JP2006318616A - 欠陥検出回路及びそれを備えた記憶媒体再生装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 記憶媒体から読み出したRF信号からこの記憶媒体の欠陥を検出すること。
【解決手段】 記憶媒体から読み出したRF信号のピークホールド信号のピークをホールドすると共にレベルを調整した信号がピークホールド信号よりも高いレベルのときに暗欠陥検出信号を出力する暗欠陥検出回路と、ピークホールド信号のボトムをホールドすると共にレベルを調整した信号がピークホールド信号よりも低いレベルのときに明欠陥検出信号を出力する明欠陥検出回路と、明欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、暗欠陥検出回路を制御して暗欠陥検出信号の出力を不可とする制御回路とを備えることにより記憶媒体上の欠陥を検出する欠陥検出回路において、制御回路は、ピークホールド信号に基づいて生成した基準信号よりも低いピークホールド信号を検出すると暗欠陥検出回路を制御して暗欠陥検出信号の出力を可とする。
【選択図】 図2
【解決手段】 記憶媒体から読み出したRF信号のピークホールド信号のピークをホールドすると共にレベルを調整した信号がピークホールド信号よりも高いレベルのときに暗欠陥検出信号を出力する暗欠陥検出回路と、ピークホールド信号のボトムをホールドすると共にレベルを調整した信号がピークホールド信号よりも低いレベルのときに明欠陥検出信号を出力する明欠陥検出回路と、明欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、暗欠陥検出回路を制御して暗欠陥検出信号の出力を不可とする制御回路とを備えることにより記憶媒体上の欠陥を検出する欠陥検出回路において、制御回路は、ピークホールド信号に基づいて生成した基準信号よりも低いピークホールド信号を検出すると暗欠陥検出回路を制御して暗欠陥検出信号の出力を可とする。
【選択図】 図2
Description
本発明は、記憶媒体再生装置の欠陥検出回路に関し、さらに詳しくは、光ディスクなどの記憶媒体から読み出したRF信号からこの記憶媒体上の欠陥を検出する欠陥検出回路及びそれを有する記憶媒体再生装置に関する。
近年、大量のデータを記録することができる大容量の記録媒体として、光ディスクが広く用いられており、このような光ディスクに記録されたデータは、光ディスク再生装置を用いて再生される。
光ディスク再生装置は、まず光ディスクに読み取り用の光を照射し、その反射光から光ピックアップを用いてRF信号を生成する。続いて、このRF信号に基づいて入力信号を生成した後、この入力信号を信号処理回路で処理することによって光ディスクに記録させたデータを再生する。
ところで、光ディスク再生装置において再生する光ディスク上にキズや汚れ等などがある場合、光ディスクからの光の反射量が著しく小さくなる暗欠陥や、光ディスクからの光の反射量が著しく大きくなる明欠陥が発生することがある。このような暗欠陥や明欠陥が発生すると、光ディスク再生装置は、光ディスクからデータを正確に読み取ることができないことがある。
そのため、光ディスク再生装置は、光ディスク上の欠陥を検出する欠陥検出回路を有しており、この欠陥検出回路から出力される信号に基づいて光ピックアップのフォーカス制御やトラッキング制御等のサーボ制御を行うことによりデータを正確に再生するようにしている(たとえば、特許文献1参照。)。
この欠陥検出回路100は、図4に示すように、光ピックアップを用いて光ディスクに読み取り用として照射された光の反射光からRF信号を生成するRF信号生成器101と、第1のピークホールド回路102と、この第1のピークホールド回路102の時定数よりも大きい時定数を有する第2のピークホールド回路103と、第2のピークホールド回路103の出力レベルを調整するレベル調整回路104と、第1のピークホールド回路102の出力とレベル調整回路104の出力とを比較する比較回路105とから構成される。
このように構成した欠陥検出回路100では、第1のピークホールド回路102は、RF信号S100に対する信号追従性が早い回路構成となっており、RF信号S100をピークホールドしたピークホールド信号S101(以下、「RFPH信号」ということもある。)を出力する。
一方、第2のピークホールド回路103は、第1のピークホールド回路102よりも時定数が大きく信号追従性の遅い回路構成となっている。従って、入力されたピークホールド信号は、第2のピークホールド回路103によって、ピークホールド信号S101よりも緩慢に変動する中間信号S102を出力するように構成されている。
レベル調整回路104は、中間信号S102の信号レベルを所定値だけ下げて、中間信号S102の信号レベルが暗欠陥発生部分以外でピークホールド信号S101の信号レベルよりも低くなるようにレベル調整した閾値信号S103(以下、「DFPBSLV信号」ということもある。)を生成する。
比較回路105は、ピークホールド信号S101の信号レベルが閾値信号S103の信号レベルよりも低い場合に、「H」レベルとなるDFCT信号S104(以下、「欠陥検出信号」とする。)を出力する。
そして、光ピックアップは、この欠陥検出回路100が欠陥検出信号を出力する間、トラッキングの動作を停止させたトラッキングホールド状態なる。その後、DFCT信号S104が再び「L」レベルとなったときに、トラッキングホールド状態を解除することによって光ディスク上の欠陥に対処する。
つまり、光ディスク再生装置は、図5に示すように、DFCT信号S104を生成する際に、入力信号S100に対する信号追従性が早いピークホールド信号S101と、このピークホールド信号S101よりも信号追従性の遅い閾値信号S103とを比較することによって、ピークホールド信号S101のレベルが閾値信号S103のレベルよりも低くなったとき(図5のT101〜T102の期間)に「H」レベルとなる欠陥検出信号S104を生成し、この欠陥検出信号S104を用いて光ディスク上の欠陥に対処するようにしている。
以上の欠陥検出回路100は、暗欠陥の発生を検出するものであるが、明欠陥の発生を検出することも同様の回路を用いることによって行なうことができる。
すなわち、RF信号のピークホールド信号と、このピークホールド信号のボトムをホールドしたボトムホールド信号をレベル調整した信号とを比較し、その結果を出力する明欠陥検出回路を用いることによって明欠陥を検出することができる。
