JP5245179B2 - 電流垂直型巨大磁気抵抗(cpp−gmr)素子 - Google Patents

電流垂直型巨大磁気抵抗(cpp−gmr)素子 Download PDF

Info

Publication number
JP5245179B2
JP5245179B2 JP2009182968A JP2009182968A JP5245179B2 JP 5245179 B2 JP5245179 B2 JP 5245179B2 JP 2009182968 A JP2009182968 A JP 2009182968A JP 2009182968 A JP2009182968 A JP 2009182968A JP 5245179 B2 JP5245179 B2 JP 5245179B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cpp
heusler
gmr
alloy
layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2009182968A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2011035336A (ja
Inventor
友也 中谷
孝夫 古林
有紀子 高橋
和博 宝野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
National Institute for Materials Science
Original Assignee
National Institute for Materials Science
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by National Institute for Materials Science filed Critical National Institute for Materials Science
Priority to JP2009182968A priority Critical patent/JP5245179B2/ja
Publication of JP2011035336A publication Critical patent/JP2011035336A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5245179B2 publication Critical patent/JP5245179B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Description

本発明は、ホイスラー合金薄膜間にスペーサ層を配した構造を持つ電流垂直型巨大磁気抵抗(CPP−GMR)素子に関する。
電流垂直型巨大磁気抵抗(Current−perpendicular−to−plane giant magnetoresistance、 以下CPP−GMR)素子を磁気記録用読み取りヘッドに応用するためには、現状よりも高い磁気抵抗を達成する必要がある。
そのためには、
1)強磁性体が高いスピン分極率をもつこと
2)強磁性体と電子のバンド構造の整合性のよい非磁性スペーサ層を選択すること
が求められる。
前記2)については、L2規則構造の強磁性ホイスラー合金に対し、L2規則構造の非磁性ホイスラー合金を使用することがアメリカの企業によって提案されており、アメリカでの特許も取得されている(特許文献1)。L2構造とは図1に示すように3元系が構造規則化したものであり、それより1段階低い構造規則がB2構造であり、さらに規則度が低下したものがA2構造(体心立方構造)である。ホイスラー合金の熱的に最も安定な構造はL2構造であるが、スパッタリング法をはじめとした薄膜作製法は非平衡な過程であるために、得られる薄膜はB2またはA2構造である。この、L2規則構造の強磁性ホイスラー合金に対し、L2規則構造の非磁性ホイスラー合金を使用した磁気ヘッドの提案では、下部強磁性層/非磁性スペーサ層/上部強磁性層のいずれもが十分に高いL2規則構造を有する場合に効果を発揮すると考えられるが(実際、この特許の根拠となる電子構造計算は完璧なL2規則を仮定して実施されている)、実デバイスにおける数ナノメートルという薄い膜厚において高いL2規則構造を実現することは、現在の技術ではきわめて困難である。また、規則度の向上には高温での熱処理が不可欠であるが、そのような熱処理は実デバイス中の人工フェリ構造に損傷を与え、性能の低下に繋がりかねない。それゆえ、L2構造のホイスラー合金を使用することは、現状の磁気記録用読み取りヘッド製造プロセスに適応しがたいものであり、実際に使用されることはなかった。
本発明はこのような実情に鑑み、高精度の磁気記録用読み取りヘッドに最適な電流垂直型巨大磁気抵抗(CPP−GMR)素子を提供することを目的とする。
発明1のCPP−GMR素子は、ホイスラー合金薄膜間にスペーサ層を配した構造を持つCPP−GMR素子であって、前記ホイスラー合金薄膜が、B2規則構造のみからなるホイスラー強磁性合金からなり、スペーサ層がB2規則構造を持つ金属間化合物からなることを特徴とする。
発明2のCPP−GMR素子は、ホイスラー合金薄膜間にスペーサ層を配した構造を持つCPP−GMR素子であって、前記ホイスラー合金薄膜が、B2規則構造を持つホイスラー強磁性合金からなり、スペーサ層がB2規則構造を持つ金属間化合物からなり、前記ホイスラー合金薄膜を有する前記電流垂直型巨大磁気抵抗素子の基板と反対側に位置する上部ホイスラー合金薄膜の上側にCoFe層を更に有することを特徴とする。
発明は、上記のCPP−GMR素子において、前記ホイスラー強磁性合金が、CoFeAlSiホイスラー強磁性合金であり、前記金属間化合物が、NiAl金属間化合物であることを特徴とする。

発明4のCPP−GMR素子は、ホイスラー合金薄膜間にスペーサ層を配した構造を持つCPP−GMR素子であって、前記ホイスラー合金薄膜が、B2規則構造を持つホイスラー強磁性合金からなり、スペーサ層がB2規則構造を持つ金属間化合物からなり、前記ホイスラー強磁性合金が、CoFeAlSi、CoMnSi、CoMnGe、CoFeAl、又はCoFeSiから選ばれたホイスラー強磁性合金であり、前記金属間化合物が、CuZn、CuBe、又はAgMgから選ばれた金属間化合物であることを特徴とする。
本発明では実デバイス中での薄膜では実現が困難なL2規則構造ではなく、一段階低い結晶規則構造であるB2規則をもつ強磁性ホイスラー合金に対し、B2規則非磁性合金を使用するものであるため、薄膜においても実現が容易であり、工業的応用に現実的な選択といえる。
また、非特許文献3(これは上記特許文献1の技術を用いた実験に関する報告である。)のCPP−GMR素子では6.7%の磁気抵抗比が報告されているが、本発明によるB2規則CoFeAlSl/NiAl/CoFeAlSi CPP−GMR素子はより高い9%の磁気抵抗比を示した(下記素子番号2および3)。
さらなる利点として、CPP−GMR素子を現実の読み取りヘッドに応用する際には、素子の総膜厚が制限されるが、本発明でのCoFeAlSl/NiAl/CoFeAlSi CPP−GMR素子においては、強磁性層の膜厚を低減させた場合でも、磁気抵抗変化量および磁気抵抗比の減少は小さく、読み取りヘッド応用に有利である(下記素子番号1)。
またNiAl合金は高い耐熱性を持つ合金であることから、製造プロセス中の積層膜内での原子拡散が抑制できることも期待できる。
ホイスラー合金の構造規則化を示す模式図。 実施例のCPP−GMR素子の層構造を示す模式図。 素子番号2のCPP−GMR素子のX線回折プロファイル。 素子番号2のCPP−GMR素子の磁気抵抗曲線を示すグラフ。 素子番号1のCPP−GMR素子の磁気抵抗曲線を示すグラフ。 層間結合型CPP−GMR素子の磁気抵抗曲線を示すグラフ。
本発明のCPP−GMR素子の特徴は、B2規則構造を有する強磁性ホイスラー合金(高いスピン分極率が過去に報告されている)に対しB2規則構造を有する金属間化合物を用いた点にある。
実施例として、B2規則構造のCoFeAlSiホイスラー強磁性合金と、B2規則構造のNiAl金属間化合物を用いた、CoFeAlSl/NiAl/CoFeAlSi積層構造の例を示した。
本発明の趣旨はB2規則構造の強磁性ホイスラー合金層と同じ結晶対称性をもつB2規則合金およびB2金属間化合物をスペーサ層に適用するということである、強磁性層として使用するホイスラー合金はCoFeAlSiのみに限られるものではなく、同じB2規則構造を持つCoMnSi、CoMnGe、CoFeAl、CoFeSi等も下記実施例と同様な効果を発揮し得るものと考えられる。
また、スペーサ層としてもNiAlの他に、同様なB2規則構造を持つ金属間化合物であるCuZn、 CuBe、 AgMg等も下記実施例と同様な効果を発揮し得るものと考えられる。
下記実施例1に示す素子の構造(フルエピタキシャルであるかどうか、各層の膜厚)および作製プロセス(熱処理のタイミングおよび温度)は1つの例であり、本発明の趣旨であるB2規則合金およびB2金属間化合物の適用がこれらに制限されるものではない。
図2に示したCPP−GMR素子に関して以下に説明する。
まず、超高真空マグネトロンスパッタ法でMgO(001)単結晶基板(1)上に、10nm厚のCr層(2)、100nm厚のAg層(3)、表1に示す厚さのCoFeAlSi第一ホイスラー合金層(下部強磁性層)(4)を作製した。
この直後、表1に示す第一熱処理をその場処理で行い、それが終了した後に、引き続き、4nm厚のNiAlのスペーサ層(5)、5nm厚のCoFeAlSi第二ホイスラー合金層(上部強磁性層)(6)、2nm厚のCoFe層(7)、10nm厚のIrMn層(8)、そして8nm厚のRu層(9)を順次作成した。すべての薄膜層の作製時における基板温度は室温付近である。
そして、スパッタ処理を終了した後に、表1に示す磁場中に配置して、第二熱処理を行い、表1に示す各フルエピタキシャルなスピンバルブ型CPP−GMR素子を作成した。
CoFeAlSi、 NiAl、 CoFe、 IrMn合金のターゲット組成は、それぞれ50%Co‐25%Fe‐15%Al‐10%Si、 50%Ni‐50%Al、 50%Co‐50%Fe、 22%Ir‐78%Mn(いずれも原子パーセント)である。
CoFeAlSi合金層、NiAl合金層ともにB2規則構造を有することがX線回折プロファイルに見られるCoFeAlSi (200)面およびNiAl (100)面からの回折ピークの存在から明らかである。すなわち、本発明のCPP−GMR素子はオールB2規則構造のCPP−GMR素子である。(図3)
フォトリソグラフィー、電子線リソグラフィーおよびアルゴンイオンエッチングによって、0.1 μm×0.2 μmから0.3 μm×0.6 μmの大きさをもつ楕円形の素子に微細加工した。
この楕円形素子を直流4端子法により、磁気伝導特性を測定した。
その結果を表1に示すとともに、図4、図5に例示する。
当該測定結果から、磁気抵抗比は、下部強磁性層の厚さに対する依存性が少ないことが明らかになった。このことは、膜厚が制限される磁気ヘッドへの応用にとって大きな利点である。
前記第二熱処理による処理温度400 °Cと500 °Cの間で、素子の磁気抵抗特性に大きな差は見られなかったことから、熱処理によるNiAl非磁性スペーサ層の拡散による劣化は無視できると考えられる。
CPP−GMR特性の向上にはホイスラー合金の規則度の向上が有効であることが、非特許文献3に示されているため、高温熱処理を可能にするCPP−GMRの向上に有効であると考えられる。
NiAlスペーサ層の膜厚を調節することで、ホイスラー合金/NiAl/ホイスラー合金3層膜において層間交換結合型GMR素子を作製できる。
素子構造はMgO(001)基板/Cr (10 nm)/ Ag (100 nm)/ CoFeAlSi (20 nm)/ NiAl (0.8 nm)/ CoFeAlSi (7 nm)/ Ru (8 nm)であり、下部CoFeAlSi作製後に真空容器内で500°Cで0.5時間熱処理し、その後NiAlより上の層は未熱処理である。図6に例示する。
高密度磁気記録(典型的には1テラビット/平方インチ以上)を達成するためには、高速な読み出しレートが必要となる。読み取りヘッド素子の抵抗と回路の浮遊容量はローパスフィルタを形成し、高周波数の信号を通すことができないため、小さな素子抵抗をもち、かつ信号/雑音比をよくするために高い磁気抵抗効果を実現する必要がある。現在の磁気ヘッドにはトンネル磁気抵抗効果を利用したものが使用されているが、このタイプの素子はトンネル現象を利用しているため、素子抵抗をある程度以下に小さくすることが困難である。一方CPP−GMR素子はすべて金属でできているために原理的に低抵抗であり有利である。本発明では、スペーサ層にNiAl合金を適用することにより、磁気ヘッド化の条件である小さい膜厚(本実施例ではCoFeAlSi電極層5nm)の場合でも、低い素子抵抗(RA=60 mΩμm以下)、高い磁気抵抗変化量(ΔRA=5 mΩμm程度)および磁気抵抗比(9%)を達成した。
また、0.8nm厚NiAlスペーサを用いた素子では、10%の磁気抵抗比を示す層間結合型CPP−GMRを示した。これはマイクロ波発生源として利用できる可能性があり、マイクロ波補助磁気記録書き込みヘッドとしての用途が有望である。
(1)単結晶基板
(2)Cr層
(3)Ag層
(4)第一ホイスラー合金層(下部強磁性層)
(5)スペーサ層
(6)第二ホイスラー合金層(上部強磁性層)
(7)CoFe層
(8)IrMn層
(9)Ru層
USP6、876、522 特開2004−146480
Applied Physics Letters 88、 222504 (2006) Applied Physics Letters 93、122507 (2008) Applied Physics Letters 94、012511 (2009) Applied Physics Letters94、222501 (2009) Applied Physics Letters 89、 112514 (2006) 日本応用磁気学会誌 31、 89 (2007)

Claims (4)

  1. ホイスラー合金薄膜間にスペーサ層を配した構造を持つ電流垂直型巨大磁気抵抗(CPP−GMR)素子であって、
    前記ホイスラー合金薄膜が、B2規則構造のみからなるホイスラー強磁性合金からなり、
    スペーサ層がB2規則構造を持つ金属間化合物からなることを特徴とする電流垂直型巨大磁気抵抗(CPP−GMR)素子。
  2. ホイスラー合金薄膜間にスペーサ層を配した構造を持つ電流垂直型巨大磁気抵抗(CPP−GMR)素子であって、
    前記ホイスラー合金薄膜が、B2規則構造を持つホイスラー強磁性合金からなり、
    スペーサ層がB2規則構造を持つ金属間化合物からなり、
    前記ホイスラー合金薄膜を有する前記電流垂直型巨大磁気抵抗素子の基板と反対側に位置する上部ホイスラー合金薄膜の上側にCoFe層を更に有することを特徴とする電流垂直型巨大磁気抵抗(CPP−GMR)素子。
  3. 請求項1又は2に記載の電流垂直型巨大磁気抵抗(CPP−GMR)素子において、前記ホイスラー強磁性合金が、CoFeAlSi、CoMnSi、CoMnGe、CoFeAl、又はCoFeSiから選ばれたホイスラー強磁性合金であり、前記金属間化合物が、NiAl、CuZn、CuBe、又はAgMgから選ばれた金属間化合物であることを特徴とする電流垂直型巨大磁気抵抗(CPP−GMR)素子。
  4. ホイスラー合金薄膜間にスペーサ層を配した構造を持つ電流垂直型巨大磁気抵抗(CPP−GMR)素子であって、
    前記ホイスラー合金薄膜が、B2規則構造を持つホイスラー強磁性合金からなり、
    スペーサ層がB2規則構造を持つ金属間化合物からなり、
    前記ホイスラー強磁性合金が、CoFeAlSi、CoMnSi、CoMnGe、CoFeAl、又はCoFeSiから選ばれたホイスラー強磁性合金であり、
    前記金属間化合物が、CuZn、CuBe、又はAgMgから選ばれた金属間化合物であることを特徴とする電流垂直型巨大磁気抵抗(CPP−GMR)素子。
JP2009182968A 2009-08-06 2009-08-06 電流垂直型巨大磁気抵抗(cpp−gmr)素子 Expired - Fee Related JP5245179B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009182968A JP5245179B2 (ja) 2009-08-06 2009-08-06 電流垂直型巨大磁気抵抗(cpp−gmr)素子

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009182968A JP5245179B2 (ja) 2009-08-06 2009-08-06 電流垂直型巨大磁気抵抗(cpp−gmr)素子

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011035336A JP2011035336A (ja) 2011-02-17
JP5245179B2 true JP5245179B2 (ja) 2013-07-24

Family

ID=43764079

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009182968A Expired - Fee Related JP5245179B2 (ja) 2009-08-06 2009-08-06 電流垂直型巨大磁気抵抗(cpp−gmr)素子

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5245179B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9899044B2 (en) 2014-08-01 2018-02-20 National Institute For Materials Science Magnetoresistive element, magnetic head using magnetoresistive element, and magnetic reproducing device
US10205091B2 (en) 2015-12-04 2019-02-12 National Institute For Materials Science Monocrystalline magneto resistance element, method for producing the same and method for using same

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2011122078A1 (ja) * 2010-03-31 2013-07-08 株式会社日立製作所 磁気抵抗素子、磁気ディスク装置及び磁気抵抗記憶装置
WO2014163121A1 (ja) 2013-04-05 2014-10-09 独立行政法人物質・材料研究機構 電流垂直型磁気抵抗効果素子
JP6498049B2 (ja) * 2015-06-15 2019-04-10 国立大学法人東北大学 膜面垂直通電型巨大磁気抵抗素子及び磁気デバイス
JP6654780B2 (ja) * 2015-11-25 2020-02-26 国立研究開発法人物質・材料研究機構 磁気抵抗素子の製造方法
JP6821216B2 (ja) * 2019-12-10 2021-01-27 国立研究開発法人物質・材料研究機構 磁気抵抗素子及びその使用方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007273657A (ja) * 2006-03-31 2007-10-18 Tdk Corp 磁気抵抗効果素子およびその製造方法、ならびに薄膜磁気ヘッド、ヘッドジンバルアセンブリ、ヘッドアームアセンブリおよび磁気ディスク装置
WO2007126071A1 (ja) * 2006-04-27 2007-11-08 Japan Science And Technology Agency 磁性薄膜及びそれを用いた磁気抵抗効果素子並びに磁気デバイス
JP2010212631A (ja) * 2009-03-12 2010-09-24 Fujitsu Ltd 磁気抵抗効果素子および磁気記憶装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9899044B2 (en) 2014-08-01 2018-02-20 National Institute For Materials Science Magnetoresistive element, magnetic head using magnetoresistive element, and magnetic reproducing device
US10205091B2 (en) 2015-12-04 2019-02-12 National Institute For Materials Science Monocrystalline magneto resistance element, method for producing the same and method for using same

Also Published As

Publication number Publication date
JP2011035336A (ja) 2011-02-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5570824B2 (ja) 磁気抵抗効果素子およびその形成方法
JP5172472B2 (ja) ピンド層およびこれを用いたtmrセンサ並びにtmrセンサの製造方法
US8617644B2 (en) Method for making a current-perpendicular-to-the-plane (CPP) magnetoresistive sensor containing a ferromagnetic alloy requiring post-deposition annealing
JP5599738B2 (ja) 磁気抵抗効果素子およびその形成方法
JP5815204B2 (ja) Tmr素子およびその形成方法
JP5750211B2 (ja) Tmr素子およびその形成方法
JP5674297B2 (ja) Tmr素子およびその形成方法
US8488373B2 (en) Spin injection layer robustness for microwave assisted magnetic recording
JP5232540B2 (ja) 磁気センサ構造および磁気センサ構造のccpスペーサの形成方法
US8300356B2 (en) CoFe/Ni Multilayer film with perpendicular anistropy for microwave assisted magnetic recording
JP5245179B2 (ja) 電流垂直型巨大磁気抵抗(cpp−gmr)素子
JP4551484B2 (ja) トンネル磁気抵抗薄膜及び磁性多層膜作製装置
JP5527669B2 (ja) 強磁性トンネル接合体およびそれを用いた磁気抵抗効果素子
US20070297103A1 (en) Novel way to reduce the ordering temperature for Co2MnSi-like Heusler alloys for CPP, TMR, MRAM, or other spintronics device applications
US20130236744A1 (en) Current-perpendicular-to-the-plane (cpp) magnetoresistive sensor with multilayer reference layer including a heusler alloy
JP2007027736A (ja) スピンバルブ構造体およびその製造方法、ならびに磁気再生ヘッドおよびその製造方法
JP6857421B2 (ja) 強磁性トンネル接合体、それを用いたスピントロニクスデバイス、及び強磁性トンネル接合体の製造方法
JP2015015068A (ja) 結晶性CoFeX層およびホイスラー型合金層を含む、多重層からなる基準層を含む平面垂直通電型(CPP)磁気抵抗センサ
JP2005217422A (ja) 磁気抵抗素子
US20070201169A1 (en) Magnetoresistance element employing heusler alloy as magnetic layer
JP2010123978A (ja) 磁気抵抗素子の製造方法
JP2007142257A (ja) 磁気検出素子
JP5647406B2 (ja) フリー層およびその形成方法、磁気抵抗効果素子
JP2005228998A (ja) 磁性薄膜及びそれを用いた磁気抵抗効果素子並びに磁気デバイス
JP5389370B2 (ja) 強磁性薄膜材料とその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120628

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20121225

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20121227

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130225

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130319

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130322

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5245179

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160419

Year of fee payment: 3

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees