JP5253956B2 - 固体撮像装置及びその駆動方法、並びに電子情報機器 - Google Patents

固体撮像装置及びその駆動方法、並びに電子情報機器 Download PDF

Info

Publication number
JP5253956B2
JP5253956B2 JP2008268005A JP2008268005A JP5253956B2 JP 5253956 B2 JP5253956 B2 JP 5253956B2 JP 2008268005 A JP2008268005 A JP 2008268005A JP 2008268005 A JP2008268005 A JP 2008268005A JP 5253956 B2 JP5253956 B2 JP 5253956B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pixel
luminance level
target pixel
pixels
average value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2008268005A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2010098548A (ja
Inventor
聡士 宮崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP2008268005A priority Critical patent/JP5253956B2/ja
Publication of JP2010098548A publication Critical patent/JP2010098548A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5253956B2 publication Critical patent/JP5253956B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Description

本発明は、固体撮像装置及びその駆動方法、並びに電子情報機器に関し、特に、画素信号の読み出しの対象となる対象画素の画素信号が擬似的に平均化されるよう、信号電荷を信号電圧に変換する複数の増幅トランジスタの出力をショートするよう構成した固体撮像装置、及び対象画素から該擬似的に平均化された画素信号が得られるよう固体撮像装置を駆動する方法、並びにこのような固体撮像装置を用いた電子情報機器に関するものである。
近年の電子スチルカメラでは、高画素、高解像度が静止画に対して要求される。
しかし、電子スチルカメラで使用される小画面モニターでは、被写体の動画像の確認ができればよく、このため、比較的低解像度な画像信号を高速に読み出すのが望ましい。このように、低解像度の画像信号を作成しつつ、高速に読み出すためには、画素からの信号(画素信号)の読出しを、複数行から1行のみ取り出して実行する、垂直方向での間引き処理が行われる。
しかし、単純に画素信号を間引くとモアレが発生し、解像度の低下を招く結果となる。
そのため、垂直方向における同色カラーフィルタを有する画素の画素信号を加算して平均化し、1画素分の画素情報(画素データ)として読み出す画素加算法が提案されている(特許文献1参照)。
図14は、特許文献1に示された画素加算方法(第1の画素加算法)を説明する図であり、CMOS型の固体撮像装置における画素回路を示している。
この固体撮像装置における複数の画素を形成する画素部(画素回路)200は、フォトダイオードからなる複数の光電変換素子と、光電変換素子から信号電荷を電荷蓄積部に転送する転送トランジスタと、電荷蓄積部の電位をリセットするリセットトランジスタと、ソース側が信号線に接続され、電荷蓄積部の電位を増幅して信号線に読み出す増幅トランジスタとを有している。
ここでは、1つのフォトダイオードとこれに対応する1つの転送トランジスタとが1画素毎に設けられており、該フォトダイオードは2次元行列状に配列されている。そして画素を形成する画素部(画素回路)は、同一画素行における4つのフォトダイオードPD0〜PD3とこれに対応する4つの転送トランジスタTr0〜Tr3とが、1つのリセットトランジスタTrsと1つの増幅トランジスタSFTrを共有するいわゆる4画素共有構造となっている。
具体的には、上記複数のフォトダイオードPD0〜PD3が、対応する転送トランジスタTr0〜Tr3を介して、1つの電荷蓄積部であるFD(フローティングディフュージョン)部に接続され、該FD部には1つの増幅トランジスタSFTrのゲートが接続されている。この増幅トランジスタSFTrのソースは垂直信号線Vsigに接続され、そのドレインは電源ラインに接続されている。また、該転送トランジスタTr0〜Tr3のゲートには制御信号TX0〜TX3が印加されるようになっている。また、FD部とリセット電圧VRとの間にはリセットトランジスタTrsが接続されており、該リセットトランジスタTrsのゲートにはリセット信号RSが入力されるようになっている。
なお、図中、Lは定電流源であり、この定電流源Lは接地ラインと上記増幅トランジスタSFTrとの間に接続されている。また、Cfdは、FD部と接地ラインとの間の容量である。ここで、フォトダイオードPD0およびPD2には、赤色画素を構成するよう赤色カラーフィルターが用いられており、フォトダイオードPD1およびPD3には、緑色画素を構成するよう緑色カラーフィルターが用いられている。なお、これらのフォトダイオード列に隣接するフォトダイオード列では、同一色のカラーフィルタを用いた画素同士が隣接しないよう、赤色カラーフィルターを用いた画素と、青色カラーフィルターを用いた画素とが交互に配列されている。
このような固体撮像装置では、同色の複数のフォトダイオードより、光電変換により生成された信号電荷を1つのFD部に電荷を転送して、信号電荷の加算を行う。
現行の画素の配列(ベイヤー配列)では、奇数行の同列画素及び偶数行の同列画素には、同色カラーフィルターが使用されており、奇数行の同列画素同士は、画素加算、つまり信号電荷の加算が可能であり、偶数行の同列画素同士は、画素加算、つまり信号電荷の加算が可能である。
従って、図14に示す画素回路では、例えば、0行目の転送トランジスタTr0の制御信号TX0をHレベルとして、赤色電荷を蓄積したフォトダイオードPD0の電荷Q0をFD部に転送する。
次に、2行目の転送トランジスタTr2の制御信号TX2をHレベルとして、赤色電荷を蓄積したフォトダイオードPD2の電荷Q2をFD部に転送する。
この手法にて、両画素(つまり、フォトダイオードPD0とPD2)で生成された信号電荷が加算され、FD部に読み出される。このとき、FD部で発生する信号電圧Vfdは以下の式で示される。
Vfd=(Q0+Q2)/Cfd
また、0行目の転送トランジスタの制御信号TX0と、2行目の転送トランジスタの制御信号TX2を同時にHレベルとして読出し速度の高速化を図ることは可能である。
次に、増幅トランジスタ(ソースフォロアTr)SFTrにて、加算された信号電荷により生じた信号電圧を増幅し、垂直信号線Vsigに信号電荷に相当する信号電圧Voutを読み出す。
このときの信号電圧Voutは、増幅トランジスタSFTrの増幅率をAsfとして以下の式で示される。
Vout=Asf(Q0+Q2)/Cfd
同様に、図14に示す回路構成では、例えば、1行目の転送トランジスタTr1の制御信号TX1をHレベルとして、緑色電荷を蓄積したフォトダイオードPD1の電荷をFD部に転送する。
次に、3行目の転送トランジスタTr3の制御信号TX3をHレベルとして、緑色電荷を蓄積したフォトダイオードPD3の電荷をFD部に転送する。
この手法にて、両画素(フォトダイオードPD1とPD3)の電荷が加算され、FD部に読み出されている。
次に増幅トランジスタ(ソースフォロアTr)SFTrにて、加算された信号電圧を増幅して垂直信号線Vsigに読み出す。
また、1行目の転送トランジスタのTr1の制御信号TX1と、3行目の転送トランジスタTr3の制御信号TX3を同時にHレベルとして読出し速度の高速化を図ることは可能である。
図15は、従来のその他の画素加算方法(第2の画素加算法)を説明する図であり、図15(a)は、画素加算処理を行う信号処理回路を示している。。
この信号処理回路210は、垂直信号線Vsigからの信号電圧を処理する回路であり、各画素列に対応する垂直信号線Vsigを選択する選択回路(水平走査回路)に含まれている。
この信号処理回路210は、信号線に読み出されたVSIG信号が入力されるノードN1と、ランプ波形(VRAMP波形)が入力されるノードN2とを有し、n行目の画素信号とn+2行目の画素信号とを加算する前段回路211と、該前段回路211の出力ノードN3から出力される信号を処理する後段回路210bとを有している。
ここで、前段回路211は、ノードN1とノードN3との間に直列に接続されたスイッチSSA0及び容量Crc0と、該スイッチSSA0に並列に接続されたスイッチSSB0とRI0との直列接続体と、該直列接続体の接続点と上記ノードN2との間に接続された容量Cs0とを有している。また、前段回路211は、ノードN1とノードN3との間に直列に接続されたスイッチSSA1及び容量Crc1と、該スイッチSSA1に並列に接続されたスイッチSSB1とRI1との直列接続体と、該直列接続体の接続点と上記ノードN2との間に接続された容量Cs1とを有している。なお、上記前段回路211には、スイッチPAを介してもう1つの前段回路212が接続されている。
また、後段回路210bは、該前段回路211の出力ノードN3と、後段回路210bの出力ノードN4との間に直列に接続された、インバータINV1、スイッチ回路SC、第2のインバータINV2、及び第3のインバータINV3とを有している。ここで、第1及び第2のインバータINV1及びINV2にはそれぞれに並列にスイッチRS及びRSDが接続されている。また、上記スイッチ回路SCは、第1及び第2のインバータINV1及びINV2の間に直列に接続された容量Crt0及びスイッチFRS0と、該第1及び第2のインバータINV1及びINV2の間に直列に接続された容量Crt1及びスイッチFRS1とを有している。
また、図15(b)は、該信号処理回路における各スイッチのオンオフタイミングを示している。図15(b)に示す波形では、オン期間はHレベル期間であり、オフ期間はLレベル期間である。
以下簡単にこの信号処理回路210の動作について説明する。
つまり、この信号処理回路210では、先ず、n行目画素のリセット信号レベルを、スイッチSSA0をオンすることにより、容量Crc0に取り込む。このとき、後段回路210bのスイッチRS、RSD、及びFRS0はオン状態であり、上記リセット信号レベルが容量Crf0にも取り込まれる。
次に、上記スイッチSSA0、RS、RSD、及びFRS0をオフした後、スイッチSSB0をオンすることにより、n行目画素の電荷信号レベルを容量Cs0に取り込む。
次に、先ずn+2行目画素のリセット信号レベルを、スイッチSSA1をオンすることにより、容量Crc1に取り込む。このとき、後段回路210bのスイッチRS、RSD、及びFRS1はオン状態であり、上記リセット信号レベルが容量Crf1にも取り込まれる。
次に、上記スイッチSSA1、RS、RSD、及びFRS1をオフした後、スイッチSSB1をオンすることにより、n+2行目画素の電荷信号レベルを容量Cs1に取り込む。
次に、スイッチFRS0及びFRS1をオンした状態で、VRAMP信号のレベルを直線的に増加させ、スイッチRI0,RI1をオンさせることにより、n行目の画素信号とn+2行目の画素信号の加算平均値が前段回路211の出力ノードN3に出力され、さらにこの加算平均値がインバータINV1、スイッチ回路SC、インバータINV2,及びインバータINV3を介して後段回路210bの出力ノードN4に出力される。
この加算法では、両入力画素信号から連続的な(つまりリニアな)画素信号の加算平均値(以下、画素加算平均値ともいう。)を実現することができる。
特開平9−46596号公報
しかしながら、上記従来の第1の画素加算法では、ベイヤー配列で同色画素を加算するには4n(nは自然数)画素を共有する必要があるために、転送トランジスタの数が多くなり(4n個)、各転送トランジスタTrのドレインに接続されるFD部の配線(以下、FD配線ともいう。)が長くなる。これは、画素セルに割当てられている領域にて、フォトダイオードPDのレイアウト領域の占める割合(開口率)の低下を招く。
また、FD配線の増加に伴い、増幅トランジスタ(ソースフォロア)SFTrのゲート容量の増加を招くために、変換ゲインの低下につながる。つまり、フォトダイオードPDで発生した電荷をFD部にて電圧に変換するが、FD部の容量増加に伴い、電荷から電圧への変換率(変換ゲイン)が低下し、効率の悪いものとなる。
また、上述した第2の従来の画素加算方法では、画素データとリセットデータの読出しが、行毎にそれぞれ2回必要となるために、動画像読出しの高速化を実現することができない。
さらには、スイッチング素子が増加するため、ノイズの影響をより受けやすくなり、スイッチング素子に対応する容量の数が増加し、コラムAD部の面積増加をもたらす。
上記のように、従来の第1の画素加算法では、開口率、変換ゲインの低下が生じ、従来の第2の画素加算法では、読出し速度の低下、ノイズの増加等が生ずるといった問題があり、各手法にて、様々な問題点がみられる。
本発明は、上記のような従来の問題点を解決するためになされたもので、静止画像の表示では高解像度画素を達成し、小型モニター画像の表示では、モアレの無い、高速読出しを実現することができる固体撮像装置およびその駆動方法、並びにこのような固体撮像装置を用いた電子情報機器を得ることを目的とする。
本発明に係る固体撮像装置は、複数の画素を行列状に配列してなる画素アレイと、該各列の画素に対応するよう設けられ、該画素に対応する画素信号を読み出すための垂直信号線と、該垂直信号線に読み出された画素信号を処理する信号処理回路とを備えた固体撮像装置であって、該各画素は、光電変換により信号電荷を生成する光電変換素子と、該光電変換素子で生成された信号電荷を蓄積する電荷蓄積部と、該光電変換素子から信号電荷を該電荷蓄積部に転送する転送トランジスタと、該電荷蓄積部での信号電荷の蓄積により生成された信号電圧を増幅して読み出す増幅トランジスタとを有し、該画素アレイは、異なる増幅トランジスタに接続された転送トランジスタが同時にオンしたとき、対応する電荷蓄積部の信号電圧により、該異なる増幅トランジスタの出力信号を1つの垂直信号線に出力して、複数の画素の画素信号の平均化を行う画素平均化回路を有しており、該信号処理回路は、該画素平均化回路から出力される画素加算平均値をアナログ値からデジタル値にAD変換するAD変換回路と、決められたアルゴリズムに従って、該画素信号の読み出しの対象となる対象画素と同じ列の近傍画素のレベルに基づいて、該AD変換された画素加算平均値を、これが理想加算平均値に近づくよう補正する補正回路とを備えており、そのことにより上記目的が達成される。
本発明は、上記固体撮像装置において、前記画素アレイは、隣接する光電変換素子に接続された2つの転送トランジスタの出力を1つの増幅トランジスタのゲートに接続した2画素共有構造を有することが好ましい。
本発明は、上記固体撮像装置において、前記画素アレイは、異なる色の画素を所定の順序で繰り返し配列してなるものであり、前記画素平均化回路は、同じ列の同色の2画素の画素信号を、これらの画素の画素信号が平均化されるよう加算して画素加算平均値を出力することが好ましい。
本発明は、上記固体撮像装置において、前記各垂直信号線に定電流を供給して、前記増幅トランジスタとともにソースフォロア回路を構成するよう、該垂直信号線に接続された定電流源を備え、前記複数の画素の画素信号の平均化を行う際には、該定電流源の電流供給能力を、前記画素平均化回路を構成する増幅トランジスタの動作範囲が拡大するよう増大させることが好ましい。
本発明は、上記固体撮像装置において、前記複数の画素の画素信号の平均化を行う際には、前記定電流源の電流供給能力の増大により、前記画素平均化回路を構成する複数の増幅トランジスタのうちの、明るい画素からの画素信号を読み出す増幅トランジスタの動作範囲を拡大させることが好ましい。
本発明は、上記固体撮像装置において、前記画素平均化回路は、前記対象画素の画素信号を、該対象画素の近傍に位置する近傍画素の画素信号との間で平均化して画素加算平均値として出力するものであことが好ましい。
本発明は、上記固体撮像装置において、前記補正回路は、前記対象画素の輝度レベルである前記AD変換された画素加算平均値より、該対象画素と同列の最も隣接する2つの同色の隣接画素の輝度レベルが暗い場合であって、該2つの同色の隣接画素のうちの1つの隣接画素の輝度レベルが該対象画素の輝度レベルに対してある閾値以上に暗い場合には、前記対象画素の輝度レベルである前記AD変換された画素加算平均値を、より明るい第1の輝度レベルとなるよう補正することが好ましい。
本発明は、上記固体撮像装置において、前記補正回路は、前記対象画素の輝度レベルである前記AD変換された画素加算平均値より、前記対象画素と同列の最も隣接する2つの同色の隣接画素の輝度レベルが暗い場合であって、該2つの同色の隣接画素の輝度レベルが該対象画素の輝度レベルに対してある閾値以上に暗い場合には、前記対象画素の輝度レベルである前記AD変換された画素加算平均値を、前記第1の輝度レベルよりさらに明るい第2の輝度レベルとなるよう補正することが好ましい。
本発明は、上記固体撮像装置において、前記補正回路は、前記対象画素の輝度レベルである前記AD変換された画素加算平均値より、該対象画素と同列の最も隣接する2つの同色の隣接画素のうちの1つの隣接画素の輝度レベルが明るく、かつ該2つの同色の隣接画素のうちのもう1つの隣接画素の輝度レベルが該対象画素の輝度レベルより暗い場合であって、該2つの隣接画素のうちの明るい方の隣接画素が該対象画素の輝度レベルに対してある閾値以上に明るい場合には、前記対象画素の輝度レベルである前記AD変換された画素加算平均値を、より明るい輝度レベルとなるよう補正することが好ましい。
本発明は、上記固体撮像装置において、前記補正回路は、前記対象画素の輝度レベルである前記AD変換された画素加算平均値より、該対象画素と同列の最も隣接する2つの同色の隣接画素のうちの1つの隣接画素の輝度レベルが明るく、かつ該2つの同色の隣接画素のうちのもう1つの隣接画素の輝度レベルが該対象画素の輝度レベルより暗い場合であって、該2つの隣接画素のうちの暗い方の隣接画素が、該対象画素の輝度レベルに対してある閾値以上に暗い場合には、前記対象画素の輝度レベルである前記AD変換された画素加算平均値を、より明るい輝度レベルとなるよう補正することが好ましい。
本発明は、上記固体撮像装置において、前記補正回路は、前記対象画素の輝度レベルである前記AD変換された画素加算平均値より、該対象画素と同列の最も隣接する2つの同色の隣接画素のうちの1つの隣接画素の輝度レベルが明るく、かつ該2つの同色の隣接画素のうちのもう1つの隣接画素の輝度レベルが該対象画素の輝度レベルより暗い場合であって、該2つの隣接画素のうちの明るい方の隣接画素が、該対象画素の輝度レベルに対してある閾値以上に明るく、かつ該2つの隣接画素のうちの暗い方の隣接画素が、該対象画素の輝度レベルに対してある閾値以上に暗い場合には、前記対象画素の輝度レベルである前記AD変換された画素加算平均値を、前記第2の輝度レベルよりさらに明るい第3の輝度レベルとなるよう補正することが好ましい。
本発明は、上記固体撮像装置において、前記補正回路は、前記対象画素の輝度レベルである前記AD変換された画素加算平均値より、該対象画素と同列の最も隣接する2つの同色の隣接画素の輝度レベルが明るい場合であって、該2つの同色の隣接画素のうちの1つの隣接画素の輝度レベルが該対象画素の輝度レベルに対してある閾値以上の明るい場合には、前記対象画素の輝度レベルである前記AD変換された画素加算平均値を、より明るい輝度レベルとなるよう補正することが好ましい。
本発明は、上記固体撮像装置において、前記補正回路は、前記対象画素の輝度レベルである前記AD変換された画素加算平均値より、該対象画素と同列の最も隣接する2つの同色の隣接画素の輝度レベルが明るい場合であって、該2つの同色の隣接画素の輝度レベルが該対象画素の輝度レベルに対してある閾値以上の明るい場合には、前記対象画素の輝度レベルである前記AD変換された画素加算平均値を、前記第3の輝度レベルよりさらに明るい第4の輝度レベルとなるよう補正することが好ましい。
本発明に係る固体撮像装置の駆動方法は、複数の画素部を行列状に配列してなる画素アレイと、該各列の画素に対応するよう設けられ、該画素に対応する画素信号を読み出すための垂直信号線と、該垂直信号線に読み出された画素信号を処理する信号処理回路とを備え、該各画素部は、光電変換により信号電荷を生成する光電変換素子と、該光電変換素子で生成された信号電荷を蓄積する電荷蓄積部と、該光電変換素子から信号電荷を該電荷蓄積部に転送する転送トランジスタと、該電荷蓄積部での信号電荷の蓄積により生成された信号電圧を増幅して読み出す増幅トランジスタとを有する固体撮像装置を駆動する方法であって、異なる増幅トランジスタに接続された転送トランジスタが同時にオンしたとき、対応する電荷蓄積部の信号電圧により、該異なる増幅トランジスタの出力信号を1つの垂直信号線に出力して、複数の画素の画素信号の平均化を行って画素加算平均値として出力するステップと、該画素加算平均値をアナログ値からデジタル値にAD変換するステップと、決められたアルゴリズムに従って、該画素信号の読み出しの対象となる対象画素と同じ列の近傍画素のレベルに基づいて、該AD変換された画素加算平均値を、これが理想加算平均値に近づくよう補正するステップとを含むものであり、そのことにより上記目的が達成される。
本発明に係る電子情報機器は、被写体の撮像を行う撮像部を備えた電子情報機器であって、該撮像部は、上記固体撮像装置であり、そのことにより上記目的が達成される。
以下、本発明の作用について説明する。
本発明においては、異なる増幅トランジスタに接続された転送トランジスタが同時にオンしたとき、対応する電荷蓄積部の信号電圧により、該異なる増幅トランジスタの出力信号を1つの垂直信号線に出力して、複数の画素の画素信号の平均化を行う画素平均化回路を備えたので、増幅トランジスタ(ソースフォロア)の出力をショートさせることで、同色行信号間にて擬似的な画素加算信号の平均化を行うことができ、これにより、固体撮像装置において、4画素共有構造にて画素加算を行った場合に発生する、開口率の低下や変換ゲインの低下を招くのを回避でき、しかも、読出し速度の低下を招くことがなく、ノイズの影響を大きく受けるのを回避することができる。
以上のように、本発明によれば、異なる増幅トランジスタに接続された転送トランジスタが同時にオンしたとき、対応する電荷蓄積部の信号電圧により、該異なる増幅トランジスタの出力信号を1つの垂直信号線に出力して、複数の画素の画素信号の平均化を行うようにしたので、4画素共有構造にて画素加算を行った場合に発生する、開口率の低下や変換ゲインの低下を招くことはないという効果がある。
また、アナログ値の画素加算により画素信号の平均化を行う手法でみられるような読出し速度の低下を招くことがなく、ノイズの影響を大きく受けることが少なくなるという効果もある。
従って、静止画像の表示では高解像度画素を達成し、小型モニター画像の表示では、モアレの無い、高速読出しを実現することができ、電子スチルカメラの静止画や小画面モニターに対して有効な固体撮像装置を得ることができる。
以下、本発明の実施形態について図面を参照しながら説明する。
(実施形態1)
図1〜図11は、本発明の実施形態1による固体撮像装置を説明する図であり、図1(a)は該固体撮像素子の全体構成を模式的に示し、図1(b)は、この実施形態1の固体撮像装置における画素信号の加算平均化処理を行う画素加算平均化部の構成を示している。また、図2は、該固体撮像素子における画素を構成する画素回路(画素部)を示している。
この実施形態1の固体撮像装置10は、画素を行列状に配列してなる画素アレイ部10aと、画素アレイ部の各画素行を選択する垂直選択回路10bと、画素アレイ部10aの各画素列を選択する水平選択回路10cと、前記垂直選択回路10b及び水平選択回路10cを制御する制御部10dとを有している。
ここで、各画素は、光電変換部としてのフォトダイオードPD0〜PD3と、該フォトダイオードに蓄積した信号電荷を電荷検出部FD0、FD1に転送する転送トランジスタTr0〜Tr3と、該転送トランジスタのドレインが接続された電荷検出部の電位をVR電位(例えば電源電位)にリセットするリセットトランジスタRStr0及びRStr1と、該電荷検出部FDの電位を増幅する増幅トランジスタSFTr0及びSFTr1とを備えている。
また、上記画素アレイ部10aには、各画素列毎に垂直信号線Vsigが設けられ、各画素列の画素は、対応する垂直信号線に接続されている。該垂直信号線Vsigには、該垂直信号線に読み出された電荷検出部FDの電位を信号処理して、各画素の画素データ(画素信号)を生成する信号処理回路が接続されている。なお、この信号処理回路は、上記水平選択回路110cに含まれている。
ここで、画素アレイ10aにおける画素を構成する画素回路100は、上記電荷蓄積部にて作成された信号電荷を転送する2つの転送トランジスタのドレインを1つの増幅トランジスタのゲートに接続したいわゆる2画素共有構造となっている。
また、上記画素回路100は、増幅トランジスタ(ソースフォロア)SFTr0及びSRTr1の出力をショートさせることで、同色行信号間にて擬似的画素加算平均化信号を作成するSF出力ショート回路110を有している。
また、上記水平選択回路10cは、この作成された擬似的画素加算平均化信号(アナログ信号)をデジタル信号に変換するコラムAD部120と、デジタルデータ補正アルゴリズムに従って、作成されたデジタル信号に補正処理を施すことによって、加算された信号を理想的な平均画像を表す画像信号に近づけるデジタルデータ補正回路130とを有している。
以下、図2を用いて、具体的に、画素回路における4つの画素が形成されている部分について説明する。
この画素回路100は、フォトダイオードPD0〜PD3からなる複数の光電変換素子と、光電変換素子から信号電荷を電荷蓄積部に転送する転送トランジスタTr0〜Tr3と、電荷蓄積部の電位をリセットするリセットトランジスタRStr0及びRStr1と、ソース側が信号線に接続され、電荷蓄積部の電位を増幅して信号線に読み出す増幅トランジスタSFTr0及びSFTr1とを有している。
ここでは、1つのフォトダイオードとこれに対応する1つの転送トランジスタとが1画素毎に設けられており、該フォトダイオードは2次元行列状に配列されている。そして画素を形成する画素回路100では、同一画素行における2つのフォトダイオードPD0及びPD1に対応する2つの転送トランジスタTr0及びTr1とが、1つのリセットトランジスタTrs及び1つの増幅トランジスタSFTr0を共有し、同一画素行における2つのフォトダイオードPD2及びPD3に対応する2つの転送トランジスタTr2及びTr3が、1つのリセットトランジスタTrsb及び1つの増幅トランジスタSFTr1を共有している。つまり、この画素回路はいわゆる2画素共有構造となっている。
具体的には、上記複数のフォトダイオードPD0及びPD1が、対応する転送トランジスタTr0及びTr1を介して、1つの電荷蓄積部であるフローティングディフュージョン部FD0に接続され、該フローティングディフュージョン部FD0には1つの増幅トランジスタSFTr0のゲートが接続されている。この増幅トランジスタSFTr0のソースは垂直信号線Vsigに接続され、そのドレインは電源ラインに接続されている。また、該転送トランジスタTr0及びTr1のゲートには制御信号TX0及びTX1が印加されるようになっている。また、フローティングディフュージョン部FD0とリセット電圧VRとの間にはリセットトランジスタRSTr0が接続されており、該リセットトランジスタRStr0のゲートにはリセット信号RS0が入力されるようになっている。
また、上記複数のフォトダイオードPD2及びPD3が、対応する転送トランジスタTr2及びTr3を介して、1つの電荷蓄積部であるフローティングディフュージョン部FD1に接続され、該フローティングディフュージョン部FD1には1つの増幅トランジスタSFTr1のゲートが接続されている。この増幅トランジスタSFTr1のソースは垂直信号線Vsigに接続され、そのドレインは電源ラインに接続されている。また、該転送トランジスタTr2及びTr3のゲートには制御信号TX2及びTX3が印加されるようになっている。また、フローティングディフュージョン部FD1とリセット電圧VRとの間にはリセットトランジスタRSTr1が接続されており、該リセットトランジスタRSTr1のゲートにはリセット信号RS1が入力されるようになっている。
なお、図中、Lは定電流源であり、該定電流源Lは接地ラインと上記増幅トランジスタSFTr0及びSFTr1の共通ドレインとの間に接続されている。また、図2では、FD部と接地ラインとの間の容量は図示していない。また、実施形態1においても、フォトダイオードPD0およびPD2には、赤色画素を構成するよう赤色カラーフィルターが用いられており、フォトダイオードPD1およびPD3には、緑色画素を構成するよう緑色カラーフィルターが用いられている。
次に動作について説明する。
この固体撮像装置では、増幅トランジスタSFTrの出力をショートさせるSF出力ショート回路110にて、同色行信号間にて擬似的な画素加算平均化信号が作成される。
ここで、上記SF出力ショート回路110では、同色の奇数行間データ加算、及び、同色の偶数行間データ加算は、該当する増幅トランジスタSFTrの出力をショートすることにて行われる。
次に、コラムAD部120にて、この作成された擬似的画素加算平均化信号(アナログ信号)がデジタル信号に変換される。
次に、補正回路130にて、デジタルデータ補正アルゴリズムに従って、作成されたデジタル信号に補正を掛けることによって、擬似的画素信号の加算値を理想的な平均画素信号に近づける。
以下、具体的に説明する。
例えば、偶数行の画素加算動作の場合には、例えば、0行目の画素と2行目の画素に対応する増幅トランジスタSFTr0及びSFTr2の出力ショートを実行する場合、転送トランジスタTr0およびTr2がオンするように、その制御信号TX0及びTX2をHレベルとする。そして、増幅トランジスタSFTr0及びSFTr1の増幅データを垂直信号線Vsigに出力する。
また、奇数行の画素加算動作の場合には、例えば、1行目の画素と3行目の画素に対応する増幅トランジスタSFTr1及びSFTr3の出力ショートを実行する場合、転送トランジスタTr1およびtr3がオンするように、その制御信号TX1及びTX3をHレベルとする。これにより、増幅トランジスタSFTr0及びSFTr1の増幅データが垂直信号線Vsigに出力される。
このように2つの増幅トランジスタSFTrの出力をショートさせることによって、擬似的な画素信号の加算平均化値を得ることができる。
次に、上記SF出力ショート回路110から出力される実使用時の画素平均値出力と、理想的な平均画像信号との誤差を抽出する方法について説明する。
図3は、この誤差を検出する処理を説明する図であり、図1におけるショート回路を示している。なお、図3では、図1におけるフォトダイオード、転送トランジスタ、及びリセットトランジスタは省略している。
図3(a)に示すように、画素間の理想加算平均値を取得するために、各画素IN0,IN1の理想平均入力値(IN0+IN1)/2を、増幅トランジスタSFTr0およびSFTr1の転送ゲートに入力し、理想画素平均値を垂直信号線Vsigに出力する。
次に、図3(b)に示すように、画素の画素値IN0,IN1をそれぞれ増幅トランジスタSFTr0およびSFTr1に入力し、実使用時の画素平均値を垂直信号線Vsigに出力する。
図4(a)には、この2入力IN0,IN1の入力レベル相対値と理想画素加算平均値との入出力特性を示している。また、図4(b)には、図2および図3(b)に示すSF出力ショート回路を使用した場合の、2入力IN0,IN1の入力レベル相対値とSF出力ショート結果との入出力特性を示す。
図4(a)に示す理想画素平均値と、図4(b)に示すSF出力ショートにより得られる画素値(以下、SF出力ショート画素値という。)では、図4(b)に示すように、2入力値が近似している場合には、SF出力ショート画素値と理想画素平均値とがほぼ一致しているとみなすことができる(領域Rb参照)。
しかし、2入力値のレベル差が大きくなるに従って、SF出力ショート画素値と理想画素平均値との出力値誤差が拡大する結果となっている。図4(b)では、点線で示す理想画素加算平均値に対する誤差として、誤差E2及びE1が示されており、入力差の大きい場合の誤差E2が、入力差の小さい場合の誤差E1より大きくなっている。
また、加算する入力レベルがどのような状態であろうと、画素加算平均値は暗いレベルに引っ張られる。
このような結果に陥る原因を究明するために行った、SF出力ショート回路中の増幅トランジスタSFTr0及びSFTr1の動作解析が図5に示されている。
図5では、例えば、明るい光を受けたフォトダイオードPD2と暗い光を受けたフォトダイオードPD0につながる転送トランジスタTr0及びTr2が、同時にオンした場合の増幅トランジスタSFTr0及びSFTr1の動作を示す。
図5中、増幅トランジスタSFTr0のゲート−ソース間の電位差をVgsd,増幅トランジスタSFTr1のゲート−ソース間の電位差をVgsl、増幅トランジスタSFTr0のゲートレベルをVid、増幅トランジスタSFTr1のゲートレベルをVilとしている。
また、この場合、明るい画素の信号電圧を読出す増幅トランジスタSFTr1がオフ状態となる時の、両増幅トランジスタSFTr0およびSFTr1のゲートレベル電位差を解析すると、以下のようになる。
増幅トランジスタSFTr1がオフ状態では、下記(1)式に示すとおり、ゲートソース電位差は、閾値Vthより小さくなっている。
Vgsl−Vth < 0 (1)
増幅トランジスタSFTr1のゲートソース電位差は、下記(2)式で表される。
Vgsl = Vil − Vo (2)
そして、このとき、増幅トランジスタSFTr0はトランジスタ飽和動作となり、電流値Iは、以下の式(3)で表される。
I= 1/2・β・(Vgsd−Vth) (3)
上式(1)、(2),(3)から、両増幅トランジスタSFTrのゲート電位レベルの関係は以下のように導出される。
図5に示す回路構成から、Vgsd = Vid−Vo (3A) が成り立つ。
(3A)式を(3)式に代入すると、以下の(3B)式が得られる。
I= 1/2・β・(Vid−Vo−Vth)
(Vid−Vo−Vth) = √(2・I/β)
Vo+Vth = Vid − √(2・I/β) (3B)
また、(1)式、(2)式より以下の(3C)式が得られる。
Vil - Vo -Vth < 0
Vil < Vo + Vth (3C)
(3C)式に(3B)式を代入して以下のように(4)式が得られる。
Vil < Vid - √(2・I/β) (V) (4)
ここでは、この(4)式に、β=232μ(A/V),I=2.53μ(A)を代入し、以下の(5)の条件式を得ている。
Vil < Vid − 0.142 (V) (5)
該増幅トランジスタSFTrのゲインを0.9とすると、両SFTrのソース電位レベル差は0.127Vとなる。
上記解析結果より、極端に明るい画素と暗い画素の2つの画素の加算平均を得るために、2つの増幅トランジスタSFTrの出力をショートさせる動作を行う場合には、両増幅トランジスタSFTrのソースレベル差が0.127V以上となるときは、明るい画素を増幅する増幅トランジスタSFTrがオフ動作となり、暗い画素を増幅する増幅トランジスタSFTrのみがオン動作となる。
従って、両者の加算平均を取る目的であっても、暗い画素のみのデータとなり、加算平均結果は暗い方向にひっぱられる結果となる。
従って、この状態に陥る閾値(両増幅トランジスタSFTrのソースレベル電位差)は0.127Vとなる。
上述したように、加算平均の対象となる2画素からの電荷データ、つまり増幅トランジスタSFTrのゲートレベルのレベル差が大きくなるに従って、SF出力ショート画素値と理想画素平均値との出力値誤差が拡大する。
また、加算する入力レベルがどのような状態であろうと、画素加算平均値は暗いレベルに引っ張られる。
本実施形態では、このような解析結果に基づいて、補正の対象となる画素とその画素の前後(レイアウト上下)画素のレベルに基づき、以下のような、画素レベルの補正アルゴリズムを策定している。
1)暗(上部画素)−明(補正対象画素)−暗(下部画素)[補正対象画素と隣接画素レベルの関係]の場合
この場合、明画素(補正対象画素)Pxのレベルは、その両側の隣接画素Pn1及びPn2より明るいレベルであるので、明画素(補正対象画素)のレベルは出力に影響を与えていない範囲であると考えられる。このパターンは、明るさを保つ以上、暗画素の影響は少ない模様のパターンである。
但し、どちらかの隣接画素Pn1あるいはPn2、またはその両方が補正対象画素Pxより所定の閾値THDC以上暗い場合は補正を行う。
ここで、閾値THDCは、隣接画素Pn1あるいはPn2が補正対象画素Pxより暗い場合の、補正を行うか否かの判定基準となる閾値のデジタル値を示す。
この明るさと画素位置との関係を図6(a)に示す。
2)暗(明)(上部画素)−明(補正対象画素)−明(暗)(下部画素)[補正対象画素と隣接画素レベルの関係]の場合
この場合、補正対象画素Pxの明るさレベルと隣接の明画素Pn1あるいはPn2の明るさレベルとの間に、補正対象画素Pxの明るさレベルの真値があるはずである。
補正対象画素Pxに対して、明るい側の画素(隣接画素)Pn2がTHLC以上明るい場合、または暗い側の画素(隣接画素)が閾値THDC以上暗い場合は、あるいはその両方の場合に、画素加算平均値の補正を行う。
閾値THLCは隣接画素が補正対象画素より明るい場合の、補正を行うか否かの判定基準となる閾値のデジタル値を示す。
この明るさと画素位置との関係を図6(b)に示す。
3)明(上部画素)−暗(補正対象画素)−明(下部画素)[補正対象画素と隣接画素レベルの関係]の場合
この場合、補正対象画素Pxと隣接画素Pn1及びPn2のどちらかとの間に真値があると考えられる。
どちらかの隣接画素またはその両方の隣接画素が補正対象画素の明るさレベルより閾値THLC以上明るい場合、画素加算平均値の補正をする。
この明るさと画素位置との関係を図6(c)に示す。
また、この実施形態では、補正値、つまり補正前の画素加算平均化値に加える値を、例えば以下のように定めており、以下に示す方法は1つの例である。
1)補正対象画素と隣接画素との明るさレベルの関係が、暗(上部画素Pn1)−明(補正対象画素Px)−暗(下部画素Pn2)となっている場合は、以下のとおり補正値(画素加算平均化値)を決定する。
補正後の値=補正前の値+NOEFFC/8
但し、NOEFFCは、2つの増幅トランジスタSFTrの出力ショート時に画素加算平均化値が、明るい方の画素に対応する増幅トランジスタSFTrの影響を受けない時の、該両増幅トランジスタの2つの入力の電位差[デジタル値]である。
2)補正対象画素と隣接画素との明るさレベルの関係が、暗(明)(上部画素Pn1)−明(補正対象画素Px)−明(暗)(下部画素Pn2)となっている場合は、以下のとおり補正後の値(画素加算平均値)を決定する。
補正後の値=(明るい方の隣接画素の値−補正前の値)/8+補正前の値
3)補正対象画素と隣接画素との明るさレベルの関係が、明(上部画素Pn1)−暗(補正対象画素Px)−明(下部画素Pn2)となっている場合は、以下のとおり補正値(画素加算平均値)を決定する。
補正後の値=(明るい方の隣接画素の値−補正前の値)/8+補正前の値
但し、この補正値は、上記SF出力ショート結果(画素加算平均値)が暗いレベルに引っ張られるという傾向から導出した1例に過ぎない。
さらには、前記対象画素の輝度レベルである前記AD変換された画素加算平均値より、該対象画素と同列の最も隣接する2つの同色の隣接画素の輝度レベルが暗い場合であって、該2つの同色の隣接画素のうちの1つの隣接画素の輝度レベルが該対象画素の輝度レベルに対してある閾値以上に暗い場合に、前記対象画素の輝度レベルである前記AD変換された画素加算平均値を補正するレベルを、第1の輝度レベルとして、その他の場合の補正の輝度レベルを以下のように決定してもよい。
例えば、前記対象画素の輝度レベルである前記AD変換された画素加算平均値より、前記対象画素と同列の最も隣接する2つの同色の隣接画素の輝度レベルが暗い場合であって、該2つの同色の隣接画素の輝度レベルが該対象画素の輝度レベルに対してある閾値以上に暗い場合には、前記対象画素の輝度レベルである前記AD変換された画素加算平均値を、前記第1の輝度レベルよりさらに明るい第2の輝度レベルとなるよう補正する。
また、前記対象画素の輝度レベルである前記AD変換された画素加算平均値より、該対象画素と同列の最も隣接する2つの同色の隣接画素のうちの1つの隣接画素の輝度レベルが明るく、かつ該2つの同色の隣接画素のうちのもう1つの隣接画素の輝度レベルが該対象画素の輝度レベルより暗い場合であって、該2つの隣接画素のうちの明るい方の隣接画素が、該対象画素の輝度レベルに対してある閾値以上に明るく、かつ該2つの隣接画素のうちの暗い方の隣接画素が、該対象画素の輝度レベルに対してある閾値以上に暗い場合には、前記対象画素の輝度レベルである前記AD変換された画素加算平均値を、前記第2の輝度レベルよりさらに明るい第3の輝度レベルとなるよう補正する。
さらには、前記対象画素の輝度レベルである前記AD変換された画素加算平均値より、該対象画素と同列の最も隣接する2つの同色の隣接画素の輝度レベルが明るい場合であって、該2つの同色の隣接画素の輝度レベルが該対象画素の輝度レベルに対してある閾値以上の明るい場合には、前記対象画素の輝度レベルである前記AD変換された画素加算平均値を、前記第3の輝度レベルよりさらに明るい第4の輝度レベルとなるよう補正する。
以下に、上記補正アルゴリズムを使用して画素加算平均値の補正を行った場合の補正の効果をSPICEシミュレーションにて確認した結果を示している。
理想平均値(SF入力平均:(IN0+IN1)/2)を増幅トランジスタに入力した場合に垂直信号線に読み出される信号レベルと、SF出力ショート結果として垂直信号線に読み出される信号レベルとをSPICEでシミュレーションしており、このときの入力条件を以下に示す。
1)入力周期TT=2行〜20行,STEP=1行
2)位相PHASE=0〜35/36π,STEP=1/36π
この条件で、DCシミュレーション実施している。
入力波形(SINカーブ:入力レベル,周期,位相)と各画素(行)との関係を図7に示している。例えば、図7には、サイン波形を有する入力レベルの値が、512個の画素からなる各画素行に対して、2周期にわたって変化している様子を示している。つまり、0〜2行目の画素に対応する増幅トランジスタSFTrに入力されるべき入力レベルが、該サイン波形の点D0〜D2により示されている。509〜511行目の画素に対応する増幅トランジスタSFTrに入力されるべき入力レベルが、該サイン波形の点D509〜D511により示されている。
最大入力レベルは、リセットレベル(RSTレベル)に一致しており、最小値と最大値との差は800mVである。
図8〜図11は、シミュレーション結果を示す。
図8には、入力波形周期TT=20〜18行(図8(a)〜図8(c))にて、補正前と補正後にて理想平均からの誤差を比較している。
入力波形周期(TT=18)以上では補正はかからないが、増幅トランジスタの閾値などの変更次第で、補正がかかるようにすることもできる。
もともとの誤差も比較的小さい。例えば、75LSBrms@12bit以下である。つまり、誤差は、正弦波のRMS値を12ビットで表した場合の最小ビットの値の75倍以下であり、8bit換算で7LSBrms程度となる。
図9には、入力波形周期TT=17〜12行(図9(a)〜図9(f))にて、補正前と補正後にて理想平均からの誤差を比較している。
この場合、補正効果が確認できる結果が得られた。
図10には、入力波形周期TT=11〜7行(図10(a)〜図10(e))にて、補正前と補正後にて理想平均からの誤差を比較している。
この場合も、補正効果が確認できる結果が得られた。
図11には、入力波形周期TT=6〜2行(図11(a)〜図11(e))にて、補正前と補正後にて理想平均からの誤差を比較補正効果が確認できる結果が得られた。
TT=4では位相によっては補正値の誤差が大きくなる場合がみられる。
高周波側での大きな改善効果はないが、10〜30%程度の改善のみ見られる。
TT=3,4では位相によっては補正がかからない。
TT=2では補正はかからない。
この場合、アルゴリズムの限界のため、前後の画素の画素信号からその補正値は全く推測できない。
このように本実施形態1では、同時に2つの転送トランジスタをオンさせ、2つの電荷蓄積部の電荷を読み出し、異なる2つの増幅トランジスタSFTr0及びSFTr1の出力を垂直信号線に出力することによって、2画素データの画素加算平均を取得する手段を有し、前記2画素データの画素加算平均は、同じ列の同色の画素データを加算するので、4画素共有構造にて、画素加算を行った場合に発生する、開口率の低下や変換ゲインの低下を招くことはないという効果がある。
また、2つの増幅トランジスタの出力を垂直信号線Vsigに出力することによって得られた画素加算平均化値を、加算の対象となる対象画素と、これに隣接する隣接画素との明るさレベルの関係に基づいて補正するので、加算平均結果が暗い方向にひっぱられるのを防止することができる。
(実施形態2)
図12は、本発明の実施形態2による固体撮像装置を説明する図である。
この実施形態2の固体撮像装置を構成する画素回路100aは、実施形態1での加算平均画素値を補正する処理に変えて、画素加算平均を取得する場合には、定電流源Laの供給能力を増加させ、明るい画素を読み出す増幅トランジスタの動作範囲を拡大させ、画素加算平均動作の動作範囲を拡大させるようにしたものであり、その他の構成は実施形態1のものと同一である。
前記実施形態1に示したSF出力ショート回路110は、増幅トランジスタSFTrの出力をショートさせて、画素加算平均値を出力するものである。
しかし、図5に示したように、画素信号を加算する両画素の電荷レベルが極端に異なる場合には、明るい画素を増幅するトランジスタのソースレベルが上昇し、増幅動作が機能しなくなる場合がある。
本実施形態2はこの点を改善したものであり、図12に示すように、増幅トランジスタSFTr、垂直信号線Vsig、及び低電流源CIにより構成されるソースフォロア回路において、低電流源Laの供給能力CIを上昇させ、出力レベルVoを低下させるようにしている。
実施形態1における、図5にて示した以下の条件式(1),(2),(3)より、トランジスタSFTr1がオフ状態で式(1)がなりたつ。
Vgsl−Vth < 0 (1)
トランジスタSFTr1のゲートソース電位差は式(2)で示される。
Vgsl = Vil − Vo (2)
トランジスタSFTr0はトランジスタ飽和動作時に式(3)で示される電流を供給する。
I= 1/2・β・(Vgsd−Vth) (3)
上式(1),(2),(3)から両SFTrのゲート電位レベルの関係は以下のように導出される。
図5に示す回路構成から、Vgsd = Vid−Vo (3A) が成り立つ。
(3A)式を(3)式に代入すると、以下のように(3B)式が得られる。
I= 1/2・β・(Vid−Vo−Vth)
(Vid−Vo−Vth) = √(2・I/β)
Vo+Vth = Vid − √(2・I/β) (3B)
また、(1)式、(2)式より以下の(3C)式が得られる。
Vil - Vo -Vth < 0
Vil < Vo + Vth (3C)
(3C)式に(3B)式を代入して以下のように(4)式が得られる。
Vil < Vid − √(2・I/β) (V) (4)
実施形態1では、β=232μ(A/V2),I=2.53μ(A)を代入し、以下の(5)の条件式を得ている。
Vil < Vid − 0.142 (V) (5)
本実施形態2では、低電流源CIの電流供給能力を2倍とした場合には、I=5.06μ(A),β=232μ(A/V2)を(4)式に代入することにより、(6)式が導出される。
Vil < Vid − 0.209 (V) (6)
つまり、(4)式と(6)式を比較すると、低電流源CIの電流供給能力を2倍することにより、ゲートレベルVilとVidの差が、0.209 − 0.142 = 0.067 V となる。
この場合、増幅トランジスタSFTrのゲートレベルにて、0.067V低いレベル(すなわち実施形態1よりも明るいレベル)まで明るい画素の加算平均動作が可能となる。
このように本実施形態2では、画素の加算平均を出力する場合には、ソースフォロア回路の低電流源の能力を上昇させ、明るい画素を増幅するトランジスタの動作範囲を拡大させ、画素加算平均を取得する動作範囲を拡大させるので、実施形態1に比べてよりも明るいレベルの画素に対しても加算平均動作が可能となる。
また、この実施形態2の画素加算平均化手法に、実施形態1にて示したデジタル補正アルゴリズムを追加することで、より理想地に近い画素加算平均化値を取得することは有効な手法である。
さらに、上記実施形態1および2では、特に説明しなかったが、上記実施形態1および2の固体撮像装置の少なくともいずれかを撮像部に用いた、例えばデジタルビデオカメラ、デジタルスチルカメラなどのデジタルカメラや、画像入力カメラ、スキャナ、ファクシミリ、カメラ付き携帯電話装置などの、画像入力デバイスを有した電子情報機器について以下簡単に説明する。
(実施形態3)
図13は、本発明の実施形態3として、実施形態1あるいは2の固体撮像装置を撮像部に用いた電子情報機器の概略構成例を示すブロック図である。
図13に示す本発明の実施形態3による電子情報機器90は、本発明の上記実施形態1および2の固体撮像装置の少なくともいずれかを、被写体の撮影を行う撮像部91として備えたものであり、このような撮像部による撮影により得られた高品位な画像データを記録用に所定の信号処理した後にデータ記録する記録メディアなどのメモリ部92と、この画像データを表示用に所定の信号処理した後に液晶表示画面などの表示画面上に表示する液晶表示装置などの表示部93と、この画像データを通信用に所定の信号処理をした後に通信処理する送受信装置などの通信部94と、この画像データを印刷(印字)して出力(プリントアウト)する画像出力部95とのうちの少なくともいずれかを有している。
以上のように、本発明の好ましい実施形態を用いて本発明を例示してきたが、本発明は、この実施形態に限定して解釈されるべきものではない。本発明は、特許請求の範囲によってのみその範囲が解釈されるべきであることが理解される。当業者は、本発明の具体的な好ましい実施形態の記載から、本発明の記載および技術常識に基づいて等価な範囲を実施することができることが理解される。本明細書において引用した特許、特許出願および文献は、その内容自体が具体的に本明細書に記載されているのと同様にその内容が本明細書に対する参考として援用されるべきであることが理解される。
本発明は、画素からの信号電荷を信号電圧に変換する、異なる画素に対応する複数の増幅トランジスタの出力信号を、異なる画素の画素信号の擬似的な加算値が得られるよう信号線に出力する固体撮像装置、及び該異なる画素の画素信号の擬似的な加算値が得られるよう固体撮像装置を駆動する方法、並びにこのような固体撮像装置を用いた電子情報機器の分野において、静止画像の表示では高解像度画素を達成し、小型モニター画像の表示では、モアレの無い、高速読出しを実現することができる。
図1は本発明の実施形態1による固体撮像装置を説明する図であり、図1(a)は該固体撮像素子の全体構成を模式的に示し、図1(b)は、この実施形態1の固体撮像装置における画素加算処理を行う画素加算部の構成を示している。 図2は、上記実施形態1の固体撮像装置におけるSF出力ショート回路を説明する図である。 図3は、上記SF出力ショート回路110から出力される実使用時の画素平均値出力(図(b))と、理想的な平均画像信号(図(a))との誤差を抽出する方法を説明する図である。 図4(a)は、2入力IN0,IN1の入力レベル相対値と理想画素加算平均値との入出力特性を示す図、図4(b)は、図2および図3(b)に示すSF出力ショート回路を使用した場合の、入力レベル相対値とSF出力ショート結果との入出力特性を示す図である。 図5は、明るい光を受けたフォトダイオードPD2と暗い光を受けたフォトダイオードPD0にて同時に転送Tr0及びTr2がオンした場合のSFTr0及びSFTr1の動作を示す図である。 図6は、補正対象画素と隣接画素との明るさレベルの関係として3つの関係(図(a)〜図(c))を示す図である。 図7は、画素加算平均値の補正効果をSPICEシミュレーションにて確認する方法を説明する図である。 図8は、シミュレーション結果を示す図であり、入力波形周期がTT=20〜18行(図8(a)〜図8(c))である場合を示している。 図9は、シミュレーション結果を示す図であり、入力波形周期がTT=17〜12行である場合(図9(a)〜図9(f))を示している。 図10は、シミュレーション結果を示す図であり、入力波形周期がTT=11〜7行である場合(図10(a)〜図10(e))を示している。 図11は、シミュレーション結果を示す図であり、入力波形周期がTT=6〜2行である場合(図11(a)〜図11(e))を示している。 図12は、本発明の実施形態2による固体撮像装置を説明する図である。。 図13は、本発明の実施形態3として、実施形態1あるいは2の固体撮像装置を撮像部に用いた電子情報機器の概略構成例を示すブロック図である。 図14は、特許文献1に示された画素加算方法(第1の画素加算法)を説明する図であり、CMOS型の固体撮像装置における画素回路を示している。 図15は、従来のその他の画素加算方法(第2の画素加算法)を説明する図であり、図15(a)は、画素加算処理を行う信号処理回路を示し、図15(b)は、該信号処理回路における各スイッチのオンオフタイミングを示している。
符号の説明
90 電子情報機器
91 撮像部
92 メモリ部
93 表示手段
94 通信手段
95 画像出力手段
10 固体撮像装置
10a 画素アレイ部
10b 垂直選択回路
10c 水平選択回路
110 SF出力ショート回路
120 コラムAD部
130 デジタルデータ補正回路
L 定電流源
PD0〜PD3 フォトダイオード
SFTr0、SRTr1 増幅トランジスタ(ソースフォロア)
Tr2、Tr3 転送トランジスタ

Claims (15)

  1. 複数の画素を行列状に配列してなる画素アレイと、該各列の画素に対応するよう設けられ、該画素に対応する画素信号を読み出すための垂直信号線と、該垂直信号線に読み出された画素信号を処理する信号処理回路とを備えた固体撮像装置であって、
    該各画素は、光電変換により信号電荷を生成する光電変換素子と、該光電変換素子で生成された信号電荷を蓄積する電荷蓄積部と、該光電変換素子から信号電荷を該電荷蓄積部に転送する転送トランジスタと、該電荷蓄積部での信号電荷の蓄積により生成された信号電圧を増幅して読み出す増幅トランジスタとを有し、
    該画素アレイは、
    異なる増幅トランジスタに接続された転送トランジスタが同時にオンしたとき、対応する電荷蓄積部の信号電圧により、該異なる増幅トランジスタの出力信号を1つの垂直信号線に出力して、複数の画素の画素信号の平均化を行う画素平均化回路を有しており、
    該信号処理回路は、
    該画素平均化回路から出力される画素加算平均値をアナログ値からデジタル値にAD変換するAD変換回路と、
    決められたアルゴリズムに従って、該画素信号の読み出しの対象となる対象画素と同じ列の近傍画素のレベルに基づいて、該AD変換された画素加算平均値を、これが理想加算平均値に近づくよう補正する補正回路と
    を備えている固体撮像装置。
  2. 前記画素アレイは、隣接する光電変換素子に接続された2つの転送トランジスタの出力を1つの増幅トランジスタのゲートに接続した2画素共有構造を有する請求項1に記載の固体撮像装置。
  3. 前記画素アレイは、異なる色の画素を所定の順序で繰り返し配列してなるものであり、
    前記画素平均化回路は、同じ列の同色の2画素の画素信号を、これらの画素の画素信号が平均化されるよう加算して画素加算平均値を出力する請求項2に記載の固体撮像装置。
  4. 前記各垂直信号線に定電流を供給して、前記増幅トランジスタとともにソースフォロア回路を構成するよう、該垂直信号線に接続された定電流源を備え、
    前記複数の画素の画素信号の平均化を行う際には、該定電流源の電流供給能力を、前記画素平均化回路を構成する増幅トランジスタの動作範囲が拡大するよう増大させる請求項1に記載の固体撮像装置。
  5. 前記複数の画素の画素信号の平均化を行う際には、前記定電流源の電流供給能力の増大により、前記画素平均化回路を構成する複数の増幅トランジスタのうちの、明るい画素からの画素信号を読み出す増幅トランジスタの動作範囲を拡大させる請求項4に記載の固体撮像装置。
  6. 前記画素平均化回路は、前記対象画素の画素信号を、該対象画素の近傍に位置する近傍画素の画素信号との間で平均化して画素加算平均値として出力するものである、請求項3に記載の固体撮像装置。
  7. 前記補正回路は、
    前記対象画素の輝度レベルである前記AD変換された画素加算平均値より、該対象画素と同列の最も隣接する2つの同色の隣接画素の輝度レベルが暗い場合であって、該2つの同色の隣接画素のうちの1つの隣接画素の輝度レベルが該対象画素の輝度レベルに対してある閾値以上に暗い場合には、
    前記対象画素の輝度レベルである前記AD変換された画素加算平均値を、より明るい第1の輝度レベルとなるよう補正する請求項6に記載の固体撮像装置。
  8. 前記補正回路は、
    前記対象画素の輝度レベルである前記AD変換された画素加算平均値より、前記対象画素と同列の最も隣接する2つの同色の隣接画素の輝度レベルが暗い場合であって、該2つの同色の隣接画素の輝度レベルが該対象画素の輝度レベルに対してある閾値以上に暗い場合には、
    前記対象画素の輝度レベルである前記AD変換された画素加算平均値を、前記第1の輝度レベルよりさらに明るい第2の輝度レベルとなるよう補正する請求項6または7に記載の固体撮像装置。
  9. 前記補正回路は、
    前記対象画素の輝度レベルである前記AD変換された画素加算平均値より、該対象画素と同列の最も隣接する2つの同色の隣接画素のうちの1つの隣接画素の輝度レベルが明るく、かつ該2つの同色の隣接画素のうちのもう1つの隣接画素の輝度レベルが該対象画素の輝度レベルより暗い場合であって、該2つの隣接画素のうちの明るい方の隣接画素が該対象画素の輝度レベルに対してある閾値以上に明るい場合には、
    前記対象画素の輝度レベルである前記AD変換された画素加算平均値を、より明るい輝度レベルとなるよう補正する請求項6に記載の固体撮像装置。
  10. 前記補正回路は、
    前記対象画素の輝度レベルである前記AD変換された画素加算平均値より、該対象画素と同列の最も隣接する2つの同色の隣接画素のうちの1つの隣接画素の輝度レベルが明るく、かつ該2つの同色の隣接画素のうちのもう1つの隣接画素の輝度レベルが該対象画素の輝度レベルより暗い場合であって、該2つの隣接画素のうちの暗い方の隣接画素が、該対象画素の輝度レベルに対してある閾値以上に暗い場合には、
    前記対象画素の輝度レベルである前記AD変換された画素加算平均値を、より明るい輝度レベルとなるよう補正する請求項6に記載の固体撮像装置。
  11. 前記補正回路は、
    前記対象画素の輝度レベルである前記AD変換された画素加算平均値より、該対象画素と同列の最も隣接する2つの同色の隣接画素のうちの1つの隣接画素の輝度レベルが明るく、かつ該2つの同色の隣接画素のうちのもう1つの隣接画素の輝度レベルが該対象画素の輝度レベルより暗い場合であって、該2つの隣接画素のうちの明るい方の隣接画素が、該対象画素の輝度レベルに対してある閾値以上に明るく、かつ該2つの隣接画素のうちの暗い方の隣接画素が、該対象画素の輝度レベルに対してある閾値以上に暗い場合には、
    前記対象画素の輝度レベルである前記AD変換された画素加算平均値を、前記第2の輝度レベルよりさらに明るい第3の輝度レベルとなるよう補正する請求項8に記載の固体撮像装置。
  12. 前記補正回路は、
    前記対象画素の輝度レベルである前記AD変換された画素加算平均値より、該対象画素と同列の最も隣接する2つの同色の隣接画素の輝度レベルが明るい場合であって、該2つの同色の隣接画素のうちの1つの隣接画素の輝度レベルが該対象画素の輝度レベルに対してある閾値以上の明るい場合には、
    前記対象画素の輝度レベルである前記AD変換された画素加算平均値を、より明るい輝度レベルとなるよう補正する請求項6に記載の固体撮像装置。
  13. 前記補正回路は、
    前記対象画素の輝度レベルである前記AD変換された画素加算平均値より、該対象画素と同列の最も隣接する2つの同色の隣接画素の輝度レベルが明るい場合であって、該2つの同色の隣接画素の輝度レベルが該対象画素の輝度レベルに対してある閾値以上の明るい場合には、
    前記対象画素の輝度レベルである前記AD変換された画素加算平均値を、前記第3の輝度レベルよりさらに明るい第4の輝度レベルとなるよう補正する請求項11に記載の固体撮像装置。
  14. 複数の画素部を行列状に配列してなる画素アレイと、該各列の画素に対応するよう設けられ、該画素に対応する画素信号を読み出すための垂直信号線と、該垂直信号線に読み出された画素信号を処理する信号処理回路とを備え、該各画素部は、光電変換により信号電荷を生成する光電変換素子と、該光電変換素子で生成された信号電荷を蓄積する電荷蓄積部と、該光電変換素子から信号電荷を該電荷蓄積部に転送する転送トランジスタと、該電荷蓄積部での信号電荷の蓄積により生成された信号電圧を増幅して読み出す増幅トランジスタとを有する固体撮像装置を駆動する方法であって、
    異なる増幅トランジスタに接続された転送トランジスタが同時にオンしたとき、対応する電荷蓄積部の信号電圧により、該異なる増幅トランジスタの出力信号を1つの垂直信号線に出力して、複数の画素の画素信号の平均化を行って画素加算平均値として出力するステップと、
    該画素加算平均値をアナログ値からデジタル値にAD変換するステップと
    決められたアルゴリズムに従って、該画素信号の読み出しの対象となる対象画素と同じ列の近傍画素のレベルに基づいて、該AD変換された画素加算平均値を、これが理想加算平均値に近づくよう補正するステップと
    を含む固体撮像装置の駆動方法。
  15. 被写体の撮像を行う撮像部を備えた電子情報機器であって、
    該撮像部は、請求項1に記載の固体撮像装置である電子情報機器。
JP2008268005A 2008-10-16 2008-10-16 固体撮像装置及びその駆動方法、並びに電子情報機器 Expired - Fee Related JP5253956B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008268005A JP5253956B2 (ja) 2008-10-16 2008-10-16 固体撮像装置及びその駆動方法、並びに電子情報機器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008268005A JP5253956B2 (ja) 2008-10-16 2008-10-16 固体撮像装置及びその駆動方法、並びに電子情報機器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010098548A JP2010098548A (ja) 2010-04-30
JP5253956B2 true JP5253956B2 (ja) 2013-07-31

Family

ID=42259919

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008268005A Expired - Fee Related JP5253956B2 (ja) 2008-10-16 2008-10-16 固体撮像装置及びその駆動方法、並びに電子情報機器

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5253956B2 (ja)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2512126B1 (en) * 2010-06-01 2018-07-25 Boly Media Communications (Shenzhen) Co., Ltd Multispectral photoreceptive device and sampling method thereof
JP6149572B2 (ja) * 2013-07-25 2017-06-21 ソニー株式会社 イメージセンサ、制御方法、及び、電子機器
CN103686103B (zh) * 2013-12-31 2018-01-26 上海集成电路研发中心有限公司 具有合并和分裂模式的图像传感器、像素单元
JP6338432B2 (ja) * 2014-04-21 2018-06-06 キヤノン株式会社 固体撮像装置及びその制御方法
JP6736329B2 (ja) * 2016-03-31 2020-08-05 キヤノン株式会社 撮像素子
JP6857061B2 (ja) 2017-03-22 2021-04-14 キヤノン株式会社 撮像素子および撮像装置

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100871687B1 (ko) * 2004-02-11 2008-12-05 삼성전자주식회사 서브 샘플링 모드에서 디스플레이 품질을 개선한 고체촬상 소자 및 그 구동 방법
JP4723994B2 (ja) * 2005-12-19 2011-07-13 株式会社東芝 固体撮像装置
JP5251412B2 (ja) * 2008-10-09 2013-07-31 ソニー株式会社 固体撮像素子およびその駆動方法、並びにカメラシステム

Also Published As

Publication number Publication date
JP2010098548A (ja) 2010-04-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6332263B2 (ja) 固体撮像素子、駆動方法、及び、電子機器
KR100994993B1 (ko) 서브 샘플링된 아날로그 신호를 평균화하여 디지털 변환한영상신호를 출력하는 고체 촬상 소자 및 그 구동 방법
JP4609428B2 (ja) 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法および撮像装置
US7256382B2 (en) Solid state imaging device, method of driving solid state imaging device and image pickup apparatus
US9438839B2 (en) Solid state imaging apparatus and imaging system using the same
JP5251778B2 (ja) 固体撮像装置、固体撮像装置のアナログ−デジタル変換方法および電子機器
CN102780858B (zh) 固态成像设备、其驱动方法及固态成像系统
WO2016013412A1 (ja) 固体撮像素子、撮像制御方法、信号処理方法、及び、電子機器
US20130194468A1 (en) Solid-state imaging apparatus
US20070115377A1 (en) Solid-state image pickup device
US20090295971A1 (en) Solid-state imaging device, imaging device and driving method of solid-state imaging device
JP2006014316A (ja) サブサンプリングされたアナログ信号を平均化する改善された固体撮像素子及びその駆動方法
JP5253956B2 (ja) 固体撮像装置及びその駆動方法、並びに電子情報機器
TW201541963A (zh) 固體攝像裝置
US20110193983A1 (en) Solid-state image sensor, driving method thereof, and imaging apparatus
KR100674957B1 (ko) 임의의 서브-샘플링 레이트로 아날로그 신호를 평균화하여서브-샘플링하는 고체 촬상 소자 및 그 구동 방법
WO2017061191A1 (ja) 固体撮像素子、固体撮像素子の駆動方法、及び、電子機器
JP2016015680A (ja) 固体撮像素子および撮像装置
US8400542B2 (en) Image sensor and image capture apparatus
US8319873B2 (en) Solid-state imaging device
US8710422B2 (en) Imaging device
JP2007166486A (ja) 固体撮像装置
WO2013084808A1 (ja) 固体撮像素子およびその駆動方法、カメラシステム
JP5313766B2 (ja) 固体撮像装置および電子情報機器
US9413994B2 (en) Solid-state imaging device and imaging apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110223

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120720

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120725

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120823

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130327

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130417

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160426

Year of fee payment: 3

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R3D04

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees