JP5345269B2 - 光学式変位測定装置 - Google Patents
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Description
本発明は光学式変位測定装置に関し、特に、光電式透過型リニアエンコーダを用いた高精度な光学式変位測定装置に関するもので、接触式のデジタル変位計に使用されるものである。
従来から、レーザや発光ダイオード(LED)を用いた光学式測長器、及び光学式エンコーダを用いた光学式エンコーダ測長器が知られている。光学式測長器は、レーザやLEDの波長を単位として測長するため、高い精度を得ることができる。また、光学式測長器は、主に2点間の長さを測長する相対位置測長に用いられる。
図1は光電式透過型リニアエンコーダを組み込んだ接触式デジタル変位計40の使用状態を示すものである。接触式デジタル変位計40は接続ケーブル7によりカウンタ41に接続して使用される。接触式デジタル変位計40はカウンタ41から電源供給を受けて測定を行い、測定値をカウンタ41に出力する。カウンタ41は接触式デジタル変位計40からの出力信号の演算処理を行い、得られた測定値を表示部42にデジタル表示する。よって、接触式デジタル変位計40で計測した測定対象の変位量は、この表示部42にデジタル値で表示される。
しかしながら、前述の第1の従来技術では、移動スケール3と固定スケール34の重なりの明暗をフォトダイオード28で検出するため、固定スケール34が必須であり、接触式デジタル変位計40の厚さを薄くすることができず、接触式デジタル変位計40が大型化していた。また、移動スケール3と固定スケール34の間隙を10〜50μmと狭くせねばならず、2つのスケールの面と面の位置合わせのための調整が非常に難しいという課題があった。
第1の目的を達成する本発明は、光学格子を有し、変位可能な第1の部材と、第1の部材を照射するための光源と、かつ、第1の部材を通過した光を受光する受光素子部とを有する光学式変位測定装置の場合、第1の部材と受光素子部との間隔をタルボット距離の1/2に設定し、かつ、受光素子部を受光素子群から構成したことを特徴とする。また、LEDとコンデンサレンズからなる光源と、移動スケールからなる第1の部材と、第1の部材と同じピッチでマスキングされたフォトダイオードからなる光電式透過型リニアエンコーダの場合、第1の部材とフォトダイオードの間隙をタルボット距離の1/2に設定したことを特徴とする。
Zt=(2×D 2 )/λ
で与えられる距離(タルボット距離)の整数倍の距離に、周期構造物体面上と同じ光強度分布が再現される現象であり、1836年にH.F.Talbotによって発見されたものである。
更に、複数の受光素子列を複数有した受光素子群を設けても良いものである。
第1の目的を達成する発明の手段によれば移動スケールのピッチが20μm、発光素子の波長λが700nmとするとタルボット像の形成する距離は、
(2×D 2 )/λ=Zt=1,142μm
となる。従ってZt/2=571μmの位置に受光素子であるフォトダイオードを設置すれば良く、従来に比べ10〜500倍も間隙を拡大することが可能となり、組立性の向上が図れ、安価な接触式デジタル変位計が提供できる。
図8は本発明の光学式変位測定装置の原理を説明する図である。図において、1は光源、2はコンデンサレンズ、3は移動スケール、4はマスキングされた受光素子であるフォトダイオード、5はスピンドル、6は接触子、11は移動スケール3にマーキングされた光学格子を示している。この図では光源1にはLEDが使用されており、光学格子11は所定線幅で所定長を有する光を遮断するバーが所定ピッチで移動スケール3の上にマーキングされたものである。LED1とフォトダイオード4が変位に応じて移動する移動スケール3を挟んで対向配置され、移動スケール3にスピンドル5が突設され、スピンドル5の先端に被測定物と接触する接触子6がねじ込まれている。
KA=J31・J37+J33・J35
KB=J32・J38+J34・J36
なる、2つの信号KA,KBに変換する。信号KA,KBのタイミングも図17に示される。図17から分かるように、信号I31の1周期はガラススケール10の光学格子11のピッチS(=8μm)に等しいことから、信号KAの立ち上がり若しくは立ち下がりから、信号KBの立ち下り若しくは立ち上がりまでの間隔は、丁度1μmである。
第2から第4の実施例に於いては、受光素子群が4つある例を示したが、受光素子群の数は4つに限定されるものではなく、正常でない光源からの光が分散されるのであればいくつでも良い。また、受光素子群をシフトする距離や、受光素子列をシフトする距離についても、前述の実施例と同様の効果が得られるのであれば、前述の数値の限定しないことは言うまでもない。
KA=J31・J37+J33・J35
KB=J32・J38+J34・J36
なる、2つの信号KA,KBに変換する。この信号KA,KBの立ち上がり、立ち下がりのタイミングを図17に示す。図17から分かるように、信号I31の1周期はガラススケールのピッチSに等しく8μmであることから、信号KAの立ち上がり若しくは立ち下がりから、信号KBの立ち下り若しくは立ち上がりまでの間隔は丁度1μmであり、信号KA,KBの立ち上がり若しくは立ち下がりの数をカウントすると、1周期で8となる。これを表示すれば測長器として使える。また、ガラススケール10の移動方向の弁別については、信号KBの立ち上がりに注目すると、移動方向がAの時には、信号KAは”1”になっており、移動方向がBの時には信号KAは”0”になっていることから区別が可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は本発明を適用する接触式デジタル変位計の使用状態を示す全体構成図である。
【図2】図2は第1の従来技術を示すものであり、接触式デジタル変位計の光電式透過型リニアエンコーダの原理を説明する図である。
【図3】図3は図2のフォトダイオードの出力信号の波形を示す波形図である。
【図4】図4は従来の光電式透過型リニアエンコーダの一例の構成を示す断面図である。
【図5】図5は第2の従来技術における光電式透過型リニアエンコーダの構成を示す図である。
【図6】図6は第3の従来技術における光電式透過型リニアエンコーダの構成を示す図である。
【図7】図7は第3の従来技術における光学格子と、受光素子列の関係を示した図である。
【図8】図8は本発明の光学式変位測定装置の原理を説明する図である。
【図9】図9は本発明の第1の実施例の接触式デジタル変位計の断面図である。
【図10】図10は図9のマスキングされたフォトダイオードの受光面拡大図である。
【図11】図11は図10の受光面の一部を更に拡大した図である。
【図12】図12は本発明の第2から第4の実施例を適用する光学式変位測定装置の構成を示す概略図である。
【図13】図13は本発明の第2の実施例を示すものであり、図12の所定の受光素子群の拡大図である。
【図14】図14は光学格子と受光素子列との関係を示した図である。
【図15】図15は本発明の第2の実施例を示すものであり、図12の別の受光素子群の拡大図である。
【図16】図16は本発明の第2の実施例における受光素子群の配置を示す図である。
【図17】図17は第2の実施例および第10の実施例の受光素子から得られる信号の変化を示す図である。
【図18】図18は第3の実施例に係わる受光素子群の配置を示した図である。
【図19】図19は第4の実施例に係わる受光素子群の配置を示した図である。
【図20】図20は第4の実施例に係わる光学格子と受光素子群の関係を示した図である。
【図21】図21は本発明の第5から第10の実施例に係わる光学式変位測定装置の概略構成図である。
【図22】図22は第5の実施例に係わる光学格子と受光素子群の関係を示した図である。
【図23】図23は本発明と同じ1μm毎の信号を出す従来構成の受光素子列を示す比較図である。
【図24】図24は第6の実施例に係わる光学格子と受光素子群を示した図である。
【図25】図25は第7の実施例に係わる光学格子と受光素子群を示した図である。
【図26】図26は第8の実施例に係わる光学格子と受光素子群を示した図である。
【図27】図27は第9の実施例に係わる光学格子と受光素子群を示した図である。
【図28】図28は第10の実施例に係わる光学格子と受光素子群を示した図である。
【符号の説明】
1 光源
2 コンデンサレンズ
3 移動スケール
4 フォトダイオード
10 ガラススケール
11 光学格子
12 透明部分
13 不透明部分
35 受光有効部分
39 受光無効部分
40 接触式デジタル変位計
44 第1のマスキング部
45 第2のマスキング部
200 受光素子群の集まり
201〜204 受光素子群
331〜338 受光素子列
Claims (5)
- 光学格子を有し変位可能な第1の部材と、該第1の部材を照射するための光源と、かつ該第1の部材を通過した光を受光する受光素子部とを有する光学式変位測定装置であって、
前記受光素子部は受光素子群からなり、
前記受光素子群は前記第1の部材の変位方向に沿って列をなして配置された複数の受光素子列として配置され、前記複数の受光素子列において、受光素子は、順次所定の距離ずつずらして、前記第1の部材の変位方向に対して垂直な方向に並んで配置されることによって、前記受光素子群は、前記光学格子に対して同一の位置関係にある複数の受光素子を分散して含み、
前記第1の部材の光学格子のピッチは、前記受光素子列のピッチより大きい、
ことを特徴とする光学式変位測定装置。
- 前記受光素子群が、受光素子をその受光有効部分と受光無効部分の和である所定のピッチで並べた受光素子列を複数個配置して構成されている、請求項1に記載の光学式変位測定装置。
- 前記受光素子の該受光有効部分の幅と該受光無効部分の幅は、該受光有効部分の幅の方が、該受光無効部分の幅より大きく構成されている、請求項1に記載の光学式変位測定装置。
- 前記受光無効部分の幅が2〜3μmである、請求項3に記載の光学式変位測定装置。
- 前記光学格子は透明部分と不透明部分とからなり、各々の幅の比率が1:1である、請求項1に記載の光学式変位測定装置。
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