JP2008047202A - 光ディスク再生装置、サーボ制御装置及びサーボ制御信号生成方法 - Google Patents

Abstract

【課題】光ディスク上に比較的大きな欠陥が発生しても、Capture時間を抑制し、迅速に安定的なサーボ制御を行うこと。
【解決手段】光ピックアップの出力から生成されるサーボエラー信号と光ディスク上の欠陥を示す欠陥信号とに基づいてサーボ制御信号を生成し出力する光ディスク再生装置において、光ディスク上の欠陥位置を検出して、その欠陥位置を記憶し、その後光ピックアップが欠陥を通過した後に生成されるサーボエラー信号の値に基づいた目標値を記憶する。次に、欠陥信号に基づいて欠陥が検出されたとき、記憶した欠陥位置と所定の位置関係を有する欠陥位置に欠陥があるときに、記憶した目標値に基づいた信号を前記サーボ制御信号として出力する。
【選択図】図５

Description

本発明は、光ディスク再生装置、サーボ制御装置及びサーボ制御信号生成方法に関する。さらに詳しくは、フォーカスサーボやトラッキングサーボなどのサーボ制御に関する。

近年、大量のデータを記録することができる大容量の記録媒体として、ＣＤ（Compact Disc）やＤＶＤ（Digital Versatile Disc）などの光ディスクが広く用いられている。

この種の光ディスクに記録されたデータは、光ディスク再生装置を用いて再生される。すなわち、光ディスク再生装置は、まず光ディスクに読み取り用のレーザ光を照射し、その反射光から光ピックアップを用いて受光信号を生成する。続いて、この受光信号に基づいてＲＦ（radio frequency）信号を生成した後、このＲＦ信号を信号処理回路で処理することによって光ディスクに記録させたデータを再生するようにしている。

また、光ディスク再生装置では、光ディスクに記録されたデータを読み取るために、光ピックアップから出力するレーザ光の焦点位置を光ディスクの記録面に制御するフォーカスサーボ動作や、レーザ光がディスク上のトラック（ピット列やグルーブ（溝）によるトラック）をトレースするように制御するトラッキングサーボ動作を行っている。これらのフォーカスサーボ動作及びトラッキングサーボ動作は、それぞれ光ピックアップから出力される受光信号から生成されるフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号に基づいて行われる。

ところで、光ディスク再生装置においては、光ディスク上に傷や付着物などの欠陥部分がある場合、光ピックアップが欠陥部分を通過する際に、この欠陥部分の影響によってサーボエラー信号の波形に乱れが生じる。そして、このような波形に乱れを有するサーボエラー信号に基づいて生成したサーボ制御信号によって光ピックアップのサーボ制御を行った場合、トラック飛び等の誤った制御を行ってしまうという問題がある。

このため従来の光ディスク再生装置では、ピックアップから出力されるＲＦ信号の波形を監視し、この波形に異常が生じた場合、光ディスク上に欠陥部分が存在するものとしてサーボ制御をホールドする機能が設けられている（例えば、特許文献１参照）。
特開２０００−９０４６７

しかしながら、再生する光ディスクに偏心があるような場合、従来の光ディスク再生装置では、図９に示すように、サーボエラー信号から生成されるサーボ制御信号は正弦波状の信号となる。従って、比較的大きな欠陥が光ディスク上にあると、図１０に示すように、サーボ制御をホールドしたときのサーボ制御信号の値（以下、「Hold値」とする。）と、ホールド状態を解除した後のあるべき値（以下、「期待値」とする。）との差αが大きくなってしまう。そのため、ホールドを解除した後、光ピックアップを光ディスク上のトラックに安定的にトレースさせることができるようになるまでの時間（以下、「Capture時間」とする。）が長くなるという問題がある。このような問題は、光ディスク上の欠陥領域が大きく複数のトラックを跨ぐような場合、光ディスクが１回転する毎に発生し、Hold値と期待値との差αが大きくなり、Capture時間も増加することになる。従って、条件によっては、サーボが外れてしまう可能性があるという問題があった。この問題は、トラックピッチが狭い高密度ディスクになるにつれ顕著になる。

そこで、本発明は、上記従来の課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、光ディスク上に比較的大きな欠陥が発生しても、Capture時間を抑制し、迅速に安定的なサーボ制御を行うことができる光ディスク再生装置、サーボ制御装置ならびにサーボ制御信号生成方法を提供することにある。

請求項１に記載の発明は、情報が記録されたトラックを有する光ディスクに対してレーザ光を照射し、このレーザ光が前記光ディスクで反射されてなる反射光を検出する光ピックアップと、この光ピックアップの出力からサーボエラー信号を生成するサーボエラー生成部と、前記光ピックアップの出力から前記光ディスク上の欠陥を示す欠陥信号を生成する欠陥検出部と、前記サーボエラー信号と前記欠陥信号とに基づいてサーボ制御信号を生成し出力するサーボ制御部と、を有する光ディスク再生装置において、前記サーボ制御部は、前記欠陥検出部による出力に基づいて、前記光ディスク上の欠陥位置を検出する欠陥位置検出部と、前記欠陥位置検出部で検出した欠陥位置を記憶する欠陥位置記憶部と、前記光ピックアップが欠陥を通過した後に前記サーボエラー生成部から出力されるサーボエラー信号の値に基づいた目標値を記憶する目標値記憶部と、前記欠陥検出部によって欠陥が検出されたとき、前記欠陥が検出されたトラックに隣接する前周のトラックであって前記欠陥位置記憶部に記憶した欠陥位置と所定の位置関係を有する欠陥位置に欠陥があるか否かを判定する前周欠陥判定部と、前記前周欠陥判定部により前記前周のトラックに欠陥があると判定されると、前記欠陥位置記憶部に記憶した目標値に基づいた信号を前記サーボ制御信号として出力する目標値制御部とを有することを特徴とする。

また、請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の発明において、前記目標値制御部は、前記前周欠陥判定部により前記前周のトラックに欠陥がないと判定されると、前記欠陥検出時のサーボエラー信号に基づいて前記サーボ制御信号を生成することを特徴とする。

また、請求項３に記載の発明は、請求項１又は請求項２に記載の発明において、前記目標値は、前記光ピックアップが欠陥を通過した後に前記サーボエラー生成部から出力されるサーボエラー信号に基づいて生成されるサーボ制御信号の値であることを特徴とする。

また、請求項４に記載の発明は、請求項１又は請求項２に記載の発明において、前記目標値は、前記欠陥検出時のサーボエラー信号に基づいた信号と前記光ピックアップが欠陥を通過した後に前記サーボエラー生成部から出力されるサーボエラー信号に基づいたサーボ制御信号との差分値であることを特徴とする。

また、請求項５に記載の発明は、請求項１から請求項４のいずれか１項に記載の発明において、目標値制御部は、前記前周欠陥判定部により前記前周のトラックに欠陥があると判定された場合であっても、前記欠陥の期間が所定の長さより短いときには、前記欠陥検出時のサーボエラー信号に基づいて前記サーボ制御信号を出力することを特徴とする。

