JP5362512B2 - 触媒化学気相成長装置 - Google Patents
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前記保持機構は、前記チャンバ内で基板を立てた状態で保持する。
前記触媒線は、両端部を有し、長さが2m以上である。また、前記触媒線は、前記基板と前記触媒線との間隔が60mm以上200mm以下となるように、前記保持機構により保持された前記基板に対向して設けられ、垂直方向に折り返すように前記チャンバ内で吊り下げられている。
前記電源は、前記チャンバ内に導入された原料ガスの分解温度に前記触媒線を発熱させるために前記触媒線の前記両端部に印加する電圧を制御することが可能であり、前記触媒線に正弦波の交流電圧を印加する。
前記保持機構は、前記チャンバ内で基板を立てた状態で保持する。
前記触媒線は、両端部を有し、長さが2m以上である。また、前記触媒線は、前記基板と前記触媒線との間隔が60mm以上200mm以下となるように、前記保持機構により保持された前記基板に対向して設けられ、垂直方向に折り返すように前記チャンバ内で吊り下げられている。
前記電源は、前記チャンバ内に導入された原料ガスの分解温度に前記触媒線を発熱させるために前記触媒線の前記両端部に印加する電圧を制御することが可能であり、前記触媒線に正弦波の交流電圧を印加する。
さらに、基板と触媒線との間隔を200mm以下とすることで、基板と触媒線との間隔が広すぎることによる成膜速度の低下や、処理チャンバの巨大化を避けることができる。
一方で、基板と触媒線との間隔が60mmより狭いと触媒線からの輻射熱によって、成膜された膜がダメージを受け、膜中欠陥密度が大きくなり膜質を低下されてしまう。また、基板と触媒線との間隔が200mmより広いと成膜速度が低下してしまい、短時間で多枚数の基板を処理することができない。
また、触媒線の長さを2m以上とするのは、触媒線の長さが2m以上の大面積の成膜領域に成膜を行う場合に、何も対策をしないと、電流が印加されたときに発生する触媒線のねじれや振動が、特に大きくなり、膜質の均一性が大きく損なわれるからである。一方で触媒線の長さが2mより短い場合には、触媒線のねじれや振動が小さく、膜質の均一性に与える影響が少ない。
前記電源は、スライダック制御方式により出力電圧を制御するものでもよい。
図1は、本発明の一実施形態に係る触媒化学気相成長装置を示す概略構成図であり、触媒化学気相成長装置を側方から見た図である。図2は、図1に示す触媒化学気相成長装置と90度異なる角度から見た概略構成図である。
以上のように構成された触媒化学気相成長装置10を用いて、次のように触媒化学気相成長が行われる。
表1は、基板と触媒線との間隔を50mm、60mm、90mmとして、ポリシリコン膜膜を成膜した場合の膜中欠陥密度を比較したものである。なお、膜中欠陥密度は、シリコン膜のスピン密度を測定する電子スピン共鳴法(ESR, Electron Spin Resonance)を用いて計測した。
図3は、交流電源装置18の構成を示す図である。この交流電源装置18は、PWM制御方式によるスイッチング電源装置である。交流電源装置18は、例えば、入力ノイズフィルタ15、PWMスイッチ16、平滑フィルタ17、出力ノイズフィルタ20及び制御回路19を備える。
1…ホルダ
3…真空チャンバ
6…触媒線
8、18…交流電源装置
9…原料ガス供給部
10…触媒化学気相成長装置
Claims (1)
- チャンバと、
前記チャンバ内で基板を立てた状態で保持する保持機構と、
両端部を有し、長さが2m以上であり、前記基板との間隔が60mm以上200mm以下となるように、前記保持機構により保持された前記基板に対向して設けられ、垂直方向に折り返すように前記チャンバ内で吊り下げられた触媒線と、
前記チャンバ内に導入された原料ガスの分解温度に前記触媒線を発熱させるために前記触媒線の前記両端部に印加する電圧を制御することが可能であり、前記触媒線に交流電圧を印加する電源とを具備し、
前記電源は、PWM(Pulse Width Modulation)制御方式により、前記触媒線に正弦波の交流電圧を印加するスイッチング電源である
触媒化学気相成長装置。
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