JP5353575B2 - 光ディスク検査装置及び検査方法 - Google Patents
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Description
スピンドルモータの回転周波数=2400/60=40Hz、
軌跡円の円周=2×π×40mm=251mm、
周期幅T=251mm×40Hz/20KHz=0.50mm
となる。したがって、少なくとも0.5mm長程度の欠陥100は検出することができる。回転数を小さくすれば、周期幅Tはそれだけ小さくなり、検出できる欠陥100の長さも小さくなる。駆動正弦波周波数を大きくする代わりに回転数を小さくすることで、同様の効果を得ることができる。
Claims (5)
- 光ディスクの欠陥を検査する光ディスク検査装置であって、
光学ヘッドを光ディスクの半径方向に駆動する駆動手段と、
前記光学ヘッドで得られる光ディスクの再生信号から前記欠陥を検出する欠陥検出手段と、
検出された前記欠陥の位置を記憶する記憶手段と、
前記欠陥の位置およびその前後の所定範囲において、前記欠陥の位置の信号の種類に応じて再生条件を劣化させて前記光ディスクからデータを再生し、エラーレートを検出するエラーレート検出手段と、
を有し、
前記駆動手段は、前記光学ヘッドを所定の送り幅で前記半径方向に駆動するとともに、前記光学ヘッドの対物レンズを前記送り幅以上の振動振幅で前記半径方向に振動させる
ことを特徴とする光ディスク検査装置。 - 請求項1記載の装置において、
前記欠陥検出手段は、前記再生信号から生成されるRF信号から前記欠陥を検出し、
前記エラーレート検出手段は、前記欠陥の位置において前記RF信号をブーストするイコライザのブースト量を減少させることで前記再生条件を劣化させることを特徴とする光ディスク検査装置。 - 請求項1記載の装置において、
前記欠陥検出手段は、前記再生信号から生成されるトラッキングエラー信号から前記欠陥を検出し、
前記エラーレート検出手段は、前記欠陥の位置においてトラッキングサーボゲインを増大させることで前記再生条件を劣化させることを特徴とする光ディスク検査装置。 - 請求項1記載の装置において、
前記欠陥検出手段は、前記再生信号から生成されるフォーカスエラー信号から前記欠陥を検出し、
前記エラーレート検出手段は、前記欠陥の位置においてフォーカスサーボゲインを増大させることで前記再生条件を劣化させることを特徴とする光ディスク検査装置。 - 光ディスクの欠陥を検査する光ディスク検査方法であって、
光学ヘッドを光ディスクの半径方向に駆動するステップと、
前記光学ヘッドで得られる光ディスクの再生信号から前記欠陥を検出するステップと、
検出された前記欠陥の位置を記憶するステップと、
前記欠陥の位置およびその前後の所定範囲において、前記欠陥の位置の信号の種類に応じて再生条件を劣化させて前記光ディスクからデータを再生し、エラーレートを検出するステップと、
を有し、
前記駆動するステップでは、前記光学ヘッドを所定の送り幅で前記半径方向に駆動するとともに、前記光学ヘッドの対物レンズを前記送り幅以上の振動振幅で前記半径方向に振動させる
ことを特徴とする光ディスク検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP (1) | JP5353575B2 (ja) |
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JP3873672B2 (ja) * | 2001-06-14 | 2007-01-24 | ティアック株式会社 | 光ディスク装置 |
CN1656372A (zh) * | 2002-05-30 | 2005-08-17 | 松下电器产业株式会社 | 物体表面的异物检测方法以及异物检测装置和光盘装置 |
JP2008165846A (ja) * | 2006-12-26 | 2008-07-17 | Pulstec Industrial Co Ltd | 光ディスク検査装置及び光ディスク検査方法 |
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