JP5341281B2 - 電子機器および電子機器の制御方法 - Google Patents

Description

本発明は、表示装置、および入力を検出する検出装置とを備えた電子機器および電子機器の制御方法に関する。

近年、液晶表示装置に代表される薄型、軽量および低消費電力の表示装置が盛んに活用されている。こうした表示装置は、例えば携帯電話、スマートフォン、またはラップトップ型パーソナルコンピュータなどの電子機器への搭載が顕著である。また、今後はより薄型の表示装置である電子ペーパーの開発および普及も急速に進むことが期待されている。このような状況の中、現在、各種の表示装置においては消費電力を低下させることが共通の課題となっている。

特許文献１には、画面を１回走査する走査期間よりも長い非走査期間であって、全走査信号線を非走査状態とする休止期間を設けることによって、低消費電力を実現する表示装置の駆動方法が開示されている。

一方、上記の電子機器では、ユーザーからの入力操作を検出する検出装置として、タッチパネルを搭載する形態が増加している。特に、電子機器がタブレット型の情報端末装置である場合には、この傾向が顕著となっている。

日本国公開特許公報「特開２００１−３１２２５３号公報（２００１年１１月９日公開）」

電子機器が、検出装置としてタッチパネルを搭載した例えばタブレット型の端末装置の場合、タッチパネルは、表示装置の近傍、例えば表示装置の上に配置されている。このような電子機器では、表示装置の上記走査期間において表示装置から発生するノイズにより、タッチパネルのＳ／Ｎが低下し、検出精度が低下するという問題がある。この問題は、タッチパネルが静電容量型のものである場合に顕著となる。

そこで、タッチパネルに対するユーザーの入力操作についての検出動作を表示装置の上記非走査期間に行うことが考えられる。この場合には、表示装置から発生するノイズによるタッチパネルのＳ／Ｎの低下の問題を回避可能となる。

しかしながら、電子機器において、タッチパネルなどの検出装置に対して要求される検出精度は常に一定ではなく、検出装置に対して行われる入力操作の種類、あるいは起動するアプリケーションソフトウエアの種類によって変化する。また、検出装置の精度自体も温度などの外部環境の変化によって変化する。

したがって、単に、入力操作についての検出動作を表示装置の非走査期間に行うようにしただけでは、検出装置において十分な検出精度が得られない。また、検出装置の検出精度をさらに高める上においては、電子機器の消費電力の低減についても考慮する必要がある。

したがって、本発明は、消費電力を低減しつつ検出装置の検出精度を高めることができる電子機器および電子機器の制御方法の提供を目的としている。

上記の課題を解決するために、本発明の電子機器は、複数の画素に画像データを供給する走査期間と前記画像データを供給しない非走査期間とを交互に繰り返して、前記画素が保持する画像データの書き換えを繰り返し行う表示装置と、入力を検出する検出装置とを備え、かつ、前記入力について前記検出装置に要求される検出精度の変化を伴う状態変化を検出する状態変化検出部と、前記入力についての検出動作が前記表示装置の非走査期間に行われ、前記入力についての前記検出装置に要求される検出精度の上昇を伴う状態変化が前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が増加する一方、前記入力についての前記検出装置に要求される検出精度の低下を伴う状態変化が前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が減少するように、前記検出装置を制御する制御部を表示装置に備えていることを特徴としている。

上記の構成によれば、状態変化検出部は、入力について検出装置に要求される検出精度の変化を伴う状態変化を検出する。制御部は、入力についての検出動作が表示装置の非走査期間に行われ、前記入力についての前記検出装置に要求される検出精度の上昇を伴う状態変化が前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が増加する一方、前記入力についての前記検出装置に要求される検出精度の低下を伴う状態変化が前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が減少するように、前記検出装置を制御する。

検出装置に要求される検出精度の上昇を伴う状態変化とは、例えば、入力操作の検出が容易な手段を使用しての入力と入力操作の検出が容易でない手段を使用しての入力との変更、速い入力操作が行われるような動作モード（アプリケーション）の起動と終了、あるいは検出装置自体の検出精度に影響するような環境変化などである。

電子機器（電子機器の制御方法）では、入力についての検出装置に要求される検出精度の上昇を伴う状態変化、例えば相対的に検出装置の検出精度が低下するような状態変化が検出された場合に、非走査期間での検出動作の回数が増加する。したがって、電子機器において、そのような状態変化が起こった場合であっても、検出装置に対する入力を高精度に検出することができる。

一方、入力についての検出装置に要求される検出精度の低下を伴う状態変化、例えば相対的に検出装置の検出精度が高まるような状態変化が検出された場合に、非走査期間での検出動作の回数が減少する。したがって、無駄な検出動作を行って消費電力が増加する事態を防止することができる。これにより、消費電力を低減しつつ検出装置の検出精度を高めることができる。

上記のように、本発明の構成によれば、検出装置に要求される検出精度の上昇を伴う状態変化や検出装置の検出精度が低下するような状態変化が起こった場合であっても、検出装置に対する入力を高精度に検出することができる。また、無駄な検出動作を行って消費電力が増加する事態を防止することができる。これにより、消費電力を低減しつつ検出装置の検出精度を高めることができる。

本発明の実施の形態における電子機器の構成を示す説明図である。 図１に示した電子機器における、システム側コントロール部の構成を具体的に示したブロック図である。 （ａ）は、従来の表示装置における信号線駆動回路の出力部分に関する内部構成を示す図、（ｂ）は、（ａ）に示した信号線駆動回路の消費電流の波形図である。 （ａ）は、図１に示した表示装置の信号線駆動回路における出力部の構成を示す回路図、（ｂ）は、信号線駆動回路に入力されるＡＭＰ＿Ｅｎａｂｌｅ信号の波形図である。 図１に示した表示装置の表示パネルを駆動する際の各種信号の波形図である。 図２に示した検出部での検出回数を増加させる場合における垂直同期信号、表示パネル動作状態、ＴＰ検出動作制御信号および検出部での検出状態の関係を示すタイミングチャートである。 図２に示した検出部での検出回数を減少させる場合における垂直同期信号、表示パネル動作状態、ＴＰ検出動作制御信号および検出部での検出状態の関係を示すタイミングチャートである。 図１に示した電子機器の他の例における電子機器の構成を示す説明図である。 本発明の他の実施の形態の電子機器における、システム側コントロール部の構成を具体的に示したブロック図である。 図９に示した検出部での検出回数を増加させる場合における垂直同期信号、表示パネル動作状態、ＴＰ検出動作制御信号および検出装置での検出状態の関係を示すタイミングチャートである。 図９に示した検出部での検出回数を減少させる場合における垂直同期信号、表示パネル動作状態、ＴＰ検出動作制御信号および検出部での検出状態の関係を示すタイミングチャートである。 本発明のさらに他の実施の形態における電子機器の構成を示す説明図である。 図１２に示した電子機器における、システム側コントロール部の構成を具体的に示したブロック図である。 図１３に示した検出部での検出回数を増加させる場合における垂直同期信号、表示パネル動作状態、ＴＰ検出動作制御信号および検出装置での検出状態の関係を示すタイミングチャートである。 図１３に示した検出部での検出回数を減少させる場合における垂直同期信号、表示パネル動作状態、ＴＰ検出動作制御信号および検出装置での検出状態の関係を示すタイミングチャートである。 （ａ）は、図１に示した表示パネルの極性反転駆動におけるソース反転の場合の第ｎフレームの極性状態を示す説明図、（ｂ）は、同第（ｎ＋１）フレームの極性状態を示す説明図である。 （ａ）は、図１に示した表示パネルの極性反転駆動における（ａ）に示したソース反転とは画素の配置が異なるの場合の第ｎフレームの極性状態を示す説明図、（ｂ）は、同第（ｎ＋１）フレームの極性状態を示す説明図である。 （ａ）は、図１に示した表示パネルの極性反転駆動におけるライン反転の場合の第ｎフレームの極性状態を示す説明図、（ｂ）は、同第（ｎ＋１）フレームの極性状態を示す説明図である。 （ａ）は、図１に示した表示パネルの極性反転駆動におけるドット反転の場合の第ｎフレームの極性状態を示す説明図、（ｂ）は同第（ｎ＋１）フレームの極性状態を示す説明図である。 図１に示した表示装置の他の構成例を示す説明図である。

〔実施の形態１〕
本発明の実施の形態を図面に基づいて以下に説明する。

（電子機器の構成の説明）
図１は、本発明の実施の形態における電子機器１００の構成を示す説明図である。電子機器１００は、携帯電話、スマートフォン、ラップトップ型パーソナルコンピュータ、タブレット型の各種情報端末装置、あるいは有機ＥＬ装置や液晶表示装置をはじめとする表示装置などの電子機器である。

電子機器１００は、図１に示すように、表示装置１、検出装置２０およびシステム側コントロール部（制御部、第１の制御部）３０を備えている。

表示装置１は、表示パネル２、走査線駆動回路（ゲートドライバ）３、信号線駆動回路（ソースドライバ）４、共通電極駆動回路５およびタイミングコントロール部（制御部、第２の制御部）６を備えている。

表示パネル２は、マトリクス状に配置された複数の画素、Ｎ本（Ｎは任意の整数）の走査信号線Ｇ（ゲートライン）、およびＭ本（Ｍは任意の整数）のデータ信号線Ｓ（ソースライン）を備えている。走査信号線Ｇとデータ信号線Ｓとは互いに直交している。走査信号線Ｇは、上記画素を線順次に選択して走査するためのものであり、データ信号線Ｓは、選択されたラインに含まれる１行分の画素にデータ信号を供給するためのものである。また、表示パネル２は、各画素に対して設けられる共通電極（図示せず）を備えている。

なお、図１に示すＧ（ｎ）はｎ本目（ｎは任意の整数）の走査信号線Ｇを表す。例えば走査信号線Ｇ（１）、Ｇ（２）およびＧ（３）は、それぞれ１本目、２本目および３本目の走査信号線Ｇを表す。一方、データ信号線Ｓ（ｉ）はｉ本目（ｉは任意の整数）のデータ信号線Ｓを表す。例えば、データ信号線Ｓ（１）、Ｓ（２）およびＳ（３）は、１本目、２本目および３本目のデータ信号線Ｓを表す。

走査線駆動回路３は、表示パネル２の各走査信号線ＧをＧ（１）からＧ（ｎ）に向かって線順次走査する。その際、各走査信号線Ｇに対して、画素に備えられ画素電極に接続されるスイッチング素子（ＴＦＴ）をオン状態にさせるための矩形波を出力する。これにより、表示パネル２の１行分の画素を選択状態にする。

信号線駆動回路４は、タイミングコントロール部６から入力された映像信号（矢印Ｄ）に基づき、選択された１行分の各画素に出力すべき電圧の値を算出し、その値の電圧を各データ信号線Ｓに出力する。その結果、選択された走査信号線Ｇ上の各画素に対して画像データを供給する。

共通電極駆動回路５は、タイミングコントロール部６から入力される極性反転信号（矢印Ｅ）に基づき、表示パネル２の上記共通電極を駆動するための所定の共通電圧を共通電極に出力する。

タイミングコントロール部６には、システム側コントロール部３０から、映像信号が入力され（矢印Ａ）、さらに映像クロックと同期信号としての水平同期信号（Ｈｓｙｎｃ）および垂直同期信号（Ｖｓｙｎｃ）とが入力される（矢印Ｂ）。なお、タイミングコントロール部６とシステム側コントロール部３０との通信は、シリアルＩ／Ｆ信号（矢印Ｃ）によって行われる。

タイミングコントロール部６は、これら入力信号に基づき、表示装置１の各回路が同期して動作するための基準となる映像同期信号として、水平同期制御信号（ＧＣＫなど）および垂直同期制御信号（ＧＳＰなど）を生成し、走査線駆動回路３および信号線駆動回路６に出力する（矢印Ｆ、Ｇ）。

具体的には、タイミングコントロール部６は、走査線駆動回路３に対して、ゲートスタートパルス信号、ゲートクロック信号、およびゲートアウトプットイネーブル信号を出力する。また、タイミングコントロール部６は、信号線駆動回路４に対して、ソーススタートパルス信号、ソースラッチストローブ信号、ソースクロック信号および入力画像に応じた映像信号を出力する。

また、タイミングコントロール部６は、走査線駆動回路３および信号線駆動回路４に対して休止駆動制御信号（矢印Ｈ、Ｉ）を出力する。休止駆動制御信号は走査線駆動回路３および信号線駆動回路４に対して動作の休止を指示するものであり、休止駆動制御信号によって指定された期間は非走査期間（休止期間）となる。

さらに、タイミングコントロール部６は、検出装置２０に対して休止駆動制御信号に応じたＴＰ検出動作制御信号（矢印Ｊ）を出力する。検出装置２０では、このＴＰ検出動作制御信号により指定されたタイミング（回数）に従って、検出装置２０に対する入力操作についての検出動作を行う。

上記の水平同期制御信号は、信号線駆動回路４において、映像信号を表示パネル２へ出力するタイミングを制御する出力タイミング信号として使用され、走査線駆動回路３において、表示パネル２へ走査信号を出力するタイミングを制御するタイミング信号として使用される。また、上記の垂直同期制御信号は、走査線駆動回路３において、走査信号線Ｇの走査スタートのタイミングを制御するタイミング信号として使用される。

なお、本明細書において、特段の断りがない限り、「１垂直期間」とは、上記垂直同期制御信号により規定される期間を意味し、「１水平期間」とは、上記水平同期制御信号により規定される期間を意味する。

走査線駆動回路３は、タイミングコントロール部６から受け取った水平同期制御信号および垂直同期制御信号に従って、表示パネル２の走査を開始し、各走査信号線Ｇを順次選択して走査信号を出力する。

信号線駆動回路４は、タイミングコントローラ１０から受け取った水平同期制御信号に従って、映像信号に基づく画像データを表示パネル２の各データ信号線Ｓに書き込む。

なお、表示装置１の各回路には、電源生成回路（図示せず）から、回路の駆動や動作に必要な電圧が供給されている。

（検出装置の説明）
検出装置２０は、図１に示すように、表示装置１のタイミングコントロール部６およびシステム側コントロール部３０と通信可能に接続されている。検出装置２０は、検出部２１および検出部コントロール部２２を備えている。検出部２１は、電子機器１００に対するユーザーの入力操作を検出する。検出部コントロール部２２は、検出部２１における検出動作を制御する。

検出装置２０は、本実施の形態において、タッチパネル方式のものであり、例えばマトリクス型の静電容量型のタッチパネル（マトリクス型静電容量タッチパネル）である。タッチパネルを構成する検出部２１は、表示パネル２の表示画面上に配置されている。また、検出装置２０に対する入力操作は、上記タッチパネルに対する接触（タッチ）操作であり、検出部２１は、タッチパネルに対して例えばユーザーの指やペン等による接触操作が行われたか否かを検出する。

検出部コントロール部２２には、タイミングコントロール部６からＴＰ検出動作制御信号が入力される。このＴＰ検出動作制御信号は、検出装置２０に対する入力操作（ＴＰ操作）についての検出部２１での検出動作を制御する信号である。具体的には、検出部コントロール部２２は、ＴＰ検出動作制御信号が入力されると、検出装置２０に対する入力操作についての検出動作をＴＰ検出動作制御信号と同期して検出部２１により行わせる。その後、検出部コントロール部２２は、検出部２１での検出結果を示すデータを検出データ（矢印Ｋ）としてシステム側コントロール部３０に出力する。

（システム側コントロール部の説明）
システム側コントロール部３０は、例えば電子機器１００が備えるシステム側基板に搭載されている。システム側コントロール部３０は、各機能を実現する制御プログラムの命令を実行するＣＰＵ（Central Processing Unit）、上記プログラムを格納したＲＯＭ（Read Only Memory）、上記プログラムを展開するＲＡＭ（Random Access Memory）、並びに上記プログラムおよび各種データを格納するメモリ等の記憶部を備え、電子機器１００を統括的に制御する。

図２は、図１に示したシステム側コントロール部３０の構成を示すブロック図である。システム側コントロール部３０は、上記の記憶部に格納された所定のプログラムをＣＰＵが実行することにより、図２に示すように、状態変化検出部３１、ＴＰ検出動作制御部（制御部）３２、映像信号出力部３３、映像クロック／同期信号出力部３４、および入力操作解析部３５として機能する。

状態変化検出部３１は、検出装置２０の検出部コントロール部２２から入力された検出データに基づいて、電子機器１００の状態変化として、検出装置２０に対する入力操作が人の指による入力操作とペンによる入力操作との間において変更されたかどうかを検出する。

ＴＰ検出動作制御部（制御部、第１の制御部）３２は、状態変化検出部３１により、検出装置２０に対する入力操作が人の指による入力操作からペンによる入力操作に変更されたこと（状態変化）が検出された場合に、検出装置２０での検出部２１による検出回数の増加を指示する制御信号をタイミングコントロール部６に出力する。一方、状態変化検出部３１にて、検出装置２０に対する入力操作がペンによる入力操作から人の指による入力操作に変更されたこと（状態変化）が検出された場合に、検出装置２０での検出部２１による検出回数の減少を指示する制御信号をタイミングコントロール部６に出力する。

映像信号出力部３３は、映像信号をタイミングコントロール部６に出力する。映像クロック／同期信号出力部３４は、水平同期信号Ｈｓｙｎｃ、垂直同期信号Ｖｓｙｎｃおよび映像クロックをタイミングコントロール部６に出力する。

入力操作解析部３５は、検出部コントロール部２２からの検出データに基づいて、検出装置２０に対して行われた入力操作の指示内容を解析する。システム側コントロール部３０は、入力操作によって指示された動作が行われるように、電子機器１００を制御するようになっている。

（従来の表示装置における消費電力）
ここで、従来の表示装置における消費電力の問題について説明する。図３の（ａ）は信号線駆動回路１０６の出力部分に関する内部構成を示す図であり、図３の（ｂ）は信号線駆動回路１０６の消費電流波形（Ｉ（Ｖｄｄ））を示す図である。一般的な解像度ＷＳＶＧＡ（１０２４ＲＧＢ×６００）を有する表示装置を例に挙げると、このような表示装置の信号線駆動回路１０６は１０２４×３（ＲＧＢ）＝３０７２個のアナログアンプ１１８を必要とする。各アナログアンプ１１８は、データ信号線Ｓにデータ信号を出力する素子である。個々のアナログアンプ１１８には、出力能力を確保するために、０．０１ｍＡ程度の常時定常電流が流れている。

したがって、３０７２個のアナログアンプ１１８では常時定常電流の総計は約３０．７ｍＡとなる。信号線駆動回路１０６に供給される電圧源（Ｖｄｄ）は通常１０Ｖ程度であるため、１０Ｖ×３０．７ｍＡ＝３０７ｍＷの電力を信号線駆動回路が消費する。その結果、平均消費電流は図３の（ｂ）の矢印Ｐ２に示す値となり、この値は表示装置全体の消費電力に対して相当量を占めており、表示装置の低消費電力化を妨げる１つの大きな原因となっている。

（本実施の形態の表示装置における消費電力）
本実施形態の表示装置１は、上記した従来の表示装置に比べてより少ない平均電力で動作する。この点について以下に説明する。

＜アナログアンプの動作＞
まず、信号線駆動回路４が備えるアナログアンプ（出力回路）１８について説明する。図４の（ａ）は、信号線駆動回路４の内部構成、特に出力部分を示す図であり、図４の（ｂ）は、ＡＭＰ＿Ｅｎａｂｌｅ信号の波形を示す図である。このＡＭＰ＿Ｅｎａｂｌｅ信号は上記の休止駆動制御信号に相当する。

