TWI479310B - 伺服器及其控制通道開關的方法 - Google Patents

Description

伺服器及其控制通道開關的方法

本發明涉及一種伺服器及其控制通道開關的方法。

在伺服器中，基板管理控制器透過I2C匯流排與多個I2C設備（例如EEPROM、溫度感測器）相連接。當基板管理控制器與I2C設備之間透過多路開關進行連接時，I2C設備會出現通道不一樣但是位址一樣的情況，此時與I2C設備通訊需要打開對應通道。為了保證I2C設備能夠正常工作，需要對I2C設備進行測試。另一方面，基板管理控制器會定時訪問I2C設備中的監測設備（例如溫度感測器）來獲取監測資料（例如CPU的溫度），用以監控伺服器的運行狀態。由於測試與訪問I2C設備都需要打開對應通道，測試過程中打開的通道有可能由於基板管理控制器訪問其他的I2C設備而意外關閉，使得I2C設備的測試無法順利進行。

鑒於以上內容，有必要提供一種伺服器及其控制通道開關的方法，能夠順利對I2C設備進行測試。

一種伺服器，包括基板管理控制器、多個I2C設備及多路開關，所述多個I2C設備中包括用於監控伺服器運行狀態的監測設備，所述多路開關將基板管理控制器連接到各個I2C設備，每個I2C設備與基板管理控制器之間有一個可控制開關的通道，所述伺服器安裝有測試系統，所述測試系統包括：設置模組，用於在測試I2C設備之前設置通道標誌並設定為打開狀態；第一打開模組，用於控制基板管理控制器打開待測的I2C設備與基板管理控制器之間的通道並且關閉其餘通道，以利用該打開的通道測試I2C設備；關閉模組，用於在I2C設備測試結束後控制基板管理控制器關閉I2C設備與基板管理控制器之間的通道；及修改模組，用於在I2C設備測試結束後將通道標誌修改為關閉狀態；所述基板管理控制器包括：判斷模組，用於在訪問I2C設備中的監測設備以獲取監測資料之前判斷通道標誌是否為打開狀態；及第二打開模組，用於當通道標誌不是打開狀態時打開要訪問的I2C設備與通道基板管理控制器之間的通道並且關閉其餘通道，以利用該打開的通道從I2C設備獲取監測資料。

一種伺服器控制通道開關的方法，所述伺服器包括基板管理控制器、多個I2C設備及多路開關，所述多個I2C設備中包括用於監控伺服器運行狀態的監測設備，所述多路開關將基板管理控制器連接到各個I2C設備，每個I2C設備與基板管理控制器之間有一個可控制開關的通道，所述伺服器安裝有測試系統，該方法中測試系統執行步驟：在測試I2C設備之前，設置通道標誌並設定為打開狀態；控制基板管理控制器打開待測的I2C設備與基板管理控制器之間的通道並且關閉其餘通道，以利用該打開的通道測試I2C設備；在I2C設備測試結束後控制基板管理控制器關閉I2C設備與基板管理控制器之間的通道；及在I2C設備測試結束後將通道標誌修改為關閉狀態；該方法中基板管理控制器執行步驟：在訪問I2C設備中的監測設備以獲取監測資料之前，判斷通道標誌是否為打開狀態；當通道標誌不是打開狀態時，打開要訪問的I2C設備與通道基板管理控制器之間的通道並且關閉其餘通道，以利用該打開的通道從I2C設備獲取監測資料。

本發明利用通道標誌指示是否有I2C設備在進行測試，直到沒有I2C設備在測試時基板管理控制器才訪問I2C設備以獲取監測資料，避免了基板管理控制器訪問I2C設備造成待測的I2C設備的對應通道意外關閉的情況，保證了I2C設備的測試順利進行。

參閱圖1所示，係本發明伺服器較佳實施例的架構圖。所述伺服器10包括基板管理控制器11、多個I2C（Inter-Integrated Circuit，內部積體電路）設備12（例如EEPROM、溫度感測器）及多路開關13。所述多路開關13將基板管理控制器11連接到各個I2C設備12。每個I2C設備12與基板管理控制器11之間有一個可控制開關的通道。當打開某個I2C設備12與基板管理控制器11之間的通道時，基板管理控制器11可以與該I2C設備12進行資料通訊。所述伺服器10安裝有測試系統14，用於對I2C設備12進行測試。所述基板管理控制器11從I2C設備12中的監測設備（例如溫度感測器）獲取伺服器10的監測資料，用以對伺服器10的運行狀態進行監控。

所述測試系統14包括設置模組140、第一打開模組141、關閉模組142與修改模組143。

所述設置模組140用於在測試I2C設備12之前設置通道標誌並設定為打開狀態。所述通道標誌用來指示是否測試系統14在測試I2C設備12。在本實施例中，所述通道標誌用一個布林變數來表示，該布林變數取值為真時表示通道打開（即打開狀態），該布林變數取值為假時表示通道關閉（即關閉狀態）。所述通道標誌還可以是一個整數變數，該整數變數取值為0時表示通道打開，該整數變數取值為1時表示通道關閉。

所述第一打開模組141用於控制基板管理控制器11打開待測的I2C設備12與基板管理控制器11之間的通道並且關閉其餘通道，以利用該打開的通道測試I2C設備12。例如，所述I2C設備12為EEPROM，第一打開模組141打開該EEPROM與基板管理控制器11之間的通道並且關閉其餘通道，利用該通道測試EEPROM的讀寫操作是否正常。

所述關閉模組142用於在I2C設備12測試結束後控制基板管理控制器11關閉I2C設備12與基板管理控制器11之間的通道。

所述修改模組143用於在I2C設備12測試結束後將通道標誌修改為關閉狀態。例如，修改模組143將通道標誌的取值由真修改為假。

所述基板管理控制器11包括判斷模組110與第二打開模組111。

所述判斷模組110用於在訪問I2C設備12中的監測設備以獲取監測資料之前，判斷所述通道標誌是否為打開狀態。若通道標誌為打開狀態，表明測試系統14正在測試I2C設備12，則繼續判斷通道標誌是否為打開狀態。在本實施例中，判斷模組110等待一段時間（例如2秒）後再次判斷通道標誌是否為打開狀態。

所述第二打開模組111用於當通道標誌不是打開狀態時打開要訪問的I2C設備12與通道基板管理控制器11之間的通道並且關閉其餘通道，以利用該打開的通道從I2C設備12獲取監測資料。

參閱圖2所示，係圖1中的伺服器控制通道開關的方法較佳實施例中測試系統的工作流程圖。

在測試I2C設備12之前，步驟S201，設置模組140設置通道標誌並設定為打開狀態。所述通道標誌用來指示是否測試系統14在測試I2C設備12。在本實施例中，所述通道標誌用一個布林變數來表示，該布林變數取值為真時表示通道打開（即打開狀態），該布林變數取值為假時表示通道關閉（即關閉狀態）。所述通道標誌還可以是一個整數變數，該整數變數取值為0時表示通道打開，該整數變數取值為1時表示通道關閉。

步驟S202，第一打開模組141控制基板管理控制器11打開待測的I2C設備12與基板管理控制器11之間的通道並且關閉其餘通道，以利用該打開的通道測試I2C設備12。例如，所述I2C設備12為EEPROM，第一打開模組141打開該EEPROM與基板管理控制器11之間的通道並且關閉其餘通道，利用該通道測試EEPROM的讀寫操作是否正常。

在I2C設備12測試結束後，步驟S203，關閉模組142控制基板管理控制器11關閉I2C設備12與基板管理控制器11之間的通道。

在I2C設備12測試結束後，步驟S204，修改模組143將通道標誌修改為關閉狀態。例如，修改模組143將通道標誌的取值由真修改為假。

參閱圖3所示，係圖1中的伺服器控制通道開關的方法較佳實施例中基板管理控制器的工作流程圖。

在訪問I2C設備12中的監測設備以獲取監測資料之前，步驟S301，判斷模組110判斷所述通道標誌是否為打開狀態。若通道標誌為打開狀態，表明測試系統14正在測試I2C設備12，則繼續判斷通道標誌是否為打開狀態。在本實施例中，判斷模組110等待一段時間（例如2秒）後再次判斷通道標誌是否為打開狀態。

若通道標誌不是打開狀態，步驟S302，第二打開模組111打開要訪問的I2C設備12與通道基板管理控制器11之間的通道並且關閉其餘通道，以利用該打開的通道從I2C設備12獲取監測資料。

綜上所述，本發明符合發明專利要件，爰依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施例，本發明之範圍並不以上述實施例為限，舉凡熟悉本案技藝之人士援依本發明之精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。

10．．．伺服器

11．．．基板管理控制器

12．．．I2C設備

13．．．多路開關

14．．．測試系統

140．．．設置模組

141．．．第一打開模組

142．．．關閉模組

143．．．修改模組

110．．．判斷模組

111．．．第二打開模組

圖1係本發明伺服器較佳實施例的架構圖。

圖2係圖1中的伺服器控制通道開關的方法較佳實施例中測試系統的工作流程圖。

圖3係圖1中的伺服器控制通道開關的方法較佳實施例中基板管理控制器的工作流程圖。

10．．．伺服器

11．．．基板管理控制器

12．．．I2C設備

13．．．多路開關

14．．．測試系統

140．．．設置模組

141．．．第一打開模組

142．．．關閉模組

143．．．修改模組

110．．．判斷模組

111．．．第二打開模組

Claims (6)

1. 一種伺服器，包括基板管理控制器、多個I2C設備及多路開關，所述多個I2C設備中包括用於監控伺服器運行狀態的監測設備，所述多路開關將基板管理控制器連接到各個I2C設備，每個I2C設備與基板管理控制器之間有一個可控制開關的通道，所述伺服器安裝有測試系統，所述測試系統包括：
   設置模組，用於在測試I2C設備之前設置通道標誌並設定為打開狀態；
   第一打開模組，用於控制基板管理控制器打開待測的I2C設備與基板管理控制器之間的通道並且關閉其餘通道，以利用該打開的通道測試I2C設備；
   關閉模組，用於在I2C設備測試結束後控制基板管理控制器關閉I2C設備與基板管理控制器之間的通道；及
   修改模組，用於在I2C設備測試結束後將通道標誌修改為關閉狀態；
   所述基板管理控制器包括：
   判斷模組，用於在訪問I2C設備中的監測設備以獲取監測資料之前判斷通道標誌是否為打開狀態；及
   第二打開模組，用於當通道標誌不是打開狀態時打開要訪問的I2C設備與通道基板管理控制器之間的通道並且關閉其餘通道，以利用該打開的通道從I2C設備獲取監測資料。
2. 如申請專利範圍第1項所述之伺服器，其中所述通道標誌用布林變數來表示。
3. 如申請專利範圍第1項所述之伺服器，其中所述判斷模組在通道標誌為打開狀態時，等待一段時間後再次判斷通道標誌是否為打開狀態。
4. 一種伺服器控制通道開關的方法，所述伺服器包括基板管理控制器、多個I2C設備及多路開關，所述多個I2C設備中包括用於監控伺服器運行狀態的監測設備，所述多路開關將基板管理控制器連接到各個I2C設備，每個I2C設備與基板管理控制器之間有一個可控制開關的通道，所述伺服器安裝有測試系統，該方法中測試系統執行步驟：
   在測試I2C設備之前，設置通道標誌並設定為打開狀態；
   控制基板管理控制器打開待測的I2C設備與基板管理控制器之間的通道並且關閉其餘通道，以利用該打開的通道測試I2C設備；
   在I2C設備測試結束後控制基板管理控制器關閉I2C設備與基板管理控制器之間的通道；及
   在I2C設備測試結束後將通道標誌修改為關閉狀態；
   該方法中基板管理控制器執行步驟：
   在訪問I2C設備中的監測設備以獲取監測資料之前，判斷通道標誌是否為打開狀態；
   當通道標誌不是打開狀態時，打開要訪問的I2C設備與通道基板管理控制器之間的通道並且關閉其餘通道，以利用該打開的通道從I2C設備獲取監測資料。
5. 如申請專利範圍第4項所述之伺服器控制通道開關的方法，其中所述通道標誌用布林變數來表示。
6. 如申請專利範圍第4項所述之伺服器控制通道開關的方法，其中所述判斷通道標誌是否為打開狀態的步驟中，若通道標誌為打開狀態，則等待一段時間後再次判斷通道標誌是否為打開狀態。