また、請求項６に記載の発明は、請求項１から請求項５のいずれか１項に記載の発明において、前記目標値制御部は、前記目標値に基づいた信号として、前記目標値に段階的に移行していく信号を前記サーボ制御信号として出力することを特徴とする。

また、請求項７に記載の発明は、情報が記録されたトラックを有する光ディスクに対してレーザ光を照射し、このレーザ光が前記光ディスクで反射されてなる反射光を検出する光ピックアップの出力からサーボエラー信号を生成するサーボエラー生成部と、前記光ピックアップの出力から前記光ディスク上の欠陥を示す欠陥信号を生成する欠陥検出部と、前記サーボエラー信号と前記欠陥信号とに基づいてサーボ制御信号を生成し出力するサーボ制御部と、を有するサーボ制御装置において、前記欠陥検出部による出力に基づいて、前記光ディスク上の欠陥位置を検出する欠陥位置検出部と、前記欠陥位置検出部で検出した欠陥位置を記憶する欠陥位置記憶部と、前記光ピックアップが欠陥を通過した後に前記サーボエラー生成部から出力されるサーボエラー信号の値に基づいた目標値を記憶する目標値記憶部と、前記欠陥検出部によって欠陥が検出されたとき、前記欠陥が検出されたトラックに隣接する前周のトラックであって前記欠陥位置記憶部に記憶した欠陥位置と所定の位置関係を有する欠陥位置に欠陥があるか否かを判定する前周欠陥判定部と、前記前周欠陥判定部により前記前周のトラックに欠陥があると判定されると、前記欠陥位置記憶部に記憶した目標値に基づいた信号を前記サーボ制御信号として出力する目標値制御部とを有することを特徴とする。

また、請求項８に記載の発明は、情報が記録されたトラックを有する光ディスクに対してレーザ光を照射し、このレーザ光が前記光ディスクで反射されてなる反射光を検出する光ピックアップの出力からサーボエラー信号及び前記光ディスク上の欠陥を示す欠陥信号を生成し、前記サーボエラー信号と前記欠陥信号とに基づいてサーボ制御信号を生成し出力する光ディスク再生装置におけるサーボ制御信号生成方法において、前記光ディスク上の欠陥位置を検出して、欠陥位置を記憶し、その後前記光ピックアップが欠陥を通過した後に生成されるサーボエラー信号の値に基づいた目標値を記憶し、その後、次のトラックで欠陥信号に基づいて欠陥が検出された場合、その欠陥が前記記憶した欠陥位置と所定の位置関係を有する欠陥位置の欠陥であれば、前記記憶した目標値に基づいた信号を前記サーボ制御信号として出力することを特徴とする。

請求項１，７，８に記載の発明によれば、光ディスク上の欠陥やごみ等によってサーボ制御が一旦ホールド状態になった後再び復帰する際に、欠陥を検出したトラックの前周のサーボエラー信号に基づく目標値に応じたサーボ制御信号を出力するようにしているので、光ディスク上の欠陥領域が大きく複数のトラックを跨ぐような場合であっても、Capture時間を短縮して、迅速に安定的なサーボ状態に復帰させることができる。

請求項２に記載の発明によれば、前周のトラックの所定位置に欠陥がないときには、欠陥検出時のサーボエラー信号に基づいたサーボ制御信号でサーボ制御するので、トラックを跨ぐ欠陥とトラックを跨がない欠陥とでサーボ制御をそれぞれ適切に行うことができる。

請求項３に記載の発明によれば、目標値を光ピックアップが欠陥を通過した後にサーボエラー生成部から出力されるサーボエラー信号に基づく値にしているので、Capture時間を経過して安定したときのサーボエラー信号に基づいて目標値を設定することができ、適切にかつ精度よく目標値の設定を行うことができる。

請求項４に記載の発明によれば、欠陥検出時のサーボエラー信号を基づいた信号と光ピックアップが欠陥を通過した後にサーボエラー生成部から出力されるサーボエラー信号に基づいたサーボ制御信号との差分値を目標値としたので、Capture時間を経過して安定したときのサーボエラー信号に基づいて目標値を生成でき、かつ目標値を加算又は減算するだけで容易に目標値に基づいたサーボ制御信号を生成することができる。

請求項５に記載の発明によれば、目標値制御部は、前周欠陥判定部により前周のトラックに欠陥があると判定された場合であっても、欠陥の期間が所定の長さより短いときには、欠陥検出時のサーボエラー信号に基づいてサーボ制御信号を出力するので、欠陥が所定の長さより短いときには、目標値に基づいた信号をサーボ制御信号として出力する必要がなく、迅速にサーボ制御をホールドさせることができる。

請求項６に記載の発明によれば、目標値制御部は、目標値に基づいた信号として、目標値に段階的に移行していく信号をサーボ制御信号として出力するので、目標値に基づいたサーボ制御信号によって段階的にゆっくりとサーボ動作を行うことができる。また、欠陥を検出している期間が前周のトラックを検出する期間よりも短い場合に、欠陥の検出が終了したときに、目標値制御部が目標値に移行することを停止することによって、サーボ動作を欠陥検出終了後のサーボ制御信号の期待値に近づけることができるので、Capture時間を短縮することができる。

以下、本発明の実施形態における光ディスク再生装置の構成について具体的に説明する。

本発明の実施形態における光ディスク再生装置は、情報が記録されたトラックを有する光ディスクに対してレーザ光を照射し、このレーザ光が光ディスクで反射されてなる反射光を検出する光ピックアップと、この光ピックアップの出力からサーボエラー信号を生成するサーボエラー生成部と、光ピックアップの出力から光ディスク上の欠陥を示す欠陥信号を生成する欠陥検出部と、サーボエラー信号と欠陥信号とに基づいてサーボ制御信号を生成し出力するサーボ制御部とを備えている。サーボエラー信号としては、トラッキングエラー信号やフォーカスエラー信号などがある。

しかも、サーボ制御部は、欠陥検出部による出力に基づいて、光ディスク上の欠陥位置を検出する欠陥位置検出部と、欠陥位置検出部で検出した欠陥位置を記憶する欠陥位置記憶部と、光ピックアップが欠陥を通過した後にサーボエラー生成部から出力されるサーボエラー信号の値に基づいた目標値を記憶する目標値記憶部と、欠陥位置検出部によって欠陥が検出されたとき、欠陥が検出されたトラックに隣接する前周のトラックであって欠陥位置記憶部に記憶した欠陥位置と所定の位置関係を有する欠陥位置に欠陥があるか否かを判定する前周欠陥判定部と、この前周欠陥判定部により前周のトラックに欠陥があると判定されると、欠陥位置記憶部に記憶した目標値に基づいた信号をサーボ制御信号として出力する目標値制御部とを備えている。

このように、光ディスク上の欠陥やごみ等によってサーボ制御が一旦ホールド状態になった後再び復帰する際に、欠陥を検出したトラックの前周のサーボエラー信号に基づく目標値を設定し、この目標値に基づくサーボ制御信号を出力するようにしているので、光ディスク上の欠陥領域が大きく複数のトラックを跨ぐような場合であっても、Capture時間を短縮して、迅速に安定的なサーボ状態に復帰させることができる。

