JP5295003B2 - 光半導体素子収納用パッケージ、および光半導体装置 - Google Patents

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本発明は、光半導体素子を収納するための光半導体素子収納用パッケージ、および光半導体装置に関する。
従来から、光通信の分野等で使用される半導体レーザダイオード、フォトダイオード等の光半導体素子を収納するための光半導体素子収納用パッケージが知られている(例えば、特許文献1参照)。このようなパッケージの内部に光半導体素子を収納するとともに、光ファイバと光半導体素子との間の光軸を調整して組み立てることにより光半導体装置が構成される。
特開2002−72024号公報
しかしながら、上記のような光半導体装置を外部基板に例えばネジ止めする際に、光ファイバと光半導体素子との間で調整した光軸がずれることがあった。これは、ネジ止め時において光半導体装置に応力が作用するからである。
本発明は、上記の問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、簡易な構成で光軸のずれを抑制することができる光半導体素子収納用パッケージ、および光半導体装置に関する。
上記目的を達成するために本発明における光半導体素子収納用パッケージは、上面に光半導体素子を直接的あるいは間接的に載置するための載置部を有する基体と、平面視において前記載置部を囲むように前記基体の上面に設けられた枠体と、を備え、前記枠体と前記載置部との間における前記基体には、平面視において前記載置部を囲むように溝部が形成されており、前記基体に形成された溝部には、前記基体が有するヤング率より大きいヤング率を有する囲み部材が設けられている。
上記目的を達成するために本発明における光半導体装置は、本発明に係る光半導体素子収納用パッケージと、前記半導体素子収納用パッケージに収納された光半導体素子と、前記枠体の上面に設けられた蓋体と、を備える。
本発明の光半導体素子収納用パッケージ、および光半導体装置は、簡易な構成で光軸のずれを抑制することができるという効果を奏する。
図1は、本発明の第1の実施形態に係る光半導体装置の一例を示す分解斜視図である。 図2は、蓋体を省略した光半導体装置を上面から見た場合の、図1の光半導体装置を示す平面図である。 図3は、図1および図2中に示した切断線A−A´に沿って切断した断面図である。 図4は、蓋体を省略した光半導体装置を上面から見た場合の、図1の変更例に係る光半導体装置を示す平面図である。 図5は、図4中に示した切断線B−B´に沿って切断した断面図である。 図6は、本発明の第2の実施形態に係る光半導体装置の一例を示す断面図である。 図7は、図6の変更例に係る光半導体装置を示す断面図である。 図8は、図6の変更例に係る光半導体装置を示す断面図である。 図9は、図6の変更例に係る光半導体装置を示す断面図である。
以下、本発明の実施形態について、図面を参照しながら説明する。
但し、以下で参照する各図は、説明の便宜上、本発明の一実施形態の構成部材のうち、本発明を説明するために必要な主要部材のみを簡略化して示したものである。したがって、本発明に係る光半導体素子収納用パッケージ、および光半導体装置は、本明細書が参照する各図に示されていない任意の構成部材を備え得る。また、各図中の部材の寸法は、実際の構成部材の寸法および各部材の寸法比率等を忠実に表したものではない。
[実施の形態1]
図1は、本発明の第1の実施形態に係る光半導体装置1の一例を示す分解斜視図である。図1に示すように、本実施形態に係る光半導体装置1は、基体2、枠体3、窓部材4、光ファイバ5、台座6、光半導体素子7、透光性部材8、端子部9、蓋体10、および囲み部材11を備えている。なお、図2は、蓋体10を省略した光半導体装置1を上面から見た場合の、図1の光半導体装置1を示す平面図である。ここで、図2において、図1で示した端子部9の図示は省略している。また、図3は、図1および図2中に示した切断線A−A´に沿って切断した断面図である。
ここで、基体2、枠体3、および囲み部材11が、本発明に係る光半導体素子収納用パッケージの一実施形態となる。
基体2は、例えば、銅(Cu)、銅(Cu)-タングステン(W)合金、鉄(Fe)-ニッケル(Ni)-コバルト(Co)合金等の金属から構成される。これらの金属は、比較的高い熱伝導性を有する。このため、光半導体装置1が外部基板(図示せず)にネジ止めされた場合に、当該基体2は、光半導体素子7から発せられる熱を、外部基板へ放熱するための放熱板として機能する。なお、本実施形態に係る基体2の4隅には、光半導体装置1を外部基板へネジ止めするためのネジ孔Hが形成されている。
枠体3は、基体2と同様、例えば、銅、銅-タングステン合金、鉄-ニッケル-コバルト合金等の金属から構成される。また、枠体3は、図2に示すように、平面視において基体2の載置部2aを囲むように基体2の上面に設けられている。
なお、枠体3は、基体2と一体的に形成されていてもよいし、基体2と別個独立に形成されていてもよい。基体2と枠体3とが別個独立に形成された場合、基体2と枠体3とは、例えば、半田やロウ材等の接合部材を介して接合される。
窓部材4は、枠体3に形成された貫通孔3aに設けられた筒状の部材であり、光半導体装置1の外側から光ファイバ5を挿入して当該光ファイバ5を固定する役割を担う部材である。また、窓部材4は、基体2および枠体3と同様、例えば、銅、銅-タングステン合金、鉄-ニッケル-コバルト合金等の金属から構成される。
台座6は、光半導体素子7および透光性部材8を載置するための役割を担う部材である。また、台座6は、基体2の上面に有する載置部2aに接合される。すなわち、本実施形態においては、光半導体素子7および透光性部材8は、間接的に載置部2aに載置されることになる。なお、台座6を設けることなく、光半導体素子7および透光性部材8を直接的に載置部2aに載置させてもよい。
光半導体素子7は、例えば、半導体レーザダイオード、フォトダイオード等である。
透光性部材8は、例えば、非晶質ガラス等から構成されるレンズである。透光性部材8は、光半導体素子7から光ファイバ5への出射光、あるいは光ファイバ5から光半導体素子7への入射光を、集光あるいは平行光に変換する機能を有している。そのため、光ファイバ5と透光性部材8と光半導体素子7との間では光軸が正しく調整されている。なお、窓部材4の内部にも透光性部材が設けられていてもよい。
端子部9は、半導体素子7に電力を供給するための役割を担う部材である。また、台座6に電子部品(図示せず)が載置された場合には、端子部9は、さらに電子部品と信号のやり取りを仲介する役割を担う部材となる。この端子部9は、例えば、ワイヤボンディング(図示せず)により、半導体素子7および電子部品と電気的に接続される。
蓋体10は、基体2および枠体3と同様、例えば、銅、銅-タングステン合金、鉄-ニッケル-コバルト合金等の金属から構成される。また、蓋体10は、枠体3の上面に接合される。
ここで、本実施形態に係る光半導体装置1において、枠体3と載置部2aとの間における基体2には、平面視において載置部2aを囲むように溝部Cが形成されている。なお、溝部Cの数は、本実施形態のように1つでもよいし、複数であってもよい。また、基体2に形成された溝部Cには、囲み部材11が設けられている。囲み部材11は、基体2が有するヤング率より大きいヤング率を有する材料から構成される。すなわち、基体2が銅から構成される場合、基体2を構成する銅のヤング率は117GPaである。また、基体2が銅-タングステン合金から構成される場合、銅とタングステンとの比率にもよるが、基体2を構成する銅-タングステン合金のヤング率は概ね300GPa程度である。このため、囲み部材11は、例えば、アルミナセラミックス(ヤング率:400GPa)、窒化アルミニウムセラミックス(ヤング率:400GPa)、窒化珪素セラミックス(ヤング率:440GPa)等のセラミックスから構成される。なお、ヤング率とは、弾性範囲で単位ひずみあたり、どれだけ応力が必要かの値を決める定数である。
なお、本実施形態においては、囲み部材11を構成する材料として、セラミックスを例として説明したが、基体2が有するヤング率より大きいヤング率を有する材料から構成されていれば、特にセラミックスには限定されない。例えば、基体2がモリブデン(ヤング率:327GPa)から構成される場合、囲み部材11は、セラミックスの代わりに、タングステン(ヤング率:403GPa)から構成されていてもよい。
平面視において載置部2aを囲むように形成された溝部Cに上記のような囲み部材11が設けられているので、本実施形態に係る光半導体装置1は、次のような効果を有する。すなわち、光半導体装置1を外部基板に例えばネジ止めする際に、当該ネジ止め時において光半導体装置1に作用する応力が、囲み部材11で抑制されることになる。つまり、囲み部材11は、基体2が有するヤング率より大きいヤング率を有する材料から構成されているので、基体2の4隅に形成されたネジ孔Hからネジ止め時における応力(具体的には、ネジ孔Hから光半導体素子7へ向かう応力)が作用した場合であっても、囲み部材11で囲まれた基体2および当該基体2の上面に接合された台座6(光半導体素子7および透光性部材8が載置される台座6)には、当該応力は作用し難くなる。このため、本実施形態に係る光半導体装置1は、光ファイバ5と透光性部材8と光半導体素子7との間の光軸のずれを、簡易な構成で抑制することができる。
ここで、図3に示すように、溝部Cは、基体2の上面と下面とを貫くようにして当該基体2に形成されており、囲み部材11の上面が基体2の上面と略同一面となるように、かつ囲み部材11の下面が基体2の下面と略同一面となるように、溝部Cに囲み部材11が設けられていることが好ましい。このようにすると、溝部Cが基体2の上面のみ切り欠いて基体2に形成され当該溝部Cに囲み部材11が設けられた場合や、基体2の厚み方向における溝部Cの一部にのみ囲み部材11が設けられた場合と比較して、囲み部材11で囲まれた基体2および当該基体2の上面に接合された台座6には、より応力は作用し難くなる。なお、本明細書において「略」とは、「実質的に」と同様である。
なお、基体2に形成された溝部Cに囲み部材11を設ける方法として、例えば、次のような方法が挙げられる。すなわち、まず、囲み部材11の内側の基体(内側基体)と、囲み部材11の外側の基体(外側基体)とを用意する。そして、内側基体と外側基体との間に、囲み部材を設け、囲み部材の周囲に塗布されたロウ材を溶融する。これにより、ロウ材が毛細管現象(隙間を這うように漏れ広がる)を引き起こし、基体2に形成された溝部Cに囲み部材11が接合される。なお、この方法はあくまで一例であって、これに限定されるものではない。
なお、図4に示すように、溝部Cは、第1溝部Cと、平面視において第1溝部Cよりも枠体3側に位置する第2溝部Cとを有するようにしてもよい。この場合、図5に示すように、基体2の厚み方向における第2溝部Cの深さは、基体2の厚み方向における第1溝部Cの深さよりも大きい。また、第1溝部Cおよび第2溝部Cには、囲み部材11の上面が基体2の上面と略同一面となるように、囲み部材11がそれぞれ設けられている。
このようにすると、図5に示す矢印(熱の経路を示す矢印)で記載のように、光半導体素子7から発せられる熱は、台座6、第1溝部Cに設けられた囲み部材11の下側の基体2、および第2溝部Cに設けられた囲み部材11の下側の基体2の順に伝わって、光半導体装置1がネジ止めされた外部基板へ放熱されることになる。すなわち、この態様によれば、光半導体素子7から発せられる熱を、外部基板へ導くことが可能となる。このため、この態様によれば、基体2の放熱効果をさらに向上させることができる。なお、この態様であっても、上述した図1〜図3に示す態様と同様、光ファイバ5と透光性部材8と光半導体素子7との間の光軸のずれを抑制することができる。
以上のように、本実施形態に係る光半導体素子収納用パッケージおよび光半導体装置によれば、簡易な構成で光軸のずれを抑制することができる。
[実施の形態2]
図6は、本発明の第2の実施形態に係る光半導体装置1aの一例を示す断面図である。すなわち、本実施形態に係る光半導体装置1aは、台座6に代えて台座61を採用する点において光半導体装置1と異なる。光半導体装置1aの他の構成については、光半導体装置1に関して上述したのと同様である。
すなわち、本実施形態に係る光半導体装置1aにおいて、基体2には、台座61の一部分が埋設されている。また、台座61は、基体2が有するヤング率より大きいヤング率を有する材料から構成される。このため、台座61は、例えば、アルミナセラミックス、窒化アルミニウムセラミックス、窒化珪素セラミックス等のセラミックスから構成される。
なお、本実施形態においては、台座61を構成する材料として、セラミックスを例として説明したが、基体2が有するヤング率より大きいヤング率を有する材料から構成されていれば、特にセラミックスには限定されない。
基体2には上記のような台座61の一部分が埋設されているので、本実施形態に係る光半導体装置1aは、次のような効果を有する。すなわち、光半導体装置1aを外部基板に例えばネジ止めする際に、当該ネジ止め時において光半導体装置1aに作用する応力が、基体2に一部分が埋設された台座61で抑制されることになる。つまり、台座61は、基体2が有するヤング率より大きいヤング率を有する材料から構成されているので、基体2の4隅に形成されたネジ孔Hからネジ止め時における応力が作用した場合であっても、台座61に載置された光半導体素子7および透光性部材8には、当該応力は作用し難くなる。このため、本実施形態に係る光半導体装置1aは、光ファイバ5と透光性部材8と光半導体素子7との間の光軸のずれを、簡易な構成で抑制することができる。
また、基体2には台座61の一部分が埋設されているので、光半導体素子7から発せられる熱を、外部基板へ放熱し易くなる。基体2に台座61の一部分が埋設されていると、基体2に台座61の一部分が埋設されていない態様と比較して、光半導体素子7と外部基板との間の距離が短くなるからである。
ここで、図7に示すように、台座61の下面が基体2の下面と略同一面となるように、基体2に台座61の一部分が埋設されていることが好ましい。このようにすると、図6に示す態様と比較して、台座6に載置された光半導体素子7および透光性部材8には、より応力は作用し難くなる。すなわち、図7に示す態様は、図6に示す態様と比較して、基体2の厚み方向全体にわたって台座61の一部分が基体2に埋設されているからである。
以上のように、本実施形態に係る光半導体素子収納用パッケージおよび光半導体装置によれば、簡易な構成で光軸のずれを抑制することができる。
なお、図6および図7では、台座61の形状は、直方体状である例を図示したが、これに限定されない。すなわち、図8および図9に示すように、台座61は、鍔部61aを有していてもよい。つまり、図8および図9では、台座61の鍔部61aが、基体2に埋設されている。ここで、図9に示す態様は、図8に示す態様と異なり、鍔部61aの下面が基体2の下面と略同一面となるように、基体2に鍔部61aが埋設されている。図8に示す態様によれば、図6に示す態様と比較して、台座61に載置された光半導体素子7および透光性部材8には、より応力は作用し難くなる。またこれと同様に、図9に示す態様によれば、図7に示す態様と比較して、台座61に載置された光半導体素子7および透光性部材8には、より応力は作用し難くなる。
以上のように、本発明は、簡易な構成で光軸のずれを抑制することができる光半導体素子収納用パッケージ、または光半導体装置として有用である。
1,1a 光半導体装置
2 基体
2a 載置部
3 枠体
6,61 台座
7 光半導体素子
10 蓋体
11 囲み部材
C 溝部
第1溝部
第2溝部

Claims (4)

  1. 上面に光半導体素子を直接的あるいは間接的に載置するための載置部を有する基体と、
    平面視において前記載置部を囲むように前記基体の上面に設けられた枠体と、を備え、
    前記枠体と前記載置部との間における前記基体には、平面視において前記載置部を囲むように溝部が形成されており、
    前記基体に形成された溝部には、前記基体が有するヤング率より大きいヤング率を有する囲み部材が設けられている、光半導体素子収納用パッケージ。
  2. 前記溝部は、第1溝部と、平面視において前記第1溝部よりも前記枠体側に位置する第2溝部とを少なくとも有し、
    前記基体の厚み方向における前記第2溝部の深さは、前記基体の厚み方向における前記第1溝部の深さよりも大きく、
    前記第1溝部および前記第2溝部には、前記囲み部材がそれぞれ設けられている、請求項1に記載の光半導体素子収納用パッケージ。
  3. 前記溝部は、前記基体の上面と下面とを貫くようにして当該基体に形成されており、
    前記囲み部材の上面が前記基体の上面と略同一面となるように、かつ前記囲み部材の下面が前記基体の下面と略同一面となるように、前記溝部に前記囲み部材が設けられている、請求項1に記載の光半導体素子収納用パッケージ。
  4. 請求項1〜のいずれか一項に記載の光半導体素子収納用パッケージと、
    前記半導体素子収納用パッケージに収納された光半導体素子と、
    前記枠体の上面に設けられた蓋体と、を備えた、光半導体装置。
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