JP5210692B2 - 自動分析装置及びその分注方法 - Google Patents

Description

本発明は、液体中に含まれている成分を分析する自動分析装置及びその分注方法に係り、特に、ヒトから採取した血液や尿などの体液を分注して体液に含まれる成分を分析する自動分析装置及びその分注方法に関する。

自動分析装置は、被検体から採取された被検試料及びこの被検体の検査を行うための検査項目に該当する試薬の混合液の反応によって生ずる色調等の変化を、光の透過量を測定することにより、被検試料中の様々な検査項目成分の濃度や酵素活性で表される分析データを生成する。

この自動分析装置では、被検試料毎に分析条件の設定により測定可能になった多数の検査項目の中から、検査に応じて選択された項目の測定が行われる。そして、被検試料はサンプル分注プローブを用いて試料容器から反応容器に分注される。また、試薬は試薬分注プローブを用いて試薬容器から反応容器に分注される。反応容器に分注された被検試料及び試薬は撹拌子で混合され、混合された混合液は測光部で測定される。更に、被検試料、試薬、及び混合液に接触したサンプル分注プローブ、試薬分注プローブ、反応容器、及び撹拌子は、洗浄された後に繰り返し測定に使用される。

ところで、自動分析装置における被検試料の分注では、吸引及び吐出動作を行うサンプル分注ポンプとサンプル分注プローブ間のチューブ、及びサンプル分注プローブ内に封入された水などの圧力伝達媒体を介して、試料容器内の被検試料をサンプル分注プローブ内に吸引し、吸引した被検試料を反応容器内に吐出する。

被検試料における検査項目の数（ｎ）が複数（ｎは２以上の整数）である場合、その被検試料を収容した試料容器からｎ個の反応容器に被検試料をｎ回分注する。１回目の分注では、サンプル分注プローブ内にエアを吸引した後、試料容器から測定に使用しないダミー用の被検試料及び１回目の検査項目に対応する測定用の被検試料を一括して吸引し、吸引した被検試料の測定用被検試料のみを反応容器に吐出する。

ｎ回目（ｎ≧２）の分注では、サンプル分注プローブ内にｎ回目の検査項目に対応する測定用被検試料を吸引した後、吸引した測定用被検試料のみを反応容器に吐出する。そして、ｎ回目の分注が終了した後に１回目の分注で吸引したダミーの被検試料をサンプル分注プローブ内から排出し、排出後にサンプル分注プローブの内外の洗浄を行う。

この分注でサンプル分注プローブ内に吸引したエア及びダミー用被検試料は、ダミー用被検試料の後に吸引した測定用被検試料を圧力伝達媒体から隔離し、圧力伝達媒体の混入により測定用被検試料が希釈されて分注精度が低下するのを防ぐために設けられていることが知られている（例えば、特許文献１参照。）。
特開２００２−１６２４０１号公報

しかしながら、被検試料のｎ回目の分注により得られた検査項目の分析データと、例えば再検査により１回目の分注により得られた前記検査項目の分析データが、乖離する問題がある。

本発明は、上記問題点を解決するためになされたもので、被検試料を精度よく分注することができる自動分析装置及びその分注方法を提供することを目的とする。

上記目的を達成するために、請求項１に係る本発明の自動分析装置は、被検試料及び試薬を反応容器に分注してその混合液を測定する自動分析装置において、前記被検試料を収容する試料容器から前記被検試料を分注プローブ内に吸引して前記反応容器内に吐出する分注を行う分注手段と、１回目の分注では、前記試料容器からダミー用被検試料を吸引してその吸引を停止した後、エアーを吸引することなく前記１回目の測定用被検試料を吸引し、ｎ回目（ｎは２以上の整数）の分注では、前記試料容器から前記ｎ回目の測定用被検試料を吸引するよう前記分注手段を制御する制御手段と、を含むことを特徴とする。

また、請求項４に係る本発明の自動分析装置の分注方法は、被検試料及び試薬を反応容器に分注してその混合液を測定する自動分析装置の分注方法において、前記被検試料を収容する試料容器から前記被検試料を分注プローブ内に吸引して前記反応容器内に吐出する分注を行う分注手段により、１回目の分注では、前記試料容器からダミー用被検試料を吸引してその吸引を停止した後、エアーを吸引することなく前記１回目の測定用被検試料を吸引し、ｎ回目（ｎは２以上の整数）の分注では、前記試料容器から前記ｎ回目の測定用被検試料を吸引することを特徴とする。

