JP5372153B2 - 整合された量子精密フィードバックdacのための方法および装置 - Google Patents

整合された量子精密フィードバックdacのための方法および装置 Download PDF

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Description

(1.発明の分野)
本発明は、概して、アナログ/デジタル変換器に関し、より具体的には、雑音低減のために、量子精密デジタル/アナログ変換器を採用する超電導アナログ/デジタルデルタシグマ変調器に関する。
(2.関連技術の記載)
デルタシグマアナログ/デジタル変換器(ADC)性能は、精密なフィードバックと、短い比較器決定時間とに依存する。超電導回路は、Josephson接合の固有の量子化およびピコ秒時間スケールスイッチングによって、これらの設計上の制約の両方を達成可能であるため、デルタ信号変換器内での使用にとって、魅力的な技術である。比較器性能は、感度および決定時間の両方の観点から特性化可能である。感度は、熱雑音に依存し、過去、Josephson比較器の主要な焦点であった。デルタシグマ構造は、フィードバックによって、感度誤差に耐性があるが、フィードバック機構は、短決定時間、理想的には、ほんのわずかなサンプル周期を必要とする。
図1は、実証されている一次超電導体デルタシグマ変調器の概略図を示す。アナログ入力信号11は、インダクタ12を通して、2つの直列Josephson接合13および14によって形成される、量子比較器に誘導的に結合される。周波数clk/2のクロック信号は、別のJosephson接合15に印加され、比較器にDCオフセットV=Φ・clk/2を提供する(式中、Φ=h/2eは、単一磁束量子と呼ばれる基本的物理単位である)。DCオフセットの本値によって、比較器が、1つおきにクロックサイクルを起動する、すなわち回路に1−0−1−0...(等)の動作点でディザリングさせるようにする。接合13および14は、バイナリ1および0のビットストリームの形式でデジタル出力16を生成する、Josephson比較器を構成する(バイナリ1は、Josephson接合によって発生させられる電圧パルス(または、単一パルス量子)として定義される。クロック信号clkは、クロックサイクル毎に、接合13または接合14の一方が、インダクタ12内の電流量に応じて、起動するように、接合13に印加される。例えば、接合13は、比較器が、電流閾値を下回る時、起動し、出力16において、バイナリ0を生成してもよい。別のクロックサイクルでは、インダクタ電流が、電流閾値を上回る時、接合14が、起動し、出力16において、バイナリ1を生成してもよい。後者の場合、電圧パルスはまた、比較器への電流を減少させる逆起電力として印加され、出力信号として、同一レベルで暗黙的フィードバック−Φを提供する。
図2は、実証されている二次超電導体デルタシグマ変調器の概略図を示す。アナログ入力信号21は、抵抗器22を越えて、回路に直接結合され、所望の電圧オフセットを提供する。インダクタ23は、抵抗器22と第1の積分器を形成し、本積分器は、抵抗器24およびインダクタ25によって形成される第2の積分器と縦続接続される。第2の積分器の出力は、直列Josephson接合26および27によって形成される量子比較器に結合される。これらの接合は、図1の比較器のように挙動し、出力29において、デジタルビットストリームを生成する。第2の積分器内の信号電流が、比較器の閾値を下回ったままである限り、接合26が、クロックサイクル毎に起動し、出力29において、バイナリ0を生成する。信号電流が閾値を上回る時、接合27が、起動し、出力において、バイナリ1を生成し、−Φの暗黙的フィードバックを第2の積分器に発生させる。本フィードバック信号は、50Φの増幅率を有する量子デジタル/アナログ変換器(DAC)28によって、明示的フィードバックループ内で増幅され、第1の積分器内の電流を減衰させる。フィードバックループ内の増幅率の大きさは、第1と第2の積分器との間の所望のレベルの信号絶縁に応じて、選択される。
20GHzで刻時される上述の二次デルタシグマADCは、0−10MHz信号帯域に対して、2000のオーバーサンプリング率を達成可能である。ADCは、理想的量子化雑音理論に従って、20dB/ディケードの量子化雑音抑制に近づくことが可能である。総信号対雑音比は、最先端技術に相当する。最先端技術を超える性能を有するADC変換器は、水平線探索レーダ等の既存のシステムの性能を向上させ、宇宙ベースの電子監視のためのスペクトルの広帯域デジタル化等の新しい使命を可能にするであろう。デルタシグマADCにおける高性能性への鍵は、高オーバーサンプリングクロック速度およびフィードバックDACの正確性である。したがって、超電導体ADC変調器は、フィードバックループ内で使用されるDAC変換器の設計を最適化することによって、最先端技術を超えて進歩させられ得る。
本発明は、超電導体デルタシグマアナログ/デジタル変調器内の量子化雑音を低減させるための方法および装置について開示する。本発明による装置は、アナログ信号を受信するための入力と、入力に結合された第1の積分器、第1の積分器と縦続接続された第2の積分器、第2の積分器からの出力をデジタル化する量子比較器と、量子比較器からの出力と第1の積分器への入力との間のフィードバックループ無いの整合された量子精密DACとを含む、超電導体デルタシグマADCであってもよい。一実施形態では、量子比較器は、Josephson比較器であってもよい。整合された量子精密DACは、同様に再現可能な電圧パルスを生成するように選択され、フィードバックループ内で双極性構成として採用され、入力信号の誘導性結合を可能にしてもよい。本発明による変調器は、二次またはより高次の変調器であって、単一またはマルチビット出力を発生させてもよい。別の実施形態では、変調器は、時間的にインタリーブされたフィードバックを発生させることによって、より高速な刻時速度を可能にしてもよい。時間的にインタリーブされたフィードバックは、フィードバックループ内のトグルフリップフロップを使用する同極性の整合された量子精密DACを交互に駆動させることによって、達成されてもよい。双極性のインタリーブされた実施形態では、フリップフロップが、同極性の各対の量子精密DACのために、フィードバックループ内に提供されてもよく、インバータが、フィードバックループ内に提供され、極性変化に影響を及ぼしてもよい。第1および第2の整合された量子精密フィードバックDACを有する任意の双極性実施形態では、フィードバックは、第1のフィードバックDACの増幅率が、比較器から第2の積分器への暗黙的フィードバックに相当する大きさだけ、第2のフィードバックDACの増幅率を上回るときに平衡化される。
本発明による関連方法は、第1の積分器を通してアナログ信号を積分するステップと、第2の積分器を通して第1の積分器の出力を積分するステップと、量子比較器を使用して第2の積分器の出力をデジタル化するステップと、量子比較器の出力から第1の積分器へのフィードバックループ内に整合された量子精密DACを提供するステップとを含む。
例えば、本願発明は以下の項目を提供する。
(項目1)
超電導体デルタシグマアナログ/デジタル変調器であって、
アナログ信号を受信するための入力と、
該入力に結合された第1の積分器と、
該第1の積分器と縦続接続された第2の積分器と、
該第2の積分器からの出力をデジタル化する量子比較器と、
該量子比較器からの出力と該第1の積分器への入力との間のフィードバックループ内の整合された量子精密DACと
備える、変調器。
(項目2)
前記量子比較器は、Josephson比較器を備える、項目1に記載の変調器。
(項目3)
前記整合された量子精密DACは、同様に再現可能な電圧パルスを生成する、項目1に記載の変調器。
(項目4)
前記整合された量子DACは、双極性フィードバックを提供する、項目1に記載の変調器。
(項目5)
前記フィードバックループは、第1の極性においてフィードバックを伝送する第1のDACと、該第1の極性と反対の第2の極性においてフィードバックを伝送する第2のDACとを含む、項目4に記載の変調器。
(項目6)
前記第2のDACに結合された前記フィードバックループ内のインバータをさらに備える、項目5に記載の変調器。
(項目7)
前記量子比較器は、マルチビット出力を発生させる、項目1に記載の変調器。
(項目8)
前記マルチビット出力を発生させる位相輪をさらに備える、項目7に記載の変調器。
(項目9)
前記整合された量子精密DACは、時間的にインタリーブされたフィードバック信号を発生させる、項目1に記載の変調器。
(項目10)
前記フィードバックループは、第1の量子精密DACと該第1の量子精密DACに整合された第2の量子精密DACとの間の前記フィードバック信号を交番させるトグルフリップフロップをさらに備える、項目9に記載の変調器。
(項目11)
超電導体デルタシグマアナログ/デジタル変調器であって、
アナログ信号を受信するための誘導的に結合された入力と、
該誘導的に結合された入力と縦続接続された第1の積分器と、
該第1の積分器と縦続接続された第2の積分器と、
該第2の積分器からの出力をデジタル出力に変換する量子比較器と、
フィードバックループ内の双極性フィードバック信号を該デジタル出力から該第1の積分器に提供する整合された量子精密DACと
を備える、変調器。
(項目12)
前記第1の積分器は、前記誘導的に結合された入力のインダクタンスを備える、項目11に記載の変調器。
(項目13)
前記デジタル出力は、1ビット出力である、項目11に記載の変調器。
(項目14)
前記整合された量子精密DACは、第1の極性においてフィードバックを伝送する第1のDACと、該第1の極性と反対の第2の極性においてフィードバックを伝送する第2のDACとを含む、項目11に記載の変調器。
(項目15)
前記第2のDACに結合された前記フィードバックループ内のインバータをさらに備える、項目14に記載の変調器。
(項目16)
前記第1のDACの増幅率は、前記比較器から前記第2の積分器への暗黙的フィードバックに相当する大きさだけ、前記第2のDACの増幅率を上回る、項目14に記載の変調器。
(項目17)
前記第1のDACの増幅率と前記量子比較器の増幅率との合計は、前記第2のDACの増幅率に等しく、かつ逆向きである、項目16に記載の変調器。
(項目18)
前記双極性フィードバック信号は、時間的にインタリーブされる、項目11に記載の変調器。
(項目19)
第1の極性においてフィードバックを伝送する、第1の対の時間的にインタリーブされ、整合された量子精密DACと、該第1の極性と反対の第2の極性においてフィードバックを伝送する、第2の対の時間的にインタリーブされ、整合された量子精密DACとをさらに備える、項目18に記載の変調器。
(項目20)
前記第1の対の整合された量子精密DACの部材と、前記第2の対の整合された量子精密DACの部材との間において、それぞれ、前記フィードバック信号を交番させるための前記フィードバックループ内の第1および第2のトグルフリップフロップをさらに備える、項目19に記載の変調器。
(項目21)
前記デジタル出力と前記第2の対の整合された量子精密DACとの間に結合された前記フィードバックループ内にインバータをさらに備える、項目20に記載の変調器。
(項目22)
前記第1の対のDACの各部材の増幅率は、前記比較器から前記第2の積分器への暗黙的フィードバックに相当する大きさだけ、前記第2の対のDACの各部材の増幅率を上回る、項目19に記載の変調器。
(項目23)
前記第1の対のDACの部材の増幅率と前記量子比較器の増幅率との合計は、前記第2の対のDACの部材の増幅率に等しく、かつ逆向きである、項目22に記載の変調器。
(項目24)
超電導体デルタシグマアナログ/デジタル変調器内の量子化雑音を低減するための方法であって、
第1の積分器を通して、アナログ信号を積分することと、
第2の積分器を通して、該第1の積分器の出力を積分することと、
量子比較器を使用して、該第2の積分器の出力をデジタル化することと、
フィードバックループ内の整合された量子精密DACを使用して、該量子比較器の出力から該第1の積分器の入力への明示的フィードバックを発生させることと
を含む、方法。
(項目25)
前記量子比較器は、Josephson比較器を備える、項目24に記載の方法。
(項目26)
前記整合された量子精密DACは、同様に再現可能な電圧パルスを生成する、項目24に記載の方法。
(項目27)
前記発生させるステップは、前記整合された量子精密DACを通して、双極性フィードバックを発生させることをさらに備える、項目24に記載の方法。
(項目28)
前記デジタル化ステップは、マルチビット出力を発生させることをさらに備える、項目24に記載の方法。
(項目29)
前記マルチビット出力は、位相輪によって発生させられる、項目28に記載の方法。
(項目30)
前記発生させるステップは、前記整合された量子精密DACを通して、時間的にインタリーブされたフィードバックを発生させることをさらに備える、項目24に記載の方法。
(項目31)
前記フィードバックは、前記フィードバックループ内のフリップフロップによって、前記整合された量子精密DACの間においてトグルされる、項目30に記載の方法。
