JP2003069127A - 光半導体素子収納用パッケージおよび光半導体装置 - Google Patents

光半導体素子収納用パッケージおよび光半導体装置

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JP2003069127A
JP2003069127A JP2001257613A JP2001257613A JP2003069127A JP 2003069127 A JP2003069127 A JP 2003069127A JP 2001257613 A JP2001257613 A JP 2001257613A JP 2001257613 A JP2001257613 A JP 2001257613A JP 2003069127 A JP2003069127 A JP 2003069127A
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semiconductor element
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Kazuhiro Kawabata
和弘 川畑
Seigo Matsuzono
清吾 松園
Koichi Uchimoto
晃一 内本
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Abstract

(57)【要約】 光半導体素子の作動性が良好で、且つ光半導体パッケー
ジ内部の気密性が安定した、小型軽量の光半導体パッケ
ージを提供すること。 【解決手段】 基体1の厚さは0.1〜0.5mmであ
り、キャリア基板6は、銀,チタン,クロム,ジルコニ
ウムおよびタングステンのうちの少なくとも一種を0.
2〜10重量部、銅を90〜99.8重量部含有する金
属成分nが含浸された炭素質母材m内に一方向性炭素繊
維lの集合体が分散された金属炭素複合体6aを基材と
し、その基材の表面に基材側から鉄,鉄−ニッケル合金
または鉄−ニッケル−コバルト合金から成る接着層X
と、モリブデン層Yと、銅層Zとが順次積層されて成る
金属層6bが被着されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体レーザ(L
D),フォトダイオード(PD)等の光半導体素子を収
容するための光半導体素子収納用パッケージおよび光半
導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の光半導体素子収納用パッケージ
(以下、光半導体パッケージという)を図4,図5にそ
れぞれ斜視図,断面図で示す(特開2001−1443
61号公報参照)。この光半導体パッケージは、上面に
光半導体素子15が異方性高熱伝導板16(面方向の熱
伝導率が250W/m・K以上)を介して載置される載
置部11aを有するとともに、厚さが0.1〜0.5m
mの基体11と、この基体11の表面に載置部11aを
囲繞するように接合され、光ファイバを保持する筒状の
光ファイバ固定部材13を有する金属製の枠体12と、
光ファイバ固定部材13に設けられたウインドウ14と
を具備している。
【0003】基体11の上記厚さは、光半導体パッケー
ジの気密性がヘリウム(He)ガスのリーク量で1×1
-8atm・cc/sec以下に保持され、且つロウ付
け時の熱応力や基体11をベース板(外部電気回路基
板)にネジ止めするときの機械的応力で変形しない範囲
で薄くしている。従って、光半導体パッケージの低背化
による小型化を可能としている。
【0004】また、異方性高熱伝導板16は、面方向で
500W/m・K、厚さ方向で80W/m・Kの熱伝導
率を有する炭素(C)−黒鉛(C)繊維複合板、または
面方向で300W/m・K、厚さ方向で100W/m・
Kの熱伝導率を有する銅(Cu)−黒鉛繊維複合板から
成り、さらに基体11の厚さを薄くしたことにより、光
半導体素子15が作動時に発する熱を効率良く、外部電
気回路基板に伝達できる。また、異方性高熱伝導板16
の面方向の熱膨張係数はいずれも5〜10ppm/℃で
あり、基体11の熱膨張係数に近似していることから、
基体11と異方性高熱伝導板16との熱歪みは小さく、
従ってそれらの接合を強固なものとできる。
【0005】また、基体11の厚さが薄いため、異方性
高熱伝導板16は基体11の反り変形を防止する適度な
補強板としても機能する。即ち、異方性高熱伝導板16
は、光半導体素子15が搭載される部位を含み、且つ枠
体12に囲繞された基体11の上面の面積の50%以上
の部位に接合されていることから補強効果を有する。さ
らには、枠体12の基体11と接する部分をリブ構造と
することによっても補強し得る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来例において、異方性高熱伝導板16は面方向の熱伝導
率は小さくはないため、光半導体素子15が作動時に発
する熱を面方向に効率良く伝達できるが、厚さ方向の熱
伝導率は80〜100W/m・K程度と小さいため、光
半導体素子15が作動時に発する熱量が大きくなると厚
さ方向への熱の伝達効率が低下する。そのため、基体1
1から外部電気回路基板への熱の伝達が損なわれ、異方
性高熱伝導板16に内在した熱により光半導体素子15
も高温となり、光半導体素子15が誤作動を起こしたり
熱破壊する等の問題点を有していた。
【0007】また、異方性高熱伝導板16に内在した熱
により基体11と異方性高熱伝導板16との温度差が大
きくなるため、たとえ異方性高熱伝導板16を補強板と
して機能させようとしたり、枠体12の基体11と接す
る部分をリブ構造としても、異方性高熱伝導板16自体
が反り変形を起こし、また基体11の厚さが薄いことか
ら、基体11も同様に反り変形を起こす。そのため、光
半導体素子15と光ファイバとの光軸がずれてそれらの
光結合効率が低下し、光半導体素子15の作動性が低下
するという問題点を有していた。
【0008】また、光半導体パッケージ内部の気密性検
査は、内部にHeガスを充満させてリーク量を測定する
ことにより行われるが、異方性高熱伝導板16は一般的
に気孔率が高い。そのため、Heガスが異方性高熱伝導
板16にトラップされる場合がある。即ち、Heガスが
炭素と黒鉛繊維との間や、黒鉛繊維間にトラップされる
場合がある。その結果、たとえ気密性の良好な光半導体
パッケージであっても、あたかも気密性の不良な不良品
として誤って判定してしまう場合があるという問題点を
有していた。
【0009】このような問題点を解決するために、異方
性高熱伝導板16として、熱伝導率が面方向のみならず
厚さ方向も250W/m・K程度であり、且つ表面に気
孔の無い緻密なCu−タングステン(W)合金等から成
るものを使用することが考えられるが、比重が大きいた
め光半導体パッケージ自体が重くなる。そのため、近時
の光半導体パッケージの軽量化といった動向から外れる
こととなる。
【0010】なお、異方性高熱伝導板16は光半導体素
子15を支持する基板、所謂キャリア基板としても機能
する。
【0011】従って、本発明は上記問題点に鑑み完成さ
れたものであり、その目的は、熱伝導率が面方向のみな
らず厚さ方向でも高く、且つ表面に気孔の無い緻密なキ
ャリア基板を用いることにより、光半導体素子の作動性
が良好で、且つ光半導体パッケージ内部の気密性検査に
対して適格であり、さらに小型軽量の光半導体パッケー
ジを提供することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明の光半導体パッケ
ージは、上面に光半導体素子がキャリア基板を介して載
置される載置部を有する略直方体の基体と、該基体の上
面に前記載置部を囲繞するように接合され、一側部に貫
通孔から成る光ファイバ固定部材取付部、他の側部に切
欠きまたは貫通穴から成る入出力端子取付部が形成され
た枠体と、前記光ファイバ固定部材取付部に嵌着された
筒状の光ファイバ固定部材と、前記入出力端子取付部に
嵌着された入出力端子とを具備した光半導体素子収納用
パッケージにおいて、前記基体の厚さは0.1〜0.5
mmであり、前記キャリア基板は、銀,チタン,クロ
ム,ジルコニウムおよびタングステンのうちの少なくと
も一種を0.2〜10重量部、銅を90〜99.8重量
部含有する金属成分が含浸された炭素質母材内に一方向
性炭素繊維の集合体が分散された金属炭素複合体を基材
とし、該基材の表面に前記基材側から鉄,鉄−ニッケル
合金または鉄−ニッケル−コバルト合金から成る接着層
と、モリブデン層と、銅層とが順次積層されて成る金属
層が被着されていることを特徴とする。
【0013】本発明は、上記の構成により、光半導体素
子が搭載されるキャリア基板が熱伝導率が面方向のみな
らず厚さ方向でも高く、且つ表面に気孔の無い緻密なも
のとなることから、光半導体素子の作動性を良好とで
き、また光半導体パッケージ内部の気密性も安定的に保
持されたものとなる。
【0014】本発明において、好ましくは、前記接着層
および前記モリブデン層の厚さは5〜30μmであり、
前記銅層の厚さは100〜700μmであることを特徴
とする。
【0015】本発明は、上記の構成により、光半導体素
子の作動時に発する熱の伝達性をより良好とできる。
【0016】本発明の光半導体装置は、本発明の光半導
体パッケージと、載置部に載置固定されるとともに入出
力端子に電気的に接続された光半導体素子と、枠体の上
面に接合された蓋体とを具備したことを特徴とする。
【0017】本発明は、このような構成により、上記本
発明の光半導体パッケージを用いた信頼性の高い光半導
体装置を提供できる。
【0018】
【発明の実施の形態】本発明の光半導体パッケージを以
下に詳細に説明する。図1,図2は、本発明の光半導体
パッケージについて実施の形態の一例を示すものであ
り、図1は光半導体パッケージの斜視図、図2は光半導
体パッケージの断面図、図3は光半導体パッケージのキ
ャリア基板の部分拡大断面図である。
【0019】図1,図2において、1は基体、2は枠
体、3は光ファイバ固定部材(以下、固定部材とい
う)、4はウインドウ、5は光半導体素子、6はキャリ
ア基板、7は入出力端子である。基体1,枠体2,固定
部材3,ウインドウ4,入出力端子7とで、光半導体素
子5,キャリア基板6を内部に収容する容器が主に構成
される。
【0020】本発明の基体1は、Cu−W合金,Fe−
Ni合金,Fe−Ni−Co合金等の金属材料から成
り、その上面の載置部1aに光半導体素子5がキャリア
基板6を介して載置固定される所謂支持基板として機能
する。また、基体1は、光半導体素子5が作動時に発す
る熱を効率良く外部電気回路基板(図示せず)に伝達す
る所謂放熱板としても機能する。さらに、基体1の対向
する端部にはネジ穴1bが形成されており、そのネジ穴
1bにネジを通して外部電気回路基板にネジ止めするこ
とにより固定される。
【0021】本発明において、基体1の上面には放熱板
としても機能するキャリア基板6が固定されるため、光
半導体素子5の作動時に発する熱は効率良く外部電気回
路基板に伝達される。また、基体1の厚さをある程度薄
くすることにより、熱伝達効率をさらに良好とできる。
また、基体1の厚さを薄くすることにより光半導体パッ
ケージを低背化することができ、近時の動向に適したも
のとなる。
【0022】基体1の厚さは0.1〜0.5mmとす
る。0.1mm未満の場合、基体1の剛性が著しく低下
し、基体1と枠体2とのロウ付け時や、外部電気回路基
板へのネジ止め時に基体1に反りが発生し易い。そのた
め、光半導体素子15と光ファイバ(図示せず)との光
軸がずれ、それらの光結合効率が低下し光半導体素子1
5の作動性が低下する。0.5mmを超えると、基体1
のプレス加工時にバリ等が発生し易くなり、加工性が損
なわれるとともに、基体1に比し熱伝導率の非常に高い
キャリア基板6から基体1に伝達された熱を効率良く外
部電気回路基板に伝え難くなる。
【0023】基体1は、その材料のインゴットに圧延加
工やプレス加工等の従来周知の金属加工を施すことによ
り所定の形状に作製される。また、その表面には耐蝕性
に優れる金属、具体的には厚さ0.5〜9μmのNi層
と厚さ0.5〜9μmの金(Au)層を順次メッキ法に
より被着させておくのが良く、基体1が酸化腐食するの
を有効に防止できる。
【0024】基体1の上面の載置部1aを囲繞するよう
に接合(ロウ付け)される枠体2は、一側部に貫通孔か
ら成る光ファイバ固定部材取付部(以下、固定部材取付
部という)3aを、他の側部に切欠きまたは貫通穴から
成る入出力端子取付部7aを有し、Fe−Ni合金やF
e−Ni−Co合金等の金属材料から成る。
【0025】固定部材取付部3aには、光ファイバが接
着されたホルダー(図示せず)を固定するための固定部
材3が嵌着され、銀(Ag)ロウ等のロウ材で接合され
る。または、固定部材取付部3aの枠体2外面側開口の
周辺部に固定部材3が接合されてもよい。固定部材3は
Fe−Ni合金やFe−Ni−Co合金等の金属材料か
ら成り、例えばFe−Ni−Co合金から成る場合、こ
の合金のインゴットに圧延加工やプレス加工等の金属加
工を施すことにより所定の形状に作製される。また、そ
の表面には酸化腐食を有効に防止するために、0.5〜
9μmのNi層と厚さ0.5〜9μmのAu層をメッキ
法により順次被着するのが良い。
【0026】なお、固定部材3の内周面には、集光レン
ズとして機能するとともに光半導体パッケージの内部を
塞ぐ非晶質ガラス等から成るウインドウ4が、その接合
部の表面に形成されたメタライズ層を介して、200〜
400℃の融点を有するAu−錫(Sn)合金等の低融
点ロウ材で接合される。
【0027】ウインドウ4は、熱膨張係数が4〜12p
pm/℃(×10-6/℃)(室温〜400℃)のサファ
イア(単結晶アルミナ)や非晶質ガラス等から成り、球
状,半球状,凸レンズ状,ロッドレンズ状等の形状とさ
れる。そして、光ファイバを伝わってきた外部のレーザ
光等の光を光半導体素子5に入力させる、または光半導
体素子5で出力したレーザ光等の光を光ファイバに入力
させるための集光用部材として用いられる。ウインドウ
4が、例えば結晶軸の存在しない非晶質ガラスの場合、
酸化珪素(SiO2),酸化鉛(PbO)を主成分とす
る鉛系、またはホウ酸やケイ砂を主成分とするホウケイ
酸系のものを用いる。
【0028】また、ウインドウ4は、その熱膨張係数が
基体1のそれと異なっていても、固定部材3が熱膨張差
による応力を吸収し緩和するので、結晶軸が応力のため
にある方向に揃うことにより光の屈折率の変化を起こす
ようなことは発生しにくい。従って、このようなウイン
ドウ4を用いることにより、光半導体素子5と光ファイ
バとの間の光の結合効率を高くできる。
【0029】また、入出力端子取付部7aには光半導体
パッケージの高周波信号の入出力部として機能するとと
もに、光半導体パッケージ内部を塞ぐ機能を有する入出
力端子7がAgロウ等のロウ材で接合される。この入出
力端子7は、アルミナ(Al 23)セラミックスや窒化
アルミニウム(AlN)セラミックス等の絶縁体と、光
半導体パッケージ内外を導通するように絶縁体の表面に
形成された、配線導体としてのメタライズ層7bとから
構成される。また、メタライズ層7bの枠体2内側に
は、光半導体素子5の電極がボンディングワイヤ(図示
せず)を介して電気的に接続される。
【0030】この入出力端子3は、絶縁体となる原料粉
末に適当な有機バインダや溶剤等を添加混合しペースト
状と成し、このペーストをドクターブレード法やカレン
ダーロール法により形成されたセラミックグリーンシー
トに、メタライズ層7bとなる、W,モリブデン(M
o),マンガン(Mn)等の粉末に有機溶剤,溶媒を添
加混合して得た金属ペーストを、予め従来周知のスクリ
ーン印刷法により所望の形状に印刷塗布し、約1600
℃の高温で焼結することにより作製される。
【0031】なお、入出力端子3の絶縁体は、枠体2と
メタライズ層7bとを電気的に絶縁する機能を有し、そ
の材料は誘電率や熱膨張係数等の特性に応じて適宜選定
される。例えばアルミナ(Al23)セラミックス等か
ら成る。
【0032】また、メタライズ層7bの枠体2外側の部
位の上面には、リード端子8がAgロウ等のロウ材を介
して接合される。このリード端子8は入出力端子7との
接合を強固なものとするために、入出力端子7の熱膨張
係数に近似する部材が用いられる。例えばリード端子8
は、入出力端子7の絶縁体がAl23セラミックスから
成る場合、Fe−Ni−Co合金やFe−Ni合金等か
ら成るのが良い。
【0033】本発明において、キャリア基板6は、基体
1の上面に光半導体素子5を支持する支持基板、および
光半導体素子5が作動時に発する熱を効率良く基体1に
伝達する放熱板として機能する。このキャリア基板6
は、放熱板としても機能するため、基体1の厚さを薄く
しても光半導体素子5が作動時に発する熱を効率良く外
部電気回路基板に伝え得る。具体的には、キャリア基板
6の熱伝導率は、光半導体素子5の載置部1aの面に垂
直な方向および平行な方向のいずれにおいても350〜
400W/m・K程度の熱伝導率が得られる。
【0034】キャリア基板6は、図3に示すように、A
g,チタン(Ti),クロム(Cr),ジルコニウム
(Zr)およびWのうちの少なくとも一種を0.2〜1
0重量部、Cuを90〜99.8重量部含有する金属成
分nが含浸された炭素質母材m内に一方向性炭素繊維l
の集合体が分散された金属炭素複合体6aから成る基材
と、この基材の表面に被着された金属層6bとから構成
される。金属層6bは、基材の表面側から、Fe,Fe
−Ni合金またはFe−Ni−Co合金から成る接着層
Xと、Mo層Yと、Cu層Zとが順次積層されて成る。
金属炭素複合体6aは例えば以下の工程[1]〜[7]
のようにして作製される。
【0035】[1]一方向性炭素繊維の束を炭素で結合
したブロックを小さな炭素繊維の集合体に破砕し、破砕
された炭素繊維の集合体を集めて固体のピッチあるいは
コークス等の微粉末を分散させたフェノール樹脂等の熱
硬化性樹脂の溶液中に浸す。なお、ブロックを破砕して
得られる小塊の大きさは矩形のものに換算して一辺が約
0.1〜1mm程度である。
【0036】[2]これを乾燥させて所定の圧力を加え
るとともに加熱して熱硬化性樹脂部分を硬化させる。
【0037】[3]不活性雰囲気中、高温で焼成するこ
とでフェノール樹脂とピッチあるいはコークスの微粉末
を炭化させて炭素質母材mとする。炭素質母材mは、そ
れ自体200〜300W/m・Kの大きな熱伝導率を有
し、光半導体素子5の発する熱の伝熱経路としても機能
する。
【0038】[4]一方、溶融したCuの中に、Ag,
Ti,Cr,Zr,Wのうちの少なくとも一種を0.2
〜10重量部含有することにより、互いに融解した液状
体を作製しておく。
【0039】[5]次に、[4]で作製された、Ag,
Ti,Cr,Zr,Wのうちの少なくとも一種を0.2
〜10重量部、Cuを90〜99.8重量部含有する金
属成分n(液状体)を、炭素質母材m内に高温高圧のも
とで含浸させ、全体をブロックとなす。含浸された金属
成分nは塊状または薄板状であり、炭素質母材m内に分
散されることとなる。このブロックを板状に切り出して
金属炭素複合体6aとなる板を作製し、この板の寸法
は、例えば厚さが0.5〜2mm程度、平視面における
縦×横の寸法が100mm角程度である。
【0040】[6]この板を所望の形状に加工して金属
炭素複合体6aを作製する。
【0041】[7]金属炭素複合体6aの表面に金属層
6bを被着する。
【0042】本発明の金属炭素複合体6aの熱膨張係数
は、金属成分nが含浸されていることにより、8〜10
ppm/℃となる。また、金属成分nが含浸されている
ことにより、炭素質母材mとの密着性が非常に良好なも
のとなる。そのため、光半導体素子5の作動時に発する
熱は基体1に効率良く伝達され、最終的に外部電気回路
基板に確実に伝達される。さらに、金属成分nが含浸さ
れていることにより、金属炭素複合体6aの剛性が高く
なり、ネジ止め時の基体1の反りを有効に防止する補強
板として機能する。従って、補強板としても機能するキ
ャリア基板6は、載置部1a上面の全面に載置固定する
のがよく、その場合確実に基体1の反り変形を防止で
き、光半導体素子5と光ファイバとの光結合効率が低下
するのを有効に防止する。
【0043】なお、金属成分nは、その熱膨張係数が1
7〜20ppm/℃、熱伝導率が350W/m・K以
上、弾性率が80GPa(ギガパスカル)以上、融点が
1000℃以上となり、それらの諸特性は光半導体パッ
ケージの製作上および特性上好ましいものとなる。
【0044】また、金属成分nがAgとCuから成る場
合、金属成分nと炭素質母材mとは、それらの間の濡れ
性が高いため密着性が非常に高くなる。また、金属成分
nがTi,Cr,Zr,Wのうちの少なくとも一種とC
uとから成る場合、金属成分nと炭素質母材mとは、そ
れらの間でTi,Cr,Zr,Wの炭素化合物が生成さ
れるため密着性が非常に高くなる。
【0045】Ag,Ti,Cr,Zr,Wのうちの少な
くとも一種が0.2重量部未満の場合、濡れ性や炭素化
合物の生成が促進されないため、密着性が低下し、その
結果、キャリア基板6の熱伝導率が低下し、光半導体素
子5の作動時に発する熱を基体1に効率良く伝達し難く
なる。一方、10重量部を超える場合、同様に濡れ性や
炭素化合物の生成が促進されないため、密着性が低下
し、キャリア基板6の熱伝導率は低下する。特にTi,
Cr,Zr,Wが10重量部を超える場合には、Cu中
に融解され難くなり、熱伝導性の低いTi,Cr,Z
r,WがCu中および/またはCu表面に分散されるこ
ととなり、光半導体素子5の作動時に発する熱は基体1
に効率良く伝達し難くなる。
【0046】また、熱膨張係数について、金属成分nを
炭素質母材m内に適当量(10〜20重量%程度)の含
有量で含浸させれば、金属炭素複合体6aとしての熱膨
張係数が基体1や光半導体素子5と大幅に異なる程度に
上昇することは無く、好ましい。また、金属成分nのう
ち特にAgの場合は熱伝導率が非常に高いため光半導体
素子5の作動時に発する熱を伝えるのに有利である。ま
た、金属炭素複合体6aの弾性率は従来に比し高くなる
ため、ネジ止め時の基体1の反り変形を有効に防止し、
光半導体素子5と光ファイバとの光結合効率が低下する
のを有効に防止する。
【0047】また、金属成分nの融点は非常に高いた
め、光半導体パッケージを融点が780℃程度以上の銀
ロウ等のロウ材で組み立ててもキャリア基板6が溶融す
ることは無く、製造時の熱処理等に対して常に炭素質母
材m内を安定させておくことができる。なお、ロウ付け
時に溶融するような金属成分nの場合はキャリア基板6
の端面から溶け出す場合があり、光半導体パッケージ用
としては好ましくない。
【0048】また、キャリア基板6は金属炭素複合体6
aから成る基材の表面に金属層6bが被着されている。
金属層6bは、Fe,Fe−Ni合金またはFe−Ni
−Co合金から成り、金属炭素複合体6aとの接合を強
固とする接着層Xと、金属炭素複合体6aと金属層6b
との熱膨張係数を調整するMo層Yと、光半導体素子5
が発する熱を効率良く伝達するCu層Zとから成る。接
着層Xは、その成分であるFe成分と金属炭素複合体6
a中のカーボン(C)との拡散接合により、金属炭素複
合体6aと金属層6bとの接合を強固とする。
【0049】なお、従来例(特開2000−15074
6号公報)では、接着層X(第1層)はCr−Fe合金
から成るとしていたが、これは、第2層(Cu層)が第
1層の成分であるCrと第3層(Fe−Ni−Co合金
層)との相互拡散を有効に防止する拡散防止層として機
能することにより、第1層を正常な状態、即ち空隙の無
い緻密な状態に保持し、第1層と金属炭素複合体6aと
の接合を良好なものとしていたためであった。
【0050】しかしながら、光半導体素子5が発する熱
が非常に大きくなる場合、第2層の厚さを厚くしなけれ
ば金属炭素複合体6aへの伝熱が低下してしまう。その
ため、第2層の厚さを厚くして熱の伝達を良好なものと
することを試みた。しかし、第1層と第2層との熱膨張
係数差、および第2層と第3層との熱膨張係数差によ
り、第1層,第3層と第2層との接着性が損なわれ、光
半導体素子5が発する熱を効率良く金属炭素複合体6a
に伝達できなかった。
【0051】そこで、本発明者は、第2層として拡散防
止層(Cu層)を形成せずとも、接着層X(第1層)と
Mo層Yとの接合が強固となるとともに接着層Xが正常
な状態となるように、接着層Xとして、Crを含有せ
ず、かつ金属炭素複合体6aとの拡散接合が良好な金
属、即ちFe,Fe−Ni合金またはFe−Ni−Co
合金を採用した。
【0052】この接着層Xの厚さは5〜30μm程度が
良く、5μm未満の場合、金属炭素複合体6aにホット
プレスにより熱を加えて接合した際、接着層Xに空隙
(ボイド)等が発生し接合性が劣化し、光半導体素子5
が発する熱を効率良く金属層6bから金属炭素複合体6
aに伝え難くなる。一方、30μmを超えると、接着層
Xと金属炭素複合体6aとの熱膨張係数差によって発生
する熱応力により、接着層Xと金属炭素複合体6aとの
接合性が劣化し、光半導体素子5が発する熱を効率良く
金属層6bから金属炭素複合体6aに伝え難くなる。
【0053】また、Mo層Yは、接着層Xとの接合の際
にMoが接着層Xおよび金属炭素複合体6aに拡散する
ことにより接合が強固なものとなる。即ち、従来のよう
に拡散防止層としてのCu層が存在しないため、Moの
接着層Xや金属炭素複合体6aへの拡散が促進され接合
が強固となる。また、前述のように接着層XはCr成分
を含有していないため、Mo層Y中に接着層XのCr成
分が拡散することはなく、接着層Xに空隙等を発生させ
ることはない。そのため、接着層Xと金属炭素複合体6
aとの接合性が劣化することはない。
【0054】また、Mo層Yは剛性が高く、かつ熱膨張
係数が約5ppm/℃程度であるため、接着層XとCu
層Zとの熱膨張の中間媒体、即ち熱膨張係数の調整層と
して機能する。
【0055】Mo層Yの厚さは5〜30μm程度が良
く、5μm未満の場合、薄すぎるため熱膨張係数の調整
層としての機能が低下する。その結果、キャリア基板6
と基体1,光半導体素子5との間で熱膨張差が生じ、光
半導体素子5とキャリア基板6との間で剥がれが発生し
たり、基体1に反り変形を発生させることとなる。その
ため、光半導体素子5が作動時に発する熱をキャリア基
板6が効率良く基体1に伝達し難く、さらには光半導体
素子5と光ファイバとの光結合効率が低下する。即ち、
光半導体素子5の作動性が低下することになる。一方、
30μmを超えると、熱膨張係数の調整層としての機能
が低下するとともに、熱伝導率がそれほど高くないため
光半導体素子5が発する熱を効率良く金属炭素複合体6
aに伝達し難くなる。
【0056】Mo層Yの上面に接合されるCu層Zは、
熱伝導率が非常に高いCuから成り、光半導体素子5が
発する熱を効率良く載置部1aから面方向(横方向)に
伝え、金属炭素複合体6aの全面に伝熱する。Cu層Z
とMo層Yとの接合は、Mo層YのMoがCu層Zに拡
散することにより強固になる。即ち、Mo層YのMo
は、接着層X,金属炭素複合体6a,Cu層Zに拡散さ
れ、熱膨張係数調整層としての機能以外に、接着層X,
金属炭素複合体A,Cu層Z間を強固に接着する接合媒
体としての機能も有する。
【0057】Cu層Zの厚さは100〜700μm程度
が良く、100μm未満では、厚さが薄いため光半導体
素子5が発する熱を効率良く外部に伝達できない場合が
ある。700μmを超えると、Mo層YとCu層Zとの
間の熱膨張係数差による熱応力により、それらの間で熱
歪みが発生し剥がれる場合があり、光半導体素子5が発
する熱を効率良く伝達し難くなる。本発明者は、好まし
くはCu層Zの厚さが100〜700μm、より好まし
くは300〜700μmであれば、光半導体素子5が発
する熱を十分に金属炭素複合体6aに伝達できることを
確認した。
【0058】また、金属層6bの金属炭素複合体6aへ
の接合は、例えば、金属炭素複合体6aの表面に厚さが
それぞれ10μm程度のFe箔から成る接着層XとMo
箔から成るMo層Yを順次載置し、Mo層Yの上面に厚
さが500μm程度のCu箔から成るCu層Zを載置
し、次に真空ホットプレスで5MPaの圧力をかけつつ
1200℃程度の温度を1時間加えることによりなされ
る。
【0059】この金属層6bは、基材の表面に露出して
いる一方向性炭素繊維lの気孔を完全に被覆し、光半導
体パッケージ内部の気密性を保持する機能を有するとと
もに、光半導体素子5の作動時に発する熱を横方向(載
置部1aの面方向)に伝える伝熱媒体として機能する。
【0060】また、金属層6bは、光半導体パッケージ
内部の気密性をヘリウム(He)を使用して検査した
際、Heの一部が一方向性炭素繊維lの気孔中にトラッ
プされるのを有効に防止し、その結果気密性検査に対し
て適格な光半導体パッケージとし得る。即ち、本発明の
キャリア基板6は気密性が非常に安定したものとなる。
【0061】また、キャリア基板6はCu−W合金等に
比し比重が非常に小さい。即ち、非常に軽量であるた
め、近時の光半導体パッケージの軽量化に適したものと
なる。
【0062】キャリア基板6の形状については、その主
面形状が光半導体素子5の主面形状(長方形や正方形)
に相似していることが好ましい。この場合、熱が光半導
体素子5の周囲に等方的に放熱される。また、基体1を
ネジ止めする際に基体1の反りを有効に防止する補強板
としての観点から、ネジ止め時の応力のバランスをとる
ためには、載置部1aの形状に相似していることが好ま
しい。
【0063】このようなキャリア基板6を囲繞して基体
1上面に接合された枠体2の上面に、Fe−Ni−Co
合金,Fe−Ni合金等の金属、またはAl23セラミ
ックス,AlNセラミックス等のセラミックスから成る
蓋体9がAu−Snロウ等の低融点ロウ材で接合され、
光半導体素子5を気密に封止する。
【0064】このように、本発明の光半導体パッケージ
は、上面に光半導体素子5がキャリア基板6を介して載
置される載置部1aを有する略直方体の基体1と、基体
1の上面に載置部1aを囲繞するように接合され、一側
部に貫通孔から成る固定部材取付部3a、他の側部に切
欠きまたは貫通穴から成る入出力端子取付部7aが形成
された枠体2と、固定部材取付部3aに嵌着された筒状
の固定部材3と、入出力端子取付部7aに嵌着された入
出力端子7とを具備する。そして、キャリア基板6は、
Ag,Ti,Cr,ZrおよびWのうちの少なくとも一
種を0.2〜10重量部、Cuを90〜99.8重量部
含有する金属成分nが含浸された炭素質母材m内に一方
向性炭素繊維lの集合体が分散された金属炭素複合体6
aを基材とし、基材の表面に基材側からFe,Fe−N
i合金またはFe−Ni−Co合金から成る接着層X
と、Mo層Yと、Cu層Zとが順次積層されて成る金属
層6bが被着されている。
【0065】また、上記本発明の光半導体パッケージ
と、載置部1aに載置固定されるとともに入出力端子7
に電気的に接続された光半導体素子5と、枠体2の上面
に接合された蓋体9とを具備することにより、製品とし
ての光半導体装置となる。なお、固定部材3に端部が挿
着される光ファイバは、一般に光半導体装置の使用時に
設けられるが、単品としての光半導体装置に付加されて
いてもよく、または光半導体装置が外部電気回路基板等
に固定されて使用される際に取り付けるようにしてもよ
い。
【0066】光半導体装置は、具体的には、載置部1a
に光半導体素子5をガラス,樹脂,ロウ材等の接着剤を
介して接着固定するとともに光半導体素子5の電極をボ
ンディングワイヤを介して所定のメタライズ層7bに電
気的に接続し、しかる後、枠体2上面に蓋体5を低融点
ロウ材等により接合することにより、基体1,枠体2,
固定部材3,ウインドウ4,キャリア基板6,入出力端
子7から成る光半導体パッケージ内部に光半導体素子5
を収納した製品としての光半導体装置となる。
【0067】この光半導体装置は、例えば外部電気回路
から供給される高周波信号により光半導体素子5を光励
起させ、励起したレーザ光等の光をウインドウ4を通し
て光ファイバに授受させるとともに光ファイバ内を伝送
させることにより、大容量の情報を高速に伝送できる光
電変換装置として機能し、光通信分野等に用いられる。
【0068】なお、本発明は上記実施の形態に限定され
ず、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々の変
更を行うことは何等支障ない。例えば、光半導体装置
は、内部または外部に、例えば固定部材3の光半導体パ
ッケージ内側または外側に、あるいは光半導体パッケー
ジ外側の光ファイバの途中に、戻り光防止用の光アイソ
レータを設けても良い。この場合、光半導体素子5と光
ファイバとの光の結合効率がさらに良好なものとなる。
【0069】
【発明の効果】本発明は、上面に光半導体素子がキャリ
ア基板を介して載置される載置部を有する略直方体の基
体の厚さは0.1〜0.5mmであり、キャリア基板
は、銀,チタン,クロム,ジルコニウムおよびタングス
テンのうちの少なくとも一種を0.2〜10重量部、銅
を90〜99.8重量部含有する金属成分が含浸された
炭素質母材内に一方向性炭素繊維の集合体が分散された
金属炭素複合体を基材とし、基材の表面に基材側から
鉄,鉄−ニッケル合金または鉄−ニッケル−コバルト合
金から成る接着層と、モリブデン層と、銅層とが順次積
層されて成る金属層が被着されていることから、光半導
体素子が搭載されるキャリア基板が熱伝導率が面方向の
みならず厚さ方向でも高く、且つ表面に気孔の無い緻密
なものとなることから、光半導体素子の作動性を良好と
でき、また光半導体パッケージ内部の気密性も安定的に
保持されたものとなる。
【0070】また本発明は、好ましくは接着層およびモ
リブデン層の厚さは5〜30μmであり、銅層の厚さは
100〜700μmであることにより、光半導体素子の
作動時に発する熱の伝達性をより良好とできる。
【0071】本発明の光半導体装置は、本発明の光半導
体パッケージと、載置部に載置固定されるとともに入出
力端子に電気的に接続された光半導体素子と、枠体の上
面に接合された蓋体とを具備したことにより、上記本発
明の作用効果を有する光半導体パッケージを用いた信頼
性の高いものとなる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の光半導体パッケージについて実施の形
態の一例を示す斜視図である。
【図2】図1の光半導体パッケージの断面図である。
【図3】図1の光半導体パッケージにおけるキャリア基
板の部分拡大断面図である。
【図4】従来の光半導体パッケージの斜視図である。
【図5】図4の光半導体パッケージの断面図である。
【符号の説明】 1:基体 1a:載置部 2:枠体 3:光ファイバ固定部材 3a:光ファイバ固定部材取付部 5:光半導体素子 6:キャリア基板 6a:金属炭素複合体 6b:金属層 7:入出力端子 7a:入出力端子取付部 9:蓋体 l:一方向性炭素繊維 m:炭素質母材 n:金属成分 X:接着層 Y:モリブデン層 Z:銅層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5F036 AA01 BA23 BB01 BB21 BC05 BD01 BD11 5F073 AB28 BA01 FA06 FA15 FA22 5F088 BA15 BA16 JA03 JA14 JA20

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 上面に光半導体素子がキャリア基板を介
    して載置される載置部を有する略直方体の基体と、該基
    体の上面に前記載置部を囲繞するように接合され、一側
    部に貫通孔から成る光ファイバ固定部材取付部、他の側
    部に切欠きまたは貫通穴から成る入出力端子取付部が形
    成された枠体と、前記光ファイバ固定部材取付部に嵌着
    された筒状の光ファイバ固定部材と、前記入出力端子取
    付部に嵌着された入出力端子とを具備した光半導体素子
    収納用パッケージにおいて、前記基体の厚さは0.1〜
    0.5mmであり、前記キャリア基板は、銀,チタン,
    クロム,ジルコニウムおよびタングステンのうちの少な
    くとも一種を0.2〜10重量部、銅を90〜99.8
    重量部含有する金属成分が含浸された炭素質母材内に一
    方向性炭素繊維の集合体が分散された金属炭素複合体を
    基材とし、該基材の表面に前記基材側から鉄,鉄−ニッ
    ケル合金または鉄−ニッケル−コバルト合金から成る接
    着層と、モリブデン層と、銅層とが順次積層されて成る
    金属層が被着されていることを特徴とする光半導体素子
    収納用パッケージ。
  2. 【請求項2】 前記接着層および前記モリブデン層の厚
    さは5〜30μmであり、前記銅層の厚さは100〜7
    00μmであることを特徴とする請求項1記載の光半導
    体素子収納用パッケージ。
  3. 【請求項3】 請求項1または請求項2記載の光半導体
    素子収納用パッケージと、前記載置部に載置固定される
    とともに前記入出力端子に電気的に接続された光半導体
    素子と、前記枠体の上面に接合された蓋体とを具備した
    ことを特徴とする光半導体装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007103685A (ja) * 2005-10-05 2007-04-19 Nec Schott Components Corp レーザダイオード用ステム
JP2010080562A (ja) * 2008-09-25 2010-04-08 Sumitomo Metal Electronics Devices Inc 電子部品収納用パッケージ
JP2011197005A (ja) * 2010-03-18 2011-10-06 Mitsutoyo Corp クロマティック共焦点センサ光学ペン

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