JP5241288B2 - 半導体装置及びその動作モード設定方法 - Google Patents
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Description
図1は、本発明の実施の形態1に係る半導体装置1の構成図である。図1に示されるように、半導体装置1は、基板(チップ)2と、複数のボンディングワイヤ6と、チップ2と複数のボンディングワイヤ6によってそれぞれ接続される複数の外部端子(リード)5と、モールド樹脂3と、を備える。
図5乃至図7を用いて、本発明の実施の形態2に係る半導体装置1の構成及び動作について説明する。実施の形態1に対する実施の形態2の相違点は、動作モードの選択が決定した後、プルアップ回路12若しくはプルダウン回路13のどちらか一方のみを有効とした状態で固定することにある。
図8乃至図10を用いて、本発明の実施の形態3に係る半導体装置1の構成及び動作について説明する。実施の形態1及び実施の形態2に対する実施の形態3の相違点は、動作モードの選択が決定した後、パッド4dの電位がパッド4cに入力される信号の論理レベルと同じ論理レベルを示す電位となるように、プルアップ回路12及びプルダウン回路13を制御することにある。
図11乃至16を用いて、本発明の実施の形態4に係る半導体装置1の構成及び動作について説明する。実施の形態1乃至3に対する実施の形態4の相違点は、モードパッドが動作モード選択用のパッドとしての役割の他に、信号パッドとしての役割も担うことにある。なお、実施の形態1乃至3と同じ構成は、同じ符号を付してその説明を省略する。
2 チップ(基板)
3 モールド樹脂
4、4a、4b、4c、4d、4e、4fa、4fb パッド(内部端子)
5、5a、5b、5c、5d、5e リード(外部端子)
6 ボンディングワイヤ
7 内部回路
8、8a、8b、8c、8d 動作モード切替回路
9 機能ブロック
10、120 プルアップ抵抗
11、130 プルダウン抵抗
12、12a、12b プルアップ回路
121、121a、121b Pchトランジスタ
13、13a、13b プルダウン回路
131、131a、131b Nchトランジスタ
14 比較回路(排他的論理和ゲート)
15、19、19a、19b インバータ
16、23 遅延素子
17 スイッチ回路(論理積ゲート)
18、24 保持回路
20、20a、20b セレクタ
21a、21b 論理変化検出回路(トグルフリップフロップ)
22 動作モード決定回路
25 プリント基板
26、26a、26b、26c 導電体パターン(外部端子)
27、27a、27b プリント配線
28 半田ボール
29、29a、29b バンプ
Claims (26)
- 第1内部端子と、
第2内部端子と、
前記第1内部端子と接続される外部端子と、
前記第2内部端子に接続され、前記第2内部端子が第1参照電位に電気的に接続される状態と接続されない状態とを切り替える第1スイッチ回路と、
前記第2内部端子に接続され、前記第2内部端子が第2参照電位に電気的に接続される状態と接続されない状態とを切り替える第2スイッチ回路と、
前記第1内部端子の電位に応じた電位と前記第2内部端子の電位に応じた電位とを比較する比較器と、を備える半導体装置であって、
前記第1及び第2スイッチ回路は、前記第1内部端子の電位に応じて排他的に動作し、
前記比較器は、前記第1及び第2内部端子に応じた前記電位の一致又は不一致に基づき、前記外部端子と前記第2内部端子とが接続されているか否か検出する
半導体装置。 - 請求項1に記載の半導体装置であって、
前記第1及び第2スイッチ回路は、前記第1内部端子の電位に対応する論理値が第1論理値である場合には、前記第1論理値とは異なる論理である第2論理値に対応する第1又は第2参照電位のいずれか一方と前記第2内部端子とを電気的に接続するように動作する
半導体装置。 - 請求項1又は2に記載の半導体装置であって、
前記第1スイッチ回路は、第1導電型トランジスタを含み、
前記第2スイッチ回路は、第2導電型トランジスタを含み、
前記第1及び第2導電型トランジスタのゲートの各々には、前記第1内部端子の電位に対応する信号が入力される
半導体装置。 - 請求項3に記載の半導体装置であって、
前記第1参照電位は、電源電位であり、
前記第2参照電位は、接地電位であり、
前記第1導電型トランジスタは、Pチャネルトランジスタであり、
前記第2導電型トランジスタは、Nチャネルトランジスタである
半導体装置。 - 請求項3又は4に記載の半導体装置であって、
前記第1導電型トランジスタの一端は、プルアップ抵抗を介して前記第1参照電位に接続され、
前記第2導電型トランジスタの一端は、プルダウン抵抗を介して前記第2参照電位に接続される
半導体装置。 - 請求項1乃至5のいずれか1項に記載の半導体装置であって、
前記半導体装置は、
前記第2内部端子が前記外部端子に接続されるときには、前記比較器は、一致を示す信号を出力し、
前記第2内部端子が前記外部端子に接続されないときには、前記比較器は、不一致を示す信号を出力する
半導体装置。 - 請求項1乃至6のいずれか1項に記載の半導体装置であって、
前記第1内部端子は、入出力信号を伝達するための入出力端子である
半導体装置。 - 請求項1乃至7のいずれか1項に記載の半導体装置であって、
前記半導体装置は、
前記比較器に接続される記憶回路と、
前記第1内部端子の電位に応じて前記第1及び第2スイッチ回路を動作させる状態と動作させない状態とを切り替える第3スイッチ回路と、を備え、
前記記憶回路は、前記第3スイッチ回路が前記第1内部端子の電位に応じて前記第1及び第2スイッチ回路を動作させる状態を選択しているときに前記比較器から出力される比較結果を取り込み、
前記記憶回路は、前記第3スイッチ回路が前記第1内部端子の電位に応じて前記第1及び第2スイッチ回路を動作させない状態へ切り替えを行った場合には、前記取り込んだ比較結果を保持する
半導体装置。 - 請求項8に記載の半導体装置であって、
前記記憶回路が前記取り込んだ比較結果を保持しているときには、前記第2内部端子は、前記第1参照電位と電気的に接続する状態又は前記第2参照電位と電気的に接続する状態のいずれか一方に固定される - 請求項1乃至7のいずれか1項に記載の半導体装置であって、
前記半導体装置は、
前記比較器に接続される記憶回路と、
前記第1内部端子の電位に応じて前記第1及び第2スイッチ回路を動作させる状態と動作させない状態とを切り替える第3スイッチ回路と、
前記記憶回路及び第3スイッチ回路に接続される第3内部端子と、を備え、
前記第3内部端子に入力される信号が第1論理値であるときには、前記第3スイッチ回路は、前記第1内部端子の電位に応じて前記第1及び第2スイッチ回路を動作させる状態を選択し、前記第1内部端子の電位に対応する論理値とは異なる論理値に対応する第1又は第2参照電位のいずれか一方と前記第2内部端子とを電気的に接続するように前記第1及び第2スイッチ回路を動作させると共に、前記記憶回路は、前記比較器から出力される比較結果を取り込み、
前記第3内部端子に入力される信号が第2論理値であるときには、前記第3スイッチ回路は、前記第1内部端子の電位に応じて前記第1及び第2スイッチ回路を動作させない状態を選択し、前記第2内部端子と前記第1参照電位とを電気的に接続する状態又は前記第2内部端子と前記第2参照電位とを電気的に接続する状態のいずれか一方に固定するように前記第1及び第2スイッチ回路を動作させると共に、前記記憶回路は、前記取り込んだ比較結果を保持する
半導体装置。 - 請求項1乃至7のいずれか1項に記載の半導体装置であって、
前記半導体装置は、
前記比較器に接続される記憶回路と、
前記第1内部端子の電位に対応する論理値に応じて前記第1及び第2スイッチ回路を動作させる状態と前記第1内部端子の電位に対応する論理値の論理を反転した値に応じて前記第1及び第2スイッチ回路を動作させる状態とを切り替える第3スイッチ回路と、を備え、
前記記憶回路は、前記第3スイッチ回路が前記第1内部端子の電位に対応する論理値に応じて前記第1及び第2スイッチ回路を動作させる状態を選択しているときに前記比較器から出力される比較結果を取り込み、
前記記憶回路は、前記第3スイッチ回路が前記第1内部端子の電位に対応する論理値の論理を反転した値に応じて前記第1及び第2スイッチ回路を動作させる状態へ切り替えを行ったときには、前記取り込んだ比較結果を保持する
半導体装置。 - 請求項11に記載の半導体装置であって、
前記記憶回路が前記取り込んだ比較結果を保持しているときには、前記第2内部端子は、前記第1内部端子の電位に対応する論理値と同じ論理値に対応する前記第1又は第2参照電位のいずれか一方と電気的に接続される
半導体装置。 - 請求項1乃至7のいずれか1項に記載の半導体装置であって、
前記半導体装置は、
前記比較器に接続される記憶回路と、
前記第1内部端子の電位に対応する論理値に応じて前記第1及び第2スイッチ回路を動作させる状態と前記第1内部端子の電位に対応する論理値の論理を反転した値に応じて前記第1及び第2スイッチ回路を動作させる状態とを切り替える第3スイッチ回路と、
前記記憶回路及び第3スイッチ回路に接続される第3内部端子と、を備え、
前記第3内部端子に入力される信号が第1論理値であるときには、前記第3スイッチ回路は、前記第1内部端子の電位に対応する論理値に応じて前記第1及び第2スイッチ回路を動作させる状態を選択し、前記第1内部端子の電位に対応する論理値とは異なる論理値に対応する前記第1又は第2参照電位のいずれか一方と前記第2内部端子とを電気的に接続するように前記第1及び第2スイッチ回路を動作させると共に、前記記憶回路は、前記比較器から出力される比較結果を取り込み、
前記第3内部端子に入力される信号が第2論理値であるときには、前記第3スイッチ回路は、前記第1内部端子の電位に対応する論理値の論理を反転した値に応じて前記第1及び第2スイッチ回路を動作させる状態を選択し、前記第1内部端子の電位に対応する論理値と同じ論理値に対応する前記第1又は第2参照電位のいずれか一方と前記第2内部端子とを電気的に接続するように前記第1及び第2スイッチ回路を動作させると共に、前記記憶回路は、前記取り込んだ比較結果を保持する
半導体装置。 - 請求項11乃至13のいずれか1項に記載の半導体装置であって、
前記半導体装置は、
前記第1内部端子に接続され、前記第1内部端子が前記第1参照電位に電気的に接続される状態と接続されない状態とを切り替える第4スイッチ回路と、
前記第1内部端子に接続され、前記第1内部端子が前記第2参照電位に電気的に接続される状態と接続されない状態とを切り替える第5スイッチ回路と、
前記第2内部端子の電位に対応する論理値に応じて前記第4及び第5スイッチ回路を動作させる状態と前記第2内部端子の電位に対応する論理値の論理を反転した値に応じて前記第4及び第5スイッチ回路を動作させる状態とを切り替える第6スイッチ回路と、
前記第1内部端子に接続され、前記第1内部端子の電位に対応する論理値に論理の変化が生じたことを検出する第1論理変化検出回路と、
前記第2内部端子に接続され、前記第2内部端子の電位に対応する論理値に論理の変化が生じたことを検出する第2論理変化検出回路と、
前記記憶回路と前記第1及び第2論理変化検出回路とに接続される判定回路と、を備え、
前記第1論理変化検出回路は、前記第6スイッチ回路による前記第2内部端子の電位に対応する論理値に応じて前記第4及び第5スイッチ回路を動作させる状態から前記第2内部端子の電位に対応する論理値の論理を反転した値に応じて前記第4及び第5スイッチ回路を動作させる状態への切り替えに応じて発生する前記第1内部端子における論理変化を検出し、
前記第2論理変化検出回路は、第3スイッチ回路による前記第1内部端子の電位に対応する論理値に応じて前記第1及び第2スイッチ回路を動作させる状態から前記第1内部端子の電位に対応する論理値の論理を反転した値に応じて前記第1及び第2スイッチ回路を動作させる状態への切り替えに応じて発生する前記第2内部端子における論理変化を検出し、
前記判定回路は、前記記憶回路に保持されている比較結果及び前記第1論理変化検出回路による検出結果に基づいて、前記第1内部端子に対する外部との接続状態を判定し、前記記憶回路に保持されている比較結果及び前記第2論理変化検出回路による検出結果に基づいて、前記第2内部端子に対する外部との接続状態を判定する
半導体装置。 - 請求項6に記載の半導体装置であって、
前記外部端子は、リードフレームを含み、
前記第1又は第2内部端子は、前記リードフレームとワイヤで接続される
半導体装置。 - 請求項6に記載の半導体装置であって、
前記半導体装置は、
第1基板と、
前記第1基板上に積層して配置される第2基板と、を備え、
前記第1及び第2内部端子は、前記第2基板上に配置され、
前記外部端子は、前記第1基板上に配置される導電体パターンを含み、
前記第1又は第2内部端子は、前記導電体パターンとワイヤで接続される
半導体装置。 - 請求項6に記載の半導体装置であって、
前記半導体装置は、
第1基板と、
前記第1基板とフリップチップ接続される第2基板と、を備え、
前記第1及び第2内部端子は、前記第2基板上に配置され、
前記外部端子は、前記第1基板上に配置される導電体パターンを含み、
前記第1又は第2内部端子は、前記導電体パターンとバンプで接続される
半導体装置。 - 第1内部端子と、
第2内部端子と、
前記第1内部端子に接続される外部端子と、
前記第1及び第2内部端子に接続され、前記第1内部端子の電位に対応する論理値に応じて前記第2内部端子が第1参照電位に電気的に接続される状態と接続されない状態とを切り替える第1スイッチ回路と、
前記第1及び第2内部端子に接続され、前記第1内部端子の電位に対応する論理値に応じて前記第2内部端子が第2参照電位に電気的に接続される状態と接続されない状態とを切り替える第2スイッチ回路と、
前記第1内部端子に応じた電位と前記第2内部端子に応じた電位とを比較する比較器と、を備える半導体装置であって、
前記第1及び第2スイッチ回路は、前記第1内部端子の電位に対応する論理値とは異なる論理値に対応する前記第1又は第2参照電位のいずれか一方と前記第2内部端子とを電気的に接続するように動作し、
前記比較器は、前記第1及び第2内部端子に応じた前記電位の一致又は不一致に基づき、前記外部端子と前記第2内部端子とが接続されているか否か検出する
半導体装置。 - 請求項18に記載の半導体装置であって、
前記第1スイッチ回路は、第1導電型トランジスタを含み、
前記第2スイッチ回路は、第2導電型トランジスタを含み、
前記第1及び第2導電型トランジスタのゲートの各々には、前記第1内部端子の電位に対応する信号が入力される
半導体装置。 - 請求項18又は19に記載の半導体装置であって、
前記半導体装置は、
前記比較器に接続される記憶回路と、
前記第1内部端子の電位に応じて前記第1及び第2スイッチ回路を動作させる状態と動作させない状態とを切り替える第3スイッチ回路と、
前記記憶回路及び第3スイッチ回路に接続される第3内部端子と、を備え、
前記第3内部端子に入力される信号が第1論理値であるときには、前記第3スイッチ回路は、前記第1内部端子の電位に応じて前記第1及び第2スイッチ回路を動作させる状態を選択し、前記第1内部端子の電位に対応する論理値とは異なる論理値に対応する前記第1又は第2参照電位のいずれか一方と前記第2内部端子とを電気的に接続するように前記第1及び第2スイッチ回路を動作させると共に、前記記憶回路は、前記比較器から出力される比較結果を取り込み、
前記第3内部端子に入力される信号が第2論理値であるときには、前記第3スイッチ回路は、前記第1内部端子の電位に応じて前記第1及び第2スイッチ回路を動作させない状態を選択し、前記第2内部端子と前記第1参照電位とを電気的に接続する状態又は前記第2内部端子と前記第2参照電位とを電気的に接続する状態のいずれか一方に固定するように前記第1及び第2スイッチ回路を動作させると共に、前記記憶回路は、前記取り込んだ比較結果を保持する
半導体装置。 - 請求項18又は19に記載の半導体装置であって、
前記半導体装置は、
前記比較器に接続される記憶回路と、
前記第1内部端子の電位に対応する論理値に応じて前記第1及び第2スイッチ回路を動作させる状態と前記第1内部端子の電位に対応する論理値の論理を反転した値に応じて前記第1及び第2スイッチ回路を動作させる状態とを切り替える第3スイッチ回路と、
前記記憶回路及び第3スイッチ回路に接続される第3内部端子と、を備え、
前記第3内部端子に入力される信号が第1論理値であるときには、前記第3スイッチ回路は、前記第1内部端子の電位に対応する論理値に応じて前記第1及び第2スイッチ回路を動作させる状態を選択し、前記第1内部端子の電位に対応する論理値とは異なる論理値に対応する前記第1又は第2参照電位のいずれか一方と前記第2内部端子とを電気的に接続するように前記第1及び第2スイッチ回路を動作させると共に、前記記憶回路は、前記比較器から出力される比較結果を取り込み、
前記第3内部端子に入力される信号が第2論理値であるときには、前記第3スイッチ回路は、前記第1内部端子の電位に対応する論理値の論理を反転した値に応じて前記第1及び第2スイッチ回路を動作させる状態を選択し、前記第1内部端子の電位に対応する論理値と同じ論理値に対応する前記第1又は第2参照電位のいずれか一方と前記第2内部端子とを電気的に接続するように前記第1及び第2スイッチ回路を動作させると共に、前記記憶回路は、前記取り込んだ比較結果を保持する
半導体装置。 - 請求項21に記載の半導体装置であって、
前記半導体装置は、
前記第1内部端子に接続され、前記第1内部端子が前記第1参照電位に電気的に接続される状態と接続されない状態とを切り替える第4スイッチ回路と、
前記第1内部端子に接続され、前記第1内部端子が前記第2参照電位に電気的に接続される状態と接続されない状態とを切り替える第5スイッチ回路と、
前記第2内部端子の電位に対応する論理値に応じて前記第4及び第5スイッチ回路を動作させる状態と前記第2内部端子の電位に対応する論理値の論理を反転した値に応じて前記第4及び第5スイッチ回路を動作させる状態とを切り替える第6スイッチ回路と、
前記第1内部端子に接続され、前記第1内部端子の電位に対応する論理値に論理の変化が生じたことを検出する第1論理変化検出回路と、
前記第2内部端子に接続され、前記第2内部端子の電位に対応する論理値に論理の変化が生じたことを検出する第2論理変化検出回路と、
前記記憶回路と前記第1及び第2論理変化検出回路とに接続される判定回路と、を備え、
前記第1論理変化検出回路は、前記第6スイッチ回路による前記第2内部端子の電位に対応する論理値に応じて前記第4及び第5スイッチ回路を動作させる状態から前記第2内部端子の電位に対応する論理値の論理を反転した値に応じて前記第4及び第5スイッチ回路を動作させる状態への切り替えに応じて発生する前記第1内部端子における論理変化を検出し、
前記第2論理変化検出回路は、第3スイッチ回路による前記第1内部端子の電位に対応する論理値に応じて前記第1及び第2スイッチ回路を動作させる状態から前記第1内部端子の電位に対応する論理値の論理を反転した値に応じて前記第1及び第2スイッチ回路を動作させる状態への切り替えに応じて発生する前記第2内部端子における論理変化を検出し、
前記判定回路は、前記記憶回路に保持されている比較結果及び前記第1論理変化検出回路による検出結果に基づいて、前記第1内部端子に対する外部との接続状態を判定し、前記記憶回路に保持されている比較結果及び前記第2論理変化検出回路による検出結果に基づいて、前記第2内部端子に対する外部との接続状態を判定する
半導体装置。 - 第1内部端子と外部端子とを接続し、当該第1内部端子の電位が第1論理レベルを示す場合には、第2内部端子と第1参照電位とを電気的に接続し、
前記第1内部端子の電位が第2の論理レベルを示す場合には、前記第2内部端子と第2参照電位とを電気的に接続し、
前記第1内部端子に応じた電位と、前記第1参照電位又は第2参照電位のいずれか一方と電気的に接続された前記第2内部端子の電位に応じた電位とを比較し、前記第1及び第2内部端子に応じた前記電位の一致又は不一致に基づき、前記外部端子と前記第2内部端子とが接続されているか否か検出し、
前記検出結果に基づいて動作モードを設定する
半導体装置の動作モード設定方法。 - 請求項23に記載の半導体装置の動作モード設定方法であって、
前記動作モードを設定した後、前記第2内部端子と前記第1参照電位とを電気的に接続する状態又は前記第2内部端子と前記第2参照電位とを電気的に接続する状態のいずれか一方に固定する
半導体装置の動作モード設定方法。 - 請求項23に記載の半導体装置の動作モード設定方法であって、
前記動作モードを設定した後、前記第1内部端子の電位が第1論理レベルを示す場合には、前記第2内部端子と前記第2参照電位とを電気的に接続し、
前記動作モードを設定した後、前記第1内部端子の電位が第2の論理レベルを示す場合には、前記第2内部端子と第1参照電位とを電気的に接続する
半導体装置の動作モード設定方法。 - 請求項1乃至22のいずれか1項に記載の半導体装置であって、
前記第1内部端子及び前記外部端子は、参照電位の供給、リセット信号の入力及び入出力信号の伝達のいずれか1以上の機能を有する端子である
半導体装置。
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