図４の（ａ）に示すように、信号線駆動回路４において、各アナログアンプ１８はデータ信号線Ｓごとに設けられる。したがって、本実施の形態の信号線駆動回路４はＭ個のアナログアンプ１８を備えている。すなわちアナログアンプ１８の数とデータ信号線Ｓの数とは互いに等しい。

信号線駆動回路４は、各アナログアンプ１８にＡＭＰ＿Ｅｎａｂｌｅ信号を入力するためのＡＭＰ＿Ｅｎａｂｌｅ信号線をさらに備えている。この信号線は、タイミングコントロール部６に接続されている。また、信号線駆動回路４の内部においては、各アナログアンプ１８に並列に接続されている。

Ｖｄｄは上記の電源生成回路から供給される電圧であり、信号線駆動回路４を含め、各アナログアンプ１８もＶｄｄの供給を受けて動作する。

タイミングコントロール部６は、各アナログアンプ１８の動作状態を規定する制御信号であるＡＭＰ＿Ｅｎａｂｌｅ信号を、予め定められたタイミングで信号線駆動回路４の各アナログアンプ１８に出力する。アナログアンプ１８は、ＡＭＰ＿Ｅｎａｂｌｅ信号がＨ値のときには動作し、Ｌ値のときには休止する。

表示装置１では、表示パネル２を駆動する際、垂直同期制御信号に規定される１垂直期間が走査期間と非走査期間とに分割される。タイミングコントロール部６は、図４の（ｂ）に示すように、走査期間においてはＡＭＰ＿Ｅｎａｂｌｅ信号をＨ値にしてアナログアンプ１８を動作させる。また、非走査期間においては、ＡＭＰ＿Ｅｎａｂｌｅ信号をＬ値にしてアナログアンプ１８を休止させる。

＜信号波形＞
次に、表示パネル２を駆動する際の各種信号の波形について説明する。図５は、表示装置１の表示パネル２を駆動する際の各種信号波形を示す図である。

図５の上段には、タイミングコントロール部６およびメモリ（図示せず）へ入力される入力信号について示している。例えば、タイミングコントロール部６には、入力映像同期信号として、垂直同期信号（Ｖｓｙｎｃ）および水平同期信号（Ｈｓｙｎｃ）が入力される。また、タイミングコントロール部６への入力映像同期信号の入力と共に、メモリ（図示せず）には、入力映像信号が入力される。入力映像信号の１フレーム分の画像データをメモリに書き込む期間は、Ｖｓｙｎｃの周期に相当する。

また、図５の下段には、タイミングコントロール部６およびメモリ（図示せず）が出力する出力信号について示している。

例えば、タイミングコントロール部６は、入力された入力映像同期信号に基づき、各回路が同期して動作するための基準となる映像同期信号として、水平同期制御信号および垂直同期制御信号を生成する。ここで、タイミングコントロール部６は、入力されたＶｓｙｎｃと同じ周期の垂直同期制御信号を生成し、入力されたＨｓｙｎｃの周期よりも短い周期の水平同期制御信号を生成する。図５では、生成される水平同期制御信号の周期は、Ｈｓｙｎｃの周期の１／３に相当する。タイミングコントロール部６は、生成した水平同期制御信号および垂直同期制御信号を、画像同期信号として、走査線駆動回路３、信号線駆動回路４、およびメモリ（図示せず）に出力する。

ここで、水平同期制御信号の周期は短いため、１垂直期間内において、当該１垂直期間よりも短い期間（走査期間）に１フレーム分の走査が行われる。なお、水平同期制御信号の周期は例示したものに限られない。例えば、水平同期制御信号の周期は、Ｈｓｙｎｃの整数分の１（周波数が整数倍）であることが好ましい。

メモリ（図示せず）は、記録している入力映像信号に基づき、入力された垂直同期制御信号および水平同期制御信号に従って映像信号を出力する。映像信号の１フレーム分の画像データ転送期間は、走査期間に相当する。タイミングコントロール部６は、生成された垂直同期制御信号および水平同期制御信号に同期して、ＡＭＰ＿Ｅｎａｂｌｅ信号を出力する。また、信号線駆動回路４は、ＡＭＰ＿Ｅｎａｂｌｅ信号がＨ値を維持する間、データ信号線Ｓへデータ信号の供給を行う。

また、ここではメモリがタイミングコントロール部６の外部にあるものとして説明を行ったが、メモリがタイミングコントロール部６の中にある構成でも良い。

＜表示パネル２の駆動＞
以下、上述の各種信号によって制御される表示パネル２の駆動について説明する。
表示装置１では、垂直同期制御信号が１垂直期間ごとに入力される。まず、タイミングコントロール部６が、垂直同期制御信号に同期して、ＡＭＰ＿Ｅｎａｂｌｅ信号の電圧をＬ値からＨ値に変化させる。これにより、信号線駆動回路４が備えるアナログアンプ１８が、非動作状態から動作状態（通常状態）へと切り替わる。

次に、走査線駆動回路３は、垂直同期制御信号および水平同期制御信号に同期して、１本目の走査信号線Ｇに走査信号を出力する。これによって、走査信号線Ｇ（１）に接続された画素のＴＦＴのゲートがオン状態になる。

次に、信号線駆動回路４は、水平同期制御信号に同期して、データ信号線Ｓごとに、当該データ信号線Ｓに接続されたアナログアンプ１８からデータ信号を出力する。これにより、表示に必要な電圧が各データ信号線Ｓに供給され、ＴＦＴを通じて走査信号線Ｇ（１）上の画素電極に書き込まれる。当該書き込みの終了後、走査信号線Ｇ（１）に接続された画素のＴＦＴのゲートがオン状態からオフ状態に戻る。

最初の１水平期間が経過したら、次の水平同期制御信号が入力される。２本目以降の走査信号線Ｇに接続された画素は、１本目の走査信号線Ｇに接続された画素と同様の手順によって書き込みが行われる。このようにして、Ｎ本全ての走査信号線Ｇの画素に書き込みが行われる期間を書き込み期間と称する。当該書き込み期間は走査期間と同じ期間を示す。ＡＭＰ＿Ｅｎａｂｌｅ信号は、上記書き込み期間の間、Ｈ値を維持している。

最初の１垂直期間において、上記書き込み期間（走査期間）が経過した後、タイミングコントロール部６は、ＡＭＰ＿Ｅｎａｂｌｅ信号をＨ値からＬ値に変化させる。この結果、アナログアンプ１８が非動作状態になる。

最初の１垂直期間が経過したら、次の垂直同期制御信号が入力され、２フレーム目以降の駆動についても、上述と同様の手順によって行われる。

なお、アナログアンプ１８が非動作状態の間、アナログアンプ１８の出力とデータ信号線Ｓ（ｉ）との接続が切られる。データ信号線Ｓ（ｉ）は電気的に浮いた状態にしてもよく、Ｖｄｄ等に接続させた状態にしてもよい。

以上の構成によれば、非走査期間の間、アナログアンプ１８の定常電流がカットされている。その結果、平均消費電流は図４の（ｂ）の矢印Ｐ１に示す値となり、この値は従来の表示装置における平均消費電流（図３の（ｂ）の矢印Ｐ２）に比べて著しく小さい。また、１走査期間内に休止期間をまとめて設けているため、走査状態と休止状態とを切り替える際に瞬間に流れる電流についても極力省くことができる。したがって表示装置１では、従来の表示装置に比べて消費電力を低減することができる。

（検出装置の検出動作の説明）
次に、検出装置２０でのユーザーからの入力操作についての検出動作について説明する。
図６は、検出部２１での検出回数を増加させる場合における垂直同期信号、表示パネル動作状態、ＴＰ検出動作制御信号および検出部２１での検出状態（タッチパネル検出状態）の関係を示すタイミングチャートである。図７は、検出部２１での検出回数を減少させる場合における垂直同期信号、表示パネル動作状態、ＴＰ検出動作制御信号および検出部２１での検出状態（タッチパネル検出状態）の関係を示すタイミングチャートである。

本実施の形態の電子機器１００では、図６および図７に示すように、表示パネル２の画素電極に画像データを書き込む期間である走査期間と、画素電極に画像データを書き込まない期間である非走査期間（休止期間）とが交互に繰り返される。具体的には、図６および図７の例において、垂直同期信号に同期して走査フレーム（走査期間）と休止フレーム（非走査期間、休止期間）とが交互に切り替わる。そして、検出装置２０に対するユーザーからの入力操作についての検出動作が非走査期間（休止期間）に行われる。

表示パネル２の休止期間において、ユーザーからの入力操作についての検出動作を行うのは次の理由による。すなわち、表示装置１（表示パネル２）において画像データの表示のための走査が行われた場合、表示装置１からノイズが発生し、そのノイズが検出装置２０、特に静電容量型のタッチパネルの検出精度に悪影響を及ぼす。したがって、表示装置１の走査期間に検出動作を行った場合には、検出装置２０の検出精度が低下する。そこで、電子機器１００では、上記ノイズの影響を受けないように、上記ノイズが発生しない表示装置１の非走査期間（休止期間）に検出動作を行い、検出装置２０の検出精度を向上できるようにしている。

検出装置２０に対する入力操作の有無は、検出装置２０の検出部２１によって検出される。検出部２１での検出動作は、システム側コントロール部３０のＴＰ検出動作制御部３２および表示装置１のタイミングコントロール部６によって制御される。

詳細には、検出部２１が検出を行うタイミングおよび回数は、タイミングコントロール部６から検出部コントロール部２２に入力されるＴＰ検出動作制御信号に基づき、検出部コントロール部２２によって設定される。タイミングコントロール部６は、ＴＰ検出動作制御部３２からの制御信号（検出回数制御信号）に基づいて、検出部２１での検出タイミングおよび検出回数を示すＴＰ検出動作制御信号を検出部コントロール部２２に出力する。ＴＰ検出動作制御部３２は、検出部２１での検出回数を示す制御信号をタイミングコントロール部６に出力する。

