JP2003258357A - 光半導体素子収納用パッケージ - Google Patents

光半導体素子収納用パッケージ

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JP2003258357A
JP2003258357A JP2002052427A JP2002052427A JP2003258357A JP 2003258357 A JP2003258357 A JP 2003258357A JP 2002052427 A JP2002052427 A JP 2002052427A JP 2002052427 A JP2002052427 A JP 2002052427A JP 2003258357 A JP2003258357 A JP 2003258357A
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optical
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Daisuke Sakumoto
大輔 作本
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Kyocera Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 光半導体素子収納用パッケージの製造工程で
生じる基体や枠体の変形と、光半導体装置を外部電気回
路基板等にネジ止めする際に生じる基体や枠体の変形
と、電子冷却素子の熱による光半導体素子収納用パッケ
ージの高温化とを有効に抑制して、光軸ズレを抑制した
ものとすること。 【解決手段】 光半導体素子収納用パッケージが、入出
力端子4を嵌着する取付部2bが形成された枠体2の側
部の下端に内外を貫通する切欠き部2cが形成されてい
るとともにこの切欠き部2cにヤング率が3.4×105N/
mm2以上で厚さが1〜3mmの補強部材5が嵌着され
ている。

Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【発明の属する技術分野】本発明は、光半導体素子を収
容するための光半導体素子収納用パッケージに関する。 【0002】 【従来の技術】従来の光通信分野等で使用されるととも
に半導体レーザ(LD),フォトダイオード(PD)等
の光半導体素子を収納するための光半導体素子収納用パ
ッケージ(以下、光半導体パッケージともいう)の側断
面図と正面断面図とを図4,図5に示す。これらの図に
おいて、101,102は、容器本体を構成する金属製の基体
と、側部に貫通孔102aと入出力端子104を嵌着するため
の取付部102bが形成された金属製の枠体である。また1
03は、内部に透光性部材108bが接合されるとともに外
側の端面に光アイソレータ113と光ファイバ112が挿着さ
れた金属ホルダ114とが接合される金属製の筒状の光フ
ァイバ固定部材(以下、固定部材ともいう)であり、10
4は光半導体パッケージの内外を電気的に導通接続する
ためのセラミックスから成る入出力端子である。さら
に、106は光半導体素子、107は蓋体である。これら基体
101、枠体102、固定部材103、入出力端子104および蓋体
107とで光半導体素子106を内部に収納する容器が構成さ
れる。 【0003】この光半導体パッケージは、一般に、光半
導体素子106を載置する載置用基台111と光半導体素子10
6からの出射光を集光したり平行光に変換する透光性部
材108aを固定する固定ホルダ109とが搭載されるペルチ
ェ素子等の電子冷却素子110が載置される載置部101aを
有する基体101と、基体101上面の外周部に載置部101a
を囲繞するように銀ロウ等のロウ材により接合される枠
体102とを有する。また、固定部材103が貫通孔102aに
銀ロウ等のロウ材によって接合され、入出力端子104が
取付部102bに銀ロウ等のロウ材によって接合される。
さらに、蓋体107と枠体102は、それぞれの接合面に形成
されたメタライズ層を介して金(Au)−錫(Sn)合
金半田等の低融点ロウ材で接合される。 【0004】基体101は、銅(Cu)−タングステン
(W)合金,鉄(Fe)−ニッケル(Ni)−コバルト
(Co)合金等の比較的高い熱伝導性を有する金属から
成る。また基体101は、電子冷却素子110より発生する熱
を吸収し大気中に放散する放熱板として機能するととも
に電子冷却素子110を支持する支持部材である。また、
枠体102は、基体101の熱膨張係数に近似するFe−Ni
−Co合金やCu−W合金等の金属から成り、固定部材
103が取着される貫通孔102aと、入出力端子104が嵌着
される取付部102bが設けられる。 【0005】なお、固定部材103は、枠体102に熱膨張係
数が近似するFe−Ni−Co合金等の金属から成り、
内部に透光性部材108bが半田や低融点ガラス等により
接合される。また、光アイソレータ113および光ファイ
バ112が半田や樹脂接着剤等の接合材115により接着され
た金属ホルダ114が、固定部材103の枠体102外側の端面
にYAGレーザ溶接等の溶接法により接合されて、光半
導体パッケージ内部の気密性を保つ。 【0006】さらに、入出力端子104は、枠体102に熱膨
張係数が近似するアルミナ(Al23)セラミックスや
窒化アルミニウム(AlN)セラミックス等のセラミッ
クスから成る。この入出力端子104には、モリブデン
(Mo)−マンガン(Mn)等から成る金属ペーストを
焼成してなるとともに、枠体102内外を導通させるため
のメタライズ配線層(図示せず)が形成される。 【0007】また、載置用基台111は、電子冷却素子110
の熱膨張係数と近似するAl23セラミックスやAlN
セラミックス等の誘電体から成る。そして、その上面に
は、Mo−Mn等から成る金属ペーストを焼成して成る
とともに高周波信号が伝送される配線導体が形成され、
また光半導体素子106を搭載するための導体層が形成さ
れる。 【0008】また、電子冷却素子110は、一般にP型素
子とN型素子から成る熱電半導体素子から構成され、熱
電半導体素子に電流を流すことによりペルチェ効果を生
じさせ、吸熱または発熱を行なう。そして、電子冷却素
子110は載置部101aにインジウム(In)−鉛(Pb)
−銀(Ag)半田や錫(Sn)−鉛(Pb)半田等の半
田により取着される。 【0009】そして、枠体102の上面に、Fe−Ni−
Co合金等の金属またはAl23セラミック等のセラミ
ックスから成る蓋体107を、枠体102の蓋体107との接合
面に形成されたメタライズ層を介してAu−Sn合金半
田等の低融点ロウ材で接合することにより、光半導体パ
ッケージ内に光半導体素子106を気密に収納する。この
ように、基体101、枠体102、入出力端子104、固定部材1
03および蓋体107とで光半導体素子106を光半導体パッケ
ージ内部に収納するとともに、載置用基台111に載置さ
れた光半導体素子106と入出力端子104とをボンディング
ワイヤ等で電気的に接続することにより、光半導体素子
106に高周波信号を入出力して作動させる光半導体装置
となる。 【0010】 【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の光半導体パッケージにおいて、例えば基体101を構
成する金属がCu−W合金、枠体102を構成する金属が
Fe−Ni−Co合金、入出力端子104を構成する誘電
体がAl23セラミックスである場合、それぞれの熱膨
張係数は相違する。従って、基体101と枠体102および入
出力端子104を銀ロウ等のロウ材により接合するため
に、加熱、冷却する場合、冷却する際の基体101と枠体1
02および入出力端子104との熱膨張係数差に起因して生
じる内部応力により、基体101には最大高低差10〜30μ
m程度の反りが生じ、固定部材103が取着された枠体102
の側部には基体101との接合部を支点として0.8°程度の
傾きが発生していた。その結果、光半導体素子106と透
光性部材108a,108bおよび光ファイバ112との光軸を
調芯し光半導体装置を組み立てる際に、固定部材103に
取着される光ファイバ112や透光性部材8bの光軸が、
光半導体素子106の光軸とずれるために光結合効率が劣
化していた。 【0011】また、光半導体装置を外部電気回路基板等
にネジ止めするために、基体101の四隅のネジ止め部
(図示せず)をネジで締め付けた場合、光半導体パッケ
ージの製造工程で生じた基体101の反りが矯正された
り、光半導体装置との接合面に反りを有する外部電気回
路基板等により基体101が矯正されることにより、基体1
01とともに光半導体装置全体が変形する。その結果、基
体101の中央部が高さ方向に変位するとともに、固定部
材103が取着される枠体102の側部が基体101と枠体102と
の接合部を支点とし、枠体102の上部に向かうにつれて
内側または外側に反るように変形する。従って、基体10
1上面の中央部に電子冷却素子110と載置用基台111を介
して載置された光半導体素子106と透光性部材108a,10
8bと光ファイバ112との間に位置ズレが生じ、それぞれ
の光軸が大きくずれる。このため、透光性部材108a,1
08bを介する光半導体素子106と光ファイバ112との光結
合効率が著しく劣化し、光半導体装置の外部に光信号を
効率よくかつ安定して出力することできなくなるという
問題点があった。 【0012】そこで、上記問題点を解消するために、基
体の中央部の厚みをx、両端の厚みをtとした場合、0.
3mm≦t≦1mm、x≧2tを満足する光半導体パッ
ケージが提案されている(従来例1:特開平6−314747
号公報参照)。しかしながら、従来例1の光半導体パッ
ケージでは、基体の中央部を両端の厚みよりも厚くする
必要があり、光半導体装置のさらなる薄型化を行なうこ
とは困難である。 【0013】また、上記問題点を解決する他の構成とし
て、Cu−W合金から成る基体の両端領域にネジ止めを
行なうための貫通孔を有し、ヤング率が1.96×105N/
mm2以下で降伏応力が4.9×102N/mm2以下の金属か
ら成るネジ止め部材が枠体から突出するように設けられ
た光半導体パッケージが提案されている(従来例2:特
開平11−74619号公報参照)。この光半導体パッケージ
をネジ止め部材を介して外部電気回路基板等にネジ止め
して強固に固定する場合、ネジ止め時の外力によって生
じる内部応力により生じる基体の変形を抑制でき、光半
導体素子の高さ方向の位置ズレを有効に抑制することが
できる。その結果、光半導体素子と光ファイバとの光軸
がずれず、光半導体素子と光ファイバとの光信号の入出
力を効率よくかつ安定して行ない得るとともに光半導体
装置の薄型化が可能となる。 【0014】しかしながら、従来例2の光半導体パッケ
ージでは、金属から成るネジ止め部材を平面視形状が長
方形の枠体の短辺側から突出するように基体の両端に設
けていたため、基体とネジ止め部材を銀ロウ等で接着す
る工程が必要となる。その結果、光半導体パッケージの
組立工程が複雑になって組立工程が増えることにより歩
留まりが低下する要因となる。また、ネジ止め部の位置
精度も低下し易く、基体とネジ止め部が別体であるため
構造が複雑となり光半導体パッケージが高価になるとと
もに、ネジ止めによって基体と基体両端のネジ止め部と
の接合部に応力が集中することにより、光半導体パッケ
ージが破損し易くなるという問題点を有していた。 【0015】また、枠体に固定された金属からなる第1
の底板と、第1の底板の枠体と反対側の表面に固定さ
れ、第1の底板よりもヤング率が大きい第2の底板とを
備えた光半導体気密封止容器(従来例3:特開平11−74
934号公報参照)、および、枠体に固定された金属から
成る第1の底板と、第1の底板の枠体と反対側の表面に
固定され第1の底板よりもヤング率の小さい金属から成
る第2の底板とを備えた光半導体気密封止容器(従来例
4:特開平11−74935号公報参照)が公知である。従来
例3,4では、上記の問題点に加え、銀ロウ付けの面積
が大きくなるため第1の底板と第2の底板との間の銀ロ
ウ付けの接合部にボイドが発生することにより、光半導
体装置内部の光半導体素子および駆動素子の熱が第1の
底板から銀ロウを介して第2の底板へ伝わる際の熱伝達
率が低下し、光半導体装置を長期にわたって安定して作
動させることができないという問題点を有していた。 【0016】また、近年の光通信等における情報量の大
容量化に伴い、光ファイバ内を伝達する光信号の出力お
よび伝送効率(bps:bit per second)が増大してき
ているとともに、中長距離の光ファイバ通信において、
光信号の増幅を行なう光増幅装置として光ポンプモジュ
ールと呼ばれる光半導体装置が使用されている。近年、
この光半導体装置の光信号の出力は300mWまで向上し
ており、この光半導体装置に収納されて光信号を出力す
る光半導体素子も2W程度の駆動電力となってきてい
る。そこで、光半導体装置内部の載置用基台と基体との
間に電子冷却素子(ペルチェ素子)を配置し、電子冷却
素子により光半導体素子の温度制御を行なう構成となっ
ている。しかし、電子冷却素子の熱が基体を介して枠体
に伝達することにより光半導体パッケージ全体が高温と
なり、光半導体素子およびそれを駆動させる駆動素子が
加熱され高温となることから、光半導体素子が熱破壊を
起こしたり、熱による特性劣化を引き起こし誤動作が生
じるといった問題点があった。 【0017】従って、本発明は上記問題点に鑑みて完成
されたものであり、その目的は、光半導体パッケージの
製造工程で生じた基体の反りと、光半導体装置を外部電
気回路基板等にネジ止めする際の光半導体パッケージの
変形と、光半導体装置の作動時の電子冷却素子や光半導
体素子や駆動素子の熱による光半導体パッケージの高熱
化とを有効に抑制し、光半導体素子を長期にわたり正常
かつ安定に作動させ得る光半導体パッケージとすること
にある。 【0018】 【課題を解決するための手段】本発明の光半導体素子収
納用パッケージは、上面に光半導体素子が載置用基台を
介して載置される載置部を有する略四角形の金属製の基
体と、該基体の上面に前記載置部を囲繞するように接合
され、側部を貫通するかまたは前記側部の上端を切り欠
いて成る入出力端子の取付部が形成されているとともに
前記側部に隣接する側部に貫通孔が形成されている略四
角形の金属製の枠体と、前記取付部に嵌着された入出力
端子と、前記貫通孔に嵌着されるかまたは前記貫通孔の
枠体外側開口の周囲に一端が接合された筒状の光ファイ
バ固定部材とを具備した光半導体素子収納用パッケージ
において、前記枠体は、前記取付部が形成された前記側
部の下端に内外を貫通する切欠き部が形成されていると
ともに該切欠き部にヤング率が3.3×05N/mm2以上で
厚さが1〜3mmの補強部材が嵌着されていることを特
徴とする光半導体素子収納用パッケージ。 【0019】本発明の光半導体素子収納用パッケージ
は、上記の構成により、光半導体パッケージの製造工程
で基体と枠体との熱膨張係数差に起因し生じる枠体の変
形と光ファイバ固定部材の傾きを有効に抑制できる。こ
れにより、光ファイバ固定部材に取着される光ファイバ
や透光性部材の光軸の傾きが抑制され、光半導体素子と
の光軸のズレが小さくなることから、光半導体素子と光
ファイバとの光信号の入出力を効率よく安定して行ない
得る。また、光半導体装置を基体の四隅のネジ止め部で
外部電気回路基板等にネジ止めする際に、光半導体パッ
ケージの製造工程で生じた基体の反りが矯正されたり、
外部電気回路基板等の反りにより基体が矯正されること
による、基体の載置部に生じる高さ方向の変位と枠体に
生じる変形とを有効に抑制できる。その結果、光半導体
素子と透光性部材と光ファイバ固定部材に取着される光
ファイバとの間に発生する光軸のズレを小さくでき、光
結合効率の劣化を有効に抑制できるとともに、安定した
光信号の入出力を行なうことができる。 【0020】また、枠体の側部の下端に側部に沿うよう
に基体上面との間に補強部材を嵌着することにより、光
半導体装置を外部電気回路基板等にネジ止めする際の外
力に対する光半導体素子収納用パッケージ全体の曲げモ
ーメントに対する剛性が向上する。その結果、基体の載
置部と光ファイバ固定部材の高さ方向の変位を有効に抑
制できることから、光半導体装置を外部電気回路基板等
にネジ止めし接合する際の、光半導体素子と光ファイバ
との光軸のズレによる光結合効率の著しい劣化を有効に
抑制できる。 【0021】 【発明の実施の形態】本発明の光半導体素子収納用パッ
ケージについて以下に詳細に説明する。図1,図2は本
発明の光半導体パッケージについて実施の形態の例を示
し、図1は光半導体パッケージの側断面図、図2は光半
導体パッケージの正面断面図である。これらの図におい
て、1は容器の底板を成す基体、2は容器の側壁を成す
枠体、3は透光性部材8bや光アイソレータ13を設置固
定するための筒状の光ファイバ固定部材(以下、固定部
材ともいう)、4は光半導体パッケージの内外を電気的
に導通接続するための入出力端子、6はLD,PD等の
光半導体素子、7は蓋体である。これら基体1、枠体
2、固定部材3、入出力端子4および蓋体7とで、内部
に光半導体素子6を収納するための容器が基本的に構成
される。また、固定部材3の枠体2外側の端面には、光
アイソレータ13と光ファイバ12とを半田や樹脂等からな
る接着剤15で接着した金属ホルダ14がYAGレーザ溶接
等により固定される。 【0022】本発明の基体1は、光半導体素子6および
固定ホルダ9を支持するための支持部材ならびに電子冷
却素子10の熱を放散するための放熱板として機能する。
基体1上面の中央部に、光半導体素子10を載置する載置
用基台11と透光性部材8aが固定された固定ホルダ9と
を載置する載置部1aが設けられている。載置部1aに
は、載置用基台11がSn−Pb半田等の低融点ロウ材を
介して取着され、固定ホルダ9がYAGレーザ溶接や半
田等により接合固定された電子冷却素子10が、低融点ロ
ウ材を介して載置される。そして、電子冷却素子10の熱
がこの低融点ロウ材を介して基体1に伝えられ外部に効
率良く放散されて、電子冷却素子10の作動性が良好にな
る。また、光半導体素子6より出射される光は、透光性
部材8a,8bにより集光されたり平行光に変換されて
光ファイバ12に授受される。 【0023】この電子冷却素子10は一般に、P型素子と
N型素子とから成る熱電半導体素子より構成され、熱電
半導体素子に電流を流すことによりペルチェ効果を生じ
させ、吸熱または発熱を行なうものであり、In−Pb
−Ag半田やSn−Pb半田等の半田を介して載置部1
aに取着される。また、電子冷却素子10の上面には、基
体1との接合材である半田より低融点の接合材により載
置用基台11や固定ホルダ9が取着固定される。 【0024】また、基体1は、Fe−Ni−Co合金や
Cu−W合金等の金属から成り、そのインゴットに圧延
加工や打ち抜き加工等の従来周知の金属加工法を施すこ
とによって所定形状に成形され製作される。また、その
表面に耐蝕性に優れかつロウ材との濡れ性に優れる金
属、具体的には厚さ0.5〜9μmのNi層と厚さ0.5〜9
μmのAu層を順次メッキ法により被着させておくのが
よく、基体1が酸化腐食するのを有効に防止するととも
に、基体1上面に載置用基台11を介して光半導体素子6
を強固に接合できる。 【0025】載置用基台11は、放熱性および加工性に優
れるシリコン(Si)、または基体1の熱膨張係数に近
似するアルミナセラミックスや窒化アルミニウムセラミ
ックス等の誘電体から成る。この載置用基台11は、光半
導体素子6から基体1へ熱を伝えるための伝熱媒体であ
るとともに、その高さを調整することにより、透光性部
材8a,8bと光半導体素子6と光ファイバ12との光軸
が合うように調節することができる。載置用基台11の上
面には、高周波信号が伝送される配線導体が形成される
とともに光半導体素子6を搭載するための導体層が形成
される。 【0026】枠体2は、基体1と同様にその材料のイン
ゴットに圧延加工や打ち抜き加工等の従来周知の金属加
工法を施すことにより所定形状に成形され製作される。
また、枠体2はドリルによる孔あけ加工等により形成さ
れる貫通孔2aと取付部2bと切欠き部2cとを有して
おり、貫通孔2aの枠体2外側開口の周囲に筒状の固定
部材3の一端が接合されるかまたは貫通孔2aに固定部
材3が嵌着接合される。枠体2の取付部2bには入出力
端子4が、切欠き部2cには補強部材5が嵌着接合され
る。この枠体2は、基体1との接合を強固にするととも
に光半導体パッケージの外部に対する電磁遮蔽を行なう
ために、Fe−Ni−Co合金やFe−Ni合金等の金
属から成るのがよい。そして、その表面に耐蝕性に優れ
かつロウ材との濡れ性に優れる金属、具体的には厚さ0.
5〜9μmのNi層と厚さ0.5〜9μmのAu層をメッキ
法により順次被着させておくのがよく、枠体2が酸化腐
食するのを有効に防止するとともに、枠体2に固定部材
3と入出力端子4と補強部材5とを強固に接合できる。 【0027】また、本発明の枠体2は、取付部2bが形
成された側部の下端に内外を貫通する切欠き部2cが形
成されているとともに切欠き部2cにヤング率が3.3×1
05N/mm2以上で厚さが1〜3mmの補強部材5が嵌
着されている。この構成により、光半導体パッケージの
製造工程で枠体2と入出力端子4との熱膨張係数差によ
り生じる、側部2dから側部2eにわたって枠体2が上
側に反ったり下側に反るのを補強部材5と入出力端子4
とで抑制できる。即ち、入出力端子4と熱膨張係数の異
なる枠体2を、入出力端子4とその熱膨張係数に近似す
る補強部材5とで挟み込むことで枠体2の反りを矯正す
る。これにより、側部2dに取着される固定部材3の中
心軸の傾きを小さくできることから、この固定部材3に
取着される光ファイバ12や透光性部材8bの光軸の傾きを
抑制することができる。 【0028】また、本発明の補強部材5は、側部2dか
ら側部2eにわたる基体1の上方向の反りまたは下方向
の反りを抑制して、光半導体パッケージの外力に対する
曲げ剛性を向上させることができる。即ち、ヤング率が
1.2×105N/mm2であるFe−Ni−Co合金や、ヤ
ング率が2.9×105N/mm2であるCu−W合金等から
なる基体1の上面に、ヤング率が3.3×105N/mm2
上の補強部材5を嵌着することにより、側部2dから側
部2eにわたる基体1の外力に対する曲げ剛性を向上す
ることができる。これにより、光半導体装置を基体1の
四隅のネジ止め部で外部電気回路基板等にネジ止めする
場合、光半導体パッケージの製造工程で生じた基体1の
反りが矯正されたり、接合面に反りを有する外部電気回
路基板等で基体1が矯正されて生じる、側部2dから側
部2eにわたる基体1の変形を抑制できる。従って、枠
体2の変形とともに固定部材5の傾きと高さ方向の変位
を抑制することができ、載置用基台11等を介して載置さ
れる光半導体素子6と、固定部材3に取着される光ファ
イバ12および透光性部材8bとの高さ方向のズレが小さ
くなるとともに光軸のズレを抑制できる。 【0029】なお、補強部材5のヤング率が3.3×105
/mm2未満の場合、光半導体装置を基体の四隅のネジ
止め部で外部電気回路基板等にネジ止めする際、基体1
や枠体2の撓みを補強部材5により矯正することができ
ずに、基体1および枠体2の変形が大きくなる。その結
果、光半導体素子6および透光性部材8aと、光ファイ
バ12と透光性部材8aとの間に、高さ方向に3μm程度
の光軸のズレが生じ、光半導体素子6と光ファイバ12と
の光結合効率が約30%劣化する。 【0030】また、補強部材5の厚さが1mm未満の場
合、光半導体パッケージの製造工程で生じる基体1と枠
体2との内部応力に対し、補強部材5に十分な強度が得
られずにクラックが生じ光半導体パッケージの気密性を
保持できなくなる。また、光半導体装置を外部電気回路
基板にネジ止めする際に生じる基体1への曲げモーメン
トに対し、光半導体パッケージ全体の変形を抑制するの
に十分な補強部材5の曲げに対する剛性を得ることがで
きない。さらに、厚さが1mm未満の補強部材5は加工
が困難であり、製造コストが増大することとなる。3m
mを超えると、補強部材5にAl23やAlN等のセラ
ミックスを用いる場合、枠体2の金属部分の面積の割合
が小さくなり、外部に対する電磁シールドの効果が減少
し、光半導体装置が長期にわたり正常かつ安定に作動す
るのが困難になる。 【0031】なお、補強部材5は、光半導体装置を外部
電気回路基板に接合する際の支障とならない程度に、枠
体2の外面から外側に突出していてもよく、光半導体パ
ッケージの軽量化や電子冷却素子10または載置用基台を
載置する際に支障とならない程度に枠体2の内側に突出
していてもよい。 【0032】また、本発明の補強部材は、熱伝導率が20
W/m・K以下がよい。これにより、光半導体素子6や
駆動素子の熱が基体1を介して枠体2に伝達されて光半
導体パッケージ全体が高温になることを抑制できる。即
ち、電子冷却素子10の熱が基体1を介して枠体2に伝達
することにより光半導体パッケージ全体が高温となり、
光半導体素子6および駆動素子が加熱され高温となるこ
とから、熱破壊を起こしたり、熱による特性劣化を引き
起こし誤動作を生じることを抑えることができる。な
お、熱伝導率が20W/m・Kを超える場合、光半導体装
置の作動時に電子冷却素子10や光半導体素子6より基体
1を介して枠体2に伝達する熱を、補強部材5により十
分に遮断することができない。 【0033】なお、補強部材5は、基体1および入出力
端子4と熱膨張係数が近似するAl 23セラミックス
(ヤング率3.5×105N/mm2)等のセラミックス、ま
たはW(ヤング率3.5×105N/mm2)等の金属から成
る。補強部材5がセラミックスの場合、その熱膨張係数
を入出力端子4の熱膨張係数に容易に整合させることが
できる。また、補強部材5が金属の場合、光半導体装置
外部から内部の光半導体素子6への電磁シールド効果を
低下させずに光半導体パッケージの剛性を向上させるこ
とができる。さらに、補強部材5がWの場合、ヤング率
が大きいため基体1の反りが大きく抑制される。例え
ば、補強部材5がない場合基体1の反りは27μm程度あ
るが、Wから成る補強部材5を用いた場合15μm程度に
抑えられる。 【0034】また、入出力端子4は、基体1および補強
部材5に熱膨張係数が近似するAl 23セラミックスや
AlNセラミックス等のセラミックスから成る。この入
出力端子4には、Mo−Mn等から成る金属ペーストを
焼成してなるとともに、枠体2内外を導通させるための
メタライズ配線層(図示せず)が形成される。 【0035】また、枠体2の貫通孔2aに設けられる固
定部材3は、光ファイバ12を枠体2に固定するためのも
のであり、貫通孔2aの枠体2外側開口の周囲または貫
通孔2aの内面に銀ロウ等のロウ材を介して接合され
る。この固定部材3は枠体2の熱膨張係数に近似するF
e−Ni−Co合金やCu−W合金等の金属からなり、
例えばFe−Ni−Co合金等のインゴット(塊)をプ
レス加工で筒状とすることにより作製される。また、固
定部材3の枠体2外側の端面には、戻り光防止用の光ア
イソレータ13と光ファイバ12とを樹脂接着剤15で接着し
た金属ホルダ14が半田材やYAGレーザ溶接により接合
される。固定部材3の内部には、光半導体素子6より出
射される光信号の消光比の劣化が生じない非晶質ガラス
等から成り、集光レンズとして機能するとともに光半導
体パッケージ内部を塞ぐための透光性部材8bが、半田
または低融点ガラス等の接合材により固定されて光半導
体パッケージ内部の気密性を保つ。 【0036】透光性部材8a,8bは、熱膨張係数が4
×10-6〜12×10-6/℃(室温〜400℃)の非晶質ガラス
等から成り、球状,半球状,凸レンズ状,ロッドレンズ
状等とされる。そして、透光性部材8a,8bは、光半
導体素子6からの出射光を集光したり平行光に変換して
光ファイバ12に入力するための集光部材として用いられ
る。また、透光性部材8a,8bは、例えば結晶軸の存
在しない非晶質ガラスの場合、酸化珪素(SiO2),
酸化鉛(PbO)を主成分とする鉛系、またはホウ酸や
ケイ砂を主成分とするホウケイ酸系のものを用いる。そ
の結果、光半導体素子6からの出射光が透光性部材8
a,8bで複屈折の影響を及ぼされず、効率良く光ファ
イバ12に光信号を入力できる。 【0037】また、透光性部材8bは、例えばその外周
部に予めメタライズ層を被着させておき、このメタライ
ズ層と固定部材3とをAu−Sn半田等の低融点ロウ材
を介しロウ付けされる。これにより、光半導体素子6を
収納した光半導体装置の気密が行なわれ、光半導体素子
6を長期にわたり正常かつ安定に作動させ得る。この透
光性部材8bは、その熱膨張係数が枠体2と異なってい
ても、固定部材3が熱膨張係数差による内部応力を吸収
し緩和するので、結晶軸が応力のためにある方向に揃う
ことによって光の屈折率の変化を起こすことは発生しに
くい。従って、このような透光性部材8bを用いること
により、光半導体素子6と光ファイバ12との間の光結合
効率の変動を小さく抑えることができ、安定した光信号
の入出力を行なうことができる。 【0038】透光性部材8aを固定する固定ホルダ9は
載置用基台11の熱膨張係数と近似する金属から成り、固
定ホルダ9に形成された貫通孔に透光性部材8aが嵌着
される。そして、固定ホルダ9は、光半導体素子6と透
光性部材8aとの光軸が一致するように調整された後
に、電子冷却素子10の上面に半田やYAGレーザ溶接等
の溶接法により固定される。 【0039】また、蓋体7は、Fe−Ni−Co合金等
の金属やアルミナセラミックス等のセラミックスから成
り、枠体2上面にAu−Sn合金半田等の低融点ロウ材
を介して接合されたり、YAGレーザ溶接等の溶接法に
より接合される。 【0040】かくして、本発明の光半導体パッケージ
は、基体1の載置部1aに電子冷却素子10と載置用基台1
1を介して光半導体素子6を載置し、光半導体素子6の
各電極と載置用基台11上面の配線導体および入出力端子
4とをボンディングワイヤにより電気的に接続し、しか
る後、枠体2上面に蓋体7を接合し、基体1と枠体2と
固定部材3と蓋体7とから成る容器の内部に光半導体素
子6を収納し気密封止することによって、製品としての
光半導体装置となる。 【0041】なお、本発明は上記実施の形態に限定され
ず、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で種々の変更を施
すことは何等支障ない。例えば、図3に示すように、切
欠き部2cを枠体2の側部2dから側部2eにかけて形
成し、その切欠き部2cに略直方体の補強部材5を嵌着
することにより、光半導体装置を外部電気回路基板等に
接合する際に生じる曲げモーメントに対する光半導体パ
ッケージの剛性がより向上する。その結果、光半導体装
置を外部電気回路基板等に接合する際に生じる光半導体
素子6と透光性部材8a,8bおよび光ファイバ12の高
さ方向の変位がさらに小さくなり光軸のズレが有効に抑
制されることから、透光性部材8a,8bを介した光半
導体素子6と光ファイバ12との光信号の入出力を効率よ
く行なうことができる。 【0042】 【実施例】本発明の光半導体素子収納用パッケージの実
施例を以下に説明する。 【0043】図1,図2の本発明の光半導体パッケージ
を以下のようにして構成した。 【0044】Cu−W合金から成る縦30mm×横13mm
×厚さ1mmの長方形の基体1の上面の外周部に、Fe
−Ni−Co合金から成る縦20mm×横12mm×高さ6
mmの平面視形状が長方形の枠体2をAgろう材で接合
した。基体1および枠体2の表面には、厚さ0.5〜9μ
mのNiメッキ層および厚さ0.5〜9μmのAuメッキ
層を被着してある。基体1の載置部1aに、電子冷却素
子10としてのペルチェ素子とアルミナセラミックスから
成る載置用基台11を介して、LDである光半導体素子6
を載置した。電子冷却素子10はSn−Pb半田で載置部
1aに接合し、載置用基台11は電子冷却素子10の上面に
Sn−Pb半田で接合した。また、電子冷却素子10の上
面にFe−Ni−Co合金から成る固定ホルダ9を半田
で接合した。固定ホルダ9の貫通孔には非晶質ガラスか
ら成るレンズ状の透光性部材8aがメタライズ層を介し
てAu−Sn半田で嵌着接合されている。 【0045】枠体2の上端を切り欠いて成る取付部2b
に、アルミナセラミックスから成る入出力端子4を嵌着
しAgろう材で接合した。この入出力端子4には枠体2
内外を導通するようにMo−Mnから成るメタライズ配
線層が形成してある。そして、光半導体素子6の各電極
と載置用基台11上面の配線導体および入出力端子4とを
ボンディングワイヤで電気的に接続した。また、枠体2
の貫通孔2aの枠体2外側開口の周囲に、Fe−Ni−
Co合金から成る円筒状の固定部材3の一端をAgろう
材で接合した。固定部材3の内部には非晶質ガラスから
成るレンズ状の透光性部材8bがメタライズ層を介して
Au−Sn半田で嵌着接合されている。また、固定部材
3の他端には、光アイソレータ13と光ファイバ12とを半
田から成る接着剤15で接着した金属ホルダ14をYAGレ
ーザ溶接で固定した。 【0046】枠体2の取付部2bが形成された側部の下
端に形成された切欠き部2cに、種々のヤング率および
種々の厚さの直方体の補強部材5を嵌着し、Agろう材
で接合して光半導体パッケージを作製した。なお、補強
部材5の長さは2mmとした。また、比較例として、枠
体2に切欠き部2cが形成されておらず補強部材5が設
けられていない光半導体パッケージを作製した。 【0047】これらの光半導体パッケージについて、光
半導体パッケージの製造工程で生じた固定部材3の中心
軸の傾き、その場合の光結合効率、枠体2上面にFe−
Ni−Co合金から成る蓋体7を接合して成る光半導体
装置を外部電気回路基板にネジ止めした際の光半導体素
子6の光軸と固定部材3の中心軸との高さ方向の変位、
その場合の光結合効率をシミュレーションした結果を表
1に示す。 【0048】 【表1】 【0049】表1より、例えばヤング率が3.3×105N/
mm2で厚さが2mmの直方体の補強部材5を切欠き部
2bに嵌着した本発明の光半導体パッケージの場合、固
定部材3の中心軸の傾きは0.1°程度に抑制され、光結
合効率は60%程度であった。これに対して、補強部材5
を有していない従来の光半導体パッケージの場合、固定
部材3の中心軸の傾きは0.8°程度であり、光結合効率
は0.5%程度であった。 【0050】また、従来の光半導体パッケージの場合、
光半導体素子6と固定部材3との高さ方向の変位は10μ
m程度であり、光結合効率は1%未満になり大幅に劣化
した。これに対して、例えば、ヤング率が3.3×105N/
mm2で厚さが2mmの直方体の補強部材5を切欠き部
2bに嵌着した本発明の光半導体パッケージの場合、光
半導体素子6と固定部材3との高さ方向の変位は7μm
程度であり、最終的な光結合効率は21%程度であった。 【0051】また、NO.9のWから成る補強部材5の
場合、光結合効率は十分ではあるが、厚さが薄いため加
工が難しく高コストなものとなる。 【0052】なお、本発明は上記実施の形態および実施
例に限定されず、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で種
々の変更を施すことは何等差し支えない。 【0053】 【発明の効果】本発明の光半導体素子収納用パッケージ
は、入出力端子が嵌着される取付部が形成された枠体の
側部の下端に内外を貫通する切欠き部が形成されている
とともにこの切欠き部にヤング率が3.4×105N/mm2
以上で厚さが1〜3mmの補強部材が嵌着されているこ
とにより、光半導体素子収納用パッケージの製造工程で
基体と枠体との熱膨張係数差に起因して生じる枠体の変
形および光ファイバ固定部材の傾きと、光半導体装置を
外部電気回路基板等にネジ止めする際に生じる、基体の
略中央部における高さ方向の変位と、枠体に生じる変形
とを有効に抑制できる。その結果、光半導体素子と透光
性部材と光ファイバ固定部材に取着される光ファイバと
の間に発生する光軸のズレを小さくでき、光結合効率の
劣化を有効に抑制できるとともに安定した光信号の入出
力を行なうことができる。
【図面の簡単な説明】 【図1】本発明の光半導体素子収納用パッケージについ
て実施の形態の一例を示す側断面図である。 【図2】図1の光半導体素子収納用パッケージの光半導
体素子部における正面断面図である。 【図3】本発明の光半導体素子収納用パッケージについ
て実施の形態の一例を示す側面図である。 【図4】従来の光半導体素子収納用パッケージの側断面
図である。 【図5】図4の光半導体素子収納用パッケージの光半導
体素子部における正面断面図である。 【符号の説明】 1:基体 1a:載置部 2:枠体 2a:貫通孔 2b:入出力端子の取付部 2c:切欠き部 3:光ファイバ固定部材 4:入出力端子 5:補強部材 6:光半導体素子 8a,8b:透光性部材 11:載置用基台 12:光ファイバ

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 【請求項1】 上面に光半導体素子が載置用基台を介し
    て載置される載置部を有する略四角形の金属製の基体
    と、該基体の上面に前記載置部を囲繞するように接合さ
    れ、側部を貫通するかまたは前記側部の上端を切り欠い
    て成る入出力端子の取付部が形成されているとともに前
    記側部に隣接する側部に貫通孔が形成されている略四角
    形の金属製の枠体と、前記取付部に嵌着された入出力端
    子と、前記貫通孔に嵌着されるかまたは前記貫通孔の枠
    体外側開口の周囲に一端が接合された筒状の光ファイバ
    固定部材とを具備した光半導体素子収納用パッケージに
    おいて、前記枠体は、前記取付部が形成された前記側部
    の下端に内外を貫通する切欠き部が形成されているとと
    もに該切欠き部にヤング率が3.3×105N/mm2以上で
    厚さが1〜3mmの補強部材が嵌着されていることを特
    徴とする光半導体素子収納用パッケージ。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012256770A (ja) * 2011-06-10 2012-12-27 Furukawa Electric Co Ltd:The レーザモジュール
JP2017120901A (ja) * 2015-12-25 2017-07-06 京セラ株式会社 光半導体素子収納用パッケージおよび光半導体装置
CN113376767A (zh) * 2021-05-28 2021-09-10 上海曦智科技有限公司 芯片封装结构以及光计算设备

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012256770A (ja) * 2011-06-10 2012-12-27 Furukawa Electric Co Ltd:The レーザモジュール
JP2017120901A (ja) * 2015-12-25 2017-07-06 京セラ株式会社 光半導体素子収納用パッケージおよび光半導体装置
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