本発明の他のシステム、方法、特徴、および利点は、以下の図および発明を実施するための形態の検討によって、当業者に明白となるであろう。そのような付加的システム、方法、特徴、および利点はすべて、本説明内に含まれ、発明の範囲内であって、添付の請求項によって保護されるものとして意図される。図面中に示される構成要素部品は、必ずしも正確な縮尺で描かれてはおらず、本発明の重要な特徴をより良く例示するために、誇張されている場合がある。図面中、同参照番号は、異なる図を通して、同一部品を指す場合がある。
図1は、従来技術の一次超電導デルタシグマADCの概略図である。 図2は、従来技術の二次超電導ADCの概略図である。 図3は、本発明による、双極性整合された量子精密フィードバックDACを使用する単一ビットデルタシグマADCの一実施形態の概略図である。 図4は、本発明による、整合された量子精密フィードバックDACを使用するマルチビットデルタシグマADCの一実施形態の概略図である。 図5は、本発明による、整合された量子精密フィードバックDACを使用する時間的にインタリーブされるデルタシグマADCの概略図である。 図6は、本発明による、双極性整合された量子精密フィードバックDACを使用する時間的にインタリーブされるデルタシグマADCの概略図である。 図7は、本発明による方法の一実施形態を例示する、プロセスフロー図である。
以下の開示は、超電導デルタシグマADC内のフィードバックループ内に整合された量子精密DACを採用するための本発明の例示的実施形態を提示する。本発明による、変換器は、度量衡電圧標準と同一の物理的動作原理を採用する、多重量子精密フィードバックDACの使用によって可能になる。すなわち、各超電導DACは、同様に再現可能な電圧パルスを生成する、内部量子機械機構によって調節される。本電圧標準は、量子機械的に精密な標準を提供し、超電導体ADCによって信号を測定する。任意の特定の実施形態において使用される各DACは、完璧に整合される、すなわち、回路内の他のDACすべてと比較して、完璧に較正される。本発明による変調器は、単一ビット、マルチビット、または時間的にインタリーブされ、誘導的に結合された入力および双極性フィードバック等の特徴を含んでもよい。
図3は、本発明による、双極性の整合された量子精密フィードバックDACを使用する単一ビットデルタシグマADCの一実施形態30を例示する。本ADCでは、本明細書に説明される他の実施形態同様に、40db/ディケードの量子化雑音成形性能が実証された。ADC30は、第1および第2の積分ループを伴う、二次変調器である。アナログ入力信号31は、図示されるように、インダクタ32を通して、回路に誘導的に結合されてもよい。インダクタ32は、例えば、二次側の電流を逓増させるために、一次側の多重巻線と、二次側により少ない巻線を有する逓降変圧器であってもよい。
第1の積分ループは、インダクタ32と、インダクタと接地との間に結合される抵抗器33とによって形成され得る。本積分器は、第2の積分器と縦続接続されてもよい。第2の積分ループは、抵抗器33と、第2のインダクタ34とによって、形成されてもよい。したがって、抵抗器33のサイズは、2つの積分器間の結合の強度を決定する。第2の積分ループの出力は、図示されるように、単一ビット出力39を発生させることによって、第2の積分器の出力をデジタル化する、量子比較器35に結合されてもよい。一実施形態では、量子比較器35は、インダクタ34内の電流が閾値を上回る時、バイナリ1に相当する電圧パルス−Φを発生させることによって、図1に関連して説明されたように動作し得る、2つの直列Josephson接合を含んでもよい。これが生じる時、of−Φの暗黙的フィードバックが、回路の入力段階を指す湾曲矢印によって示されるように、比較器35から第2の積分器まで返るように発生させられる。並行して、明示的双極性フィードバックが、正の量子精密フィードバックDAC36を通して、または負の量子精密フィードバックDAC37を通して、比較器35から第1の積分器に発生させられる。
双極性フィードバックの概念は、本質的に、入力におけるDCオフセットの欠落を補償する。本配列によって、比較器35が、電流閾値を下回る場合、出力39において0が発生され、暗黙的フィードバックは生じない。しかしながら、明示的フィードバックは、正のフィードバックループを通して生じる。正のフィードバックループ内のインバータ38は、0を1に反転させ、正のフィードバックDAC36を通して、正の電流を第1の積分器にフィードバックし、信号電流を閾値まで上昇させる。比較器35の出力が0である限り、負のフィードバックDAC37は、非アクティブのままとなるであろう。
比較器35が、閾値を超えて駆動されると、出力パルスまたはバイナリ1を生成する。これは、正のフィードバックループをオフにして、負のフィードバックループをオンにし、負のフィードバックDAC37を通して、信号電流を降下させる。並行して、−Φの暗黙的フィードバックが、比較器から第2の積分器に発生させられる。明示的および暗黙的フィードバックは、相加効果がある。例示的実施形態では、比較器35が、バイナリ1を出力すると、暗黙的および明示的フィードバックの合計は、比較器35が、バイナリ0を生成する時に発生させられる明示的フィードバックと大きさが厳密に等しくなるが、逆向きである。したがって、ADC30に例示されるように、正のフィードバックDAC36の増幅率(+26)は、負のフィードバックDAC37の増幅率(−25)より厳密に整数1だけ大きく、回路が、1−0−1−0...(等)の動作点でディザリングするように完璧に平衡化されるようにしてもよい。
厳密な整数値は、DAC36およびDAC37を整合された量子精密フィードバックDACとなるように選択することによって、達成され得る。例えば、DAC36および37は、所望の大きさの同様に再現可能な電圧パルスを生成する、Josephson接合の直列アレイまたは直列と並列アレイの組み合わせから構築されてもよい。増幅率の値+26および−25は、例示のためだけに任意に選択されており、本発明を限定するものではない。本発明の範囲から逸脱することなく、他の増幅率が選択されてもよく、増幅率の大きさが等しくてもよく、または1以上の整数だけ異なってもよい。
本発明による、双極性フィードバックを提供することによって、有利には、入力信号をADC30に誘導的に結合させる。これは、入力電力の大部分を反映する、望ましくないインピーダンス不整合をもたらし得る、図2の抵抗器22等の入力抵抗器の必要性を回避する。誘導性結合は、設計者にとって、例えば、変圧器32の巻数比を可変することによって、ADCのインピーダンス整合に相当な自由度をもたらす。
図4は、本発明による、別の構成において整合された量子精密フィードバックDACを使用する、マルチビットデルタシグマADCの実施形態40を例示する。ADC40は、2ビット出力を生成する、二次変調器である。すなわち、出力信号49は、サーモメータコードとして表現される2ビットの情報を集合的に表す、4つの信号レベル(0、1、2、または3出力)からの貢献値から形成されてもよい。
アナログ信号41は、所望のオフセット電圧を提供する抵抗器42を越えて、ADC40に直接結合される。インダクタ43と、抵抗器42とによってモデル化される第1の積分器は、抵抗器44と、インダクタ45a、45b、および45cとによってモデル化される第2の積分器と縦続接続される。第2の積分器の出力は、図示されるように、量子比較器46a、46b、および46cの並列構成に結合され、それぞれ、対応するインダクタ45a、45b、または45cと直列である。これらの比較器は、同様に再現可能な電圧パルスを生成するように選択される、整合された比較器であってもよい。各比較器は、例えば、異なるレベルのDCオフセットを各インダクタ45a、45b、または45cに誘導的に結合することによって、異なる閾値電流で起動するようにバイアスされてもよい。例えば、0、Φ/3、および2Φ/3の磁束バイアスが、それぞれ、インダクタ45a、45b、および45cに印加され、4つのレベルを等しく離間させてもよい。一実施形態では、インダクタ45a、45b、および45cと、比較器46a、46b、および46cは、位相輪として構成される。
各比較器46a、46b、または46cの起動に伴って、第2の積分器は、比較器を起動させることによって生じる、−Φの暗黙的フィードバックを受信する。並行して、第1の積分器への明示的フィードバックは、3つの整合された量子精密フィードバックDAC48a、48b、および48c(それぞれ、−MΦの増幅率を有する)のうちの1つを通して発生させられる。比較器の出力は、デジタル加算器47によって合算され、マルチビット出力49を提供する。比較器のいずれも起動しない場合、加算器47は、バイナリ0(00)を出力し、フィードバックは生じない。比較器の1つが起動する場合、加算器47は、バイナリ1(01)を出力し、明示的および暗黙的フィードバックの組み合わせ(−(M+1/3)Φ)が、積分された信号電流を降下させる。積分された信号電流が、比較器のうちの1つを起動させるために十分である場合、加算器47は、バイナリ2(10)を出力し、厳密に2倍のフィードバック(−2(M+l/3)Φ)が発生させられる。積分された信号電流が、3つの比較器すべてを起動させる場合、加算器47は、バイナリ3(11)を出力し、厳密に3倍のフィードバック(−3(M+l/3)Φ)が発生させられる。
図5は、本発明による、整合された量子精密フィードバックDACを使用する時間的にインタリーブされるデルタシグマADCの実施形態50を例示する。ADC50は、図2に示されるADCと同様に動作する。アナログ入力信号51は、抵抗器52を越えて、回路に直接結合され、所望の電圧オフセットを提供する。インダクタ53および抵抗器52によってモデル化される第1の積分器は、抵抗器54およびインダクタ55によってモデル化される第2の積分器と縦続接続される。第2の積分器の出力は、量子比較器56に結合される。量子比較器56は、閾値を中心として変動する積分された信号電流のレベルに応答して起動するのに伴って、出力59において、デジタルビットストリームを発生させ、バイナリ1を出力するように起動すると、フィードバックループを通して、−Φの暗黙的フィードバックを第2の積分器と、−MΦの明示的フィードバックを第1の積分器とに発生させる。
時間的にインタリーブされた実施形態50は、限られた繰り返し率を有し、回路内で最低速の構成要素である、フィードバックDAC28によって生じる、図2の回路内の問題を解決する。問題は、最大許容可能クロック速度(すなわち、clk x2)の2倍の速度で量子比較器を刻時させ、フィードバックループ内の2つの整合された量子精密フィードバックDAC57a、57bを通して、明示的フィードバック信号を交互させることによって、ADC50内において軽減される。トグルフリップフロップ58は、DAC57aおよび57bのフィードバックループの上流に提供され、それらの間でフィードバック信号を切り替え、本質的には、クロック速度の周波数の半分で各DACを刻時させ、それによって、各フィードバックDACの繰り返し率を2分の1に減少させてもよい。重要なことは、ADC50のインタリーブされた設計が、フィードバックDAC57aおよび57bが、等しい増幅率を有する場合のみ、完全に有効であって、本発明による、量子精密DACを利用することによって達成可能である。
図6は、本発明による、整合された量子精密フィードバックDACを使用する、双極性と時間的にインタリーブされた特徴とを組み合わせた、デルタシグマADCの実施形態60を例示する。ADC60内の双極性フィードバックDACは、ADC30の文脈において上述のように、インダクタンスまたは変圧器62を通して、入力信号61を回路に誘導的に結合させる。時間的にインタリーブされた特徴は、より高速の刻時速度を可能にする。
上述の実施形態におけるように、入力信号61は、インダクタンス62と、抵抗器63と、とインダクタンス64とによって形成される、第1および第2の積分器を通して、縦続接続される。量子比較器65は、電流閾値で起動し、暗黙的フィードバック−Φを第2の積分器にと、単一ビットバイナリ1を出力69に発生させる。量子比較器65は、ADC30等の非インタリーブ回路内で可能な最大周波数(clk x2)の約2倍で刻時されてもよい。
量子比較器65の出力は、比較器が、閾値を上回るか、または下回るかに応じて、2つのループの一方を通して、明示的双極性フィードバックとして、第1の積分器にフィードバックされる。比較器65内の電流が、閾値を下回る場合、バイナリ0が、出力69で発生され、負のフィードバックループをオフにして、正のフィードバックループをオンにし(インバータ68によって)、信号電流を閾値を上回るように上昇させる。正のループがオンになるたび、トグルフリップフロップ67aは、ADC50の実施形態におけるように、第1の対の整合された量子精密DAC66aと66bとの間のフィードバック信号を切り替え、クロック速度の周波数の半分で、各DACを刻時させる。比較器65内の電流が、閾値を上回る場合、バイナリ1が、出力69で発生され、正のフィードバックループをオフにして(インバータ68によって)、負のフィードバックループをオンにし、信号電流を閾値を下回るように降下させる。負のループがオンになるたび、トグルフリップフロップ67bは、それぞれ、クロック速度の半分で刻時されるように、第2の対の整合された量子精密DAC66cと66dとの間のフィードバック信号を切り替える。
フィードバックDAC66a、66b、66c、および66dは、本発明による、整合された量子精密DACであってもよい。フィードバック信号は、DACが、ADC60のデジタル出力からの双極性フィードバックを第1の積分器に集合的に提供し、入力信号を所望の動作点でティザリングさせるように、比較器65の状態と、フリップフロップ67aおよび67bの状態とに従って、4つのDACを交互させる。一実施形態では、正のフィードバックDAC66aおよび66bの増幅率は、等しく、負のフィードバックDAC66cおよび66dの増幅率も、等しい。別の実施形態では、第1の対のDACの各部材(67aまたは67b)の増幅率は、比較器65から第2の積分器への暗黙的フィードバックに相当する大きさだけ、第2の対のDACの各部材(67cまたは67d)の増幅率を上回る。後者は、ADC60に図示されており、任意のクロックサイクルにおける明示的に正のフィードバックが、後続サイクルにおいて、明示的および暗黙的に負のフィードバックの組み合わせと等しく、かつ逆向きとなるように、各正のフィードバックDACの増幅率を(M+1)Φとして、各負のフィードバックDACの増幅率を−MΦとして定義する。負と正とのフィードバックDAC間の他の増幅率の差も、発明の範囲において可能である。
図7は、本発明による、超電導体デルタシグマアナログ/デジタル変調器内の量子化雑音を低減するための方法70を例示する。プロセス工程図は、上述の回路実施形態の教示および説明と一貫する、本発明の方法の顕著な点を捕捉する。方法70は、ステップ72から開始し、アナログ信号が、第1の積分器を通して積分される。次に、ステップ74では、第1の積分器の出力が、第2の積分器を通して積分される。次のステップ76では、第2の積分器の出力が、量子比較器を使用してデジタル化される。量子比較器は、Josephson接合対であってもよい。最終ステップ78では、明示的フィードバックが、フィードバックループ内の整合された量子精密DACを使用して、比較器の出力から第1の積分器の入力に発生させられる。フィードバックDACは、同様に再現可能な電圧パルスを生成する、内部量子機械機構によって調節されてもよい。ADC内で整合された量子精密フィードバックDACを採用して、双極性フィードバックを達成する、入力信号の誘導性結合を可能にし、単一またはマルチビット出力を発生させる、または上述の説明と一貫した方法でフィードバックループ内にインタリーブされたDACを提供するステップを含め、付加的プロセスステップも、本発明に従って可能である。
本発明の例示的実施形態は、例示的様式で開示された。故に、全体を通して採用された用語は、非限定的態様で読まれるべきである。本明細書の教示に対する微修正は、当業者には想起されるであろうが、本明細書で保証される特許の範囲内に境界されるものは、本明細書によって貢献される技術への進歩の合理的範囲内にあるそのような実施形態すべてであって、その範囲は、添付の請求項およびその同等物に照らして以外、制限されるものではないことを理解されたい。

Claims (27)

  1. 超電導体デルタシグマアナログ/デジタル変調器であって、
    アナログ信号を受信するための入力と、
    該入力に結合された第1の積分器と、
    該第1の積分器と縦続接続された第2の積分器と、
    該第2の積分器からの出力をデジタル化する量子比較器と、
    該量子比較器からの出力と該第1の積分器への入力との間のフィードバックループ内の整合された複数の量子精密DACと
    備え、
    該整合された複数の量子精密DACは、時間的にインタリーブされたフィードバック信号を発生させる、変調器。
  2. 前記量子比較器は、Josephson比較器を備える、請求項1に記載の変調器。
  3. 前記整合された複数の量子精密DACは、同一の電圧パルスを繰り返し生成する、請求項1に記載の変調器。
  4. 前記整合された複数の量子精密DACは、双極性フィードバックを提供する、請求項1に記載の変調器。
  5. 前記フィードバックループは、第1の極性においてフィードバックを伝送する第1のDACと、該第1の極性と反対の第2の極性においてフィードバックを伝送する第2のDACとを含む、請求項4に記載の変調器。
  6. 前記第2のDACに結合された前記フィードバックループ内のインバータをさらに備える、請求項5に記載の変調器。
  7. 前記量子比較器は、マルチビット出力を発生させる、請求項1に記載の変調器。
  8. 前記マルチビット出力を発生させる回路をさらに備える、請求項7に記載の変調器。
  9. 前記フィードバックループは、第1の量子精密DACと該第1の量子精密DACに整合された第2の量子精密DACとの間の前記フィードバック信号を交番させるトグルフリップフロップをさらに備える、請求項1に記載の変調器。
  10. 超電導体デルタシグマアナログ/デジタル変調器であって、
    アナログ信号を受信するための誘導的に結合された入力と、
    該誘導的に結合された入力と縦続接続された第1の積分器と、
    該第1の積分器と縦続接続された第2の積分器と、
    該第2の積分器からの出力をデジタル出力に変換する量子比較器と、
    フィードバックループ内の双極性フィードバック信号を該デジタル出力から該第1の積分器に提供する整合された複数の量子精密DACと
    を備え、
    該整合された複数の量子精密DACは、第1の極性においてフィードバックを伝送する第1のDACと、該第1の極性と反対の第2の極性においてフィードバックを伝送する第2のDACとを含み、該第1のDACの増幅率は、該比較器から該第2の積分器への暗黙的フィードバックに相当する大きさだけ、該第2のDACの増幅率を上回る、変調器。
  11. 前記第1の積分器は、前記誘導的に結合された入力のインダクタンスを備える、請求項10に記載の変調器。
  12. 前記デジタル出力は、1ビット出力である、請求項10に記載の変調器。
  13. 前記第2のDACに結合された前記フィードバックループ内のインバータをさらに備える、請求項10に記載の変調器。
  14. 前記第1のDACの増幅率と前記量子比較器の増幅率との合計は、前記第2のDACの増幅率に等しく、かつ逆向きである、請求項10に記載の変調器。
  15. 前記双極性フィードバック信号は、時間的にインタリーブされる、請求項10に記載の変調器。
  16. 第1の極性においてフィードバックを伝送する、第1の対の時間的にインタリーブされ、整合された量子精密DACと、該第1の極性と反対の第2の極性においてフィードバックを伝送する、第2の対の時間的にインタリーブされ、整合された量子精密DACとをさらに備える、請求項15に記載の変調器。
  17. 前記第1の対の整合された量子精密DACと、前記第2の対の整合された量子精密DACとの間において、それぞれ、前記フィードバック信号を交番させるための前記フィードバックループ内の第1および第2のトグルフリップフロップをさらに備える、請求項16に記載の変調器。
  18. 前記デジタル出力と前記第2の対の整合された量子精密DACとの間に結合された前記フィードバックループ内にインバータをさらに備える、請求項17に記載の変調器。
  19. 前記第1の対のDACのうちの各々のDACの増幅率は、前記比較器から前記第2の積分器への暗黙的フィードバックに相当する大きさだけ、前記第2の対のDACのうちの各々のDACの増幅率を上回る、請求項16に記載の変調器。
  20. 前記第1の対のDACのうちの1つのDACの増幅率と前記量子比較器の増幅率との合計は、前記第2の対のDACのうちの1つのDACの増幅率に等しく、かつ逆向きである、請求項19に記載の変調器。
  21. 超電導体デルタシグマアナログ/デジタル変調器内の量子化雑音を低減するための方法であって、
    第1の積分器を通して、アナログ信号を積分することと、
    第2の積分器を通して、該第1の積分器の出力を積分することと、
    量子比較器を使用して、該第2の積分器の出力をデジタル化することと、
    フィードバックループ内の整合された複数の量子精密DACを使用して、該量子比較器の出力から該第1の積分器の入力への時間的にインタリーブされた明示的フィードバックを発生させることと
    を含む、方法。
  22. 前記量子比較器は、Josephson比較器を備える、請求項21に記載の方法。
  23. 前記整合された複数の量子精密DACは、同一の電圧パルスを繰り返し生成する、請求項21に記載の方法。
  24. 前記時間的にインタリーブされた明示的フィードバックを発生させることは、前記整合された複数の量子精密DACを通して、双極性フィードバックを発生させることを含む、請求項21に記載の方法。
  25. 前記第2の積分器の出力をデジタル化することは、マルチビット出力を発生させることを含む、請求項21に記載の方法。
  26. 前記マルチビット出力は、回路によって発生させられる、請求項25に記載の方法。
  27. 前記フィードバックは、前記フィードバックループ内のフリップフロップによって、前記整合された複数の量子精密DACの間においてトグルされる、請求項21に記載の方法。
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