この場合、ＴＰ検出動作制御部３２は、状態変化検出部３１からの検出信号に基づいて、検出部２１による検出回数を制御する。

状態変化検出部３１は、検出装置２０に要求される入力操作の検出精度の変化を伴う電子機器１００の状態変化を検出する。本実施の形態において、状態変化検出部３１は、状態変化として、検出装置２０からの検出データに基づいて、検出装置２０に対する入力操作が指による入力操作とペンによる入力操作との間で変更されたかどうかを検出する。

すなわち、指による入力操作の場合には、指により広い幅にて検出装置２０の表面が操作（走査）されるので、検出装置２０に要求される入力操作の検出精度は相対的に低くなる。一方、ペンによる入力操作の場合には、ペン先により指よりも狭い幅にて検出装置２０の表面が操作（走査）されるので、検出装置２０に要求される入力操作の検出精度は相対的に高くなる。

具体的には、状態変化検出部３１は、検出装置２０からの検出データに基づいて、検出装置２０に対する入力操作が指によるものかペンによるものかを入力操作が行われるたびに判定し、判定結果を記憶する。次に、状態変化検出部３１は、今回の入力操作の判定結果を前回の入力操作の判定結果と比較し、入力操作が指からペンにあるいはペンから指に変更されたかどうかを判定する。この判定の結果、入力操作が指からペンにあるいはペンから指に変更されていれば、状態変化の検出として、ＴＰ検出動作制御部３２に送信する。

ＴＰ検出動作制御部３２では、状態変化検出部３１において、検出装置２０に対する入力操作が指による操作からペンによる操作に変更されたことが検出されると、検出部２１での検出回数の増加を指示する制御信号をタイミングコントロール部６に出力する。これは、検出装置２０に要求される入力操作の検出精度が相対的に高くなるためである。

これにより、図６に示すように、非走査期間（休止期間）における検出部２１での入力操作についての検出回数が、例えば、１回または０回の状態（図６の左側の状態）から２回の状態（図６の右側の状態）に増加する。この結果、検出装置２０に対する入力操作が指による操作からペンによる操作に変更された場合であっても、検出装置２０に対する入力操作を高精度に検出することができる。

また、ＴＰ検出動作制御部３２では、状態変化検出部３１において、検出装置２０に対する入力操作がペンによる操作から指による操作に変更されたことが検出されると、検出部２１での検出回数の減少を指示する制御信号をタイミングコントロール部６に出力する。これは、検出装置２０に要求される入力操作の検出精度が相対的に低くなるためである。

これにより、図７に示すように、非走査期間（休止期間）における検出部２１での入力操作についての検出回数が、例えば、２回の状態（図７の左側の状態）から１回または０回の状態（図７の右側の状態）に減少する。この結果、検出装置２０に対して高い検出精度が得られる状態での入力操作（指による入力操作）が行われた場合において、無駄な検出動作を行って消費電力が増加する事態を防止することができる。

なお、検出回数が０回の状態（図６の左側の状態および図７の右側の状態）は、検出部２１が入力操作を全く検出しない状態ではなく、各回の休止フレームごとに検出動作を行わず、複数回の休止フレームごとに検出動作を行うなど、検出部２１が入力操作を検出可能な状態である。この点は、他の実施の形態においても同様である。

また、図６および図７の例において、非走査期間（休止期間）における検出部２１の検出回数は、検出装置２０に対する入力操作がペンにより行われている場合には２回としているが、これに限定されない。すなわち、非走査期間（休止期間）における検出部２１の検出回数は、検出装置２０に対する入力操作が指により行われている場合の回数よりも多くなっていればよい。

また、図６および図７の例では、検出部２１での複数回の検出動作が休止フレーム（休止期間）の開始直後と休止フレーム（休止期間）の終了直前に行われる設定であるが、これに限定されず、休止期間中に複数回の検出動作が行われる構成であればよい。この点は、他の実施の形態においても同様である。

また、上記の例では、検出装置２０に対する入力操作が指による入力操作とペンによる入力操作との間で変更された場合に、表示装置１の非走査期間（休止期間）での検出部２１による検出回数を増減する構成としている。しかしながら、例えば、指による入力操作であっても、指による入力操作が閾値以上の速い動きにて行われた場合に、検出部２１による検出回数を増加させ、指による入力操作が閾値未満の遅い動きにて行われた場合に、検出部２１による検出回数を減少させる構成としてもよい。

また、図１に示した電子機器１００では、ＴＰ検出動作制御信号は、タイミングコントロール部６から検出装置２０の検出部コントロール部２２へ直接入力する構成としている。このような構成では、表示装置１の走査期間および非走査期間（休止期間）を最もよく把握しているタイミングコントロール部６からのＴＰ検出動作制御信号によって、検出部２１での検出タイミングが設定される。したがって、非走査期間（休止期間）における検出部２１での検出タイミングの設定を最も正確に行うことができる。

一方、ＴＰ検出動作制御信号は、タイミングコントロール部６からシステム側コントロール部３０を経由して検出装置２０の検出部コントロール部２２へ入力する構成としてもよい。具体的には、図８に示す電子機器１０１のように、タイミングコントロール部６からシステム側コントロール部３０のＴＰ検出動作制御部３２へ休止駆動制御信号に応じたＴＰ検出動作制御信号（１）を出力し、ＴＰ検出動作制御部３２から検出部コントロール部２２へＴＰ検出動作制御信号（２）を出力する構成としてもよい。このように、検出装置２０へのＴＰ検出動作制御信号の入力経路を図８のような構成としてもよいことは、他の実施の形態の電子機器においても同様である。

また、上記の例において、状態変化検出部３１は、検出装置２０に対する入力操作が、指による入力操作とペンによる入力操作との間にて変更されたことを状態変化として検出するようにしている。しかしながら、状態変化検出部３１は、検出装置２０への接触幅が広い状態と狭い状態との間にて変更されたことを状態変化として検出するものであってもよい。この場合、ＴＰ検出動作制御部３２は、接触幅が広い状態から狭い状態に変更されたことが状態変化検出部３１にて検出された場合に、検出部２１での検出動作の回数が増加するように制御する。一方、ＴＰ検出動作制御部３２は、接触幅が狭い状態から広い状態に変更されたことが状態変化検出部３１にて検出された場合に、検出部２１での検出動作の回数が減少するように制御する。

〔実施の形態２〕
本発明の他の実施の形態を図面に基づいて以下に説明する。
本実施の形態の電子機器１０２は図１に示した構成を備え、電子機器１０２のシステム側コントロール部３０は図９に示す構成を備えている。

（システム側コントロール部の説明）
システム側コントロール部３０は、図９に示すように、検出装置２０に要求される入力操作の検出精度の変化を伴う電子機器１００の状態変化を検出する手段として、状態変化検出部４１を備えている。本実施の形態において、状態変化検出部４１は、電子機器１０２においてメモ帳などの検出装置２０に対して手書き入力が行われるアプリケーションソフトウエアが起動したか、終了したか、すなわち検出装置２０に対して手書き入力が行われる動作モード（以下、手書き入力モードと称する）が起動したか、終了したか検出する。

メモ帳など、手書き入力モードでは、手書き入力であることから検出装置２０に対して速い動きによる入力操作が行われる。したがって、検出装置２０に要求される入力操作の検出精度は相対的に高くなる。一方、手書き入力モードが終了すれば、検出装置２０に要求される入力操作の検出精度は相対的に低くなる。

ＴＰ検出動作制御部３２は、状態変化検出部４１により、電子機器１０２において、手書き入力モードが起動したこと（状態変化）が検出された場合に、検出装置２０での検出部２１による検出回数の増加を指示する制御信号をタイミングコントロール部６に出力する。一方、状態変化検出部４１により、電子機器１０２において、手書き入力モードが終了したこと（状態変化）が検出された場合に、検出装置２０での検出部２１による検出回数の減少を指示する制御信号をタイミングコントロール部６に出力する。システム側コントロール部３０における他の構成は、前記実施の形態の場合と同様である。

（検出装置の検出動作の説明）
次に、検出装置２０でのユーザーからの入力操作についての検出動作について説明する。
図１０は、検出部２１での検出回数を増加させる場合における垂直同期信号、表示パネル動作状態、ＴＰ検出動作制御信号および検出装置２０での検出状態（タッチパネル検出状態）の関係を示すタイミングチャートである。図１１は、検出部２１での検出回数を減少させる場合における垂直同期信号、表示パネル動作状態、ＴＰ検出動作制御信号および検出部２１での検出状態（タッチパネル検出状態）の関係を示すタイミングチャートである。

本実施の形態の電子機器１０２では、電子機器１００と同様、図１０および図１１に示すように、表示パネル２の画素電極に画像データを書き込む期間である走査期間と、画素電極に画像データを書き込まない期間である非走査期間（休止期間）とが交互に繰り返される。そして、検出装置２０に対するユーザーからの入力操作についての検出動作が、電子機器１００の場合と同様、非走査期間（休止期間）に行われる。

検出装置２０に対する入力操作の有無は、検出装置２０の検出部２１によって検出され、検出部２１での検出動作は、システム側コントロール部３０のＴＰ検出動作制御部３２によって制御される。ＴＰ検出動作制御部３２は、状態変化検出部４１からの検出信号に基づいて、検出部２１による検出回数を制御する。

状態変化検出部４１では、上記のように、状態変化として、電子機器１０２において手書き入力モードが起動したか、終了したかを検出する。状態変化検出部４１での検出結果は、ＴＰ検出動作制御部３２に出力される。

ＴＰ検出動作制御部３２では、状態変化検出部４１において、手書き入力モードの起動が検出されると、検出部２１での検出回数の増加を指示する制御信号をタイミングコントロール部６に出力する。これは、検出装置２０に要求される入力操作の検出精度が相対的に高くなるためである。

これにより、図１０に示すように、非走査期間（休止期間）における検出部２１での入力操作についての検出回数が、例えば、１回または０回の状態（図１０の左側の状態）から３回の状態（図１０の右側の状態）に増加する。この結果、手書き入力モードであっても、検出装置２０に対する入力操作を高精度に検出することができる。

また、ＴＰ検出動作制御部３２では、状態変化検出部４１において、手書き入力モードの終了が検出されると、検出部２１での検出回数の減少を指示する制御信号をタイミングコントロール部６に出力する。これは、検出装置２０に要求される入力操作の検出精度が相対的に低くなるためである。

これにより、図１１に示すように、非走査期間（休止期間）における検出部２１での入力操作についての検出回数が、例えば、３回の状態（図１１の左側の状態）から１回または０回の状態（図１１の右側の状態）に減少する。この結果、検出装置２０において高い検出精度での検出動作が不要な状態において、無駄な検出動作を行って消費電力が増加する事態を防止することができる。

なお、図１０および図１１の例において、非走査期間（休止期間）における検出部２１の検出回数は、手書き入力モードが起動している場合には３回としているが、これに限定されない。すなわち、非走査期間（休止期間）における検出部２１の検出回数は、手書き入力モードが起動している場合の回数の方が手書き入力モードが終了している場合の回数よりも多くなっていればよい。

また、図１０および図１１の例では、非走査期間（休止期間）における検出部２１の検出回数を増加させる動作状態（手書き入力モードが起動している状態）において、走査期間は１フレーム期間よりも短く、非走査期間（休止期間）は１フレーム期間よりも長くなっている。言い換えると、非走査期間（休止期間）における検出部２１の検出回数を増加させる動作状態（手書き入力モードが起動している状態）において、走査期間は非走査期間（休止期間）よりも長くなっている。

このような構成によれば、走査期間における電子機器１０２の消費電力をさらに低減できるものの、電子機器１０２の構成はこれに限定されない。すなわち、非走査期間（休止期間）における検出部２１の検出回数を増加させる動作状態（手書き入力モードが起動している状態）においても、走査期間と非走査期間（休止期間）との長さが等しくなっていてもよい。

また、本実施の形態において、手書き入力が行われる動作モードの起動は、写真画像を表示する写真表示モードから手書き入力モードへの切り替えであってもよい。

〔実施の形態３〕
本発明のさらに他の実施の形態を図面に基づいて以下に説明する。

（電子機器の構成の説明）
本実施の形態の電子機器１０３は図１２に示す構成を備えている。電子機器１０３におけるＴＰ検出動作制御信号（ＴＰ検出動作制御信号（１）、（２））の伝達経路は、図８に示した電子機器１０１の場合と同様である。

電子機器１０３は、温度センサ部６１を備えている。温度センサ部６１は、温度センシング部６２および温度データ変換部６３を備えている。温度センシング部６２は、検出装置２０の周囲温度を検出し、温度データを温度データ変換部６３に出力する。温度データ変換部６３は、温度センシング部６２にて検出された温度データを温度検出データとしてシステム側コントロール部３０に出力する。

温度センサ部６１の配置位置は、電子機器１０３において検出装置２０の近傍位置が好ましい。例えば、電子機器１０３がタブレット型の長方形の情報端末装置であって、表示装置１の上に検出装置２０が設けられている場合、温度センサ部６１は、例えば、長方形の検出装置２０の４辺に沿って、検出装置２０の周りに４個配置されることが好ましい。なお、温度センサ部６１の数は特に限定されない。また、温度センサ部６１の配置形態としては、温度センシング部６２が複数配置され、それら温度センシング部６２にて検出された温度データが一つの温度データ変換部６３に入力される構成としてもよい。

（システム側コントロール部の説明）
図１３は図１２に示したシステム側コントロール部３０の構成を示すブロック図である。システム側コントロール部３０は、図１３に示すように、検出装置２０に要求される入力操作の検出精度の変化を伴う電子機器１００の状態変化を検出する手段として、状態変化検出部５１を備えている。

状態変化検出部５１には、温度センサ部６１の温度データ変換部６３からの温度検出データが入力される。状態変化検出部５１は、温度データ変換部６３からの温度検出データに基づき、検出装置２０の周囲温度が所定温度範囲内から所定温度範囲外になったこと、および所定温度範囲外から所定温度範囲内になったことを検出する。

所定温度範囲は、検出装置２０が所定の検出精度を維持できる温度範囲であり、例えば２０℃以上３０℃以下といった範囲に設定される。一方、周囲温度が所定温度範囲外となった場合、検出装置２０の検出精度は所定の検出精度から低下する。

ＴＰ検出動作制御部３２は、状態変化検出部５１により、検出装置２０の周囲温度が所定温度範囲内から所定温度範囲外となったこと（状態変化）が検出された場合に、検出装置２０での検出部２１による検出回数の増加を指示する制御信号をタイミングコントロール部６に出力する。一方、状態変化検出部５１により、検出装置２０の周囲温度が所定温度範囲外から所定温度範囲内となったこと（状態変化）が検出された場合に、検出装置２０での検出部２１による検出回数の減少を指示する制御信号をタイミングコントロール部６に出力する。システム側コントロール部３０における他の構成は、前記実施の形態の場合と同様である。

（検出装置の検出動作の説明）
次に、検出装置２０でのユーザーからの入力操作についての検出動作について説明する。
図１４は、検出部２１での検出回数を増加させる場合における垂直同期信号、表示パネル動作状態、ＴＰ検出動作制御信号および検出装置２０での検出状態（タッチパネル検出状態）の関係を示すタイミングチャートである。図１５は、検出部２１での検出回数を減少させる場合における垂直同期信号、表示パネル動作状態、ＴＰ検出動作制御信号および検出部２１での検出状態（タッチパネル検出状態）の関係を示すタイミングチャートである。

本実施の形態の電子機器１０３では、電子機器１００の場合と同様、図１４および図１５に示すように、表示パネル２の画素電極に画像データを書き込む期間である走査期間と、画素電極に画像データを書き込まない期間である非走査期間（休止期間）とが交互に繰り返される。そして、検出装置２０に対するユーザーからの入力操作についての検出動作が、非走査期間（休止期間）に行われる。

検出装置２０に対する入力操作の有無は、検出装置２０の検出部２１によって検出され、検出部２１での検出動作は、システム側コントロール部３０のＴＰ検出動作制御部３２によって制御される。ＴＰ検出動作制御部３２は、状態変化検出部５１からの検出信号に基づいて、検出部２１による検出回数を制御する。

ＴＰ検出動作制御部３２では、状態変化検出部５１により、検出装置２０の周囲温度が所定温度範囲内から所定温度範囲外となったことが検出されると、検出装置２０での検出部２１による検出回数の増加を指示する制御信号をタイミングコントロール部６に出力する。これは、検出装置２０に要求される入力操作の検出精度が相対的に高くなるためである。

これにより、図１４に示すように、非走査期間（休止期間）における検出部２１での入力操作についての検出回数が、例えば、１回または０回の状態（図１４の左側の状態）から２回の状態（図１４の右側の状態）に増加する。この結果、検出装置２０の周囲温度が所定温度範囲内から所定温度範囲外となり、検出装置２０の検出精度が低くなった場合であっても、検出装置２０に対する入力操作を高精度に検出することができる。

また、ＴＰ検出動作制御部３２では、状態変化検出部５１により、検出装置２０の周囲温度が所定温度範囲外から所定温度範囲内となったことが検出されると、検出装置２０での検出部２１による検出回数の減少を指示する制御信号をタイミングコントロール部６に出力する。これは、検出装置２０に要求される入力操作の検出精度が相対的に低くなるためである。

これにより、図１５に示すように、非走査期間（休止期間）における検出部２１での入力操作についての検出回数が、例えば、２回の状態（図１５の左側の状態）から１回または０回の状態（図１５の右側の状態）に減少する。この結果、検出装置２０の周囲温度が所定温度範囲外から所定温度範囲内となり、検出装置２０の検出精度が高くなった場合において、無駄な検出動作を行って消費電力が増加する事態を防止することができる。

なお、図１４および図１５の例において、非走査期間（休止期間）における検出部２１の検出回数は、検出装置２０の周囲温度が所定温度範囲外となっている場合には２回としているが、これに限定されない。すなわち、非走査期間（休止期間）における検出部２１の検出回数は、検出装置２０の周囲温度が所定温度範囲外となっている場合の回数の方が検出装置２０の周囲温度が所定温度範囲内となっている場合の回数よりも多くなっていればよい。

（検出装置の他の構成例）
以上の実施の形態において、検出装置２０は、検出装置２０へのタッチ走査により入力操作が行われるものとして説明している。しかしながら、検出装置２０は、これに限定されず、たとえばＲＦ回路（高周波回路）を含んでいる構成であってもよい。

この場合、検出装置２０は、例えば高周波による入力信号を検出装置２０への入力信号として受信することができる。一方、このような検出装置２０では、表示装置１から発生するノイズにより、Ｓ／Ｎが低下し、検出精度が低下し易くなっている。そこで、このような検出装置２０を備えた例えば電子機器１００において、上記のように、状態変化検出部３１にて検出された状態変化に応じて、検出装置２０による非走査期間での検出動作の回数を制御する構成とすれば、消費電力を低減しつつ検出装置２０の検出精度を適切に高めることができる。

（表示パネルの極性反転駆動の説明）
以上に説明した実施の形態の表示装置１において、同じ画像を同じ位置に長時間表示することにより、当該画像が画面に焼き付くことを防止するため、表示パネル２における画素電極は、所定回数（例えば１回）の１フレーム期間ごとに電圧の極性を反転することが望ましい。あるフレームにおいて上記表示パネル２ａの全画素に対して同じ極性の電圧を印加して、当該あるフレームの次のフレームでは逆極性の電圧を印加することを繰り返す反転方式を、以下では、「フレーム反転」と称する。フレーム反転は、あるフレームにおいて全データ信号線Ｓに印加する電圧の極性を１フレーム期間ごとに反転することにより実現できる。

さらに、フリッカ防止のため、走査信号線Ｇの方向およびデータ信号線Ｓの方向の少なくとも一方に配列した画素電極ごとに電圧の極性を反転することが望ましい。この反転には、「ソース反転」、「ライン反転」、および「ドット反転」などがある。以下、図１６〜図１９を参照してこれらの反転を詳細に説明する。

図１６〜図１９は、表示パネル２における走査信号線Ｇ、データ信号線Ｓ、および画素電極の構造を示す説明図である。また、図１６〜図１９のそれぞれについて、（ａ）は、或るフレーム（第ｎフレーム）における各画素電極の電圧の極性を示しており、（ｂ）は、次のフレーム（第（ｎ＋１）フレーム）にてフレーム反転を行った場合における各画素電極の電圧の極性を示している。各画素電極の電圧の極性は、図中の＋（プラス）および−（マイナス）によって示されている。

図１６は、ソース反転の一例を示している。ソース反転は、データ信号線（ソース線）Ｓごとに印加する電圧の極性を反転したものである。これにより、図１６に示すように、走査信号線Ｇの方向に配列した画素電極ごとに電圧の極性を反転することができる。

図１７は、図１６と同じソース反転であるが、図１６に比べて画素電極の配置が異なっている。図１６では、データ信号線Ｓに接続する画素電極が、当該データ信号線Ｓに対して一方の側（図示の例では右側）に配置されている。これに対し、図１７では、データ信号線Ｓに接続する画素電極が、当該データ信号線Ｓに対して千鳥状に配置されている。このため、隣り合うデータ信号線Ｓの間に配置された画素電極の電圧の極性は、図１６の配置では同じであるが、図１７の配置では互い違いとなっている。

図１８は、ライン反転の一例を示している。ライン反転は、データ信号線Ｓに印加する電圧の極性を、駆動される走査信号線Ｇごと（水平走査期間ごと）に反転したものである。これにより、図１６に示すように、データ信号線Ｓの方向に配列した画素電極ごとに電圧の極性を反転することができる。

図１９は、ドット反転の一例を示している。ドット反転は、図１６に示すソース反転と、図１８に示すライン反転とを組み合わせることにより実現できる。具体的には、１番目の走査信号線Ｇ１の駆動時に、各データ信号線Ｓに印加する電圧の極性を、１番目をプラス（＋）とし、以下、順番に反転する。次に、２番目の走査信号線Ｇ２の駆動時に、各データ信号線Ｓに印加する電圧の極性を、１番目をマイナス（−）とし、以下、順番に反転する。そして、３番目以降の走査信号線Ｇの駆動時にも同様に繰り返すことにより、図１９に示すように、走査信号線Ｇの方向およびデータ信号線Ｓの方向に隣り合う画素電極どうしの電圧の極性を異なるようにすることができる。

上記のように、画像が画面に焼き付くことを防止するために表示装置１が極性反転駆動を行う構成では、極性判定駆動を行っていることにより消費電力が多くなっている。例えば、ドット反転駆動を行っている表示装置１では、走査期間の消費電流が多い駆動であり、消費電力が増加している。そこで、このような表示装置１を備えた構成において、上記のように、状態変化検出部３１、４１、５１にて検出された状態変化に応じて、検出装置２０による非走査期間での検出動作の回数を制御する構成とすれば、消費電力についての高い低減効果を確保しながら、検出装置の検出精度をより高めることができる。

また、表示装置１が有機ＥＬ表示装置である場合、表示装置１は走査期間の消費電流が非常に多くなる。そこで、このような表示装置を備えた構成において、上記のように、状態変化検出部３１、４１、５１にて検出された状態変化に応じて、検出装置２０による非走査期間での検出動作の回数を制御する構成とすれば、消費電力についての高い低減効果を確保しながら、検出装置の検出精度をより高めることができる。

（表示装置における他の構成例の説明）
図２０は、図１に示した表示装置１の他の構成例を示す説明図である。
図１の表示装置１では、タイミングコントロール部６は、休止駆動制御信号とタイミングが等しいＴＰ検出動作制御信号（矢印Ｊ）を検出装置２０の検出部コントロール部２２へ出力する。

ここで、図１の表示装置１では、タイミングコントロール部６が映像信号（クロック信号、同期信号、映像データ信号）受信後にソースドライバに同期制御信号を出力するまで数クロック〜数ライン分の遅れを生じさせている。これはタイミングコントロール部６内部でのタイミングの生成や画像処理などに時間が必要であるからである。

一方、表示装置１では、図２０に示すように、走査線駆動回路３が、走査信号線Ｇの本数に応じた数のゲートドライバ部３ａを備えてもよい。なお、図２０ではゲートドライバ部３ａが２個の場合を例示している。

また、表示装置１では、図２０に示すように、信号線駆動回路４が、データ信号線Ｓの本数に応じた数のソースドライバ部４ａを備えてもよい。なお、図２０ではソースドライバ部４ａが３個の場合を例示している。

これらソースドライバ部４ａは、上述した遅延が存在しない分だけ、タイミングコントロール部６よりも厳密に、走査期間（駆動期間）、および非走査期間（休止期間）を認識している。

そこで、図２０示すように、ソースドライバ部４ａの内の１つから、接続端子７１を介して、検出装置２０の検出部コントロール部２２へＴＰ検出動作制御信号を出力してもよい。これにより、タイミングコントロール部６から検出部コントロール部２２へＴＰ検出動作制御信号を出力する際の遅延の影響を除いて、検出装置２０の検出部２１における検出動作を、より正確に制御することが可能となる（休止期間をより正確に検出装置２０に伝達することが可能となる）。

ここで、上記の各実施の形態において、タッチパネル検出期間（検出部２１が検出動作を行う期間）は、ＴＰ検出動作制御信号がアクティブである期間と一致している必要はなく、ＴＰ検出動作制御信号がアクティブである期間内に設定されていればよい。したがって、タッチパネル検出期間の開始時点および終了時点はＴＰ検出動作制御信号がアクティブである期間内となる。

以上のように、本発明の電子機器は、複数の画素に画像データを供給する走査期間と前記画像データを供給しない非走査期間とを交互に繰り返して、前記画素が保持する画像データの書き換えを繰り返し行う表示装置と、入力を検出する検出装置とを備え、かつ、前記入力について前記検出装置に要求される検出精度の変化を伴う状態変化を検出する状態変化検出部と、前記入力についての検出動作が前記表示装置の非走査期間に行われ、前記入力についての前記検出装置に要求される検出精度の上昇を伴う状態変化が前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が増加する一方、前記入力についての前記検出装置に要求される検出精度の低下を伴う状態変化が前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が減少するように、前記検出装置を制御する制御部を表示装置に備えている構成である。

また、本発明の電子機器の制御方法は、複数の画素に画像データを供給する走査期間と前記画像データを供給しない非走査期間とを交互に繰り返して、前記画素が保持する画像データの書き換えを繰り返し行う表示装置と、入力を検出する検出装置とを備えた電子機器の制御方法において、前記入力について前記検出装置に要求される検出精度の変化を伴う状態変化を検出する状態変化検出工程と、前記入力についての検出動作が前記表示装置の非走査期間に行われ、前記入力についての前記検出装置に要求される検出精度の上昇を伴う状態変化が前記状態変化検出工程にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が増加する一方、前記入力についての前記検出装置に要求される検出精度の低下を伴う状態変化が前記状態変化検出工程にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が減少するように、前記検出装置を制御する制御工程とを備えている構成である。

上記の構成によれば、状態変化検出部は（状態変化検出工程では）、入力について検出装置に要求される検出精度の変化を伴う状態変化を検出する。制御部は（制御工程では）、入力についての検出動作が表示装置の非走査期間に行われ、前記入力についての前記検出装置に要求される検出精度の上昇を伴う状態変化が前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が増加する一方、前記入力についての前記検出装置に要求される検出精度の低下を伴う状態変化が前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が減少するように、前記検出装置を制御する。

検出装置に要求される検出精度の上昇を伴う状態変化とは、例えば、入力操作の検出が容易な手段を使用しての入力と入力操作の検出が容易でない手段を使用しての入力との変更、速い入力操作が行われるような動作モード（アプリケーション）の起動と終了、あるいは検出装置自体の検出精度に影響するような環境変化などである。

電子機器（電子機器の制御方法）では、入力についての検出装置に要求される検出精度の上昇を伴う状態変化、例えば相対的に検出装置の検出精度が低下するような状態変化が検出された場合に、非走査期間での検出動作の回数が増加する。したがって、電子機器において、そのような状態変化が起こった場合であっても、検出装置に対する入力を高精度に検出することができる。

一方、入力についての検出装置に要求される検出精度の低下を伴う状態変化、例えば相対的に検出装置の検出精度が高まるような状態変化が検出された場合に、非走査期間での検出動作の回数が減少する。したがって、無駄な検出動作を行って消費電力が増加する事態を防止することができる。これにより、消費電力を低減しつつ検出装置の検出精度を高めることができる。

上記の電子機器において、前記制御部は、前記入力についての前記検出装置に要求される検出精度の上昇を伴う状態変化が前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記検出動作の回数が増加する一方、前記入力についての前記検出装置に要求される検出精度の低下を伴う状態変化が前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記検出動作の回数が減少するように指令する検出回数制御信号を出力する第１の制御部と、前記検出回数制御信号に基づいて、前記非走査期間での前記検出動作の回数が増減するように、前記検出装置を制御する第２の制御部とを備え、前記表示装置は前記第２の制御部を備えている構成としてもよい。

上記の構成によれば、第１の制御部は、入力についての検出装置に要求される検出精度の上昇を伴う状態変化が状態変化検出部にて検出された場合に、検出動作の回数が増加する一方、入力についての検出装置に要求される検出精度の低下を伴う状態変化が状態変化検出部にて検出された場合に、検出動作の回数が減少するように指令する検出回数制御信号を出力する。第２の制御部は、検出回数制御信号に基づいて、非走査期間での検出動作の回数が増減するように、検出装置を制御する。

このように、第１の制御部および第２の制御部のうち、表示装置が少なくとも第２の制御部を備えている構成では、第１の制御部が、例えば表示装置の外部に設けられ、表示装置の走査期間と非走査期間とを認識していない状態であっても、第２の制御部により、表示装置の非走査期間において検出装置での検出動作の回数およびタイミングを正確に制御することができる。

上記の電子機器において、前記検出装置は、タッチ操作により入力操作が行われ、行われた入力操作を検出するものであり、状態変化検出部は、前記入力操作について前記検出装置に要求される検出精度の変化を伴う状態変化を検出するものであり、前記制御部は、前記入力操作についての前記検出装置に要求される検出精度の上昇を伴う状態変化が前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が増加する一方、前記入力操作についての前記検出装置に要求される検出精度の低下を伴う状態変化が前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が減少するように、前記検出装置を制御する構成としてもよい。

上記の構成によれば、検出装置は、タッチ操作により入力操作が行われる例えばタッチパネルである。状態変化検出部は、入力操作について検出装置に要求される検出精度の変化を伴う状態変化を検出する。制御部は、入力操作についての検出装置に要求される検出精度の上昇を伴う状態変化が状態変化検出部にて検出された場合に、非走査期間での検出動作の回数を増加するように検出装置を制御する。したがって、電子機器において、そのような状態変化が起こった場合であっても、検出装置に対する入力操作を高精度に検出することができる。

一方、入力操作についての検出装置に要求される検出精度の低下を伴う状態変化が状態変化検出部にて検出された場合に、非走査期間での検出動作の回数が減少するように、検出装置を制御する。したがって、無駄な検出動作を行って消費電力が増加する事態を防止することができる。これにより、消費電力を低減しつつ検出装置の検出精度を高めることができる。

上記の電子機器において、前記状態変化検出部は、前記検出装置への入力操作を行う手段の前記検出装置への接触幅が広い状態と狭い状態との間にて変更されたことを前記状態変化として検出し、前記制御部は、前記接触幅が広い状態から狭い状態に変更されたことが前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が増加する一方、前記接触幅が狭い状態から広い状態に変更されたことが前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が減少するように、前記検出装置を制御する構成としてもよい。

上記の構成によれば、接触幅が広い状態から狭い状態に変更されたことが状態変化検出部にて検出された場合、すわなち、入力操作の検出が容易であって検出装置に要求される検出精度が低い状態から、入力操作の検出が容易ではなく検出装置に要求される検出精度が高い状態となった場合には、非走査期間での検出動作の回数が増加する。したがって、電子機器において、そのような状態変化が起こった場合であっても、検出装置に対する入力操作を高精度に検出することができる。

一方、前記接触幅が狭い状態から広い状態に変更されたことが前記状態変化検出部にて検出された場合、すなわち、入力操作の検出が容易ではなく検出装置に要求される検出精度が高い状態から、入力操作の検出が容易であって検出装置に要求される検出精度が低い状態となった場合には、前記非走査期間での検出動作の回数が減少する。したがって、無駄な検出動作を行って消費電力が増加する事態を防止することができる。これにより、消費電力を低減しつつ検出装置の検出精度を高めることができる。

ここで、接触幅の変化の間に何も検出されない期間が所定の期間存在していてもよい。

上記の電子機器において、前記状態変化検出部は、前記検出装置への入力操作が指による入力操作からペンによる入力操作に変更されたことを前記状態変化として検出し、前記制御部は、指による入力操作からペンによる入力操作に変更されたことが前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が増加するように、前記検出装置を制御する構成としてもよい。

上記の構成によれば、検出装置への入力操作が指による入力操作からペンによる入力操作に変更された場合には、入力操作の検出が容易であって検出装置に要求される検出精度が低い状態から、入力操作の検出が容易ではなく検出装置に要求される検出精度が高い状態となる。この場合には、非走査期間での検出動作の回数が増加するので、ペンによる入力操作であっても、検出装置に対する入力操作を高精度に検出することができる。

上記の電子機器において、前記状態変化検出部は、前記検出装置への入力操作がペンによる入力操作から指による入力操作に変更されたことを前記状態変化として検出し、前記制御部は、ペンによる入力操作から指による入力操作に変更されたことが前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が減少するように、前記検出装置を制御する構成としてもよい。

上記の構成によれば、検出装置への入力操作がペンによる入力操作から指による入力操作に変更された場合には、入力操作の検出が容易ではなく検出装置に要求される検出精度が高い状態から、入力操作の検出が容易であって検出装置に要求される検出精度が低い状態となる。この場合には、非走査期間での検出動作の回数が減少するので、無駄な検出動作を行って消費電力が増加する事態を防止することができる。

ここで、指からペン、あるいはペンから指へとの変化する間に、何も検出されない期間が所定の期間存在していてもよい。

上記の電子機器において、前記状態変化検出部は、動作モードが前記検出装置に対して相対的に遅い入力操作が行われる第１動作モードと相対的に速い入力操作が行われる第２動作モードとの間にて切り替えられたことを前記状態変化として検出し、前記制御部は、動作モードが前記第１動作モードから前記第２動作モードに切り替えられたことを前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が増加する一方、動作モードが前記第２動作モードから前記第１動作モードに切り替えられたことを前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が減少するように前記検出装置を制御する構成としてもよい。

上記の構成によれば、動作モードが検出装置に対して相対的に遅い入力操作が行われる第１動作モードから、相対的に速い入力操作が行われる第２動作モードに切り替えられた場合には、入力操作の検出が容易であって検出装置に要求される検出精度が低い状態から、入力操作の検出が容易ではなく検出装置に要求される検出精度が高い状態となる。この場合には、非走査期間での検出動作の回数が増加するので、相対的に速い入力操作であっても、検出装置に対する入力操作を高精度に検出することができる。

一方、動作モードが検出装置に対して相対的に速い入力操作が行われる第２動作モードから、相対的に遅い入力操作が行われる第１動作モードに切り替えられた場合には、入力操作の検出が容易ではなく検出装置に要求される検出精度が高い状態から、入力操作の検出が容易であって検出装置に要求される検出精度が低い状態となる。この場合には、非走査期間での検出動作の回数が減少するので、無駄な検出動作を行って消費電力が増加する事態を防止することができる。これにより、消費電力を低減しつつ検出装置の検出精度を高めることができる。

上記の電子機器において、前記状態変化検出部は、前記検出装置に対して少なくとも一つの手書き入力が行われる動作モードが起動したことを前記状態変化として検出し、前記制御部は、手書き入力が行われる動作モードが起動したことが前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が増加するように、前記検出装置を制御する構成としてもよい。

上記の構成によれば、速い入力操作となる手書き入力が行われる動作モードが起動した場合には、検出装置に要求される検出精度が高い状態となる。この場合には、非走査期間での検出動作の回数が増加するので、速い入力操作となる手書き入力による入力操作であっても、検出装置に対する入力操作を高精度に検出することができる。

上記の電子機器において、前記制御部は、手書き入力が行われる動作モードが終了したことが前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が減少するように、前記検出装置を制御する構成としてもよい。

また、上記の電子機器において、前記制御部は、全ての手書き入力が行われる動作モードが終了したことが前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が減少するように、前記検出装置を制御する構成としてもよい。

上記の構成によれば、速い入力操作となる手書き入力が行われる動作モードが終了した場合には、検出装置に要求される検出精度が低い状態となる。この場合には、非走査期間での検出動作の回数が減少するので、無駄な検出動作を行って消費電力が増加する事態を防止することができる。

上記の電子機器は、前記検出装置の周囲温度を検出する温度センサを備え、前記状態変化検出部は、前記温度センサにより検出された温度が、前記検出装置において所定の検出精度を維持できる所定温度範囲内から、前記検出装置において所定の検出精度を維持できない所定温度範囲外となったことを前記状態変化として検出し、前記制御部は、前記温度センサにより検出された温度が前記所定温度範囲から前記所定温度範囲外となったことが前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が増加するように前記検出装置を制御する構成としてもよい。

上記の構成によれば、検出装置の周囲温度が検出装置において所定の検出精度を維持できる所定温度範囲内から、検出装置において所定の検出精度を維持できない所定温度範囲外となった場合には、非走査期間での検出動作の回数が増加する。したがって、検出装置の周囲温度が、検出装置において所定の検出精度を維持できない所定温度範囲外となった場合であっても、検出装置に対する入力操作を高精度に検出することができる。

上記の電子機器は、前記検出装置の周囲温度を検出する温度センサを備え、前記状態変化検出部は、前記温度センサにより検出された温度が、前記検出装置において所定の検出精度を維持できない所定温度範囲外から、前記検出装置において所定の検出精度を維持できる所定温度範囲内となったことを前記状態変化として検出し、前記制御部は、前記温度センサにより検出された温度が前記所定温度範囲外から前記所定温度範囲内となったことが前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が増加するように前記検出装置を制御する構成としてもよい。

上記の構成によれば、検出装置の周囲温度が検出装置において所定の検出精度を維持できない所定温度範囲外から、検出装置において所定の検出精度を維持できる所定温度範囲内となった場合には、非走査期間での検出動作の回数が減少する。したがって、無駄な検出動作を行って消費電力が増加する事態を防止することができる。

上記の電子機器において、前記表示装置は、液晶表示装置である構成としてもよい。

上記の構成によれば、現在多量に普及している、表示装置として液晶表示装置を備えた電子機器において、消費電力を低減しつつ検出装置の検出精度を高めることができる。

上記の電子機器において、前記表示装置は、１フレーム内において所定の周期にて表示素子へ印加する電圧の極性を反転させる構成としてもよい。

上記の構成によれば、画像が画面に焼き付くことを防止するために極性反転駆動を行っている表示装置は、極性判定駆動を行っていることにより消費電力が多くなっている。例えば、ドット反転駆動を行っている表示装置では、走査期間の消費電流が多い駆動であり、消費電力が増加している。そこで、このような表示装置を備えた電気機器において、上記のように、状態変化検出部にて検出された状態変化に応じて、検出装置による非走査期間での検出動作の回数を制御する構成とすれば、消費電力についての高い低減効果を確保しながら、検出装置の検出精度を高めることができる。

上記の電子機器において、前記表示装置は、有機ＥＬ表示装置である構成としてもよい。

上記の構成によれば、有機ＥＬ表示装置は走査期間の消費電流が非常に多い表示装置である。そこで、このような表示装置を備えた電気機器において、上記のように、状態変化検出部にて検出された状態変化に応じて、検出装置による非走査期間での検出動作の回数を制御する構成とすれば、消費電力についての高い低減効果を確保しながら、検出装置の検出精度を高めることができる。

上記の電子機器において、前記表示装置は、表示用の画像データを出力する信号線駆動回路を備え、前記信号線駆動回路は、前記検出装置に対して検出動作のタイミングを指示する検出動作制御信号を出力する構成としてもよい。

上記の構成によれば、表示装置の走査期間（駆動期間）および非走査期間（休止期間）を最もよく認識している信号線駆動回路から検出装置に対して検出動作制御信号を出力するので、非走査期間での検出装置による検出動作をさらに正確に制御することができる。

上記の電子機器において、前記検出装置は、マトリクス型静電容量タッチパネルである構成としてもよい。

上記の構成によれば、マトリクス型静電容量タッチパネルは、電子機器の検出装置として多用される一方、表示装置から発生するノイズにより、Ｓ／Ｎが低下し、検出精度が低下し易くなっている。そこで、このような検出装置を備えた電気機器において、上記のように、状態変化検出部にて検出された状態変化に応じて、検出装置による非走査期間での検出動作の回数を制御する構成とすれば、消費電力を低減しつつ検出装置の検出精度を適切に高めることができる。

上記の電子機器において、前記検出装置は、高周波回路を含んでいる構成としてもよい。

上記の構成によれば、高周波回路を含んでいる検出装置では、例えば高周波による入力信号を検出装置への入力信号として受信することができる。一方、このような検出装置は、表示装置から発生するノイズにより、Ｓ／Ｎが低下し、検出精度が低下し易くなっている。そこで、このような検出装置を備えた電気機器において、上記のように、状態変化検出部にて検出された状態変化に応じて、検出装置による非走査期間での検出動作の回数を制御する構成とすれば、消費電力を低減しつつ検出装置の検出精度を適切に高めることができる。

本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。

本発明は、液晶表示装置、有機ＥＬ表示装置、および電子ペーパーなどの各種の表示装置と、タッチパネル等の検出装置とを備えた電子機器に広く採用できる。

１ 表示装置
２ 表示パネル
３ 走査線駆動回路
３ａ ゲートドライバ部
４ａ ソースドライバ部
４ 信号線駆動回路
６ タイミングコントロール部（制御部、第２の制御部）
２０ 検出装置
２１ 検出部
２２ 検出部コントロール部
３０ システム側コントロール部（制御部、第１の制御部）
３１ 状態変化検出部
３２ ＴＰ検出動作制御部（制御部、第１の制御部）
４１ 状態変化検出部
５１ 状態変化検出部
７１ 接続端子
１００ 電子機器
１０１ 電子機器
１０２ 電子機器
１０３ 電子機器

Claims (18)

1. 複数の画素に画像データを供給する走査期間と前記画像データを供給しない非走査期間とを交互に繰り返して、前記画素が保持する画像データの書き換えを繰り返し行う表示装置と、
   入力を検出する検出装置と、
   前記入力について前記検出装置に要求される検出精度の変化を伴う状態変化を検出する状態変化検出部と、
   前記入力についての検出動作が前記表示装置の非走査期間に行われ、前記入力についての前記検出装置に要求される検出精度の上昇を伴う状態変化が前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が増加する一方、前記入力についての前記検出装置に要求される検出精度の低下を伴う状態変化が前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が減少するように、前記検出装置を制御する制御部とを備えていることを特徴とする電子機器。
2. 前記制御部は、
   前記入力についての前記検出装置に要求される検出精度の上昇を伴う状態変化が前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記検出動作の回数が増加する一方、前記入力についての前記検出装置に要求される検出精度の低下を伴う状態変化が前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記検出動作の回数が減少するように指令する検出回数制御信号を出力する第１の制御部と、
   前記検出回数制御信号に基づいて、前記非走査期間での前記検出動作の回数が増減するように、前記検出装置を制御する第２の制御部とを備え、
   前記表示装置は前記第２の制御部を備えていることを特徴とする請求項１に記載の電子機器。
3. 前記検出装置は、タッチ操作により入力操作が行われ、行われた入力操作を検出するものであり、
   状態変化検出部は、前記入力操作について前記検出装置に要求される検出精度の変化を伴う状態変化を検出するものであり、
   前記制御部は、前記入力操作についての前記検出装置に要求される検出精度の上昇を伴う状態変化が前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が増加する一方、前記入力操作についての前記検出装置に要求される検出精度の低下を伴う状態変化が前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が減少するように、前記検出装置を制御することを特徴とする請求項１または２に記載の電子機器。
4. 前記状態変化検出部は、前記検出装置への入力操作を行う手段の前記検出装置への接触幅が広い状態と狭い状態との間にて変更されたことを前記状態変化として検出し、
   前記制御部は、前記接触幅が広い状態から狭い状態に変更されたことが前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が増加する一方、前記接触幅が狭い状態から広い状態に変更されたことが前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が減少するように、前記検出装置を制御することを特徴とする請求項３に記載の電子機器。
5. 前記状態変化検出部は、前記検出装置への入力操作が指による入力操作からペンによる入力操作に変更されたことを前記状態変化として検出し、
   前記制御部は、指による入力操作からペンによる入力操作に変更されたことが前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が増加するように、前記検出装置を制御することを特徴とする請求項３に記載の電子機器。
6. 前記状態変化検出部は、前記検出装置への入力操作がペンによる入力操作から指による入力操作に変更されたことを前記状態変化として検出し、
   前記制御部は、ペンによる入力操作から指による入力操作に変更されたことが前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が減少するように、前記検出装置を制御することを特徴とする請求項３に記載の電子機器。
7. 前記状態変化検出部は、動作モードが前記検出装置に対して相対的に遅い入力操作が行われる第１動作モードと相対的に速い入力操作が行われる第２動作モードとの間にて切り替えられたことを前記状態変化として検出し、
   前記制御部は、動作モードが前記第１動作モードから前記第２動作モードに切り替えられたことを前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が増加する一方、動作モードが前記第２動作モードから前記第１動作モードに切り替えられたことを前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が減少するように前記検出装置を制御することを特徴とする請求項３に記載の電子機器。
8. 前記状態変化検出部は、前記検出装置に対して少なくとも一つの手書き入力が行われる動作モードが起動したことを前記状態変化として検出し、
   前記制御部は、手書き入力が行われる動作モードが起動したことが前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が増加するように、前記検出装置を制御することを特徴とする請求項３に記載の電子機器。
9. 前記状態変化検出部は、前記検出装置に対して手書き入力が行われる動作モードが終了したことを前記状態変化として検出し、
   前記制御部は、手書き入力が行われる動作モードが終了したことが前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が減少するように、前記検出装置を制御することを特徴とする請求項３に記載の電子機器。
10. 前記検出装置の周囲温度を検出する温度センサを備え、
    前記状態変化検出部は、前記温度センサにより検出された温度が、前記検出装置において所定の検出精度を維持できる所定温度範囲内から、前記検出装置において所定の検出精度を維持できない所定温度範囲外となったことを前記状態変化として検出し、
    前記制御部は、前記温度センサにより検出された温度が前記所定温度範囲から前記所定温度範囲外となったことが前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が増加するように前記検出装置を制御することを特徴とする請求項３に記載の電子機器。
11. 前記検出装置の周囲温度を検出する温度センサを備え、
    前記状態変化検出部は、前記温度センサにより検出された温度が、前記検出装置において所定の検出精度を維持できない所定温度範囲外から、前記検出装置において所定の検出精度を維持できる所定温度範囲内となったことを前記状態変化として検出し、
    前記制御部は、前記温度センサにより検出された温度が前記所定温度範囲外から前記所定温度範囲内となったことが前記状態変化検出部にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が増加するように前記検出装置を制御することを特徴とする請求項３に記載の電子機器。
12. 前記表示装置は、液晶表示装置であることを特徴とする請求項１から１１のいずれか１項に記載の電子機器。
13. 前記表示装置は、１フレーム内において所定の周期にて表示素子へ印加する電圧の極性を反転させることを特徴とする請求項１から１１のいずれか１項に記載の電子機器。
14. 前記表示装置は、有機ＥＬ表示装置であることを特徴とする請求項１から１１のいずれか１項に記載の電子機器。
15. 前記表示装置は、表示用の画像データを出力する信号線駆動回路を備え、
    前記信号線駆動回路は、前記検出装置に対して検出動作のタイミングを指示する検出動作制御信号を出力することを特徴とする請求項１から１１のいずれか１項に記載の電子機器。
16. 前記検出装置は、静電容量タッチパネルであることを特徴とする請求項３から１１のいずれか１項に記載の電子機器。
17. 前記検出装置は、高周波回路を含んでいることを特徴とする請求項１または２に記載の電子機器。
18. 複数の画素に画像データを供給する走査期間と前記画像データを供給しない非走査期間とを交互に繰り返して、前記画素が保持する画像データの書き換えを繰り返し行う表示装置と、入力を検出する検出装置とを備えた電子機器の制御方法において、
    前記入力について前記検出装置に要求される検出精度の変化を伴う状態変化を検出する状態変化検出工程と、
    前記入力についての検出動作が前記表示装置の非走査期間に行われ、前記入力についての前記検出装置に要求される検出精度の上昇を伴う状態変化が前記状態変化検出工程にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が増加する一方、前記入力についての前記検出装置に要求される検出精度の低下を伴う状態変化が前記状態変化検出工程にて検出された場合に、前記非走査期間での検出動作の回数が減少するように、前記検出装置を制御する制御工程とを備えていることを特徴とする電子機器の制御方法。

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