JP5331477B2 - セラミック電球とその製造方法 - Google Patents

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Description

本発明は概ね、照明システムの分野、とりわけ高圧放電電球に関する。
高圧放電電球とは一般的に、アーク管、アーク管の相反する末端に接しかつ差込まれ封止されている末端プラグ、その相反する末端プラグにわたって延びるリード線、アーク管内のそれぞれのリード線に連結されたアーク電極チップ、および様々な構成部分間の単数または複数の封止材とを含む。このような電球の構成部分は通常、異なる材料から作られており、電球は、高温(例えば900℃〜1200℃)や高圧(例えば15psi〜6000psi)、および電球内の腐食性調量材(例えばハロゲン化物)といった特定の作動状態に対して耐性である。しかし、こうした異なる材料は異なった熱膨張率(CTE)を有しており、電球の作動中に熱応力や亀裂を引き起こす恐れがある。例えば、リード線と末端プラグおよび/またはアーク管との間の継ぎ目は、リード線、末端プラグおよび/またはアーク管、ならびに封止材の異なるCTEにより、熱応力や亀裂の影響を受ける恐れがある。
米国特許第5,592,049A号 米国特許第6,224,449B1号 欧州特許第0807957A2号 英国特許第816135A号 独国特許第1182842B号
それゆえに、アーク管および/または末端プラグと比較的適合したCTEを有する導電性かつ耐食性リードシステムが求められている。
一実施形態において、本発明が提供する電球はセラミックアーク外管と、このセラミックアーク外管に連結され、セラミックアーク外管の開口部を横切って延びる末端構造体とを有し、この末端構造体はセラミックアーク外管の内室と連通した通路を含む。電球はさらに、通路内を延びかつ通路で封止されたモリブデンレニウム電極リードを含み、このモリブデンレニウム電極リードはモリブデンレニウム合金からなる。さらに、電球は内室内の電極リードに連結されたアーク電極チップを含む。
別の実施形態において本発明は、照明装置を含むシステムを提供する。この照明装置は、内部を有するセラミックアーク外管と、セラミックアーク外管内に配置された調量材とを含み、この調量材は腐食性材料を含む。照明装置はさらに、セラミックアーク外管に連結され、セラミックアーク外管の開放末端を横切って延び、内部と連通した中空脚部を含む末端構造体と、少なくとも部分的に中空脚部内を延びるモリブデンレニウム合金からなる電極リードと、コイル組立体に連結されたアーク電極チップとを含む。
さらに別の実施形態において、本発明は電球製造方法を提供する。該方法は、セラミックアーク外管の開放末端に末端構造体を連結し、かつそれを横切って延ばすステップと、末端構造体内を延びる通路内に、モリブデンレニウム合金からなるモリブデンレニウム電極リードを配置するステップとを含む。該方法はさらにモリブデンレニウム電極リードを通路に対して封止するステップからなる。
本発明のさらなる実施形態において、電球作動方法を提供する。該方法は、セラミックアーク外管内の電極チップに連結されたモリブデンレニウム電極リードを介してハロゲン化物の作用および熱機械的応力を減らすステップを含み、モリブデンレニウム電極リードはモリブデンレニウム合金からなる。
本発明のこれら、または他の特徴、実施形態および利点は、添付図面を参照し以下の詳細な説明を読むことでより良く理解されるであろう。全図面を通して、同様の参照符号は同様の構成要素を示す。
本発明の実施形態において、電球の性能および機械的安定性を向上させる、モリブデンレニウム電極リードを用いた電球を提供する。有利には、少なくとも部分的に、モリブデンレニウム電極リードとセラミックアーク外管との熱膨張率をより近値にすることにより、モリブデンレニウム電極リードは、セラミックアーク外管内の熱機械的応力を低減する。また、セラミックアーク外管内に用いられた調量材(例えばハロゲン化金属)に対するその一般的耐薬品性により、モリブデンレニウム電極リードはハロゲン化物の作用を低減する。さらに、本発明の電球は、電極リードを末端構造体に連結するために短い封止ガラスを用いることにより、封止工程を可能にすることができる。上述のこれらの特徴を、本発明のいくつかの例示的な実施形態を示す図面を参照して、以下で詳細に説明する。なお、開示された特徴の様々な組合せおよび変更も、本発明の範囲内に含むものとする。
図1は、本発明の特定の実施形態による、内部の特徴を表す例示的な電球10の断面図である。図2は、図1の電球10の側断面図である。図1、図2に示すように、電球10は気密封止された中空体組立体またはアーク外管組立体12を含む。以下でさらに詳しく説明するように、アーク外管組立体12はセラミックアーク外管14を含む。特定の実施形態において、セラミックアーク外管14は、石英、イットリウムアルミニウムガーネット、イッテルビウムアルミニウムガーネット、微粒多結晶質アルミナ、多結晶質アルミナ、サファイア、およびイットリアから作られている。アーク外管組立体12の他の構成部分は、多結晶質アルミナ(PCA)のような従来の電球材料から成形することができる。
さらに、図示の実施形態において、末端構造体16、18は、セラミックアーク外管14の相反する末端20、22の開口部を横切って延びて連結されている。すなわち、末端構造体16、18は一般的に、セラミックアーク外管14の相反する末端20、22を覆いかつふさぐ。さらに、図示のように、封止材すなわちシーラント21、23を用いて、末端構造体16、18をセラミックアーク外管14に封止することができる。いくつかの実施形態において、これらの封止材は、アルミン酸カルシウム、ディスプロシアアルミナシリカ、マグネシアアルミナシリカ、およびイットリアカルシアアルミナなどの封土ガラスを含むことができる。ニオブ系真鋳を含む他の非ガラス封止材も使用可能である。明らであるように、前述の結合に使われる封止材21、23は、少なくとも部分的に、例えばアーク外管14や末端構造体16、18といった様々な電球構成部分に使われる材料の種類に基づく特徴を備えている。例えば、いくつかの実施形態において、電球10は、多結晶質アルミナ(PCA)末端構造体16、18に結合されているサファイア管状アーク外管14から成形されている。さらに他の例を挙げると、いくつかの実施形態において、電球10は、アルミナ(PCA)と類似の膨張率(CTE)を有するサーメット末端構造体16、18に結合されているYAG管状アーク外管14から成形されている。封止材21、23は一般的に、例えばPCA/サファイア封止接触面のように、アーク外管14と末端構造体16、18のそれぞれの接触面での応力を制御するCTEを有する。例えば、封止材21、23は、冷却によって発生する引張応力を最小限に抑えるニオブ真鍮または封止ガラスを含むことができ、例えば封止ガラスは、PCAの平均値およびa軸または辺縁がはっきりし増大したサファイアの半径値であるCTE値をもつ。特定の実施形態において、例えば封止ガラスのような封止材の局所的な微細構造の発生を制御するために、封止材21、23に局所加熱が施される。
他の実施形態において、末端構造体16、18を、いずれの封止材を使うことなく、材料拡散を介してアーク外管14の相反する末端20、22に拡散接合することができる。例えば、局所加熱(例えばレーザ)が末端構造体16、18と相反する末端20、22との間の接触面に施され材料が共に接合され、それによって気密封止を作り出す。さらに、末端構造体16、18がセラミック部品を含む特定の実施形態において、末端構造体16、18とアーク外管14は共に焼結することができる。
さらに、特定の実施形態において、末端構造体16、18は扁平構造体24、26を含み、扁平構造体24、26は、セラミックアーク外管14の内室32と連通した中空脚部または通路28、30のような突出した通路への開口部を有する。さらに、特定の実施形態において、調量材が内室32内に配置される。図示の実施形態において、中空脚部28、30を、調量材をセラミックアーク外管14の内室32内へと注入する調量管として使用することもできる。特定の実施形態において、調量材は、水銀を含まない、すなわち、調量材は水銀以外の単数または複数の材料からなる。特定の実施形態において、調量材は、希ガスまたは金属またはハロゲン化金属またはそれらの組合せからなる。これらの実施形態において、希ガスは、アルゴンまたはキセノンまたはクリプトンまたはそれらの組合せを含むことができる。さらに、これらの実施形態において、金属は、水銀、またはジルコニウム、またはチタン、またはハフニウム、またはガリウム、またはアルミニウム、またはアンチモン、またはインジウム、またはゼラニウム、またはスズ、またはニッケル、またはマグネシウム、または鉄、またはコバルト、またはクロム、またはインジウム、または銅、またはカルシウム、またはリチウム、またはセシウム、またはカリウム、またはイットリウム、またはタンタル、またはタリウム、またはランタン、またはセリウム、またはプラセオジム、またはネオジム、またはサマリウム、またはユーロピウム、またはイットリウム、またはガドリニウム、またはテルビウム、またはジスプロシウム、またはホルミウム、またはエルビウム、またはツリウム、またはルテチウム、またはスカンジウム、またはイッテルビウム、またはそれらの組合せを含むことができる。いくつかの実施形態において、調量材は、希ガスおよび水銀を含む。他の実施形態において、調量材は、臭化物のようなハロゲン化物または希土ハロゲン化金属を含む。これらの実施形態において、調量材は、ハロゲン化物、またはハロゲン化金属、または水銀、またはナトリウム、またはヨウ化ナトリウム、またはヨウ化タリウム、またはヨウ化ジスプロシウム、またはヨウ化ホルミウム、またはヨウ化ツリウム、または貴ガス、またはアルゴン、またはクリプトン、またはキセノン、またはそれらの組合せを含む。いくつかの実施形態において、調量材は腐食性である。したがって、これらの実施形態においては、腐食性調量材に対して耐性である材料から末端構造体を作ることが望ましい。これらのいくつかの実施形態において、末端構造体16、18は、ジルコニア安定化サーメット、アルミナタングステン、または他の伝導性または非伝導性材料のような様々なセラミックや他の適した材料から、用途に応じて成形される。
特定の実施形態において、アーク外管14は、中空円柱または中空楕円形または中空球体または電球形または長方形の管または他の適した中空透明体のような、様々な異なる幾何構造を有することができる。さらに、以下で詳細に説明するように、末端構造体16、18は様々な形状を有することができ、少なくとも部分的にセラミックアーク外管14内に延びるプラグ形状またはアーク外管14の相反する末端20、22の端の周りを少なくとも部分的にオーバラップするキャップ形状などがある。他の実施形態において、末端構造体16、18は実質的に平らな接続表面を有することができ、この接続表面は、内室内に延びることなく、またはアーク外管組立体12(例えばアーク管)に巻きつくことなく、相反する末端20、22に対してぴったりと封止されている。
さらに、図示のアーク外管組立体12は、モリブデンレニウム電極リード34、36を含み、モリブデンレニウム電極リード34、36は、封止ガラス38、40を用いて、通路28、30内を延びかつ通路28、30で封止されている。作動中、電極リードは、電力源から電極チップ42、44への電力供給を促進し、電極チップ42、44間にアークを生じさせる。明らかであるように、封止ガラス38、40と中空脚部28、30に用いる材料および電極リード34、36との間で温度が一致することが望ましい。いくつかの実施形態において、封止ガラス38、40は、アルミン酸カルシウム、ディスプロシアアルミナシリカ、マグネシアアルミナシリカ、およびイットリアカルシアアルミナなどの材料からなることができる。有利には、図2のように、封止材38、40の長さ39、41は、中空脚部28、30に用いられる材料と電極リード34、36によって、この3つの構成部分間の温度をより一致させるために可変である。
さらに、特定の実施形態において、電極リード34、36に用いられるモリブデンレニウム合金は約35重量パーセント〜約55重量パーセントのレニウムを含む。いくつかの実施形態において、モリブデンレニウム合金は約40重量パーセント〜約48重量パーセントのレニウムを含む。明らかであるように、これらの電球の高温および高圧作動による作動上の制限のため、これらの電球の様々な構成要素は異なる種類の材料から作られる。CTE(熱膨張率)が実質的に一致しないことにより熱応力と亀裂が生じる可能性があることに鑑みて、電極リード34、36およびアーク外管14に同等のCTEをもたらすことにより、熱応力と亀裂の可能性を低減することが望ましい。したがって、これらのいくつかの実施形態において、モリブデンレニウム合金のCTEは約5.5×10−6/K〜約7×10−6/Kの範囲内で変化する。これらの実施形態において、セラミックアーク外管14のCTEは約7.5×10−6/K〜約9×10−6/Kの範囲内で変化する。例示的な一実施形態において、モリブデンレニウム合金のCTEは約6×10−6/K〜約7×10−6/Kの範囲内である。さらに、電極リード34、36に用いられているモリブデンレニウム合金は一般的に腐食性調量材(例えばハロゲン化金属)に対して耐性である。さらに、これらの実施形態において、電極リード34、36の延性が約0.1パーセント〜約3.0パーセントの範囲内である。明らかであるように、リードシステムの延性が高いことにより、例えば曲がる時に、電極リード34、36の破損や亀裂の可能性が低減する。さらに、電球の封止および後続の作動時に生じ得る熱応力を最小限に抑えるため、封止材38、40と電極リード34、36およびセラミックアーク外管14の両方との間のCTEは実質的に近値であることが望ましい。
さらに、電極チップ42、44は、オーバラップ46、48のようなオーバラップを含むことができる。明らかであるように、これらのオーバラップ46、48は時として熱吸収源として作用し、電極チップ42、44からの熱を吸収し、周囲に熱を消散させる。いくつかの実施形態において、電極チップ42、44および/またはオーバラップ46、48はタングステンまたはタングステン合金またはレニウムまたはレニウム合金またはタンタルまたはタンタル合金またはそれらの組合せからなることができる。
図3に示す代替的な一実施形態において、電球50は、セラミックアーク外管14と、セラミックアーク外管14の相反する末端20、22に連結されている末端構造体16、18とを含むアーク外管組立体52内に配置された代替的なリードシステムを用いる。図示のように、末端構造体16、18は扁平構造体24、26を含み、扁平構造体24、26は、内室32と連通した中空脚部または通路28、30のような突出した通路へ延びる開口部を有する。さらに、アーク外管組立体52は、封止ガラス58、60を用いて通路28、30内を延びかつ通路28、30で封止されている電極リード54、56を含む。図示の実施形態において、電極リード54はマンドレル62のようなシャンクを含み、シャンクはマンドレル62の周面の周りに全長にわたって巻き付けられたコイルオーバラップ64を含む。同様に、電極リード54の反対側に配置された電極リード56はマンドレル66のようなシャンクを含み、シャンクはマンドレル66の周面の周りに全長にわたって巻き付けられたコイルオーバラップ68を含む。明らかであるように、マンドレル62、66およびオーバラップ64、68の寸法は、通路28、30の寸法に対応し、合致する。例えば、いくつかの実施形態において、マンドレル62、66の直径は約0.40mm、そしてオーバラップ64および/または68の直径は約0.125mmとすることができる。同様に、比較的長い直径の通路28、30を備えた電球では、マンドレル62、66の直径は約0.50mm、そしてオーバラップ64および/または68の直径は約0.175mmとすることができる。同様に、さらに長い直径の通路28、30を備えた電球においては、マンドレル62、66の直径は約0.90mm、そしてオーバラップ64および/または68の直径は約0.3mmとすることができる。なお、その他の寸法も開示の実施形態の範囲に含むものとする。
さらに、いくつかの実施形態において、マンドレル62、66は第1モリブデンレニウム合金から成形され、コイルオーバラップ64、68は、マンドレルの第1モリブデンレニウムと同じもしくは異なる第2モリブデンレニウム合金から成形される。したがって、いくつかのこれらの実施形態において、モリブデンレニウム合金は約35重量パーセント〜約55重量パーセントのレニウムを含む。さらに、これらの実施形態において、オーバラップ64、68を、モリブデンまたはモリブデン合金または第2モリブデンレニウム合金またはタングステンまたはそれらの組合せから作ることができる。いくつかの実施形態において、マンドレルとオーバラップを、実質的に同等なモリブデンレニウム合金から作ることができる。明らかであるように、オーバラップ64、68によって、封止ガラス58、60と電極リード54、56の接点でマンドレル62、66にかかる応力の分配が可能となり、それによって、応力により引起されるマンドレル内のいかなる亀裂または構造的欠陥が生じる可能性も大いに低減することができる。さらに、封止ガラス58、60の長さ59、61は、マンドレルまたはコイルオーバラップの構造次第で変化する。さらに、図示のように、内室32内に配置されている2つの電極リード54、56の末端は電極チップ70、72に連結されている。図1を参照し上述したように、電極チップ70、72は、電極チップの周りに配置されるタングステンオーバラップのようなオーバラップ74、76をさらに有することができる。
図4において、図1の電球の代替的な一実施形態の断面図を示し、以下にそれを説明する。図2および図3のように、現在熟考されている実施形態はアーク外管組立体80に組み込まれる選択的リードシステムを有する電球78を含み、このアーク外管組立体80は、セラミックアーク外管14とセラミックアーク外管14の相反する末端20、22に連結された末端構造体16、18とを含む。さらに、末端構造体16、18は、扁平構造体24、26を含み、この扁平構造体24、26は内室32に連通した中空脚部28、30のような突出した通路に延びる開口部を有する。図示の実施形態において、電極リード82、84は中空脚部28、30内に配置され、かつそれぞれがコイル組立体に連結されたシャンクを有する2成分構造を有する。例えば、図示の実施形態において、電極リード82はコイル組立体88に連結されたシャンク86を含み、コイル組立体88はマンドレル90とマンドレル90の周面の周りに全長にわたって巻き付けられたコイルオーバラップ92とを含む。同様に、電極リード84はコイル組立体96に連結されたシャンク94を含み、コイル組立体96はマンドレル98とマンドレル98の周面の周りに全長にわたって巻き付けられたコイルオーバラップ100とを含む。
特定の実施形態において、シャンク86、94およびコイル組立体88、96はモリブデンレニウム合金からなることができる。これらの実施形態において、モリブデンレニウム合金は約35重量パーセント〜約55重量パーセントのレニウムを含む。代替的な実施形態において、コイルオーバラップ92、100を、モリブデンまたはモリブデン合金または第2モリブデンレニウム合金またはタングステンまたはそれらの組合せから作ることができる。
さらに、電球78は、電極リード82、84に連結された電極チップ99、101を含む。図示の実施形態において、電極チップ99、101は、オーバラップ103、105のようなオーバラップを含むことができる。明らかであるように、これらのオーバラップ103、105は時として熱吸収源として作用し、電極チップからの熱を吸収し、周囲に熱を消散させる。いくつかの実施形態において、電極チップ99、101および/またはオーバラップ103、105はタングステンまたはタングステン合金またはレニウムまたはレニウム合金またはタンタルまたはタンタル合金またはそれらの組合せからなることができる。
さらに、現在熟考されている実施形態において、封止ガラス102、104は電極リード82、84を中空脚部28、30に結合する。図示の実施形態において、封止ガラス102、104はシャンク86、94上に配置されるが、明らかであるように、代替的に、封止ガラス102、104をコイル組立体88、96上に配置することもできる。明らかであるように、封止ガラス102、104がコイル組立体88、96上に配置される実施形態において、ほかの場合ではマンドレル90、98にかかる応力も、マンドレル上のコイルオーバラップの存在により再分配することができ、それによって、応力によりマンドレル内のいかなる亀裂または構造的欠陥も生じる可能性を大いに低減できる。さらに、封止ガラス102、104の長さ106、108は、マンドレル、コイルオーバラップ、またはシャンクの構造次第で変化する。
さらに、図5、図6において、図1の末端構造体16、18の代替的な実施形態を示す。図5において、2つのプラグ形末端構造体112、114を用いた例示的電球110の代替的な一実施形態の断面図を示し、その説明を以下に記す。図示の実施形態において、電球110にはセラミックアーク外管14、セラミックアーク外管14の相反する末端20、22に差込まれた末端構造体112、114を用いる。さらに、図示の実施形態において、プラグ形末端構造体112、114は中空脚部または通路116、118を有することができ、この中空脚部または通路116、118は電極リード34、36のような電極リードを収容する。図示の実施形態において、電極リード34、36は封止ガラス115、119を用いて通路116、118に連結される。図示のように、外管14の相反する末端20、22と末端構造体112、114との間に配置される封止材120、122を用いて、末端構造体112、114はセラミックアーク外管14に気密封止される。図示のように、封止材120、122の封止接触面はアーク外管14の相反する末端20、22にわたって延びかつアーク外管14の内室表面内に延びる。
図6において、セラミックアーク外管14を有する電球123の代替的な一実施形態の断面図を示し、その説明を以下に記す。図示の実施形態において、電球123は、セラミックアーク外管14の相反する末端20、22に連結されたキャップ形末端構造体124、126を含む。さらに、末端構造体124、126は、キャップ形末端構造体124、126から突出し、かつ電極リード34、36のような電極リードを収容する中空脚部または通路132、134を有する。さらに、電極リード34、36は、封止ガラス136、138によって通路132、134に連結している。図示のように、外管14と末端構造体124、126との間に配置される封止材140、142を用いて、末端構造体124、126はセラミックアーク外管14に気密封止される。図示のように、封止材140、142の封止接触面はアーク外管14の相反する末端20、22にわたって延びかつアーク外管14の内室表面内に延びる。明らかであるように、図5および図6の実施形態においては、図1〜図4の電極リードを、本発明の代替的な実施形態の通路116、118および/または通路132、134に適合させることができる。
図7において、図1、図2の電球の特定の特徴を組み入れ、さらに構成部分間の特有の封止を有する電球144の代替的な一実施形態の断面図を示す。図示の実施形態において、電球144は、相反する末端20、22を含むセラミックアーク外管14を含む。図示のように、相反する末端20、22は、封止材を使わずに継ぎ目150、152で末端構造体146、148にぴったりと封止されている。例えば、拡散結合、または隣接するアーク外管14および末端構造体146、148の材料を共に焼結することにより、継ぎ目150、152をぴったりと封止することができる。さらに、これらの構成部分間の接触面周辺に局所加熱(例えばレーザ光線)を施すことにより継ぎ目150、152をぴったりと封止することが可能となる。
図8において、図1の電球の代替的な一実施形態の断面図を示す。図示の実施形態において、電球154は、相反する末端160、162を備えた外管158を有するアーク外管組立体156を含む。さらに、電球154は内室157とセラミックアーク外管156の相反する末端160、162に差込まれた末端構造体164、166とを含む。電球154はさらに、電極チップ171、172のそれぞれに連結した電極リード168、170を含む。いくつかの実施形態において、電極リード168、170はそれぞれ末端構造体164、166に焼嵌めすることができる。例えば、電極リード168、170を末端構造体164、166に継ぎ目175、177で焼結接合することにより、電極リード168、170はリード受け口174、176に焼嵌めすることができる。
さらに、電球154はプラグ部材178を含み、このプラグ部材178は、本発明による実施形態の末端構造体166の調量通路180から突起している。明らかであるように、電球154は調量通路180にわたって調量材で満たされている。図1を参照し上述したように、いくつかの実施形態において、調量材は希ガスと水銀を含む。他の実施形態において、調量材は臭化物のようなハロゲン化物または希土ハロゲン化金属を含む。いくつかの実施形態において、調量材は水銀を含まないことがある。調量通路180は続いてプラグ部材178によって封止される。例えば、プラグ部材178は、封止材、拡散結合(例えば局所加熱を用いて)または他の適した封止技術によって封止することができる。いくつかの実施形態において、プラグ部材178は、サーメットのような末端構造体166と実質的に類似または一致した熱膨張率を有する材料からなる。
図示のように、末端構造体164、166は封止材182、184によってセラミックアーク外管158にぴったりと封止されている。上述のとおり、前述の結合に用いられる封止材182、184は、少なくとも部分的に、例えばアーク外管158および末端構造体164、166といった様々な電球構成部分に使用する材料の種類に基づく特徴を備えている。代替的な一実施形態において、末端構造体164、166は封止材を用いてまたは封止材なしでセラミックアーク外管158にぴったりと封止することができる。
図8において、実施形態の電極リードは、図2の電極リードと同等のものを用いているが、明らかであるように、図3、図4に示す図2の電極リードの代替的な実施形態もまた電球158を用いることができる。同様に、代替的な実施形態において、末端構造体164、166を、用途に応じて、図5、図6の末端構造体と同等とすることができる。図9〜図12は、図2におけるアーク外管組立体12の、本発明による実施形態の材料調量および封止工程をさらに示す、側断面図である。明らかであるように、図示の工程を、図3〜図8に示す組立体のようなアーク外管組立体の他の実施形態にも適用できる。図9に示す実施形態において、アーク外管組立体12は、電極リード34、36を収容する2つの通路28、30を含む。図9に示す実施形態において、これらの通路28、30はさらに調量管として作用する。図示のように、2つのうち一方の通路30は他方の通路28より前に封止されるので、他方の通路28を、アーク外管組立体12に調量材を注入するために使うことができる。いったん通路30が封止されると、アーク外管組立体12は単数または複数の処理システムに連結し、アーク外管組立体12に適切な調量材を提供することができる。
図10おいて、矢印187、188で表す処理システム186が、アーク外管14内に現在あるいずれの物質189も排出するように作動する、本発明による一実施形態を示す。例えば、処理システム186と調量通路28との間で管類を連結することができる。図11において、図10同様、いったんアーク外管組立体12が空になると、矢印192、193で表すように、処理システム186は続けてアーク外管14に単数または複数の調量材190を注入する。例えば調量材190は希ガス、水銀、ハロゲン化物などを含む。
さらに、調量材190を、気体、液体、または調量ピルなどの固体の形状でアーク外管14に注入することができる。図12に示すように、適切な調量材190がアーク管14に注入されると、本発明では続けて通路28が閉じる。それに加えて、レーザなどの局所加熱を気密封止38に施すことができ、通路28をよりよく結合し閉鎖する。
図13において、電球製造のための例示的なステップ194、および図1〜図8を参照し説明するシステムを示す。図示のように、ステップ194は、セラミックアーク外管に末端構造体を連結し、セラミックアーク外管を横切って延ばすこと(ブロック198)から始まる。ブロック200において、末端構造体にわたって延びる通路内のマンドレルの周りにコイル組立体を配置するステップを示す。ここで、コイルとマンドレルはそれぞれモリブデンレニウム合金からなる。さらに、ブロック202において、上述のように封止材を用いて調量通路を封止するステップを示す。
図14〜図16において、例えば図1〜図8を参照し説明する、本発明による実施形態の電球を用いた、例示的なシステムを示す。特定の実施形態において、本発明の電球を、ハウジングをさらに含むシステムに用いることができる。いくつかの実施形態において、ハウジングは、セラミックアーク外管を少なくとも部分的に取り囲む反射外シュラウドを含む。さらに、ハウジングは、電極リードに電気的に連結された安定器221も含む。明らかであるように、安定器221を、電球に始動電圧を印加し、電流フローまたは電極チップ間のアークを安定させるように設計する。いったん電球が作動すると、安定器を、電極リードへの電流供給を調整するために使用することもできる。図14において、本発明の実施形態による、アーク外管組立体208を収容する囲い206を有する反射性電球組立体204の一実施形態を示す。明らかであるように、代替的な実施形態において、アーク外管208は、図1〜図8のいずれのアーク組立体にも置換できる。さらに、囲い206は湾曲反射面210、中心背面通路または取付連結部212、および前面光源開口部214を含む。図示のように、アーク外管組立体208は取付連結部212内に取り付けられているので、光線216は、組立体208から、通常湾曲した反射面210の外方へ向かうが、次いで、矢印218で表すように、湾曲表面210によって前面光源開口部214方向に反射する。前面光源開口部214において、図示の反射性電球組立体208は透明または半透明のカバー220も含み、このカバー220は扁平またはレンズ形構造であることができ、アーク外管組立体208からの光源を焦点に集めかつ方向付ける。それに加えて、カバー220は、赤、青、緑、またはそれらの組合せのような着色を含むこともできる。
特定の実施形態において、反射性電球組立体204を、輸送システム、ビデオシステム、一般用途照明アプリケーション(例えば屋外照明システム)などの様々な用途に組み入れ、または適合させることができる。例えば、図15において、図14に示した反射性電球組立体204を含むビデオ映写システム222の一実施形態を示す。図16において、さらなる実施例として、本発明の特定実施形態による1組の反射性電球組立体204を有する自動車などの車両224を示す。
本明細書において、本発明の特定の特徴のみを図示し説明しているが、そこから当業者は多くの修正および変更を考えつくであろう。したがって、添付の特許請求の範囲は、本発明の真の精神の範囲内におけるすべてのそのような修正および変更を包含することを意図することは理解されよう。
セラミックアーク外管と、このセラミックアーク外管に連結され、セラミックアーク外管の相反する末端でセラミックアーク外管の開口部を横切って延びる末端構造体とを有し、また通路とモリブデンレニウム電極リードとを有し、この電極リードは通路内を延びかつ通路で封止されている、本発明による例示的な実施形態の電球を示す断面斜視図である。 セラミックアーク外管と、このセラミックアーク外管に連結され、セラミックアーク外管の開口部を横切って延びる末端構造体とを有し、また、通路とモリブデンレニウム電極リードとを有し、この電極リードは通路内を延びかつ通路で封止されている、本発明による代替的な実施形態の電球を示す断面図である。 セラミックアーク外管と、このセラミックアーク外管に連結され、セラミックアーク外管の開口部を横切って延びる末端構造体とを有し、また、通路とモリブデンレニウム電極リードとを有し、この電極リードは通路内を延びかつ通路で封止されている、本発明による代替的な実施形態の電球を示す断面図である。 セラミックアーク外管と、このセラミックアーク外管に連結され、セラミックアーク外管の開口部を横切って延びる末端構造体とを有し、また、通路とモリブデンレニウム電極リードとを有し、この電極リードは通路内を延びかつ通路で封止されている、本発明による代替的な実施形態の電球を示す断面図である。 本発明による代替的な実施形態の、電球内に用いる末端構造体を示す断面図である。 本発明による代替的な実施形態の、電球内に用いる末端構造体を示す断面図である。 図1〜図2の電球が有する末端構造体は拡散結合を介してセラミックアーク外管にぴったりと封止されている、図1〜図2の電球の代替的な実施形態を示す断面図である。 本発明による実施形態の、それぞれの末端構造体内で焼嵌めされた電極リードを含む電球を示す断面図である。 本発明による実施形態の、電球調量方法の特定の実施形態をさらに示す、図2の電球の断面図。 本発明による実施形態の、電球調量方法の特定の実施形態をさらに示す、図2の電球の断面図。 本発明による実施形態の、電球調量方法の特定の実施形態をさらに示す、図2の電球の断面図。 本発明による実施形態の、電球調量方法の特定の実施形態をさらに示す、図2の電球の断面図。 本発明による特定の実施形態の、例示的な電球製造方法を示す流れ図である。 本発明による特定の実施形態の、セラミック電球が反射性外シュラウド内に配置されたセラミック電球を有する、自動車ヘッドランプ等の反射性電球組立体の断面図である。 本発明による特定の実施形態の、セラミック電球を有するビデオ映写システムを示す斜視図である。 本発明による特定の実施形態の、セラミック電球を有する自動車等の車両を示す斜視図である。
符号の説明
10 電球
14 セラミックアーク外管
16、18 末端構造体
28、30 通路
34、36 電極リード
42、44 アーク電極チップ

Claims (7)

  1. セラミックアーク外管(14)と、
    前記セラミックアーク外管に連結され、前記セラミックアーク外管の開口部を横切って延び、前記セラミックアーク外管の内室(32)と連通した通路(30)を含む末端構造体(16)と、
    前記通路内を延び、前記通路で封止され、35重量パーセント〜55重量パーセントのレニウムを含むモリブデンレニウム合金からなるモリブデンレニウム電極リード(34)であって、前記モリブデンレニウム合金からなるマンドレル(98)と、前記マンドレルの周面の周りに巻き付けられて全長にわたって延びた前記モリブデンレニウム合金からなるコイル(96)とを含む電極リード(34)と、
    前記内室内の前記電極リードに連結されたアーク電極チップ(171)と
    を含む電球(10)。
  2. 前記モリブデンレニウム合金が、40重量パーセント〜48重量パーセントのレニウムを含む、請求項1記載の電球。
  3. 前記モリブデンレニウム合金の熱膨張率が5.5×10-6/K〜7×10-6/Kの範囲内である、請求項1記載の電球。
  4. 前記電極リードの延性が0.1パーセント〜3.0パーセントの範囲内である、請求項1記載の電球。
  5. 前記モリブデンレニウム電極リードが、前記マンドレル(98)に連結された前記モリブデンレニウム合金からなるシャンク(86)をさらに含む、請求項1記載の電球。
  6. 前記内室内に配置される調量材を含み、前記調量材がハロゲン化物またはハロゲン化金属または両方からなる、請求項1記載の電球。
  7. 照明装置(10)を含むシステムであって、
    前記照明装置が、
    内部を有するセラミックアーク外管(14)と、
    前記セラミックアーク外管内に配置された腐食性材料からなる調量材と、
    前記セラミックアーク外管に連結され、前記セラミックアーク外管の開放末端を横切って延び、前記内部と連通した中空脚部を含む末端構造体と、
    少なくとも部分的に前記中空脚部内を延びる、35重量パーセント〜55重量パーセントのレニウムを含むモリブデンレニウム合金からなる電極リードと、前記電極リードに連結されたアーク電極チップ(171)と、
    前記セラミックアーク外管を少なくとも部分的に取り囲む反射外シュラウドを含むハウジング(204)と、
    前記電極リードに電気的に連結された安定器(221)と
    を含んでおり、前記電極リードが前記モリブデンレニウム合金からなるマンドレル(98)と、前記マンドレルの周面の周りに巻き付けられて全長にわたって延びた前記モリブデンレニウム合金からなるコイル(96)とを含んでいる、システム。
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