また、目標値制御部は、前周欠陥判定部により前周のトラックに欠陥がないと判定されると、欠陥検出時のサーボエラー信号に基づいてサーボ制御信号を生成するようにしている。

従って、前周のトラックの所定位置に欠陥がないときには、欠陥検出時のサーボエラー信号に基づいたサーボ制御信号でサーボ制御するので、トラックを跨ぐ欠陥とトラックを跨がない欠陥とでサーボ制御をそれぞれ適切に行うことができる。

ここで、目標値を、光ピックアップが欠陥を通過した後にサーボエラー生成部から出力されるサーボエラー信号に基づいて生成されるサーボ制御信号の値とすることができる。

このように目標値を設定することにより、Capture時間を経過して安定したときのサーボエラー信号に基づいて目標値を設定するので、適切にかつ精度よく目標値の設定を行うことができる。

また、目標値を、欠陥検出時のサーボエラー信号に基づいた信号と光ピックアップが欠陥を通過した後にサーボエラー生成部から出力されるサーボエラー信号に基づいたサーボ制御信号との差分値としてもよい。

このように目標値を設定することによって、Capture時間を経過して安定したときのサーボエラー信号に基づいて目標値を生成でき、かつ目標値を加算又は減算するだけで容易に目標値に基づいたサーボ制御信号を生成することができる。

また、目標値制御部は、前周欠陥判定部により前周のトラックに欠陥があると判定された場合であっても、欠陥の期間が所定の長さより短いときには、欠陥検出時のサーボエラー信号に基づいてサーボ制御信号を出力するようにしている。

従って、光ディスク上の欠陥を検出している期間が所定の長さより短いときには、目標値に基づいた信号をサーボ制御信号として出力する必要がなく、迅速にサーボ制御をホールドさせることができる。

また、目標値制御部は、目標値に基づいた信号として、目標値に段階的に移行していく信号をサーボ制御信号として出力するようにしている。

従って、目標値に基づいたサーボ制御信号によって段階的にゆっくりとサーボ動作を行うことができる。また、欠陥を検出している期間が前周のトラックを検出する期間よりも短い場合に、欠陥の検出が終了したときに、目標値制御部が目標値に移行することを停止することによって、サーボ動作を欠陥検出終了後のサーボ制御信号の期待値に近づけることができるので、Capture時間を短縮することができる。

以下、本発明を実施するための最良の形態について添付図面を用いて説明する。図１は本実施形態における光ディスク再生装置Ａのサーボ制御部分の概略ブロック図である。なお、光ディスク再生装置Ａのサーボ制御部分がサーボ制御装置に相当する。

図１に示すように、本実施形態における光ディスク再生装置Ａは、情報が記録されたトラックを有する光ディスク１に対してレーザ光を照射し、このレーザ光が光ディスク１で反射されてなる反射光を検出して受光信号Ｓｉｇ１を生成する光学読取用の光ピックアップ２と、この光ピックアップ２から出力される受光信号Ｓｉｇ１に基づいて、トラッキングエラー（ＴＥ）信号Ｓｉｇ２、フォーカスエラー信号（ＦＥ）Ｓｉｇ３などの光ディスク制御用アナログ信号を生成して出力するサーボエラー生成部としての機能と受光信号Ｓｉｇ１に基づいてＲＦ信号Ｓｉｇ４などを生成して出力するＲＦ信号生成部としての機能とを有するＲＦアンプ部３と、ＲＦアンプ部３からそれぞれ出力されるトラッキングエラー信号Ｓｉｇ２、フォーカスエラー信号Ｓｉｇ３及びＲＦ信号Ｓｉｇ４をそれぞれデジタル信号に変換するＡ／Ｄコンバータ４，５，６と、Ａ／Ｄコンバータ６を介してＲＦアンプ部３から出力されるデジタル化されたＲＦ信号Ｓｉｇ７から光ディスク１上の欠陥（傷や埃など）を示す欠陥信号であるディフェクト信号Ｓｉｇ８を生成する欠陥検出部７と、ディフェクト信号Ｓｉｇ８とＡ／Ｄコンバータ４を介してＲＦアンプ部３から出力されるサーボエラー信号であるトラッキングエラー信号Ｓｉｇ５とからトラッキングサーボ制御信号Ｓｉｇ９を生成するトラッキングサーボ制御部８と、ディフェクト信号Ｓｉｇ８とＡ／Ｄコンバータ５を介してＲＦアンプ部３から出力されるサーボエラー信号であるフォーカスエラー信号Ｓｉｇ６とからフォーカスサーボ制御信号Ｓｉｇ１０を生成するフォーカスサーボ制御部９と、トラッキングサーボ制御部８から出力されるトラッキングサーボ制御信号Ｓｉｇ９に基づいた制御信号をトラッキングアクチュエータ（図示せず）に印加して光ピックアップ２のトラッキング制御を行うトラッキング駆動回路１０と、フォーカスサーボ制御部９から出力されるフォーカスサーボ制御信号Ｓｉｇ１０に基づいた制御電圧をフォーカスアクチュエータ（図示せず）に印加して光ピックアップ２のフォーカス制御を行うとフォーカス駆動回路１１とを備えている。なお、光ディスク１には、情報が記録されたトラックが螺旋状又は同心円状に配置されている。

ここで、トラッキングサーボ制御とは、光ピックアップ２から照射されるレーザ光を光ディスク１上のトラック（ピット列やグルーブ（溝）によるトラック）にトレースする制御であり、光ピックアップ２によって照射するレーザ光のスポット位置とトラックの中心位置とのずれ量（光ディスク１の半径方向のずれ量）であるトラッキングエラー信号を用いて行われる。すなわち、トラッキングサーボ制御は、光ピックアップ２によって照射するレーザ光のスポット位置トラックの真ん中になるようにトラッキングアクチュエータを制御して、光ピックアップ２における対物レンズの位置を調整している。具体的には、光ピックアップ２において対物レンズ（図示せず）を保持する二軸機構のトラッキングコイルに電流を印加し、トラッキングサーボ動作を実行させる。

また、フォーカスサーボ制御とは、光ディスク１に記録されたデータを読み取るために、光ピックアップ２から出力するレーザ光の焦点位置が光ディスク１の記録面になるように調整する制御であり、焦点ずれ量であるフォーカスエラー信号を用いて行われる。さらに具体的には、光ピックアップ２において対物レンズ（図示せず）を保持する二軸機構のフォーカスコイルに電流を印加し、フォーカスサーボ動作を実行させる。なお、トラッキングエラー信号やフォーカスエラー信号は、ＲＦアンプによって、周知の位相差法、プッシュプル法、３ビーム法等によって生成される。また、トラッキングサーボ制御部８やフォーカスサーボ制御部９がサーボ制御部に相当する。

以上のように構成された光ディスク再生装置Ａは、光ディスク上の欠陥やごみ等によってトラッキングサーボ制御やフォーカスサーボ制御が一旦ホールド状態になった後再び復帰する際に、前周のトラッキングエラー信号Ｓｉｇ５やフォーカスエラー信号Ｓｉｇ６に基づく目標値に応じたサーボ制御信号を出力するものであり、以下、欠陥検出部７の動作、トラッキングサーボ制御部８及びフォーカスサーボ制御部９の構成及び動作について順に説明する。

