JP5262002B2 - コンピュータ装置の試験方法及び装置及びプログラム - Google Patents
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Description
コンピュータハードウェア装置全体のハードウェア検証で、電圧を変動させたマージン環境とマージン環境ではない場合のマスク設定を自動で行い環境の違いを意識せず連続RAS試験を可能とするソフトウェア手段とそれを構成する検証ソフトウェアとする。
コンピュータハードウェア装置全体のハードウェア検証で、温度を変動させたマージン環境とマージン環境ではない場合のマスク設定を自動に行い環境の違いを意識せず連続RAS試験を可能とするソフトウェア手段とそれを構成する検証ソフトウェアとする。
コンピュータハードウェア装置全体のハードウェア検証で、装置試験動作環境を複合的(例えば、温度と電圧)に変動させたマージン環境とマージン環境ではない場合のマスク設定を自動に行い環境の違いを意識せず連続RAS試験を可能とするソフトウェア手段とそれを構成する検証ソフトウェアとする。
コンピュータハードウェア装置全体のハードウェア検証で、装置の試験動作環境を変動させたマージン環境とマージン環境ではない場合のマスク設定を判定する際、動作環境変動勾配の割合を外部設定し、その基準に従ってマスク設定を自動で行えるようにしたソフトウェアとする。
図1は本発明の試験装置の説明図である。図1において、試験装置(診断システム)1は、恒温槽などのマージン環境3に設置されたコンピュータハードウェア装置(コンピュータ装置)2の診断を行うものである。試験装置(診断システム)1には、センサ値監視プログラム11、RAS機能試験部(機能試験部)12、モニタ部13が設けてある。コンピュータハードウェア装置(コンピュータ装置)2には、メインボード(IA board)21、オプションカード22が設けてある。メインボード21には、センサ23、CPU(制御部)25、メモリ(MEM)26が設けてある。オプションカード22には、センサ24が設けてある。
図2は試験環境、センサ値監視プログラム、RAS機能試験部のそれぞれの実行タイミングの説明図である。図2において、動作状況を時間軸(時間矢印参照)に試験環境、センサ値監視プログラム、RAS機能試験部のそれぞれの実行タイミングを示している。試験環境3は、時間軸に対して、マージン環境(実線)、非マージン環境(点線)、マージン環境(実線)、非マージン環境(点線)の環境が順に設定されている。なお、このマージン環境(実線)と非マージン環境(点線)の組み合わせは、上が電圧、下が温度等の異なる種類の前記マージン環境を複合的に組み合わせて変動させた環境とすることもできる。センサ値監視プログラム11は、定期的にセンサ23、24の値を読み取り、試験環境設定ファイル16に状況を書き込む(更新する)ものである。RAS機能試験部12は、RAS試験の実施・キャンセル(停止)を決める機能試験部(手段)である。勾配設定ファイル14は、ユーザがキーボード19等によりRAS試験を実施する環境を決定するための設定ファイルである。
図3はコンピュータ装置の試験装置の説明図である。図3において、コンピュータ装置の試験装置である診断システムには、センサ値監視プログラム11、RAS機能試験部(機能試験部)12、モニタ部13、勾配設定ファイル14、RAS試験結果格納ファイル15、試験環境設定ファイル16、OS(Kernel)17、ドライバ部18が設けてある。ここでセンサ値監視プログラム11、勾配設定ファイル14、RAS試験結果格納ファイル15、試験環境設定ファイル16、OS(Kernel)17、ドライバ部18等は、メモリ(格納手段)に格納されるものである。
図4はRAS機能試験部のマスク設定動作のフローチャートである。以下、図4のマスク設定動作を処理S1〜S8に従って説明する。
図5は量産試験工程でのランニング試験の説明図である。図5において、時間的流れ(工程)と作業を示しており、本発明を使用した場合の時間的なメリットを表している。
図6は試験環境設定ファイルの内容の説明図である。図6において、試験環境設定ファイル16は、センサ値監視プログラム11がドライバ18を経由して各センサより読み取ったセンサ値を書き込むためのファイルである。このファイルの内容(a) は、各センサ値の名称(b) と値(c) をテキスト形式で出力されたものである。例えば、名称(b) Intake Therm(吸気温度)の値(c) は20.5℃、名称(b) Output Therm(排気温度)の値(c) は25.6℃、名称(b) FUN1 rpm(ファン1の回転数)の値(c) は3456rpm 、名称(b) Volt3.3V(電源電圧3.3 ボルト)の値(c) は3.29Vであることを示している。
図7は勾配設定ファイルの設定基準と内容の説明図である。図7(1) は温度マージンを例に環境勾配を図式化したものである。図7(1) において、X℃をマージン温度、Y℃を常温環境(非マージン温度)とし、ユーザはX、Yと許容率範囲(Capa-rate )aを指定する。基準値Z(ここでは中間の値)はプログラム(演算装置により)が以下の式で計算する。
常温判断値Aは、次の式で計算する。
なお、許容率範囲aは、基準値Zよりどの程度許容できるかの範囲であり、上記では基準値Zより下に設定する説明をしたが、基準値Zより上に設定することも可能である。
センサ値監視プログラム11、RAS機能試験部(機能試験部)12、モニタ部13、勾配設定ファイル14、RAS試験結果格納ファイル15、試験環境設定ファイル16、OS17、ドライバ部18等はプログラムで構成でき、主制御部(CPU)が実行するものであり、主記憶に格納されているものである。このプログラムは、コンピュータ(情報処理装置)で処理されるものである。このコンピュータは、主制御部、主記憶、ファイル装置、表示装置等の出力装置、入力装置などのハードウェアで構成されている。
2 コンピュータハードウェア装置(コンピュータ装置)
3 マージン環境(試験環境設定手段)
11 センサ値監視プログラム
12 RAS機能試験部(機能試験部)
13 モニタ部
21 メインボード(IA board)
22 オプションカード
23、24 センサ
25 CPU(制御部)
26 メモリ(MEM)
Claims (5)
- 少なくともRAS機能試験を含むコンピュータ装置の試験を行う機能試験部と、
試験条件を前記コンピュータ装置に対して厳しい動作環境としたマージン環境と通常の動作環境である非マージン環境とを設定する試験環境設定手段とを備え、
前記機能試験部で、前記試験環境設定手段により前記マージン環境が設定されている場合は前記RAS機能試験を停止し、前記非マージン環境が設定されている場合は前記RAS機能試験を行うことにより、前記マージン環境と前記非マージン環境で前記コンピュータ装置の試験を連続走行することを特徴としたコンピュータ装置の試験方法。 - 前記機能試験部で、前記試験環境設定手段により異なる種類の前記マージン環境を複合的に設定して試験を行うことを特徴とした請求項1記載のコンピュータ装置の試験方法。
- 前記RAS機能試験を停止するかどうかを決めるため、前記マージン環境と前記非マージン環境の判定を行う場合、その判定の値を外部から設定できるようにすることを特徴とした請求項1又は2記載のコンピュータ装置の試験方法。
- 少なくともRAS機能試験を含むコンピュータ装置の試験を行う機能試験部と、
試験条件を前記コンピュータ装置に対して厳しい動作環境としたマージン環境と通常の動作環境である非マージン環境とを設定する試験環境設定手段とを備え、
前記機能試験部は、前記試験環境設定手段により前記マージン環境が設定されている場合は前記RAS機能試験を停止し、前記非マージン環境が設定されている場合は前記RAS機能試験を行うことにより、前記マージン環境と前記非マージン環境で前記コンピュータ装置の試験を連続走行することを特徴としたコンピュータ装置の試験装置。 - 少なくともRAS機能試験を含むコンピュータ装置の試験を行う機能試験部と、
試験条件を前記コンピュータ装置に対して厳しい動作環境としたマージン環境と通常の動作環境である非マージン環境とを設定する試験環境設定手段により、前記マージン環境が設定されている場合はRAS機能試験を停止し、前記非マージン環境が設定されている場合は前記RAS機能試験を行うことにより、前記マージン環境と前記非マージン環境で前記コンピュータ装置の試験を連続走行する機能試験部として、
コンピュータを動作させるためのプログラム。
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