特開2000−90446号公報
ところで、上述の暗欠陥の発生を検出する欠陥検出回路においては、RF信号のピークホールド信号を用いて暗欠陥の検出をすることができるが、明欠陥が発生したときにまで、上述の第2のピークホールド回路103のピークホールド動作が行なわれると、図6に示すように、T105とT108との間において、暗欠陥がないにもかかわらず欠陥検出信号を出力、すなわち誤検出することになる。このことは、明欠陥を検出する回路の場合でも同様である。
このような誤検出を防止するためには、再生中のRF信号に明欠陥が発生している間、特に発生した明欠陥の終わり初め(図6中のT104時点)から明欠陥の終了(図6中のT107時点)までの間、上述の第2のピークホールド回路103のピークホールド動作を停止する必要がある。
そこで、明欠陥の発生を検出する明欠陥回路を設ける必要があるが、ディスク上の明欠陥は、種々の原因で発生するため、その欠陥状態も多種多様であり、そのために明欠陥の終わり初めやその終了(すなわち、図6のT104、T107)を完全に検出することは極めて困難である。
そのため、上述の第2のピークホールド回路103のピークホールドを停止する信号(以下、「PHOFF」とする。)として、上述の明欠陥検出回路で検出された明欠陥検出信号を使用しても、図7に示すように、T106の後、暗欠陥検出回路による暗欠陥の誤検出が行なわれることになる。
したがって、図8に示すように、明欠陥検出回路による明欠陥検出時及びその後一定期間αをPHOFF信号とすることによって、上述の暗欠陥検出回路の誤検出を防止しなければならなかった。なお、上記一定期間とは、種々の欠陥状態に対応できるようにマージンを考慮した一定期間である。
ところが、図9に示すように、明欠陥と暗欠陥の間隔が短く、明欠陥検出後一定期間α内に暗欠陥が発生してしまうことがある。明欠陥検出後一定期間α内は第2のピークホールド回路のピークホールド動作が停止しているため、図9に示すように、図中T109〜T111において検出すべき暗欠陥を検出できないという問題が生じる。同様の問題は、明欠陥検出の場合でも発生する。
かかる課題を解決するため、請求項1に記載の発明は、記憶媒体から読み出したRF信号のピークをホールドしてピークホールド信号を生成するピークホールド回路と、前記ピークホールド信号のピークをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも高いレベルのときに暗欠陥検出信号を出力する暗欠陥検出回路と、前記ピークホールド信号のボトムをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも低いレベルのときに明欠陥検出信号を出力する明欠陥検出回路と、前記明欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、前記暗欠陥検出回路を制御して前記暗欠陥検出信号の出力を不可とする制御回路とを備えることにより前記記憶媒体上の欠陥を検出する欠陥検出回路において、前記制御回路は、前記暗欠陥検出信号の出力を不可としている状態であっても、前記ピークホールド信号に基づいて生成した基準信号よりも低いレベルのピークホールド信号を検出すると前記暗欠陥検出回路を制御して前記暗欠陥検出信号の出力を可とすることを特徴とする。
また、請求項2に記載の発明は、記憶媒体から読み出したRF信号のピークをホールドしてピークホールド信号を生成するピークホールド回路と、前記ピークホールド信号のピークをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも高いレベルのときに暗欠陥検出信号を出力する暗欠陥検出回路と、前記ピークホールド信号のボトムをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも低いレベルのときに明欠陥検出信号を出力する明欠陥検出回路と、前記暗欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、前記明欠陥検出回路を制御して前記明欠陥検出信号の出力を不可とする制御回路とを備えることにより前記記憶媒体上の欠陥を検出する欠陥検出回路において、前記制御回路は、前記明欠陥検出信号の出力を不可としている状態であっても、前記ピークホールド信号に基づいて生成した基準信号よりも高いレベルのピークホールド信号を検出すると前記明欠陥検出回路を制御して前記明欠陥検出信号の出力を可とすることを特徴とする。
また、請求項3に記載の発明は、記憶媒体から読み出したRF信号のピークをホールドしてピークホールド信号を生成するピークホールド回路と、前記ピークホールド信号のピークをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも高いレベルのときに暗欠陥検出信号を出力する暗欠陥検出回路と、前記ピークホールド信号のボトムをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも低いレベルのときに明欠陥検出信号を出力する明欠陥検出回路と、前記明欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、前記暗欠陥検出回路を制御して前記暗欠陥検出信号の出力を不可とすると共に、前記暗欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、前記明欠陥検出回路を制御して前記明欠陥検出信号の出力を不可とする制御回路とを備えることにより前記記憶媒体上の欠陥を検出する欠陥検出回路において、前記制御回路は、前記暗欠陥検出信号又は前記明欠陥検出信号の出力を不可としている状態であっても、前記ピークホールド信号に基づいて生成した第1の基準信号よりも低いレベルのピークホールド信号を検出すると前記暗欠陥検出回路を制御して前記暗欠陥検出信号の出力を可とすると共に、前記ピークホールド信号に基づいて生成した第2の基準信号よりも高いレベルのピークホールド信号を検出すると前記明欠陥検出回路を制御して前記明欠陥検出信号の出力を可とすることを特徴とする。
また、請求項4に記載の発明は、請求項1又は請求項3に記載の発明において、制御回路は、暗欠陥検出回路におけるピークホールド信号のピークのホールドを停止させることによって、暗欠陥検出信号の出力を不可とすることを特徴とする
また、請求項5に記載の発明は、請求項2又は請求項3に記載の発明において、制御回路は、明欠陥検出回路におけるピークホールド信号のボトムのホールドを停止させることによって、明欠陥検出信号の出力を不可とすることを特徴とする。
また、請求項6に記載の発明は、請求項1〜請求項5のいずれかに記載の発明において、制御回路は、ピークホールド信号をローパスフィルタ部へ入力することによって基準信号を生成することを特徴とする。
また、請求項7に記載の発明は、記憶媒体から読み出したRF信号のピークをホールドしてピークホールド信号を生成するピークホールド回路と、前記ピークホールド信号のピークをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも高いレベルのときに暗欠陥検出信号を出力する暗欠陥検出回路と、前記ピークホールド信号のボトムをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも低いレベルのときに明欠陥検出信号を出力する明欠陥検出回路と、前記明欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、前記暗欠陥検出回路を制御して前記暗欠陥検出信号の出力を不可とすると共に、前記暗欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、前記明欠陥検出回路を制御して前記明欠陥検出信号の出力を不可とする制御回路とを備えることにより前記記憶媒体上の欠陥を検出する欠陥検出回路を設けた記憶媒体再生装置において、前記制御回路は、前記暗欠陥検出信号又は前記明欠陥検出信号の出力を不可としている状態であっても、前記ピークホールド信号に基づいて生成した第1の基準信号よりも低いレベルのピークホールド信号を検出すると前記暗欠陥検出回路を制御して前記暗欠陥検出信号の出力を可とすると共に、前記ピークホールド信号に基づいて生成した第2の基準信号よりも高いレベルのピークホールド信号を検出すると前記明欠陥検出回路を制御して前記明欠陥検出信号の出力を可とすることを特徴とする。
請求項1に記載の発明によれば、記憶媒体から読み出したRF信号のピークをホールドしてピークホールド信号を生成するピークホールド回路と、前記ピークホールド信号のピークをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも高いレベルのときに暗欠陥検出信号を出力する暗欠陥検出回路と、前記ピークホールド信号のボトムをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも低いレベルのときに明欠陥検出信号を出力する明欠陥検出回路と、前記明欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、前記暗欠陥検出回路を制御して前記暗欠陥検出信号の出力を不可とする制御回路とを備えることにより前記記憶媒体上の欠陥を検出する欠陥検出回路において、前記制御回路は、前記暗欠陥検出信号の出力を不可としている状態であっても、前記ピークホールド信号に基づいて生成した基準信号よりも低いレベルのピークホールド信号を検出すると前記暗欠陥検出回路を制御して前記暗欠陥検出信号の出力を可とするので、明欠陥が発生した後すぐに暗欠陥が発生した場合であってもその暗欠陥の発生を検出することができ、より確実な欠陥検出を行うことが可能となる。
また、請求項2に記載の発明によれば、記憶媒体から読み出したRF信号のピークをホールドしてピークホールド信号を生成するピークホールド回路と、前記ピークホールド信号のピークをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも高いレベルのときに暗欠陥検出信号を出力する暗欠陥検出回路と、前記ピークホールド信号のボトムをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも低いレベルのときに明欠陥検出信号を出力する明欠陥検出回路と、前記暗欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、前記明欠陥検出回路を制御して前記明欠陥検出信号の出力を不可とする制御回路とを備えることにより前記記憶媒体上の欠陥を検出する欠陥検出回路において、前記制御回路は、前記明欠陥検出信号の出力を不可としている状態であっても、前記ピークホールド信号に基づいて生成した基準信号よりも高いレベルのピークホールド信号を検出すると前記明欠陥検出回路を制御して前記明欠陥検出信号の出力を可とするので、暗欠陥が発生した後すぐに明欠陥が発生した場合であってもその明欠陥の発生を検出することができ、より確実な欠陥検出を行うことが可能となる。
また、請求項3に記載の発明によれば、記憶媒体から読み出したRF信号のピークをホールドしてピークホールド信号を生成するピークホールド回路と、前記ピークホールド信号のピークをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも高いレベルのときに暗欠陥検出信号を出力する暗欠陥検出回路と、前記ピークホールド信号のボトムをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも低いレベルのときに明欠陥検出信号を出力する明欠陥検出回路と、前記明欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、前記暗欠陥検出回路を制御して前記暗欠陥検出信号の出力を不可とすると共に、前記暗欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、前記明欠陥検出回路を制御して前記明欠陥検出信号の出力を不可とする制御回路とを備えることにより前記記憶媒体上の欠陥を検出する欠陥検出回路において、前記制御回路は、前記暗欠陥検出信号又は前記明欠陥検出信号の出力を不可としている状態であっても、前記ピークホールド信号に基づいて生成した第1の基準信号よりも低いレベルのピークホールド信号を検出すると前記暗欠陥検出回路を制御して前記暗欠陥検出信号の出力を可とすると共に、前記ピークホールド信号に基づいて生成した第2の基準信号よりも高いレベルのピークホールド信号を検出すると前記明欠陥検出回路を制御して前記明欠陥検出信号の出力を可とするので、明欠陥が発生した後すぐに暗欠陥が発生した場合であってもその暗欠陥の発生を検出することができ、更に暗欠陥が発生した後すぐに明欠陥が発生した場合であってもその明欠陥の発生を検出することができ、より確実な欠陥検出を行うことが可能となる。
