JP5314259B2 - 光ピックアップ・ユニット - Google Patents

光ピックアップ・ユニット Download PDF

Info

Publication number
JP5314259B2
JP5314259B2 JP2007215762A JP2007215762A JP5314259B2 JP 5314259 B2 JP5314259 B2 JP 5314259B2 JP 2007215762 A JP2007215762 A JP 2007215762A JP 2007215762 A JP2007215762 A JP 2007215762A JP 5314259 B2 JP5314259 B2 JP 5314259B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
optical pickup
axis
beam combiner
polarization
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2007215762A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2008052897A (ja
Inventor
レオング タン キム
デニーズ ヘンドリクス カレン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Viavi Solutions Inc
Original Assignee
JDS Uniphase Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by JDS Uniphase Corp filed Critical JDS Uniphase Corp
Publication of JP2008052897A publication Critical patent/JP2008052897A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5314259B2 publication Critical patent/JP5314259B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/28Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 for polarising
    • G02B27/283Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 for polarising used for beam splitting or combining
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/30Polarising elements
    • G02B5/3025Polarisers, i.e. arrangements capable of producing a definite output polarisation state from an unpolarised input state
    • G02B5/3033Polarisers, i.e. arrangements capable of producing a definite output polarisation state from an unpolarised input state in the form of a thin sheet or foil, e.g. Polaroid
    • G02B5/3041Polarisers, i.e. arrangements capable of producing a definite output polarisation state from an unpolarised input state in the form of a thin sheet or foil, e.g. Polaroid comprising multiple thin layers, e.g. multilayer stacks
    • G02B5/305Polarisers, i.e. arrangements capable of producing a definite output polarisation state from an unpolarised input state in the form of a thin sheet or foil, e.g. Polaroid comprising multiple thin layers, e.g. multilayer stacks including organic materials, e.g. polymeric layers
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/135Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
    • G11B7/1395Beam splitters or combiners

Description

本出願は一般に光ピックアップ・ユニットに関し、詳細には、リターデーション・コンポーネントを提供するために薄膜コーティングを利用した光ピックアップ・ユニットに関する。
コンパクト・ディスク(CD)は、1980年代に発明され、可聴信号のあらゆるディジタル記録を可能にしている。音声CDおよび/またはCD−ROMのための光ピックアップ・ユニット(OPU)には、符号化されたディジタル情報を読み取るための近赤外(NIR)(たとえば780nm、785nm、790nm)半導体レーザが使用されている。対物レンズの開口数(NA)は約0.45であり、深さ約100nm、幅約500nm、およびディスクの中心からの半径距離に応じて長さ約850nmないし3500nmのピット(ディスク上への符号化の1単位)測値を可能にしている。
1990年代に、CDの約3.5倍の物理的記録密度の増加を可能にする極めて重大な光学設計変更がなされた最初の商用ディジタル汎用ディスク(DVD)が出現した。この物理的密度の増加が可能になったのは、より短い波長(たとえば音声CDにおける780nm近赤外バンド(NIR)に対して650nm、660nmレッド・バンドなど)の半導体(SC)レーザの使用、およびより大きいNAレンズ(たとえば0.6NAには厚さ0.6mmのDVDディスクが必要である)の使用によるものであった。後方互換DVD/CD光ピックアップ・ユニットには、単一コンポーネントまたは離散コンポーネントとしてパッケージされた2つのレーザ源が使用されており、それらの読取りビームは、偏光ビーム・コンバイナ(PBC)および/または二色性ビーム・コンバイナ(DBC)によって結合されている。
DVD媒体の後継システムは、ブルレイ・ディスク(BD)から高密度HD−DVDまでの範囲をフォーマットしている。これらのシステムでは、読取り/書込みSCレーザの波長が約405〜410nmブルー−バイオレット・バンドまでさらに短くなっており、また、NAも約0.85まで大きくなっている。BDまたはHD−DVD後方互換DVD/CDシステムの場合、3つのすべてのディスク媒体のフォーマットをサポートするためには、第3の波長のレーザ(たとえば最初の2つのレーザと共通にパッケージされたレーザまたはそれらとは別にパッケージされたレーザ)が必要である。
図1を参照すると、従来技術による3波長HD−DVD/DVD/CD光ピックアップ・ユニット(OPU)の一例が示されている。OPU100は、複数の半導体レーザ源のアレイ110を備えている(つまり、λ=780nmの第1のLD111、λ=660nmの第2のLD112、およびλ=405nmの第3のLD113を備えた3つの離散レーザ・ダイオード(LD)として示されている)。これらのLDの出力は、複数の偏光ビーム・コンバイナ・キューブ(PBC)のアレイ130によって空間的に多重化され、レンズ・システム160によって平行化され、また、漏洩性ミラー140によって折り曲げられた後、対物レンズ161を介して回転ディスク媒体150の単一「ピット」領域に像をつくる(集束する)。漏洩性ミラー140は、入射するビームのエネルギーの微小部分(たとえば5%)のタップ・オフおよびもう1つのレンズ165を介したモニタ・フォトダイオード(PD)175への集束を可能にしている。
複数のLD源のアレイ110からの出力は、実質的に直線偏光される(たとえばPBC斜辺表面に対して「S」偏光される)。これらの直線偏光ビームは、複数のPBCキューブのアレイ130に到達する前に、望ましくない帰還(たとえば「P」偏光)からLD源を保護する複数の低仕様偏光子120のアレイを透過する。従来、保護フィルタ120は、偏光消光比が10:1である単純な二色吸収偏光子である。
LD源110の各々からの主光線は、共通経路180に沿ってディスク媒体150に向かって導かれる。光は、4分の1波長板(QWP)145に到達する前に、実質的に直線偏光される。直線偏光された(LP)光は、QWP145を通過した後、円偏光された(CP)光に変換される。CP光の左右像は、QWPの光学軸配向で決まる(所与のSまたはP偏光入射の場合)。図に示す、「S」偏光がQWPに入射する例の場合、QWPの遅軸がPBCのp平面に対して反時計方向(CCW)に45°で整列すると、QWPの出口に左回り円(LHC)偏光が出現する(LHCは、ジョーンズ・ベクトル[1j]/√2を有しており、また、観察者に入射するビームを見ている間は、直観RH−XYZ座標系が仮定されている)。
記録されたピットの物理的な刻み目が存在している事前記録CDおよびDVDディスクの場合、1/6波ないし1/4波におけるピットとその周囲の「ランド」の間の光路長の差によって、少なくとも部分的に弱め合う干渉が提供され、PBCキューブ・アレイ130の第2のポートに配置された主フォトダイオード170によって検出される光が減少する。一方、ピットが存在していない場合、PBCキューブ・アレイ130に向かって戻る際の実質的に同じ光パワーでCP左右像が変化することになる。光は、2回通過する間にQWPによって効果的に変換され、それによりPBCアレイ130に戻る際に元のS偏光からP偏光に変換される。
図2を参照すると、従来技術による、BD/HD−DVD読取り/書込みアクセスおよびレガシーCD/DVD後方互換性を提供するOPUのもう1つの例が示されている。OPU200は、3波長レーザ・ダイオード210(つまり共通にパッケージされた、発光接合間の横方向のオフセットが極めて小さい3つのSCレーザ)、書込みビームおよび読取りビームを直交する2つの経路に分割するための第1のキューブ偏光ビームスプリッタ(PBS)231、および読取りビームをBD/HD−DVDディスク・フォトダイオード271への第1の経路とCD/DVDレガシー・ディスク・フォトダイオード272への第2の経路にさらに分割するための第2のキューブ二色ビームスプリッタ(DBS)232(つまり、ガラス媒質中に浸された、長CD/DVD波長を透過させ、かつ、短BD/HD−DVD波長を反射させる長波通過(LWP)フィルタ)を備えている。書込みビームは、コリメーティング・レンズ・システム260、45度プリズム240および対物レンズ261を通過した後、ディスク媒体262に到達する。当分野で良く知られているように、残りのコンポーネントには、回折格子および様々なレンズが含まれている。QWP245は、コリメーティング・レンズ・システム260と対物レンズ261の間に挿入されている。上で説明したように、QWPの速軸/遅軸は、それらの間を最初に通過する際に円偏光が提供されるよう、システムの「S」および「P」軸に対して約±45度で整列している。
図1および2に示すOPUシステムの各々の場合、QWPは偏光変換器として機能しており、最初の通過で、第1の偏光状態を有する直線偏光を円偏光に変換し、2回目の通過で、円偏光を第2の直交偏光状態を有する直線偏光に変換している。従来、QWPは、無機結晶(たとえば単結晶水晶、単結晶MgF、LiNbO等)、液晶または延伸重合体膜(たとえばポリカーボネート、ポリビニル・アルコール等)などの複屈折エレメントから形成されている。残念ながら、従来のQWPが有効に機能しているのは、狭い波長帯域内のみである。
したがって、図1および2に示すOPUシステムなどのOPUシステムには、複数の波長帯域および/または比較的広い波長帯域にわたって4分の1波長のリターダンスを提供する色消しQWP(AQWP)がしばしば使用されている。従来、AQWPは、複数の異なる波長板を一体に積層することによって製造されている(たとえば接着剤を使用して一体に結合された、光軸が互いに直交している、水晶およびMgFなどの2つの異なる屈折率分散複屈折物質の2分の1波長板層および4分の1波長板層、あるいは所定の方位角オフセットで整列した同様の複屈折層のうちの複数の層)。しかしながら、積層されたAQWP構造によって広い帯域幅が提供されることは事実であるが、それらは耐環境性に乏しいことも事実である。また、複数の波長板層を使用する場合、必要な厚さおよび方位角オフセットの許容差のため、AQWPの製造コストが増加する。
現在の高密度光学記憶システム(すなわちHD−DVDまたはBDディスク読取り/書込みチャネルを備えたシステム)の場合、QWPエレメントの信頼性は、ハイ・パワー・ブルー−バイオレット・レーザ出力(たとえばより速い読取り/書込み速度の場合、240mW以上のパワー)では重要な要素になっている。さらに、約100nm、約165nmおよび約200nmの大きさのリターデーションを生成するためには、3つのすべての光チャネル、つまりブルー−バイオレット405nm、レッド660nmおよびNIR780nmのためのAQWPが必要である。信頼性の高い複屈折コンポーネントから、低コストの消費者エレクトロニック・インテグレーションで得られるこれらの全く異なる大きさのリターデーション要求事項は、単結晶性物質および延伸有機箔以外の代替QWP技術の追求を余儀なくしている。解決法の1つには、場合によっては、独自のOPUを使用した短波長ブルー−バイオレット・チャネルの分離、および延伸箔AQWPを始めとする従来のOPUを使用したレガシー・レッド/NIR DVD/CDチャネルの分離が必要である。しかしながら、複数の冗長光学コンポーネント、折曲げミラー、レンズ等が存在しているため、この手法は、コストが高くなっている。
一連の均質で、かつ、等方性の誘電体層を有する、高真空蒸着プロセスによって製造された光薄膜は、反射および透過の際に、入射面に平行に整列した直線偏光(P偏光)および入射面に直角に整列した直線偏光(S偏光)に異なる位相変化をもたらすことはこの業界で良く知られている。非垂直入射が反射および透過する際に位相が変化する基本的な理由は、P偏光およびS偏光の実効屈折率が入射角を関数として変化することによるものである。
Figure 0005314259
上式で、nおよびnは、層の法線からのθ屈折角における実効屈折率であり、θは、スネルの法則によって入射角θに関係している。
sin(θ)=nsin(θ)
上式で、nは入射媒体の屈折率であり、nは均質な薄膜層の屈折率である。
この歴史的な知識が与えられると、透過型動作または反射型動作の薄膜スタックを設計することができ、フィルタ・パワー特性(短波通過、帯域通過、無反射、高反射など)に加えて、非垂直入射におけるリターデーション性能が達成される。10.6μmの波長における4分の1波長の光学的厚さ(QWOT)未満の一連の層を利用した、入射角が45度のQWP(つまり90°リターダ)の設計を教示した、Southwellに対する米国特許第4,312,570号特許に、このような設計例の1つが記載されている。この設計では、膜のスタックは本質的に透明であり、下を覆っている銀の基板によって大きい反射率が実質的に得られる。また、この設計は本質的に狭帯域である(つまりパワーおよびリターデーション特性を達成することができるのは、設計中心波長に対する有効波長の微小部分である)。屈折率が互い違いにされた一連の薄層を使用した、広範囲の帯域幅にわたる角度で正味リターデーションを提供するための複屈折の形成を教示した、Yehらに対する米国特許第5,196,953号に、もう1つの設計例が記載されている。また、参照により本明細書に組み込まれている、2007年5月25日出願の米国特許出願番号第11/753,946号に、さらに他の設計例が提供されている。これらの均質誘電体薄膜コーティングを使用することによって実現することができるのは、いわゆるCプレート複屈折対称性のみである。薄膜のスタックは、C軸(実効単軸屈折率楕円体の光学軸)が基板の法線に平行に整列した正のCプレートまたは負のCプレートのいずれかである。
従来のOPUシステムのレイアウトを調査すると、自然ビーム折曲げ位置が存在しており、その位置で、ディスク媒体にアクセスするために、すべて所与の平面(たとえば水平面)に位置している一連の光学コンポーネントを横切る光ビームが90度方向転換する。折曲げ光学系は、通常、45度傾斜した高リフレクタ・プレートまたは三角プリズムであり、傾斜した表面に高リフレクタ膜がコーティングされている。
従来の独立型AQWPの代わりに薄膜AQWPをOPUシステムに使用することは、いくつかの理由で魅力的である。薄膜AQWPは、信頼性の高い誘電体層で構築することができ、複屈折結晶板を成長させ、かつ、研磨する必要がないため、低コストで構築することができ、また、延伸重合体箔の場合のようにブルー−バイオレット・レーザによって光化学劣化することはない。これらの理由により、従来のAQWPを、傾斜した薄膜コーティングが施された、移相特性を有するプレートに置換する関心が高まっている。
Kimらは、米国特許出願第2004/0246876号の中で、P偏光とS偏光の間に90度の位相遅延を生成するために移相コーティング層を使用した2波長DVD/CD OPUを示している。Kimらによれば任意の数のコンポーネント上に形成することができるこの移相コーティング層には、従来の色消し4分の1波長板の置換が意図されており、したがって製造コストの低減を提供している。一実施形態では、光が45度の角度で入射するよう、折曲げミラーの上に移相コーティングが形成されている。この実施形態の場合、当業者は、移相コーティングがCプレートとして機能することを期待している。残念ながら、提案されているOPUレイアウトには、傾斜したCプレートの遅軸および速軸がその傾斜軸に平行および直角に限定されることが考慮されていない。したがって提案されているOPU設計は、移相コーティングを組み込んでいるとはいえ、折曲げミラーで反射する際に、直線偏光入力を左回りまたは右回り円偏光出力に、また、その逆に左回りまたは右回り円偏光入力を直線偏光出力に変換していない。このリターデーション効果なくしては、DVD/CDレーザ・エミッタの両方からのすべての光ビームが、偏光ビームスプリッタを介して検出器に向かって方向転換する代わりにレーザ源に戻るよう、第1の通過入射光ビームおよび第2の戻り光ビームの偏光に変化はない。
Moonらは、米国特許出願第2006/0126459号の中で、同じく、4分の1波長板に対応するコーティングを表面に備えた移相ミラーを使用した2波長DVD/CD OPUを示している。米国特許出願第2004/0246876号の中で提案されている設計とは対照的に、この構成は、所定の角度(たとえば45度)で傾斜した偏光方向で直線偏光を移相ミラーに入射させなければならないことに対処しており、したがって、Cプレートの遅軸および速軸がその傾斜軸に限定されることが考慮されている。残念ながら、この設計は、改善を提供していることは事実であるが、損失が大きく、比較的複雑で、かつ、2つの波長にのみ限定されている点で十分ではない。前者に関しては、損失のほとんどは、プレート・ビームスプリッタを使用していることによるものと思われる。プレート・ビームスプリッタは、プレート・ビームスプリッタの一方の側に配置されているすべてのレーザ源光学系を、プレート・ビームスプリッタのもう一方の第2の側に配置されている検出器から分離している。プレート・ビームスプリッタは、キューブ・ビームスプリッタに対してS偏光光ビームおよびP偏光光ビームの両方が、レーザ源からディスク媒体への第1の通過で概ね1/2S偏光および1/2P偏光としてプレート・ビームスプリッタに入射するよう、また、プレート・ビームスプリッタが非偏光ビームスプリッタとして機能する(たとえば50:50で強度を分割する)よう、キューブ・ビームスプリッタに対して角度が付けられている。2回遭遇するこの強度分割が重大な光損失の原因になっている。
また、Leeは、米国特許出願第2006/0039265号の中で、従来の独立型AQWPを使用していないOPUを開示している。より詳細には、Leeは、累積90度S偏光対P偏光位相差を生成するための偏光ビームスプリッタ(PBS)キューブおよび折曲げミラー・リフレクタ・プレートを含む、レーザ・ダイオードとディスク媒体の間の光路に沿った複数の光薄膜の使用を開示している。残念ながら、一般的に少なくとも1つのPBSキューブを備えているこの設計には、1つまたは複数のPBSキューブの二重減衰の影響が考慮されていない。大まかに90%(つまりS偏光は全く反射せず、P偏光の90%が反射する)であると記述されている二重減衰の場合、減衰した直線偏光方向の位相変化は問題ではない。減衰方向に反射する、複屈折効果をもたらすような光は存在していない。したがってPBSキューブの出力は、厳密にP偏光またはS偏光である。また、Leeの特許出願には、折曲げミラー上の部分的なQWP位相コーティングに対する入射直線偏光の方位オフセットが提供されていないことに留意されたい。したがって、折曲げミラーで反射した光が直線偏光から円偏光に変化することはない。ディスク媒体から戻る光は、偏光が変化していないため、検出器に向かう代わりにレーザ源に向かって方向転換することになる。
米国特許第4,312,570号 米国特許第5,196,953号 米国特許出願第2004/0246876号 米国特許出願第2006/0126459号 米国特許出願第2006/0039265号
本発明の目的は、上述した従来技術の問題の少なくともいくつかを除去する構成を備えた、実質的に4分の1波長のリターダンス(つまり90度移相(phase shift))を提供するコーティングを組み込んだOPUを提供することである。
本発明の一態様によれば、第1の波長の光を放出するための第1の光源、および第2の他の波長の光を放出するための第2の光源を含む複数の光源と、前記複数の光源の個々の光源から放出される光を、共通光路に沿って、第1の軸に平行の第1の方向に透過させるための少なくとも1つのビーム・コンバイナと、前記第1の方向に透過する光の方向を、前記第1の軸に対して実質的に直角の第2の軸に平行の第2の方向に方向転換させるためのリフレクタであって、所定の入射角で前記第1および第2の波長において実質的に4分の1波長のリターデーションを提供するためのコーティングを含むリフレクタと、前記リフレクタによって方向転換された光を光ディスクに集束させるための対物レンズと、前記光ディスクで反射した光を検出するための少なくとも1つの光検出器とを備えた光ピックアップ装置であって、前記少なくとも1つのビーム・コンバイナおよび前記リフレクタが前記第1の軸に沿って配置され、前記少なくとも1つのビーム・コンバイナによって前記第1の方向に透過した光が、実質的に前記第1の軸に対して直角で、かつ、前記第2の軸に対して斜角をなす電界ベクトルを有する直線偏光を含む、光ピックアップ装置が提供される。
以下で定義されている用語に関して、特許請求の範囲または本明細書のいずれかの部分でこれらの定義と異なる定義がなされていない限り、これらの定義が適用されるものとする。
「複屈折」という用語は、複数の異なる屈折率を有していることを意味するものとして理解されたい。通常、複屈折によって、直交直線偏光を有する光(たとえばS偏光およびP偏光)が異なる速度で媒体中を伝搬することになる。この伝搬速度の変化によって、2つの直交偏光の間に位相差が生じる。
「リターダンス」という用語は、2つの直交直線偏光成分の間の位相差を意味するものとして理解されたい。リターダンスは、しばしば波長の微小部分として表される(たとえば度またはナノメートルで表される)。
「リターデーション」という用語は、2つの直交屈折率の間の差×光エレメントの厚さを意味するものとして理解されたい。あるいは「リターデーション」という用語は、2つの直交直線偏光成分の間の符号付き位相差を意味するものとして理解されたい。本出願においては、「リターデーション」という用語は、しばしば「リターダンス」という用語と交換可能に使用されていることに留意されたい。
「単軸」という用語は、2つの異なる屈折率を有していることを意味するものとして理解されたい(その場合、たとえばnx、nyおよびnzのうちの少なくとも2つが実質的に等しい)。
「平面内」という用語は、平面内複屈折、平面内リターダンスなどのように、コンポーネントの平面に平行であることを意味するものとして理解されたい。
「平面外」という用語は、平面外複屈折、平面外リターダンスなどのように、コンポーネントの法線に平行であることを意味するものとして理解されたい。
「平面内リターデーション」という用語は、2つの直交平面内屈折率の間の差×光エレメントの厚さの積を意味するものとして理解されたい。
「平面外リターデーション」という用語は、光エレメントの厚さ方向(z方向)に沿った屈折率と1つの平面内屈折率の差×光エレメントの厚さの積を意味するものとして理解されたい。あるいはこの用語は、光エレメントの厚さ方向(z方向)に沿った屈折率と複数の平面内屈折率の平均の差×光エレメントの厚さの積を意味するものとして理解されたい。
「Aプレート」という用語は、そのC軸がデバイスの平面に平行に整列した光リターダを含むものとして理解されたい。
「Cプレート」という用語は、そのC軸がデバイスの法線方向に平行に整列した(すなわち異常光屈折率nの軸が光リターダの平面に直角である)光リターダを含むものとして理解されたい。Cプレートは、異常光屈折率nが常光線屈折率nより大きい場合は正と見なされ、異常光屈折率nが常光線屈折率nより小さい場合は負と見なされる。あるいはCプレートは、リターダンスが入射角と共に増加する場合は正と見なされ、リターダンスが入射角と共に減少する場合は負と見なされる。
本発明の他の特徴および利点は、添付の図面に照らして行う以下の詳細な説明から明らかになるであろう。
添付のすべての図面を通して、同様の機能は、同様の参照数表示で識別されていることに留意されたい。
図3を参照すると、本発明によるOPUシステム500の一実施形態が示されている。図1に示すシステム100と類似した構成を有するOPUシステム500は、少なくとも1つの光源510、複数の保護フィルタのアレイ520、複数の偏光ビーム・コンバイナのアレイ530、リフレクタ540、回転光ディスク550、コリメーティング・レンズ560、対物レンズ561、集束レンズ565、主フォトダイオード570およびモニタ・フォトダイオード575を備えている。
3つの離散レーザ・ダイオード(LD)511、512および513のアレイとして示されている少なくとも1つの光源510は、1つまたは複数の異なる波長(たとえばそれぞれ780nm、660nmおよび405nmの波長)の直線偏光を提供している。別法としては、少なくとも1つの光源510は、共通にパッケージされた3つのLDを備えている。さらに別法としては、少なくとも1つの光源510は、4つ以上または2つ以下のLDを備えている。
複数の保護フィルタのアレイ520は、ディスク媒体からの望ましくない反射光(たとえばP偏光)を阻止し、少なくとも1つの光源510に向かって方向転換させるために使用されている。従来、保護フィルタ520は、垂直入射で使用される単純な二色吸収偏光子である。別法としては、保護フィルタ520は、わずかに傾斜したエッジ・フィルタである。いずれの場合においても、フィルタ520は、通常、約10:1の偏光消光比を有している。注目すべきことには、わずかに傾斜したエッジ・フィルタは、とりわけより短いHD−DVD波長範囲において、染料がドープされた二色吸収偏光子より信頼性が高いことが期待される。図4は、傾斜したエッジ・フィルタの使用を示したものである。伝搬方向が順方向である場合、傾斜した薄膜コーティング520は、第1のLD511から送られてくるローカルP偏光を通過させ、第1の偏光ビーム・コンバイナ531へ送る。伝搬方向が逆方向である場合、LD511は、フィルタ520によって、直交偏光ビーム(たとえばローカルS偏光)から保護される。フィルタ520は、ローカルRH−XYZ座標系におけるX軸の周りに微小角度AだけCW方向またはCCW方向に回転する。有利には、Cプレート薄膜コーティング592を備えた傾斜したエッジ・フィルタ520を使用することにより、光学システムにおける全誘電体コンポーネントの数が増加し、したがって信頼性の高いOPUが提供される。当然、傾斜したエッジ・フィルタの使用は、Cプレート薄膜コーティング(すなわち従来の色消し4分の1波長板を備えたコーティング)の有無にかかわらず有利である。
第1のPBC531、第2のPBC532および第3のPBC533を備えた偏光ビーム・コンバイナ(PBC)のアレイ530は、複数のLDのアレイ510からの出力を空間的に多重化し、共通光路580に沿って導くために使用されている。常に1つの偏光(たとえばS偏光)を反射させ、かつ、直交偏光(たとえばP偏光)を透過させる従来のMacNeilleタイプのPBCキューブとは対照的に、この複数の偏光ビーム・コンバイナのアレイ530は波長依存型である。たとえば伝搬方向が順方向である場合、第1のPBCキューブ531は、λのS偏光を反射させることによって光λを第1のLD511から共通経路580に結合する。伝搬方向が逆方向である場合、第1のPBCキューブ531は、λのP偏光を透過させ、かつ、それぞれLD512および513と結合しているλおよびλのP偏光を透過させる。同様に、PBCキューブ532は、λのS偏光を反射させ、λ、λおよびλのP偏光を透過させ、かつ、λのS偏光を透過させることによってλを共通経路580に結合する。また、PBCキューブ533は、λのS偏光を反射させ、λ、λおよびλのP偏光を透過させ、かつ、λおよびλのS偏光を透過させることによってλを共通経路580に結合する。
リフレクタ540は、PBC530から送られてくる光を90度のビーム折曲げによって回転光ディスク550に向けて方向転換させる。リフレクタ540は、少なくとも1つの波長チャネル(たとえば図3に示すOPUシステムの場合、約405nm、660nmおよび78nmの3つの波長)に、実質的に4分の1波長のリターデーションを提供する薄膜コーティング592を備えている。一実施形態によれば、薄膜コーティング592は、透明基板に付着した、対照的な屈折率がフィルタ(たとえば短波通過フィルタまたは長波通過フィルタ、帯域通過フィルタ、高反射フィルタなど)に組み込まれた複数の互い違いの層を備えている。透明基板は、平行プレートであっても、あるいはほぼ45°のプリズムであってもよい(たとえばプリズムの角度の付いたファセットの上に薄膜コーティング592を付着させることができる)。この実施形態では、フィルタは漏洩性ミラーとして機能し、入射するビームのエネルギーの微小部分(たとえば5%)のタップ・オフおよびモニタ・フォトダイオード575への集束を可能にしている。他の実施形態では、高リフレクタは、実質的にすべての入射光、S偏光およびP偏光を光ディスク550に向けて直交ビーム経路に方向転換させている。
コリメーティング・レンズ560、対物レンズ561、集束レンズ565およびフォトダイオード(PD)570、575を含む残りの光学コンポーネントは、従来技術で使用されている光学コンポーネントと同様である。図3に示すシステム500は、説明を目的としたものであり、ある程度簡略化されていることに留意されたい。たとえば、市販されているOPUの場合、LD出力は、通常、ピットレーンを追跡するために、複数のスポット(たとえば3つのスポット)にファンアウトされており、また、適切な追跡を決定するための補助フォトダイオード・エレメントが検出器平面に取り付けられている。さらに、主PD570の代わりにフォトダイオード・アレイを使用して、検出器平面の円筒集束レンズと共に対物レンズの集束を補助することも可能である。
動作中、LD511、512、513の各々からの直線偏光が偏光(たとえばS偏光)として複数の保護フィルタのアレイ520を透過し、複数のPBCのアレイ530によって空間的に多重化され、かつ、共通光路580に沿って導かれる。直線偏光は、次に、コリメーティング・レンズ560によって平行化され、CプレートQWPコーティング592を有する漏洩性ミラー540へ送られる。漏洩性ミラー540は、直線偏光を円偏光に変換し、変換した円偏光を対物レンズ561を介して光ディスク550へ向けて方向転換させる。光ディスク550で反射した光は、対物レンズ561をもう一度透過し、コリメーティング・レンズ560に向かってリフレクタ540で反射する。円偏光は、漏洩性ミラー540を2回通過し/反射した後、入射する光に対して直角の偏光状態を有する直線偏光(たとえばP偏光)にもう一度変換される。複数のPBCのアレイは、複数の個々の波長のP偏光を通過させ、主フォトダイオード570へ導く。
注目すべきことには、この光学システム500の性能は、リフレクタ540の上流側のコンポーネントとリフレクタ540の下流側のコンポーネントの間の角オフセットで決まる。様々なシステム・コンポーネントの方位配向についての以下の説明を容易にするために、光学システム100/500は、ビームの多重化および読取りビームの検出を提供するレーザ源/検出器セグメントと、多重化されたビームを平行化し、かつ、光ディスク媒体へ中継するディスク読取り/書込みセグメントに概略的に分割されている。もう一度図1および3を参照すると、レーザ源/検出器セグメントは、PBCアレイの反射ポートの左側(たとえば共通経路ラベル180/580の左側)に光学コンポーネントを備えることができ、一方、ディスク読取り/書込みセグメントは、共通経路ラベル180/580の右側に光学コンポーネントを備えることができる。コリメーティング・レンズ160/560は、その位置に応じていずれかのセグメントに属することになる。通常、ディスク読取り/書込みセグメントには、リフレクタ540および/または実質的に円偏光された光ビームが含まれている。
図1では、リフレクタ140は、説明用として、光路を図1の平面内で直角(たとえば90°の極角)に折り曲げている(たとえば方位回転0°で)。実際には、光路は、光学コンポーネントが含まれている平面を従来の光ディスク・トレイの幅/長さ寸法に維持し、かつ/または読取り/書込み光をディスク・トレイに導くために、図1の平面外で折り曲げられることがより一般的である(たとえば方位回転90°で)。別法としては、光路は、90°の極角に、−90°、0°または180°の方位回転で折り曲げられる。いずれの場合においても、極角および/または方位角は、RH−XYZ座標系を使用して、z軸に対して記述される。
図3に示すリフレクタ540も、図1に示す実施形態のリフレクタ140と同様、光路を直角(たとえば90°の極角)に折り曲げられている。しかしながら、90°(またはその90°倍角)の方位オフセットを使用する代わりに、図3のPBC530は、読取り/書込みセグメントとレーザ源/検出器セグメントの間に45°(またはその90°倍角)の方位オフセット(たとえば±45°、±135°の方位回転)が存在するように角度が付けられている。ディスク読取り/書込みセグメントとレーザ源/検出器セグメントは、漏洩性折曲げミラー540まで同じZ軸を共有している。ローカルZ軸は、この漏洩性折曲げミラー540の位置で、±45°または±135°の方位角のうちの任意の角度に沿って、共通経路580に対する方向が90°変化する。
図5は、この45°のオフセットを角度585を使用してより明確に示したものである。より詳細には、図5には、RH−XYZ座標系に対してCCW方向に45°回転したレーザ源/検出器セグメントが示されている。したがって、共通経路における直線偏光(LP)は、135°の方位配向で含まれている。共通経路は、図に示すRH−XYZ座標系に対して90°の方位に沿って90°に折り曲げられている(角度586で示されている)。XZ平面は、通常、光ディスク・システムにおけるディスク・トレイ平面である。読取り/書込みビームは、上に向かってディスク・トレイへ導かれる。二重矢印595および596は、それぞれ、レーザ源/検出器セグメント内の第1の通過ビームおよび第2の通過ビームの直線偏光ベクトルを示している。これらの偏光軸は、共通ビーム経路580に沿ったX軸およびY軸に対して約±45度のオフセットを形成している。
好都合には、光学システム100に対して、光学システム500における±45°の方位オフセットにより、リフレクタ540をディスク・アクセスの複数の波長で色消しQWPとして機能させることができる。より詳細には、±45°のオフセットには、AQWPコーティングの遅軸/速軸が傾斜平面(およびその直交平面)に限定されることが考慮されている。傾斜平面は、図5に示すAQWP折曲げミラー540のYZ平面などの傾斜角を限定する平面として定義されている。速軸/遅軸の実際のアライメントは、Cプレート・リターダンスの符号で決まり、+Cプレート・エレメントの場合、遅軸(SA)は傾斜面に平行に整列し、また、その速軸(FA)は回転軸に平行に整列する。−Cプレート・エレメントの場合はその逆である。
図6および7は、それぞれ構成100および500の第1の通過ビームLP、AQWPの遅軸/速軸、および第2の通過ビームLPの方位配向を示したものである。
図1の場合、PBC133から送られてくる、レーザ源/検出器セグメント内で多重化されるレーザ・ビームは、図面の平面に対して直角であり(つまりPBC斜辺に対してS偏光されている)、一方、PBC133へ送られる読取りビームは、図面の平面に平行である(つまりPBC斜辺に対してP偏光されている)。図6のaおよびcは、これらの2つの方位配向をそれぞれ示したものである。bに実線の二重アレイで示す色消しQWP145の遅軸は、同じくPBC斜辺のp平面に平行である正のX軸に対して反時計方向(CCW)に45°で整列している。したがって左回り円偏光ビームがAQWP145から射出する(観察者に入射するビームを見ている間は、直観RH−XYZ座標系が仮定されている)。AQWP145の速軸は、AQWP145の遅軸から90°方位オフセットしている。図6のbにダッシュ線の二重アレイはこれを示したもので、同じくPBC斜辺のp平面に平行である正のX軸に対して時計方向(CW)に45°で整列している。上で説明したように、ディスク読取り/書込みセグメントは、0度の公称オフセットから任意の90°の倍角だけレーザ源/検出器セグメントから方位オフセットしていることが仮定されている。すべての方位角の基準は、グローバルRH−XYZ座標系に対するものである。
図3の場合、PBC533から送られてくる、レーザ源/検出器セグメント内で多重化されるレーザ・ビームは、Z軸に対して実質的に直角であり、かつ、Y軸から+45度の角度をなしている電界ベクトルを有している(つまりZ軸の周りにCCWの方向に45度回転したPBC斜辺に対してS偏光されている)。PBC533へ送られる読取りビームは、Z軸に対して実質的に直角であり、かつ、Y軸から−45度の角度をなしている電界ベクトルを有している(つまりZ軸の周りにCCWの方向に45度回転したPBC斜辺に対してP偏光されている)。図7のaおよびcは、これらの2つの方位配向をそれぞれ示したものである。AQWP540の遅軸は、bに実線の二重アレイで示されており、AQWP540の速軸は、図7のbにダッシュ線の二重アレイで示されている。上で説明したように、ディスク読取り/書込みセグメントは、±45度(モジュロ90度)だけレーザ源/検出器セグメントから方位オフセットしていることが仮定されている。すべての方位角の基準は、グローバルRH−XYZ座標系に対するものである。
偏光ビーム・コンバイナをレーザ源/検出器セグメント内に利用しているOPUシステムの場合、公称±45度方位平面オフセットによっても、レーザ源/検出器セグメントと読取り/書込みセグメントの間に等価の入射面オフセットが得られることに留意されたい。このOPUシステム構造によれば、反射型AQWP/折曲げミラーの実質的に90度位相リターダンスを利用して、第1の通過でレーザ源/検出器セグメントの直線偏光を読取り/書込みセグメントの円偏光に変換することができ、また、その逆に、第2の通過で読取り/書込みセグメントの円偏光をレーザ源/検出器セグメントの直線偏光に変換することができる。また、その速軸が折曲げミラーの傾斜平面に平行に整列して示されている反射型AQWP/折曲げミラーは、傾斜平面に対する速軸/遅軸の割当てを実例で示したものにすぎないことに留意されたい。通常、多重チャネルOPUシステムにおける任意の波長チャネルまたはすべての波長チャネルは、図7に示す実例とは逆のセットの速い割当て/遅い割当て(つまり傾斜平面に平行に整列した遅軸を有する割当て)を仮定することができる。異なる波長チャネルに対するこの割当ての自由性および/または混合は、レーザ源から光ディスクへ、また、光ディスクから検出器への戻りに、反射型AQWP/折曲げミラーを二回通過する際の90度直線偏光回転機能を何ら損なうものではない。
図8を参照すると、本発明によるOPUシステム600の他の実施形態が示されている。OPUシステム600は、図3に示す光学システム500を参照して説明したように、少なくとも1つの光源510、複数の保護フィルタのアレイ520、漏洩性ミラー540、回転光ディスク550、コリメーティング・レンズ560、対物レンズ561、集束レンズ565、主フォトダイオード570およびモニタ・フォトダイオード575を備えている。また、OPUシステム600は、さらに、第1の偏光子631、第2の偏光子632および第3の偏光子633を備えた複数のプレート偏光子のアレイ630を備えている。
複数のプレート偏光子のアレイ630の偏光子の各々は、公称45°の入射角(AOI)における分離されたS反射スペクトルおよびP反射スペクトルを提供するために、誘電体コーティング(たとえばエッジ・フィルタ)の非垂直入射特性を利用した偏光ビーム・コンバイナ(PBC)である。たとえば、空気中における45°のAOIでは、S偏光の場合、薄膜スタックの実効屈折率比(たとえば大きい屈折率と小さい屈折率の比)が大きくなり、一方、P偏光の場合は、垂直入射における屈折率比に対する実効屈折率比が小さくなる。したがってS偏光に関連する帯域幅が広くなり、P偏光に関連する帯域幅が狭くなる。そのため、波長窓が開き、複数のLD源510のうちの任意の1つをその窓に配置することができ、薄膜によって高いS偏光反射および高いP偏光透過が提供される。
伝搬方向が順方向である場合、第1のPBCプレート631は、λのS偏光を反射させることによって光λを第1のLD511から共通経路580に結合する。伝搬方向が逆方向である場合、第1のPBCプレート631は、λのP偏光を透過させ、かつ、それぞれLD512および513と結合しているλおよびλのP偏光を透過させる。同様に、PBCプレート632は、λのS偏光を反射させ、λ、λおよびλのP偏光を透過させ、かつ、λのS偏光を透過させることによってλを共通経路580に結合する。また、PBCプレート633は、λのS偏光を反射させ、λ、λおよびλのP偏光を透過させ、かつ、λおよびλのS偏光を透過させることによってλを共通経路580に結合する。通常、フィルタ520と対向しているPBCプレートの各々の表面は、高反射エッジ・フィルタ設計でコーティングされており、一方、基板の反対側の第2の表面には、S偏光透過率を大きくするためにARコーティングが施されている。注目すべきことには、ガラス基板の場合、P偏光透過率は、入射角がほぼブルースターの角度であるため、既に十分に大きくなっている。
図9は、45度の入射角での使用に適したPBCプレートの一実施例の理論反射率スペクトルを示したものである。PBCプレートは、約405nmの波長帯域のS偏光を反射させ、かつ、P偏光を透過させ、また、S偏光およびP偏光の両方を約660nmおよび780nmの帯域にわたって透過させる。したがってこのプレートは、ブルー−バイオレット・レーザ・ビームを共通経路に結合するために使用されるプレート偏光子633のスペクトル反射率機能に合致しており、かつ、他の波長チャネルのあらゆる偏光に対して透明である。プレート偏光子の各々が透明でなければならないのは、共通経路の上流側(たとえば図8に示す633の左側)に位置している波長チャネルのS偏光に対してのみであることに留意されたい。また、プレート偏光子の各々は、プレート偏光子がビーム・コンバイナ/スプリッタとして使用される場合、波長チャネルのS偏光を反射させ、かつ、すべての波長チャネルのP偏光を透過させなければならない。
有利には、これらのPBCプレートを製造するために多数の表面をコーティングする必要はなく(たとえば液浸タイプの偏光子キューブとは対照的に)、したがって費用有効性により優れている。また、PBCプレート基板は比較的薄いため、熱誘導複屈折が小さい(たとえばとりわけ記録可能/書換え可能光ディスク媒体アクセスの読取りモードまたは消去モードにおける熱誘導複屈折が小さい)。さらに有利には、反射型AQWP540および/または傾斜したエッジ・フィルタ520を備えたPBCプレート630を使用することにより、光学システムにおける全誘電体コンポーネントの数が増加し、したがって信頼性の高いOPUが提供される。
残念ながら、図8に示す構成には、傾斜したプレートを介した収束/発散円錐の像の生成に関連する非点収差およびコマ収差のため、OPUシステムの変調伝達関数(MTF)を劣化させる可能性がある。光軸に対して傾斜したプレートを使用する場合、子午平面(同じく、傾斜したプレートの入射面「P」に平行である)、およびサジタル平面(同じく、傾斜したプレートの入射面「S」に直角である)に沿った2本の焦線が存在する。これは非点収差である。第二焦点と第一焦点の間の像点は、円/楕円形状を介して変化する。この収差は、傾斜したプレートにおける、同じ極角で、かつ、円錐の逆方位における光線角毎の入射非対称性によるものである。傾斜したプレートの使用に対する二次的な効果は、傾斜した平面に沿った、物点毎の彗星様フェアーである。この場合、物点は、わずかに異なる倍率で像をつくる。これはコマ収差である。
図10を参照すると、本発明による、非点収差を補償するOPUシステム700の他の実施形態が示されている。OPUシステム700は、図3に示す光学システム500を参照して説明したように、少なくとも1つの光源510、複数の保護フィルタのアレイ520、漏洩性ミラー540、回転光ディスク550、コリメーティング・レンズ560、対物レンズ561、集束レンズ565、主フォトダイオード570およびモニタ・フォトダイオード575を備えている。また、OPUシステム700は、第1のプレート偏光子731、第2のプレート偏光子732、第3のプレート偏光子733および第4のプレート739を備えている。プレート偏光子731〜733は、図9を参照して説明したプレート偏光子631〜633と類似している。プレート739は、厚さおよび屈折率がプレート偏光子731〜733に使用されるプレートと概ね整合するように設計されている。プレート731〜733および739は、連続する薄いプレートの各々が直交座標軸の周りに約±45度回転するように配置されている。より詳細には、第1のプレート偏光子731および第4のプレート739は、プレート731〜733および739を連続的に透過する際に、サジタル平面および子午平面の役割が、切り換わるように配向されている。
図11Aは、直交軸で傾斜した互い違いの偏光ビーム・コンバイナ(PBC)の構造をさらに斜視図で示したものである。傾斜したプレートPBC732および733は、いずれもY軸の周りに−45度回転している(XY平面に対する名目上の平行から)ことに留意されたい。図11Bに示す他の実施形態によれば、構成700Aは、非点収差をさらに小さくするために、プレートPBC732Aが約+45度回転し、一方、プレートPBC733がY軸の周りに−45度回転するように設計されている。図11Aおよび11Bには、読取り/書込みセグメントとレーザ源/検出器セグメントの間の±45のオフセットがそれとなく示されている。
動作中、LD513(たとえばブルー・チャネル)からの直線偏光が偏光(たとえばS偏光)として透過し、プレート偏光子733で反射し、共通光路580に沿ってコリメーティング・レンズ560、漏洩性ミラー540、対物レンズ561および光ディスク550へ導かれ、光ディスク550で反射する。漏洩性ミラー540を2回通過した後、反射した光は、LD513で反射する光に対して直角の偏光状態を有する直線偏光に変換される。この直線偏光は、4つのプレート(たとえば733、731、732/732Aおよび739/739A)を透過した後、検出器570に到達する。同様に、LD512(たとえばレッド・チャネル)からの直線偏光が偏光(たとえばS偏光)として透過し、プレート・ビームスプリッタ732で反射し、プレート・ビームスプリッタ731および733を透過し、共通光路580に沿ってコリメーティング・レンズ560、漏洩性ミラー540、対物レンズ561および光ディスク550へ導かれ、光ディスク550で反射する。漏洩性ミラー540を2回通過した後、反射した光は、LD512で反射する光に対して直角の偏光状態を有する直線偏光に変換される。この直線偏光は、4つのプレート(たとえば733、731、732/732Aおよび739/739A)を通過した後、検出器570に到達する。最後に、LD511(たとえばNIRチャネル)からの直線偏光が偏光(たとえばS偏光)として透過し、プレート・ビームスプリッタ731で反射し、プレート・ビームスプリッタ733を透過し、共通光路580に沿ってコリメーティング・レンズ560、漏洩性ミラー540、対物レンズ561および光ディスク550へ導かれ、光ディスク550で反射する。漏洩性ミラー540を2回通過した後、反射した光は、LD511で反射する光に対して直角の偏光状態を有する直線偏光に変換される。この直線偏光は、4つのプレート(たとえば733、731、732/732Aおよび739/739A)を透過した後、検出器570に到達する。
ブルー・チャネル(すなわちLD513)およびレッド・チャネル(すなわちLD512)の両方から送られてくる光は、第1の通過で偶数数のプレートを通過することに留意されたい。したがって誘導される非点収差の量は無視し得る程度の量にすぎない。一方、NIRチャネル(すなわちLD511)は奇数数のプレートを通過するため、非点収差がもたらされる。しかしながら、NIRチャネルは比較的長い波長に対応しているため、収差は、ブルー・チャネルおよび/またはレッド・チャネルの場合と同様、それほど重大ではない。任意選択で、NIR LD511と対応するPBC731の間に追加プレートが配置される。
有利には、プレートの傾斜角、厚さ、光屈折率および間隔を選択することにより、非点収差が自己補償されるシステムが提供される。
図12を参照すると、本発明によるOPUシステム800の他の実施形態が示されている。OPUシステム800は、複数の集積レーザ源/検出器ユニットのアレイ810、複数の二色ビーム・コンバイナのアレイ830、漏洩性ミラー840、偏光ホログラム885、回転光ディスク850、コリメーティング・レンズ860、対物レンズ861、集束レンズ865およびモニタ・フォトダイオード875を備えている。
複数の集積レーザ源/検出器ユニットのアレイ810は、第1のユニット811、第2のユニット812および第3のユニット813を備えている。集積ユニットの各々は、LDなどの光源および共通にパッケージされたフォトダイオード(PD)などの光検出器を備えている。複数の集積ユニットのアレイ810は、OPUの個々の波長(たとえばそれぞれ780nm、660nmおよび405nmの波長)の直線偏光ビームを提供している。別法としては、アレイ810は、4つ以上または2つ以下の集積ユニットを備えている。
第1のDBC831、第2のDBC832および第3のDBC833を備えた複数の二色ビーム・コンバイナ(DBC)のアレイ830は、集積アレイ810からの出力を空間的に多重化し、かつ、共通光路880に沿って導くために使用されている。DBC831/832/833の各々は、2つのプリズムの間にはさまれた二色界面を使用して集積アレイ810からの光を透過または反射させている。DBCは、偏光ビームを分割するキューブではなく、むしろ入射光を波長に応じて透過および/または反射させるための二色帯域通過フィルタのタイプとして機能していることに留意されたい。
リフレクタ840は、DBC830から送られてくる光を回転光ディスク850に向けて方向転換させている。リフレクタ840は、3つのOPU波長(たとえば405nm、660nmおよび780nm)において実質的に4分の1波長のリターデーションを提供する薄膜コーティングを備えている。一実施形態によれば、薄膜コーティングは、透明基板に付着した、対照的な屈折率がフィルタ(たとえば短波通過フィルタまたは長波通過フィルタ、帯域通過フィルタ、高反射フィルタなど)に組み込まれた複数の互い違いの層を備えている。透明基板は、平行プレートであっても、あるいはほぼ45°のプリズムであってもよい(たとえばプリズムの角度の付いたファセットの上に薄膜コーティングを付着させることができる)。この実施形態では、フィルタは漏洩性ミラーとして機能し、入射するビームのエネルギーの微小部分(たとえば5%)のタップ・オフおよびモニタ・フォトダイオード(PD)875への集束を可能にしている。他の実施形態では、高リフレクタは、実質的にすべての入射光、S偏光およびP偏光を光ディスク550に向けて直交ビーム経路に方向転換させている。
この実施形態では、OPU800は、レーザ源/検出器セグメントとディスク読取り/書込みセグメントの間の角オフセットが、約0度(図12に示すように)、±90度または±180度であるように(つまり図3に示す±45度のオフセットが存在しないように)構成されている。したがってこの光学システム800の性能は、集積ユニット810から放出される直線偏光の偏光によって決まる。端面発光半導体レーザ・ダイオードは、通常、エピタキシャル層に平行の直線偏光出力ビームを生成する。AQWPコーティングの遅軸/速軸が傾斜平面(およびその直交平面)に限定されることを考慮するためには、LD源のパッケージングには、出力ビーム軸の周りの±45度のレーザ・チップの回転が必要である。別法としては、関連するレーザ波長における2分の1波長板を利用して、0度または90度の偏光出力ビームをチップ正則XY断面寸法に対して±45度に変換することも可能である。図12に示す実施形態では、偏光は、LD源812および813の場合、Y軸とZ軸の間のほぼ中間であり、また、LD源811の場合、X軸とY軸の間のほぼ中間である(たとえば、これは、点線および二重矢印を使用して、ほぼ等しい部分S偏光およびP偏光として示されている)。
偏光ホログラム885は、反射したビームがLD部分ではなく集積ユニットのPD部分に導かれるよう、光ディスク850で反射した光が1つまたは複数の異なる波長(たとえば780nm、660nmおよび405nm)で回折するように設計されている。たとえば複屈折基板に形成された回折格子を備えることができる偏光ホログラムについては当分野で良く知られており、これ以上の詳細な説明は省略する。偏光ホログラムの偏光選択直線方向は、非回折の場合、第1の通過で第1の直線偏光に平行に整列し、また、回折の場合、第2の通過で第2の直線偏光に平行に整列することに留意されたい。通常、偏光ホログラムの回折平面(同じく回折格子ベクトル)は、任意の方位に対して構成することができる。有利には、回折平面は、リフレクタ840の入射面に平行(図12に示すように)または直角(図示せず)に整列する。その場合、偏光選択方向は、偏光ホログラムの回折格子線から±45度で整列する。回折平面は、リフレクタ840の入射面に対して±45度で整列することがより好ましい(ここでは図示されていない)。その場合、偏光選択方向は、偏光ホログラムの回折格子線から0度および90度で整列する。この回折平面構成により、共通にパッケージされたLDおよびPDの集積ユニットを±45度だけ同期回転させることができる。コリメーティング・レンズ860、対物レンズ861、集束レンズ865およびフォトダイオード575を含む残りの光学コンポーネントは、従来技術で使用されている光学コンポーネントと同様である。
動作中、集積ユニット811からの直線偏光が複数のDBCのアレイ830を透過し、共通光路880に沿って導かれる。この直線偏光は、次に、コリメーティング・レンズ860によって平行化され、非回折状態で偏光ホログラム885を通過し、AQWPコーティングを有する漏洩性ミラー840へ送られる。漏洩性ミラー840は、直線偏光を円偏光に変換し、変換した円偏光を対物レンズ861を介して光ディスク850へ向けて方向転換させる。光ディスク850で反射した光は、対物レンズ861をもう一度透過し、リフレクタ840で反射してコリメーティング・レンズ860に向かって偏光ホログラム885を通過する。AQWPコーティングを有するリフレクタ840は、直線偏光がリフレクタ840を2回通過する際に、直線偏光の偏光状態を変化させるため、偏光ホログラム885によって反射光が回折し、したがってその光路がわずかにシフトし、集積ユニット811のフォトダイオード部分に直線偏光が像をつくる。
同様に、集積ユニット812からの直線偏光が第1のDBC832で反射し、第2のDBC833を通過し、共通光路880に沿って導かれる。この直線偏光は、次に、コリメーティング・レンズ860によって平行化され、非回折状態で偏光ホログラム885を通過し、AQWPコーティングを有する漏洩性ミラー840へ送られる。漏洩性ミラー840は、直線偏光を円偏光に変換し、変換した円偏光を対物レンズ861を介して光ディスク850へ向けて方向転換させる。光ディスク850で反射した光は、対物レンズ861をもう一度透過し、リフレクタ840で反射してコリメーティング・レンズ860に向かって偏光ホログラム885を通過する。AQWPコーティングを有するリフレクタ840は、直線偏光がリフレクタ840を2回通過する際に、直線偏光の偏光状態を変化させるため、偏光ホログラム885によって反射光が回折し、したがってその光路がわずかにシフトし、集積ユニット812のフォトダイオード部分に直線偏光が像をつくる。
最後に、集積ユニット813からの直線偏光が第2のDBC833で反射し、共通光路880に沿って導かれる。この直線偏光は、次に、コリメーティング・レンズ860によって平行化され、偏光ホログラム885を通過し、AQWPコーティングを有する漏洩性ミラー840へ送られる。漏洩性ミラー840は、直線偏光を円偏光に変換し、変換した円偏光を対物レンズ861を介して光ディスク850へ向けて方向転換させる。光ディスク850で反射した光は、対物レンズ861をもう一度透過し、リフレクタ840で反射してコリメーティング・レンズ860に向かって偏光ホログラム885を通過する。AQWPコーティングを有するリフレクタ840は、直線偏光がリフレクタ840を2回通過する際に、直線偏光の偏光状態を変化させるため、偏光ホログラム885によって反射光が回折し、したがってその光路がわずかにシフトし、集積ユニット813のフォトダイオード部分に直線偏光が像をつくる。
別法としては、共通経路880に配置されている単一の偏光ホログラム885を、それぞれLD源とその関連する二色ビーム・コンバイナの間に配置された複数の偏光ホログラムに置き換えることも可能である。その場合、個々のレーザ波長において正味4分の1波長のリターダンスが提供されるように、一連の二色ビーム・コンバイナおよび折曲げミラーを設計することができる(たとえば折曲げミラー上のコーティングを設計する場合に、二色ビーム・コンバイナによって固有に提供される移相が考慮される)。偏光ホログラムの各々は、直線偏光ビーム・セグメント内に配置される。この一連の二色ビーム・コンバイナおよび折曲げミラーによって、第1の通過で、楕円中間状態を介して直線偏光を直線偏光から折曲げミラーを出た後の最終出力円偏光に展開することができ、また、第2の通過で、円偏光から直線偏光への逆変換を提供することができる。この正味±90度の移相は、ビーム結合手段として一切の偏光子を使用しないことに加えて、コーティングが施された一連の表面のすべてのS平面およびP平面を平行または直角に整列させることによって可能である。別法としては、利用される1つまたは複数の偏光ホログラムに無関係に±90度の位相リターダンスが提供されるように折曲げミラーを設計する場合、LD出力から折曲げミラーの直前まで通過する個々のレーザ・ビームで正味0リターダンスが提供されるように、一連の二色ビーム・コンバイナを設計することができる(つまり個々の二色ビーム・コンバイナは、一連のビーム・コンバイナが正味0リターダンスを提供する限り、0度移相を提供する必要はない)。
図13を参照すると、本発明によるOPUシステム900の他の実施形態が示されている。OPUシステム900は、第1の集積レーザ源/検出器ユニット911/921、第2の集積レーザ源/検出器ユニット912/922、第3の集積レーザ源/検出器ユニット913/923、第1のプレート二色ビーム・コンバイナ931、第2のプレート二色ビーム・コンバイナ932、非点収差を小さくするためのプレート939、折曲げミラー940、偏光ホログラム985、回転光ディスク950および対物レンズ961(図示せず)を備えている。
集積ユニットの各々は、LDなどの光源および共通にパッケージされたフォトダイオード(PD)などの光検出器を備えている。集積ユニット910は、所定の偏光を有するOPUの個々の波長(たとえばそれぞれ780nm、660nmおよび405nmの波長)の直線偏光を提供している。
プレート二色ビーム・コンバイナ(DBC)は、集積アレイからの出力を空間的に多重化し、かつ、共通光路980に沿って導くために使用されている。プレートDBCの各々は、波長に応じて光を通過または反射させるための二色コーティングを備えている。有利には、プレートDBCによって、有効にS偏光を透過させ、かつ、P偏光を反射させる液浸入射におけるキューブDBCの設計および製造の困難性を除去することができる。
リフレクタ940は、プレートDBCから送られてくる光を回転光ディスク950に向けて方向転換させている。リフレクタ940は、3つのOPU波長(たとえば405nm、660nmおよび780nm)において実質的に4分の1波長のリターデーションを提供する薄膜コーティングを備えている。一実施形態によれば、薄膜コーティングは、透明な平行プレート基板に付着した、対照的な屈折率がフィルタ(たとえば短波通過フィルタまたは長波通過フィルタ、帯域通過フィルタ、高反射フィルタなど)に組み込まれた複数の互い違いの層を備えている。
この実施形態では、OPU900は、さらに、レーザ源/検出器セグメントとディスク読取り/書込みセグメントの間の角オフセットが、約0度(図13に示すように)、±90度または±180度であるように(つまり図3に示す±45度のオフセットが存在しないように)構成されている。したがってこの光学システム900の性能は、集積ユニット911/912/913から放出される直線偏光の偏光によって決まる。端面発光半導体レーザ・ダイオードは、通常、エピタキシャル層に平行の直線偏光出力ビームを生成する。AQWPコーティングの遅軸/速軸が傾斜平面(およびその直交平面)に限定されることを考慮するためには、LD源のパッケージングには、出力ビーム軸の周りの±45度のレーザ・チップの回転が必要である。別法としては、関連するレーザ波長における2分の1波長板を利用して、0度または90度の偏光出力ビームをチップ正則XY断面寸法に対して±45度に変換することも可能である。図13に示す実施形態では、偏光は、LD源913の場合、Y軸とZ軸の間のほぼ中間であり、LD源911の場合、X軸とZ軸の間のほぼ中間であり、また、LD源912の場合、X軸とY軸の間のほぼ中間である(つまり、関連する二色ビーム・コンバイナの各々に対する概ね等しい部分S偏光およびP偏光)。
偏光ホログラム985は、反射したビームがLD部分ではなく集積ユニットのPD部分に導かれるよう、光ディスク950で反射した光が1つまたは複数の異なる波長(たとえば780nm、660nmおよび405nm)で回折するように設計されている。たとえば複屈折基板に形成された回折格子を備えることができる偏光ホログラムについては当分野で良く知られており、これ以上の詳細な説明は省略する。偏光ホログラムの偏光選択直線方向は、非回折の場合、第1の通過で第1の直線偏光に平行に整列し、また、回折の場合、第2の通過で第2の直線偏光に平行に整列することに留意されたい。通常、偏光ホログラムの回折平面(同じく回折格子ベクトル)は、任意の方位に対して構成することができる。有利には、回折平面は、リフレクタ940の入射面に直角(図13に示すように)または平行(図示せず)に整列する。その場合、偏光選択方向は、偏光ホログラムの回折格子線から±45度で整列する。コリメーティング・レンズ(図示せず)および対物レンズ(図示せず)を含む残りの光学コンポーネントは、従来技術で使用されている光学コンポーネントと同様である。
回折平面は、図14に示すOPUシステム900Aのように、リフレクタ940の入射面に対して±45度で整列することがより好ましい。偏光ホログラム985Aおよび光検出器921A、922A、923Aを除き、システム900Aの他のすべての光エレメントは、システム900に示されている光エレメントと同じである。
偏光ホログラム985Aは、XY平面に沿った、X軸およびY軸に対して対角の回折格子線を有するように構成されている。一方、偏光ホログラム985は、XY平面に沿った、Y軸に平行(図13に示す)または直角(図示せず)の回折格子線を有するように構成されている。光検出器921A、922Aおよび923Aは、それぞれXZ平面、XY平面およびYZ平面に沿って対角状に配置されている。一方、光検出器921、922および923は、X軸、Y軸およびZ軸のうちの1つまたは複数の軸に沿って配置されている。この構成の場合、偏光選択方向は、偏光ホログラムの回折格子線から0度および90度で整列する。この回折平面構成により、共通にパッケージされたLDおよびPDの集積ユニットを±45度だけ同期回転させることができる。
900および900Aのいずれの光学システム・レイアウトにおいても、動作中、集積ユニットからの直線偏光が複数のDBCのアレイを通過し、共通光路980に沿って導かれる。この直線偏光は、コリメーティング・レンズ(図示せず)によって平行化され、偏光ホログラム985/985Aを通過し、AQWPコーティングを有する漏洩性ミラー940へ送られる。漏洩性ミラー940は、直線偏光を円偏光に変換し、変換した円偏光を対物レンズ(図示せず)を介して光ディスク950へ向けて方向転換させる。光ディスク950で反射した光は、対物レンズ(図示せず)をもう一度透過し、リフレクタ940で反射してコリメーティング・レンズ(図示せず)に向かって偏光ホログラム985/985Aを通過する。AQWPコーティングを有するリフレクタ940は、直線偏光がリフレクタ940を2回通過する際に、直線偏光の偏光状態を変化させるため、偏光ホログラム985/985Aによって反射光が回折し、したがってその光路がわずかにシフトし、対応する集積ユニットのフォトダイオード部分に直線偏光が像をつくる。
別法としては、共通経路980に配置されている単一の偏光ホログラム985/985Aを、それぞれLD源とその関連する二色ビーム・コンバイナの間に配置された複数の偏光ホログラムに置き換えることも可能である。その場合、個々のレーザ波長において正味4分の1波長のリターダンスが提供されるように、一連の二色ビーム・コンバイナおよび折曲げミラーを設計することができる(たとえば折曲げミラー上のコーティングを設計する場合に、二色ビーム・コンバイナによって固有に提供される移相が考慮される)。偏光ホログラムの各々は、直線偏光ビーム・セグメント内に配置される。この一連の二色ビーム・コンバイナおよび折曲げミラーによって、第1の通過で、楕円中間状態を介して直線偏光を直線偏光から折曲げミラーを出た後の最終出力円偏光に展開することができ、また、第2の通過で、円偏光から直線偏光への逆変換を提供することができる。この正味±90度の移相は、ビーム結合手段として一切の偏光子を使用しないことに加えて、コーティングが施された一連の表面のすべてのS平面およびP平面を平行または直角に整列させることによって可能である。別法としては、利用される1つまたは複数の偏光ホログラムに無関係に±90度の位相リターダンスが提供されるように折曲げミラーを設計する場合、LD出力から折曲げミラーの直前まで通過する個々のレーザ・ビームで正味0リターダンスが提供されるように、一連の二色ビーム・コンバイナを設計することができる(つまり個々の二色ビーム・コンバイナは、一連のビーム・コンバイナが正味0リターダンスを提供する限り、0度移相を提供する必要はない)。
図3、8、10、12、13および14で説明した実施形態の各々の場合、PBC/DBCアレイは、3つの光源から送られてくる光を空間的に多重化し、多重化された光のビームを第1の軸(たとえばグローバルZ軸)に平行の第1の方向に導いている。AQWPコーティングを有する折曲げミラーは、対物レンズを透過し、かつ、光ディスクに集束するよう、第1の方向から送られてくる光を第2の軸(たとえばグローバルY軸)に平行の第2の方向に反射している。光ディスクで反射した光は、対物レンズをもう一度透過し、折曲げミラーで再び反射する。折曲げミラーで2回反射した後、多重化された光の偏光が直交偏光に変換され、したがって元の光源から光検出器の方へ方向がそれる(たとえばPBCまたは偏光ホログラムを介して)。
有利には、これらの構成の各々により、折曲げミラーに入射する多重化された光のビーム(またはその成分)の電界ベクトル(つまり偏光)を、第1の軸(たとえばグローバルZ軸)に対して実質的に直角で、かつ、第2の軸(たとえばグローバルY軸)に対して斜角(たとえば45度)にすることができる。たとえば図3、8および10に示す実施形態の場合、読取り/書込みセグメントとレーザ源/検出器セグメントの間に45度の方位オフセットが提供され、一方、図12、13および14を参照して説明した実施形態の場合、レーザ源自体が回転する(たとえば集積ユニット811がローカル光ビーム軸の周りに回転する)。したがって多重化されたビーム(またはその成分)は、AQWPコーティングの遅軸/速軸が傾斜平面(およびその直交平面)に限定されることを考慮した方法で折曲げミラーに当たるため、直線偏光から円偏光への効果的な変換が提供される。これらの構成にはAQWPコーティングが有効に使用されているため、従来の独立型AQWPの必要性が除去され、必要なコンポーネントの数が少なくなっている。
さらに有利には、PBC/DBCアレイおよび折曲げミラーが同じ軸(たとえばZ軸)に沿って配置されているため、読取り/書込みセグメントおよびレーザ源/検出器セグメントのアライメントが比較的容易である。詳細には、読取り/書込みセグメントとレーザ源/検出器セグメントの間の45度の方位オフセットが比較的容易に提供される。また、PBC/DBCアレイおよび折曲げミラーを同じ軸に沿って配置することにより、追加波長チャネルに適応するべく光学レイアウトが容易に拡張される。PBC/DBCアレイおよび折曲げミラーを同じ軸に沿って配置し、あるいは同じ平面(たとえばYZ平面)に配置するもう1つの重要な利点は、Moonらによって教示されているプレート・ビームスプリッタの必要性が除去されることである。したがってシステムの損失および複雑性が減少する。
上記実施形態の各々の場合、AQWPコーティングは、3つのOPU波長(たとえば405nm、660nmおよび780nmの波長)における実質的に4分の1波長のリターデーションを提供する薄膜Cプレート・コーティングが高リフレクタとして設計された薄膜コーティングに組み込まれるように設計されることが好ましい。したがって、3つのOPU波長(および/または追加波長)における4分の1波長のリターデーションが容易に達成される。より詳細には、Cプレート機能と高リフレクタ機能を統合することにより、個々の波長チャネルの帯域幅内での広範囲にわたる反射率プロファイル設計および/または比較的平らな反射率プロファイル設計におけるより優れた制御が提供されることが分かっている。また、この統合により、反射型AQWPを漏洩性ミラーとして設計することも可能である。図15および16は、適切な薄膜コーティングのいくつかの実施例を示したものである。3波長帯域設計は、BD/HD−DVD、DVDおよびCD光ディスク・ドライブ・システムをターゲットにしたものである。±2%の帯域幅を有する個々の波長中心内における反射率は、5%のタップ・オフ出力を考慮して約95%である。ブルー・チャネルおよびNIRチャネルにおける反射リターダンスは約+90度であり、一方、レッド・チャネルにおけるリターダンスの値は−90度である。この符号の違いは、反射AQWPが、ブルー/NIRチャネルでは傾斜平面に平行に整列した遅軸を有し、一方、レッド・チャネルでは、速軸が傾斜平面に平行に整列していることを意味している。リターダンス符号の違いは、反射AQWPを介した第1の通過の後に生成される円偏光に、対応する符号変化が存在していることを意味している。しかしながら、2回通過する際に必要な90度の直線偏光回転は、傾斜平面に対する約±45度の入射直線偏光軸オフセットが存在していることを条件として、±90度の両方のリターダンスを使用して達成される。
図17は、レガシー2波長DVD/CD光ディスク・ドライブ・システムをターゲットとした適切な薄膜コーティングのさらに他の実施例を示したものである。シミュレーション・プロットで示すように、高リフレクタ・コーティングは、一定の90度リターダンスを650nmから790nmまでの波長の反射光に強制している間、S偏光入力およびP偏光入力の両方に対して、本質的に100%の光が反射するように設計することができる。このような広帯域設計は、従来技術による移相コーティング設計とは異なり、製造誤差に対して寛大である。
上記実施形態の各々の場合、AQWPコーティングは、通常、それらに限定されないが、化学気相蒸着(CVD)、プラズマ増速CVD、電子ビーム蒸着、熱蒸着、スパッタリングおよび/または原子層蒸着を始めとする真空蒸着技法を使用して製造される。任意選択で、重要な波長領域に対して透明な基板にコーティングが施され、また、それらに限定されないが、ガラス、水晶およびプラスチックを含む広範囲にわたる様々な物質からコーティングを構築することができる。通常、薄膜に使用される物質は、550nmにおける屈折率の範囲が1.3から4.0を超える無機または有機誘電体物質である。たとえば、いくつかの適切な物質には、シリカ(SiO、n=1.46)、タンタラ(Ta、n=2.20)、アルミナ(Al、n=1.63)、ハフニア(HfO、n=1.85)、チタニア(TiO、n=2.37)、ニオビア(Nb、n=2.19)およびフッ化マグネシウム(MgF、n=1.38)がある。当然、他の誘電体物質および/または重合体を使用することも可能である。任意選択で、AQWPコーティングは、Software Spectra社から商用的に入手可能なTFCalc(商標)などのコンピュータ・プログラムを使用して設計される。
当然、上記実施形態は、単なる実施例として提供されたものにすぎない。本発明の精神および範囲を逸脱することなく、様々な修正、代替構成および/または等価物を使用することができることは当業者には理解されよう。たとえば、偏光ビーム・コンバイナを利用した実施形態の各々は、偏光ビームスプリッタの各々が同じ偏光状態を反射させる構成/コーティング設計を提供しているが、同じく他の構成/コーティング設計も想定されている。詳細には、図5に示す実施形態と同様の実施形態によれば、NIR光源511および光検出器570の位置が入れ代わっている。この実施形態では、NIR光源511がS偏光を放出すると、偏光ビーム分割キューブ531は、第1の通過で780nmのS偏光を透過させ、第2の通過で3つのすべての波長のP偏光を反射させる。別法としては、NIR光源511がP偏光を放出するために回転すると、偏光ビーム分割キューブ531は、第1の通過で780nmのP偏光を透過させ、第2の通過で780nmのS偏光を反射させなければならず、また、2つの他の異なる波長を第2の通過で反射させなければならない(たとえば二色性によって)。上で説明したように、AQWPコーティングの性能は、その電界ベクトルがミラーの傾斜平面に対して斜角(たとえば±45度)である直線偏光を含んだ入射光で決まる。OPUは、任意選択で、異なる波長が異なる斜角で入射するように構成される(たとえば1つの波長が+45度で入射し、もう1つの波長が−45度で入射するように構成される)。また、図2に示すような他のレーザ源/検出器レイアウトも想定されている。したがって、本発明の範囲は、偏に特許請求の範囲によってのみ制限されるものとする。
従来技術による3波長HD−DVD/DVD/CD光ピックアップ・システムの一例を示す図である。 従来技術による3波長HD−DVD/DVD/CD光ピックアップ・システムの他の例を示す図である。 本発明の一実施形態によるOPUを示す図である。 保護フィルタが傾斜したエッジ・フィルタである、本発明によるOPUのサブシステムを示す図である。 レーザ源/検出器セグメントに対するディスク読取り/書込みセグメントの45°相対方位オフセットを示す斜視図である。 図1に示す構成に対する第1の通過ビームLP、AQWPの遅軸/速軸、および第2の通過ビームLPの方位配向を示す図である。 図3に示す構成に対する第1の通過ビームLP、AQWPの遅軸/速軸、および第2の通過ビームLPの方位配向を示す図である。 プレート偏光ビーム・コンバイナを利用した、本発明の他の実施形態によるOPUを示す図である。 405nmの帯域にわたってS偏光を反射し、かつ、P偏光を透過させ、また、660nmおよび780nmの帯域にわたってS偏光およびP偏光の両方を透過させる+/−5度円錐における45度のPBCプレートの理論反射率を示すグラフである。 プレート偏光ビーム・コンバイナを利用した、本発明のさらに他の実施形態によるOPUを示す図である。 図11Aは図10に示す構成の斜視図である。図11Bは図10に示すOPUの代替構成の斜視図である。 本発明の他の実施形態によるOPUを示す図である。 本発明のさらに他の実施形態によるOPUを示す図である。 本発明のさらに他の実施形態によるOPUを示す図である。 垂直のダッシュ線で示す3つの波長、405nm、660nmおよび780nmにおいて90度リターダンス(たとえば色消しQWPとしての機能)を有する設計の45度入射角における理論反射率および反射リターダンスを示すグラフである。 それぞれ43度、45度および47度の入射で計算された、a)405nmのBD/HD−DVD波長帯域、b)660nmのDVD波長帯域、およびc)780nmのCD波長帯域における、全誘電体反射型色消しQWPの理論リターダンス・スペクトル(上の列)、測定されたリターダンス・スペクトル(真ん中の列)、および測定された二重減衰スペクトル(下の列)を示すグラフである。 S偏光およびP偏光に対する理論反射率、および大きい反射率を提供する本発明の一実施形態による反射型AQWP/折曲げミラー設計に対する反射リターダンス・スペクトル、ならびに660nmおよび780nmのDVD/CD波長における約−90度リターダンスを示すグラフである。
符号の説明
500 OPUシステム
510 光源
511 レーザ・ダイオード
520 複数の保護フィルタのアレイ
530 複数の偏光ビーム・コンバイナのアレイ
531 偏光ビーム・コンバイナ
540 リフレクタ
550 回転光ディスク
560 コリメーティング・レンズ
561 対物レンズ
565 集束レンズ
570 主フォトダイオード
575 モニタ・フォトダイオード
592 Cプレート薄膜コーティング

Claims (22)

  1. 第1の波長の光を放出するための第1の光源、および第2の他の波長の光を放出するための第2の光源を含む複数の光源と、
    前記複数の光源の個々の光源から放出される光を、共通光路に沿って、第1の軸に平行の第1の方向に透過させるための少なくとも1つのビーム・コンバイナと、
    前記第1の方向に透過する光の方向を、前記第1の軸に対して実質的に直角の第2の軸に平行の第2の方向に方向転換させるためのリフレクタであって、所定の入射角で前記第1および第2の波長において実質的に4分の1波長のリターデーションを提供するためのコーティングを含むリフレクタと、
    前記リフレクタによって方向転換された光を光ディスクに集束させるための対物レンズと、
    前記光ディスクで反射した光を検出するための少なくとも1つの光検出器と
    を備えた光ピックアップ装置であって、
    前記少なくとも1つのビーム・コンバイナおよび前記リフレクタが前記第1の軸に沿って配置され、前記少なくとも1つのビーム・コンバイナから前記第1の方向に透過した光が、実質的に前記第1の軸に対して直角で、かつ、前記第2の軸に対して斜角をなす電界ベクトルを有する直線偏光を含み、
    前記コーティングが、対照的な屈折率を有する等方性物質の、第1の複数の互い違いの層を備え、前記第1の複数の層の個々の層の厚さおよび屈折率が、前記コーティングが前記第1および第2の波長でCプレートとして機能するように選択された、光ピックアップ装置。
  2. 前記複数の光源が、第3の波長の第3の光のビームを放出するための第3の光源を備え、前記第1、第2および第3の波長がそれぞれ異なる、請求項1に記載の光ピックアップ装置。
  3. 前記少なくとも1つのビーム・コンバイナが、前記第1の光源から放出される光を受け取るための第1のビーム・コンバイナ、前記第2の光源から放出される光を受け取るための第2のビーム・コンバイナ、および前記第3の光源から放出される光を受け取るための第3のビーム・コンバイナを備え、前記第1、第2および第3のビーム・コンバイナの各々が前記第1の軸に沿って配置された、請求項2に記載の光ピックアップ装置。
  4. 前記第1、第2および第3のビーム・コンバイナが、第1の通過で、前記第1、第2および第3の光源からの光を前記リフレクタに向けて導き、第2の通過で、前記リフレクタからの前記第1、第2および第3の波長の光を、前記リフレクタによって提供される実質的に90度の移相に応じて前記少なくとも1つの光検出器に向けて導くための波長依存偏光ビーム・コンバイナである、請求項3に記載の光ピックアップ装置。
  5. 前記第1のビーム・コンバイナが、第1の偏光を有する前記第1の波長の光を前記第1の光源から前記第2のビーム・コンバイナへ反射させ、かつ、第2の直交偏光を有する前記第1、第2および第3の波長の光を前記第2のビーム・コンバイナから前記少なくとも1つの光検出器へ通過させるためのビーム・コンバイナであり、
    前記第2のビーム・コンバイナが、前記第1の偏光を有する前記第2の波長の光を前記第2の光源から前記第3のビーム・コンバイナへ反射させ、かつ、前記第1の偏光を有する前記第1の波長の光を前記第1のビーム・コンバイナから前記第3のビーム・コンバイナへ通過させ、さらに、前記第2の直交偏光を有する前記第1、第2および第3の波長の光を前記第3のビーム・コンバイナから前記第1のビーム・コンバイナへ通過させるためのビーム・コンバイナであり、
    前記第3のビーム・コンバイナが、前記第1の偏光を有する前記第3の波長の光を前記第3の光源から前記リフレクタへ反射させ、かつ、前記第1の偏光を有する前記第1および第2の波長の光を前記第2のビーム・コンバイナから前記リフレクタへ通過させ、さらに、前記第2の直交偏光を有する前記第1、第2および第3の波長の光を前記リフレクタから前記第2のビーム・コンバイナへ通過させるためのビーム・コンバイナである、
    請求項3に記載の光ピックアップ装置。
  6. 前記第1、第2および第3のビーム・コンバイナの各々が、実質的に前記第1の軸に対して直角であり、かつ、前記第2の軸に対して斜角をなす電界ベクトルを有する直線偏光を提供するように配向された、請求項3に記載の光ピックアップ装置。
  7. 前記複数の光源の個々の光源および前記少なくとも1つのビーム・コンバイナが同じ平面に配置され、前記同じ平面が、前記第2の軸に関連して実質的に前記斜角に等しい角度だけ前記第1の軸の周りに回転された、請求項1から6のいずれかに記載の光ピックアップ装置。
  8. 前記第1、第2および第3のビーム・コンバイナの各々が、偏光ビーム分割キューブを含む、請求項2から6のいずれかに記載の光ピックアップ装置。
  9. 前記第1、第2および第3のビーム・コンバイナの各々が、前記第1の軸に対して実質的に±45度に等しい角度で配置された偏光ビーム分割プレートを含む、請求項2から6のいずれかに記載の光ピックアップ装置。
  10. 非点収差を小さくするためのプレートを備え、前記プレートが、連続するプレートの各々が直交軸の周りに傾斜するように、前記偏光ビーム分割プレートと共に前記第1の軸に沿って配置された、請求項9に記載の光ピックアップ装置。
  11. 前記少なくとも1つの光検出器が、前記第1の光源と共に共通にパッケージされた第1のフォトダイオード、前記第2の光源と共に共通にパッケージされた第2のフォトダイオード、および前記第3の光源と共に共通にパッケージされた第3のフォトダイオードを含む、請求項2に記載の光ピックアップ装置。
  12. 前記少なくとも1つのビーム・コンバイナが、前記第1の軸に沿って配置された第1の二色ビーム分割キューブを含み、前記第1の二色ビーム分割キューブが、前記第1の波長の光を通過させ、かつ、前記第2の波長の光を反射させるための界面を含む、請求項11に記載の光ピックアップ装置。
  13. 前記少なくとも1つのビーム・コンバイナが、前記第1の軸に沿って配置された第2の二色ビーム分割キューブを含み、前記第2の二色ビーム分割キューブが、前記第1および第2の波長の光を通過させ、かつ、前記第3の波長の光を反射させるための界面を含む、請求項12に記載の光ピックアップ装置。
  14. 前記リフレクタによって提供される実質的に90度の移相に応じて前記第1、第2および第3の波長の光を回折させるための偏光ホログラムであって、前記第1の波長の回折光を前記第1のフォトダイオードに向けて導き、前記第2の波長の回折光を前記第2のフォトダイオードに向けて導き、かつ、前記第3の波長の回折光を前記第3のフォトダイオードに向けて導くために選択された偏光ホログラムを含む、請求項11から13のいずれかに記載の光ピックアップ装置。
  15. 前記複数の光源の個々の光源および前記少なくとも1つのビーム・コンバイナが、前記第2の軸に対して実質的に直角の平面に配置された、請求項11から13のいずれかに記載の光ピックアップ装置。
  16. 前記複数の光源の個々の光源が、前記少なくとも1つのビーム・コンバイナによって前記第1の方向に透過した直線偏光が実質的に前記第1の軸に対して直角に、かつ、前記第2の軸に対して斜角をなす電界ベクトルを有するように回転される、請求項11から13のいずれかに記載の光ピックアップ装置。
  17. 前記少なくとも1つのビーム・コンバイナで反射した光から前記第1および第2の光源を保護するための少なくとも1つの傾斜したエッジ・フィルタを備えた、請求項1から16のいずれかに記載の光ピックアップ装置。
  18. 前記斜角が実質的に45度に等しい、請求項1から16のいずれかに記載の光ピックアップ装置。
  19. 前記所定の角度が実質的に45度に等しい、請求項1から16のいずれかに記載の光ピックアップ装置。
  20. 前記コーティングが、前記第1の方向に透過し、かつ、前記リフレクタに入射する光の一部をタップすることができるように設計された、請求項1から16のいずれかに記載の光ピックアップ装置。
  21. 前記コーティングが、対照的な屈折率を有する等方性物質の、第2の複数の互い違いの層を備え、前記第2の複数の層の個々の層の厚さおよび屈折率が、前記コーティングが前記第1および第2の波長で高リフレクタとして機能するように選択された、請求項に記載の光ピックアップ装置。
  22. 前記第1および第2の複数の互い違いの層が、前記Cプレートの機能および前記高リフレクタの機能が統合されるように選択された、請求項21に記載の光ピックアップ装置。
JP2007215762A 2006-08-23 2007-08-22 光ピックアップ・ユニット Expired - Fee Related JP5314259B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US82332606P 2006-08-23 2006-08-23
US60/823,326 2006-08-23

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008052897A JP2008052897A (ja) 2008-03-06
JP5314259B2 true JP5314259B2 (ja) 2013-10-16

Family

ID=38698056

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007215762A Expired - Fee Related JP5314259B2 (ja) 2006-08-23 2007-08-22 光ピックアップ・ユニット
JP2007215750A Expired - Fee Related JP5857295B2 (ja) 2006-08-23 2007-08-22 光整列液晶を利用したカルテシアン偏光子

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007215750A Expired - Fee Related JP5857295B2 (ja) 2006-08-23 2007-08-22 光整列液晶を利用したカルテシアン偏光子

Country Status (5)

Country Link
US (2) US8072683B2 (ja)
EP (2) EP1892706B1 (ja)
JP (2) JP5314259B2 (ja)
DK (1) DK1892706T3 (ja)
TW (2) TWI406018B (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9085121B2 (en) 1999-05-13 2015-07-21 3M Innovative Properties Company Adhesive-backed articles

Families Citing this family (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009087413A (ja) * 2007-09-28 2009-04-23 Hitachi Media Electoronics Co Ltd 光ディスクドライブ装置、光ピックアップ及びそれに用いられる光学部品
JP2009181689A (ja) * 2008-01-30 2009-08-13 Jds Uniphase Corp 2ミラー位相シフタを有する光ピックアップ・ユニット
US20090245074A1 (en) * 2008-04-01 2009-10-01 Tunable Optix Corporation Pick-up head assembly for optical disc employing electrically tunable liquid crystal lens
WO2010059614A1 (en) * 2008-11-19 2010-05-27 3M Innovative Properties Company Brewster angle film for light management in luminaires and other lighting systems
JP4834168B2 (ja) * 2009-06-24 2011-12-14 パナソニック株式会社 光ピックアップ装置
JP5552008B2 (ja) * 2009-09-30 2014-07-16 Hoya株式会社 光情報記録再生光学系及び光情報記録再生装置
JP2011150775A (ja) * 2009-12-21 2011-08-04 Sanyo Electric Co Ltd 光ピックアップ装置
JP2011141937A (ja) * 2010-01-08 2011-07-21 Sanyo Electric Co Ltd 発光装置、光ピックアップ装置およびその製造方法
JP2011175690A (ja) * 2010-02-23 2011-09-08 Sanyo Electric Co Ltd 光ピックアップ装置およびその製造方法
DE102010014783A1 (de) * 2010-04-13 2011-10-13 Leuze Electronic Gmbh & Co. Kg Optoelektronische Vorrichtung
JP2012064260A (ja) * 2010-09-14 2012-03-29 Sanyo Electric Co Ltd 光ピックアップ装置
KR101249656B1 (ko) * 2010-12-31 2013-04-01 코오롱인더스트리 주식회사 휘도증강필름 및 이를 포함하는 백라이트 유닛
JP2013157056A (ja) * 2012-01-30 2013-08-15 Hitachi Media Electoronics Co Ltd 光ピックアップ、及び光ピックアップを用いた光ディスク装置
EP3204754B1 (en) * 2014-10-06 2022-09-14 Applied Photophysics Limited Calibration device and uses thereof
US10067350B1 (en) * 2014-12-04 2018-09-04 Lockheed Martin Corporation System and method for providing multimode imaging, tracking, and ranging with a single lens
TWI558044B (zh) * 2014-12-09 2016-11-11 國立清華大學 連續光譜產生裝置及其組裝方法
US9991964B2 (en) * 2015-03-10 2018-06-05 Finisar Corporation Hybrid free space multiplexer for multichannel transmitter optical subassembly
EP3308201A1 (en) * 2015-06-15 2018-04-18 3M Innovative Properties Company Optical stack including reflecting-absorbing polarizer
NL2017187A (en) * 2015-07-31 2017-02-02 Asml Holding Nv Optical system of an alignment system
EP3145036B1 (en) 2015-09-17 2020-03-18 Academia Sinica Supercontinuum generation apparatus and method
US10203489B2 (en) 2016-08-02 2019-02-12 Apple Inc. Optical system for head-mounted display
US10126120B2 (en) * 2016-10-06 2018-11-13 Southern Research Institute Determining angular position from index of refraction offset
US10809517B2 (en) 2017-10-18 2020-10-20 Raytheon Company Mirror coating, and method of use, to reduce polarization sensitivity
US10663777B2 (en) * 2017-12-26 2020-05-26 Coretronic Corporation Viewing angle switchable display module
CN207650518U (zh) 2017-12-26 2018-07-24 扬升照明股份有限公司 视角可切换装置以及视角可切换显示模块
US10996466B2 (en) * 2019-02-05 2021-05-04 Facebook Technologies, Llc Waveplates on a curved surface and fabrication method thereof
EP4334765A1 (en) * 2021-05-07 2024-03-13 3M Innovative Properties Company Multilayer optical film

Family Cites Families (57)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2403731A (en) 1943-04-01 1946-07-09 Eastman Kodak Co Beam splitter
US4312570A (en) 1979-09-14 1982-01-26 Rockwell International Corporation High reflectivity coated mirror producing 90 degree phase shift
JPH0410239A (ja) * 1990-04-25 1992-01-14 Sanyo Electric Co Ltd 光ピックアップ装置
US5196953A (en) 1991-11-01 1993-03-23 Rockwell International Corporation Compensator for liquid crystal display, having two types of layers with different refractive indices alternating
US6160597A (en) * 1993-02-17 2000-12-12 Rolic Ag Optical component and method of manufacture
US6882384B1 (en) * 1995-05-23 2005-04-19 Colorlink, Inc. Color filters and sequencers using color selective light modulators
US5912762A (en) 1996-08-12 1999-06-15 Li; Li Thin film polarizing device
KR100238077B1 (ko) 1997-01-28 2000-01-15 윤종용 평판을 사용하여 cd-r디스크에 호환하는 dvd디스크의 광픽업
US6819646B1 (en) 1999-01-19 2004-11-16 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Optical pickup, optical information recording/reproducing apparatus using the same, and phase variable wave plate used in the pickup and the apparatus
GB9902402D0 (en) * 1999-02-03 1999-03-24 Rolic Ag Method of imparting preferred alignment, and liquid crystal device elements incorporating a preferred alignment
US6590707B1 (en) 2000-03-31 2003-07-08 3M Innovative Properties Company Birefringent reflectors using isotropic materials and form birefringence
US6975455B1 (en) 2000-04-18 2005-12-13 3M Innovative Properties Company Transflective layer for displays
JP4728542B2 (ja) * 2001-09-21 2011-07-20 株式会社リコー 光学素子、該光学素子を用いた光ピックアップ装置及び光ディスクドライブ装置
DE60140028D1 (de) 2000-07-22 2009-11-12 Samsung Electronics Co Ltd Kompatibles optisches Abtastgerät
JP2002358683A (ja) * 2001-06-01 2002-12-13 Toyo Commun Equip Co Ltd 光ピックアップ装置
JP2002372624A (ja) * 2001-06-14 2002-12-26 Ricoh Co Ltd 偏光分離素子、半導体レーザユニットおよび光ピックアップ装置
JP4798679B2 (ja) * 2001-07-23 2011-10-19 日東電工株式会社 傾斜型位相差フィルムの製造方法、光学部材及び液晶表示装置
JP2003315548A (ja) * 2002-04-24 2003-11-06 Nitto Denko Corp 光学素子、面光源装置、液晶表示装置
KR20030093683A (ko) * 2002-06-05 2003-12-11 삼성전자주식회사 호환형 광픽업
KR100464417B1 (ko) 2002-06-11 2005-01-03 삼성전자주식회사 2파장 광원 모듈을 채용한 광픽업 및 위치 공차 보정방법
JP4377633B2 (ja) * 2002-08-26 2009-12-02 大日本印刷株式会社 位相差光学素子、その製造方法及び液晶表示装置
KR100480615B1 (ko) 2002-09-06 2005-03-31 삼성전자주식회사 2파장 광원 모듈을 채용한 광픽업
WO2004042469A2 (en) * 2002-10-30 2004-05-21 Colorlink, Inc. Oblique plate compensators for projection display systems
US7094461B2 (en) * 2002-12-31 2006-08-22 3M Innovative Properties Company P-polarizer with large z-axis refractive index difference
KR100498478B1 (ko) 2003-01-16 2005-07-01 삼성전자주식회사 호환형 광픽업장치
US7068344B2 (en) * 2003-02-24 2006-06-27 3M Innovative Properties Company Cholesteric liquid crystal optical bodies and methods of manufacture and use
KR20040076328A (ko) * 2003-02-25 2004-09-01 삼성전자주식회사 위상이동 코팅막이 형성된 광학소자를 구비하는 광픽업장치
US7123416B1 (en) * 2003-05-06 2006-10-17 Semrock, Inc. Method of making high performance optical edge and notch filters and resulting products
US7068430B1 (en) * 2003-05-06 2006-06-27 Semrock, Inc. Method of making highly discriminating optical edge filters and resulting products
JP2005055543A (ja) * 2003-08-07 2005-03-03 Super Technology Innovators Co Ltd 高分子光多層膜及び高分子光多層膜の製造方法
EP1654585B1 (en) 2003-08-14 2013-07-24 LG Chemical, Ltd. Liquid crystal display comprising complex light-compensation c plate with two or more of c plates different in dispersion ratio value
JP2005141892A (ja) * 2003-10-16 2005-06-02 Nec Corp 光ヘッド装置および光学式情報記録又は再生装置
JP4155166B2 (ja) * 2003-11-10 2008-09-24 コニカミノルタオプト株式会社 光ピックアップ装置
JP4455051B2 (ja) * 2003-11-28 2010-04-21 大日本印刷株式会社 光学素子及びその製造方法、並びに液晶配向用基板及び液晶表示装置
US7626661B2 (en) * 2003-12-11 2009-12-01 Jds Uniphase Corporation Polarization controlling elements
US8164721B2 (en) 2003-12-11 2012-04-24 Tan Kim L Grating trim retarders
EP1542044A1 (en) 2003-12-11 2005-06-15 JDS Uniphase Corporation Trim retarders incorporating negative birefringence
US7203001B2 (en) 2003-12-19 2007-04-10 Nanoopto Corporation Optical retarders and related devices and systems
JP4058638B2 (ja) 2004-02-10 2008-03-12 船井電機株式会社 光ピックアップ装置
JP4670244B2 (ja) * 2004-02-12 2011-04-13 株式会社ニコン 多層膜光学部材およびその製造方法
US20050213471A1 (en) 2004-03-25 2005-09-29 Konica Minolta Opto, Inc. Reflecting optical element and optical pickup device
JP4389658B2 (ja) 2004-05-12 2009-12-24 旭硝子株式会社 光ピックアップ装置
US20060001969A1 (en) 2004-07-02 2006-01-05 Nanoopto Corporation Gratings, related optical devices and systems, and methods of making such gratings
JP4412095B2 (ja) * 2004-07-27 2010-02-10 ソニー株式会社 光ピックアップ、記録及び/又は再生装置
KR20060012119A (ko) * 2004-08-02 2006-02-07 삼성정밀화학 주식회사 적층코팅방법을 이용한 광대역 반사형 편광막의 제조방법및 이를 이용한 액정표시장치
JP2006079798A (ja) 2004-08-09 2006-03-23 Sanyo Electric Co Ltd 光ピックアップ装置
TWI256633B (en) 2004-08-20 2006-06-11 Asustek Comp Inc Optical component set used in pick up head
TWI308659B (en) * 2004-09-27 2009-04-11 Far Eastern Textile Ltd Process for orienting rod-like liquid crystal molecules, and optical elements produced by using the same
KR100637572B1 (ko) * 2004-12-14 2006-10-23 (주)옵티스 위상차 미러를 포함하는 광픽업 장치
JP4756342B2 (ja) * 2004-12-27 2011-08-24 Dic株式会社 光学フィルム、楕円偏光板、円偏光板、液晶表示素子、及び該光学フィルムの製造方法
US8237876B2 (en) 2005-05-25 2012-08-07 Kim Leong Tan Tilted C-plate retarder compensator and display systems incorporating the same
TWI282434B (en) 2005-06-15 2007-06-11 Asia Optical Co Inc Film layer structure of optical lens
JP2007072087A (ja) 2005-09-06 2007-03-22 Fujinon Sano Kk 光学素子及び光ピックアップ
EP1783520A3 (en) 2005-11-07 2008-01-09 JDS Uniphase Corporation Optical grating trim retarders
US20070165308A1 (en) 2005-12-15 2007-07-19 Jian Wang Optical retarders and methods of making the same
US20070139771A1 (en) 2005-12-15 2007-06-21 Jian Wang Optical retarders and methods of making the same
US7848020B2 (en) 2006-06-02 2010-12-07 Jds Uniphase Corporation Thin-film design for positive and/or negative C-plate

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9085121B2 (en) 1999-05-13 2015-07-21 3M Innovative Properties Company Adhesive-backed articles

Also Published As

Publication number Publication date
US8072683B2 (en) 2011-12-06
US20080049584A1 (en) 2008-02-28
EP1892706B1 (en) 2012-06-13
DK1892706T3 (da) 2012-08-27
JP2008077075A (ja) 2008-04-03
US20080049184A1 (en) 2008-02-28
EP1892543A1 (en) 2008-02-27
TWI410965B (zh) 2013-10-01
US7859977B2 (en) 2010-12-28
JP5857295B2 (ja) 2016-02-10
TWI406018B (zh) 2013-08-21
EP1892706A1 (en) 2008-02-27
JP2008052897A (ja) 2008-03-06
TW200817735A (en) 2008-04-16
TW200818172A (en) 2008-04-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5314259B2 (ja) 光ピックアップ・ユニット
JP5040952B2 (ja) 波長板及び光ピックアップ
US6195315B1 (en) Optical disk apparatus compatible with different types of mediums
US7403453B2 (en) Optical disk apparatus compatible with different types of mediums adapted for different wavelengths
US20100254008A1 (en) Cemented optical element and cementing method
WO2004003901A1 (ja) 光ピックアップ
US20090190463A1 (en) Optical pick-up unit with two-mirror phase shifter
JP4742630B2 (ja) 反射光学素子および光ピックアップ装置
US20100128593A1 (en) Phase difference element and optical head apparatus
US20050111337A1 (en) Optical pickup apparatus
JP5382124B2 (ja) 光ピックアップ装置
JP5131244B2 (ja) 積層位相板及び光ヘッド装置
US8165003B2 (en) Optical pickup device
JPH02151801A (ja) 光学部品及びそれを使用した光磁気ディスク用2ビーム型光ヘッド
JP2008004146A (ja) 光学素子および光学素子を備えた光ヘッド装置
JP2008004145A (ja) 光学素子および光学素子を備えた光ヘッド装置
JP2005339595A (ja) 光ヘッド装置
JPH1083563A (ja) 光ピックアップ装置
CN100385531C (zh) 光学拾取装置和具有这种光学拾取装置的光盘装置
JP2011060357A (ja) 光ヘッド装置
JP2002287093A (ja) 光アイソレータ
JP2010231829A (ja) 無偏光ビームスプリッタおよび光ピックアップ
JP2013041639A (ja) 光ヘッド装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100810

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20111021

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120529

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20120825

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20120830

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20121029

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130611

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130705

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees