JP5348423B2 - 液晶滴下工法用シール剤 - Google Patents
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Description
(A)成分:フルオレン骨格を有するエポキシ樹脂
(B)成分:イソシアヌル骨格を有する(メタ)アクリル樹脂
液晶滴下工法用シール剤を調製するために下記成分を準備した。
・フルオレン骨格を有するエポキシ樹脂「オグソールPG−100(大阪ガスケミカル株式会社製)」
(A’)成分:フルオレン骨格を有さないエポキシ樹脂
・フェノールノボラック型エポキシ樹脂「jER152(ジャパンエポキシレジン株式会社製)」
(B)成分:イソシアヌル骨格を有する(メタ)アクリル樹脂
・カプロラクタン変性タイプ:「アロニックスM−327(東亞合成株式会社製)」
・エチレンオキサイド変性タイプ:「アロニックスM−215(東亞合成株式会社製)」
(C)成分:1分子中にエポキシ基と(メタ)アクリル基を有する化合物
・部分エステル化ビスフェノールA型エポキシ樹脂:「UVACURE1561(ダイセルサイテック株式会社製)」
その他成分
イソシアヌル骨格を有さない(メタ)アクリル樹脂
・ビスフェノールAタイプエポキシアクリレート:「EBECRYL3700(ダイセルサイテック株式会社製)」
・イソボロニルアクリレート:「ライトアクリレートIB−XA(共栄社化学株式会社製)」
光開始剤
・2,2−ジメトキシ−1,2−ジフェニルエタン−1−オン:「IRGACURE651(チバスペシャリティーケミカルズ製)
熱硬化剤
・マロン酸ジヒドラジド:「MDH(日本ファインケム株式会社製)」
有機充填剤
・コアシェル型充填剤:「ゼフィアックF351S(ガンツ化成株式会社製)」
無機充填剤
・シリカ粉:「シーホスターKE−C30(株式会社日本触媒製)」
相転移温度測定は、液晶に対する汚染性の評価方法の一つであり、汚染した液晶が本来の相転移温度とどれだけ違いが出ているかを確認しており、温度差が大きければそれだけ汚染されていると考える。サンプル瓶に液晶シール剤を0.15g入れた後、液晶(メルク株式会社製 ZLI−4792)1.5gを加える。前記サンプル瓶を100℃の熱風乾燥炉に10時間投入した後、取り出して室温にて1時間放置する。サンプル瓶から上澄み液(液晶)を取り出し、示差走査熱量測定器DSC6200(セイコーインスツル株式会社製)にて測定した時の相転移温度(吸熱ピーク温度)を測定する。一方、液晶シール剤を接触させないで同様の処理をした液晶の相転移温度を事前に測定しておく。その結果、相転移温度は94℃であった。前記二つの温度差を「相転移温度差(℃)」として、以下の判断基準から液晶汚染の目安とする。
○:相転移温度差が1.5℃より小さい
△:相転移温度差が1.5〜2.0℃
×:相転移温度差が2.0℃より大きい
比抵抗測定は、液晶に対する汚染性の評価方法の一つであり、汚染した液晶が本来の比抵抗とどれだけ違いが出るかを確認しており、比抵抗の変化が大きいほど液晶が汚染されていると考える。サンプル瓶に液晶シール剤を0.15g入れた後、液晶(メルク株式会社製 ZLI−4792)1.5gを加える。前記サンプル瓶を100℃の熱風乾燥炉に10時間投入した後、取り出して室温にて1時間放置する。サンプル瓶から上澄み液(液晶)を取り出し、液体電極LE21(安藤電気株式会社製)に入れて、液晶比抵抗測定システム(株式会社東陽テクニカ製)およびエレクトロメーターModel6517A(KEITHLEY製)により測定電圧10Vで5秒後の液晶の比抵抗を測定する。一方、液晶シール剤を接触させないで同様の処理をした液晶の比抵抗を事前に測定しておく。その結果、比抵抗は2.0×1013Ω・mであった。数1より計算した値を「比抵抗比率」とし、以下の判断基準から液晶汚染の目安とする。傾向としては、液晶汚染が進めばそれだけ比抵抗が小さくなっていく。
○:比抵抗比率が0.1より大きい
△:比抵抗比率が0.1〜0.01
×:比抵抗比率が0.01より小さい
一方の無アルカリガラス板(50mm×25mm×0.7mm)にシール剤を塗布し、他方の無アルカリガラス板と十字形に貼り合わせて、貼り合わせ面にシール剤が充分広がる状態で固定する。ランプ高さ15cmの高圧水銀灯で照度100mWで30秒照射した後、120℃×1時間加熱してテストピースを作成する。室温に戻った後、テストピースの各ガラス板の両端をチャックで固定し、引張速度50mm/minにてはく離方向に引っ張り、試験片が破壊するまでの最大荷重を測定して「初期の剥離強度(N/m)」とした。前記のテストピースを複数個作成し、試験片をプレッシャークッカー試験で121℃で2atmの雰囲気下に24時間放置したテストピースについて、同様の測定を行った。この時の剥離強度を「試験後の剥離強度(N/m)」とする。「初期の剥離強度(N/m)」とプレッシャークッカーによる「試験後の剥離強度(N/m)」より、数2から「剥離強度保持率(%)」を計算し、高圧高湿に対する耐性の目安とする。
○:剥離強度保持率が90%より大きい
△:剥離強度保持率が90〜60%
×:剥離強度保持率が60%より小さい
樹脂配合後1時間を経過した後、EHD型粘度計(東機産業株式会社製)にて25℃における粘度を測定し、「初期の粘度(Pa・s)」とする。25℃で120時間経過した後、初期粘度と同じ方法で粘度を測定をして「試験後の粘度(Pa・s)」とする。(JISK5600−2−3に準ずる。)数3に従い、「試験後の粘度(Pa・s)」と「初期の粘度(Pa・s)」から「粘度変化率(%)」を計算し保存性の目安とする。
○:粘度変化率が30%より小さい
△:粘度変化率が30〜50%
×:粘度変化率が50%より大きい
以下の仕様により、長さ50mmの直線パターンをガラス板状に10分間連続塗布する。塗布形状をCCDカメラにて100倍の倍率で確認を行う。
塗布機:武蔵エンジニアリング株式会社製 ショットマスター300
ノズル:φ400μm精密ノズル
クリアランス:30μm
塗布速度:100mm/sec
塗布圧:100kPa
図1〜図3の様な形状を参考として、「塗布特性」を以下の様な判断基準から評価する。
○:ビード切れが無く線幅を維持する(図1)
△:ビード切れが無く線幅が維持されない(図2)、または糸引きがある
×:ビード切れが有る(図3)
各試験項目を以下の通りの点数評価をして、その合計を「総合評価」とする。7点を超えると、液晶滴下工法用シール剤として使用できる。
○:2点
△:1点
×:0点
Claims (5)
- (A)成分および(B)成分を必須成分として含み、熱硬化及び光硬化する液晶滴下工法用シール剤。
(A)成分:フルオレン骨格を有するエポキシ樹脂
(B)成分:イソシアヌル骨格を有する(メタ)アクリル樹脂 - 樹脂成分、熱硬化剤および光開始剤からなる基本組成物の粘度が、25℃において100〜170Pa・sである請求項1に記載の液晶滴下工法用シール剤。
- (C)成分として、1分子中にエポキシ基と(メタ)アクリル基を有する化合物を含む請求項1または2に記載の液晶滴下工法用シール剤。
- 相転移温度差が0〜2.0℃である、請求項1〜3のいずれかに記載の液晶滴下工法用シール剤。
- 請求項1〜4のいずれかに記載の液晶滴下工法用シール剤を用いた液晶表示素子。
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