JP5329539B2 - 表示装置および表示装置の駆動方法 - Google Patents

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Description

本発明は、表示領域にフォトセンサを備えた表示装置に関する。
液晶表示装置の画素回路にフォトセンサを備えた構成のものがあり、指紋認証やタッチパネルへの応用が試みられている。
図6に、特許文献1に記載されたこのような表示装置が備える表示領域の構成と、当該表示領域を駆動する回路ブロックとを示す。
表示領域において、アレイを構成する画素18は、液晶容量CLC、補助容量C2、TFTM4などで構成される表示回路の他に、センサ回路10を備えている。センサ回路10は、nチャネル型のアンプTFTM1、フォトセンサD1、および、容量C1を備えている。
表示回路において、TFTM4のゲートはゲートラインGLに接続されており、TFTM4のソースはデータライン6’に接続されている。液晶容量CLCは、TFTM4のドレインに接続された画素電極と共通電圧VCOMが印加された共通電極との間に形成されている。補助容量C2は、画素電極と共通配線TFTCOMとの間に形成されている。
ゲートラインGLおよび共通配線TFTCOMはゲートドライバ15により駆動され、データライン6’はソースドライバ14により駆動される。
センサ回路10において、フォトセンサD1のカソードと容量C1の一端とは互いに接続されており、アンプTFTM1のゲートは、フォトセンサD1と容量C1との接続点に接続されている。アンプTFTM1のドレインはデータライン6’に接続されており、アンプTFTM1のソースはセンサ出力配線6に接続されている。データライン6’は、データ信号の書き込み期間外に設けられるセンサ駆動期間に、図示しないスイッチを介してセンサ読み出しドライバ17によって駆動され、センサ出力配線6の電圧はセンサ読み出しドライバ17によって読み取られる。
フォトセンサD1のアノードはリセット配線RSTに接続されており、容量C1の他端は行選択配線RSに接続されている。リセット配線RSTおよび行選択配線RSは、センサ行ドライバ16により駆動される。
図7に、上記センサ回路10を具体的に構成する場合の詳細な回路構成を示す。アンプTFTM1のドレインは、データライン6’に接続され、センサ駆動期間にセンサ読み出しドライバ17から電圧Vddを印加される。アンプTFTM1のソースはセンサ出力配線6にセンサ出力電圧Voutを出力する。アンプTFTM1のゲートとドレインとの間には容量Cagdが形成されており、アンプTFTM1のゲートとソースとの間には容量Cagsが形成されている。
フォトセンサD1はTFT101のダイオード接続で構成されており、TFT101のゲートとドレインとが互いに接続されてなるアノードAと、TFT101のソースからなるカソードKとを有している。アノードAはリセット配線RSTから電圧Vrstを印加される。アノードAとカソードKとの間、すなわちTFT101のゲートとソースとの間には、容量Cdgsが形成されている。
容量C1は容量値Cstを有しており、上記他端には行選択配線RSから電圧Vpulse1が印加される。
アンプTFTM1のゲートと、フォトセンサD1のカソードと、容量C1の一端との接続点をノードNetAと称する。
次に、図8を用いて、上記構成のセンサ回路10の動作について説明する。
センサ駆動期間には、データライン6’はソースドライバ14から切り離され、センサ読み出しドライバ17に接続される。センサ駆動期間の初期の時刻t1に、センサ行ドライバ16からリセット配線RSTに印加する電圧VrstをHighレベル(ここでは0V)とすることにより、フォトセンサD1が順方向に導通し、ノードNetAの電位VnetAはHighレベル(ここでは0V)となる。また、このとき、センサ行ドライバ16から行選択配線RSに印加する電圧Vpulse1をLowレベル(ここでは0V)とされる。センサ読み出しドライバ17からデータライン6’に印加する電圧Vddは直流電圧である15Vに設定されている。
次いで、時刻t2で、センサ行ドライバ16は電圧VrstをLowレベル(ここでは−10V)とする。このとき、フォトセンサD1はアノードAのほうがカソードKよりも電位が低くなるので逆バイアス状態となる。
時刻t2からはチャージ期間T1が開始される。チャージ期間T1ではノードNetAにフォトセンサD1への照射光の強度に応じたチャージが行われる。フォトセンサD1に光が照射されると、カソードKからアノードAへ向って流れるリーク電流が、照射光の強度に応じて変化する。明部においてはリーク電流が大きいために、アノードAすなわち電位VnetAが急速に減少し、暗部においてはリーク電流が小さいために、電位VnetAが緩慢に減少する。
チャージ期間T1が終了する時刻t3において、センサ行ドライバ16は電圧Vpulse1をHighレベル(ここでは20V)とする。すると、電位VnetAは、容量C1による容量結合により負電位から正電位に持ち上げられ、明部と暗部との電位差は保たれる。このとき、アンプTFTM1は導通するが、電位VnetAすなわちアンプTFTM1のゲート電位は、容量Cagdおよび容量Cagsによる容量結合を通したブートストラップ効果によっても持ち上げられる。従って、アンプTFTM1は、ブートストラップ効果のない場合よりも高い出力電圧Voutをソースから出力する。時刻t3からセンサ出力の出力期間T2が開始される。
全容量値Ctotalを、
Ctotal=Cdgs+Cst+Cagd+Cags
とし(但し、右辺の各容量値は容量名で代用した)、
α=Cst/Ctotal
とすると、電圧Vpulse1による電位VnetAの昇圧分ΔVnetAは、
ΔVnetA=α×Vpulse1p−p
となる。但し、Vpulse1p−pはVpulse1のピーク・ツー・ピーク電圧であり、上記例では20Vである。
出力電圧Voutは電位VnetAに応じた電圧となるので、出力期間T2に出力電圧Voutをセンサ読み出しドライバ17によって読み出すことにより、フォトセンサD1のセンサ出力、すなわち、フォトセンサD1への照射光の強度を検出することができる。
出力期間T2が終了する時刻t4において、センサ行ドライバ16は電圧Vpulse1をLowレベル(ここでは0V)とし、センサ駆動期間を終了する。
国際公開WO2007/145347号公報(公開日2007年12月21日) 特開2005−217708号公報(公開日2005年8月11日) 特開平11−26740号公報(公開日1999年1月29日)
しかしながら、上記従来のセンサ回路10においては、出力期間T2にフォトセンサD2のセンサ出力を検出するときに、出力電圧Voutはセンサ出力配線6やAD変換回路の入力部におけるホールドコンデンサなどの、アンプTFTM1のソースよりも下流側の負荷を充電した結果得られる電圧となる。従って、実際には、図9に示すように出力電圧Voutはある時定数に従って上昇し、出力期間T2における出力電圧Voutの最終値が明部と暗部とでどの程度異なっているかが明暗の差として検出されることになる。しかし、アンプTFTM1はソースフォロワとして動作しているため、出力電圧Voutの出力期間T2における最終値の最大値はVout=VnetA−Vth≦Vdd(VthはアンプTFTM1の閾値電圧)であり、明部と暗部との間で得ることのできる出力電圧Voutの最終値の差には限界がある。従来は、この最終値の差が小さいために、明暗を十分に識別することができなかった。
また、表示装置がより高精細化されるにつれて、1つのあるいは1行あたりのセンサ回路10に割り当てることのできるセンサ駆動期間が非常に短くなるので、出力期間T2を、ソースフォロワとして動作するアンプTFTM1が導通状態から遮断状態へと移行する時点よりも手前となる、Vout<VnetA−Vthを満たす非常に短い期間に設定することを余儀なくされる。この結果、明暗の差はますます識別し難いものとなる。
ところが表示パネルをアモルファスシリコンを用いて製造しようとする場合には、アモルファスシリコンを用いたTFTは閾値電圧Vthが大きく移動度が小さいことからアンプTFTM1のアンプ能力がポリシリコンを用いた場合に比べて小さいので、この明暗の識別難を解消するためには、アンプTFTM1の出力時に電位VnetAを高くすることにより大きな出力電流を確保する必要、すなわち、センサ出力の大きなダイナミックレンジを確保する必要がある。また、ポリシリコンを用いる場合でも、より大きなダイナミックレンジを得ようとすれば、同様に電位VnetAを高くする必要がある。
電位VnetAを高くするには、1)電圧Vpulse1のピーク・ツー・ピーク電圧Vpulse1p−pを大きくする、2)容量C1の容量値Cstを大きくする、3)電圧Vddを大きくする、4)アンプTFTM1のチャネル幅Wを大きくする、などの方法が考えられる。しかし、1)の方法ではセンサ行ドライバ16などの電圧Vpulse1を供給するICを高耐圧化する必要がありコストアップを招来する、2)の方法では容量C1の占有面積が増加して画素の開口率が減少する、3)の方法ではセンサ読み出しドライバ17などの電圧Vddを供給するICを高耐圧化する必要があり、コストアップおよび消費電流の増大を招来する、4)の方法ではアンプTFTM1の占有面積が増加して画素の開口率が減少する、などの欠点がある。
このように、画素にフォトセンサを備えた従来の表示装置には、センサ出力のダイナミックレンジを拡大しようとすると、センサ用電源電圧の上昇や画素の開口率の低下をもたらすという問題があった。
本発明は、上記従来の問題点に鑑みなされたものであり、その目的は、表示領域に備えられたフォトセンサのセンサ用電源電圧の上昇や画素の開口率の低下をもたらすことなく、センサ出力のダイナミックレンジを拡大することのできる表示装置および表示装置の駆動方法を実現することにある。
本発明の表示装置は、表示領域に設けられて照射光の強度に応じた信号を出力するフォトセンサと、上記信号をゲート入力とするソースフォロワを構成するnチャネル型のTFTと、上記TFTのソースフォロワ出力を検出することにより上記照射光の強度の検出を行う光強度検出手段とを備えた、マトリクス型の表示装置であって、上記TFTのドレインに、上記信号が上記TFTのゲートに入力されている状態でLowレベルからHighレベルに立ち上がる第1のパルスを有する第1のパルス信号が入力され、上記ゲートに接続された容量を備えており、上記容量の上記ゲートと接続される側とは反対側の一端に、上記第1のパルスの立ち上がりタイミングよりも前にLowレベルからHighレベルに立ち上がるとともに上記第1のパルスの立ち上がりタイミングよりも後にHighレベルからLowレベルに立ち下がる第2のパルスを有する第2のパルス信号が入力されることを特徴としている。
本発明の表示装置の駆動方法は、表示領域に設けられて照射光の強度に応じた信号を出力するフォトセンサと、上記信号をゲート入力とするソースフォロワを構成するnチャネル型のTFTと、上記TFTのソースフォロワ出力を検出することにより上記照射光の強度の検出を行う光強度検出手段とを備えたマトリクス型の表示装置を駆動する、表示装置の駆動方法であって、上記TFTのドレインに、上記信号が上記TFTのゲートに入力されている状態でLowレベルからHighレベルに立ち上がる第1のパルスを有する第1のパルス信号を入力し、上記ゲートに、容量を介して、上記第1のパルスの立ち上がりタイミングよりも前にLowレベルからHighレベルに立ち上がるがるとともに上記第1のパルスの立ち上がりタイミングよりも後にHighレベルからLowレベルに立ち下がる第2のパルスを有する第2のパルス信号を入力することを特徴としている。
本発明の表示装置は、上記課題を解決するために、表示領域に設けられて照射光の強度に応じた信号を出力するフォトセンサと、上記信号をゲート入力とするソースフォロワを構成するnチャネル型のTFTと、上記TFTのソースフォロワ出力を検出することにより上記照射光の強度の検出を行う光強度検出手段とを備えた、マトリクス型の表示装置であって、上記TFTのドレインに、上記信号が上記TFTのゲートに入力されている状態でLowレベルからHighレベルに立ち上がる第1のパルスを有する第1のパルス信号が入力されることを特徴としている。
上記の発明によれば、フォトセンサの出力した信号がTFTのゲートに入力されている状態で、TFTのドレインに第1のパルス信号の第1のパルスが印加されると、TFTのゲート・ドレイン間の容量結合によってゲート電位が上昇するとともに、導通状態となったTFTのゲート・ソース間の容量結合によってゲート電位がさらに上昇する。従って、TFTのゲート電位が従来よりも大きく上昇し、当該ゲート電位に応じた電位となるソースフォロワ出力も、従来より高い電位となる。
これにより、ソースフォロワ出力すなわちフォトセンサ出力のダイナミックレンジが拡大され、フォトセンサへの照射光の明暗の差を光強度検出手段によって従来よりも大きく検出することができる。また、このダイナミックレンジの拡大には、フォトセンサのセンサ用電源電圧を上昇させたり、ゲート電位を上昇させるための素子サイズの拡大などを行ったりする必要はない。
以上により、表示領域に備えられたフォトセンサのセンサ用電源電圧の上昇や画素の開口率の低下をもたらすことなく、センサ出力のダイナミックレンジを拡大することのできる表示装置を実現することができるという効果を奏する。
本発明の表示装置は、上記課題を解決するために、上記ゲートに接続された容量を備えており、上記容量の上記ゲートと接続される側とは反対側の一端に、上記第1のパルスの立ち上がりタイミングよりも前にLowレベルからHighレベルに立ち上がるとともに上記第1のパルスの立ち上がりタイミングよりも後にHighレベルからLowレベルに立ち下がる第2のパルスを有する第2のパルス信号が入力されることを特徴としている。
上記の発明によれば、第1のパルスの立ち上がりよりも先に第2のパルス信号の第2のパルスを容量を介してTFTのゲートに印加することにより、予めゲート電位を上昇させておくことができるので、TFTのドレインに第1のパルスを印加したときに、ゲート電位を非常に大きく上昇させることができるという効果を奏する。
本発明の表示装置は、上記課題を解決するために、上記第2のパルスは、上記第1のパルスの立ち下がりタイミングよりも後にHighレベルからLowレベルに立ち下がることを特徴としている。
上記の発明によれば、第1のパルス期間の全てにおいてソースフォロワ出力の検出が可能になるので、ソースフォロワ出力の検出期間を第1のパルス期間のタイミングのみを基準にして容易に設定することができるという効果を奏する。
本発明の表示装置は、上記課題を解決するために、上記第1のパルスのHighレベルの電位と、上記第2のパルスのHighレベルの電位とは互いに等しいことを特徴としている。
上記の発明によれば、第1のパルスおよび第2のパルスの両方のHighレベルを、同じ電源を用いて供給することができるので、電源部の構成を複雑にすることを回避することができるという効果を奏する。
本発明の表示装置は、上記課題を解決するために、上記第1のパルスの終了時点と上記第2のパルスの終了時点とのうちの早いほうのタイミングで、上記ソースフォロワ出力の電位は上記TFTのゲート電位から上記TFTの閾値電圧だけ差し引いた電位よりも低いことを特徴としている。
上記の発明によれば、ソースフォロワ出力の出力期間が、ソースフォロワ出力がTFTを遮断状態とする電位に達しないような短い期間であるときに、ソースフォロワ出力のダイナミックレンジの拡大により明暗の識別を容易にすることができるので、高精細および高速駆動の光検出を実現することができるという効果を奏する。
本発明の表示装置は、上記課題を解決するために、上記フォトセンサおよび上記TFTは、画素行ごとに設けられていることを特徴としている。
上記の発明によれば、フォトセンサおよびTFTが画素行ごとに設けられていて、各画素行の光検出を順次走査で行う場合に、各走査期間が短くてソースフォロワ出力の出力期間が短くなっても、ソースフォロワ出力のダイナミックレンジの拡大により明暗の識別を容易にすることができるので、高精細および高速駆動の光検出を実現することができるという効果を奏する。
本発明の表示装置は、上記課題を解決するために、上記表示領域はアモルファスシリコンを用いて形成されていることを特徴としている。
上記の発明によれば、アモルファスシリコンを用いてTFTを構成することによりTFTのアンプ能力が低くなっても、ソースフォロワ出力のダイナミックレンジの拡大により明暗の識別を容易にすることができるという効果を奏する。
本発明の表示装置は、上記課題を解決するために、上記第1のパルス信号を生成する回路が、COG(Chip On Glass)の形態で上記表示領域に実装されていることを特徴としている。
上記の発明によれば、COG実装のために用いる第1のパルス信号を生成する回路に、電源電圧に変更のない従来のアーキテクチャによるICチップを適用することができるので、コストを抑制することができるという効果を奏する。
本発明の表示装置は、上記課題を解決するために、上記フォトセンサはダイオード接続されたトランジスタであり、上記フォトセンサのカソードが上記TFTのゲートに接続されていることを特徴としている。
上記の発明によれば、フォトセンサのカソードからアノードへ向って流れるリーク電流が、照射光の強度に応じて変化するので、当該リーク電流に応じたTFTのゲート電位からソースフォロワ出力を導出することができるという効果を奏する。
本発明の表示装置は、上記課題を解決するために、上記表示領域が液晶を表示素子に用いていることを特徴としている。
上記の発明によれば、フォトセンサを備えた液晶表示装置においてソースフォロワ出力のダイナミックレンジの拡大により明暗の識別を容易にすることができるという効果を奏する。
本発明の表示装置の駆動方法は、上記課題を解決するために、表示領域に設けられて照射光の強度に応じた信号を出力するフォトセンサと、上記信号をゲート入力とするソースフォロワを構成するnチャネル型のTFTと、上記TFTのソースフォロワ出力を検出することにより上記照射光の強度の検出を行う光強度検出手段とを備えたマトリクス型の表示装置を駆動する、表示装置の駆動方法であって、上記TFTのドレインに、上記信号が上記TFTのゲートに入力されている状態でLowレベルからHighレベルに立ち上がる第1のパルスを有する第1のパルス信号を入力することを特徴としている。
上記の発明によれば、フォトセンサの出力した信号がTFTのゲートに入力されている状態で、TFTのドレインに第1のパルス信号の第1のパルスが印加されると、TFTのゲート・ドレイン間の容量結合によってゲート電位が上昇するとともに、導通状態となったTFTのゲート・ソース間の容量結合によってゲート電位がさらに上昇する。従って、TFTのゲート電位が従来よりも大きく上昇し、当該ゲート電位に応じた電位となるソースフォロワ出力も、従来より高い電位となる。
これにより、ソースフォロワ出力すなわちフォトセンサ出力のダイナミックレンジが拡大され、フォトセンサへの照射光の明暗の差を光強度検出手段によって従来よりも大きく検出することができる。また、このダイナミックレンジの拡大には、フォトセンサのセンサ用電源電圧を上昇させたり、ゲート電位を上昇させるための素子サイズの拡大などを行ったりする必要はない。
以上により、表示領域に備えられたフォトセンサのセンサ用電源電圧の上昇や画素の開口率の低下をもたらすことなく、センサ出力のダイナミックレンジを拡大することのできる表示装置の駆動方法を実現することができるという効果を奏する。
本発明の表示装置の駆動方法は、上記課題を解決するために、上記ゲートに、容量を介して、上記第1のパルスの立ち上がりタイミングよりも前にLowレベルからHighレベルに立ち上がるがるとともに上記第1のパルスの立ち上がりタイミングよりも後にHighレベルからLowレベルに立ち下がる第2のパルスを有する第2のパルス信号を入力することを特徴としている。
上記の発明によれば、第1のパルスの立ち上がりよりも先に第2のパルス信号の第2のパルスを容量を介してTFTのゲートに印加することにより、予めゲート電位を上昇させておくことができるので、TFTのドレインに第1のパルスを印加したときに、ゲート電位を非常に大きく上昇させることができるという効果を奏する。
本発明の表示装置の駆動方法は、上記課題を解決するために、上記第2のパルスは、上記第1のパルスの立ち下がりタイミングよりも後にHighレベルからLowレベルに立ち下がることを特徴としている。
上記の発明によれば、第1のパルス期間の全てにおいてソースフォロワ出力の検出が可能になるので、ソースフォロワ出力の検出期間を第1のパルス期間のタイミングのみを基準にして容易に設定することができるという効果を奏する。
本発明の表示装置の駆動方法は、上記課題を解決するために、上記第1のパルスのHighレベルの電位と、上記第2のパルスのHighレベルの電位とは互いに等しいことを特徴としている。
上記の発明によれば、第1のパルスおよび第2のパルスの両方のHighレベルを、同じ電源を用いて供給することができるので、電源部の構成を複雑にすることを回避することができるという効果を奏する。
本発明の表示装置の駆動方法は、上記課題を解決するために、上記第1のパルスの終了時点と上記第2のパルスの終了時点とのうちの早いほうのタイミングで、上記ソースフォロワ出力の電位が上記TFTのゲート電位から上記TFTの閾値電圧だけ差し引いた電位よりも低くなるように、上記第1のパルスのパルス期間を設定することを特徴としている。
上記の発明によれば、ソースフォロワ出力の出力期間が、ソースフォロワ出力がTFTを遮断状態とする電位に達しないような短い期間であるときに、ソースフォロワ出力のダイナミックレンジの拡大により明暗の識別を容易にすることができるので、高精細および高速駆動の光検出を実現することができるという効果を奏する。
本発明の表示装置は、以上のように、表示領域に設けられて照射光の強度に応じた信号を出力するフォトセンサと、上記信号をゲート入力とするソースフォロワを構成するnチャネル型のTFTと、上記TFTのソースフォロワ出力を検出することにより上記照射光の強度の検出を行う光強度検出手段とを備えた、マトリクス型の表示装置であって、上記TFTのドレインに、上記信号が上記TFTのゲートに入力されている状態でLowレベルからHighレベルに立ち上がる第1のパルスを有する第1のパルス信号が入力される。
以上により、表示領域に備えられたフォトセンサのセンサ用電源電圧の上昇や画素の開口率の低下をもたらすことなく、センサ出力のダイナミックレンジを拡大することのできる表示装置を実現することができるという効果を奏する。
本発明の表示装置の駆動方法は、以上のように、表示領域に設けられて照射光の強度に応じた信号を出力するフォトセンサと、上記信号をゲート入力とするソースフォロワを構成するnチャネル型のTFTと、上記TFTのソースフォロワ出力を検出することにより上記照射光の強度の検出を行う光強度検出手段とを備えたマトリクス型の表示装置を駆動する、表示装置の駆動方法であって、上記TFTのドレインに、上記信号が上記TFTのゲートに入力されている状態でLowレベルからHighレベルに立ち上がる第1のパルスを有する第1のパルス信号を入力する。
以上により、表示領域に備えられたフォトセンサのセンサ用電源電圧の上昇や画素の開口率の低下をもたらすことなく、センサ出力のダイナミックレンジを拡大することのできる表示装置の駆動方法を実現することができるという効果を奏する。
本発明の実施形態を示すものであり、センサ回路を説明する図であって、(a)はセンサ回路の構成を示す回路図、(b)は(a)のセンサ回路の動作を示すタイミングチャートである。 図1のセンサ回路の動作の詳細を示す各電圧および電位の波形図である。 図2の波形の一部を従来と比較して示す波形図である。 本発明の実施形態を示すものであり、表示装置の構成を示すブロック図である。 図4の表示装置が備える表示パネルの構成を示す回路ブロック図である。 従来技術を示すものであり、フォトセンサを備えた表示装置の構成を示す回路ブロック図である。 従来技術を示すものであり、センサ回路の構成を示す回路図である。 図7のセンサ回路の動作を示すタイミングチャートである。 図7のセンサ回路の動作の詳細を示す各電圧および電位の波形図である。
本発明の一実施形態について図1ないし図5に基づいて説明すると以下の通りである。
図4に、本実施形態に係る液晶表示装置1(表示装置)の構成を示す。
液晶表示装置1はアクティブマトリクス型の表示装置であって、表示パネル2およびホストコントローラ3を備えている。
表示パネル2は、表示/センサ領域2aと、ソースドライバ4(データ信号線駆動回路)と、ゲートスキャン回路5(走査信号線駆動回路)と、センサスキャン回路6とを備えている。表示/センサ領域2aは、表示パネル2にアモルファスシリコンやポリシリコン、CG(Continuous Grain)シリコン、微結晶シリコンなどを用いて作り込まれた領域であり、後述の図5に示す画素とセンサ回路SCとをマトリクス状に備えている。ソースドライバ4はLSIチップを表示パネル2上に直接実装したものであり、いわゆるCOG(Chip On Glass)の形態を取る。ソースドライバ4は表示/センサ領域2aに画素用のデータ信号をデータ信号線に出力するとともに、センサ回路からの出力を処理する。ゲートスキャン回路5は、表示/センサ領域2aの画素にデータ信号を書き込むのに用いる走査信号を走査信号線に出力する。センサスキャン回路6は、表示/センサ領域2aのセンサ回路に必要な電圧を供給する。
ホストコントローラ3は、表示パネル2の外部に設けられたコントロール基板であり、ソースドライバ4に供給する表示データと、ゲートスキャン回路5に供給するクロック信号やスタートパルスなどと、センサスキャン回路6に供給するクロック信号やスタートパルス、電源電圧などとを、ソースドライバ4に供給する。ゲートスキャン回路5およびセンサスキャン回路6への上記の供給信号および供給電圧は、ソースドライバ4を介して供給される。
図5に、表示/センサ領域2aとソースドライバ4との接続関係を示す。
表示/センサ領域2aでは、Rの絵素PIXRと、Gの絵素PIXGと、Bの絵素PIXBとが1組となって各画素が構成されており、各画素にセンサ回路SCが1つずつ備えられている。各画素において、絵素PIXRと絵素PIXGと絵素PIXBとは、1水平期間内に時分割で駆動される。各絵素は、走査信号線GLとデータ信号線SL(RについてはSLR、GについてはSLG、BについてはSLB)との交差点に形成されており、選択素子であるTFT51によって液晶容量CLにデータ信号を書き込む構成である。データ信号線SLRはスイッチSWRを介して、データ信号線SLGはスイッチSWGを介して、データ信号線SLBはスイッチSWBを介して、それぞれ、ソースドライバ4の同じ端子Pに接続されている。なお、絵素の色の種類としては上記のRGBのような3色に限らず、任意の色の種類が可能である。
センサ回路SCは、スイッチSWR・SWG・SWBに対して上記端子Pとは反対側の領域で上記絵素に接続されるように配置されており、nチャネル型のアンプTFT(TFT)52と容量53とフォトセンサ54とを備えている。アンプTFT52は図6のアンプTFTM1と、容量53は図6の容量C1と、フォトセンサ54は図6のフォトセンサD1と、それぞれ同様の構成である。アンプTFT52のドレイン端子はデータ信号線SLGに接続されており、アンプTFT52のソース端子はデータ信号線SLBに接続されている。容量53とフォトセンサ54とは、フォトセンサ54のカソード側を互いの接続点として直列に接続されており、当該接続点であるノードNetAはアンプTFT52のゲートに接続されている。容量53の他端は画素行ごとに設けられた行選択ラインRSを介して、また、フォトセンサ54のアノードは画素行ごとに設けられたリセット配線RSTを介して、それぞれセンサスキャン回路6に接続されている。各画素行の行選択ラインRSには、その画素行の全ての容量53の上記他端が接続されている。各画素行のリセット配線RSTには、その画素行の全てのフォトセンサ54のアノードが接続されている。また、データ信号線SLGの端子P側とは反対側の一端は、スイッチSWSを介して電源V0に接続されている。
ソースドライバ4では、ソース入出力回路47の出力がそれぞれ端子Pに接続されている。ソース出力回路47は、オペアンプのボルテージフォロワからなるバッファ47aとスイッチ部47bとが1つずつ組になった各段を備えており、各段が1つの上記端子Pに接続されている。バッファ47aの入力はDA変換回路46の出力に接続されており、バッファ47aの出力は端子Pに接続されている。スイッチ部47bは、AD変換回路45の入力を端子Pに接続するか端子Pから遮断するかの切り替えを行う回路である。DA変換回路46はDA変換回路46に専用の電源およびGNDを使用しており、AD変換回路45はAD変換回路45に専用の電源およびGNDを使用している。
表示/センサ領域2aにおいて絵素による表示を行う表示期間には、バッファ47aの電源が投入され、スイッチ部47bはAD変換回路45の入力を端子Pから遮断する。これにより、RGBの各ソース出力(データ信号)Vdが時系列で表示/センサ領域2aに供給される。表示/センサ領域2a側では、スイッチSWR・SWG・SWBが順次交替してON状態となり、データ信号線SLR・SLG・SLBに順次ソース出力Vdが出力されて絵素PIXR・PIXG・PIXBで表示が行われる。また、このとき、スイッチSWSはOFF状態にある。
表示/センサ領域2aにおいてバックライトもしくは外光の光照射による光強度の検出を行うセンサ駆動期間には、スイッチSWR・SWG・SWBがOFF状態にされ、スイッチSWSがON状態にされてデータ信号線SLGを電源V0に接続する。また、事前にセンサスキャン回路6からフォトセンサ54の順方向を用いて容量53を所定電圧に充電しておくことにより、光強度の検出期間に、アンプTFT52のゲートをフォトセンサ54に照射される光の強度に応じた電圧とする。これにより、データ信号線SLBが検出された光の強度に応じた電圧となるので、スイッチSWBをON状態としてデータ信号線SLBをソースドライバ4の端子Pに接続する。
このとき、ソースドライバ4側ではバッファ47aの電源が遮断されてバッファ47aの出力がハイインピーダンスにされるとともに、スイッチ部47bがAD変換回路45の入力を端子Pに接続する。これにより、センサ回路SCのアナログ出力であるセンサ電圧VsがAD変換回路45に入力される。AD変換回路45は入力されたセンサ電圧Vsをデジタルデータに変換する。このデジタルデータは後続の処理回路で光強度の検出結果として用いられる。
このように、ソースドライバ4は、フォトセンサ54への照射光の強度を検出する光強度検出手段として機能している。
次に、図1を用いて、上記構成の液晶表示装置1におけるセンサ回路SCの詳細な構成および動作について説明する。
図1の(a)に、センサ回路SCの詳細な回路構成を示す。アンプTFT52のドレインには、センサ駆動期間に、電源V0からスイッチSWSおよびデータ信号線SLGを介して電圧(第1のパルス信号)Vpulse2が入力される。アンプTFT52のソースはセンサ出力配線となるデータ信号線SLBにセンサ出力電圧Voutを出力する。アンプTFT52のゲートとドレインとの間には容量Cagdが形成されており、アンプTFT52のゲートとソースとの間には容量Cagsが形成されている。
フォトセンサ54はTFT(トランジスタ)11のダイオード接続で構成されており、TFT11のゲートとドレインとが互いに接続されてなるアノードAと、TFT11のソースからなるカソードKとを有している。アノードAはリセット配線RSTから電圧Vrstを印加される。アノードAとカソードKとの間、すなわちTFT11のゲートとソースとの間には、容量Cdgsが形成されている。
容量53は容量値Cstを有しており、行選択配線RS側の一端には行選択配線RSから電圧(第2のパルス信号)Vpulse1が入力される。
次に、図1の(b)を用いて、上記構成のセンサ回路SCの動作について説明する。
センサ駆動期間には、データ信号線SLGはスイッチSWGがOFF状態となることによりソースドライバ4から切り離され、データ信号線SLBはスイッチSWBがON状態となることによりソースドライバ4に接続される。さらにソースドライバ4においては、端子Pがスイッチ部47bによってAD変換回路45の入力に接続される。センサ駆動期間の初期の時刻t1に、センサスキャン回路6からリセット配線RSTに印加する電圧VrstをHighレベル(ここでは0V)とすることにより、フォトセンサ54が順方向に導通し、ノードNetAの電位VnetAはHighレベル(ここでは0V)となる。また、このとき、センサスキャン回路6から行選択配線RSに印加する電圧Vpulse1はLowレベル(ここでは0V)とされる。電源V0からデータ信号線SLGに印加される電圧Vpulse2はLowレベル(ここでは0V)とされる。
次いで、時刻t2で、センサスキャン回路6は電圧VrstをLowレベル(ここでは−10V)とする。このとき、フォトセンサ54はアノードAのほうがカソードKよりも電位が低くなるので逆バイアス状態となる。
時刻t2からはチャージ期間T1が開始される。チャージ期間T1ではノードNetAにフォトセンサ54への照射光の強度に応じたチャージが行われる。フォトセンサ54に光が照射されると、カソードKからアノードAへ向って流れるリーク電流が、照射光の強度に応じて変化する。明部においてはリーク電流が大きいために、カソードKの電位すなわち電位VnetAが急速に減少し、暗部においてはリーク電流が小さいために、電位VnetAが緩慢に減少する。このチャージ期間T1における電位VnetAは、フォトセンサ54への照射光の強度に応じた信号となる。
チャージ期間T1が終了する時刻t3において、センサスキャン回路6は電圧Vpulse1をHighレベル(ここでは20V)とする。すると、電位VnetAは、容量53による容量結合により、負電位から正電位に持ち上げられる。このとき、明部と暗部との電位差は保たれるが、電圧Vpulse2がLowレベルであるのでアンプTFT52にはまだ電流が流れない。
次いで、時刻t3よりも後の時刻t4に、電源V0の電圧Vpulse2がHighレベル(ここでは20V)とされる。これにより、アンプTFT52が導通するが、電位VnetAすなわちアンプTFT52のゲート電位は、容量Cagdおよび容量Cagsによる容量結合を通したブートストラップ効果によってさらに大きく持ち上げられる。このアンプTFT52のドレインに電圧Vpulse2のパルスを入力することによる昇圧により、電位VnetAは、アンプTFT52のドレインに常時一定電圧が印加される場合よりも高くなる。従って、アンプTFT52は従来よりも高い出力電圧Voutをソースから出力する。但し、Vout≦(Vpulse2のHighレベル)であるので、期間T2がアンプTFT52がOFF状態になるまでの時間以上に設定されている場合には、電位VnetAはVnetA≦(Vpulse2のHighレベル)+Vthの範囲内で出力電圧Voutを従来よりも高くする効果、従って出力電圧Voutの明暗の差を従来よりも広げる効果を得る。期間T2がアンプTFT52がOFF状態になるまでの時間より短く設定されている場合には、電位VnetAをVnetA>(Vpulse2のHighレベル)+Vthに設定してあると、期間T2の途中で出力電圧VoutがVpulse2のHighレベルに近い値で飽和するが、出力電圧Voutの変化速度は従来よりも大きいため、飽和するまでの期間では出力電圧Voutの明暗の差を従来よりも広げる効果を得る。時刻t4からセンサ出力の出力期間T2が開始される。
全容量値Ctotalを、
Ctotal=Cdgs+Cst+Cagd+Cags
とし(但し、右辺の各容量値は容量名で代用した)、
α=Cst/Ctotal
β=Cagd/Ctotal
とすると、電圧Vpulse1による電位VnetAの昇圧分ΔV1netAは、
ΔV1netA=α×Vpulse1p−p
となり、電圧Vpulse2による電位VnetAの昇圧分ΔV2netAは、
ΔV2netA=β×Vpulse2p−p
となる。但し、Vpulse1p−pはVpulse1のピーク・ツー・ピーク電圧、Vpulse2p−pはVpulse2のピーク・ツー・ピーク電圧であり、上記例では両方とも20Vである。
これにより、電圧Vpulse1および電圧Vpulse2による電位VnetAの全昇圧分ΔVallnetAは、
ΔVallnetA=ΔV1netA+ΔV2netA
となる。
ここで、ΔV1netAと従来の前記ΔVnetAとは、電圧Vpulse1のパルス立ち上がりのタイミング(=時刻t3)におけるアンプTFTのドレイン印加電圧の違いにより、互いに若干異なるものの、ほぼ同じとなる。従って、ΔVallnetAは、従来の前記ΔVnetAよりもほぼΔV2netAの分だけ大きい。この結果、電位VnetAに応じた電圧となる出力電圧Voutは、従来よりも大きくなる。
出力期間T2に、出力電圧Voutをソースドライバ4によって読み出すことにより、フォトセンサ54のセンサ出力、すなわち、フォトセンサ54への照射光の強度を検出することができる。出力電圧Voutのダイナミックレンジが拡大されているので、AD変換回路45の入力ダイナミックレンジが拡大されていることとなり、AD変換回路45は明暗の差を高分解で読み取ることができる。
出力期間T2が終了する時刻t5において電源V0の電圧Vpulse2がLowレベル(ここでは0V)とされ、続いて時刻t6においてセンサスキャン回路6から印加される電圧Vpulse1がLowレベル(ここでは0V)とされて、センサ駆動期間が終了する。
なお、上記のセンサ回路SCの駆動においては、時刻t3から時刻t6までの期間には、電圧Vpulse1のパルス(第2のパルス)が容量53を介してノードNetAすなわちアンプTFT52のゲートに印加され、出力期間T2には、電圧Vpulse2のパルス(第1のパルス)がアンプTFT52のドレインに印加されることになる。
図2に、出力期間T2における各電圧・電位の具体的な波形例を示す。
電位VnetAは期間T2において漸増するがほぼ一定であり、出力電圧VoutはアンプTFT52のソースから下流側の負荷に応じた時定数に従って上昇し続ける。
図3に、電位VnetAおよび出力電圧Voutの波形を、本実施形態(図2のもの)と従来(図9のもの)とについて併せて示す。破線で示す従来の電位VnetAは出力期間T2にほぼ11.02Vに昇圧されるのに対して、実線で示す本実施形態の電位VnetAは、期間T1の終了時に一旦ほぼ10.71Vに昇圧された後に、出力期間T2にさらに2.54Vだけ高いほぼ13.25Vにまで昇圧される。これにより、本実施形態の電位VnetAは従来よりもほぼ2.23V高くなる。
そして、出力期間T2の終了時点における従来の出力電圧Voutは0.86Vであるのに対して、本実施形態の出力電圧Voutは従来よりも0.40Vだけ高い1.26Vとなる。
このように、本実施形態では、出力期間T2において、アンプTFT52のドレインに印加するパルスによる電位VnetAの昇圧効果が、ドレインに常時一定電圧を印加する場合のブートストラップ効果よりも大きいため、電位VnetAの電位を従来よりも高くすることができる。従って、出力電圧Voutの明暗による差もそれだけ大きくすることができる。また、アンプTFT52のドレインに電圧Vpulse2のパルスを印加するだけでも電位VnetAの大きな昇圧を得ることが可能であるが、上記例のように、ノードNetAに予め容量53を介して電圧Vpulse1のパルスを印加しておくことにより、2段階の昇圧が行われてノードNetAを非常に大きく昇圧させることができる。
なお、上記例では、電圧Vpulse1のパルスの立ち下がりタイミングを電圧Vpulse2のパルスの立ち下がりタイミングよりも後になるように設定したが、これに限ることはなく、電圧Vpulse1のパルスの立ち下がりタイミングを、電圧Vpulse2のパルスの立ち上がりタイミングよりも後であって、電圧Vpulse2のパルスの立ち下がりタイミングよりも前となるように設定してもよい。この場合には出力期間T2は、電圧Vpulse2のパルスの立ち上がりタイミングから電圧Vpulse1の立ち下がりタイミングまでとなり、出力電圧Voutをこの期間の間に検出すればよい。
なお、センサ回路SCにおいて、容量Cdgs、Cst、Cagd、Cagsのそれぞれについては、寄生容量を用いてもよいし、電極を対向させることにより意図的に容量を形成してもよい。全昇圧分ΔVallnetAを大きくするためにはαおよびβを大きくすればよいが、例えばβを大きくするためにCagdを大きくするとCtotalが大きくなるため、逆にαが小さくなるので、各容量値はバランスするように設定するのが好ましい。
また、前記例では電圧Vpulse1のHighレベルと電圧Vpulse2のHighレベルとを、従来の電圧Vpulse1に等しくして、電源電圧に変更のない従来と同様のアーキテクチャによる電源部およびICを構成可能なようにするとともに、電源電圧の種類を減らして電源部の構成が複雑にならないようにしている。しかし、電圧Vpulse1のHighレベルと電圧Vpulse2のHighレベルとの一方または両方を、より高くすることによっても、全昇圧分ΔVallnetAを大きくすることが可能である。この場合には、電圧Vpulse1のHighレベルおよび電圧Vpulse2のHighレベルと、各容量値との全てのバランスを考慮するのが好ましい。
特に、表示装置の製品の仕様によって、使用可能な容量および電圧が変化するので、それに合わせて全昇圧分ΔVallnetAが最大になるように設計を行うのが好ましい。
以上のように、本実施形態によれば、アンプTFT52のソースフォロワ出力、すなわちフォトセンサ出力のダイナミックレンジが拡大され、フォトセンサ54への照射光の明暗の差を従来よりも大きく検出することができる。また、このダイナミックレンジの拡大には、フォトセンサ54のセンサ用電源電圧を上昇させたり、ゲート電位を上昇させるための素子サイズの拡大などを行ったりする必要はない。
以上により、表示領域に備えられたフォトセンサのセンサ用電源電圧の上昇や画素の開口率の低下をもたらすことなく、センサ出力のダイナミックレンジを拡大することのできる表示装置を実現することができる。
上記の効果はすなわち、アンプTFT52の出力電流を大きくすることができることであるが、逆に、出力電圧Voutが大きくなる分だけ、出力期間T2の短縮を可能とする効果も得られる。また、逆に、出力電圧Voutが大きくなる分だけ、容量53の容量値Cstを小さくして容量53の占有面積を減少させ、画素の開口率を増大させることができる効果も得られる。また、逆に、アンプTFT52の出力電流を大きくすることができる分だけ、アンプTFT52のチャネル幅を小さくしてアンプTFT52の占有面積を減少させ、画素の開口率を大きくすることができる効果も得られる。また、逆に、2段階の昇圧を行う場合に電圧Vpulse1、Vpulse2のピーク・ツー・ピーク電圧を小さくして、耐圧の小さなICを使用可能とするとともにコストダウンを可能にするという効果も得られる。
本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能である。すなわち、請求項に示した範囲で適宜変更した技術的手段を組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。
本発明は、フォトセンサを用いた指紋認証やタッチパネルを備える表示装置に好適に使用することができる。
1 液晶表示装置(表示装置)
4 ソースドライバ(光強度検出手段)
11 TFT(トランジスタ)
52 TFT
53 容量
54 フォトセンサ
Vout 出力電圧(ソースフォロワ出力)
Vpulse1
電圧(第2のパルス信号)
Vpulse2
電圧(第1のパルス信号)

Claims (13)

  1. 表示領域に設けられて照射光の強度に応じた信号を出力するフォトセンサと、上記信号をゲート入力とするソースフォロワを構成するnチャネル型のTFTと、上記TFTのソースフォロワ出力を検出することにより上記照射光の強度の検出を行う光強度検出手段とを備えた、マトリクス型の表示装置であって、
    上記TFTのドレインに、上記信号が上記TFTのゲートに入力されている状態でLowレベルからHighレベルに立ち上がる第1のパルスを有する第1のパルス信号が入力され
    上記ゲートに接続された容量を備えており、
    上記容量の上記ゲートと接続される側とは反対側の一端に、上記第1のパルスの立ち上がりタイミングよりも前にLowレベルからHighレベルに立ち上がるとともに上記第1のパルスの立ち上がりタイミングよりも後にHighレベルからLowレベルに立ち下がる第2のパルスを有する第2のパルス信号が入力されることを特徴とする表示装置。
  2. 上記第2のパルスは、上記第1のパルスの立ち下がりタイミングよりも後にHighレベルからLowレベルに立ち下がることを特徴とする請求項に記載の表示装置。
  3. 上記第1のパルスのHighレベルの電位と、上記第2のパルスのHighレベルの電位とは互いに等しいことを特徴とする請求項1または2に記載の表示装置。
  4. 上記第1のパルスの終了時点と上記第2のパルスの終了時点とのうちの早いほうのタイミングで、上記ソースフォロワ出力の電位は上記TFTのゲート電位から上記TFTの閾値電圧だけ差し引いた電位よりも低いことを特徴とする請求項1から3までのいずれか1項に記載の表示装置。
  5. 上記フォトセンサおよび上記TFTは、画素行ごとに設けられていることを特徴とする請求項1から4までのいずれか1項に記載の表示装置。
  6. 上記表示領域はアモルファスシリコンを用いて形成されていることを特徴とする請求項1から5までのいずれか1項に記載の表示装置。
  7. 上記第1のパルス信号を生成する回路が、COG(Chip On Glass)の形態で上記表示領域に実装されていることを特徴とする請求項1から6までのいずれか1項に記載の表示装置。
  8. 上記フォトセンサはダイオード接続されたトランジスタであり、上記フォトセンサのカソードが上記TFTのゲートに接続されていることを特徴とする請求項1から7までのいずれか1項に記載の表示装置。
  9. 上記表示領域が液晶を表示素子に用いていることを特徴とする請求項1から8までのいずれか1項に記載の表示装置。
  10. 表示領域に設けられて照射光の強度に応じた信号を出力するフォトセンサと、上記信号をゲート入力とするソースフォロワを構成するnチャネル型のTFTと、上記TFTのソースフォロワ出力を検出することにより上記照射光の強度の検出を行う光強度検出手段とを備えたマトリクス型の表示装置を駆動する、表示装置の駆動方法であって、
    上記TFTのドレインに、上記信号が上記TFTのゲートに入力されている状態でLowレベルからHighレベルに立ち上がる第1のパルスを有する第1のパルス信号を入力し、
    上記ゲートに、容量を介して、上記第1のパルスの立ち上がりタイミングよりも前にLowレベルからHighレベルに立ち上がるがるとともに上記第1のパルスの立ち上がりタイミングよりも後にHighレベルからLowレベルに立ち下がる第2のパルスを有する第2のパルス信号を入力することを特徴とする表示装置の駆動方法。
  11. 上記第2のパルスは、上記第1のパルスの立ち下がりタイミングよりも後にHighレベルからLowレベルに立ち下がることを特徴とする請求項10に記載の表示装置の駆動方法。
  12. 上記第1のパルスのHighレベルの電位と、上記第2のパルスのHighレベルの電位とは互いに等しいことを特徴とする請求項10または11に記載の表示装置の駆動方法。
  13. 上記第1のパルスの終了時点と上記第2のパルスの終了時点とのうちの早いほうのタイミングで、上記ソースフォロワ出力の電位が上記TFTのゲート電位から上記TFTの閾値電圧だけ差し引いた電位よりも低くなるように、上記第1のパルスのパルス期間を設定することを特徴とする請求項10から12までのいずれか1項に記載の表示装置の駆動方法。
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