよいが、本例では、ここで、その外周縁の一部にレーザを１パルス照射して仮溶接する仮溶接工程が含められている（図８参照）。このように、本例では、第３ポジションＰ３には、図７に示した、第２電極部材である第２チップ２１の供給手段１３０と、第２チップ２１の図示しない押え付け手段（押えピン）に加えて、仮溶接用のレーザ溶接装置２０１が配置されている（図１参照）。ただし、押えピンは仮溶接後に上昇するように設定とされている。なお、このように仮溶接する前には、好ましくは、画像処理などにより２以上の方向から第２チップ２１の位置の確認を行うとよい。

本例では、この仮溶接工程の後、円形テーブル１０１を６０度回転させて停止し、第２チップ２１が仮溶接された第１チップ１１をチャック８１した状態のチャックユニット１１０を、図１における第４ポジションＰ４に移動させ、ここで、両チップ１１，２１の本溶接を行う場合を例示する。すなわち、この第４ポジションＰ４では、第１チップ１１と第２チップ２１との接合面の外周縁を周回する形で、両チップ１１，２１をレーザ溶接する。ただし、このレーザ溶接（本溶接）においては、チャックユニット１１０のうち、チャック位置調節手段９０を支持する基台１２０の底部に設けられた基軸９２を、円形テーブル１０１に対して、図示しないチャックユニット１１０回転駆動手段を介して略１回転させ、この第４ポジションＰ４の近傍に配置されているレーザ溶接装置３０１にて、その回転過程で適数回（例えば８回）のパルスレーザ溶接をすることとしている。こうすることで、図１０の右図に示したように、第１チップ１１に第２チップ２１がレーザ溶接された複合チップ３１が得られる。

なお、このレーザ溶接する過程でのチャックユニット１１０の回転における回転中心は、基軸９２の軸線Ｃ３（中心）であるが、第１チップ１１の実際の中心軸Ｃ２は、上記した位置補正により、この基軸９２の中心である基軸の軸線Ｃ３にあり、しかも、第２チップ２１は第１チップ１１と高度の同心性が保持されている。このため、レーザ溶接装置３０１が固定されているとしても、レーザ照射距離に狂いがでることがない。なお、このような本溶接では、図８に示したように、第２チップ２１を第２押さえピン３０５で押えつけた状態で行うのがよい。なお、この第２押さえピン３０５は、チャックユニット１１０の回転に同期して回転するように設置しておくか、スラスト軸受を介して自由に同期回転するようにしておくのが好ましい。なお、本溶接に際しては、レーザ溶接装置３０１に、レーザ照射位置（高さ）を補正する補正手段を設けておき、両チップ１１，２１の接合面の高さをセンサで検出して、これを自動調節できるようにしておくとよい。第１チップ１１自身の高さについても微小な寸法公差が付与されるためである。また、この溶接時には、図８に示したように、溶接部位に向けて例えば、アルゴンガスを吹き付け手段３０７を設けておき、溶接過程で同ガスを吹き付けるようにし、溶接スパッタが複合チップ３１の表面に付着するのを防止するとよい。

さて、上記のように第４ポジションＰ４において本溶接することで、複合チップ３１は製造されるが、本例では、その後、円形テーブル１０１を６０度回転させて第５ポジションＰ５に停止させ、この第５ポジションＰ５において、複合チップ３１における溶接部位を含むその表面の溶接スパッタの付着や溶接ダレの有無等を、画像検査処理で外観検査するようにしている。なお、この検査においても、第４ポジションＰ４におけるのと同様に、チャックユニット１１０における基軸９２を回転させて、その外観検査をするとよい。また、その検査においては、その回転により、溶接スパッタや溶接ダレを突出部（凸部）として、容易に検知することができる。

本例では、この画像検査処理の工程後は、円形テーブル１０１を６０度回転させて、チャックユニット１１０を排出位置である第６ポジションＰ６に送り、チャック８１を解除し、本溶接後の複合チップ３１を排出することで、溶接済の複合チップ３１が取り出される。なお、この排出に際しては、前記ポジションＰ５における外観検査の合否（良品、不良品）の判定に基づき、合否の別に分類されるようにして各複合チップ３１が排出されるようにしておくのが好ましい。かくして複合チップ３１が取り出された後のチャックユニット１１０は、円形テーブル１０１を６０度回転させることで、第１ポジションＰ１である工程の開始位置に送られる。なお、外観検査後、開始位置に送られる前に、再度、チャック位置調節手段９０を駆動して、チャック８１の基準中心軸Ｃ１をチャックユニット１１０の基軸９２に一致させるようにリセットするようにしておくとよい。以後は、上記したのと同様、第１チップ１１の供給から始まる各工程を繰り返すことで、次々と電極用複合体である複合チップ３１が製造される。

上記したように、本形態の製造方法によれば、第１電極部材である第１チップ１１をチャック８１にて保持した後、その第１チップ１１の実際の中心軸Ｃ２が、チャック８１の基準中心軸Ｃ１及び基軸９２の軸線から許容範囲を超えて、偏心しているとしても、第２ポジションＰ２において、第２電極部材である第２チップ２１を供給して位置決め配置する前に、その第１チップ１１の位置を基軸９２の位置にあわせ込む位置の補正を行うこととしている。すなわち、第１チップ保持工程（第１電極部材保持工程）の後、第２チップ供給工程（第２電極部材供給工程）の前に、第１チップ１１の実際の中心軸Ｃ２の位置と、チャックユニットを構成するチャック８１を回転可能に支持する基台１２０の基軸９２との偏心誤差を検出する偏心誤差検出工程を有しており、この偏心誤差検出工程の後においてその偏心誤差が許容範囲を超えている場合に、第１チップの実際の中心軸Ｃ２を、基台１２０の基軸９２の軸線Ｃ３にあわせ込む補正をする第１チップの中心軸位置補正工程を備えている。したがって、その後の第３ポジションＰ３において、位置決めされた第１チップ１１に、第２チップ２１を供給する際には、高度の軸精度で両チップ１１，２１を、基軸９２と同心で配置することができる。それ故、その後、チャックユニット１１０を基軸９２の軸線Ｃ３回りに回転させて両者を溶接する場合には、効率的に、しかも軸精度の高い複合チップ３１を得ることができる。

すなわち、上記製法においては、チャック８１に保持された第１電極部材である第１チップ１１に、第２電極部材である第２チップ２１を供給して位置決め配置した後（第２チップ２１の供給工程の後）で、その両チップ１１，２１の同軸度を測定し、それが許容範囲外の誤差を有する場合において、第１チップ１１に対する第２チップ２１の軸度（偏心誤差）を調節する、というものではないから、接合面（両チップの当接端面）１３，２３相互が擦ることもないのでキズが付くこともない。

しかも、本形態では、上記したように、円形テーブル１０１に、チャックユニット１１０をその回転中心１００と同心の１仮想円１０３上において、等角度間隔で６箇所設け、６０度ごとの各ポジションＰ１〜Ｐ６で、第１電極部材である第１チップ１１のチャック８１への供給、保持工程、第１チップ１１の偏心誤差検出工程および中心軸位置補正工程、第２電極部材である第２チップ２１の供給工程、仮溶接工程、本溶接、画像検査、溶接された複合チップ３１の排出の工程を行わせ、円形テーブル１０１を１回転させる間に複合チップを製造し、排出するものである。すなわち、このような複数に分けられた工程を、それに対応する数の各停止位置において分けて行うものであることから、各停止位置での停止時間の短縮が図られるため、電極用複合体である複合チップ３１の製造効率を格段と高めることができる。

なお、上記形態では、第１電極部材である第１チップ１１の位置検出（偏心誤差検出工程）と、その位置補正（中心軸位置補正工程）とを、円形テーブル１０１の回転過程（周回過程）における同じ位置（第２ポジションＰ２）で行うものとしているが、第２電極部材である第２チップ２１の供給前であればよく、その周回過程における異なる位置で行うものとしてもよい。したがって、上記形態で、第１電極部材である第１チップ１１の実際の中心軸Ｃ２の位置と、該チャックユニット１１０の前記基軸９２軸線Ｃ３との偏心誤差を検出した後（偏心誤差検出工程後）、円形テーブル１０１を再度回転させて、チャックユニット１１０を所定量、移動して停止させ、その検出工程後の異なる停止位置において、その偏心誤差が許容範囲を超えている場合に、上記したようにしてチャック８１の位置の補正（中心軸位置補正工程）、すなわち、第１電極部材である第１チップ１１の実際の中心軸Ｃ２の位置を、基軸９２の位置にあわせ込むようにしてもよい。このように、この位置補正（中心軸位置補正工程）は、第１電極部材供給工程である第２チップ供給工程の前であれば別の位置で行ってもよい。

また、上記例では、６のポジションにおいて各工程を行う場合で説明したが、上記工程のうち、第１チップ１１のチャック８１への供給工程（第１電極部材保持工程）、第１チップ１１の偏心誤差検出工程、中心軸位置補正工程、第２チップ供給工程（第１電極部材供給工程）、仮溶接工程までの５つの工程を、それぞれ別に第１から第５の各ポジションで行わせ、本溶接工程、外観検査工程、そして、排出工程の３つの工程を、第６から第８の３つのポジションで行うように、４５度間隔で停止させて、８のポジションでそれぞれ行うようにしてもよい。なお、外観検査工程は本溶接後の複合チップの排出工程後に、別途行うこともできるし、排出は本溶接を行う位置で行うこともできる。

さらに、上記形態では、両電極部材である両チップの両端面の外周縁をレーザ溶接（本溶接）するのに、事前の工程（第２電極部材供給工程）で仮溶接し、その後、移動した後のポジションＰ４で、本溶接する場合を説明したが、このような仮溶接を行うことなく、上記例における第４ポジションＰ４で、仮溶接と本溶接を同時に行ってもよいし、直接、本溶接を行うこともできる。さらに、本溶接は、例えば、２台のレーザ溶接装置を使って行うこともできる。なお、このような場合には、チャックユニット１１０は基軸９２回りに半回転以下の回転とすることもできる。

本発明は、上記した各内容のものに限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で適宜に変更を加えて具体化できる。例えば、各チャックユニットの周回移動手段として、テーブルを回転させるものとして説明したが、この周回移動手段はこれに限定されるものではない。なお、製造される電極用複合体が上記した複合チップである場合には、スパークプラグの中心電極又は接地側電極のいずれを形成するものでもよい。そして、このようにして製造された複合チップ３１を用いて、図１１に示したようなスパークプラグ４１における中心電極７１又は接地側電極６１を構成することで、高性能のスパークプラグが得られる。すなわち、電極用複合体である複合チップ３１をなす第２チップが火花ギャップ側に位置するように、例えば、接地側電極本体６０に、第１チップ１１を介して溶接することで、接地側電極が形成される。

上記形態例では、製造される電極用複合体が、図１０の右図（Ｂ）に示した複合チップ３１である場合で説明したが、上記したことからも明らかなように、本発明で製造される電極用複合体はこのような複合チップ３１に限定されるものではない。すなわち、電極用複合体が、図１１に示されるようなスパークプラグ４１の中心電極７１全体であり、第１電極部材が、その中心電極本体７０で、第２電極部材が中心電極本体７０の先端に溶接される電極用チップ７７であってもよい。このような中心電極７１自体の製造においても、図９に示したように、上記したのと同様の装置、及びチャックユニット１１０を用い、軸部材である中心電極本体７０をチャックして、この先端７２に電極用チップ（上記形態における貴金属チップに相当するもの）７７を供給して位置決め配置し、上記したのと同様の工程を経ることで、その製造を行うことができるためである。

すなわち、電極用複合体が、このような中心電極７１である場合には、図９に示したように、上記例で示された製造装置のうち、チャックユニット１１０を構成するチャック８１、及びその爪８３を、図９中に示した第１電極部材である中心電極本体７０を適正に保持可能な形状、構造のものとしておけばよい。そして、この中心電極本体７０を、そのチャック８１の爪８３にて保持させた後、第２電極部材である電極用チップ７７を、その端面が中心電極本体７０の端面（先端面）７２に同心で接するように供給、配置し得るようにしておく等、電極用複合体を構成する両電極部材が上記例における複合チップの場合と相違するものの、上記形態例におけるのと同様の工程を経ることで、同様の効果が得られることは明らかである。

なお、このように電極用複合体が中心電極７１自体である場合には、これを構成する第１電極部材である中心電極本体７０は、上記形態例における第１チップ１１と異なり、相対的に太く長いものとなる。具体的には、中心電極本体７０は、例えば、図９中に示したように、円形軸部（同径の円形軸部）７３を基体とし、その後端（図示下端）７５寄り部位に同軸で外向きに突出する円形フランジ７６を有している。このような場合には、図９に示したように、チャック８１は、これを駆動して、中心電極本体７０における円形フランジ７６より先端寄り部位における円形軸部７３の中間部位（外周面）を保持できるものとしておくとよい。図９におけるチャック８１は、その爪８３が、中心電極本体７０の円形フランジ７６を含むその円形軸部７３の後端寄り部位を収容可能に形成されている。なお、図９においては、第２電極部材である電極用チップ７７は、第１電極部材である中心電極本体７０の先端７２の外径より微量小さい外径を有する円柱体とされている。このため、電極用チップ７７は、その端面が中心電極本体７０の先端（先端面）７２に同軸（同心）で当接するように供給、配置された後、その接合面の外周に沿って溶接される設定とされている。

上記各例では、電極用複合体として複合チップ、及び中心電極を製造する場合を例示したが、本発明の電極用複合体は、これらに限定されるものではなく、スパークプラグ用の電極を形成するための電極用複合体に広く適用できる。すなわち、本発明に係る電極用複合体は第１電極部材と、第２電極部材とがレーザ溶接によって接合されてなる、スパークプラグ用の電極を形成するためのものの製造に広く適用できる。このようなものは、そのいずれの製造においても、上記したのと同様の装置を用い、第１電極部材をチャックして、この先端に第２電極部材を供給して位置決め配置し、上記したのと同様の工程を経ることで、その製造が行われており、したがって、上記の工程を経ることで、上記したのと同様の効果が得られるためである。なお、電極用複合体は、例えば、中心電極の全体でなく部分であり、第１電極部材と第２電極部材が溶接されることでその中心電極の部分（例えば、中心電極の全体ではないが先端を含む部分）を形成する、中心電極の構成部材であってもよい。

なお、電極用複合体の製造方法に係る発明として、以下のような別形態例１〜３を開示しておく。ただし、以下の別形態例１〜３においては、製造される電極用複合体が複合チップであり、第１電極部材が第１チップ（チップ本体）であり、また、第２電極部材が第２チップ（貴金属チップ）である場合を例示している。しかし、これら別形態例１〜３においても、電極用複合体は、スパークプラグ用の電極を形成するための電極用複合体である限り、中心電極等にも適用できる。すなわち、以下の別形態例１〜３において、複合チップに代えて、これを電極用複合体（例えば中心電極）とし、第１チップに代えて、これを第１電極部材（例えば中心電極本体）とし、第２チップに代えて、これを第２電極部材（例えば、貴金属チップなどからなる電極用チップ）とすることもできる。

（別形態例１）
チップ本体である第１チップと、貴金属チップである第２チップとを溶接してなる、スパークプラグ用の電極を形成するための複合チップの製造方法であって、
第１チップと第２チップとの両者の端面が接するように位置決めする工程と、第１チップと第２チップとが接する前記両端面の外周縁を溶接するレーザ溶接工程とを含む、スパークプラグ用の電極を形成するための複合チップの製造方法において、
その方法に使用する製造装置は、第１チップを保持可能の複数のチャック爪を備えたチャックと、このチャックを支持し、このチャックの基準中心軸の位置を調節可能のチャック位置調節手段と、該チャック位置調節手段を支持する基台と、を含んでなるチャックユニットを複数備えていると共に、該各チャックユニットにおける前記基台は、前記チャックの基準中心軸と同軸、又は前記チャック位置調節手段によって調節することで該チャックの基準中心軸と同軸とし得る基軸を有しており、
この各チャックユニットは、所定の軌道上を周回し、少なくとも、前記各工程を行う位置において停止するように制御される周回移動手段のうちの所定の位置に、前記基軸を介して配置されており、しかも、各チャックユニットは、少なくとも、上記レーザ溶接工程を行う位置において、前記基軸の軸線を回転中心として回転可能に構成されており、
前記周回移動手段を駆動した後、工程の開始位置にあるチャックユニットのチャックに、第１チップを供給して保持させ、その後、前記周回移動手段を駆動し、この第１チップを保持したチャックユニットを所定量、移動して停止させ、
その停止位置において、そのチャックに保持された第１チップの実際の中心軸の位置を画像処理により測定すると共に、この第１チップの実際の中心軸の位置と、該チャックユニットの前記基軸との偏心誤差を検出し、
その偏心誤差が許容範囲を超えている場合に、前記チャック位置調節手段を駆動して、前記チャックの位置の補正を行うことで、第１チップの実際の中心軸の位置を、前記基軸の位置にあわせ込み、その後、前記周回移動手段を駆動して該チャックユニットを所定量、移動して停止させ、
その停止位置において第２チップを供給して、第１チップと第２チップとの両者の端面が接するように位置決めし、
その後、この第１チップに第２チップが位置決め配置されたチャックユニットを、前記基軸の軸線を回転中心として回転させて、第１チップと第２チップとが接する前記両端面の外周縁をレーザ溶接することを特徴とする。

（別形態例２）
別形態例２は、上記別形態例１において、
チャックに保持された第１チップの実際の中心軸の位置を画像処理により測定すると共に、この第１チップの実際の中心軸の位置と、該チャックユニットの前記基軸との偏心誤差を検出し、
その偏心誤差が許容範囲を超えている場合に、前記チャック位置調節手段を駆動して、前記チャックの位置の補正を行うことで、第１チップの実際の中心軸の位置を、前記基軸の位置にあわせ込み、その後、前記周回移動手段を駆動して該チャックユニットを所定量、移動して停止させ、たことに代えて、
チャックに保持された第１チップの実際の中心軸の位置を画像処理により測定すると共に、この第１チップの実際の中心軸の位置と、該チャックユニットの前記基軸との偏心誤差を検出し、その後、前記周回移動手段を駆動し、該チャックユニットを所定量、移動して停止させ、
その停止位置において、その偏心誤差が許容範囲を超えている場合に、前記チャック位置調節手段を駆動して、前記チャックの位置の補正を行うことで、第１チップの実際の中心軸の位置を、前記基軸の位置にあわせ込み、その後、前記周回移動手段を駆動して該チャックユニットを所定量、移動して停止させ、たことを特徴とする、スパークプラグ用の電極を形成するための複合チップの製造方法である。

（別形態例３）
別形態例３は、上記別形態例１又は２において、
第２チップを供給して、第１チップと第２チップとの両者の端面が接するように位置決めし、
その後、この第１チップに第２チップが位置決め配置されたチャックユニットを、前記基軸の軸線を回転中心として回転させて、第１チップと第２チップとが接する前記両端面の外周縁をレーザ溶接すること、に代えて、
第２チップを供給して、第１チップと第２チップとの両者の端面が接するように位置決めし、
その後、この第１チップと第２チップとが接する前記両端面の外周縁をレーザ溶接により仮溶接し、その後、前記周回移動手段を駆動し、該チャックユニットを所定量、移動して停止させ、
その停止位置において、該チャックユニットを、前記基軸の軸線を回転中心として回転させて、第１チップと第２チップとが接する前記両端面の外周縁をレーザ溶接すること、を特徴とする、スパークプラグ用の電極を形成するための複合チップの製造方法である。

（別形態例４）
別形態例４は、前記周回移動手段が、各チャックユニットを一定の円軌道上に沿って等角度間隔で所定量ずつ間欠的に移動する構成のものであることを特徴とする上記別形態例１〜３のいずれか１に記載の、スパークプラグ用の電極を形成するための複合チップの製造方法である。

１１ 第１チップ（第１電極部材）
１３ 第１チップの端面
２１ 第２チップ（第２電極部材）
２３ 第２チップの端面
３１ 複合チップ（電極用複合体）
４１ スパークプラグ
７０ 中心電極本体（第１電極部材）
７１ 中心電極（電極用複合体）
７７ 電極用チップ（第２電極部材）
８１ チャック
８３ チャック爪
９０ チャック位置調節手段
９２ 基軸
１０１ 円形テーブル（周回移動手段）
１０３ 所定の軌道（仮想円）
１１０ チャックユニット
１２０ チャック位置調節手段を支持する基台
Ｃ１ チャックの基準中心軸
Ｃ２ チャックに保持された第１チップの実際の中心軸
Ｃ３ 基軸の軸線
Ｐ１ 工程の開始位置
Ｚ 偏心誤差

Claims (5)

1. 第１電極部材と、第２電極部材とがレーザ溶接によって接合されてなる、スパークプラグ用の電極を形成するための電極用複合体の製造方法であって、
   前記第１電極部材を、チャックユニットのチャックに保持させる第１電極部材保持工程と、
   前記第２電極部材をその端面が前記第１電極部材の端面に接するように供給する第２電極部材供給工程と、
   前記第１電極部材と前記第２電極部材とが接する両端面の外周縁を溶接するレーザ溶接工程とを含む、スパークプラグ用の電極を形成するための電極用複合体の製造方法において、
   前記第１電極部材保持工程の後、第２電極部材供給工程の前に、
   前記第１電極部材の実際の中心軸の位置と、前記チャックユニットを構成する前記チャックを回転可能に支持する基台の基軸との偏心誤差を検出する偏心誤差検出工程を有しており、
   該偏心誤差検出工程の後においてその偏心誤差が許容範囲を超えている場合に、前記第１電極部材の実際の中心軸を、前記基台の基軸の軸線にあわせ込む補正をする第１電極部材の中心軸位置補正工程を備えていることを特徴とする、スパークプラグ用の電極を形成するための電極用複合体の製造方法。
2. 前記第２電極部材供給工程の後、前記レーザ溶接の前に、
   前記第１電極部材と前記第２電極部材とが接する両端面の外周縁を仮溶接する仮溶接工程を含んでいることを特徴とする、請求項１に記載のスパークプラグ用の電極を形成するための電極用複合体の製造方法。
3. 前記チャックユニットは、周回する周回移動手段にその周回に伴って、順次、移動するように複数、配置されており、
   前記偏心誤差検出工程と前記中心軸位置補正工程とが、その周回過程における同じ位置で行われることを特徴とする、請求項１又は２のいずれか１項に記載のスパークプラグ用の電極を形成するための電極用複合体の製造方法。
4. 前記チャックユニットは、周回する周回移動手段にその周回に伴って、順次、移動するように複数、配置されており、
   前記第１電極部材保持工程と前記偏心誤差検出工程とが、その周回過程における異なる位置で行われることを特徴とする、請求項１〜３のいずれか１項に記載のスパークプラグ用の電極を形成するための電極用複合体の製造方法である。
5. 軸線方向に軸孔を有する絶縁体と、この軸孔の先端側に配置された中心電極と、前記絶縁体の周囲を取り囲む主体金具と、一端が前記主体金具に接合され、他端が前記中心電極の先端に対向するように設けられた接地側電極とを有し、
   前記中心電極又は該接地側電極が、第１電極部材と第２電極部材とが接合されてなる電極用複合体、又は該電極用複合体が接合されてなるものであるスパークプラグの製造方法において、
   前記電極用複合体が、請求項１〜４のいずれか１項に記載の製造方法によって製造されたものであることを特徴とするスパークプラグの製造方法。

Images