JP5279524B2 - 光断層撮像装置、光断層撮像方法 - Google Patents
光断層撮像装置、光断層撮像方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5279524B2 JP5279524B2 JP2009011608A JP2009011608A JP5279524B2 JP 5279524 B2 JP5279524 B2 JP 5279524B2 JP 2009011608 A JP2009011608 A JP 2009011608A JP 2009011608 A JP2009011608 A JP 2009011608A JP 5279524 B2 JP5279524 B2 JP 5279524B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- optical path
- optical
- path length
- inspection object
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02055—Reduction or prevention of errors; Testing; Calibration
- G01B9/02062—Active error reduction, i.e. varying with time
- G01B9/02067—Active error reduction, i.e. varying with time by electronic control systems, i.e. using feedback acting on optics or light
- G01B9/02068—Auto-alignment of optical elements
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B3/00—Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes
- A61B3/10—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions
- A61B3/102—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions for optical coherence tomography [OCT]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02001—Interferometers characterised by controlling or generating intrinsic radiation properties
- G01B9/02007—Two or more frequencies or sources used for interferometric measurement
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02055—Reduction or prevention of errors; Testing; Calibration
- G01B9/02075—Reduction or prevention of errors; Testing; Calibration of particular errors
- G01B9/02076—Caused by motion
- G01B9/02077—Caused by motion of the object
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02083—Interferometers characterised by particular signal processing and presentation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/0209—Low-coherence interferometers
- G01B9/02091—Tomographic interferometers, e.g. based on optical coherence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B2290/00—Aspects of interferometers not specifically covered by any group under G01B9/02
- G01B2290/45—Multiple detectors for detecting interferometer signals
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Ophthalmology & Optometry (AREA)
- Surgery (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Heart & Thoracic Surgery (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Animal Behavior & Ethology (AREA)
- Public Health (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Eye Examination Apparatus (AREA)
Description
例えば、このような機器として、前眼部撮影機、眼底カメラ、共焦点レーザー走査検眼鏡(Scanning Laser Ophthalmoscope:SLO)が使用されている。
あるいは、オプティカルコヒーレンストモグラフィー(Optical Coherence Tomography:OCT、以下、これをOCT装置と記す)による低コヒーレント光干渉断層撮像装置(光断層画像撮像装置)等が使用されている。
中でも、このOCT装置は、眼底の断層像を高解像度に得る装置であり、現在、網膜の専門外来では必要不可欠な装置になりつつある。
特に、網膜の断層像は眼科診断に広く利用されている。
OCT装置はスキャンにより画像を構成することから、人間の眼球の、固視微動と呼ばれる不随意的な眼球運動や、頭部全体を含む眼球の前後方向の運動が取得した画像に変形を起こすことが問題となっている。
例えば、非特許文献1では、低コヒーレント干渉計によって、角膜の前後方向位置検出を行うようにしたOCT装置が開示されている。
この装置では、その前後方向位置検出値から眼球の前後方向の移動量を求め、低コヒーレント光干渉断層撮影装置の参照光光路長を眼球移動量分補正することにより、取得画像の眼球深さ方向での変形の低減が試みられている。
Christoph K.Hitzenberger、"Simultaneous SLO/OCT imaging of the human retina with axial eye motion correction"、Optics Exspress VOL.15,NO.25(2007)
本発明の光断層撮像装置は、第1の測定光を照射した被検査物からの戻り光と、該第1の測定光に対応する第1の参照光とを合波した第1の合波光に基づいて、該被検査物の断層画像を取得する光断層撮像装置であって、
前記第1の参照光の光路長を変更し、該第1の参照光の光路の一部が共通で且つ第2の参照光の光路長を変更する共通の光路長可変手段と、
第2の測定光を照射した前記被検査物からの戻り光と、該第2の測定光に対応する前記第2の参照光とを合波した第2の合波光に基づいて、前記共通の光路長可変手段を制御する制御手段と、
を有することを特徴とする。
