JP2003179293A - 光半導体素子収納用パッケージ - Google Patents

光半導体素子収納用パッケージ

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JP2003179293A
JP2003179293A JP2001379153A JP2001379153A JP2003179293A JP 2003179293 A JP2003179293 A JP 2003179293A JP 2001379153 A JP2001379153 A JP 2001379153A JP 2001379153 A JP2001379153 A JP 2001379153A JP 2003179293 A JP2003179293 A JP 2003179293A
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optical semiconductor
optical
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semiconductor element
package
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JP2001379153A
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Mitsuo Yanagisawa
美津夫 柳沢
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Kyocera Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 光半導体装置をネジ止めする際に生じる基体
や枠体の変形と、電子冷却素子の熱による基体や枠体お
よび光ファイバ固定部材の変形と、光ファイバの光伝搬
特性の劣化とを有効に抑制した光半導体パッケージとす
るとともに、部品点数を増加させずに光軸ズレを抑制し
た光半導体パッケージを低コストに製造できるようにす
ること。 【解決手段】 上面に光半導体素子4の載置部1aを有
する略四角形の基体1と、基体1上面に載置部1aを囲
繞するように接合され、一側部に貫通孔2aが形成され
た平面視形状が略四角形の枠体2と、貫通孔2aの枠体
2外側開口の周囲に取着され、内部に透光性部材7bが
設置された筒状の光ファイバ固定部材3とを具備してお
り、一側部およびそれに対向する他の側部の直下の基体
1下面の部位に、各側部に沿ってそれぞれ溝1bが形成
されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光半導体素子を収
容するための光半導体素子収納用パッケージに関する。
【0002】
【従来の技術】従来の光通信分野等で使用される半導体
レーザ(LD),フォトダイオード(PD)等の光半導
体素子を収納するための光半導体素子収納用パッケージ
(以下、光半導体パッケージという)の断面図を図3に
示す。同図において、101,102はそれぞれ金属から成
り、容器本体を構成する基体と、側部に貫通孔102aが
形成された枠体である。また、103は金属からなり、そ
の内部に透光性部材107bや外側の端面に光アイソレー
タ109および光ファイバ111が挿着された金属ホルダ112
が接合される筒状の光ファイバ固定部材(以下、固定部
材という)である。さらに、104は光半導体素子、105は
蓋体を示す。これら基体101、枠体102、固定部材103、
蓋体105とで光半導体素子104を内部に収納する容器を構
成する。
【0003】このような光半導体パッケージは、一般
に、光半導体素子104を載置する載置用基台106と、光半
導体素子104からの出射光を集光または平行光に変換す
る透光性部材107aを固定する固定ホルダ108とが搭載さ
れるペルチェ素子等の電子冷却素子113が載置される載
置部101aを有する基体101と、基体101上面の外周部に
載置部101aを囲繞するように取着される枠体102とが、
銀ロウ等のロウ材により接合される。また、光を集光し
たり平行光とする透光性部材107bが嵌着されるととも
に、光半導体素子104への戻り光を防止する光アイソレ
ータ109および光ファイバ111が嵌着された金属ホルダ11
2が接合固定される固定部材103が、貫通孔102aに銀ロ
ウ等のロウ材によって接合される。また、蓋体105と枠
体102は、それぞれの接合面に形成されたメタライズ層
を介して金(Au)−錫(Sn)合金半田等の低融点ロ
ウ材で接合される。
【0004】基体101は、銅(Cu)−タングステン
(W)合金,鉄(Fe)−ニッケル(Ni)−コバルト
(Co)合金等の比較的高い熱伝導性を有する金属から
成る。また、基体101は、電子冷却素子113より発生する
熱を吸収し大気中に放散するための放熱板として機能す
るとともに電子冷却素子113を支持する支持部材として
機能する。
【0005】また、枠体102は、基体101の熱膨張係数に
近似するFe−Ni−Co合金またはCu−W合金等の
金属から成り、固定部材103が取着される貫通孔102a
と、入出力端子(図示せず)が嵌着される取付部(図示
せず)が設けられる。
【0006】さらに、固定部材103は、枠体102に熱膨張
係数が近似するFe−Ni−Co合金等の金属から成
り、内部に透光性部材107bが半田材やガラス材等によ
り接合される。また、光アイソレータ110および光ファ
イバ111が半田材や樹脂接着剤等の接合材110により嵌着
された金属ホルダ112が、固定部材103の外側の端面にY
AGレーザ溶接等の溶接法により接合固定されて、光半
導体パッケージ内部の気密性を保つ。
【0007】また、載置用基台106は、電子冷却素子113
の熱膨張係数と近似するアルミナ(Al23)セラミッ
クスや窒化アルミニウム(AlN)セラミックス等の誘
電体から成る。そして、その上面には、高周波信号が伝
送されるモリブデン(Mo)−マンガン(Mn)等から
成る金属ペーストを焼結して成る配線導体が形成される
とともに、光半導体素子104を搭載するための導体層が
形成される。
【0008】また、電子冷却素子113は、一般的にP型
素子とN型素子から成る熱電半導体素子より構成され、
熱電半導体素子に電流を入力することによりペルチェ効
果を生じさせ、吸熱、発熱を行なう。そして、電子冷却
素子113は載置部101aにインジウム(In)−鉛(P
b)−銀(Ag)半田や錫(Sn)−鉛(Pb)半田等
の半田材により取着される。
【0009】そして、枠体102の上面に、Fe−Ni−
Co合金等の金属またはアルミナセラミック等のセラミ
ックスから成る蓋体105を、枠体102の蓋体105との接合
面に形成されたメタライズ層を介してAu−Sn合金半
田等の低融点ロウ材で接合することにより、光半導体パ
ッケージ内に光半導体素子104を気密に収納する。
【0010】このように、基体101、枠体102、固定部材
103、蓋体105とで光半導体素子104を光半導体パッケー
ジの内部に収納するとともに、載置用基台106に載置さ
れた光半導体素子104と入出力端子とを電気的に接続す
ることにより、光半導体素子104に高周波信号を入出力
し作動させ得る光半導体挿置となる。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
光半導体パッケージにおいて、例えば基体101を構成す
る金属がCu−W合金、枠体を構成する金属がFe−N
i−Co合金である場合、これらの金属の熱膨張係数は
相違する。従って、基体101および枠体102を銀ロウ等の
ロウ材により接合するために、加熱、冷却する場合、冷
却する際の基体101と枠体102との熱膨張係数差に起因し
て生じる内部応力と収縮により、基体101に最大高低差1
0〜30μm程度の反りが発生していた。この結果、光半
導体素子104と透光性部材107a,107bおよび光ファイ
バとの光軸を合わせて組み立てられた光半導体装置を、
平坦な外部電気回路基板等にネジ止めするために、基体
101の四隅のネジ止め部(図示せず)をネジで締め付け
た場合、光半導体パッケージの製造工程で生じた基体10
1の反りが矯正され、基体101とともに光半導体パッケー
ジ全体が変形する。
【0012】これにより、基体101の略中央部が高さ方
向に変位するとともに、固定部材103が取着される枠体1
02の側部が基体101と枠体102との接合部を支点とし変位
する。従って、基体101上面の略中央部に電子冷却素子1
13と載置用基台106を介して載置された光半導体素子104
と、透光性部材107aと、固定部材103内に設置された透
光性部材107bと、光ファイバ111との間に位置ズレが生
じ、それぞれの光軸が大きくずれる。この結果、透光性
部材107a,107bを介する光半導体素子104と光ファイ
バ111との光結合効率が著しく劣化し、光半導体装置の
外部に光信号を効率よくかつ安定して出力することでき
なくなるという問題点を有していた。
【0013】そこで、基体の中央部の厚みをx、両端の
厚みをtとした場合、0.3mm≦t≦1mm、x≧2t
を満足する光半導体パッケージが提案されている(従来
例1:特開平6−314747号公報参照)。しかしながら、
従来例1の光半導体パッケージでは、基体の中央部を両
端の厚みよりも厚くする必要があり、光半導体装置のさ
らなる薄型化を行なうことは困難である。
【0014】また、上記問題点を解決するために、Cu
−W合金から成る基体の両端領域にネジ止めを行なうた
めの貫通孔を有し、ヤング率が1.96×105N/mm2
下で降伏応力が4.9×102N/mm2以下の金属から成
るネジ止め部材が枠体から突出するように設けられた光
半導体パッケージが提案されている(従来例2:特開平
11−74619号公報参照)。この光半導体パッケージをネ
ジ止め部材を介して外部電気回路装置等にネジ止めして
強固に固定する場合、ネジ止め時の外力によって生じる
内部応力により生じる基体の変形を抑制でき、光半導体
素子の高さ方向の位置ズレを有効に抑制することができ
る。その結果、光半導体素子と光ファイバとの光軸がず
れず、光半導体素子と光ファイバとの光信号の入出力を
効率よくかつ安定して行い得るとともに光半導体装置の
薄型化が可能となる。
【0015】しかしながら、従来例2の光半導体パッケ
ージによれば、金属から成るネジ止め部材を平面視形状
が長方形の枠体の短辺側から突出するように基体の両端
に設けていたため、基体とネジ止め部材を銀ロウ等で接
着する工程が必要となる。その結果、光半導体パッケー
ジの組立工程が複雑になって組立工程が増えることによ
り歩留まりが低下する要因となる。また、ネジ止め部の
位置精度も劣化し易く、基体とネジ止め部が別個である
ため、構造が複雑となり光半導体パッケージが高価にな
るとともに、ネジ止めによって基体と基体両端のネジ止
め部との接合部に応力が集中することにより、光半導体
パッケージが破損し易くなるという問題点を有してい
た。
【0016】また、枠体に固定された金属からなる第1
の底板と、第1の底板の枠体と反対側の表面に固定さ
れ、第1の底板よりもヤング率が大きい第2の底板とを
備えた光半導体気密封止容器(従来例3:特開平11−74
934号公報参照)、および、枠体に固定された金属から
成る第1の底板と、第1の底板の枠体と反対側の表面に
固定され第1の底板よりもヤング率の小さい金属から成
る第2の底板とを備えた光半導体気密封止容器(従来例
4:特開平11−74935号公報参照)が公知である。従来
例3,4では、上記の問題点に加え、銀ロウ付けの面積
が大きくなるため第1の底板と第2の底板との間の銀ロ
ウ付けの接合部にボイドが発生することにより、光半導
体装置内部の光半導体素子および駆動素子の熱の第1の
底板から銀ロウを介して第2の底板への熱伝達率が低下
し、光半導体装置を長期にわたって安定して作動させる
ことができないという問題点を有していた。
【0017】また、近年の光通信等における情報量の大
容量化に伴い、光ファイバ内を伝達する光信号の出力お
よび伝送効率(bps:bit per second)が増大してき
ており、光半導体パッケージにも高放熱構造が要求され
ている。また、長中距離の光ファイバ通信において、光
信号の増幅を行なう光増幅装置として、光ポンプモジュ
ールと呼ばれる光半導体装置が使用されている。近年、
この光半導体装置の光信号の出力は300mWまで向上し
ており、この光半導体装置に収納されて光信号を出力す
る光半導体素子も2W程度の駆動電力となってきてい
る。従って、このような光半導体装置において、光半導
体素子の熱を効率よく光半導体パッケージ外部に放熱す
る構造が要求されている。
【0018】そこで、光半導体パッケージの基体として
Cu−W合金等の高熱伝導性のものを使用したり、光半
導体装置内部の載置用基台と基体との間に電子冷却素子
(ペルチェ素子)を配置し、電子冷却素子により光半導
体素子の温度制御を行なうといった構成を採っていた。
しかし、電子冷却素子の熱が基体と枠体とを介して光フ
ァイバに伝達することにより、光ファイバに熱応力が加
わり光軸がずれたり、光ファイバの屈折率が変動したり
複屈折率が増加して伝搬損失の増加や光信号の劣化の原
因となったり、光信号の消光比が劣化するといった問題
点を有していた。
【0019】従って、本発明は上記問題点に鑑みて完成
されたものであり、その目的は、光半導体装置をネジ止
めする際に生じる基体や枠体の変形と、光半導体装置の
作動時の電子冷却素子の熱による基体や枠体および固定
部材の変形と光ファイバの光伝搬特性の劣化とを有効に
抑制し、光半導体素子を長期にわたり正常かつ安定に作
動させ得る光半導体パッケージとすることにある。ま
た、部品点数を増加させずに光軸ズレを抑制した光半導
体パッケージを低コストに製造することにある。
【0020】
【課題を解決するための手段】本発明の光半導体パッケ
ージは、上面に光半導体素子が載置用基台を介して載置
される載置部を有する略四角形の基体と、該基体の上面
に前記載置部を囲繞するように接合され、一側部に貫通
孔が形成された平面視形状が略四角形の枠体と、前記貫
通孔に嵌着されるかまたは前記貫通孔の枠体外側開口の
周囲に取着され、内部に透光性部材が設置された筒状の
光ファイバ固定部材とを具備した光半導体素子収納用パ
ッケージにおいて、前記一側部およびそれに対向する他
の側部の直下の前記基体の下面の部位に、前記各側部に
沿ってそれぞれ溝が形成されていることを特徴とする。
【0021】本発明は、上記の構成により、光半導体装
置を基体の四隅のネジ止め部で平坦な外部電気回路基板
等にネジ止めする際に、光半導体パッケージの製造工程
で生じた基体の反りが矯正されることにより、基体の中
央部に生じる高さ方向の変位と枠体に生じる変形とを、
溝によって有効に抑制できる。また、光半導体装置の作
動時に電子冷却素子より発生し基体を介して枠体に伝達
する熱を、溝によって有効に遮断できる。その結果、光
半導体装置を外部電気回路基板等にネジ止めする際に、
光半導体素子と透光性部材と固定部材に取着される光フ
ァイバとの間に発生する光軸ズレを小さくでき、光結合
効率の劣化を有効に抑制できる。
【0022】また、固定部材に取着される光ファイバへ
の加熱や熱応力が低減されることから、光半導体装置を
長期にわたり正常かつ安定して作動させ得る。また、部
品点数を増加させることなく光半導体装置のネジ止めに
よる変形を抑制できることから、光軸ズレのない光半導
体パッケージを低コストに製造できる。
【0023】本発明において、好ましくは、前記基体の
厚さをt、前記溝の深さをdとしたとき、t/4≦d≦
3t/4であることを特徴とする。
【0024】本発明は、上記の構成により、光半導体装
置をネジ止めする際の外力により、基体と枠体との接合
部に集中する内部応力を溝で緩和し、基体の変形をさら
に抑制できる。また、電子冷却素子より発生し基体から
枠体に伝達する熱を有効に抑制できる。その結果、光半
導体装置を外部電気回路基板等にネジ止めする際に生じ
る、光半導体素子と透光性部材と光ファイバとの間の光
軸ズレが抑制され、光半導体素子と光ファイバとの光結
合効率の劣化を防ぐことができる。さらに、電子冷却素
子より発生し、基体と枠体を介して固定部材に伝達する
熱を有効に抑制できることから、熱による光ファイバの
光伝搬特性の劣化を抑制できる。従って、光半導体装置
を長期にわたり正常かつ安定して作動させ得る。
【0025】また本発明において、好ましくは、前記各
溝は、縦断面形状が凹形であり、前記基体の中心側の側
面が前記各側部の内面にそれぞれ略面一とされており、
前記各溝の幅が前記各側部の厚さ以上とされていること
を特徴とする。
【0026】本発明は、上記の構成により、光半導体装
置をネジ止めする際の外力により基体と枠体との接合部
に集中する内部応力を溝で有効に緩和し、基体の変形を
抑制する。その結果、光半導体装置を外部電気回路基板
等にネジ止めする際に生じる、光半導体素子と透光性部
材と光ファイバとの間の光軸のズレが大幅に抑制され、
光半導体素子と光ファイバとの光結合効率の劣化を防止
できることから、光半導体装置を長期にわたり正常かつ
安定して作動させ得る。
【0027】さらに本発明において、好ましくは、前記
各溝の幅が2mm以下とされていることを特徴とする。
【0028】本発明は、上記の構成により、光半導体装
置をネジ止めする際の外力により基体と枠体との接合部
に集中する内部応力を溝でさらに有効に緩和し、基体の
変形を抑制するとともに光半導体装置を外部電気回路基
板等に強固に固定できる。
【0029】また本発明において、好ましくは、前記基
体は熱伝導率が100W/m・K以上であることを特徴と
する。
【0030】本発明は、上記の構成により、基体の下面
に溝を設けることにより低下し易い基体の放熱性を有効
に補うことができる。その結果、光半導体パッケージ内
部に収納される光半導体素子と駆動素子を長期にわたり
正常かつ安定して作動させることができる。
【0031】
【発明の実施の形態】本発明の光半導体パッケージにつ
いて以下に詳細に説明する。図1は、本発明の光半導体
パッケージについて実施の形態の例を示す断面図、図2
は、図1の光半導体パッケージの基体に設けられた溝を
示す要部拡大側面図である。これらの図において、1は
容器の底板を成す基体、2は容器の側壁を成す枠体、3
は透光性部材7bや光アイソレータ9を設置固定するた
めの筒状の光ファイバ固定部材(以下、固定部材とい
う)、4はLD等の光半導体素子、5は蓋体である。こ
れら基体1、枠体2、固定部材3および蓋体5とで、内
部に光半導体素子4を収納するための容器が基本的に構
成される。
【0032】また、従来技術と同様に、固定部材3の外
側の端面には、光アイソレータ9と光ファイバ11とを樹
脂接着剤10で接着した金属ホルダ12が、YAGレーザ溶
接等により固定される。
【0033】本発明の基体1は、光半導体素子4および
固定ホルダ8を支持するための支持部材ならびに電子冷
却素子13の熱を放散するための放熱板として機能する。
基体1上面の中央部に、光半導体素子4を載置する載置
用基台6と透光性部材7aが固定された固定ホルダ8と
を載置する載置部1aが設けられている。この載置部1
aには、載置用基台6が錫(Sn)−鉛(Pb)半田等
の低融点ロウ材を介して取着され、固定ホルダ8がYA
Gレーザ溶接や半田材等により接合固定される。そし
て、電子冷却素子13の熱は、この低融点ロウ材を介して
基体1に伝えられ外部に効率良く放散されることによ
り、電子冷却素子13の作動性を良好にする。また、光半
導体素子4より出射される光は、透光性部材7a,7b
により集光されたり平行光等に変換されて光ファイバ11
に授受される。
【0034】基体1は、Fe−Ni−Co合金やCu−
W合金等の金属から成り、そのインゴットに圧延加工や
打ち抜き加工等の従来周知の金属加工法を施すことによ
って所定形状に成形され製作される。また、その表面に
耐蝕性に優れかつロウ材との濡れ性に優れる金属、具体
的には厚さ0.5〜9μmのNi層と厚さ0.5〜9μmのA
u層を順次メッキ法により被着させておくのがよく、基
体1が酸化腐食するのを有効に防止できるとともに、基
体1上面に載置用基台6を介して光半導体素子4を強固
に接合させることができる。
【0035】また、枠体2は、基体1との接合を強固に
するとともに光半導体パッケージの外部に対する電磁遮
蔽(電磁シールド)を行なうために、Fe−Ni−Co
合金やFe−Ni合金等の金属から成るのがよい。そし
て、その表面に耐蝕性に優れかつロウ材との濡れ性に優
れる金属、具体的には厚さ0.5〜9μmのNi層と厚さ
0.5〜9μmのAu層を順次メッキ法により被着させて
おくのがよく、枠体2が酸化腐食するのを有効に防止で
きるとともに、貫通孔2aに固定部材3を強固に嵌着接
合できる。
【0036】本発明において、貫通孔2aが形成された
一側部およびそれに対向する他の側部の直下の基体1の
下面の部位に、各側部に沿ってそれぞれ溝1bが形成さ
れている。これにより、光半導体装置を基体1の四隅の
ネジ止め部で平坦な外部電気回路基板等にネジ止めして
固定する際に、光半導体パッケージの製造工程で生じた
基体1の反りが矯正されて、基体1の略中央部に生じる
高さ方向の変位と枠体2の側部に生じる変形とを抑制で
きる。
【0037】即ち、光半導体パッケージの製造工程で基
体1と枠体2との熱膨張係数差に起因して生じた基体1
の反りが、光半導体装置のネジ止め時の外力によって矯
正されると、基体1には曲げモーメントが生じ基体1と
ともに光半導体パッケージ全体が変形する。その結果、
基体1の中央部が高さ方向に変位するとともに、固定部
材3が取着された枠体2の側部が基体1と枠体2との接
合部を支点とし変形する。即ち、枠体2の側部が基体1
と枠体2との接合部から上部に向かうにつれて内側また
は外側に反るように変形する。これにより、光半導体装
置を外部電気回路基板等にネジ止めする際に、光半導体
素子4と透光性部材7aとの光軸ズレ、透光性部材7
a,7bの光軸ズレ、透光性部材7bと光ファイバ11と
の光軸ズレが発生し、光結合効率が著しく劣化する。
【0038】従って、基体1の下面に溝1bを設けるこ
とにより、光半導体装置のネジ止め時に外力が加わった
際に、基体1と枠体2の貫通孔2aが形成された一側部
およびそれに対向する他の側部との接合部に生じる内部
応力、および曲げモーメントによる基体1の変形が溝1
bで緩和される。その結果、光半導体装置を外部電気回
路基板等にネジ止めする際の光半導体素子4や透光性部
材7aの高さ方向の変位と、透光性部材7bと光ファイ
バ11との光軸ズレを有効に抑制でき、透光性部材7a,
7bを介する光半導体素子4と光ファイバ11との光結合
効率の劣化を防ぐことができる。
【0039】さらに、溝1bにより、電子冷却素子13よ
り発せられ基体1から枠体2へ伝導する熱の伝達部が減
少し、基体1と貫通孔2aが形成された枠体2の一側部
との接合部における熱抵抗が増加する。これにより、電
子冷却素子13の熱が基体1を介して貫通孔2aが形成さ
れた一側部およびこの側部に取着される固定部材3に伝
達することを抑制できる。その結果、貫通孔2aが形成
された一側部および固定部材3の熱膨張や熱応力による
変形が枠体2や固定部材3に生じないことから、固定部
材3に取着された透光性部材7bや光ファイバ11の位置
が変動せず、透光性部材7a,7bを介する光半導体素
子4と光ファイバ11との光結合効率の劣化を有効に抑制
できる。
【0040】また、溝1bは、基体の厚さをt、溝の深
さをdとしたとき、t/4≦d≦3t/4であることが
好ましい。d<t/4の場合、光半導体装置を外部電気
回路基板等にネジ止めする際の溝1bにおける基体1の
変形が大きくなり、光半導体装置を外部電気回路基板等
に強固に接合するのが困難になる。また、3t/4<d
の場合、光半導体装置を外部電気回路基板等にネジ止め
する際に矯正される基体1の変形を、溝1bで十分に緩
和できなくなる。また、基体1から枠体2へ伝わる熱に
対する熱抵抗が減少するため、電子冷却素子13より発生
し基体1から枠体2に伝達する熱が低減されず、貫通孔
2aが形成された一側部および固定部材3が熱膨張によ
り変形し、固定部材3に取着される透光性部材7bおよ
び光ファイバ11の位置がずれ、光半導体素子4との光軸
がずれる。その結果、透光性部材7a,7bを介する光
半導体素子4と光ファイバ11との光結合効率が劣化し、
光半導体装置を安定かつ効率よく作動させることが困難
になる。
【0041】また、各溝1bは、縦断面形状が凹形であ
り、基体1の中心側の側面が枠体2の各側部の内面にそ
れぞれ略面一とされており、各溝1bの幅が各側部の厚
さ以上とされていることが好ましい。この場合、光半導
体装置をネジ止めする際の外力により基体1と枠体2と
の接合部に集中する内部応力を溝1bで有効に緩和し、
基体1の変形を抑制することができる。また、この構成
において、各溝1bの幅が2mm以下とされているこ
と、即ち各側部の厚さをs、各溝1bの幅をwとしたと
き、s≦w≦2mmであることがより好ましい。w<s
の場合、基体1に反りが生じている光半導体装置をネジ
止めする際の、基体1の反りを矯正することによる光半
導体装置全体の変形を溝1bで緩和するのが困難にな
る。その結果、基体1の中央部の高さ方向の変位と、貫
通孔2aが形成された枠体2の側部の変形とを抑制でき
ず、基体1の中央部に位置する光半導体素子4および透
光性部材7aと、固定部材3に取着された透光性部材7
bおよび光ファイバ11との光軸がずれ、光半導体素子4
と光ファイバ11との光結合効率が劣化し易くなる。ま
た、2mm<wの場合、基体1に反りが生じている光半
導体装置を外部電気回路基板等にネジ止めする際に基体
1の反りが矯正されるときの溝1bにおける基体1の変
形が大きくなり、光半導体装置を強固に固定することが
困難になる。
【0042】また、基体1は、熱伝導率が100W/m・K
以上である例えばCu−W合金等の金属からなることが
好ましい。この場合、溝1bを設けることにより低下す
る基体1の放熱性を有効に補うことができる。その結
果、光半導体パッケージ内部に収納される光半導体素子
4と電子冷却素子13とを長期にわたり正常かつ安定に作
動させ得る。なお、Cu−W合金は、W基板にCuを含
浸させたり、WとCuの粉末を混練し焼成する方法によ
り製作される。
【0043】枠体2は、基体1と同様にその材料のイン
ゴットに圧延加工や打ち抜き加工等の従来周知の金属加
工法を施すことにより、所定形状に成形され製作され
る。また、枠体2はドリルによる孔あけ加工等により所
定形状に形成される貫通孔2aを有しており、貫通孔2
aの枠体2外面側開口の周囲に筒状の固定部材3が接合
される。または、貫通孔2aの内面に固定部材3が嵌着
される。
【0044】基体1上面に載置される載置用基台6は、
放熱性および加工性に優れるシリコン(Si)、または
基体1の熱膨張係数に近似するアルミナ(Al23)セ
ラミックスや窒化アルミニウム(AlN)セラミックス
等の誘電体から成る。そして、載置用基台6は、光半導
体素子4から基体1へ熱を伝えるための伝熱媒体である
とともに、その高さを調整することにより、透光性部材
7aと光半導体素子4と光ファイバ11との光軸が合うよ
うに調節することができる。この載置用基台6の上面に
は、高周波信号が伝送される配線導体が形成されるとと
もに光半導体素子4を搭載するための導体層が形成され
る。
【0045】枠体2の一側部に設けられる固定部材3
は、光ファイバ11を枠体2に固定するためのものであ
り、貫通孔2aの枠体2外側開口の周囲または貫通孔2
aの内面に銀ロウ等のロウ材を介して接合される。この
固定部材3は枠体の熱膨張係数に近似するFe−Ni−
Co合金やCu−W合金等の金属からなり、例えばFe
−Ni−Co合金等のインゴット(塊)をプレス加工で筒
状とすることにより作製される。また、固定部材3の外
側の端面には、戻り光防止用の光アイソレータ9と光フ
ァイバ11とを樹脂接着剤で接着した金属ホルダ12が半田
材やYAGレーザ溶接により接合される。この固定部材
3の内部には、光半導体素子4より出射される光信号の
消光比の劣化が生じないサファイアや非晶質ガラス等か
ら成り、集光レンズとして機能するとともに光半導体パ
ッケージ内部を塞ぐための透光性部材7bが、半田材ま
たはガラス材等の接合材により固定されて光半導体パッ
ケージ内部の気密性を保つ。
【0046】透光性部材7a,7bは、熱膨張係数が4
×10-6〜12×10-6/℃(室温〜400℃)のサファイア
(単結晶アルミナ)や非晶質ガラス等から成り、球状,
半球状,凸レンズ状、ロッドレンズ状等とされる。そし
て、透光性部材7a,7bは、光半導体素子4からの出
射光を透光性部材7a,7bを介して集光したり平行光
に変換して光ファイバ11に入力するための集光用部材と
して用いられる。また、透光性部材7a,7bは、例え
ば結晶軸の存在しない非晶質ガラスの場合、酸化珪素
(SiO2),酸化鉛(PbO)を主成分とする鉛系、
またはホウ酸やケイ砂を主成分とするホウケイ酸系のも
のを用いる。その結果、光半導体素子4からの出射光が
透光性部材7a,7aで複屈折の影響を及ぼされず、効
率良く光ファイバ11に光信号を入力できる。
【0047】また、透光性部材7bは、例えば、その外
周部に予めメタライズ層を被着させておき、このメタラ
イズ層と固定部材3とをAu−Sn半田等の低融点ロウ
材を介しロウ付けされる。これにより、光半導体素子4
を収納した光半導体装置の気密が行われ、光半導体素子
4を長期にわたり正常かつ安定に作動させ得る。この透
光性部材7bは、その熱膨張係数が枠体2と異なってい
ても、固定部材3が熱膨張係数差による内部応力を吸収
し緩和するので、結晶軸が応力のためにある方向に揃う
ことによって光の屈折率の変化を起こすことは発生しに
くい。従って、このような透光性部材7bを用いること
により、光半導体素子4と光ファイバ11との間の光結合
効率の変動を小さく抑えることができ、安定した光信号
の入出力が行い得る。
【0048】透光性部材7aを固定する固定ホルダ8
は、載置用基台6の熱膨張係数と近似する金属から成
り、固定ホルダ8の貫通孔や切欠き部から成る取付部に
透光性部材7aが嵌着される。そして、固定ホルダ8
は、光半導体素子4と透光性部材7aとの光軸が一致す
るように調整された後に、電子冷却素子13の上面に半田
やYAGレーザ溶接等の溶接法により固定される。
【0049】また、蓋体5は、Fe−Ni−Co合金等
の金属やアルミナセラミックス等のセラミックスから成
り、枠体2上面にAu−Sn合金半田等の低融点ロウ材
を介して接合されたり、YAGレーザ溶接等の溶接法に
より接合される。
【0050】かくして、本発明の光半導体パッケージ
は、基体1の載置部1aに電子冷却素子13と載置用基台
6を介して光半導体素子4を載置し、光半導体素子4の
各電極と載置用基台6上面の配線導体および入出力端子
とをボンディングワイヤにより電気的に接続し、しかる
後、枠体2上面に蓋体5を接合し、基体1と枠体2と固
定部材3および蓋体5から成る容器の内部に光半導体素
子4を収納し気密封止することによって、製品としての
光半導体装置となる。
【0051】なお、本発明は上記実施の形態に限定され
ず、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で種々の変更を施
すことは何等支障ない。
【0052】
【発明の効果】本発明は、上面に光半導体素子が載置用
基台を介して載置される載置部を有する略四角形の基体
と、基体の上面に載置部を囲繞するように接合され、一
側部に貫通孔が形成された平面視形状が略四角形の枠体
と、貫通孔に嵌着されるかまたは貫通孔の枠体外側開口
の周囲に取着され、内部に透光性部材が設置された筒状
の光ファイバ固定部材とを具備しており、一側部および
それに対向する他の側部の直下の基体の下面の部位に、
各側部に沿ってそれぞれ溝が形成されていることによ
り、光半導体装置を基体の四隅のネジ止め部で平坦な外
部電気回路基板等にネジ止めする際に、光半導体パッケ
ージの製造工程で生じた基体の反りが矯正されることに
より、基体の中央部に生じる高さ方向の変位と枠体に生
じる変形とを、溝によって有効に抑制できる。また、光
半導体装置の作動時に電子冷却素子より発生し基体を介
して枠体に伝達する熱を、溝によって有効に遮断でき
る。その結果、光半導体装置を外部電気回路基板等にネ
ジ止めする際に、光半導体素子と透光性部材と固定部材
に取着される光ファイバとの間に発生する光軸ズレを小
さくでき、光結合効率の劣化を有効に抑制できる。
【0053】また、固定部材に取着される光ファイバへ
の加熱や熱応力が低減されることから、光半導体装置を
長期にわたり正常かつ安定して作動させ得る。また、部
品点数を増加させることなく光半導体装置のネジ止めに
よる変形を抑制できることから、光軸ズレのない光半導
体パッケージを低コストに製造できる。
【0054】本発明は、好ましくは基体の厚さをt、溝
の深さをdとしたとき、t/4≦d≦3t/4であるこ
とにより、光半導体装置をネジ止めする際の外力によ
り、基体と枠体との接合部に集中する内部応力を溝で緩
和し、基体の変形をさらに抑制できる。また、電子冷却
素子より発生し基体から枠体に伝達する熱を有効に抑制
できる。その結果、光半導体装置を外部電気回路基板等
にネジ止めする際に生じる、光半導体素子と透光性部材
と光ファイバとの間の光軸ズレが抑制され、光半導体素
子と光ファイバとの光結合効率の劣化を防ぐことができ
る。さらに、電子冷却素子より発生し、基体と枠体を介
して固定部材に伝達する熱を有効に抑制できることか
ら、熱による光ファイバの光伝搬特性の劣化を抑制でき
る。従って、光半導体装置を長期にわたり正常かつ安定
して作動させ得る。
【0055】また本発明は、好ましくは、各溝は、縦断
面形状が凹形であり、基体の中心側の側面が各側部の内
面にそれぞれ略面一とされており、各溝の幅が各側部の
厚さ以上とされていることにより、光半導体装置をネジ
止めする際の外力により基体と枠体との接合部に集中す
る内部応力を溝で有効に緩和し、基体の変形を抑制す
る。その結果、光半導体装置を外部電気回路基板等にネ
ジ止めする際に生じる、光半導体素子と透光性部材と光
ファイバとの間の光軸のズレが大幅に抑制され、光半導
体素子と光ファイバとの光結合効率の劣化を防止できる
ことから、光半導体装置を長期にわたり正常かつ安定し
て作動させ得る。
【0056】さらに本発明は、好ましくは、各溝の幅が
2mm以下とされていることにより、光半導体装置をネ
ジ止めする際の外力により基体と枠体との接合部に集中
する内部応力を溝でさらに有効に緩和し、基体の変形を
抑制するとともに光半導体装置を外部電気回路基板等に
強固に固定できる。
【0057】また本発明は、好ましくは基体は熱伝導率
が100W/m・K以上であることにより、基体の下面に
溝を設けることにより低下し易い基体の放熱性を有効に
補うことができる。その結果、光半導体パッケージ内部
に収納される光半導体素子と駆動素子を長期にわたり正
常かつ安定して作動させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の光半導体パッケージについて実施の形
態の一例を示す断面図である。
【図2】図1の光半導体パッケージにおける基体下面の
溝を示す要部拡大側面図である。
【図3】従来の光半導体パッケージの断面図である。
【符号の説明】
1:基体 1a:載置部 1b:溝 2:枠体 2a:貫通孔 3:光ファイバ固定部材 4:光半導体素子 5:蓋体 6:載置用基台 7a,7b:透光性部材 11:光ファイバ

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 上面に光半導体素子が載置用基台を介し
    て載置される載置部を有する略四角形の基体と、該基体
    の上面に前記載置部を囲繞するように接合され、一側部
    に貫通孔が形成された平面視形状が略四角形の枠体と、
    前記貫通孔に嵌着されるかまたは前記貫通孔の枠体外側
    開口の周囲に取着され、内部に透光性部材が設置された
    筒状の光ファイバ固定部材とを具備した光半導体素子収
    納用パッケージにおいて、前記基体の下面の前記一側部
    およびそれに対向する他の側部の直下の部位に、前記各
    側部に沿ってそれぞれ溝が形成されていることを特徴と
    する光半導体素子収納用パッケージ。
  2. 【請求項2】 前記基体の厚さをt、前記溝の深さをd
    としたとき、t/4≦d≦3t/4であることを特徴と
    する請求項1記載の光半導体素子収納用パッケージ。
  3. 【請求項3】 前記各溝は、断面形状が凹形であり、前
    記基体の中心側の側面が前記各側部の内面にそれぞれ略
    面一とされており、前記各溝の幅が前記各側部の厚さ以
    上とされていることを特徴とする請求項1または請求項
    2記載の光半導体素子収納用パッケージ。
  4. 【請求項4】 前記各溝の幅が2mm以下とされている
    ことを特徴とする請求項3記載の光半導体素子収納用パ
    ッケージ。
  5. 【請求項5】 前記基体は熱伝導率が100W/m・K以
    上であることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記
    載の光半導体素子収納用パッケージ。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010287766A (ja) * 2009-06-12 2010-12-24 Kyocera Corp 光半導体素子収納用パッケージ、および光半導体装置
JP2011018824A (ja) * 2009-07-10 2011-01-27 Kyocera Corp 光半導体素子収納用パッケージ、及び光半導体装置

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