JP5333238B2 - 波長可変レーザ装置及びその波長切替方法 - Google Patents

波長可変レーザ装置及びその波長切替方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5333238B2
JP5333238B2 JP2009553342A JP2009553342A JP5333238B2 JP 5333238 B2 JP5333238 B2 JP 5333238B2 JP 2009553342 A JP2009553342 A JP 2009553342A JP 2009553342 A JP2009553342 A JP 2009553342A JP 5333238 B2 JP5333238 B2 JP 5333238B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wavelength
tunable laser
soa
current
phase
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2009553342A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2009101742A1 (ja
Inventor
健二 水谷
健二 佐藤
耕治 工藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP2009553342A priority Critical patent/JP5333238B2/ja
Publication of JPWO2009101742A1 publication Critical patent/JPWO2009101742A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5333238B2 publication Critical patent/JP5333238B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/14External cavity lasers
    • H01S5/141External cavity lasers using a wavelength selective device, e.g. a grating or etalon
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/0617Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium using memorised or pre-programmed laser characteristics
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/062Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes
    • H01S5/0625Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes in multi-section lasers
    • H01S5/06255Controlling the frequency of the radiation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/068Stabilisation of laser output parameters
    • H01S5/0683Stabilisation of laser output parameters by monitoring the optical output parameters
    • H01S5/06837Stabilising otherwise than by an applied electric field or current, e.g. by controlling the temperature
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/068Stabilisation of laser output parameters
    • H01S5/0683Stabilisation of laser output parameters by monitoring the optical output parameters
    • H01S5/0687Stabilising the frequency of the laser

Description

本発明は、例えば、光通信システムに適用可能な波長可変レーザ装置及びその波長切替方法に関する。
現在、波長分割多重(WDM:Wavelength Division Multiplexing)光通信システムでは、同一光源で使用波長を任意に選択可能な広帯域波長可変レーザが用いられるようになってきている。このような広帯域波長可変レーザは、光源品種を削減できるため、小型かつ低コストに製造することができる。近年では、更なるシステム自由度の向上のために、リングトポリジーを利用したWDM光通信システムの開発が進められている。そのシステムでは、ROADM(Reconfigurable Optical Add Drop Multiplexing)機能など、波長可変レーザによる波長の任意切替が積極的に利用されようとしている。
但し、これらWDMシステムで波長可変レーザを利用する場合、レーザは、次の二つの特性を満足しなければならない。第1に、高精度波長制御である。レーザの発振波長に必要な精度は、システムで使用される標準チャネルの波長(以下、ITU(International Telecommunication Union)グリッドと称する)に対して、チャネル間隔±5%以下の波長にあわせなければならない。第2に、レーザの波長切替時、既にシステムで使用されているITUグリッドに干渉することなく、波長切替ができなければならない(ダークチューニングと称する)。この要求を満足するためには、波長可変レーザは、望むらくは、モードホップフリーで、次善としては、グリッドホップフリーで、所望のチャネルへ発振波長を切り替えることができる必要がある。
前記2つの特性要求に対し、様々な構造の波長可変レーザモジュールの開発が進められている。特許文献1には、レーザ共振器内の周期的な透過/反射特性を有するフィルタにより、レーザの発振波長をITUグリッドに合わせ、高精度波長制御を実現する波長可変レーザが開示されている。特許文献1に記載の外部共振器型波長可変レーザ(ECTL:External Cavity Wavelength Tunable Laser)は、周期的な透過特性を有するエタロンフィルタ、位相調整領域(PC領域)が集積された半導体光増幅器(SOA:Semiconductor Optical Amplifier)及び液晶波長可変ミラー(LCミラー)を備える。ECTLは、LCミラーの反射ピーク波長と、共振器モードの位相を、エタロンの周期的な固定透過ピーク波長の1つに合わせるよう制御する。エタロンの周期的なピーク波長は、エタロンの角度と温度を調整することでITUグリッドに高精度に合わせることができる。
しかし、特許文献1に記載の波長可変レーザには、波長切替時のダークチューニングに大きな課題が存在した。図6を用いて以下に説明する。図6は、波長切替時のSOA電流601、光出力602、SOA活性層温度603、SOA活性層温度603の変化による位相のずれ604及び発振波長607の時間変化を同一の時間軸に対して比較して示したグラフである。
波長切替は通常、図6に示すように、以下の(1)〜(3)の工程で行う。
(1)SOAへの印加電流(SOA電流601)を減少、最終的に0mAにし、光出力602をOFFにする。
(2)LCミラー電圧を制御し、反射ピーク波長を所望の波長に設定。これと同時に位相調整領域への印加電流(PC電流)を設定電流(SOA電流601が所望の駆動値になったときモードが安定化される電流値)に調整する。
(3)SOA電流601を駆動条件値(例えば200mA)にまで上昇させ、光出力602をON状態にする。
上記(1)〜(3)の過程で、SOA電流値601が大きく変化(0mA→200mA)する。このように大きなSOA電流601の変化を伴う場合、大きな位相のずれ604が生じる。この位相のずれ604により位相が最適な状態から半周期分(π)ずれると、発振波長607にモードホップが生じてしまう。このモードホップは往々にしてグリッドホップを伴い、ダークチューニングの実現には、何らかの対策を講じる必要があった。
ここで、位相のずれ604が生じる要因は、図6に示すように、SOA電流601による発熱である。この発熱はSOA電流601の約2乗に比例し、発熱によりSOA活性層温度603が変化する。このSOA活性層温度603の変化により、半導体の熱光学効果で半導体光増幅器領域(SOA領域)の屈折率が変動する(正の屈折率変化)。この屈折率変動が、位相変動すなわち位相のずれ604を引き起こす。通常用いる200mAと大きなSOA電流601では、図6に示すように、波長切替時に位相がπ以上大きく変化してしまう。上記課題に対し、特許文献2には、レーザの外部に波長をモニタする機構を用意し波長変動分を抽出、この変動分を負帰還して波長制御する方法が提案されている。
特願2005−204195号 特開平7−111354号公報
しかしながら、特許文献2に開示された技術においても、装置の大型化や、負帰還制御という制御の複雑化などの課題があった。
本発明は、以上のような問題点を解決するためになされたものであり、波長切替時にグリッドホップの無い波長可変レーザ装置及びその波長切替方法を提供することを目的とする。
本発明に係る波長可変レーザ装置は、半導体光増幅器と、周期的な波長選択フィルタと、前記半導体光増幅器に印加する電流と、波長可変レーザの位相調整とを同時にオープンループ制御する位相制御部とを備えることを特徴とするものである。
本発明に係る波長可変レーザ装置の波長切替方法は、半導体光増幅器に印加する電流と、波長可変レーザの位相調整とを同時にオープンループ制御して光出力を減少させ、前記半導体光増幅器に印加する電流を調整して波長を設定し、前記半導体光増幅器に印加する電流と、波長可変レーザの位相調整とを同時にオープンループ制御して光出力を増加させるものである。
本発明によれば、波長切替時にグリッドホップの無い波長可変レーザ装置及びその波長切替方法を提供することができる。
本発明の第1の実施の形態の波長可変レーザ装置の構成を示す図である。 PC領域の位相特性を示す図である。 本発明の第1の実施の形態の波長可変レーザ装置の波長切替時の各種パラメータの変化を示すグラフである。 本発明の第2の実施の形態の波長可変レーザ装置の構成を示す図である。 本発明の第2の実施の形態の波長可変レーザ装置の波長切替時の各種パラメータの変化を示すグラフである。 関連技術の波長可変レーザ装置の波長切替時の各種パラメータの変化を示すグラフである。
符号の説明
101 波長可変レーザ装置
102 SOA
103 PC領域
104 増幅領域
105 コリメートレンズ
106 エタロンフィルタ
107 LCミラー
108 温度検出器
109 サブキャリア
110 温度制御器
111 CPU
112 メモリ
以下、本発明を適用した具体的な実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。ただし、本発明が以下の実施の形態に限定される訳ではない。また、説明を明確にするため、以下の記載及び図面は、適宜、簡略化されている。
第1の実施の形態
次に、本発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。
図1に、本発明の第1の実施の形態に係る波長可変レーザ装置101の構成図を示す。波長可変レーザ装置101は、例えば、外部共振器型レーザである。波長可変レーザ装置101は、SOA102、一対のコリメートレンズ105a、105b、エタロンフィルタ106、液晶波長可変ミラー(LCミラー)107、温度検出器108、サブキャリア109、温度制御器110、CPU111及びメモリ112を備える。
ここで、SOA102は位相調整(PC)領域103と増幅領域104とを備える。これにより、位相調整機能を実現している。ここで、能動素子からなる増幅領域104は、多重量子井戸(MQW:Multiple Quantum Well)で構成されており、電流の注入に応じて光を発生・増幅するものである。PC領域103は、レーザ発振波長よりも短波長側にバンドギャップを有するバルク組成からなる。図2に示すように、電流注入による負の屈折率変化を用いたプラズマ効果で位相を調整する。集積されたPC領域を用いることで、波長可変レーザの小型化が実現している。
本実施の形態に係る波長可変レーザ装置101では、図1に示すように、SOA102の左端面から出射したレーザ光がコリメートレンズ105bにより平行光に変換されて出力される。
SOA102の光出力の反対側には、コリメートレンズ105aが配置されている。コリメートレンズ105aは、SOA102の右端面から出射した光ビームを平行光に変換する。
そして、コリメートレンズ105aで平行になったビームは次にLCミラー107にあたって反射され、SOA102にフィードバックされる。LCミラー107は、電圧を印加して液晶の屈折率を変化させて、反射ピーク波長を変化させることができる。
コリメートレンズ105aと、LCミラー107の間には、エタロンフィルタ106が配置されている。エタロンフィルタ106は、使用する波長域において、波長に対して周期的な透過特性を有するものである。
上記SOA102、コリメートレンズ105a、105b、エタロンフィルタ106及びLCミラー107は、光線が直線的に進行するように共通のサブキャリア109上に配置されている。また、サーミスタ等からなる温度検出器108がサブキャリア109上の適切な位置に配置されている。さらに、サブキャリア109が温度制御器110上に搭載され、温度検出器108により検出される温度をモニタすることにより一定温度に制御されている。
メモリ112には、各チャネルの、動作時と光出力OFF時のPC電流値IPC,ONとIPC,OFFが記録されている。CPU111は、メモリ112に記録された情報に基づいて、波長切替時にオープンループで、SOA電流とPC電流とを同時に制御できる機構となっている。
ここで、IPC,OFFは、以下の方法で事前に見積もることができる。
まず、発振波長のSOA電流依存性から発振波長の周期的な変動成分を評価する。その周期の回転数からSOA102の電流増減に伴う位相変化量ΔφSOAを見積もる。そして、図2の位相電流と位相ずれの関係からIPC,OFFがわかる。
なお、本実施の形態では、メモリ112に、IPC,ON及びIPC,OFFのみを記録しているが、他の情報を記録してもよい。例えば、ΔφSOAのSOA電流依存性と、図2の関係をそれぞれ近似曲線で近似し、その係数をメモリ112に記録することも可能である。この場合、動作時のSOA電流や、PC電流が変動した場合でも、CPU111によりIPC,OFFを見積もることが可能である。
本実施の形態の作用を、図3を用いて以下に説明する。図3は、波長切替時のSOA電流301、光出力302、SOA活性層温度303、SOA活性層温度303の変化による位相のずれ304、PC電流305、位相のずれ306及び発振波長307の時間変化を同一の時間軸に対して比較して示したグラフである。ここで、図3におけるSOA電流301、光出力302、SOA活性層温度303、SOA活性層温度303の変化による位相のずれ304を示すグラフは、各々図6におけるSOA電流601、光出力602、SOA活性層温度603、SOA活性層温度603の変化による位相のずれ604を示すグラフと同一であると考えてよい。
図3に示すように、第1の実施の形態に係る波長可変レーザ装置101でのチャネル1からチャネル2への波長切替時のフローは次のようになる。
(1)光出力を減少→OFF
SOA電流301をISOA、ON、Ch1から0mAまで減少させ、光出力302をOFFにする。同時に、PC電流305もIPC、ON、Ch1から、SOA活性層温度303の変化に起因する位相のずれ304を補償しながらIPC、OFF、Ch1まで減少させる。
(2)波長設定
チャネル2のLCミラーの反射ピーク波長に調整する。また、PC電流305をIPC、OFF、Ch2に設定する。
(3)光出力を増大→ON
SOA電流301をISOA、ON、Ch2まで増加させ、光出力302をONにする。同時に、PC電流305もIPC、OFF、Ch2から、SOA活性層温度303の変化に起因する位相のずれ304を補償しながらIPC、ON、Ch2まで上昇させる。
上記フローにより、波長切替時の位相のずれ306がπ/2以下と小さくなり、発振波長307のグリッドホップを抑えることが可能となる。なお、SOA電流301による位相ずれは、発熱のため、ミリ秒単位の応答時間となるため、SOA電流301の減少・増加する時間((1)、(3)各動作時間)は1秒で行っている。なお、WDM通信システムでは、波長切替時間は10秒程度となっており、(1)と(2)と(3)の動作合計時間は、1ミリ秒以上から10秒以下で行うことが望ましい。
また、PC電流の調整を以下のように行うことで、より高精度に位相補償が可能となり、位相変化をπ/10以下まで抑えることが可能となる。
まず初めに、光出力ONとOFF時のSOA電流の時間変化時の位相変化の時間依存性を見積もる。
次に、図2からその位相変化量を打ち消すのに必要なPC電流値の時間依存性を求め、その近似関数をメモリ112に記録する。
そして、波長切替時に、メモリ112に記録してある近似関数に基づいてPC電流を制御する。
第2の実施の形態
第1の実施の形態におけるPC領域103への電流注入による位相制御では、制御できる位相の範囲に限界があり、通常0〜6π程度である。しかも大きな位相変化を必要とする場合にはPC領域103へ注入する電流が大きくなるため、キャリアプラズマ損失の増大を招くなど、高出力化に課題もある。
上記課題に対して、通常動作時の位相調整をPC電流で行い、波長切替時の位相調整機能をSOA102の温度調整で行う方法がある。このような構成を、第2の実施の形態として図4に示す。
第2の実施の形態に係る波長可変レーザ装置101では、第1の実施の形態と同様に、PC領域103と増幅領域104とを備えるSOA102、一対のコリメートレンズ105a、105b、エタロンフィルタ106、LCミラー107及びサーミスタである温度検出器108がサブキャリア109上に搭載されている。さらに、このサブキャリア109がペルチェ素子である温度制御器110上に搭載される。
第1の実施の形態と異なり、第2の実施の形態では、上記温度検出器108と温度制御器110により、SOA102の温度調整による位相調整を行う。メモリ112には、動作温度TONと波長切替時の温度TOFFが記録され、波長切替時にオープンループでSOA102の温度制御を行う機構となっている。
なお、SOA102の電流増減に伴う温度変化量ΔTSOAは、SOA102の熱光学効果による位相変化量とSOA102自体の温度特性から見積もることができ、TOFFはTON+ΔTSOAで表される。今回、動作時の温度TONとして、低消費電力と高出力特性の両立が期待できる30℃を用いた。
本実施の形態の作用を、図5を用いて以下に説明する。図5は、波長切替時のSOA電流501、光出力502、SOA活性層温度503、PC電流505、位相のずれ506、発振波長507及びSOA温度508の時間変化を同一の時間軸に対して比較して示したグラフである。ここで、図5におけるSOA電流501、光出力502を示すグラフは、各々図3におけるSOA電流301、光出力302を示すグラフと同一であると考えてよい。
このSOA102の温度調整による位相補償を用いたチャネル1からチャネル2への波長切替時のフローは次のようになる。
(1)光出力を減少→OFF
サブキャリア109すなわちSOA102の温度508をTONからTOFFへΔTSOA上昇させる。その温度変化に合わせてSOA電流501を下げて位相補償を行い、光出力502をOFFにする。
(2)波長設定
液晶波長可変ミラーの反射ピーク波長と、PC電流505による位相を調整。
(3)光出力を増大→ON
サブキャリア109すなわちSOA102の温度508をTOFFからTONへ下げる。その温度変化に合わせてSOA電流501を上げて位相補償をかけながら光出力502をONにする。
SOA温度508の変化に合わせたSOA電流501の位相補償を実現するため、(1)光出力OFFと、(3)光出力ON時の温度変化は、ペルチェ素子による温度制御の最適化により、3秒で線形に温度が変化し、その後安定するようにした。そして、SOA電流501も3秒で変化するようにCPU111で時間制御を行った。
上記フローにより、波長切替時のSOA活性層温度503をほぼ一定に制御することが可能となる。そのため、位相のずれ506をπ/2以下と小さく抑えられ、発振波長307のグリッドホップを抑えることができる。また、図5に示すように、動作温度30℃で、動作時の各チャネルのPC電流505を1〜3mAと比較的低電流で使用することで、SOA電流501が200mAである時の光出力502が13dBm以上という高出力動作を実現している。
ただし、SOA電流の調整方法、メモリ112に記録する情報は今回の方法に限らない。例えば、位相ずれが最小となるようにSOA電流の時間変化を事前に評価し、その時間プロファイルをメモリ112に記録、使用することも可能である。
なお、本発明では、位相補償手段としてPC電流調整と、温度調整を用いているが、別のパラメータを用いて位相補償を行うことも可能である。例えば、MEMSやピエゾ素子を用いた位相補償等も考えられる。ただし、これらの手法でも利用できる位相範囲は、やはり限定的である。
そこで、通常動作時の位相調整はPC電流によって行い、波長切替時の位相調整は温度による位相調整を行うという、位相制御の併用(ハイブリッド的利用)が最も有効と考えられる。さらに、温度による位相補償を用いる今回の手法は、使用する位相電流を十分低い値に維持できるため、高出力化に有利という利点もある。なお、今回の発明はDBRレーザなどの他の波長可変レーザでも用いることができる。
以上説明したとおり、本発明により、波長可変レーザの波長切替時にSOA電流と同時に位相も制御することで、グリッドホップの無いモジュールを実現した半導体装置を提供することができる。また、位相調整にSOAに集積したPC領域への電流制御を用いることで、小型のモジュールを実現することができる。
さらに、通常動作時の位相調整をPC電流制御とし、波長切替時の位相制御をSOAの温度調整制御とすることで、小型モジュールで、且つ、PC領域での損失が少なく高出力特性を実現した半導体装置を提供することができる。
この出願は、2008年2月15日に出願された日本出願特願2008−34536を基礎とする優先権を主張し、その開示の全てをここに取り込む。
本発明は、光通信や光測定装置に適用可能である。

Claims (10)

  1. 増幅領域を有する半導体光増幅器と、
    周期的な波長選択フィルタと、
    前記増幅領域に印加する電流を制御するとともに、位相補償を行う制御部とを備え
    前記制御部は、
    前記増幅領域に印加する電流を減少させることにより光出力を減少させつつ、オープンループ制御により波長可変レーザの位相補償を行い、
    ダークチューニングにより波長を切替え、
    前記増幅領域に印加する電流を増加させることにより光出力を増加させつつ、オープンループ制御により波長可変レーザの位相補償を行う、波長可変レーザ装置。
  2. 前記制御部は、前記半導体光増幅器に形成された位相調整領域に印加する電流を調整して前記ダークチューニングを行うことを特徴とする請求項1に記載の波長可変レーザ装置。
  3. 記制御部は、波長切替時に、前記半導体光増幅器に形成された位相調整領域への印加電流を制御することにより位相補償を行うことを特徴とする請求項1に記載の波長可変レーザ装置。
  4. 記制御部は、波長切替時に、前記半導体光増幅器を温度制御することより位相補償を行うことを特徴とする請求項1に記載の波長可変レーザ装置。
  5. 記制御部は、非波長切替時には、前記半導体光増幅器に形成された位相調整領域への印加電流を制御することにより位相補償を行うことを特徴とする請求項に記載の波長可変レーザ装置。
  6. 外部共振器型であることを特徴とする請求項1〜のいずれか一項に記載の波長可変レーザ装置。
  7. 半導体光増幅器に印加する電流を減少させることにより光出力を減少させつつ、オープンループ制御により波長可変レーザの位相補償を行い
    ダークチューニングにより波長を切替え、
    前記半導体光増幅器に印加する電流を増加させることにより光出力を増加させつつ、オープンループ制御により波長可変レーザの位相補償を行う、波長可変レーザ装置の波長切替方法。
  8. 前記半導体光増幅器に形成された位相調整領域に印加する電流を調整して前記ダークチューニングを行うことを特徴とする請求項7に記載の波長可変レーザ装置の波長切替方法。
  9. 光出力の減少、及び光出力の増加の際、前記半導体光増幅器に形成された位相調整領域への印加電流を制御することにより位相補償を行うことを特徴とする請求項に記載の波長可変レーザ装置の波長切替方法。
  10. 光出力の減少、及び光出力の増加の際、前記半導体光増幅器を温度制御することより位相補償を行うことを特徴とする請求項に記載の波長可変レーザ装置の波長切替方法。
JP2009553342A 2008-02-15 2008-12-09 波長可変レーザ装置及びその波長切替方法 Expired - Fee Related JP5333238B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009553342A JP5333238B2 (ja) 2008-02-15 2008-12-09 波長可変レーザ装置及びその波長切替方法