まず、図２を参照して、欠陥検出部７における光ディスク１上の欠陥を検出する動作について説明する。図２は図１における欠陥検出部７の動作を説明するための図である。

欠陥検出部７は、ＲＦ信号Ｓｉｇ７のピーク値をホールドするピークホールド回路（図示せず）及びＲＦ信号Ｓｉｇ７のボトム値をホールドするボトムホールド回路（図示せず）とを備えており、ピークホールド回路から出力されるピークホールド信号が所定の閾値を下回ったとき、或いはボトムホールド回路から出力されるボトムホールド信号が所定の閾値を上回ったときに、光ディスク１上の欠陥を示すディフェクト信号を出力するように構成している。図２には、欠陥検出部７において、ピークホールド回路から出力されるピークホールド信号が所定の閾値を下回ったときＨｉｇｈレベルとなるディフェクト信号が生成されている様子を示している。

ここで、ピークホールド回路は、光ディスク１上にキズや汚れ等などがある場合に光ディスク１からの光の反射量が著しく小さくなる暗欠陥を検出するものであり、ボトムホールド回路は、光ディスク１上に埃などがある場合に光ディスクからの光の反射量が著しく大きくなる明欠陥を検出するものである。

このように、欠陥検出部７は、ＲＦ信号Ｓｉｇ７から光ディスク１上の欠陥（傷や埃など）を示す欠陥信号であるディフェクト信号Ｓｉｇ８を生成する。

次に、トラッキングサーボ制御部８及びフォーカスサーボ制御部９の構成及び動作について図面を参照して説明する。図３はトラッキングサーボ制御部８の概略ブロック図である。なお、トラッキングサーボ制御部８とフォーカスサーボ制御部９とは同様の構成及び動作となるため、ここでは、トラッキングサーボ制御部８の構成及び動作を例に挙げて説明する。

図３に示すように、トラッキングサーボ制御部８は、デジタルデータとして入力されるトラッキングエラー信号Ｓｉｇ５に対して位相補償等のためのフィルタリングやループゲイン処理などの所定の演算を行って演算後のトラッキングエラー信号である第１制御信号Ｓｉｇ１１を生成する位相補償部２０と、第１制御信号Ｓｉｇ１１の低域成分を抽出するＬＰＦ（ローパスフィルタ）を有し、欠陥検出時に第１制御信号Ｓｉｇ１１をそのＬＰＦによりホールドしたホールド信号である第２制御信号Ｓｉｇ１２を生成するホールド・フィルタ部２１と、ディフェクト信号Ｓｉｇ８、第２制御信号Ｓｉｇ１２及びトラッキングサーボ制御信号Ｓｉｇ９を入力し、所定の条件の下、第３制御信号Ｓｉｇ１３を生成して出力するトラッキングサーボ信号生成部２２と、第１制御信号Ｓｉｇ１１及び第２制御信号Ｓｉｇ１２のうちいずれか一方を選択して出力する第１スイッチ２３と、第１スイッチ２３から出力される制御信号及び第３制御信号Ｓｉｇ１３のいずれか一方を選択して出力する第２スイッチ２４とを備えている。なお、ディフェクト信号Ｓｉｇ８がＬｏｗレベルからＨｉｇｈレベルに立ち上がる時点を欠陥検出時とする。

そして、トラッキングサーボ信号生成部２２によって、第１スイッチ２３及び第２スイッチ２４が制御され、第１制御信号Ｓｉｇ１１、第２制御信号Ｓｉｇ１２及び第３制御信号Ｓｉｇ１３のうち、いずれか一つの制御信号がトラッキングサーボ制御信号Ｓｉｇ９として出力される。

ここで、トラッキングサーボ信号生成部２２の具体的構成について、図面を参照して具体的に説明する。図４はトラッキングサーボ信号生成部２２の概略ブロック図である。

図４に示すように、トラッキングサーボ信号生成部２２は、コントローラ３０と、欠陥位置記憶部としてのDefect位置メモリー３１と、目標値記憶部としての目標値メモリー３２と、ＬＰＦ（ローパスフィルタ）３４と、タイマー３５と、設定値保持メモリー３６とを備えている。

コントローラ３０は、欠陥検出部７から出力されるディフェクト信号Ｓｉｇ８及び後述のＦＧパルスＳｉｇ１５に基づいて、光ディスク１上の欠陥発生位置を検出する欠陥位置検出部としての機能と、欠陥検出部７によって欠陥が検出されたとき、この欠陥が検出されたトラックに隣接する前周のトラックであって目標値メモリー３２に記憶した欠陥発生位置と所定の位置関係を有する欠陥発生位置（以下、「所定位置」ということがある。）に欠陥があるか否かを判定する前周欠陥判定部としての機能と、この前周欠陥判定部により前周のトラックに欠陥があると判定されると、目標値メモリー３２に記憶した目標値に基づいた信号である第３制御信号Ｓｉｇ１３を生成し、この第３制御信号Ｓｉｇ１３を第１スイッチ２３及び第２スイッチ２４を制御してトラッキングサーボ制御信号Ｓｉｇ９として出力する目標値制御部としての機能とを有している。

ここで、ＦＧパルスＳｉｇ１５は、図示しない周知のＦＧパルス出力手段によって、光ディスク１を回転させるスピンドルモータ（図示せず）が所定角度φ回転する毎に出力されるものである。

タイマー３５は、ＦＧパルスＳｉｇ１５をカウントして光ディスク１の回転角度を検出して光ディスク１の回転位置を逐次コントローラ３０に通知する。

コントローラ３０は欠陥位置検出部として、欠陥検出部７から出力されるディフェクト信号Ｓｉｇ８がＬｏｗレベルからＨｉｇｈレベルに立ち上がったときの光ディスク１上の位置をタイマー３５によって検出し、欠陥開始位置としてDefect位置メモリー３１に記憶する。

なお、本実施形態においては、Defect位置メモリー３１に記憶する光ディスク１上の位置は、トラック１周分に所定の後述の発生位置許容誤差設定値を加えたもののみを記憶するようにしており、光ディスク１の回転に伴って欠陥位置検出部により順次更新される。すなわち、隣接する前周のトラックに欠陥部分がある場合に、その欠陥部分の位置と所定の関係を有する位置にあると検出することができる分だけ記憶しておき、不要なものは更新により削除する。従って、隣接するトラックに欠陥部分がないような場合には、Defect位置メモリー３１には何も記憶されていないことになる。

このように、Defect位置メモリー３１に記憶する光ディスク１上の欠陥位置を最小限にとどめているために、光ディスク１上の欠陥発生位置を記憶する領域を最小限確保するだけでよく、トラック位置も判定する必要がない。

なお、トラック位置が判定できるようにトラック位置判定手段を設け、光ディスク１上の欠陥位置としてトラック位置をも関連付けて記憶するようにして、Defect位置メモリー３１に複数のトラック分の欠陥発生位置を記憶させるようにしてもよい。

また、コントローラ３０は前周欠陥判定部として、欠陥検出部７から出力されるディフェクト信号Ｓｉｇ８がＬｏｗレベルからＨｉｇｈレベルに立ち上がったときの光ディスク１上の位置が、そのトラックに隣接する前周のトラックであってDefect位置メモリー３１に記憶した欠陥発生位置と所定の位置関係を有する位置に欠陥があるか否かを判定する。

ここで、「所定の位置関係を有する」とは、Defect位置メモリー３１に記憶した欠陥発生位置と設定値保持メモリー３６に保持された発生位置許容誤差設定値とによって決定される。この点については、後述で詳説する。

また、コントローラ３０は目標値制御部として、光ピックアップ２が欠陥を通過した後にＲＦアンプ部３から出力されるトラッキングエラー信号Ｓｉｇ５の値に基づいたトラッキングサーボ制御信号である第１制御信号Ｓｉｇ１１が安定したことを検出して、その時の第１制御信号Ｓｉｇ１１の低域成分をＬＰＦ３４により抜き出した値を目標値として目標値メモリー３２に記憶する。このＬＰＦ３４は、第１制御信号Ｓｉｇ１１の低域成分を抜き出せるように時定数の長いローパスフィルタとなっている。

ここで、第１制御信号Ｓｉｇ１１が安定したとは、トラッキングサーボ制御信号としての第１制御信号Ｓｉｇ１１が所定の単位時間当り所定の範囲内の揺らぎとなっていることを意味する。

また、コントローラ３０は目標値制御部として、欠陥検出部７によって欠陥が検出されたとき、その欠陥が検出されている間、前周欠陥判定部により前周のトラックの所定位置に欠陥があると判定されると、目標値メモリー３２に記憶した目標値に基づいた第３制御信号Ｓｉｇ１３を生成し、この第３制御信号Ｓｉｇ１３を第１スイッチ２３及び第２スイッチ２４を制御してトラッキングサーボ制御信号Ｓｉｇ９として出力する一方、前周欠陥判定部により前周のトラックの所定位置に欠陥がないと判定されると、第２制御信号Ｓｉｇ１２を第１スイッチ２３及び第２スイッチ２４を制御してトラッキングサーボ制御信号Ｓｉｇ９として出力する。

また、コントローラ３０は目標値制御部として、欠陥検出部７によって欠陥が検出されないときには、第１スイッチ２３及び第２スイッチ２４を制御して第１制御信号Ｓｉｇ１１をトラッキングサーボ制御信号Ｓｉｇ９として出力する。

また、設定値保持メモリー３６は、図示しない入力部によって入力されるホールド値分割数設定値、ディフェクト長設定値、発生位置許容誤差設定などを記憶する。

ホールド値分割数設定値は、目標値に基づいて生成する第３制御信号Ｓｉｇ１３をすぐに目標値とするのではなく、段階的に目標値に移行していくときのその段階数を決定するための値であり、コントローラ３０は目標値制御部として、このホールド値分割数設定値に基づいて第３制御信号Ｓｉｇ１３を段階的に目標値に移行していく。

また、ディフェクト長設定値は、トラッキングサーボ制御信号Ｓｉｇ９として第２制御信号Ｓｉｇ１２を出力するのか、第３制御信号Ｓｉｇ１３を出力するのかを決定するための設定値である。すなわち、前周欠陥判定部により前周のトラックに欠陥があると判定された場合であっても、この設定値よりも欠陥の期間が短いときには、コントローラ３０は目標値制御部として、第２制御信号Ｓｉｇ１２をトラッキングサーボ制御信号Ｓｉｇ９として出力するのである。

また、発生位置許容誤差設定値は、隣接する前周のトラックに欠陥部分がある場合に、その欠陥部分と所定の位置関係を有するか否かを判定するための値であり、この値を大きくするほど欠陥部分と所定の位置関係を有する範囲が広くなり、この値を小さくするほど欠陥部分と所定の位置関係を有する範囲が狭くなる。

以上のように構成された光ディスク再生装置Ａについて、その動作を図面を参照して具体的に説明する。図５は光ディスク再生装置Ａにおける光ディスク１上の欠陥検出時のトラッキングサーボ制御信号生成動作を説明するための図である。なお、本実施形態における光ディスク再生装置Ａは、特に偏心した光ディスク１を再生する際に有効となるものであり、ここでは、光ディスク再生装置Ａが再生する光ディスク１は偏心しているものとして説明する。また、光ディスク１上に発生する後天的に発生する欠陥は、トラック接線方向への極端に短い線傷を除けば、ほとんどは巨視的変化（トラック周回を重ねる毎に徐々に広くなり、あるところから徐々に狭くなる）となるため、ここでは、光ディスク１上に巨視的変化となる傷などの欠陥が発生しているものとする。

図５（ａ）は、トラッキングサーボ制御部８から出力されるトラッキングサーボ制御信号Ｓｉｇ９を示しており、光ディスク１が偏心しているために正弦波状に変化している様子を表している。また、光ディスク１上に巨視的変化となる欠陥により欠陥検出部７により各トラック周毎に同等の位置で欠陥が検出されることを示している。

図５（ｂ）は、図５（ａ）における各トラック周の欠陥位置でのＲＦ信号Ｓｉｇ７、ディフェクト信号Ｓｉｇ８、トラッキングサーボ制御信号Ｓｉｇ９の各信号波形を示している。なお、ここでは、説明を容易にするために、第１周目から第３周目のトラックまで欠陥の長さは同じであるとする。また、第１周目のトラックの前周のトラックには欠陥がないものとする。

図５（ａ）に示すように、光ディスク１上の第１周目のトラックにおける欠陥開始位置に光ピックアップ２が到達すると、トラッキングサーボ制御部８のトラッキングサーボ信号生成部２２におけるコントローラ３０は、欠陥検出部７からＨｉｇｈレベルのディフェクト信号Ｓｉｇ８を受信する。

このようにＨｉｇｈレベルのディフェクト信号Ｓｉｇ８を受信すると、前周欠陥判定部は、そのトラックに隣接する前周のトラックであってDefect位置メモリー３１に記憶した欠陥発生位置と所定の位置関係を有する位置に欠陥があるか否かを判定する。

第１周目のトラックでは、前周のトラックには欠陥がないので、Defect位置メモリー３１には欠陥発生位置が記憶されていない。従って、前周欠陥判定部は、Defect位置メモリー３１に記憶した欠陥発生位置と所定の位置関係を有する位置に欠陥はないと判定し、目標値制御部は、第１スイッチ２３及び第２スイッチ２４を制御して、第２制御信号Ｓｉｇ１２をトラッキングサーボ制御信号Ｓｉｇ９として出力する。

また、コントローラ３０は欠陥位置検出部として、欠陥検出部７から出力されるディフェクト信号Ｓｉｇ８がＬｏｗレベルからＨｉｇｈレベルに立ち上がったときの光ディスク１上の位置をタイマー３５によって検出し、欠陥開始位置としてDefect位置メモリー３１に記憶する。

また、光ディスク１上の第１周目のトラックにおける欠陥終了位置に光ピックアップ２が到達すると、コントローラ３０は目標値制御部として、欠陥検出部７からＬｏｗレベルのディフェクト信号Ｓｉｇ８を受信し、その後所定の待機時間（Wait時間）待って、第１スイッチ２３及び第２スイッチ２４を制御して、トラッキングサーボ制御信号Ｓｉｇ９として出力する信号を第２制御信号Ｓｉｇ１２から第１制御信号Ｓｉｇ１１に切り替える。

さらに、目標値制御部は、光ピックアップ２が欠陥を通過した後にサーボエラー生成部から出力されるサーボエラー信号の値に基づいたトラッキングサーボ制御信号である第１制御信号Ｓｉｇ１１が安定したことを検出して、その時の第１制御信号Ｓｉｇ１１の低域成分をＬＰＦ３４により抜き出した値を目標値として目標値メモリー３２に記憶する。

このように、トラッキングサーボ制御部８は、光ディスク１の第１周目のトラックにおける欠陥開始位置の情報と第２周目で欠陥があった場合に用いる目標値の情報とを学習する。

次に、光ディスク１上の第２周目のトラックにおける欠陥開始位置に光ピックアップ２が到達すると、コントローラ３０は、欠陥検出部７からＨｉｇｈレベルのディフェクト信号Ｓｉｇ８を受信し、前周欠陥判定部として、このときの光ディスク１上の位置がDefect位置メモリー３１に記憶した欠陥発生位置と所定の位置関係を有する位置に欠陥があるか否かを判定する。

Defect位置メモリー３１には２周目の欠陥開始位置と所定の位置関係を有する欠陥発生位置が記憶されているため、設定値保持メモリー３６に記憶しているホールド値分割数設定値に基づいて段階的に目標値に移行する第３制御信号Ｓｉｇ１３を生成し、第１スイッチ２３及び第２スイッチ２４を制御してトラッキングサーボ制御信号Ｓｉｇ９として出力する。

また、コントローラ３０は欠陥位置検出部として、第１周目と同様に、欠陥開始位置としてDefect位置メモリー３１に記憶し、その後、光ディスク１上の第２周目のトラックにおける欠陥終了位置に光ピックアップ２が到達すると、目標値制御部として、第１周目と同様に、所定の待機時間（Wait時間）待って、第１スイッチ２３及び第２スイッチ２４を制御し、トラッキングサーボ制御信号Ｓｉｇ９として出力する信号を第２制御信号Ｓｉｇ１２から第１制御信号Ｓｉｇ１１に切り替える。

また、第１周目と同様に、第１制御信号Ｓｉｇ１１が安定したことを検出して、その時の第１制御信号Ｓｉｇ１１の低域成分をＬＰＦ３４により抜き出した値を目標値として目標値メモリー３２に記憶する。第２周目では、第３制御信号Ｓｉｇ１３が出力されるため、トラッキングサーボ制御信号Ｓｉｇ９として出力する信号が第１制御信号Ｓｉｇ１１に切り替えられてから安定するまでのCapture時間が第１周目に比べて小さくなる。

その後、コントローラ３０は、第３周目以降も同様の動作を行うことになる。すなわち、前周の欠陥位置と所定関係を有する位置に欠陥がなくなるまで第２周目と同様の動作を行い、その後コントローラ３０が前周の欠陥位置と所定関係を有する位置に欠陥がなったと判定すると、隣接するトラックを跨ぐ同一欠陥の領域があるトラックを通過したと判定し、次の欠陥開始位置に光ピックアップ２が到達するまで、第１制御信号Ｓｉｇ１１をトラッキングサーボ制御信号Ｓｉｇ９として出力する。欠陥開始位置に光ピックアップ２が到達すると、第１周目と同様の動作を行うことになる。

一方、コントローラ３０は前周欠陥判定部として、第２周目に第１周目の欠陥位置と所定の関係を有する位置に欠陥がないと判定すると、目標値制御部として、第１スイッチ２３及び第２スイッチ２４を制御して、第２制御信号Ｓｉｇ１２をトラッキングサーボ制御信号Ｓｉｇ９として出力する。また、コントローラ３０は、Defect位置メモリー３１に記憶された第１周目の欠陥開始位置をクリアする。

このように、コントローラ３０は、前周のトラックで学習したが、現在のトラックでは前周のトラックの欠陥位置と所定関係を有する位置に欠陥がない場合、次の周のトラックに突入する前に、前周のトラックで学習したデータをクリアし、現在のトラックで学習したデータのみをDefect位置メモリー３１及び目標値メモリー３２に記憶させる。なお、現在のトラックで学習したデータがなければ、Defect位置メモリー３１及び目標値メモリー３２に記憶するものはない。つまり、隣接トラックの学習データのみを使用し、間に１トラック以上を挟んだトラック上の欠陥については、たとえ回転角度が同一な位置の欠陥であっても、同一欠陥として扱わないようにしている。

一般に、光ディスク１上に後天的に発生する傷などの欠陥は、上述のように複数のトラックに跨ることが多く、欠陥検出部７により比較的長期間のＨｉｇｈレベルのディフェクト信号が出力されたときであっても、トラッキングサーボ制御信号Ｓｉｇ９として第１制御信号Ｓｉｇ１１に切り替えるときのその間の誤差を可及的に小さくすることができる。言い換えれば、切り替え直後（サーボ制御のホールド解除直後）の第１制御信号Ｓｉｇ１１と期待されるトラッキングサーボ制御信号Ｓｉｇ９の値との誤差を可及的に小さくすることができるのである。

ここで、光ディスク１のトラックピッチを１．６μｍ、ディスク中心から半径ｒが３０ｍｍのところに例えば３ｍｍの長さの欠陥がある場合を仮定すると、サーボ制御をホールドしたときにディスク回転に伴う上下方向トラック跨量は５．０μｍとなる。従来のように欠陥検出中にサーボ制御を欠陥検出時点のトラック位置でホールドする方式では、光ピックアップが３ｍｍの長さの欠陥を通過した時には、光ピックアップは少なくともトラック３周分を跨いでしまうことになり、別トラックに引き込まれてしまう。そのため、光ピックアップが欠陥検出時のトラックに戻るまでのCapture時間が長くなり、条件によってはサーボはずれが発生する恐れがあった。それに対し、本発明に係る光ディスク再生装置Ａによれば、欠陥通過後であっても、光ピックアップは、例えば欠陥検出時のトラックに追従するようにホールド可能であることからCapture時間が短縮されることになる。

従って、サーボ制御のホールド解除後のサーボ制御を安定させることができる。また、サーボ制御のホールド中は、第２制御信号Ｓｉｇ１２や第３制御信号Ｓｉｇ１３によってサーボ制御を行うので、この場合にもサーボ制御を安定させることができる。

また、上述のようにコントローラ３０は目標値制御部として、図６に示すように、このホールド値分割数設定値に基づいて第３制御信号Ｓｉｇ１３を段階的に目標値に移行していく。

例えば、図６（ｂ）では、ホールド値分割数設定値が２に設定されているときの第３制御信号Ｓｉｇ１３であるトラッキングサーボ制御信号Ｓｉｇ９の信号波形が示されており、同様に、図６（ｃ）ではホールド値分割数設定値が３に、図６（ｄ）ではホールド値分割数設定値がＮにそれぞれ設定されているときのトラッキングサーボ制御信号Ｓｉｇ９の信号波形が示されている。

このように、コントローラ３０は目標値制御部として、目標値に基づいた信号として、目標値に段階的に移行していく第３制御信号Ｓｉｇ１３をトラッキングサーボ制御信号Ｓｉｇ９として出力するので、段階的にゆっくりとサーボ動作を行うことができる。また、欠陥を検出している期間が前周のトラックを検出する期間よりも短い場合に、目標値制御部は、欠陥の検出が終了した後所定の待機時間を待って強制的にトラッキングサーボ制御信号Ｓｉｇ９として第３制御信号Ｓｉｇ１３から第１制御信号Ｓｉｇ１１に切り替えるので、現在のトレースしているトラックの欠陥期間が前周のトラックの欠陥期間よりも短い期間であるときであっても、サーボ動作を欠陥検出終了後のサーボ制御信号の期待値に近づけることができ、Capture時間を短縮することができる。

また、上述のようにコントローラ３０は前周欠陥判定部として、図７に示すように、この発生位置許容誤差設定値に基づいて隣接する前周のトラックの欠陥位置と所定の関係を有する位置に欠陥部分があるか否かを判定する。

例えば、図７（ａ）に示すように、発生位置許容誤差設定値に（ｔａ,ｔｂ）が設定されているとき、目標値制御部は、前周（第１周目）のトラックと同一の位置Ｚの位置から逆回転方向にｔａかつ回転方向にｔｂの位置（Ｚ−ｔａ〜Ｚ＋ｔｂ）を所定の関係を有する位置として判定する。

従って、図７（ｂ）に示すように、第２周目のトラックでディフェクト信号Ｓｉｇ８が前周（第１周目）のトラックと同一の位置Ｚと逆回転方向にｔ１（≦ｔａ）かつ回転方向にｔ２（≦ｔｂ）の位置内（Ｚ−ｔ１〜Ｚ＋ｔ２）にあるときには、前周欠陥判定部は、前周のトラックの欠陥位置と所定の関係を有する位置に欠陥があると判定し、目標値制御部によって第３制御信号Ｓｉｇ１３がトラッキングサーボ制御信号Ｓｉｇ９として出力される。

一方、図７（ｃ）に示すように、第２周目のトラックでディフェクト信号Ｓｉｇ８が前周（第１周目）のトラックと同一の位置Ｚ１と逆回転方向にｔ３（＞ｔａ）かつ回転方向にｔ４（＞ｔｂ）の位置内（Ｚ−ｔ３〜Ｚ＋ｔ４）にあるときには、前周欠陥判定部は、前周のトラックの欠陥位置と所定の関係を有する位置に欠陥がないと判定し、目標値制御部によって第２制御信号Ｓｉｇ１２がトラッキングサーボ制御信号Ｓｉｇ９として出力される。

このように、コントローラ３０は前周欠陥判定部として、検出された欠陥が前周に学習した欠陥位置と所定関係を有する位置のものであるかを判定するために、前周の欠陥発生位置を比較する際の許容誤差をパラメータとして設定することで、光ディスク１の偏心や振動成分による微小な欠陥検出位置のズレを吸収することが可能となる。また、巨視的変化の欠陥の検出も容易となる。

なお、パラメータとしての発生位置許容誤差設定値は、上述のように入力部からの入力によって設定することができる他、光ディスク上の欠陥の多さなどによって前周欠陥判定部により動的に変更するようにしてもよい。例えば、コントローラ３０によって光ディスク１上の傷の数をトラック１周毎に検出し、その数が多ければ発生位置許容誤差設定値を小さくし、その数が少なければ、発生位置許容誤差設定値を大きくすることようにできる。このようにすることにより、巨視的変化の欠陥とその他の欠陥との区別をつけることができ、誤って複数のトラックに跨らない欠陥を検出して第３制御信号Ｓｉｇ１３をトラッキングサーボ制御信号Ｓｉｇ９として出力することがない。

また、上述のようにコントローラ３０は前周欠陥判定部として、設定値保持メモリー３６に記憶したディフェクト長設定値に基づいて隣接する前周のトラックの欠陥位置と所定の関係を有する位置に欠陥部分があるか否かを判定する。すなわち、図８に示すように、欠陥検出部７から出力されるＨｉｇｈレベルのディフェクト信号がディフェクト長設定値よりも長いとき（図８（ｃ）参照）、前周欠陥判定部は前周のトラックの欠陥位置と所定の関係を有する位置に欠陥部分があると判定して、目標値制御部によって第３制御信号Ｓｉｇ１３がトラッキングサーボ制御信号Ｓｉｇ９として出力される（図８（ｄ）参照）。一方、欠陥検出部７から出力されるＨｉｇｈレベルのディフェクト信号がディフェクト長設定値よりも短いとき（図８（ａ）参照）、前周欠陥判定部は前周のトラックの欠陥位置と所定の関係を有する位置に欠陥部分がないと判定し、目標値制御部によって第２制御信号Ｓｉｇ１２がトラッキングサーボ制御信号Ｓｉｇ９として出力される（図８（ｂ）参照）。

上述のように複数のトラックに跨る欠陥は、比較的大きな欠陥領域を持つことから、比較的大きいディフェクト長設定値を設定することによって、このような欠陥に関して前周欠陥判定部が前周のトラックの欠陥位置と所定の関係を有する位置に欠陥部分があると判定するようにし、それ以外の複数のトラックに跨らないような小さい傷は、周のトラックの欠陥位置と所定の関係を有する位置に欠陥部分がないと判定することができる。

上記実施形態においては、光ピックアップ２が光ディスク１上の欠陥を通過した後にＲＦアンプ部３から出力されるサーボエラー信号の値に基づいたトラッキングサーボ制御信号である第１制御信号Ｓｉｇ１１が安定したときの値を目標値として目標値メモリー３２に設定するようにしたが、第１制御信号Ｓｉｇ１１が安定したときの値と光ピックアップ２が光ディスク１上の欠陥検出したときのサーボエラー信号の値に基づいた第２制御信号Ｓｉｇ１２との差分値を目標値として目標値メモリー３２に設定するようにしてもよい。

この場合、目標値制御部は、光ピックアップ２が光ディスク１上の欠陥検出したときに、サーボエラー信号の値に基づいた第２制御信号Ｓｉｇ１２を検出する。そして、次の周のトラックで前周欠陥判定部により前周のトラックの欠陥位置と所定の関係を有する位置に欠陥部分があると判定すると、その欠陥を検出したときの第２制御信号Ｓｉｇ１２に目標値メモリー３２に記憶した目標値を加算した第３制御信号Ｓｉｇ１３を生成して出力するようにする。

このように目標値を設定することによって、Capture時間を経過して安定したときのサーボエラー信号に基づいて目標値を生成でき、かつ目標値を加算又は減算するだけで容易に目標値に基づいたサーボ制御信号を生成することができる。

以上のように、本実施形態における光ディスク再生装置によれば、光ディスク上の欠陥やごみ等によってサーボ制御が一旦ホールド状態になった後再び復帰する際に、欠陥を検出したトラックの前周のサーボエラー信号に基づく目標値を設定し、この目標値に基づくサーボ制御信号を出力するようにしているので、光ディスク上の欠陥領域が大きく複数のトラックを跨ぐような場合であっても、前周のトラックにおいてホールド解除後の安定したサーボエラー信号に基づいた目標値を設定することで、Capture時間を短縮して、迅速に安定的なサーボ状態に復帰させることができる。

以上、本発明の実施の形態のうちのいくつかを図面に基づいて詳細に説明したが、これらは例示であり、当業者の知識に基づいて種々の変形、改良を施した他の形態で本発明を実施することが可能である。

本発明に係る一実施形態における光ディスク再生装置のブロック図である。 欠陥検出部の動作を説明するための図である。 トラッキングサーボ制御部のブロック図である。 トラッキングサーボ信号生成部のブロック図である。 欠陥検出時のトラッキングサーボ制御信号の状態を示す図ある。 欠陥検出時のトラッキングサーボ制御信号の状態を示す図ある。 欠陥検出時のトラッキングサーボ制御信号の状態を示す図ある。 欠陥検出時のトラッキングサーボ制御信号の状態を示す図ある。 偏心がある光ディスクに対するサーボ制御信号の状態を示す図である。 従来の欠陥検出時のサーボ制御信号の状態を示す図ある。

符号の説明

Ａ 光ディスク再生装置
１ 光ディスク
２ 光ピックアップ
３ ＲＦアンプ
７ 欠陥検出部
８ トラッキングサーボ制御部
９ フォーカスサーボ制御部
１０ トラッキング駆動回路
１１ フォーカス駆動回路
２２ トラッキングサーボ信号生成部
２３ 第１スイッチ
２４ 第２スイッチ
３０ コントローラ
３１ Defect位置メモリー
３２ 目標値メモリー
３４ ＬＰＦ（ローパスフィルタ）
３５ タイマー
３６ 設定値保持メモリー

Claims (8)

1. 情報が記録されたトラックを有する光ディスクに対してレーザ光を照射し、このレーザ光が前記光ディスクで反射されてなる反射光を検出する光ピックアップと、この光ピックアップの出力からサーボエラー信号を生成するサーボエラー生成部と、前記光ピックアップの出力から前記光ディスク上の欠陥を示す欠陥信号を生成する欠陥検出部と、前記サーボエラー信号と前記欠陥信号とに基づいてサーボ制御信号を生成し出力するサーボ制御部と、を有する光ディスク再生装置において、
   前記サーボ制御部は、
   前記欠陥検出部による出力に基づいて、前記光ディスク上の欠陥位置を検出する欠陥位置検出部と、
   前記欠陥位置検出部で検出した欠陥位置を記憶する欠陥位置記憶部と、
   前記光ピックアップが欠陥を通過した後に前記サーボエラー生成部から出力されるサーボエラー信号の値に基づいた目標値を記憶する目標値記憶部と、
   前記欠陥検出部によって欠陥が検出されたとき、前記欠陥が検出されたトラックに隣接する前周のトラックであって前記欠陥位置記憶部に記憶した欠陥位置と所定の位置関係を有する欠陥位置に欠陥があるか否かを判定する前周欠陥判定部と、
   前記前周欠陥判定部により前記前周のトラックに欠陥があると判定されると、前記欠陥位置記憶部に記憶した目標値に基づいた信号を前記サーボ制御信号として出力する目標値制御部と、を有する
   ことを特徴とする光ディスク再生装置。
2. 前記目標値制御部は、
   前記前周欠陥判定部により前記前周のトラックに欠陥がないと判定されると、前記欠陥検出時のサーボエラー信号に基づいて前記サーボ制御信号を生成する
   ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク再生装置。
3. 前記目標値は、前記光ピックアップが欠陥を通過した後に前記サーボエラー生成部から出力されるサーボエラー信号に基づいて生成されるサーボ制御信号の値である
   ことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の光ディスク再生装置。
4. 前記目標値は、前記欠陥検出時のサーボエラー信号に基づいた信号と前記光ピックアップが欠陥を通過した後に前記サーボエラー生成部から出力されるサーボエラー信号に基づいたサーボ制御信号との差分値である
   ことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の光ディスク再生装置。
5. 目標値制御部は、前記前周欠陥判定部により前記前周のトラックに欠陥があると判定された場合であっても、前記欠陥の期間が所定の長さより短いときには、前記欠陥検出時のサーボエラー信号に基づいて前記サーボ制御信号を出力する
   ことを特徴とする請求項１から４のいずれか１項に記載の光ディスク再生装置。
6. 前記目標値制御部は、
   前記目標値に基づいた信号として、前記目標値に段階的に移行していく信号を前記サーボ制御信号として出力する
   ことを特徴とする請求項１から５のいずれか１項に記載の光ディスク再生装置。
7. 情報が記録されたトラックを有する光ディスクに対してレーザ光を照射し、このレーザ光が前記光ディスクで反射されてなる反射光を検出する光ピックアップの出力からサーボエラー信号を生成するサーボエラー生成部と、前記光ピックアップの出力から前記光ディスク上の欠陥を示す欠陥信号を生成する欠陥検出部と、前記サーボエラー信号と前記欠陥信号とに基づいてサーボ制御信号を生成し出力するサーボ制御部と、を有するサーボ制御装置において、
   前記欠陥検出部による出力に基づいて、前記光ディスク上の欠陥位置を検出する欠陥位置検出部と、
   前記欠陥位置検出部で検出した欠陥位置を記憶する欠陥位置記憶部と、
   前記光ピックアップが欠陥を通過した後に前記サーボエラー生成部から出力されるサーボエラー信号の値に基づいた目標値を記憶する目標値記憶部と、
   前記欠陥検出部によって欠陥が検出されたとき、前記欠陥が検出されたトラックに隣接する前周のトラックであって前記欠陥位置記憶部に記憶した欠陥位置と所定の位置関係を有する欠陥位置に欠陥があるか否かを判定する前周欠陥判定部と、
   前記前周欠陥判定部により前記前周のトラックに欠陥があると判定されると、前記欠陥位置記憶部に記憶した目標値に基づいた信号を前記サーボ制御信号として出力する目標値制御部と、を有する
   ことを特徴とするサーボ制御装置。
8. 情報が記録されたトラックを有する光ディスクに対してレーザ光を照射し、このレーザ光が前記光ディスクで反射されてなる反射光を検出する光ピックアップの出力からサーボエラー信号及び前記光ディスク上の欠陥を示す欠陥信号を生成し、前記サーボエラー信号と前記欠陥信号とに基づいてサーボ制御信号を生成し出力する光ディスク再生装置におけるサーボ制御信号生成方法において、
   前記光ディスク上の欠陥位置を検出して、欠陥位置を記憶し、その後前記光ピックアップが欠陥を通過した後に生成されるサーボエラー信号の値に基づいた目標値を記憶し、
   その後、次のトラックで欠陥信号に基づいて欠陥が検出された場合、その欠陥が前記記憶した欠陥位置と所定の位置関係を有する欠陥位置の欠陥であれば、前記記憶した目標値に基づいた信号を前記サーボ制御信号として出力する
   ことを特徴とするサーボ制御信号生成方法。