また、請求項4に記載の発明によれば、制御回路は、暗欠陥検出回路におけるピークホールド信号のピークのホールドを停止させることによって、暗欠陥検出信号の出力を不可とすることで、暗欠陥検出回路の動作の停止を容易に行うことができる。
また、請求項5に記載の発明によれば、制御回路は、明欠陥検出回路におけるピークホールド信号のボトムのホールドを停止させることによって、明欠陥検出信号の出力を不可とすることで、暗欠陥検出回路の動作の停止を容易に行うことができる。
また、請求項6に記載の発明によれば、制御回路は、ピークホールド信号をローパスフィルタ部へ入力することによって基準信号を生成することで、明欠陥及び暗欠陥が発生しても、ピークホールド信号に基づいて安定した一定の信号レベルの基準信号を容易に生成することができる。
また、請求項7に記載の発明によれば、記憶媒体から読み出したRF信号のピークをホールドしてピークホールド信号を生成するピークホールド回路と、前記ピークホールド信号のピークをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも高いレベルのときに暗欠陥検出信号を出力する暗欠陥検出回路と、前記ピークホールド信号のボトムをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも低いレベルのときに明欠陥検出信号を出力する明欠陥検出回路と、前記明欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、前記暗欠陥検出回路を制御して前記暗欠陥検出信号の出力を不可とすると共に、前記暗欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、前記明欠陥検出回路を制御して前記明欠陥検出信号の出力を不可とする制御回路とを備えることにより前記記憶媒体上の欠陥を検出する欠陥検出回路を設けた記憶媒体再生装置において、前記制御回路は、前記暗欠陥検出信号又は前記明欠陥検出信号の出力を不可としている状態であっても、前記ピークホールド信号に基づいて生成した第1の基準信号よりも低いレベルのピークホールド信号を検出すると前記暗欠陥検出回路を制御して前記暗欠陥検出信号の出力を可とすると共に、前記ピークホールド信号に基づいて生成した第2の基準信号よりも高いレベルのピークホールド信号を検出すると前記明欠陥検出回路を制御して前記明欠陥検出信号の出力を可とするので、明欠陥が発生した後すぐに暗欠陥が発生した場合であってもその暗欠陥の発生を検出することができ、更に暗欠陥が発生した後すぐに明欠陥が発生した場合であってもその明欠陥の発生を検出することができ、より確実な欠陥検出を行うことが可能となる。
以下に、本発明に係る記録媒体再生装置である光ディスク再生装置Aについて図面を参照しながら具体的に説明する。図1は光ディスク再生装置Aにおけるブロック構成図であり、特に再生制御に関する部位を表している。
光ディスク再生装置Aは、図1に示すように、光ディスク1に記録されたデータを光学的に読み取るための光ピックアップ2と、光ディスク1の再生制御用のアナログRF(Radio Frequency)信号やアナログTE(Tracking Error)信号を生成するRFアンプ3と、RF信号やTE信号をデジタルデータへ変換するA/Dコンバータ4,5と、TE信号からトラッキング制御信号を生成するループフィルタ6と、トラッキングをホールドするための信号を生成するホールドフィルタ7と、RF信号から光ディスク上の欠陥を検出する欠陥検出回路8と、光ピックアップにトラッキング制御信号を出力するトラッキング駆動回路9と、切替部10とを有している。
なお、A/Dコンバータ4,5、ループフィルタ6、ホールドフィルタ7、欠陥検出回路8は、DSP(Digital Signal Processor)などのデジタル処理回路によって構成される。
光ピックアップ2は、光ディスク1にデータ読み取り用の光を照射し、この光の反射量に応じたアナログデータ信号S1を生成してRFアンプ3に入力する。
RFアンプ3は、光ピックアップ2から入力されたアナログデータ信号S1を増幅させることによりRF(Radio Frequency)信号S2を生成して、A/Dコンバータ5にRF信号S2を入力する。また、光ピックアップ2から入力されたアナログデータ信号S1よりTE信号S2´を生成してA/Dコンバータ4にこのTE信号S2´を入力する。
A/Dコンバータ4は、RFアンプ3で生成されたアナログTE信号S2´をデジタルTE信号S3に変換し、このデジタルTE信号S3をループフィルタ6とホールドフィルタ7にそれぞれ入力する。また、A/Dコンバータ5は、RFアンプ3で生成されたアナログRF信号をデジタルRF信号に変換し、このデジタルRF信号S4を欠陥検出回路8に入力する。
ループフィルタ6は、このデジタルTE信号S3からトラッキング制御信号を生成し、このように生成されたトラッキング制御信号S5は、後述の欠陥検出回路8からの出力信号S7に応じて選択的にトラッキング駆動回路9へ入力される。
ホールドフィルタ7は、デジタルTE信号S3の低域成分を抽出した信号S6を生成し、このように生成された信号S6は、後述の欠陥検出回路8からの出力信号S7に応じて選択的にトラッキング駆動回路9へ入力される。
欠陥検出回路8は、その内部で暗欠陥検出信号及び明欠陥検出信号をそれぞれ生成すると共に、これらの信号の論理和をとって欠陥検出信号(「H」レベルのDFCT信号)S7を生成して、この欠陥検出信号S7を切替部10へ入力する。
なお、明欠陥検出信号は、データ記録時に光ディスク1上に付着していたゴミや汚れがデータ再生時に取れたこと等によって、光ピックアップ2が読み取る光の反射量が著しく大きくなる明欠陥の検出を示すための信号であり、後述の明欠陥検出回路51から出力される「H」レベルの信号である。
また、暗欠陥検出信号は、データを再生する際に、光ディスク1上にゴミや汚れ等が付着していること等によって光ピックアップ2が読み取る光の反射量が著しく小さくなる暗欠陥の検出を示す信号であり、後述の暗欠陥検出回路50から出力される「H」レベルの信号である。
また、切替部10は、DFCT信号S7が「L」レベルで出力されている状態では、ループフィルタ6からのトラッキング制御信号をトラッキング駆動回路9へ出力する一方、DFCT信号S7が「H」レベルで出力されている状態では、ホールドフィルタ7からの信号S6をトラッキング駆動回路9へ出力する。
トラッキング駆動回路9は、通常、ループフィルタ6からトラッキング制御信号に基づいて、光ディスク1からデータをピックアップするスポットの位置を光ディスク1上のトラックの真ん中になるように信号S8によって光ピックアップ2を制御するトラッキング制御を行う一方、欠陥検出回路8が「H」レベルのDFCT信号を出力している間は、ホールドフィルタ7からの信号S6に基づいて一定の駆動信号を出力し、光ピックアップ2のトラッキング制御をホールド状態とする。
すなわち、トラッキング駆動回路9は、欠陥検出回路8から欠陥検出信号が入力されていない期間においては、通常のトラッキング制御を行うためのトラッキング制御信号S5に基づいて光ピックアップ2を制御する一方、欠陥検出回路8から欠陥検出信号が入力されている期間においては、TE信号S3の低域成分のみを抽出することにより生成した信号S6に基づいて光ピックアップ2を制御することにより、トラッキング制御をホールド状態にするように構成している。
以下に、本実施の形態に係る光ディスク再生装置Aに内蔵している欠陥検出回路8について、図2、図3を参照しながら、具体的に説明する。
図2に示すように、欠陥検出回路8は、デジタルRF信号S4のピークをホールドしてピークホールド信号(以下、「RFPH信号」とする。)を生成して出力するピークホールド回路30と、デジタルRF信号S4に発生する暗欠陥を検出する暗欠陥検出回路50と、同じくデジタルRF信号S4に発生する明欠陥を検出する明欠陥検出回路51と、暗欠陥検出回路50及び明欠陥検出回路51とを制御する制御回路52と、明欠陥検出回路51の出力と明欠陥検出回路51の出力の論理和を演算する論理和回路49とから構成されている。
ピークホールド回路30は、入力信号であるデジタルRF信号S4に対する信号追従性が早い回路構成としており、デジタルRF信号S4のピークの変化を敏感にホールドしたピークホールド信号を生成する。
暗欠陥検出回路50は、ピークホールド回路30よりも時定数が大きく、RFPH信号よりも信号追従性の遅いピークホールド信号S11を生成するピークホールド回路41と、ピークホールド回路41で生成された信号S11の信号レベルを所定値x1だけ低くなるように調整する第1の信号レベル調整回路42と、第1の信号レベル調整回路42でレベル調整された信号S12とRFPH信号とを比較する第1の比較回路43とによって構成される。
また、ピークホールド回路41は、後述の第2のパルス延長回路66から「L」レベルの信号S18が出力されている状態では、ピークホールド制御を行う一方、第2のパルス延長回路66から「H」レベルの信号S18が出力されると、ピークホールド制御を停止し、入力されるRFPH信号をそのまま出力する。
明欠陥検出回路51は、ピークホールド回路41のピークホールドの時定数と同等のボトムホールドの時定数をもち、RFPH信号のボトムホールドを行ってボトムホールド信号S14を生成するボトムホールド回路45と、ボトムホールド回路45で生成された信号S14の信号レベルを所定値x2だけ高くなるように調整する第2の信号レベル調整回路46と、第2の信号レベル調整回路46でレベル調整された信号S15とRFPH信号とを比較する第2の比較回路47とによって構成される。
また、ボトムホールド回路45は、後述の第1のパルス延長回路63から「L」レベルの信号S17が出力されている状態では、ボトムホールド制御を行う一方、第1のパルス延長回路63から「H」レベルの信号S17が出力されると、ボトムホールド制御を停止し、入力されるRFPH信号をそのまま出力する。
制御回路52は、フィルタ部60と、第3の信号レベル調整回路61と、第4の信号レベル調整回路64と、第3の比較回路62と、第4の比較回路65と、第1のパルス延長回路63と、第2のパルス延長回路66とから構成されている。
フィルタ部60は、内部にフィルタを有しており、この内部フィルタへのクロック供給を行うことによりフィルタ機能を作動させる。このフィルタ機能は、入力されるRFPH信号の高周波成分を減衰し、低周波領域を通過させる機能を有し、代数的に平均値をとることと等価である。
また、このフィルタ部60へは論理和回路49の出力であるDFCT信号S7が接続されており、このDFCT信号S7によってフィルタ部60のフィルタ機能の制御が行われる。
すなわち、フィルタ部60は、DFCT信号のレベルが「L」となっている間は、内部フィルタへのクロック供給を行うことによってRFPH信号の高周波領域を減衰させる一方、DFCT信号のレベルが「H」になっている間、すなわち欠陥検出信号が出力されている間、ノイズ耐性を強化するために、内部フィルタへのクロック供給を停止すると共に、フィルタ出力を固定する。
このように、暗欠陥や明欠陥を検出しているときにはフィルタ動作を停止すると共にフィルタ出力を固定するので、フィルタ部60は、RFPH信号に高周波成分である明欠陥や暗欠陥が発生しているときであっても、これら暗欠陥や明欠陥に影響されることなく変動の少ない信号S21を生成し、出力することができる。
また、第3の信号レベル調整回路61は、フィルタ部60から出力される信号S21の信号レベルを所定値x3だけ高くなる信号S22を出力するように調整する。
また、第4の信号レベル調整回路64はフィルタ部60から出力される信号S21の信号レベルを所定値x4だけ低くなる信号S23を出力するように調整する。
第3の比較回路62は、第3の信号レベル調整回路61から出力される信号S22とRFPH信号との信号レベルの比較を行い、信号S22のレベルがRFPHよりも高いときには、「L」レベルの信号を出力し、一方、信号S22のレベルがRFPHよりも低いときには、「H」レベルの信号を出力する。
また、第4の比較回路65は、第4の信号レベル調整回路64から出力される信号S23とRFPH信号との信号レベルの比較を行い、信号S23のレベルがRFPH信号のレベルよりも低いときには、「L」レベルの信号を出力し、一方、信号S23のレベルがRFPHよりも高いときには、「H」レベルの信号を出力する。
第1のパルス延長回路63は、暗欠陥検出回路50の出力信号S13が「H」レベルとなったときに動作を開始し、ボトムホールド回路45のボトムホールド制御を停止させるために「H」レベルの信号S17をボトムホールド回路45へ出力する。このようにボトムホールド制御を停止することによって、明欠陥検出回路51からの明欠陥検出信号の出力を不可とする状態にしている。
また、第1のパルス延長回路63は、暗欠陥検出回路50の出力信号S13が「H」レベルを維持している状態では、ボトムホールド回路45への「H」レベルの信号S17の出力を継続すると共に、暗欠陥検出回路50の出力信号S13が「H」レベルから「L」レベルになった後であっても、期間αだけ「H」レベルの信号S17の出力を継続し、期間αが経過すると、信号S17のレベルを「L」とする。
また、第1のパルス延長回路63は、ボトムホールド回路45への「H」レベルの信号S17の出力を継続している状態であっても、第3の比較回路62から「H」レベルの信号が入力されると、信号S17のレベルを「L」へ変更する。すなわち、明欠陥検出回路51からの明欠陥検出信号の出力を不可としている状態であっても、第3の比較回路62から「H」レベルの信号が入力されると、明欠陥検出回路51からの明欠陥検出信号の出力を可とする。
第2のパルス延長回路66は、明欠陥検出回路51の出力信号S16が「H」レベルとなったときに動作を開始し、ピークホールド回路41のピークホールド制御を停止させるために「H」レベルの信号S18をピークホールド回路41へ出力する。このようにピークホールド制御を停止することによって、暗欠陥検出回路50からの暗欠陥検出信号の出力を不可とした状態としている。
また、第2のパルス延長回路66は、明欠陥検出回路51の出力信号S16が「H」レベルを維持している状態では、ピークホールド回路41への「H」レベルの信号S18の出力を継続すると共に、明欠陥検出回路51の出力信号S16が「H」レベルから「L」レベルになった後であっても、期間βだけ「H」レベルの信号S18の出力を継続し、期間βが経過すると、信号S18レベルを「L」とする。
また、第2のパルス延長回路66は、ピークホールド回路41への「H」レベルの信号S18の出力を継続している状態であっても、第4の比較回路65から「H」レベルの信号が入力されると、信号S18レベルを「L」へ変更する。すなわち、暗欠陥検出回路50からの暗欠陥検出信号の出力を不可としている状態であっても、第4の比較回路65から「H」レベルの信号が入力されると、暗欠陥検出回路50からの暗欠陥検出信号の出力を可とする。
以上のように構成された欠陥検出回路8について、光ディスク1上で暗欠陥、明欠陥、暗欠陥と、欠陥部同士が近接して連続的に存在した場合のその動作を、図3を用いて具体的に説明する。
まず、図3の期間(a)において、RF信号に暗欠陥が発生することによってRFPH信号のレベルが急激に低下する。一方、第1の信号レベル調整回路42からの出力信号S12はRFPH信号に比べレベルの低下に対しての追従速度が遅いため、図3に示すT11のタイミングで、RFPH信号のレベルが信号S12のレベルよりも低くなる。
RFPH信号のレベルが信号S12のレベルよりも低くなると、第1の比較回路43の出力S13の信号レベルが「L」から「H」へと切り替わり、暗欠陥検出信号が出力される。この暗欠陥検出信号が第1の比較回路43によって出力されることにより、論理和回路49から「H」レベルの出力、すなわち欠陥信号の出力が行なわれると共に、第1のパルス延長回路63の出力信号S17が「L」レベルから「H」レベルへ移行し、それによってボトムホールド回路45のボトムホールド制御が停止する。
その後、RF信号の暗欠陥位置から無欠陥位置へ移行するときに、RFPH信号のレベルは急激に上昇する。一方、第1の信号レベル調整回路42からの出力信号S12はRFPH信号よりも調整値x1分小さくならないとRFPH信号のレベル上昇への追従は行なわれないため、図3に示すT12のタイミングで、RFPH信号の信号レベルが出力信号S12の信号レベルを超えてしまう。
RFPH信号の信号レベルが出力信号S12の信号レベルを超えると、第1の比較回路43の出力S13の信号レベルが「H」から「L」へと切り替わり、暗欠陥検出信号として出力が終了する。なお、第1のパルス延長回路63は、ボトムホールド回路45のボトムホールド制御の停止を維持するために、「H」レベルの信号S17の出力を、暗欠陥検出信号の終了タイミングから一定期間αだけ継続する。
次に、図3の期間(b)においては、この図3に示すように、RF信号に暗欠陥が発生した後、すぐに明欠陥が発生しているため、RFPH信号のレベルが急激に上昇する。そして、第3の信号レベル調整回路61からの出力信号S22をRFPH信号のレベルが超える(図3のT13)と、第1のパルス延長回路63がリセットされ、この第1のパルス延長回路63からの出力信号S17の信号レベルは「H」から「L」に切り替わる。
第1のパルス延長回路63から出力される信号レベルが「L」に切り替わると、ボトムホールド回路45のボトムホールド動作の停止が解除され、ボトムホールド回路45によってRFPH信号のボトムホールド動作が再開される(図3のT13)。
このボトムホールド動作が再開によって、ボトムホールド回路45の出力信号S14はRFPH信号の急激なレベルの上昇に比べ、緩慢なレベル上昇の信号となり、RFPH信号の信号レベルが信号S15の信号レベルを超える(図3のT14)。
このようにRFPH信号の信号レベルが信号S15の信号レベルを超えることによって、第2の比較回路47は、「H」レベルの出力、すなわち明欠陥検出信号を出力する。
この明欠陥検出信号によって、論理和回路49から「H」レベルの出力が行なわれると共に、第2のパルス延長回路66の出力信号S18が「L」レベルから「H」レベルへ移行し、それによってピークホールド回路41のピークホールド制御が停止する。
その後、RF信号の明欠陥位置から無欠陥位置へ移行するときに、RFPH信号のレベルは急激に下降する。一方、第2の信号レベル調整回路46からの出力信号S15はRFPH信号よりも調整値x2分だけ大きくならないとRFPH信号のレベル下降への追従は行なわれないため、図3のT15のタイミングで、RFPH信号の信号レベルが出力信号S15の信号レベルを下回ってしまう。
出力信号S15の信号レベルがRFPH信号の信号レベルを超えると、第2の比較回路47の出力S16の信号レベルが「H」から「L」へと切り替わり、明欠陥検出信号として出力が終了する。なお、第2のパルス延長回路66は、ピークホールド回路41のピークホールド制御の停止を維持するために、「H」レベルの信号S18を、明欠陥検出信号の終了タイミングから一定期間βだけ継続する。
次に、図3の期間(c)においては、この図3に示すように、RF信号に明欠陥が発生した後、すぐに暗欠陥が発生しているため、RFPH信号のレベルが急激に下降する。そして、第4の信号レベル調整回路64からの出力信号S23がRFPH信号のレベルを超える(図3のT16)と、第2のパルス延長回路66がリセットされ、第2のパルス延長回路66から出力される信号S18のレベルは「H」から「L」に切り替わる。
第2のパルス延長回路66から出力される信号S18のレベルが「L」に切り替わると、ピークホールド回路41のピークホールド動作の停止が解除され、ピークホールド回路41によってRFPH信号のピークホールド動作が再開される。
このピークホールド動作の再開によって、ピークホールド回路41の出力信号S11はRFPH信号の急激なレベルの下降に比べ、緩慢なレベル下降の信号となり、RFPH信号の信号レベルが信号S12の信号レベルを下回る(図3のT17)。
このようにRFPH信号の信号レベルが信号S12の信号レベルを下回ることによって、第1の比較回路43は、「H」レベルの出力、すなわち暗欠陥検出信号を出力する。この暗欠陥検出信号によって、論理和回路49から「H」レベルの出力が行なわれると共に、第1のパルス延長回路63の出力信号S17が「L」レベルから「H」レベルへ移行し、それによってボトムホールド回路45のボトムホールド制御が停止する。
以上説明したように、本発明によれば、RF信号に明欠陥が発生した後すぐに暗欠陥が発生した場合、又は暗欠陥が発生した後すぐに明欠陥が発生した場合であっても、それらの欠陥の検出漏れを防止することができる欠陥検出回路および記憶媒体再生装置が提供できる。
なお、本実施の形態においては、明欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、暗欠陥検出回路を制御して暗欠陥検出信号の出力を不可とする方法として、ピークホールド回路のピークホールド動作を停止して、RFPH信号をそのまま通過させることとしたが、暗欠陥検出回路の出力を「L」レベルに固定するよう制御して、暗欠陥検出信号の出力を不可とするようにしてもよい。
また同様に、暗欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、明欠陥検出回路を制御して明欠陥検出信号の出力を不可とする方法として、ボトムホールド回路のボトムホールド動作を停止して、RFPH信号をそのまま通過させることとしたが、明欠陥検出回路の出力を「L」レベルに固定するよう制御して、明欠陥検出信号の出力を不可とするようにしてもよい。
なお、本実施形態においては、RF信号をデジタル化して欠陥検出回路へ入力するようにしたが、欠陥検出回路にA/Dコンバータを設けることによってアナログRF信号をそのまま欠陥検出回路を入力するようにしてもよい。
また、本実施の形態においては、欠陥検出回路をデジタル処理回路によって構成するようにしたが、アナログ回路で構成するようにしてもよい。
また、本実施の形態においては、ピークホールド回路30に位置をA/Dコンバータ5の後段に配置したが、A/Dコンバータ5の前段(例えば、RFアンプ3への内蔵)に配置するようにしてもよい。
1 光ディスク
2 光ピックアップ
3 RFアンプ
4 A/Dコンバータ
5 A/Dコンバータ
8 欠陥検出回路
9 トラッキング駆動回路
30 ピークホールド回路
50 暗欠陥検出回路
51 明欠陥検出回路
52 制御回路
60 フィルタ部
2 光ピックアップ
3 RFアンプ
4 A/Dコンバータ
5 A/Dコンバータ
8 欠陥検出回路
9 トラッキング駆動回路
30 ピークホールド回路
50 暗欠陥検出回路
51 明欠陥検出回路
52 制御回路
60 フィルタ部
Claims (7)
- 記憶媒体から読み出したRF信号のピークをホールドしてピークホールド信号を生成するピークホールド回路と、
前記ピークホールド信号のピークをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも高いレベルのときに暗欠陥検出信号を出力する暗欠陥検出回路と、
前記ピークホールド信号のボトムをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも低いレベルのときに明欠陥検出信号を出力する明欠陥検出回路と、
前記明欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、前記暗欠陥検出回路を制御して前記暗欠陥検出信号の出力を不可とする制御回路とを備えることにより前記記憶媒体上の欠陥を検出する欠陥検出回路において、
前記制御回路は、
前記暗欠陥検出信号の出力を不可としている状態であっても、前記ピークホールド信号に基づいて生成した基準信号よりも低いレベルのピークホールド信号を検出すると前記暗欠陥検出回路を制御して前記暗欠陥検出信号の出力を可とすることを特徴とする欠陥検出回路。 - 記憶媒体から読み出したRF信号のピークをホールドしてピークホールド信号を生成するピークホールド回路と、
前記ピークホールド信号のピークをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも高いレベルのときに暗欠陥検出信号を出力する暗欠陥検出回路と、
前記ピークホールド信号のボトムをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも低いレベルのときに明欠陥検出信号を出力する明欠陥検出回路と、
前記暗欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、前記明欠陥検出回路を制御して前記明欠陥検出信号の出力を不可とする制御回路とを備えることにより前記記憶媒体上の欠陥を検出する欠陥検出回路において、
前記制御回路は、
前記明欠陥検出信号の出力を不可としている状態であっても、前記ピークホールド信号に基づいて生成した基準信号よりも高いレベルのピークホールド信号を検出すると前記明欠陥検出回路を制御して前記明欠陥検出信号の出力を可とすることを特徴とする欠陥検出回路。 - 記憶媒体から読み出したRF信号のピークをホールドしてピークホールド信号を生成するピークホールド回路と、
前記ピークホールド信号のピークをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも高いレベルのときに暗欠陥検出信号を出力する暗欠陥検出回路と、
前記ピークホールド信号のボトムをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも低いレベルのときに明欠陥検出信号を出力する明欠陥検出回路と、
前記明欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、前記暗欠陥検出回路を制御して前記暗欠陥検出信号の出力を不可とすると共に、前記暗欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、前記明欠陥検出回路を制御して前記明欠陥検出信号の出力を不可とする制御回路とを備えることにより前記記憶媒体上の欠陥を検出する欠陥検出回路において、
前記制御回路は、
前記暗欠陥検出信号又は前記明欠陥検出信号の出力を不可としている状態であっても、前記ピークホールド信号に基づいて生成した第1の基準信号よりも低いレベルのピークホールド信号を検出すると前記暗欠陥検出回路を制御して前記暗欠陥検出信号の出力を可とすると共に、前記ピークホールド信号に基づいて生成した第2の基準信号よりも高いレベルのピークホールド信号を検出すると前記明欠陥検出回路を制御して前記明欠陥検出信号の出力を可とすることを特徴とする欠陥検出回路。 - 前記制御回路は、
前記暗欠陥検出回路における前記ピークホールド信号のピークのホールドを停止させることによって、前記暗欠陥検出信号の出力を不可とすることを特徴とする請求項1又は請求項3に記載の欠陥検出回路。 - 前記制御回路は、
前記明欠陥検出回路における前記ピークホールド信号のボトムのホールドを停止させることによって、前記明欠陥検出信号の出力を不可とすることを特徴とする請求項2又は請求項3に記載の欠陥検出回路。 - 前記制御回路は、
前記ピークホールド信号をローパスフィルタ部へ入力することによって前記基準信号を生成することを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載の欠陥検出回路。 - 記憶媒体から読み出したRF信号のピークをホールドしてピークホールド信号を生成するピークホールド回路と、
前記ピークホールド信号のピークをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも高いレベルのときに暗欠陥検出信号を出力する暗欠陥検出回路と、
前記ピークホールド信号のボトムをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも低いレベルのときに明欠陥検出信号を出力する明欠陥検出回路と、
前記明欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、前記暗欠陥検出回路を制御して前記暗欠陥検出信号の出力を不可とすると共に、前記暗欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、前記明欠陥検出回路を制御して前記明欠陥検出信号の出力を不可とする制御回路とを備えることにより前記記憶媒体上の欠陥を検出する欠陥検出回路を設けた記憶媒体再生装置において、
前記制御回路は、
前記暗欠陥検出信号又は前記明欠陥検出信号の出力を不可としている状態であっても、前記ピークホールド信号に基づいて生成した第1の基準信号よりも低いレベルのピークホールド信号を検出すると前記暗欠陥検出回路を制御して前記暗欠陥検出信号の出力を可とすると共に、前記ピークホールド信号に基づいて生成した第2の基準信号よりも高いレベルのピークホールド信号を検出すると前記明欠陥検出回路を制御して前記明欠陥検出信号の出力を可とすることを特徴とする記憶媒体再生装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005143007A JP2006318616A (ja) | 2005-05-16 | 2005-05-16 | 欠陥検出回路及びそれを備えた記憶媒体再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2005143007A JP2006318616A (ja) | 2005-05-16 | 2005-05-16 | 欠陥検出回路及びそれを備えた記憶媒体再生装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JP2006318616A true JP2006318616A (ja) | 2006-11-24 |
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ID=37539136
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2005143007A Pending JP2006318616A (ja) | 2005-05-16 | 2005-05-16 | 欠陥検出回路及びそれを備えた記憶媒体再生装置 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008140525A (ja) * | 2006-12-05 | 2008-06-19 | Hitachi Ltd | 包絡線異常検出機能を備えた光ディスクドライブ |
-
2005
- 2005-05-16 JP JP2005143007A patent/JP2006318616A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2008140525A (ja) * | 2006-12-05 | 2008-06-19 | Hitachi Ltd | 包絡線異常検出機能を備えた光ディスクドライブ |
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