本発明によれば、同じ被検試料を複数回分注する場合、１回目の分注ではダミー用被検試料を吸引して停止した後に１回目の測定用被検試料を吸引することができる。そして、ｎ回目の測定用被検試料の量が１回目の測定用被検試料の量と同じである場合、１回目の測定用被検試料と同じ速度でｎ回目の測定用被検試料を吸引することにより、被検試料の分注精度の向上を図ることができる。

以下に、本発明による自動分析装置の実施例を、図１乃至図１０を参照して説明する。

図１は、本発明の実施例に係る自動分析装置の構成を示したブロック図である。この自動分析装置１００は、各検査項目の検量線の作成に用いる標準試料や、被検体から採取された被検試料を測定して標準データや被検データを生成する分析部１８と、分析部１８における各分析ユニットの測定動作の制御を行う分析制御部２５とを備えている。

また、分析部１８で生成された標準データや被検データを処理して各検査項目の検量線の作成や分析データの生成を行うデータ処理部３０と、データ処理部３０で作成された検量線や生成された分析データを出力する出力部４０と、各種コマンド信号の入力等を行う操作部５０と、分析制御部２５、データ処理部３０、及び出力部４０を統括して制御するシステム制御部６０とを備えている。

図２は、分析部１８の構成を示した斜視図である。この分析部１８は、標準試料、被検試料等のサンプルを収容した試料容器１７を回動可能に保持するディスクサンプラ５と、サンプルに含まれる各検査項目の成分に選択的に反応する第１試薬が入った試薬容器６と、この試薬容器６を回動可能に保持する試薬ラック１ａを収納する試薬庫１と、第１試薬と対をなす第２試薬が入った試薬容器７と、この試薬容器７を回動可能に保持する試薬ラック２ａを収納する試薬庫２と、サンプル、第１試薬、及び第２試薬を収容する円周上に複数配置された反応容器３を回転可能に保持する反応ディスク４とを備えている。

また、分析サイクル毎に、試料容器１７からサンプルをサンプル分注プローブ１６内に吸引して反応容器３内に吐出する分注を行うサンプル分注ポンプ１６ａと、試薬庫１の試薬容器６から第１試薬を第１試薬分注プローブ１４内に吸引して反応容器３内に吐出する分注を行う第１試薬分注ポンプ１４ａと、試薬庫２の試薬容器７から第２試薬を第２試薬分注プローブ１５内に吸引して反応容器３内に吐出する分注を行う第２試薬分注ポンプ１５ａとを備えている。

更に、サンプルの分注を行うためにサンプル分注プローブ１６を回動及び上下移動可能に保持するサンプル分注アーム１０と、第１試薬の分注を行うために第１試薬分注プローブ１４を回動及び上下移動可能に保持する第１試薬分注アーム８と、第２試薬の分注を行うために第２試薬分注プローブ１５を回動及び上下移動可能に保持する第２試薬分注アーム９と、サンプルの分注終了毎にサンプル分注プローブ１６を洗浄する洗浄槽１６ｂと、第１試薬の分注終了毎に第１試薬分注プローブ１４を洗浄する洗浄槽１４ｂと、第２試薬の分注終了毎に第２試薬分注プローブ１５を洗浄する洗浄槽１５ｂとを備えている。

更にまた、分析サイクル毎に、反応容器３内に吐出されたサンプル及び第１試薬の混合液や、サンプル、第１試薬、及び第２試薬の混合液を撹拌する撹拌ユニット１１と、反応容器３に収容した各混合液を測定する測光部１３と、反応容器３内の測定を終えた各混合液の吸引や混合液を吸引した後の反応容器３内の洗浄及び乾燥を行う洗浄ユニット１２とを備えている。

そして、測光部１３は、分析サイクル毎に回転移動する反応容器３内の標準試料を含む混合液に光を照射し、その混合液内を透過した各検査項目の波長の光を検出して標準データを生成する。また、反応容器３内の被検試料を含む混合液に光を照射し、その混合液内を透過した各検査項目の波長の光を検出して被検データを生成する。生成した標準データや被検データをデータ処理部３０に出力する。また、測定後の反応容器３、サンプル分注プローブ１６、各第１及び第２試薬分注プローブ１４，１５、撹拌ユニット１１などの各分析ユニットは、洗浄された後、再び測定に使用される。

分析制御部２５は、分析部１８の各分析ユニットを駆動する機構部２５１及びこの機構部２５１を制御する制御部２５２を備えている。そして、機構部２５１は、分析部１８における試薬庫１の試薬ラック１ａ、試薬庫２の試薬ラック２ａ、及びディスクサンプラ５を夫々回動する機構、反応ディスク４を回転する機構、サンプル分注アーム１０、第１試薬分注アーム８、第２試薬分注アーム９、及び撹拌ユニット１１を夫々回動及び上下移動する機構、サンプル分注ポンプ１６ａ、第１試薬分注ポンプ１４ａ、及び第２試薬分注ポンプ１５ａを夫々吸引及び吐出駆動する機構、洗浄ユニット１２を上下移動する機構等を備えている。また、制御部２５２は、機構部２５１の各機構を制御する制御回路を備え、機構部２５１の各機構を制御して分析部１８の各分析ユニットを作動させる。

図１のデータ処理部３０は、分析部１８の測光部１３から出力された標準データや被検データから各検査項目の検量線の作成や分析データの生成を行う演算部３１と、演算部３１で作成された検量線や生成された分析データを保存するデータ記憶部３２とを備えている。

演算部３１は、測光部１３から出力された標準データから各検査項目の検量線を作成して、出力部４０に出力すると共にデータ記憶部３２に保存する。また、測光部１３から出力された被検データに対応する検査項目の検量線をデータ記憶部３２から読み出す。次いで読み出した検量線を用いてその被検データの分析データを生成し、生成した分析データを出力部４０に出力すると共にデータ記憶部３２に保存する。また、データ記憶部３２は、ハードディスクなどを備え、演算部３１から出力された検量線を検査項目毎に保存し、また分析データを被検試料毎に保存する。

出力部４０は、データ処理部３０の演算部３１から出力された検量線や分析データを印刷出力する印刷部４１及び表示出力する表示部４２を備えている。そして、印刷部４１は、プリンタなどを備え、演算部３１から出力された検量線や分析データを予め設定されたフォーマットに従って、プリンタ用紙などに印刷出力する。

また、表示部４２は、ＣＲＴや液晶パネルなどのモニタを備え、演算部３１から出力された検量線やや分析データを表示する。また、ＩＤ及び氏名等の被検体を識別するための被検体情報を入力する被検体情報入力画面、各検査項目の分析条件を入力するための分析条件設定画面、被検試料毎に検査する検査項目を選択入力するための検査項目設定画面等の表示を行う。

操作部５０は、キーボード、マウス、ボタン、タッチキーパネルなどの入力デバイスを備え、各検査項目の分析条件の入力、被検体情報の入力、被検試料毎の検査項目の選択入力、各検査項目の標準試料や被検試料の測定を行わせるための入力を行う。
システム制御部６０は、ＣＰＵ及び記憶回路を備え、操作部５０から入力されたコマンド信号、各検査項目の分析条件、被検体情報、被検試料毎の検査項目などの入力情報を前記記憶回路に記憶した後、これらの入力情報に基づいて、分析部１８の各分析ユニットなどを一定サイクルの所定のシーケンスで測定動作させる制御、検量線の作成、分析データの生成と出力などシステム全体の制御を行う。

以下、図１乃至図１０を参照して、被検試料を分注する自動分析装置１００の動作を説明する。図３は、分析部１８のサンプル分注に関わる各分析ユニットを上から見た図である。図４は、被検試料を分注するサンプル分注工程の構成を示す図である。図５は、サンプル分注工程を構成している第１のサンプル分注工程を示すフローチャートである。図６は、サンプル分注工程を構成している第ｎ（２以上の整数）のサンプル分注工程を示すフローチャートである。

また、図７は、サンプル分注プローブ１６内に被検試料を吸引する動作を示す図である。図８は、被検試料の吸引を説明するための図である。図９は、サンプル分注プローブ１６内にダミー用被検試料及び１回目の測定用被検試料を吸引する速度の一例を示す図である。図１０は、サンプル分注プローブ１６内にｎ回目の測定用被検試料を吸引する速度の一例を示す図である。

図３において、分析部１８のサンプル分注アーム１０は、この回動軸を中心として上停止位置における高さで矢印Ｒ１及びＲ２方向に回動して、サンプル分注プローブ１６を破線で示した円形の軌道に沿って水平移動する。そして、サンプル分注プローブ１６の軌道上におけるディスクサンプラ５の上方に位置する試料吸引位置Ｔ１、反応ディスク４の上方に位置する試料吐出位置Ｔ２、及び洗浄槽１６ｂの上方の試料吸引位置Ｔ１と試料吐出位置Ｔ２の間に位置する洗浄位置Ｔ３の各停止位置で停止する。

また、各停止位置でサンプル分注プローブ１６を上下移動する。そして、試料吸引位置Ｔ１と、ディスクサンプラ５に保持された試料容器１７内の被検試料の吸引が可能な高さである試料吸引高の間を上下移動する。また、試料吐出位置Ｔ２と、反応容器３内の被検試料を吐出する高さである試料吐出高の間を上下移動する。また、洗浄位置Ｔ３と、サンプル分注プローブ１６の内外の洗浄が可能な高さである洗浄高の間を上下移動する。

図４は、被検試料を分注するサンプル分注工程の構成を示した図である。このサンプル分注工程Ｓ１は、試料吸引位置Ｔ１の試料容器１７に収容された被検試料を１回目に分注する第１のサンプル分注工程Ｓ１０と、ｎ回目に分注する第ｎのサンプル分注工程Ｓ３０とにより構成される。そして、システム制御部６０からの指示に基づいて、分析制御部２５の制御部２５２による機構部２５１の各機構の制御により、反応ディスク５、サンプル分注アーム１０、及びサンプル分注ポンプ１６ａ等の各分析ユニットを作動させて被検試料の分注を行う。

第１のサンプル分注工程Ｓ１０は、試料吸引位置Ｔ１に停止した試料容器１７の被検試料を１回目に分注するときに実行する。また、第ｎのサンプル分注工程Ｓ３０は、第１のサンプル分注工程Ｓ１０と同じ要領で同じ被検試料を複数回分注するときのｎ回目の分注のときに実行する。そして、各サンプル分注工程は夫々１分析サイクルの間に実行される。

図５は、サンプル分注工程Ｓ１の第１のサンプル分注工程Ｓ１０を示したフローチャートである。この第１のサンプル分注工程Ｓ１０は、サンプル分注アーム１０の動作により実行されるステップＳ１１，Ｓ１３，Ｓ１６，Ｓ１７，Ｓ１８，Ｓ２０，Ｓ２１、及びサンプル分注ポンプ１６ａの動作により実行されるステップ１２，Ｓ１４，Ｓ１５，Ｓ１９により構成される。また、ステップＳ１２，Ｓ１４，Ｓ１５におけるサンプル分注ポンプ１６ａの吸引動作を図７（ａ）乃至（ｃ）に示す。

サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６をホームポジションである洗浄位置Ｔ３から試料吸引位置Ｔ１へ移動する（ステップＳ１１）。

サンプル分注プローブ１６の移動に並行して、サンプル分注ポンプ１６ａは、図７（ａ）に示すように、サンプル分注プローブ１６内に所定量のエアを吸引する（ステップＳ１２）。

エアの吸引後、サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６を試料吸引位置Ｔ１から下へ移動して、試料容器１７内の測定対象の被検試料の吸引が可能な試料吸引高で停止する（ステップＳ１３）。

サンプル分注プローブ１６の停止後、サンプル分注ポンプ１６ａは、図７（ｂ）に示すように、測定に使用しないダミー用被検試料をサンプル分注プローブ１６内に吸引して停止する（ステップＳ１４）。

停止した後、サンプル分注ポンプ１６ａは、図７（ｃ）に示すように、サンプル分注プローブ１６内に１回目の分注に対応する検査項目の予め設定されたサンプル量の被検試料（１回目の測定用被検試料）を吸引する（ステップＳ１５）。

なお、サンプル分注ポンプ１６ａは、図８に示すように、サンプル分注プローブ１６内及びこのサンプル分注プローブ１６とサンプル分注ポンプ１６ａ間を連通しているチューブ内に封入された水等の圧力伝達媒体を介してエアや被検試料の吸引を行う。そして、サンプル分注プローブ１６内に被検試料を吸引したとき、サンプル分注プローブ１６の内壁に残存した圧力伝達媒体の混入により、吸引された被検試料が希釈されて測定対象成分の濃度が低下する問題がある。

この問題に対して、サンプル分注プローブ１６内の圧力伝達媒体と吸引された１回目の測定用被検試料の間に、エアの層及びダミー用被検試料の層を設けることにより、サンプル分注プローブ１６の内壁に残存する圧力伝達媒体の混入による１回目の測定用被検試料の希釈を低減することができる。

１回目の測定用被検試料の吸引後、サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６を試料吸引高から試料吸引位置Ｔ１へ移動する（ステップＳ１６）。

試料吸引位置Ｔ１への移動後、サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６を試料吐出位置Ｔ２へ移動する（ステップＳ１７）。

試料吐出位置Ｔ２への移動後、サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６を試料吐出位置Ｔ２に停止した反応容器３内の試料吐出高へ移動する（ステップＳ１８）。

サンプル分注プローブ１６の移動後に、サンプル分注ポンプ１６ａは、反応容器３内にサンプル分注プローブ１６内の１回目の測定用被検試料のみを吐出する（ステップＳ１９）。

１回目の測定用被検試料の吐出後、サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６を試料吐出高から試料吐出位置Ｔ２へ移動する（ステップＳ２０）。

試料吐出位置Ｔ２への移動後、サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６をホームポジションへ移動する（ステップＳ２１）。

図６は、サンプル分注工程Ｓ１の第ｎのサンプル分注工程Ｓ３０を示したフローチャートである。この第ｎのサンプル分注工程Ｓ３０は、サンプル分注アーム１０の動作により実行されるステップＳ３１，Ｓ３２，Ｓ３４，Ｓ３５，Ｓ３６，Ｓ３８，Ｓ３９、及びサンプル分注ポンプ１６ａの動作により実行されるステップ３３，Ｓ３７により構成される。また、ステップＳ３３のサンプル分注ポンプ１６ａの吸引動作を図７（ｄ）に示す。

サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６をホームポジションから試料吸引位置Ｔ１へ移動する（ステップＳ３１）。

サンプル分注プローブ１６の移動後、サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６を下へ移動して試料吸引高で停止する（ステップＳ３２）。

サンプル分注プローブ１６の移動後、サンプル分注ポンプ１６ａは、図７（ｄ）に示すように、１回目に吸引したエア及びダミー用被検試料を残した状態で、サンプル分注プローブ１６内にｎ回目の分注に対応する検査項目の予め設定されたサンプル量の被検試料（ｎ回目の測定用被検試料）を吸引する（ステップＳ３３）。

このように、１回目の分注のときに吸引したエア及びダミー用被検試料を、この被検試料の分注が終わるまでサンプル分注プローブ１６内に残すことにより、被検試料の浪費を防いでサンプル分注プローブ１６の内壁に残存する圧力伝達媒体の混入によるｎ回目の測定用被検試料の希釈を低減することができる。

ｎ回目の測定用被検試料の吸引後、サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６を試料吸引高から試料吸引位置Ｔ１へ移動する（ステップＳ３４）。

試料吸引位置Ｔ１への移動後、サンプル分注アーム１０は、サンプル分注分注プローブ１６を試料吐出位置Ｔ２へ移動する（ステップＳ３５）。

試料吐出位置Ｔ２への移動後、サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６を試料吐出位置Ｔ２に停止した反応容器３内の試料吐出高へ移動する（ステップＳ３６）。

サンプル分注プローブ１６の移動後、サンプル分注ポンプ１６ａは、反応容器３内にサンプル分注プローブ１６内のｎ回目の測定用被検試料のみを吐出する（ステップＳ３７）。

ｎ回目の測定用被検試料の吐出後、サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６を試料吐出高から試料吐出位置Ｔ２へ移動する（ステップＳ３８）。

試料吐出位置Ｔ２への移動後、サンプル分注アーム１０は、サンプル分注分注プローブ１６をホームポジションへ移動する（ステップＳ３９）。

そして、同じ被検試料の分注が終了した次の分析サイクルで、洗浄位置Ｔ３の下方に設けた洗浄槽１６ｂで、サンプル分注プローブ１６内のエア及びダミー用被検試料を排出した後、サンプル分注プローブ１６内外を洗浄する。洗浄後に、サンプル分注アーム１０は、サンプル分注プローブ１６をホームポジションに移動して、次の被検試料の分注に備えて待機する。

図９は、サンプル分注プローブ１６内にダミー用被検試料及び１回目の測定用被検試料を吸引する速度の一例を示した図である。
ダミー用被検試料を吸引する場合、試料吸引高でサンプル分注プローブ１６が停止してから待ち時間後の時間ｔ０から時間ｔ１までのダミー用被検試料を吸引する速度を加速する時間帯Ｔｄ１、時間ｔ１から時間ｔ２までの吸引する速度を一定速に保つ時間帯Ｔｄ２、及び時間ｔ２から時間ｔ３までの吸引する速度を減速して停止する時間帯Ｔｄ３に区分される。そして、時間帯Ｔｄ１では、時間ｔ０に速度Ｓｄ１まで立ち上げて、時間ｔ１に速度Ｓｄ２に達するまで加速する。また、時間帯Ｔｄ２では、速度Ｓｄ２に保つ。更に、時間帯Ｔｄ３では、時間ｔ３に速度Ｓｄ１に達するまで減速した後に停止する。

１回目の測定用被検試料を吸引する場合、１回目の分注に対応する検査項目の予め設定されたサンプル量に応じて吸引速度を可変する。ダミー用被検試料の吸引を停止した時間ｔ３から所定時間経過した時間ｔｖ０から時間ｔｖ１までの１回目の測定用被検試料を吸引する速度を加速する時間帯Ｔｖ１、時間ｔｖ１から時間ｔｖ２までの吸引する速度を一定に保つ時間帯Ｔｖ２、及び時間ｔｖ２から時間ｔｖ３までの吸引する速度を減速して停止する時間帯Ｔｖ３に区分される。そして、時間帯Ｔｖ１では、時間ｔｖ０に速度Ｓｖ１に立ち上げて、時間ｔｖ１に速度Ｓｖ２に達するまで加速する。また、時間帯Ｔｖ２では、速度Ｓｖ２に保つ。更に、時間帯Ｔｖ３では、時間ｔｖ３に速度Ｓｖ１に達するまで減速した後に停止する。

図１０は、サンプル分注プローブ１６内にｎ回目の測定用被検試料を吸引する速度の一例を示した図である。
ｎ回目の測定用被検試料を吸引する場合、ｎ回目の分注に対応する検査項目の予め設定されたサンプルの量に応じて吸引速度を可変し、このサンプル量が１回目と同じサンプル量であるとき、１回目の測定用被検試料を吸引する速度と同じ速度でｎ回目の測定用被検試料を吸引する。

１回目と同じサンプル量であるとき、試料吸引高でサンプル分注プローブ１６が停止してから待ち時間後の時間ｔ０から時間ｔｖ４までのｎ回目の測定用被検試料を吸引する速度を加速する時間帯Ｔｖ１、時間ｔｖ４から時間ｔｖ５までの吸引する速度を一定に保つ時間帯Ｔｖ２、及び時間ｔｖ４から時間ｔｖ６までの吸引する速度を減速して停止する時間帯Ｔｖ３に区分される。そして、時間帯Ｔｖ１では、時間ｔ０に速度Ｓｖ１に立ち上げて、時間ｔｖ４に速度Ｓｖ２に達するまで加速する。また、時間帯Ｔｖ２では、速度Ｓｖ２に保つ。更に、時間帯Ｔｖ３では、時間ｔｖ６に速度Ｓｖ１に達するまで減速した後に停止する。

なお、最初の検査で被検試料がｎ回目に分注された検査項目を、例えば再検査により１回目に分注して検査が行われたとき、ｎ回目の分注では、加速、一定速、及び減速により構成される速度で測定用被検試料のみを吸引する。しかしながら、１回目の分注でダミー用被検試料及び１回目の測定用被検試料を一括して吸引すると、図１１に示すように、一定速及び減速により構成される速度で１回目の測定用被検試料を吸引することになる。

このように、１回目とｎ回目の分注で被検試料を吸引する速度が異なると、この速度に応じてサンプル分注プローブ１６の内壁に残存する圧力伝達媒体の量が異なり、１回目とｎ回目の測定用被検試料への圧力伝達媒体の混入量が異なるため、同じ被検試料を複数回分注する場合の分注精度が低下する問題がある。

従って、１回目の分注ではエア及びダミー用被検試料を吸引して停止した後に１回目の測定用被検試料を吸引することにより、１回目の測定用被検試料をｎ回目の測定用被検試料と同様に、加速、一定速、及び減速により構成される速度で吸引することができる。そして、ｎ回目の測定用被検試料の量が１回目の測定用被検試料の量と同じである場合、１回目の測定用被検試料を吸引する速度と同じ速度でｎ回目の測定用被検試料を吸引することができる。

これにより、１回目とｎ回目の測定用被検試料に混入する圧力伝達媒体の混入量の差を低減することが可能となり、同じ被検試料を複数回分注する場合の分注精度の向上を図ることができる。

以上述べた本発明の実施例によれば、同じ被検試料をｎ回分注する場合、１回目の分注ではその被検試料を収容した試料容器１７からダミー用被検試料を吸引して停止した後、１回目の測定用被検試料を吸引して反応容器３内に１回目の測定用被検試料のみを吐出し、ｎ回目の分注ではその試料容器１７からｎ回目の測定用被検試料を吸引して反応容器３内にｎ回目の測定用被検試料のみを吐出することができる。

そして、ｎ回目の測定用被検試料の量が１回目の測定用被検試料の量と同じである場合、１回目の測定用被検試料と同じ速度でｎ回目の測定用被検試料を吸引することができる。これにより、同じ被検試料を複数回分注する場合の分注精度の向上を図ることができる。

本発明の実施例に係る自動分析装置の構成を示す図。 本発明の実施例に係る分析部の構成を示す斜視図。 本発明の実施例に係る分析部のサンプル分注に関わる各分析ユニットを上から見た図。 本発明の実施例に係る被検試料を分注するサンプル分注工程の構成を示す図。 本発明の実施例に係るサンプル分注工程を構成している第１のサンプル分注工程を示すフローチャート。 本発明の実施例に係るサンプル分注工程を構成している第ｎのサンプル分注工程を示すフローチャート。 本発明の実施例に係るサンプル分注プローブ内に被検試料を吸引する動作を示す図。 本発明の実施例に係る被検試料の吸引を説明するための図。 本発明の実施例に係るサンプル分注プローブ内にダミー用被検試料及び１回目の測定用被検試料を吸引する速度の一例を示す図。 本発明の実施例に係るサンプル分注プローブ内にｎ回目の測定用被検試料を吸引する速度の一例を示す図。 背景技術に係る１回目の測定用被検試料を吸引する速度を示す図。

符号の説明

Ｔ１ 試料吸引位置
Ｔ２ 試料吐出位置
Ｔ３ 洗浄位置
３ 反応容器
４ 反応ディスク
５ ディスクサンプラ
１０ サンプル分注アーム
１６ サンプル分注プローブ
１６ａ サンプル分注ポンプ
１６ｂ 洗浄槽
１７ 試料容器
１８ 分析部
２５ 分析制御部
２５１ 機構部
２５２ 制御部
３０ データ処理部

Claims (4)

1. 被検試料及び試薬を反応容器に分注してその混合液を測定する自動分析装置において、
   前記被検試料を収容する試料容器から前記被検試料を分注プローブ内に吸引して前記反応容器内に吐出する分注を行う分注手段と、
   １回目の分注では、前記試料容器からダミー用被検試料を吸引してその吸引を停止した後、エアーを吸引することなく前記１回目の測定用被検試料を吸引し、ｎ回目（ｎは２以上の整数）の分注では、前記試料容器から前記ｎ回目の測定用被検試料を吸引するよう前記分注手段を制御する制御手段と、
   を含むことを特徴とする自動分析装置。
2. 前記制御手段は、前記分注プローブ内に吸引した前記１回目の測定用被検試料のみを前記反応容器内に吐出し、前記分注プローブ内に吸引した前記ｎ回目の測定用被検試料のみを前記反応容器内に吐出するよう前記分注手段を制御することを特徴とする請求項１に記載の自動分析装置。
3. 前記制御手段は、前記反応容器内に吐出する前記ｎ回目の測定用被検試料の量が前記１回目の測定用被検試料の量と同じである場合、前記１回目の測定用被検試料を吸引する速度と同じ速度で前記ｎ回目の測定用被検試料を吸引するよう前記分注手段を制御することを特徴とする請求項２に記載の自動分析装置。
4. 被検試料及び試薬を反応容器に分注してその混合液を測定する自動分析装置の分注方法において、
   前記被検試料を収容する試料容器から前記被検試料を分注プローブ内に吸引して前記反応容器内に吐出する分注を行う分注手段により、
   １回目の分注では、前記試料容器からダミー用被検試料を吸引してその吸引を停止した後、エアーを吸引することなく前記１回目の測定用被検試料を吸引し、
   ｎ回目（ｎは２以上の整数）の分注では、前記試料容器から前記ｎ回目の測定用被検試料を吸引することを特徴とする自動分析装置の分注方法。

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