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008034536 2008-02-15
JP2008034536 2008-02-15
PCT/JP2008/072298 WO2009101742A1 (ja) 2008-02-15 2008-12-09 波長可変レーザ装置及びその波長切替方法
JP2009553342A JP5333238B2 (ja) 2008-02-15 2008-12-09 波長可変レーザ装置及びその波長切替方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2009101742A1 JPWO2009101742A1 (ja) 2011-06-09
JP5333238B2 true JP5333238B2 (ja) 2013-11-06

Family

ID=40956780

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009553342A Expired - Fee Related JP5333238B2 (ja) 2008-02-15 2008-12-09 波長可変レーザ装置及びその波長切替方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US8284807B2 (ja)
JP (1) JP5333238B2 (ja)
WO (1) WO2009101742A1 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2986379B1 (fr) 2012-01-30 2017-03-17 Agilent Tech Inc (A Delaware Corporation) "laser accordable en phase continue"
KR101764342B1 (ko) 2015-10-30 2017-08-14 (주)엘디스 광통신용 파장가변 광원
US11063405B2 (en) 2017-10-16 2021-07-13 Electronics And Telecommunications Research Institute Optical signal transmission apparatus including temperature-independent wavelength tunable laser, and wavelength tuning method using the same
WO2022201054A1 (en) * 2021-03-24 2022-09-29 Denselight Semiconductors Pte Ltd Mode-hop free laser module

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1187827A (ja) * 1997-09-09 1999-03-30 Toshiba Corp 可変波長半導体レーザ装置
JP2001242500A (ja) * 2000-03-02 2001-09-07 Fuji Photo Film Co Ltd 光波長変換モジュール
WO2003001635A1 (fr) * 2001-06-22 2003-01-03 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Appareil a source lumineuse et son procede de commande
JP2003298177A (ja) * 2002-03-29 2003-10-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光源装置の制御方法
WO2006008873A1 (ja) * 2004-07-15 2006-01-26 Nec Corporation 外部共振器型波長可変レーザ

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07111354A (ja) 1993-10-12 1995-04-25 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 半導体レーザの駆動装置
JP4595330B2 (ja) 2004-01-19 2010-12-08 ソニー株式会社 画像処理装置および方法、記録媒体、並びにプログラム
GB0408415D0 (en) * 2004-04-15 2004-05-19 Univ Cambridge Tech Control device and method
JP5008831B2 (ja) * 2005-02-03 2012-08-22 住友電工デバイス・イノベーション株式会社 レーザ装置、レーザ装置の制御装置、レーザ装置の制御方法、レーザ装置の波長切換方法およびレーザ装置の制御データ

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1187827A (ja) * 1997-09-09 1999-03-30 Toshiba Corp 可変波長半導体レーザ装置
JP2001242500A (ja) * 2000-03-02 2001-09-07 Fuji Photo Film Co Ltd 光波長変換モジュール
WO2003001635A1 (fr) * 2001-06-22 2003-01-03 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Appareil a source lumineuse et son procede de commande
JP2003298177A (ja) * 2002-03-29 2003-10-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光源装置の制御方法
WO2006008873A1 (ja) * 2004-07-15 2006-01-26 Nec Corporation 外部共振器型波長可変レーザ

Also Published As

Publication number Publication date
US8284807B2 (en) 2012-10-09
JPWO2009101742A1 (ja) 2011-06-09
WO2009101742A1 (ja) 2009-08-20
US20110002349A1 (en) 2011-01-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4204972B2 (ja) グリッド・ジェネレータの連続同調を伴う外部共振器レーザ
CA2720036C (en) Method and apparatus for reducing the amplitude modulation of optical signals in external cavity lasers
JP5193732B2 (ja) 波長可変レーザモジュール、波長可変レーザ装置、及び、波長可変レーザの制御方法
JP6253082B2 (ja) 波長可変レーザの制御方法
US10050406B2 (en) External cavity tunable laser and cavity mode locking method thereof
US20090238219A1 (en) Optical module
JP4332067B2 (ja) 波長可変レーザ装置
JP2007515771A (ja) 外部空洞同調可能レーザの位相制御
US9240668B2 (en) Method for controlling wavelength tunable laser, and wavelength tunable laser
JP2010527164A (ja) 変調波長制御信号を用いるレーザ発振波長の波長変換ピークとの整合
JP2013089754A (ja) 波長可変半導体レーザの制御方法
JPWO2019160064A1 (ja) 光モジュール、その波長制御方法およびそのキャリブレーション方法
US20100111119A1 (en) External resonator type wavelength variable semiconductor laser
US11705692B2 (en) Laser side mode suppression ratio control
JP5333238B2 (ja) 波長可変レーザ装置及びその波長切替方法
US9042415B2 (en) Method to tune emission wavelength of semiconductor laser diode
US9742149B2 (en) Method for controlling tunable wavelength laser
JP6292499B2 (ja) 波長可変レーザの制御方法
JP2004221267A (ja) 高速波長可変分布帰還型半導体レーザアレイ及び分布帰還型半導体レーザ
US20220376473A1 (en) Laser apparatus and control method therefor
JP7259562B2 (ja) 波長可変光源及びその波長制御方法
WO2023084673A1 (ja) 波長可変光源装置および波長制御方法
JP6256746B2 (ja) 波長可変レーザの制御方法
JP5395235B2 (ja) 波長可変光送信器および光送受信器
JP6555698B2 (ja) 波長可変レーザの制御方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110908

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20121218

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130201

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130702

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130715

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees