JP5316924B2 - 観察装置および観察方法 - Google Patents

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Description

本発明は、半導体ウェハや液晶ガラス基板等の被検物を観察するための観察装置および観察方法に関する。
近年、半導体ウェハに形成される回路素子パターンの集積度が高くなるとともに、半導体製造工程でウェハの表面処理に用いられる薄膜の種類が増加している。これに伴い、薄膜の境界部分が露出するウェハの端部付近の欠陥検査が重要となってきている。ウェハの端部付近に異物等の欠陥があると、後の工程で異物等がウェハの表面側に回り込んで悪影響を及ぼし、ウェハから作り出される回路素子の歩留まりに影響する。
そこで、半導体ウェハ等の円盤状に形成された被検物の端面周辺(例えば、アペックスや上下のベベル)を複数の方向から観察して、異物や膜の剥離、膜内の気泡、膜の回り込み等といった欠陥の有無を検査する検査装置が考案されている(例えば、特許文献1を参照)。このような検査装置には、レーザ光等の照射により生じる散乱光を利用して異物等を検出する構成のものや、ラインセンサにより被検物の画像を帯状に形成して異物等を検出する構成のもの等がある。
特開2004−325389号公報
また、画像取得装置により被検物の端面周辺の画像を部分的に1枚ずつ取得して、複数の画像データから異物等を検出する構成のものもあるが、小さな欠陥を認識できる高い分解能を有する画像取得装置を使用すると、画像取得枚数(画像データ)が非常に多くなり、例えば、10倍の対物レンズで直径300mmのウェハの端面(アペックス)の観察を行った場合、画像取得枚数は1400枚程度になる。このような多量の画像データから被検物の欠陥を含む画像データのみを抽出するには、全ての画像を1枚ずつ確認する場合、時間がかかり困難であった。
本発明は、このような問題に鑑みてなされたものであり、被検物の概要および欠陥を速やかに認識することが可能な観察装置および観察方法を提供することを目的とする。
このような目的達成のため、本発明に係る観察装置は、被検物を部分的に撮像可能な撮像部を備え、前記撮像部の撮像領域を前記被検物に対して相対移動させながら前記被検物の部分を複数撮像して得られた、前記複数の前記撮像領域における前記被検物の部分画像を用いて前記被検物の表面観察を行う観察装置であって、前記複数の前記部分画像をそれぞれ、前記撮像領域を変えずにデータ圧縮する処理をしてから前記相対移動に対応する方向へ並べるように互いに連結して、前記被検物の部分を前記相対移動方向へ連続的に視認できる連結画像にする画像連結部と、前記画像連結部により連結された前記連結画像を表示する画像表示部と、前記画像表示部で表示される画像において所望の領域を選択する操作が行われる操作部と、前記選択された所望の領域に対応する前記データ圧縮する処理を行う前の前記部分画像を前記画像表示部において前記連結画像と並べて拡大して表示させる選択表示制御部とを有している。
なお、上述の発明において、前記画像表示部は前記連結画像を部分的に表示するように構成され、前記画像表示部に前記連結画像の表示部分を前記相対移動方向へスクロールさせる制御を行うスクロール制御部を有することが好ましい。
また、上述の発明において、前記画像表示部で表示された前記連結画像に対応する前記被検物の位置情報を求め、前記位置情報を前記連結画像と関連させて前記画像表示部に表示させる位置表示制御部を有することが好ましい。
また、上述の発明において、前記撮像部が一次元イメージセンサを有していることが好ましい。
また、上述の発明において、前記連結画像における前記相対移動方向に対する輝度変化を示すヒストグラムを作成し、前記ヒストグラムを前記連結画像と同期させて前記画像表示部に表示させるヒストグラム作成部を有することが好ましい。
さらに、上述の発明において、前記操作部を用いて、前記画像表示部で表示される前記ヒストグラムの所望の領域を選択する操作が行われると、前記ヒストグラムの前記選択された領域に対応する前記部分画像を前記画像表示部に表示させる第2の選択表示制御部を有することが好ましい。
また、上述の発明において、前記画像表示部で表示される前記部分画像は、前記連結画像において前記部分画像に該当する部分よりも高い解像度を有することが好ましい。
さらに、上述の発明において、前記被検物を回転可能に保持する回転保持部を有しており、前記回転保持部は、略円盤状に形成された前記被検物の回転対称軸を回転軸として、前記撮像部の前記撮像領域に対する前記被検物の外周端部の相対回転方向が前記相対移動方向となるように前記被検物を回転駆動し、前記撮像部は、前記回転軸と直交する方向から前記被検物の外周端部または外周端部近傍を連続的に複数撮像し、前記画像連結部は、前記連続的に複数撮像して得られた前記被検物の外周端部または外周端部近傍に関する前記複数の前記部分画像をそれぞれ前記連結して、前記被検物の外周端部または外周端部近傍を前記相対回転方向へ連続的に視認できる連結画像にすることが好ましい。
また、本発明に係る観察方法は、被検物を部分的に撮像可能な撮像部により、前記撮像部の撮像領域を前記被検物に対して相対移動させながら前記被検物の部分を複数撮像して得られた、前記複数の前記撮像領域における前記被検物の部分画像を用いて前記被検物の表面観察を行う観察方法であって、前記複数の前記部分画像をそれぞれ、前記撮像領域を変えずにデータ圧縮する処理をしてから前記相対移動に対応する方向へ並べるように互いに連結して、前記被検物の部分を前記相対移動方向へ連続的に視認できる連結画像にする画像連結処理と、前記画像連結処理で連結した前記連結画像を表示する画像表示処理と、操作部を用いて、前記画像表示処理で表示する前記連結画像において所望の領域を選択する操作が行われると、前記選択された所望の領域に対応する前記データ圧縮する処理を行う前の前記部分画像を前記連結画像と並べて拡大して表示する選択表示処理とを有している。
本発明によれば、被検物の概要および欠陥を速やかに認識することができる。
以下、本発明の好ましい実施形態について説明する。本発明に係る観察装置の一例を図1に示しており、この観察装置1は、半導体ウェハ10(以下、ウェハ10と称する)の端部および端部近傍における欠陥(傷、異物の付着等)の有無を、観察者の目視により検査するためのものである。
被検物であるウェハ10は薄い円盤状に形成されており、その表面には、ウェハ10から取り出される複数の半導体チップ(チップ領域)に対応した回路パターン(図示せず)を形成するために、絶縁膜、電極配線膜、半導体膜等の薄膜(図示せず)が多層にわたって形成される。図2に示すように、ウェハ10の表面(上面)における外周端部内側には、上ベベル部11がリング状に形成され、この上ベベル部11の内側に回路パターンが形成されることになる。また、ウェハ10の裏面(下面)における外周端部内側には、下ベベル部12がウェハ10を基準に上ベベル部11と表裏対称に形成される。そして、上ベベル部11と下ベベル部12とに繋がるウェハ端面がアペックス部13となる。
ところで、観察装置1は、ウェハ10を支持して回転させるウェハ支持部20と、ウェハ10の外周端部および外周端部近傍を撮像する撮像部30と、撮像部30で撮像されたウェハ10の画像に対して所定の画像処理を行う画像処理部40と、ウェハ支持部20や撮像部30等の駆動制御を行う制御部50とを主体に構成される。
ウェハ支持部20は、基台21と、基台21から上方へ垂直に延びて設けられた回転軸22と、回転軸22の上端部に略水平に取り付けられて上面側でウェハ10を支持するウェハホルダ23とを有して構成される。ウェハホルダ23の内部には真空吸着機構(図示せず)が設けられており、真空吸着機構による真空吸着を利用してウェハホルダ23上のウェハ10が吸着保持される。
基台21の内部には、回転軸22を回転駆動させる回転駆動機構(図示せず)が設けられており、回転駆動機構25により回転軸22を回転させることで、回転軸22に取り付けられたウェハホルダ23とともに、ウェハホルダ23上に吸着保持されたウェハ10がウェハ10の中心(回転対称軸O)を回転軸として回転駆動される。なお、ウェハホルダ23はウェハ10より径の小さい略円盤状に形成されており、ウェハホルダ23上にウェハ10が吸着保持された状態で、上ベベル部11、下ベベル部12、およびアペックス部13を含むウェハ10の外周端部近傍がウェハホルダ23からはみ出るようになっている。
撮像部30は、いわゆる二次元カメラであり、図示しない対物レンズおよび落射照明を備えた鏡筒部31と、図示しないイメージセンサが内蔵されたカメラ本体32とを主体に構成されており、落射照明による照明光が対物レンズを介してウェハ10を照明するとともに、ウェハ10からの反射光が対物レンズを介してイメージセンサに導かれ、イメージセンサでウェハ10の像が撮像される。
また、撮像部30は、ウェハ10のアペックス部13と対向するように配置され、ウェハ10の回転軸(回転対称軸O)と直交する方向からアペックス部13を部分的に撮像するようになっている。これにより、ウェハ支持部20に支持されたウェハ10を回転させると、撮像部30の撮像領域に対して、ウェハ10の外周端部、すなわちアペックス部13がウェハ10の周方向へ相対回転するため、アペックス部13と対向するように配置された撮像部30は、アペックス部13を周方向(すなわち相対回転方向)へ連続的に複数撮像することができ、ウェハ10の全周にわたってアペックス部13を撮像することが可能になる。なお、撮像部30で撮像された画像データは、画像処理部40へ出力される。
制御部50は、各種制御を行う制御基板等から構成され、制御部50からの制御信号によりウェハ支持部20、撮像部30、および画像処理部40等の作動制御を行う。また、制御部50には、画像表示部および画像上のカーソル操作等を行うための操作部を備えたインターフェース部51と、画像データを記憶する記憶部52等が電気的に接続されている。
画像処理部40は、図示しない回路基板等から構成され、図3に示すように、入力部41と、内部メモリ42と、データ圧縮部43と、画像連結部44と、ヒストグラム作成部45と、出力部46とを有している。入力部41には、撮像部30からの画像データが入力され、さらには、インターフェース部51で入力された各種設定パラメータ等が制御部50を介して入力される。入力部41に入力されたウェハ10(アペックス部13)の画像データは、内部メモリ42へ送られる。
データ圧縮部43は、内部メモリ42と電気的に接続されており、内部メモリ42に記憶された複数の画像データに対してそれぞれサムネイル化によるデータ圧縮処理を行い、データ圧縮した画像データを画像連結部44へ出力する。また、データ圧縮部43は、データ圧縮処理を行う前の画像データ(すなわち、撮像部30から入力された画像データ)を出力部46へ出力する。画像連結部44は、データ圧縮部43と電気的に接続されており、データ圧縮部43からデータ圧縮された画像データが入力されると、当該画像データに基づいて後述する画像連結処理を行い、連結画像の画像データをヒストグラム作成部45および出力部46へ出力する。
ヒストグラム作成部45は、画像連結部44と電気的に接続されており、画像連結部44から連結画像の画像データが入力されると、当該画像データに基づいて連結画像での輝度変化に関するヒストグラムを作成し、作成したヒストグラムのデータを出力部46へ出力する。出力部46は、制御部50と電気的に接続されており、撮像部30により撮像されたウェハ10の画像データや、連結画像の画像データ、ヒストグラムの(画像)データ等を制御部50へ出力する。
次に、以上のように構成される観察装置1を用いたウェハ10の観察方法について、図4に示すフローチャートを参照しながら以下に説明する。まず、ステップS101において、被検物であるウェハ10のアペックス部13を撮像する撮像処理を行う。この撮像処理では、制御部50からの制御信号を受けて、ウェハ支持部20がウェハ10を回転させるとともに、撮像部30がウェハ10の周方向へ相対回転するアペックス部13を(周方向へ)連続的に複数撮像し、アペックス部13をウェハ10の全周にわたって撮像する。
撮像部30がアペックス部13を連続的に撮像するとき、ウェハ10の回転により相対移動して得られる撮像部30の撮像領域毎にアペックス部13の複数の部分画像が取得され、当該部分画像の画像データは画像処理部40へ出力される。撮像部30から出力された部分画像の画像データはそれぞれ、画像処理部40の入力部41に入力されて内部メモリ42へ送られる。
撮像部30によりウェハ10の全周にわたるアペックス部13の部分画像が撮像されると、次のステップS102においてデータ圧縮処理を行う。このデータ圧縮処理において、データ圧縮部43は、内部メモリ42に記憶された複数の部分画像の画像データをそれぞれ、サムネイル化によって撮像領域を変えずにデータ圧縮し、データ圧縮した画像データを画像連結部44へ出力する。またこのとき、データ圧縮部43は、データ圧縮処理を行う前の部分画像の画像データ(すなわち、内部メモリ42に記憶された複数の部分画像の画像データ)を出力部46へ出力する。なお、出力部46へ出力されたデータ圧縮処理を行う前の部分画像の画像データは、制御部50を介して記憶部52に送られ、記憶部52で記憶される。
データ圧縮部43から画像連結部44にデータ圧縮された画像データが送られると、次のステップS103では、当該画像データに基づいて画像連結処理を行う。この画像連結処理において、画像連結部44は、データ圧縮されたアペックス部13の複数の部分画像をそれぞれ、ウェハ10の周方向(すなわち、アペックス部13の相対回転方向)へ並べるように互いに連結して、ウェハ10のアペックス部13を周方向へ連続的に視認できる連結画像にする。そして画像連結部44は、連結画像の画像データをヒストグラム作成部45および出力部46へ出力する。なお、出力部46へ出力された連結画像の画像データは、制御部50を介して記憶部52に送られ、記憶部52で記憶される。
画像連結部44からヒストグラム作成部45へ連結画像の画像データが送られると、次のステップS104において、ヒストグラム作成処理を行う。このヒストグラム作成処理において、ヒストグラム作成部45は、連結画像でのウェハ10の周方向に対する輝度変化を示すヒストグラムを作成し、作成したヒストグラムのデータを出力部46へ出力する。なお、出力部46へ出力されたヒストグラムのデータは、制御部50を介して記憶部52に送られ、記憶部52で記憶される。なお、本実施形態では、ステップS102、S103、S104の順で実行したが、この3つのステップはどのような順序で実行されてもよい。また、並列処理を組み合わせるようにしてもよい。
そしてステップS105では、制御部50により、記憶部52に記憶された、撮像部30により撮像された(データ圧縮処理を行う前の)部分画像や、画像連結部44により作成された連結画像、ヒストグラム作成部45により作成されたヒストグラム等をインターフェース部51の画像表示部で表示させる画像表示処理を行う。
図5に、インターフェース部51の画像表示部で表示された表示画像の一例を示す。この表示画像には、下から順に並んで、ヒストグラムAと、連結画像Bと、部分画像Cと、角度位置情報画像Dとが表示されている。
連結画像Bは、前述したように、データ圧縮した複数の部分画像b,b,…をウェハ10の周方向(すなわち、アペックス部13の相対回転方向)へ並べるように互いに連結したものであり、ウェハ10のアペックス部13を周方向へ連続的に視認できるようになっているが、図5に示すように、画像表示部において、連結画像Bは部分的に(例えば、図5に示すように、10度ずつの角度範囲で)表示されるようになっている。連結画像Bの左右には、スクロールボタンEが表示されており、インターフェース部51の操作部を操作して、図示しないカーソルを左右いずれかのスクロールボタンEに合わせて選択(クリック)すると、制御部50の画像制御により、連結画像Bの表示部分が左右へ(すなわち、ウェハ10の周方向へ)スクロールするようになっている。これにより、画像領域を有効利用することができる。
また、ヒストグラムAは、前述したように、連結画像Bでのウェハ10の周方向に対する輝度変化を算出したものであるが、画像表示部では、連結画像Bの表示部分と同期して部分的に表示されるようになっている。これにより、ウェハ10(アペックス部13)において欠陥のある可能性の高い位置を容易に認識することができる。なお、図5に示すヒストグラムAは、輝度変化を連結画像Bにおける(ウェハ10の周方向に並ぶ)所定の画素毎に算出して連続的に示すものであるが、輝度変化を連結画像Bにおける部分画像b毎に(輝度の平均値毎に)算出して離散的に表示するようにしてもよい。
部分画像Cは、前述したように、データ圧縮処理を行う前の部分画像、すなわち撮像部30により撮像されたアペックス部13の部分画像であり、連結画像Bを構成するデータ圧縮した部分画像bよりも解像度が高くなっている。そしてこの部分画像Cは、インターフェース部51の操作部を操作して、図示しないカーソルを連結画像Bの或る領域に合わせて選択(クリック)すると、制御部50の画像制御により、選択された領域を構成する部分画像bに対応する(データ圧縮処理を行う前の)ものが拡大表示されるようになっている。これにより、必要に応じて欠陥15を含む詳しい画像(部分画像C)を観察することが可能になる。
なお、インターフェース部51の操作部を操作して、図示しないカーソルをヒストグラムAの或る領域に合わせて選択(クリック)すると、制御部50の画像制御により、選択された領域に対応する部分画像Cが拡大表示されるようにしてもよい。このようにしても、必要に応じて欠陥15を含む詳しい画像を観察することが可能になる。
角度位置情報画像Dは、連結画像Bの表示部分に対応したアペックス部13における角度位置(ノッチ部14を0度とする極座標に対応した角度位置)を表示するものであり、制御部50の画像制御により、連結画像Bの表示部分に対応する角度位置の範囲が求められ、当該角度位置の範囲がウェハ10の形状を模した角度位置情報画像Dに表示される。例えば、図5において、角度位置が90度から100度の範囲における連結画像Bが表示されており、これに対応して、90度から100度の角度位置の範囲が角度位置情報画像Dに表示される。これにより、連結画像Bのウェハ上における位置関係を容易に認識することができる。
このように、インターフェース部51の画像表示部で表示された連結画像BやヒストグラムA、必要に応じて部分画像Cを観察することで、ウェハ10のアペックス部13における欠陥(傷、異物の付着等)の有無を検査する。
この結果、本実施形態に係る観察装置1および観察方法によれば、データ圧縮された複数の部分画像b,b,…を連結した連結画像Bがインターフェース部51の画像表示部に表示されるため、ウェハ10のアペックス部13を周方向へ連続的に視認することができ、ウェハ10(アペックス部13)の概要および欠陥を速やかに認識することができる。
また、前述したように、ウェハ支持部20によりウェハ10を回転駆動し、ウェハ10の回転軸と直交する方向から、撮像部30がウェハ10のアペックス部13を周方向へ連続的に撮像するようにすることで、ウェハ10のアペックス部13全体について効率的に撮像することが可能になる。
なお、上述の実施形態において、ウェハ10の全周にわたってアペックス部13を撮像しているが、これに限られるものではなく、制御部50の作動制御により、アペックス部13における所望の角度位置範囲についてのみ撮像するようにしてもよい。これにより、アペックス部13における所望の角度位置範囲についてのみ欠陥の有無を検査することができる。
また、上述の実施形態において、インターフェース部51の画像表示部で、連結画像Bが部分的に表示されるようになっているが、これに限られるものではなく、例えば図6に示すように、画像表示部において、連結画像B全体(もしくは一部)を複数列に分けて表示するようにしてもよい。
また、上述の実施形態において、撮像部30がウェハ10のアペックス部13を撮像しているが、これに限られるものではなく、例えば、図2における一点鎖線で示すように、ウェハ10の上ベベル部11を撮像するようにしてもよく、図3における二点鎖線で示すように、ウェハ10の下ベベル部12を撮像するようにしてもよい。このように、ウェハ10のアペックス部13に限らず、上ベベル部11や下ベベル部12における欠陥の有無を検査することが可能である。さらには、ウェハ10の外周端部または外周端部近傍に限らず、例えば、ガラス基板等を検査することも可能であり、特に表面の形態が略一様な被検物に対して、本実施形態を適用すると有効である。また、イメージセンサとしてCCDやCMOS等といった増幅型固体撮像素子を用いることができる。なお、イメージセンサは、二次元センサでもよく、一次元センサでもよい。
本発明に係る観察装置の概略構成図である。 ウェハの外周端部近傍を示す側面図である。 画像処理部を示す制御ブロック図である。 本発明に係る観察方法を示すフローチャートである。 連結画像やヒストグラムの表示例を示す模式図である。 連結画像の別の表示例を示す模式図である。
符号の説明
1 観察装置
10 ウェハ(被検物)
20 ウェハ支持部(回転保持部) 30 撮像部
40 画像処理部
43 データ圧縮部 44 画像連結部
45 ヒストグラム作成部
50 制御部 51 インターフェース部(画像表示部)
A ヒストグラム B 連結画像
C 部分画像 D 角度位置情報画像

Claims (9)

  1. 被検物を部分的に撮像可能な撮像部を備え、前記撮像部の撮像領域を前記被検物に対して相対移動させながら前記被検物の部分を複数撮像して得られた、前記複数の前記撮像領域における前記被検物の部分画像を用いて前記被検物の表面観察を行う観察装置であって、
    前記複数の前記部分画像をそれぞれ、前記撮像領域を変えずにデータ圧縮する処理をしてから前記相対移動に対応する方向へ並べるように互いに連結して、前記被検物の部分を前記相対移動方向へ連続的に視認できる連結画像にする画像連結部と、
    前記画像連結部により連結された前記連結画像を表示する画像表示部と、
    前記画像表示部で表示される前記連結画像において所望の領域を選択する操作が行われる操作部と、
    前記選択された所望の領域に対応する前記データ圧縮する処理を行う前の前記部分画像を前記画像表示部において前記連結画像と並べて拡大して表示させる選択表示制御部とを有することを特徴とする観察装置。
  2. 前記画像表示部は前記連結画像を部分的に表示するように構成され、
    前記画像表示部に前記連結画像の表示部分を前記相対移動方向へスクロールさせる制御を行うスクロール制御部を有することを特徴とする請求項1に記載の観察装置。
  3. 前記画像表示部で表示された前記連結画像に対応する前記被検物の位置情報を求め、前記位置情報を前記連結画像と関連させて前記画像表示部に表示させる位置表示制御部を有することを特徴とする請求項1もしくは請求項2に記載の観察装置。
  4. 前記撮像部が一次元イメージセンサを有していることを特徴とする請求項1から請求項3のうちいずれか一項に記載の観察装置。
  5. 前記連結画像における前記相対移動方向に対する輝度変化を示すヒストグラムを作成し、前記ヒストグラムを前記連結画像と同期させて前記画像表示部に表示させるヒストグラム作成部を有することを特徴とする請求項1から請求項4のうちいずれか一項に記載の観察装置。
  6. 被検物を部分的に撮像可能な撮像部を備え、前記撮像部の撮像領域を前記被検物に対して相対移動させながら前記被検物の部分を複数撮像して得られた、前記複数の前記撮像領域における前記被検物の部分画像を用いて前記被検物の表面観察を行う観察装置であって、
    前記複数の前記部分画像をそれぞれ、前記撮像領域を変えずにデータ圧縮する処理をしてから前記相対移動に対応する方向へ並べるように互いに連結して、前記被検物の部分を前記相対移動方向へ連続的に視認できる連結画像にする画像連結部と、
    前記画像連結部により連結された前記連結画像を表示する画像表示部と、
    前記画像表示部で表示される前記連結画像において所望の領域を選択する操作が行われる操作部と、
    前記選択された領域に対応する前記部分画像を前記画像表示部に拡大して表示させる選択表示制御部と、
    前記連結画像における前記相対移動方向に対する輝度変化を示すヒストグラムを作成し、前記ヒストグラムを前記連結画像と同期させて前記画像表示部に表示させるヒストグラム作成部と、
    前記操作部を用いて、前記画像表示部で表示される前記ヒストグラムの所望の領域を選択する操作が行われると、前記ヒストグラムの前記選択された領域に対応する前記部分画像を前記画像表示部に表示させる第2の選択表示制御部を有することを特徴とする観察装置。
  7. 前記画像表示部で表示される前記部分画像は、前記連結画像において前記部分画像に該当する部分よりも高い解像度を有することを特徴とする請求項1から請求項6のうちいずれか一項に記載の観察装置。
  8. 前記被検物を回転可能に保持する回転保持部を有しており、
    前記回転保持部は、略円盤状に形成された前記被検物の回転対称軸を回転軸として、前記撮像部の前記撮像領域に対する前記被検物の外周端部の相対回転方向が前記相対移動方向となるように前記被検物を回転駆動し、
    前記撮像部は、前記回転軸と直交する方向から前記被検物の外周端部または外周端部近傍を連続的に複数撮像し、
    前記画像連結部は、前記連続的に複数撮像して得られた前記被検物の外周端部または外周端部近傍に関する前記複数の前記部分画像をそれぞれ前記連結して、前記被検物の外周端部または外周端部近傍を前記相対回転方向へ連続的に視認できる連結画像にすることを特徴とする請求項1から請求項7のうちいずれか一項に記載の観察装置。
  9. 被検物を部分的に撮像可能な撮像部により、前記撮像部の撮像領域を前記被検物に対して相対移動させながら前記被検物の部分を複数撮像して得られた、前記複数の前記撮像領域における前記被検物の部分画像を用いて前記被検物の表面観察を行う観察方法であって、
    前記複数の前記部分画像をそれぞれ、前記撮像領域を変えずにデータ圧縮する処理をしてから前記相対移動に対応する方向へ並べるように互いに連結して、前記被検物の部分を前記相対移動方向へ連続的に視認できる連結画像にする画像連結処理と、
    前記画像連結処理で連結した前記連結画像を表示する画像表示処理と、
    操作部を用いて、前記画像表示処理で表示する前記連結画像において所望の領域を選択する操作が行われると、前記選択された所望の領域に対応する前記データ圧縮する処理を行う前の前記部分画像を前記連結画像と並べて拡大して表示する選択表示処理とを有することを特徴とする観察方法。
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