JP2009211773A - 光ディスク再生装置及び光ディスクの再生方法 - Google Patents

Abstract

【課題】無駄なリードリトライ時間を削減して、光ディスクの情報の再生を行える光ディスク再生装置を提供する。
【解決手段】光ディスク再生装置１には、再生中に情報を正常に読み取れなかった場合に、正常に読み取れなかった情報の再読み出しを行うか、再読み出しを行わずに該情報をスキップするかを判断するリトライ判断部１１が設けられる。リトライ判断部１１が実行する処理には、信号処理部６からの信号に基づいて、再生位置が欠陥部であるか否かを判断して前記欠陥部の検知を行う欠陥部検知処理と、前記欠陥部が検知された場合に、前記欠陥部が連続して検知される時間を計測する時間計測処理と、前記時間計測結果と、前記記憶部に記憶される閾値と、に基づいて再読み出しを行うか否かを判断するリトライ判断処理と、が含まれる。
【選択図】図１

Description

本発明は、光ディスクに記録される情報の再生を行うために使用される光ディスク再生装置及び光ディスクの再生方法に関し、特に、リードリトライ時間を削減する技術に関する。

従来、コンパクトディスク（以下、ＣＤという。）やデジタル多用途ディスク（以下、ＤＶＤという。）といった光ディスクが普及している。また、最近では、更に大容量の情報を記録することが可能なブルーレイディスク（以下、ＢＤという。）やＨＤ−ＤＶＤ等の大容量光ディスクも実用化されている。これらの光ディスクに記録されている情報の再生を行う場合、光ディスク再生装置が用いられる。

ところで、光ディスクは、その表面に傷、指紋等による汚れといった欠陥部を有する場合がある。このような欠陥部を有する光ディスクについて情報を再生しようとする場合、欠陥部が存在する位置で情報の読み取りを正常に行えない場合がある。従来の光ディスク再生装置においては、このように情報を正常に読み取れなかった場合には、その部分について再度情報の読み取りを行う動作（リードリトライ）を実行するようになっている。このリードリトライによって、正常に読み取りを行えなかった位置について情報を正常に読み出せる場合もあるし、何度リードリトライを繰り返しても情報を正常に読み出せない場合もある。このため、従来の光ディスク再生装置においては、リードリトライを所定回数繰り返しても情報を正常に読み出せない場合には、その部分の情報の再生を諦めて、次の情報を再生する動作を行うことが行われている（例えば、特許文献１参照）。

しかしながら、従来の光ディスク再生装置においては、リードリトライを何回繰り返しても情報の読み出しが不可能な欠陥部についても、所定回数のリードリトライを行う構成となっている。このために、無駄なリードリトライを繰り返し行う場合が生じ、読み取り不可能と判断するまでに余分な時間を要する場合があった。
特開２００５−２４３０９６号公報

以上の点を鑑みて、本発明の目的は、無駄なリードリトライ時間を削減して、光ディスクの情報の再生を行える光ディスク再生装置及び光ディスクの再生方法を提供することである。

本発明者らは、上記課題を解決するために鋭意検討した。その結果、光ディスクに連続した長いディスク欠陥（傷、汚れ等）がある場合、リードリトライ（以下、単にリトライと表現する場合がある）を行っても情報の読み取りが行えない可能性が高く、この点を利用すればリトライ時間の削減を図れることを見出した。

すなわち、上記目的を達成するために本発明は、光ディスクに光を照射して反射光を受光部で受光し、前記光ディスクが有する光情報を電気信号に変換して出力する光ピックアップと、前記電気信号を処理して情報の再生を行うために必要な信号を生成する信号処理部と、情報を記憶する記憶部と、を備える光ディスク再生装置において、再生中に情報を正常に読み取れなかった場合に、正常に読み取れなかった情報の再読み出しを行うか、再読み出しを行わずに該情報をスキップするかを判断するリトライ判断部が設けられ、前記リトライ判断部が実行する処理には、前記信号処理部からの信号に基づいて、再生位置が欠陥部であるか否かを判断して前記欠陥部の検知を行う欠陥部検知処理と、前記欠陥部が検知された場合に、前記欠陥部が連続して検知される時間を計測する時間計測処理と、前記時間計測結果と、前記記憶部に記憶される閾値と、に基づいて再読み出しを行うか否かを判断するリトライ判断処理と、が含まれることを特徴としている。

これによれば、再生中に情報を正常に読み取れなかった場合に、正常に読み取れなかった情報の再読み出し（リトライ）を行うか、再読み出しを行わずに該情報をスキップするかを判断するリトライ判断部が設けられる。そして、リトライ判断部は、光ディスクの表面に存在する傷や汚れといった欠陥部を検知して、連続して欠陥部が検知される時間を利用してリトライを行うか否かを判断する構成となっている。この場合、欠陥部の大きさに基づいてリトライを行うか否かを判断することが可能となり、情報の読み出しが不可能である可能性が高い情報についてリトライを回避することが可能となる。すなわち、本発明の光ディスク再生装置によれば、リトライを行っても情報の読み出しが不可能な可能性が高い情報については無駄なリトライを行わずにスキップして情報の再生を行え、無駄なリトライ時間の削減を図れる。

また、本発明は、上記構成の光ディスク再生装置において、前記リトライ判断部が実行する処理には、情報を正常に読み取れたにもかかわらず、前記欠陥部が検知されて前記時間計測結果と前記閾値とに基づくと、その位置の情報の読み出しが不可能と判断される場合に、前記閾値の更新を行う処理が更に含まれることとしてもよい。また、上記構成の光ディスク再生装置において、前記リトライ判断部が実行する処理には、情報を正常に読み取れず、前記時間計測結果と前記閾値とに基づいて再読み出しを行うと判断されて再読み出しを行ったにもかかわらず、最終的に情報の読み出しが不可能であった場合に、前記閾値の更新を行う処理が更に含まれることとしてもよい。

これによれば、光ディスクの製造にばらつきがあるために、予め記憶部に記憶しておいた閾値に基づくとリトライを行うか否かの適切な判断ができないような場合に、判断基準を適宜更新しながら光ディスクの情報の再生を行うことになる。したがって、光ディスクの製造ばらつきの影響を低減してリトライを行うか否かの判断を行える。

また、本発明は、上記構成の光ディスク再生装置において、前記欠陥部であるか否かの判断は、前記信号処理部によって生成される再生ＲＦ信号に基づいて行われることとしてもよい。再生ＲＦ信号は光ディスクの情報を再生するために使用される信号であるため、本発明の目的を達成するにあたって装置構成が複雑となることがない。

また、本発明は、上記構成の光ディスク再生装置において、前記リトライ判断部が行う処理には、前記時間計測結果と前記光ディスクの線速度とから前記欠陥部の長さを算出する算出処理が更に含まれ、前記リトライ判断処理においては、前記欠陥部の長さと前記閾値との比較を行って、再読み出しを行うか否かを判断することとしてもよい。

また、上記目的を達成するために本発明は、光ディスクの再生方法であって、再生ＲＦ信号に基づいて再生位置が欠陥部であるか否かを判断して前記欠陥部の検知を行うステップと、前記欠陥部が検知された場合に、前記欠陥部が連続して検知される時間を計測するステップと、計測された時間と前記光ディスクの線速度とから前記欠陥部の長さを算出するステップと、前記欠陥部を検知し、情報を正常に読み取れなかった場合に、正常に読み取れなかった情報の再読み出しを行うか、再読み出しを行わずに該情報をスキップするかを判断するステップと、を具備することを特徴としている。

これによれば、欠陥部の長さに基づいてリトライを行うか否かを判断することが可能となり、情報の読み出しが不可能である可能性が高い情報についてリトライを回避することが可能となる。すなわち、本発明の光ディスクの再生方法によれば、リトライを行っても情報の読み出しが不可能な可能性が高い情報については無駄なリトライを行わずにスキップして情報の再生を行え、無駄なリトライ時間の削減を図れる。

本発明によれば、光ディスクに記録される情報の再生を行う際に、無駄なリードリトライ時間を削減して再生を実行できる。

以下、本発明の実施形態を、図面を参照しながら詳細に説明する。

図１は、本実施形態の光ディスク再生装置の構成を示すブロック図である。本実施形態の光ディスク再生装置１は、装置内に挿入された光ディスク２０に記録される情報の再生を行えるようになっている。

スピンドルモータ２は、ターンテーブル（図示せず）に連結され、ターンテーブルを回転可能とする。また、ターンテーブルは、光ディスク２０を着脱自在に保持する。したがって、スピンドルモータ２を回転させることにより、ターンテーブルに保持される光ディスク２０を回転させることができる。このスピンドルモータ２の駆動制御は、スピンドルモータ駆動回路３によって行われる。

光ピックアップ４は、光ディスク２０に光を照射して、光ディスク２０に記録される情報を光情報として取り出し、電気信号に変換して出力する。図１に示されるように、光ピックアップ４は、レーザダイオード２１と、レーザダイオード２１から出射されるレーザ光を光ディスク２０の情報記録面２０ａに集光する対物レンズ２２と、対物レンズ２２をフォーカス方向とトラッキング方向とに移動可能とするアクチュエータ２３と、光ディスク２０で反射された反射光を受光して光電変換を行う光検出器（受光部）２４と、を備える。

なお、フォーカス方向とは、光ディスク２０に接離する方向であって、情報記録面２０ａと直交する方向である（図１では上下方向が該当）。また、トラッキング方向とは、光ディスク２０の半径方向と平行な方向である（図１では左右方向が該当）。

また、光ピックアップ４は、スライド部２５によって光ディスク２０の半径方向（図１の左右方向が該当）に移動可能となっており、光ディスク２０の任意のアドレスにアクセス可能となっている。スライド部２５は、例えば、スライドモータと、スライドモータによって回転されるピニオンと、光ピックアップ４を構成するベースに取り付けら、ピニオンと噛み合うラック（いずれも図示せず）と、を備え、ラックとピニオンの関係を利用して光ピックアップ４を移動する。

レーザ駆動回路５は、光ピックアップ４が備えるレーザダイオード２１から出射されるレーザ光について、図示しないフロントモニタ用の受光素子で受光される光量を利用してレーザパワーの制御を行う。また、光ディスク再生装置１が複数種類の光ディスク（例えば、ＢＤ、ＤＶＤ、及びＣＤ等）に対して情報の再生を行え、波長の異なるレーザ光を出射する光源を複数有する場合には、その切り換え制御を行う。

ＦＥＰ（フロントエンドプロセッサ）６は、光ピックアップ４が備える光検出器２４から電気信号を供給される。そして、供給された電気信号について、各種の演算処理、ゲイン調整、ノイズの除去等を行う。具体的には、ＦＥＰ６において、再生ＲＦ信号、フォーカスエラー信号（ＦＥ信号）、トラッキングエラー信号（ＴＥ信号）等が演算処理によって生成される。そして、これら生成された信号は、後述のＤＳＰ７に出力される。

ＤＳＰ（デジタルシグナルプロセッサ）７は、ＦＥＰ６から供給される再生ＲＦ信号について、ＰＬＬ（Phase Locked Loop）といわれている回路構成を持つ同期信号発生回路（図示せず）で生成されたクロックにタイミングを合わせる形で、ＡＤ変換（アナログデジタル変換）を行う。ＡＤ変換された再生ＲＦ信号はデコーダ８に送られる。

デコーダ８は、データの復調を行うとともに、データのエラーを検出し、エラーが検出された場合において訂正可能であればデータの訂正処理を行う。デコーダ８で得られた再生データは、図示しないインターフェースを介して外部に出力される。なお、訂正処理が不可能で光ディスク２０に記録される情報を正常に読み出せない場合には、該情報について、システムコントローラ１２から指令に従って再読み取り（リトライ）が実行される。ただし、情報を正常に読み出せない場合でも、後述のリトライ判断部１１の判断によっては、リトライが行われない場合がある。この点については後述する。

ＤＳＰ７は、サーボコントローラ回路も備えている。このため、システムコントローラ１２の制御下において、ＦＥＰ６から出力されるＦＥ信号及びＴＥ信号を用いて、アクチュエータ駆動回路９を介してアクチュエータ２３の駆動を制御し、フォーカス制御及びトラッキング制御を行う。また、光ピックアップ４の半径方向の移動を可能とするスライド部２５が備えるスライドモータの制御も行う。また、フォーカスの引き込み時等にも、アクチュエータ駆動回路９を介してアクチュエータ２３の駆動を制御する。

アクチュエータ駆動回路９は、ＤＳＰ７のサーボコントローラ回路から出力されるフォーカス制御信号にしたがって、対物レンズ２２の焦点が常に光ディスク２０の記録面２０ａ上に合致するようにアクチュエータ２３を駆動させる。また、トラッキング制御信号を用いて、対物レンズ２２によって集光されたビームスポットの位置が常に光ディスク２０のトラック上をトレースするようにアクチュエータ２３を駆動させる。また、アクチュエータ駆動回路９は、フォーカスの引き込み時等にも、ＤＳＰ７からの信号によってアクチュエータ２３を駆動させる。

スライドモータ駆動回路１０は、ＤＳＰ７から出力される信号にしたがって、スライド部２５に備えられるスライドモータの駆動を制御する。

リトライ判断部１１は、光ディスク２０の再生時において、正常に情報を読み出せなかった場合に、該情報の再読み出しを行うか、再読み出しを行わずに該情報をスキップして読み出せなかった情報の先にある情報の読み出しを行うか、を判断する部分である。リトライ判断部１１の処理の詳細については後述する。

システムコントローラ１２は、マイクロコンピュータを備え、光ディスク再生装置１を構成する各部と図示しない信号線で接続されており、各部が実行すべき所要の動作に応じて適宜制御処理を実行する。なお、システムコントローラ１２には、メモリ（記憶部）１３が接続される。メモリ１３には、システムコントローラ１２が各種処理を行う上で必要となる各種のパラメータや動作プログラム等が記憶される。

本実施形態の光ディスク再生装置１の全体構成の概略は以上のようであるが、次に、リトライ判断部１１が行う処理の詳細について説明する。上述のように、リトライ判断部１１は、光ディスク２０に記録される情報の再生時に情報が正常に読み出されなかった場合に、正常に読み出せなかった情報に対してリトライを行うか否かを判断する部分である。以下、リトライ判断部１１が実行する動作を示すフローチャートである図２を参照しながら、リトライ判断部１１が行う処理について説明する。

リトライ判断部１１の処理は、光ディスク２０に記録される情報の再生が開始されると同時に開始される。情報の再生が開始されると、まず、ディフェクト信号の測定が開始される（ステップＳ１）。図３は、ディフェクト信号について説明するための模式図である。光ディスク２０のディスク表面２０ｂ（図１参照）に傷や汚れ等の欠陥部が存在すると、再生ＲＦ信号の信号レベルが低くなる。図３においては、欠陥部通過時間として示す矢印の区間が再生ＲＦ信号の信号レベルが低くなっている部分に相当する。

ディフェクト信号は、図３に示すように、再生ＲＦ信号の信号レベルが本来の信号レベルと判断される場合に「Ｌｏｗ」となり、本来の信号レベルより低くなったと判断される場合に「Ｈｉｇｈ」となるように設定されている。すなわち、ディフェクト信号が「Ｈｉｇｈ」と「Ｌｏｗ」のいずれであるかを監視することで、再生位置が欠陥部であるか否かを判断して欠陥部を検知することが可能となっている。

なお、再生ＲＦ信号が本来の信号レベルより低くなったか否かの判断は、例えば、ＦＥＰ６で取得される再生ＲＦ信号の信号レベルの変化率について監視することによって判断可能である。すなわち、再生ＲＦ信号の信号レベルの変化率について、その変化の仕方が予想される変化率と極端に異なる場合に信号レベルの低下が生じたものと判断できる。なお、これに限らず、他の方法で判断しても構わない。

ディフェクト信号が「Ｌｏｗ」の間は、再生位置に欠陥部はないと判断され、情報の再生が正常に行われなかった場合でもリトライによって情報を正常に読み出せる可能性が高い。このため、ディフェクト信号が「Ｌｏｗ」の間に情報の再生が正常に行われなかった場合には、所定のリトライ動作（複数回数リトライが繰り返されるようにしてもよい）が実行される。一方、ディフェクト信号が「Ｈｉｇｈ」となった場合には、再生位置に欠陥部が存在すると判断される。そして、欠陥部が連続した長い欠陥部である場合には、リトライを繰り返しても情報を正常に読み出せる可能性が低いために、このような部分についてはリトライ動作を行わないようにする。このため、以下の処理がリトライ判断部１１によって実行される。

ディフェクト信号が「Ｈｉｇｈ」となると、その時間が計測される（ステップＳ２）。すなわち、欠陥部が連続して検知されている時間が計測される。時間計測が終了すると、計測された時間と、この間の光ディスク２０の線速度と、の積が算出される。これにより、図４に示すように、欠陥部３１の長さＷが算出される（ステップＳ３）。図４は、光ディスク２０の表面２０ｂに存在する欠陥部３１の長さＷの算出に関して説明するための模式図である。

なお、本実施形態においては、再生中の光ディスク２０の回転は線速度一定となるように制御されている。ただし、これに限らず、例えば回転速度一定となるように光ディスク２０の回転が制御される構成等の場合にも本発明は適用できる。

欠陥部３１の長さＷが算出されると、その欠陥部３１が存在する部分の情報を正常に読み取れなかったか否か（リードに失敗したか否か）が確認される（ステップＳ４）。リードに失敗した場合には、先に算出した欠陥部３１の長さＷと、メモリ１３に予め記憶される閾値Ｗ_Tと、の比較が行われる（ステップＳ５）。

なお、閾値Ｗ_Tは、欠陥部３１が存在する場合に、リトライによって正常に情報を読み出し可能となるか、情報の読み出しは不可能となるかの境界となる値を、実験によって求めて、それをメモリ１３に記憶したものである。これは、閾値Ｗ_Tを小さく設定しすぎると、リトライすれば正常に情報に読み出せるような場合でも読み出し不可能と判断してしまい、閾値Ｗ_Tを大きく設定しすぎると、リトライしても正常に情報に読み出せないような場合にもリトライを行って、リトライのために無駄な時間を使うことになるからである。

ステップＳ５における比較によって、欠陥部３１の長さＷ≧閾値Ｗ_Tの場合には、欠陥部３１の長さＷが長くリトライしても情報の読み出しが不可能である可能性が高いために、リトライを行わないと判断される（ステップＳ６）。この場合には、情報の読み出しを行わないアドレスに対して所定の値を加算することによって読み出し位置をスキップ処理して、情報の再生を行うように処理される（ステップＳ７）。

一方、ステップＳ５における比較によって、欠陥部３１の長さＷ＜閾値Ｗ_Tの場合には、欠陥部３１の長さＷが長くなくリトライによって情報の読み出しが可能である可能性が高いために、リトライを行うと判断される（ステップＳ８）。そして、リトライを行うと判断された場合にはリトライが実行される。リトライ後に、再度情報を正常に読み取れなかったか（リードに失敗したか）否かが確認される（ステップＳ９）

このリトライの際にリードに失敗した場合には、閾値Ｗ_Tを大きく設定しすぎていると判断されるために、閾値Ｗ_Tを所定の量（例えば１セクタ分とか１ＥＣＣ分等）だけ減少する処理が行われる（ステップＳ１０）。そして、この減少した値が新たな閾値として使用される（閾値の更新）。また、この場合には、情報の読み出しを行わないアドレスに対して所定の値を加算することによって読み出し位置をスキップ処理して、情報の再生を行うように処理される（ステップＳ７）。一方、リトライによって情報を正常に読み出せた場合には、スキップ処理を行うことなく続きの再生を行うように処理される。

ステップＳ４でリードに失敗しなかった場合、すなわち、欠陥部３１が検知されたにもかかわらず、正常に情報が読み出せた場合には、そのまま情報の再生処理が続けられる。ただし、本実施形態のリトライ判断部１１では、このような場合にも、欠陥部３１の長さＷと閾値Ｗ_Tとを比較する処理が実行される（ステップＳ１１）。この際、欠陥部３１の長さＷが閾値Ｗ_T以上である場合（ステップＳ１１でＮｏの場合）には、閾値Ｗ_Tの設定値が小さすぎると判断されるために、閾値Ｗ_Tを所定の量だけ増加させる（ステップＳ１２）。そして、増加した値が新たな閾値として使用される（閾値の更新）。

以上の各処理の後、光ディスク２０に記録される情報の再生を続けるか否かが確認される（ステップＳ１３）。そして、情報の再生が続けられる場合には、ディフェクト信号の監視が続けられステップＳ２以降の処理が繰り返される。一方、情報の再生を終了する場合には、リトライ判断部１１による処理も終了される。

なお、本実施形態においては、閾値Ｗ_Tの値を状況に応じて変化させる構成としている。これは、光ディスク再生装置１に挿入される光ディスク２０に製造ばらつきがあり、予め実験によって求めた閾値を使用するだけでは不十分な場合があることを考慮するものである。したがって、上述の動作によって更新した閾値は、その光ディスク２０に対して最適なものでしかない。このようなことを考慮して、光ディスク再生装置１に新たな光ディスクが挿入されたような場合には、更新した閾値ではなく、予め実験によって決定した閾値を使用するのが好ましい。

本実施形態の光ディスク再生装置１は、光ディスク２０の表面２０ｂに欠陥部３１が存在するために、情報の読み取りが不可能となる可能性が高い部分について、リトライを行うことなくスキップして、情報の再生を行う。したがって、無駄なリトライ時間を削減できる。

以上に示した実施形態は本発明の一例であり、本発明は上述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。

例えば、以上に示した実施形態においては、閾値Ｗ_Tを適宜変化させる構成とした。しかし、例えば、光ディスクの製造ばらつきが小さく閾値Ｗ_Tを更新する必要がないと判断される場合等には、閾値Ｗ_Tは常に一定の値である構成としても構わない。

また、以上に示した実施形態においては、欠陥部３１の長さＷを算出し、それを閾値Ｗ_Tと比較して、リトライを行うか否かを判断する構成とした。しかし、この構成に限定されない。すなわち、欠陥部３１の長さＷを算出せずに、単に欠陥部通過時間（図３参照）を閾値（時間基準で設定される閾値）と比較して、リトライを行うか否かを判断する構成等としても構わない。

また、以上に示した実施形態においては、再生ＲＦ信号に基づいて欠陥部３１を検知する構成としたが、これに限定される趣旨ではない。欠陥部３１の存在によって、信号レベルが変動する他の信号も勿論使用できる。

また、光ディスク再生装置１が複数種類の光ディスクに対して情報の再生を行えるような場合には、それぞれの光ディスクに対して異なる閾値Ｗ_Tを設定する構成等としても構わない。

本発明の光ディスク再生装置及び光ディスクの再生方法によれば、無駄なリトライ時間を削減できる。このために、光ディスクを再生する装置及び方法として好適に使用できる。

は、本実施形態の光ディスク再生装置の構成を示すブロック図である。 は、本実施形態の光ディスク再生装置が備えるリトライ判断部が実行する動作を示すフローチャートである。 は、ディフェクト信号について説明するための模式図である。 は、光ディスクの表面に存在する欠陥部の長さの算出に関して説明するための模式図である。

符号の説明

１ 光ディスク再生装置
７ ＦＥＰ（信号処理部）
１１ リトライ判断部
２４ 光検出器（受光部）
３１ 欠陥部
Ｗ 欠陥部の長さ

Claims (6)

1. 光ディスクに光を照射して反射光を受光部で受光し、前記光ディスクが有する光情報を電気信号に変換して出力する光ピックアップと、
   前記電気信号を処理して情報の再生を行うために必要な信号を生成する信号処理部と、
   情報を記憶する記憶部と、
   を備える光ディスク再生装置において、
   再生中に情報を正常に読み取れなかった場合に、正常に読み取れなかった情報の再読み出しを行うか、再読み出しを行わずに該情報をスキップするかを判断するリトライ判断部が設けられ、
   前記リトライ判断部が実行する処理には、
   前記信号処理部からの信号に基づいて、再生位置が欠陥部であるか否かを判断して前記欠陥部の検知を行う欠陥部検知処理と、
   前記欠陥部が検知された場合に、前記欠陥部が連続して検知される時間を計測する時間計測処理と、
   前記時間計測結果と、前記記憶部に記憶される閾値と、に基づいて再読み出しを行うか否かを判断するリトライ判断処理と、
   が含まれることを特徴とする光ディスク再生装置。
2. 前記リトライ判断部が実行する処理には、情報を正常に読み取れたにもかかわらず、前記欠陥部が検知されて前記時間計測結果と前記閾値とに基づくと、その位置の情報の読み出しが不可能と判断される場合に、前記閾値の更新を行う処理が更に含まれることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク再生装置。
3. 前記リトライ判断部が実行する処理には、情報を正常に読み取れず、前記時間計測結果と前記閾値とに基づいて再読み出しを行うと判断されて再読み出しを行ったにもかかわらず、最終的に情報の読み出しが不可能であった場合に、前記閾値の更新を行う処理が更に含まれることを特徴とする請求項１又は２に記載の光ディスク再生装置。
4. 前記欠陥部であるか否かの判断は、前記信号処理部によって生成される再生ＲＦ信号に基づいて行われることを特徴とする請求項１から３のいずれかに記載の光ディスク再生装置。
5. 前記リトライ判断部が行う処理には、前記時間計測結果と前記光ディスクの線速度とから前記欠陥部の長さを算出する算出処理が更に含まれ、
   前記リトライ判断処理においては、前記欠陥部の長さと前記閾値との比較を行って、再読み出しを行うか否かを判断することを特徴とする請求項１から４のいずれかに記載の光ディスク再生装置。
6. 光ディスクの再生方法であって、
   再生ＲＦ信号に基づいて再生位置が欠陥部であるか否かを判断して前記欠陥部の検知を行うステップと、
   前記欠陥部が検知された場合に、前記欠陥部が連続して検知される時間を計測するステップと、
   計測された時間と前記光ディスクの線速度とから前記欠陥部の長さを算出するステップと、
   前記欠陥部を検知し、情報を正常に読み取れなかった場合に、正常に読み取れなかった情報の再読み出しを行うか、再読み出しを行わずに該情報をスキップするかを判断するステップと、
   を具備することを特徴とする光ディスクの再生方法。

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