また、本発明の光断層撮像装置は、光源からの光を第1の測定光と第1の参照光とに分割し、前記第1の測定光を被検査物に導くと共に、前記第1の参照光を第1の光路長可変手段を備えた光路中を経由させ、
前記被検査物によって反射あるいは散乱された前記第1の測定光による戻り光と、前記第1の光路長可変手段を備えた光路中を経由した前記第1の参照光とによる干渉光を用い、前記被検査物の断層画像を撮像する光断層撮像装置において、
光源からの光を、第2の測定光及び参照光に分割し、該第2の測定光を前記被検査物の移動検出部位に導くと共に、前記第2の参照光を第2の光路長可変手段を備えた光路中を経由させ、
前記被検査物の移動検出部位によって反射あるいは散乱された前記第2の測定光による戻り光と、前記第2の光路長可変手段を備えた光路中を経由した前記第2の参照光とによる干渉光を用い、前記被検査物の移動量を検出する光干渉装置と、
前記第1の光路長可変手段とは別に前記第1の参照光の光路中に設けられ、
前記光干渉装置によって検出された前記被検査物の移動量を元に前記第1の参照光の光路長を変更し、前記被検査物の移動検出部位における位置ズレによる前記被検査物の断層画像の変形を低減する位置ズレ補正手段と、
を備え、前記位置ズレ補正手段による前記第1の参照光の光路長と、前記第2の光路長可変手段による第2の参照光の光路長とが、同じ機構により変更可能に構成されていることを特徴とする。
また、本発明の光断層撮像方法は、第1の測定光を照射した被検査物からの戻り光と、該第1の測定光に対応する第1の参照光とを合波した第1の合波光に基づいて、該被検査物の断層画像を取得する光断層撮像装置の制御方法であって、
第2の測定光を照射した前記被検査物からの戻り光と、該第2の測定光に対応する第2の参照光とを合波した第2の合波光を検出する検出工程と、
前記検出工程における検出結果に基づいて、前記第1及び第2の参照光の光路長を変更し且つ前記第1の参照光の光路の一部が共通の光路長可変手段を制御する制御工程と、
を有することを特徴とする。
また、本発明の光断層撮像方法は、光源からの光を第1の測定光と第1の参照光とに分割し、前記第1の測定光を被検査物に導くと共に、前記第1の参照光を第1の光路長可変手段を備えた光路中を経由させ、
前記被検査物によって反射あるいは散乱された前記第1の測定光による戻り光と、前記第1の光路長可変手段を備えた光路中を経由した前記第1の参照光とによる干渉光を用い、前記被検査物の断層画像を撮像する光断層撮像方法において、
光源からの光を、第2の測定光及び参照光に分割し、該第2の測定光を前記被検査物の移動検出部位に導くと共に、前記第2の参照光を第2の光路長可変手段を備えた光路中を経由させ、
前記被検査物の移動検出部位によって反射あるいは散乱された前記第2の測定光による戻り光と、前記第2の光路長可変手段を備えた光路中を経由した前記第2の参照光とによる干渉光を用い、前記被検査物の移動量を検出する光干渉装置と、
前記第1の光路長可変手段とは別に前記第1の参照光の光路中に設けられ、
前記光干渉装置によって検出された前記被検査物の移動量を元に前記第1の参照光の光路長を変更し、前記被検査物の移動検出部位における位置ズレによる前記被検査物の断層画像の変形を低減する位置ズレ補正手段と、を備え、
前記位置ズレ補正手段による前記第1の参照光の光路長と、前記第2の光路長可変手段による第2の参照光の光路長とを、同じ機構により変更して前記被検査物の断層画像を取得することを特徴とする。
また、本発明のプログラムは、上記した光断層撮像方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とする。
まず、本実施形態における光断層画像撮像装置(低コヒーレント光断層撮影装置)および光断層画像撮像方法の全体構成の概略を、図1を参照して説明する。
なお、ここでは、被検査物を被検眼とした構成例について説明する。
本実施形態における光断層画像撮像装置、低コヒーレント光を出射する光源(眼底断層像撮像用の低コヒーレント光源101)からの光を参照光(第1の参照光)と測定光(第1の測定光)とに分割する。
そして、前記測定光を被検査物である被検眼119の眼底に導くと共に、前記参照光を参照光光路長可変手段(第1の光路長可変手段:参照光光路長調整ステージ109)に導く。
前記被検眼の眼底より反射あるいは散乱された前記測定光による戻り光と、前記参照光光路長可変手段を経由した参照光を合波させ、結果として得られる干渉信号(干渉光)を用いて前記被検査物である被検眼の眼底の断層像を撮像し、画像化する。
例えば、スーパールミネッセントダイオード、ASE(自然放出光)光源、フェムト秒レーザ光源、波長走引レーザが好適に用いられる。
上記光源からの光を参照光と測定光に分割し、再度合波し干渉せしめる、干渉計(ビームスプリッタ105)の構成としては、マイケルソン型、マッハツェンダー型いずれも使用可能である。
また、干渉計光路は、空気中に開放した形態で構成してもかまわないし、当然ながら、光ファイバ光学系で構成しても構わない。
参照光光路の光路長可変手段は、空気中に開放した光をステージ上に搭載したミラーによって、光路長を可変にする方法、回転ステージ上に搭載した三角プリズムを用いる方法が好適に用いられる。
被検眼の眼底の断層像として画像化するための方式としては、タイムドメイン方式、スペクトラルドメイン方式、さらには、前記光源に波長走引レーザを用いた、スウェプトソース方式のいずれの形態とも組み合わせることが可能である。
本発明の眼球の前後方向の運動を検出するための低コヒーレント干渉計は、低コヒーレント光を出射する光源からの光を参照光(第2の参照光)と測定光(第2の測定光)とに分割し、前記測定光を被検眼の眼球運動検出部位(被検査物の移動検出部位)に導く。
それと共に、前記参照光路を経由させ、前記被検眼の運動検出部位から反射あるいは散乱された測定光による戻り光と、前記参照光路を経由した光を合波し、結果として得られる干渉信号より、被検眼の前後方向の運動による前後位置を検出する。
ここでの低コヒーレント光の光源は、前述した眼底断層撮影用の光源と同様であり、前述した眼底断層撮影用光源を光路中で分割して用いても構わない。また、別の光源(光源121)を用いてもよい。
光源からの光を参照光と測定光に分割し、再度合波し干渉せしめる、干渉計の構成としては、マイケルソン型、マッハツェンダー型いずれも使用可能である。
この干渉計の光路を一部、前述した眼底断層撮影用の干渉計と共用しても構わないし、独立した光路(角膜位置測定用光路124)を用いても構わない。
干渉計の光路が、空気中に開放した系で構成しても、光ファイバで構成しても構わない点は眼底断層撮影用の干渉計と同様である。
さらに、干渉信号より、被検眼の前後方向の位置変動を検出する機能としては、タイムドメイン方式、スペクトラルドメイン方式、スウェプトソース方式いずれでも構わない。検出速度の面から、スペクトラルドメイン方式、スウェプトソース方式によることが、より好ましい。
本実施形態における光断層画像撮像装置は、前記参照光光路長可変手段(第1の光路長可変手段)とは別に前記光断層撮影装置における参照光の光路中に設けられた位置ズレ補正手段を備える。
この位置ズレ補正手段は、前記光干渉装置によって検出された前記被検査物の移動量を元に前記参照光の光路長を変更し、これにより前記被検査物の移動による位置ズレによる前記被検査物の断層画像の変形が低減される。
すなわち、前記低コヒーレント光断層撮影装置の干渉計経路中の参照光光路中に前記参照光光路長可変手段(参照光光路長調整ステージ109)とは別の、位置ズレの補正手段(トラッキング用ステージ112)が設けられる。
この補正手段は、直進ステージが好適に用いられ、このステージの駆動方法としては、リニアモータ、ボイスコイルモータ、ピエゾアクチュエータが使用可能である。
しかしながら、応答性および駆動ストロークの観点より、ボイスコイルモータがより適している。
本実施形態においては、前記位置ズレ補正手段による参照光の光路長と、前記低コヒーレント干渉計(光干渉装置)の参照光光路長変更手段(第2の光路長可変手段)による参照光の光路長とが、同じ機構により変更可能に構成される。
これにより、この位置ズレ補正用の参照光の光路長可変手段は、眼球の前後方向の運動を検出するための低コヒーレント干渉計の参照光路のズレ量も、同時に補正を行うようにすることができる。
同時に補正するための方法として、例えば、図1に示されるように同一ステージ上に断層撮影用のミラー(眼底トラッキングミラー113)、位置検出用(角膜位置用トラッキングミラー128)をそれぞれ搭載することができる。
あるいは、これを同一のミラーを用いてズレ補正を行うようにしてもよい。
補正に残差がある場合は、ズレた位置を示す。しかしながら、一定位置からのズレ量を元に、前述の光路長可変手段への駆動指令を行うため、たとえ残差があっても、ごくわずかなズレ量となる。
このことによって、大きな眼球の前後方向の移動があったとしても、逐次ズレ量を補正しているため、検出用の低コヒーレント干渉計の一定位置から眼球位置がずれない。すなわち、大きな前後方向眼球運動に対しても補正が可能となる。
また、前記第1の光路長可変手段による第1の参照光の光路長が、前記光干渉装置の前記被検査物の移動量の検出結果を基準にした、クローズドフィードバック系によって制御可能に構成することができる。
すなわち、眼球の前後方向の位置を計測する低コヒーレント光干渉計による位置変動をそのまま、眼球の前後方向の位置変動の補正手段の位置制御情報として用いるクローズドフィードバック系を構成することができる。
これにより、制御応答が高速化される。よって、逐次変動する眼球運動に対する追従性が向上し、制御精度がより高精度となる。
[実施例1]
実施例1として、本発明を適用したOCT装置の構成例について説明する。
図1に、本実施例のOCT装置の全体構成を説明する概念図を示す。
図1において、101は眼底断層撮影用低コヒーレント光源、
102は光ファイバ、103はファイバコリメータ、104は眼底撮像用光路、105はビームスプリッタ、106はミラー、107は参照ミラー1、108は参照ミラー2、109は参照光光路長調整ステージ、110はミラー、111は分散補償ガラスである。
112はトラッキング用ステージ、113は眼底トラッキングミラー、114はガルバノスキャナX、115はガルバノスキャナY、116はレンズ1、117はレンズ2、118はダイクロミラー、119は被検眼である。
断層撮影用OCTとして、マイケルソン型の干渉計があり、眼球の前後方向運動検出用にもマイケルソン型の干渉計がある。
眼球の前後方向の検出では、眼球前部の角膜頂点を検出する構成となっている。
本実施例において、断層撮影のための眼底断層撮影用低コヒーレント光源101は、840nmを中心波長とし、半値幅50nmのSLD光源を用いている。
この光を102のシングルモードファイバで103のファイバコリメータに導光する。
ファイバコリメータによりコリメートしたビームは、104の光路をたどり、105のビームスプリッタにより、参照光路、信号光路に分割される。
ここで図示している104の実線のビームは、眼底断層撮影のためのビームを示している。
105のビームスプリッタにより分岐されたビームのうち、参照光路に向かうビームは、106のミラーにて、109の直動ステージ、107、108の光路長調整用ミラーで構成される参照光路調整手段に導かれる。
ここでは、109の直動ステージの動作によって、眼底像が画面内に収まるように調整される。
この直動ステージは、ステッピングモータにより駆動される、ボールネジステージを用いている。
さらに、110のミラーを介して、111の分散補償ガラスを通り、112のトラッキング用ステージと113、128のミラーにより構成される。このトラッキング用ステージは、後述する眼球位置の検出手段によって、検出された、眼球位置ズレをもとに駆動される。
このトラッキングステージには、ボイスコイルモータを用いたリニアステージを用いている。
トラッキングステージ上の113のミラーにより折り返された参照光は、同一の光路を通り、105のビームスプリッタを通り、後述する、信号光と合波し、120の検出器へと向かう。
検出器は、本構成では、スペクトラルドメイン方式のOCTであるため、分光器が構成されている。
ここでは、発明の本質とは無関係であるため、図は省略するが、透過型グレーティングとラインセンサを用いたポリクロメータ式の分光器が構成されている。
ガルバノスキャナ114はX方向(水平方向)のスキャンを行い、115は、Y方向(垂直方向)のスキャンを行う。スキャナにより偏向されたビームは、116、117のレンズにより119の被検眼に導かれる。
スキャナにより偏向されたビームは再度、虹彩位置を中心に入射角度が偏向されるようになっており、被検眼の眼底を走査される。
眼底にて散乱あるいは反射した信号光は、同じ光路をたどり、105のビームスプリッタを介して、参照光と合波され、120の検出器へと導かれる。
120の検出器では、参照光と信号光との干渉信号を検出する。
干渉信号は、分光器によって、波長毎の信号として受信する。波長毎の信号をもとに、FFT信号処理を行うことによって、深さ方向の情報を得、断層像として表示可能となる。
121の光源より出射された光が、122のシングルモード光ファイバを通って、123のファイバコリメータに導かれる。
ここで用いる光源は、眼底断層撮影のための波長と波長により容易に分離できること、眼底まで到達する必要がないことから、中心波長1290nm、半値幅50nmのSLD光源を用いている。
124の破線は、前眼部位置検出用のビームを示している。125のビームスプリッタにより、参照光と信号光に分けられる。
参照光は、126の分散補償ガラスを介し、127のミラーを介して、トラッキング用のステージ112上の128のミラーに導かれる。
ミラーにより折り返された光が、同じ光路をたどり、125のビームスプリッタから信号光と合波され検出器130へと導かれる。
一方、信号光は、125のビームスプリッタから、129のレンズを介して118のダイクロミラーによって反射され119の被検眼の角膜にいたる。
118のダイクロミラーは、1290nm近傍の光は反射し、840nm近傍の光は、透過するものを選択する。
また、129のレンズは、被検眼の角膜位置にビームが焦点を結ぶような焦点距離および設置位置に調整される。
角膜位置で反射した光は、同じ光路をたどり、125のビームスプリッタに戻り、参照光と合波され、130の検出器にいたる。
130の検出器は、スペクトラルドメイン方式を用いるため、透過グレーティングとInGaAsにより構成されたラインセンサを用いたカメラによるポリクロメータ式分光器である。
分光器によって検出した信号は、FFT信号処理を行い、角膜位置が検出される。
図4に、本実施例における位置検出に用いる角膜の断面イメージと、出力信号のイメージを示す。
図4(a)に示しているのが、出力信号のイメージであり、図4(b)に示すのが、角膜の断面イメージである。
401が角膜を示しており、402が虹彩を示し、403が検出光である。
角膜部での反射成分の信号が、404のようにピークと成って現れる。
この404のピークの位置ズレを検知し、その位置ズレ量に基づいて、ステージの駆動力を制御する。
この際に眼球が前方向に変位すると、ピーク位置が左に変位し、後方向に変位すると、ピーク位置が右に変位する。
予め目標となるピーク位置を規定しておき、目標ピーク位置からのズレ量、いわゆる偏差をもとに、この偏差および、偏差の積分値、偏差の微分値にそれぞれゲインを掛けて、ステージの駆動力を決定する。
図7は本実施例におけるステージ制御を実現する制御部のブロック図である。
ここでは、眼底断層像を表示する機能は、説明を簡略化するために省いている。701は制御に関わる計算処理を行う中央演算装置である。
702は演算時のデータの一次記憶である主記憶である。
703は、眼球の前後方向の検出器の中に構成されているラインスキャンカメラである。
704は、制御時に出力値を出すためのDAコンバータである。
705は、ボイスコイルモータを制御するための制御アンプである。706は、前後方向のズレを補正するためのボイスコイルモータを備えたステージである。
801により処理が開始されると、まず802でラインカメラから1ライン分のデータを取得する。
このデータは分光スペクトルを示しているため、このデータを波数に変換し、803でFFT処理を行う。FFT処理を行うと、深さに応じた信号が出力されるため、この信号中に、角膜を示す特徴点が存在するかの判定を804で行う。
804で特徴点がない場合、806にて、ボイスコイルステージをあらかじめ規定した量駆動し、802部に戻るこのループを繰り返すことによって、角膜が検出されるまで自動探索が行われる。
角膜が検出されると、805の処理でラインスキャンカメラから1ライン分のデータを取得し、807で803同様のFFT処理を行う。
この結果より、808のところであらかじめ設定した目標値からのズレ量を求める。
809にて現在のズレ量、過去N回(N回は制御系により異なるが適正な値を事前にデータを取得して決定しておく)分のデータより積算値および微分値を求める。
それぞれに対して設定したゲインを与えて合算した制御値を算出する。810にて、制御値をDAコンバータに出力する。DAコンバータの出力値は、図7の705のアンプによって、ステージ位置と略比例する出力電流に変換される。
結果として、必要量の駆動が行われる。この操作を繰り返すことによって、眼球の前後方向の動きが断層像の動きに反映しないような制御が可能となる。
実施例2として、眼底断層撮影を行うOCTと眼球の前後運動の検出のための低コヒーレント光干渉計の光路を共用している形態による構成例のOCT装置について説明する。
図2に、本実施例のOCT装置の全体構成を説明する概念図を示す。
図2において、201は眼底断層撮影用低コヒーレント光源、202は光ファイバ、203はファイバコリメータ、204は眼底撮影用光路、205はビームスプリッタ、206はビームスプリッタ、207はダイクロミラーである。
208は分散補償ガラス、209は眼底用参照光光路調整ステージ、210は参照光路調整ミラー、211は参照光路調整ミラー、212はミラーである。
213は分散補償ガラス、214はトラッキング用ステージ、215はトラッキング用ミラー、216はガルバノミラーX、217はガルバノミラーY、218はレンズ1、219はレンズ2、220は被検眼、221はダイクロミラーである。
222は眼底用検出器、223は角膜用低コヒーレント光源、224は光ファイバ、225はファイバコリメータ、226は角膜検出用光路、227は角膜位置用検出器である。
本実施例においては、断層撮影のための光源と運動検出のための光源は別波長を用いている。
運動検出の対象部位は、角膜である。干渉計の構成は、双方ともマイケルソン干渉計でほとんどの光路を共用している。
本実施例における断層撮影のための光源は、840nmを中心波長とし、半値幅50nmのSLD光源を用いている。
この光を202のシングルモードファイバで203のファイバコリメータに導光する。
ファイバコリメータによりコリメートしたビームは、204の実線の光路をたどる。205のビームスプリッタにより、眼球運動の検出のためのビームと合波される。
206のビームスプリッタにより参照光路と信号光路に分けられる。参照光路は、207のダイクロミラーを経由する。
さらに、213の分散補償ガラスを通り214のトラッキングステージと215のミラーによるトラッキング用参照光光路長可変手段に至る。
215のミラーで折り返された光は再度同一の光路をたどり、206のビームスプリッタに戻る。
この後に、信号光と合波し、221のダイクロミラーにて断層撮影光のみ透過し、222の検出器に至る。
被検眼の眼底にて散乱あるいは反射した信号光は、同様の光路をたどり、206のビームスプリッタを通り、参照光と合波し、221のダイクロミラーを透過し、222の検出器に至る。
検出器では、信号光と参照光の干渉信号を検出する。干渉信号を画像にするフローは、実施例1と同様であるため省略する。
223の光源より出射された光が、224のシングルモード光ファイバを通って、225のファイバコリメータに導かれる。
ここで用いる光源は、眼底断層撮影のための波長と波長により容易に分離できること、眼底まで到達する必要がないことから、中心波長1290nm、半値幅50nmのSLD光源を用いている。
226の破線は、前眼部位置検出用のビームを示している。205のビームスプリッタにより、眼底断層撮影のためのビームと合波される。
206のビームスプリッタにより、信号光と参照光に分岐され、参照光は、207のダイクロミラーを透過し、213の分散補償ガラスを通り、214、215によるトラッキング用参照光光路長調整手段に至る。
215のミラーで折り返された参照光は、同一の光路をたどり、206のビームスプリッタに戻る。ビームスプリッタにより信号光と合波し、221のダイクロミラーにて反射し、227の検出器に至る。
角膜により反射あるいは散乱した信号光は、同一の経路をたどり、206のビームスプリッタに至る。参照光と合波され221のダイクロミラーにて反射し、227の検出器に至る。
227の検出器は、実施例1と同様の分光器となっている。
図5に、本実施例で位置検出に用いる角膜の断面イメージと、出力信号のイメージを示す。
図5(a)に示しているのが、出力信号のイメージで、本実施例では、位置検出ビームがスキャンされるため、図に示すような画像イメージで取得される。
図5(b)に示すのが、角膜の断面イメージである。501が角膜を示しており、502が虹彩を示し、503が検出光である。
角膜部での反射成分の信号が、504のように現れる。この504の信号の最大位置を求め、この位置ズレを元にステージの駆動力を制御する。制御時は、実施例1と同様である。
実施例3におけるOCT装置について説明する。
図3に、本実施例のOCT装置の全体構成を説明する概念図を示す。
図3において、301は眼底撮影用低コヒーレント光源、302は光ファイバ、303はファイバコリメータ、304は眼底撮像用光路である。
305はビームスプリッタ、306は分散補償ガラス、307は参照光路長調整ステージ、308はトラッキング用ステージ、309はミラー、310はガルバノミラーX、311はガルバノミラーYである。
312はレンズ1、313はダイクロミラー、314はレンズ2、315は被検眼、316は眼底断層像用検出器、317は眼底位置検出用低コヒーレント光源、318は光ファイバ、319はファイバコリメータである。
320は眼底位置検出用光路、321はビームスプリッタ、322はミラー、323は眼底前後検出光用トラッキングミラー、324はレンズ3、325は眼底位置検出用検出器である。
本実施例では、眼底断層撮影を行うOCTと眼球の前後運動の検出のための低コヒーレント光干渉計に別波長を用い、前後運動検出の対象部位は、眼底である。また、干渉計の構成は、双方ともマイケルソン干渉計である。
本実施例において、断層撮影のための光源301は、840nmを中心波長とし、半値幅50nmのSLD光源を用いている。
この光を302のシングルモードファイバで303のファイバコリメータに導光する。
ファイバコリメータによりコリメートしたビームは、304の実線の光路をたどる。
305のビームスプリッタにより参照光路と信号光路に分けられる。眼底断層撮影用の参照光ビームは、306の分散補償ガラスを通り、307の参照光光路調整ステージと308のトラッキングステージ、309、323のミラーによって構成された参照光光路調整手段に至る。
308のトラッキングステージは、ボイスコイルモータによる直動ステージである。眼底撮影用の参照ビームは、309のミラーで折り返され、再度同一の光路をたどり、305のビームスプリッタに戻る。
この後に、信号光と合波し、316の検出器に至る。
このダイクロミラーは、840nm近傍の眼底断層撮影の光は透過する。ここでのスキャナ、レンズの役割は実施例1、2と同様であるため省略する。
被検眼の眼底にて散乱あるいは反射した信号光は、同様の光路をたどり、305のビームスプリッタを通り、参照光と合波し、316の検出器に至る。
検出器では、信号光と参照光の干渉信号を検出する。干渉信号を画像にするフローは、実施例1、2と同様であるため省略する。
317の光源より出射された光が、318のシングルモード光ファイバを通って、319のファイバコリメータに導かれる。
ここで用いる光源は、眼底断層撮影のための波長と波長により容易に分離できること、眼底まで到達する必要から、中心波長1050nm、半値幅50nmのSLD光源を用いている。
320の破線は、前眼部位置検出用のビームを示している。
321のビームスプリッタにより、信号光と参照光に分岐され、参照光は、322のミラー、306の分散補償ガラスを通り、前述した参照光光路長調整手段に至る。
323のミラーで折り返された参照光は、同一の光路をたどり、321のビームスプリッタに戻る。
ビームスプリッタにより信号光と合波し、325の検出器に至る。
眼底により反射あるいは散乱した信号光は、同一の経路をたどり、321のビームスプリッタに至る。参照光と合波され、325の検出器に至る。325の検出器は、実施例1、2と同様の分光器であるが、ラインセンサがシリコン製となっている。
図6に、本実施例で位置検出に用いる眼底の断面イメージと、出力信号のイメージを示す。
図6(a)は、眼底位置検出用の深さによる信号である。
図6(b)は眼底断層像のイメージである。601は、眼底断層像で、602は検出光、603は深さによる検出信号強度である。
眼底での反射成分の信号が、603のように現れる。
この603の信号の特徴位置を求め、この位置ズレを元にステージの駆動力を制御する。制御時は、実施例1と同様である。
102:光ファイバ
103:ファイバコリメータ
104:眼底撮像用光路
105:ビームスプリッタ
106:ミラー
107:参照ミラー1
108:参照ミラー2
109:参照光光路長調整ステージ
110:ミラー
111:分散補償ガラス
112:トラッキング用ステージ
113:眼底トラッキングミラー
114:ガルバノスキャナX
115:ガルバノスキャナY
116:レンズ1
117:レンズ2
118:ダイクロミラー
119:被検眼
120:検出器
121:角膜位置測定用低コヒーレント光源
122:光ファイバ
123:ファイバコリメータ
124:角膜位置測定用光路
125:ビームスプリッタ
126:分散補償ガラス
127:ミラー
128:角膜位置用トラッキングミラー
201:眼底断層撮影用低コヒーレント光源
202:光ファイバ
203:ファイバコリメータ
204:眼底撮影用光路
205:ビームスプリッタ
206:ビームスプリッタ
207:ダイクロミラー
208:分散補償ガラス
209:眼底用参照光光路調整ステージ
210:参照光路調整ミラー
211:参照光路調整ミラー
212:ミラー
213:分散補償ガラス
214:トラッキング用ステージ
215:トラッキング用ミラー
216:ガルバノミラーX
217:ガルバノミラーY
218:レンズ1
219:レンズ2
220:被検眼
221:ダイクロミラー
222:眼底用検出器
223:角膜用低コヒーレント光源
224:光ファイバ
225:ファイバコリメータ
226:角膜検出用光路
227:角膜位置用検出器
301:眼底撮影用低コヒーレント光源
302:光ファイバ
303:ファイバコリメータ
304:眼底撮像用光路
305:ビームスプリッタ
306:分散補償ガラス
307:参照光路長調整ステージ
308:トラッキング用ステージ
309:ミラー
310:ガルバノミラーX
311:ガルバノミラーY
312:レンズ1
313:ダイクロミラー
314:レンズ2
315:被検眼
316:眼底断層像用検出器
317:眼底位置検出用低コヒーレント光源
318:光ファイバ
319:ファイバコリメータ
320:眼底位置検出用光路
321:ビームスプリッタ
322:ミラー
323:眼底前後検出光用トラッキングミラー
324:レンズ3
325:眼底位置検出用検出器
401:角膜
402:虹彩
403:検出光
404:ピーク
501:角膜
502:虹彩
503:検出光
504:角膜断層像
601:眼底断層像
602:計測光
603:眼底検出信号
701:中央演算装置
702:主記憶
703:ラインスキャンカメラ
704:DAコンバータ
705:制御アンプ
706:ボイスコイルステージ
801〜810:制御ステップ
Claims (27)
- 第1の測定光を照射した被検査物からの戻り光と、該第1の測定光に対応する第1の参照光とを合波した第1の合波光に基づいて、該被検査物の断層画像を取得する光断層撮像装置であって、
前記第1の参照光の光路長を変更し、該第1の参照光の光路の一部が共通で且つ第2の参照光の光路長を変更する共通の光路長可変手段と、
第2の測定光を照射した前記被検査物からの戻り光と、該第2の測定光に対応する前記第2の参照光とを合波した第2の合波光に基づいて、前記共通の光路長可変手段を制御する制御手段と、
を有することを特徴とする光断層撮像装置。 - 前記第1の合波光に基づいて前記被検査物の第1の断層画像を取得する第1の取得手段と、
前記第2の合波光に基づいて前記被検査物の第2の断層画像を取得する第2の取得手段と、
前記第2の断層画像に基づいて前記被検査物の移動量を検出する検出手段と、を更に有し、
前記制御手段が、前記移動量に基づいて前記共通の光路長可変手段を制御することを特徴とする請求項1に記載の光断層撮像装置。 - 前記制御手段が、前記被検査物の移動によって生じる前記第1の断層画像における歪みを低減するように、前記移動量に基づいて前記共通の光路長可変手段を制御することを特徴とする請求項2に記載の光断層撮像装置。
- 前記第1の参照光の光路長を、前記第2の参照光の光路長とは独立に変更する第1の光路長可変手段を有し、
前記共通の光路長可変手段は、前記第1の光路長可変手段とは異なる第2の光路長可変手段であることを特徴とする請求項2または請求項3に記載の光断層撮像装置。 - 前記被検査物は被検眼であり、
前記第1の取得手段が、前記第1の合波光に基づいて前記被検眼の前眼部の断層画像を前記第1の断層画像として取得し、
前記第2の合波光に基づいて前記被検眼の眼底の断層画像を前記第2の断層画像として取得し、
前記検出手段が、前記第2の断層画像に基づいて前記前眼部の移動量を検出し、前記制御手段が、前記第1の断層画像に基づいて前記第1及び第2の参照光の光路長差を調整するように前記第1の光路長可変手段を制御し、前記前眼部の移動量に基づいて前記第2の光路長可変手段を制御することを特徴とする請求項4に記載の光断層撮像装置。 - 前記被検査物は被検眼であり、
前記制御手段は、前記第2の測定光を照射した前記被検眼の前眼部からの戻り光と前記第2の参照光とを合波した光である第2の合波光に基づいて前記共通の光路長可変手段を制御して、該被検眼の移動によって生じる該被検眼の眼底の断層画像である前記第1の断層画像の歪みを低減することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の光断層撮像装置。 - 前記制御手段は、前記第2の合波光が略最大値になるように前記共通の光路長可変手段を制御することを特徴とする請求項6に記載の光断層撮像装置。
- 互いに波長帯域の異なる光を発生させる複数の光源と、
前記第1及び第2の参照光のいずれか一方を透過し、他方を反射するダイクロイックミラーと、
を有することを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の光断層撮像装置。 - 前記共通の光路長可変手段は、前記第1及び第2の参照光を反射するミラーと、該ミラーが設けられ且つ該第1及び第2の参照光の光路に沿って移動可能な共通のステージとを有することを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の光断層撮像装置。
- 前記第2の合波光に基づいて前記被検査物の特徴箇所が存在するか否かを判定する判定手段を有し、
前記制御手段は、前記特徴箇所がない場合、該特徴箇所が存在するまで前記共通のステージを駆動することを特徴とする請求項9に記載の光断層撮像装置。 - 前記共通のステージは、ボイスコイルモータを用いたリニアステージであることを特徴とする請求項9または請求項10に記載の光断層撮像装置。
- 互いに波長帯域の異なる光を発生させる複数の光源と、
互いに波長帯域の異なる前記第1及び第2の測定光のいずれか一方を透過し、他方を反射するダイクロイックミラーと、
を有することを特徴とする請求項1乃至11のいずれか1項に記載の光断層撮像装置。 - 前記第1の測定光の中心波長は、前記第2の測定光の中心波長よりも短いことを特徴とする請求項1乃至12のいずれか1項に記載の光断層撮像装置。
- 光源からの光を第1の測定光と第1の参照光とに分割し、前記第1の測定光を被検査物に導くと共に、前記第1の参照光を第1の光路長可変手段を備えた光路中を経由させ、
前記被検査物によって反射あるいは散乱された前記第1の測定光による戻り光と、前記第1の光路長可変手段を備えた光路中を経由した前記第1の参照光とによる干渉光を用い、前記被検査物の断層画像を撮像する光断層撮像装置において、
光源からの光を、第2の測定光及び参照光に分割し、該第2の測定光を前記被検査物の移動検出部位に導くと共に、前記第2の参照光を第2の光路長可変手段を備えた光路中を経由させ、
前記被検査物の移動検出部位によって反射あるいは散乱された前記第2の測定光による戻り光と、前記第2の光路長可変手段を備えた光路中を経由した前記第2の参照光とによる干渉光を用い、前記被検査物の移動量を検出する光干渉装置と、
前記第1の光路長可変手段とは別に前記第1の参照光の光路中に設けられ、
前記光干渉装置によって検出された前記被検査物の移動量を元に前記第1の参照光の光路長を変更し、前記被検査物の移動検出部位における位置ズレによる前記被検査物の断層画像の変形を低減する位置ズレ補正手段と、
を備え、前記位置ズレ補正手段による前記第1の参照光の光路長と、前記第2の光路長可変手段による第2の参照光の光路長とが、同じ機構により変更可能に構成されていることを特徴とする光断層撮像装置。 - 前記光干渉装置の光源は、前記光断層撮像装置の光源とは別の光源であり、該光干渉装置の光源の波長は前記光断層撮像装置の光源とは異なる波長を有することを特徴とする請求項14に記載の光断層撮像装置。
- 前記被検査物が眼球であり、前記光干渉装置が該眼球の角膜における前後方向の運動による前後位置を検出する光干渉計であることを特徴とする請求項14または請求項15に記載の光断層撮像装置。
- 前記第1の光路長可変手段による第1の参照光の光路長が、前記光干渉装置の前記被検査物の移動量の検出結果を基準にした、クローズドフィードバック系によって制御可能に構成されていることを特徴とする請求項14から16のいずれか1項に記載の光断層撮像装置。
- 第1の測定光を照射した被検査物からの戻り光と、該第1の測定光に対応する第1の参照光とを合波した第1の合波光に基づいて、該被検査物の断層画像を取得する光断層撮像方法であって、
第2の測定光を照射した前記被検査物からの戻り光と、該第2の測定光に対応する第2の参照光とを合波した第2の合波光を検出する検出工程と、
前記検出工程における検出結果に基づいて、前記第1及び第2の参照光の光路長を変更し且つ前記第1の参照光の光路の一部が共通の光路長可変手段を制御する制御工程と、
を有することを特徴とする光断層撮像方法。 - 前記第1の合波光に基づいて前記被検査物の第1の断層画像を取得する第1の取得工程と、
前記第2の合波光に基づいて前記被検査物の第2の断層画像を取得する第2の取得工程と、
前記第2の断層画像に基づいて前記被検査物の移動量を検出する検出工程と、を有し、
前記制御工程において、前記検出工程で検出された前記被検査物の移動量に基づいて、前記共通の光路長可変手段を制御することを特徴とする請求項18に記載の光断層撮像方法。 - 前記制御工程において、前記被検査物の移動によって生じる前記第1の断層画像における歪みを低減するように、前記検出工程で検出された前記被検査物の移動量に基づいて前記共通の光路長可変手段を制御することを特徴とする請求項19に記載の光断層撮像方法。
- 前記共通の光路長可変手段として、前記第1の参照光の光路長を、前記第2の参照光の光路長とは独立に変更する第1の光路長可変手段とは異なる第2の光路長可変手段を用いることを特徴とする請求項19または請求項20に記載の光断層撮像方法。
- 前記被検査物は被検眼であり、
前記第1の取得工程において、前記第1の合波光に基づいて前記被検眼の前眼部の断層画像を前記第1の断層画像として取得し、
前記第2の取得工程において、前記第2の合波光に基づいて前記被検眼の眼底の断層画像を前記第2の断層画像として取得し、
前記検出工程において、前記第2の断層画像に基づいて前記前眼部の移動量を検出し、
前記制御工程において、前記第1の断層画像に基づいて前記第1及び第2の参照光の光路長差を調整するように前記第1の光路長可変手段を制御し、前記前眼部の移動量に基づいて前記第2の光路長可変手段を制御することを特徴とする請求項21に記載の光断層撮像方法。 - 前記被検査物は被検眼であり、
前記制御工程において、前記第2の測定光を照射した前記被検眼の前眼部からの戻り光と前記第2の参照光とを合波した光である第2の合波光に基づいて前記共通の光路長可変手段を制御して、該被検眼の移動によって生じる該被検眼の眼底の断層画像である前記第1の断層画像の歪みを低減することを特徴とする請求項19乃至22のいずれか1項に記載の光断層撮像方法。 - 光源からの光を第1の測定光と第1の参照光とに分割し、前記第1の測定光を被検査物に導くと共に、前記第1の参照光を第1の光路長可変手段を備えた光路中を経由させ、
前記被検査物によって反射あるいは散乱された前記第1の測定光による戻り光と、前記第1の光路長可変手段を備えた光路中を経由した前記第1の参照光とによる干渉光を用い、前記被検査物の断層画像を撮像する光断層撮像方法において、
光源からの光を、第2の測定光及び参照光に分割し、該第2の測定光を前記被検査物の移動検出部位に導くと共に、前記第2の参照光を第2の光路長可変手段を備えた光路中を経由させ、
前記被検査物の移動検出部位によって反射あるいは散乱された前記第2の測定光による戻り光と、前記第2の光路長可変手段を備えた光路中を経由した前記第2の参照光とによる干渉光を用い、前記被検査物の移動量を検出する光干渉装置と、
前記第1の光路長可変手段とは別に前記第1の参照光の光路中に設けられ、
前記光干渉装置によって検出された前記被検査物の移動量を元に前記第1の参照光の光路長を変更し、前記被検査物の移動検出部位における位置ズレによる前記被検査物の断層画像の変形を低減する位置ズレ補正手段と、を備え、
前記位置ズレ補正手段による前記第1の参照光の光路長と、前記第2の光路長可変手段による第2の参照光の光路長とを、同じ機構により変更して前記被検査物の断層画像を取得することを特徴とする光断層撮像方法。 - 前記被検査物が眼球であり、前記光干渉装置が該眼球の角膜における前後方向の運動による前後位置を検出する光干渉計であることを特徴とする請求項23または請求項24に記載の光断層撮像方法。
- 前記第1の光路長可変手段による第1の参照光の光路長が、前記光干渉装置の前記被検査物の移動量の検出結果を基準にした、クローズドフィードバック系によって制御可能に構成されていることを特徴とする請求項23から25のいずれか1項に記載の光断層撮像方法。
- 請求項18乃至26のいずれか1項に記載の光断層撮像方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009011608A JP5279524B2 (ja) | 2009-01-22 | 2009-01-22 | 光断層撮像装置、光断層撮像方法 |
US12/688,118 US8358421B2 (en) | 2009-01-22 | 2010-01-15 | Optical tomographic imaging apparatus that changes reference beam path lengths |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009011608A JP5279524B2 (ja) | 2009-01-22 | 2009-01-22 | 光断層撮像装置、光断層撮像方法 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010169502A JP2010169502A (ja) | 2010-08-05 |
JP2010169502A5 JP2010169502A5 (ja) | 2012-03-08 |
JP5279524B2 true JP5279524B2 (ja) | 2013-09-04 |
Family
ID=42336726
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009011608A Active JP5279524B2 (ja) | 2009-01-22 | 2009-01-22 | 光断層撮像装置、光断層撮像方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8358421B2 (ja) |
JP (1) | JP5279524B2 (ja) |
Families Citing this family (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5558735B2 (ja) * | 2009-04-13 | 2014-07-23 | キヤノン株式会社 | 光断層撮像装置及びその制御方法 |
JP5289219B2 (ja) * | 2009-07-09 | 2013-09-11 | キヤノン株式会社 | 撮影装置及びその制御方法 |
JP5426960B2 (ja) * | 2009-08-04 | 2014-02-26 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及び撮像方法 |
JP5297415B2 (ja) | 2010-04-30 | 2013-09-25 | キヤノン株式会社 | 眼科装置及び眼科方法 |
JP5743425B2 (ja) | 2010-04-30 | 2015-07-01 | キヤノン株式会社 | 眼科装置及び眼科装置の制御方法 |
JP5685013B2 (ja) | 2010-06-30 | 2015-03-18 | キヤノン株式会社 | 光断層撮像装置及びその制御方法、プログラム |
JP5609580B2 (ja) * | 2010-11-18 | 2014-10-22 | 横河電機株式会社 | レーザガス分析計 |
US8517537B2 (en) * | 2011-01-20 | 2013-08-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical coherence tomographic imaging method and optical coherence tomographic imaging apparatus |
EP2485009A1 (de) * | 2011-02-04 | 2012-08-08 | Haag-Streit Ag | Frequenzbereichs-OCT |
JP5220208B2 (ja) | 2011-03-31 | 2013-06-26 | キヤノン株式会社 | 制御装置、撮像制御方法、およびプログラム |
JP6100027B2 (ja) * | 2011-03-31 | 2017-03-22 | キヤノン株式会社 | 撮像装置の制御装置、撮像装置の制御方法、およびプログラム |
JP5718154B2 (ja) * | 2011-05-26 | 2015-05-13 | 株式会社トプコン | 干渉光計測装置 |
ES2658304T3 (es) * | 2011-12-30 | 2018-03-09 | Wavelight Gmbh | Un dispositivo integrado para oftalmolagía |
JP6195334B2 (ja) * | 2012-08-30 | 2017-09-13 | キヤノン株式会社 | 撮像装置、撮像方法およびプログラム |
ES2767054T3 (es) | 2015-04-15 | 2020-06-16 | Alcon Inc | Un aparato para modelar estructuras oculares |
JP6491540B2 (ja) * | 2015-05-27 | 2019-03-27 | 株式会社トーメーコーポレーション | 光干渉断層計およびその制御方法 |
GB2539427A (en) * | 2015-06-16 | 2016-12-21 | Spectra Medical Ltd | High resolution remote imaging system providing depth information |
US9795294B1 (en) | 2016-07-01 | 2017-10-24 | Canon Kabushiki Kaisha | System and method for eye tracking during retinal imaging |
JP2018038468A (ja) * | 2016-09-05 | 2018-03-15 | 株式会社ニデック | 断層画像撮影装置 |
WO2019025871A1 (en) * | 2017-08-01 | 2019-02-07 | Opher Kinrot | OPTICAL SYSTEMS AND METHODS FOR ROTATION MOTION MEASUREMENT |
JP6756873B2 (ja) * | 2019-05-24 | 2020-09-16 | 株式会社トプコン | 眼科撮影装置 |
CN110207597A (zh) * | 2019-06-27 | 2019-09-06 | 河南格通智能科技有限公司 | 一种非接触式接触网几何参数检测装置和检测方法 |
CA3096285A1 (en) * | 2020-10-16 | 2022-04-16 | Pulsemedica Corp. | Opthalmological imaging and laser delivery device, system and methods |
KR102420177B1 (ko) * | 2021-12-24 | 2022-07-13 | 재단법인 구미전자정보기술원 | 다중 광원을 이용한 표면 형상 정보 획득 장치 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1998043068A1 (fr) * | 1997-03-26 | 1998-10-01 | Kowa Company, Ltd. | Instrument de mesure optique |
JPH10267830A (ja) * | 1997-03-26 | 1998-10-09 | Kowa Co | 光学測定装置 |
JPH11244243A (ja) * | 1998-03-04 | 1999-09-14 | Fuji Photo Film Co Ltd | グルコース濃度測定方法および装置 |
JP4455216B2 (ja) | 2004-08-06 | 2010-04-21 | キヤノン株式会社 | 検出装置 |
JP4505807B2 (ja) * | 2004-08-09 | 2010-07-21 | 国立大学法人 筑波大学 | 多重化スペクトル干渉光コヒーレンストモグラフィー |
ATE421077T1 (de) * | 2004-10-29 | 2009-01-15 | Degudent Gmbh | Verfahren und vorrichtung zur erfassung von konturdaten und/oder optischen eigenschaften eines dreidimensionalen semitransparenten objekts |
JP2007101250A (ja) | 2005-09-30 | 2007-04-19 | Fujifilm Corp | 光断層画像化方法 |
JP2007114160A (ja) * | 2005-10-24 | 2007-05-10 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 光コヒーレンストモグラフィー装置 |
EP1785690A1 (de) * | 2005-11-10 | 2007-05-16 | Haag-Streit Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Ermittlung geometrischer Werte an einem Gegenstand |
JP5448353B2 (ja) | 2007-05-02 | 2014-03-19 | キヤノン株式会社 | 光干渉断層計を用いた画像形成方法、及び光干渉断層装置 |
JP5339828B2 (ja) | 2007-10-04 | 2013-11-13 | キヤノン株式会社 | 光干渉断層撮像装置及び光干渉断層撮像方法 |
US7800759B2 (en) * | 2007-12-11 | 2010-09-21 | Bausch & Lomb Incorporated | Eye length measurement apparatus |
JP5478840B2 (ja) | 2008-05-19 | 2014-04-23 | キヤノン株式会社 | 光断層撮像装置および光断層撮像装置の制御方法 |
JP5546112B2 (ja) | 2008-07-07 | 2014-07-09 | キヤノン株式会社 | 眼科撮像装置および眼科撮像方法 |
JP5473265B2 (ja) | 2008-07-09 | 2014-04-16 | キヤノン株式会社 | 多層構造計測方法および多層構造計測装置 |
-
2009
- 2009-01-22 JP JP2009011608A patent/JP5279524B2/ja active Active
-
2010
- 2010-01-15 US US12/688,118 patent/US8358421B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2010169502A (ja) | 2010-08-05 |
US8358421B2 (en) | 2013-01-22 |
US20100182610A1 (en) | 2010-07-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5279524B2 (ja) | 光断層撮像装置、光断層撮像方法 | |
US8678588B2 (en) | Optical coherence tomographic imaging apparatus | |
EP2371273B1 (en) | Method of operating an optical tomographic image photographing apparatus | |
JP5737830B2 (ja) | 光断層撮像装置及びその制御方法 | |
JP5610706B2 (ja) | 撮像装置および撮像方法 | |
US10076243B2 (en) | Ophthalmic imaging device | |
US8651662B2 (en) | Optical tomographic imaging apparatus and imaging method for optical tomographic image | |
US9033500B2 (en) | Optical coherence tomography and method thereof | |
US9042622B2 (en) | Optical coherence tomographic apparatus, control method for optical coherence tomographic apparatus and storage medium | |
JP6442903B2 (ja) | 眼科装置 | |
KR101670698B1 (ko) | 광간섭 단층촬상장치 및 그 제어 방법 | |
US20110301455A1 (en) | Optical tomographic imaging apparatus | |
US20200297209A1 (en) | Imaging apparatus and control method therefor | |
JP6491540B2 (ja) | 光干渉断層計およびその制御方法 | |
JP6918581B2 (ja) | 制御装置、断層像撮影システム、制御方法、及びプログラム | |
US20170258326A1 (en) | Ophthalmologic apparatus and imaging method | |
US11134841B2 (en) | Image acquisition apparatus and method for controlling the same | |
JP7043790B2 (ja) | Oct装置 | |
JP2019134908A (ja) | Oct装置、およびoct制御プログラム | |
JP2018201742A (ja) | 眼科撮影装置 | |
JP2015198723A (ja) | 眼科装置 | |
WO2022186115A1 (ja) | Oct装置および眼科画像処理プログラム | |
JP2023122379A (ja) | 眼科撮影装置、眼科撮影装置の制御方法、及びプログラム | |
JP2020036717A (ja) | 眼科撮影装置 | |
JP2016123801A (ja) | 眼科装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120117 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120117 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130131 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130205 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130404 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130423 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130521 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5279524 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R3D03 |