JP5203342B2 - 渦電流探傷プローブおよびそれを用いた渦電流探傷試験装置 - Google Patents

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本発明は、渦電流探傷プローブおよびそれを用いた渦電流探傷試験装置に関する。
金属管等の導電性部材の内面の傷や亀裂を検出する装置として渦電流探傷試験装置がある。渦電流探傷試験装置は、励磁コイルに磁場を発生させて導電性部材の探傷表面に照射することにより導電性部材の表面および内部に渦電流を誘起させ、導電性部材の傷や亀裂によって生じる渦電流の流れの変化によって生じる磁場を検出コイルに進入させ検出することで傷や亀裂の有無を探傷するものである。
渦電流探傷試験装置において、検出コイルの端面を探傷表面に対向させて配置することにより、探傷表面に発生する渦電流の変化から生じる磁場を検出コイルに軸心として挿嵌されるフェライトコアにコイル軸方向に進入させ、磁場の検出感度を高める渦電流探傷試験装置が開発されている。
検出コイルの端面を探傷表面に対向させて配置する渦電流探傷試験装置は、検出コイルの巻き数を多くするほど磁場の検出感度が高くなるが、コイルの巻き数を多くするほどコイルの直径が大きくなり、その結果、金属管の内側等の凹形状の探傷表面の探傷試験時にはリフトオフといわれる、探傷表面とフェライトコアとの間隔が大きくなり、かえって検出精度の低下を招いていた。
そこで、フェライトコアに金属管内部の形状に沿わせた突出部を設けることにより、リフトオフを探傷試験に適正な値にする技術が開発されている(例えば、特許文献1参照。)。
特開平9−49825号公報
しかしながら、上述した技術は、探傷試験時にフェライトコアの突出部が凹形状の探傷表面にリフトオフを有して嵌り込むため、フェライトコアの突出部の周囲の探傷表面で発生した磁場が四方からフェライトコアの突出部に進入する。その結果、フェライトコアに突出部を設けずに平面の探傷試験をする場合に比べて、傷や亀裂の位置や大きさの詳細を特定しにくくなるなど、渦電流探傷試験の空間分解能の低下を招いていた。
そこで本発明は、検出コイルの端面を探傷表面に対向させて配置する渦電流探傷試験装置において、検出コイルに挿嵌されるフェライトコアと凹形状の探傷表面との間隔であるリフトオフを適正値にするとともに、渦電流探傷試験の空間分解能を高めることができる渦電流探傷プローブおよびそれを用いた渦電流探傷試験装置の提供を目的とする。
上記目的を達成するために、本発明の渦電流探傷プローブは、探傷表面に磁場を照射し探傷表面および内部に渦電流を発生させる励磁コイルと、探傷表面に対して一方の端面を対向させて配置され、渦電流の変化によって生じる磁場を検出する検出コイルと、検出コイルの軸心として設けられる軸心部と検出コイルの探傷表面に対向する端面より突出した突出部とを有する検出コイル用フェライトコアと、検出コイル用フェライトコアの突出部のうち、磁場進入面を除いた面に磁場絶縁部材を介して設けた磁場遮蔽部材とを備えることを特徴とする。
上記目的を達成するために、本発明の渦電流探傷試験装置は、探傷表面に磁場を照射し探傷表面および内部に渦電流を発生させる励磁コイルと、探傷表面に対して一方の端面を対向させて配置され、渦電流の変化によって生じる磁場を検出する検出コイルと、検出コイルの軸心として設けられる軸心部と検出コイルの探傷表面に対向する端面より突出した突出部とを有する検出コイル用フェライトコアと、検出コイル用フェライトコアの突出部のうち、磁場進入面を除いた面に磁場絶縁部材を介して設けた磁場遮蔽部材と、励磁コイルに電気的に接続される電源と、検出コイルに接続される検出機器とを備えることを特徴とする。
本発明によれば、検出コイルの端面を探傷表面に対向させて配置する渦電流探傷試験装置において、検出コイルに挿嵌されるフェライトコアと凹形状の探傷表面との間隔であるリフトオフを適正値にするとともに、渦電流探傷試験の空間分解能を高めることができる。
本発明の実施形態に係る渦電流探傷試験装置を金属管内に配置したときの金属管の長手方向の断面図。 本発明の実施形態に係る渦電流探傷プローブの励磁コイル用フェライトコアおよび検出コイル用フェライトコアを示し、(a)は斜視図、(b)はコイルに挿嵌したときの斜視図。 本発明の実施形態に係る渦電流探傷プローブの磁場照射部を示す図1におけるA−A断面図。 本発明の実施形態に係る渦電流探傷プローブの磁場検出部を示す図1におけるB−B断面図。 本発明の実施形態に係る渦電流探傷プローブの磁場照射部の突出部の例を示す図。
以下、本発明の実施形態を説明する。
(構成)
以下、本発明の実施形態に係る渦電流探傷プローブおよび渦電流探傷試験装置について図1乃至図4を参照して説明する。図1は、本発明の実施形態に係る渦電流探傷試験装置を金属管内に配置したときの金属管の長手方向の断面図である。
渦電流探傷プローブは、探傷プローブ筐体3に磁場照射部1および磁場検出部2を設けることにより構成される。
磁場照射部1は、励磁コイル4と、励磁コイル用フェライトコア5と、磁場絶縁部材6と、磁場遮蔽部材7から構成される。磁場検出部2は、検出コイル8と、検出コイル用フェライトコア9と、磁場絶縁部材10と、磁場遮蔽部材11から構成される。
磁場遮蔽部材7は、励磁コイル4に励磁コイル用フェライトコア5を励磁コイル4の軸心として挿嵌したものの周囲のうち、励磁コイル用フェライトコア5の磁場照射面21を除いた面に励磁コイル4および励磁コイル用フェライトコア5と離間するように磁場絶縁部材6を介して設けられる。
磁場遮蔽部材11は、検出コイル8に検出コイル用フェライトコア9を検出コイル8の軸心として挿嵌したものの周囲のうち、検出コイル用フェライトコア9の磁場進入面22を除いた面に検出コイル8および検出コイル用フェライトコア9と離間するように磁場絶縁部材10を介して設けられる。
ここで、励磁コイル4および検出コイル8は、銅等の導電性金属線を巻き回すことによって構成されるコイルであり、ともに直径30mmの円筒形状である。また、励磁コイル用フェライトコア5、検出コイル用フェライトコア9、磁場遮蔽部材7、11は、鉄やフェライト等の強磁性体材料からなり、磁場絶縁部材6、10は、プラスティック、テフロン(登録商標)、ガラス等の非磁性体からなる。また、金属管100の内径は100mmである。
渦電流探傷試験装置は、渦電流探傷プローブと電源31と検出機器32から構成される。電源31は励磁コイル4に電気的に接続され、検出機器32は検出コイル8に電気的に接続される。
電源31は、励磁コイル4に交流電流やパルス電流等の渦電流を励磁させるための励磁電流を供給する機器であり、検出機器32は、検出コイル4に進入した磁場によって発生した誘起電流の変化から、磁場強度分布を測定し、傷や亀裂の有無を判定する機器である。
図2は、本発明の実施形態に係る渦電流探傷プローブの励磁コイル用フェライトコアおよび検出コイル用フェライトコアを示し、(a)は斜視図、(b)はフェライトコアをコイルに挿嵌したときの斜視図である。
励磁コイル用フェライトコア5は、軸心部5aと突出部5bから構成される。軸心部5aは、励磁コイル4に軸心として挿嵌できる円柱形状である。また、突出部5bは、高さ4mmの円錐台形状であり、下底面と軸心部5aの円柱形状の一方の端面が一体として接着されている。ここで、磁場照射面21は、突出部5bの円錐台形状の上底面である。
検出コイル用フェライトコア9は、励磁コイル用フェライトコア5と同形状の軸心部9aと突出部9bからなる形状であり、磁場進入面22は、突出部9bの円錐台形状の上底面である。
(作用)
以下、本発明の実施形態の作用について説明する。図3は、本発明の実施形態に係る渦電流探傷プローブの磁場照射部を示す図1におけるA−A断面図であり、図4は、本発明の実施形態に係る渦電流探傷プローブの磁場検出部を示す図1におけるB−B断面図である。
探傷試験時には、磁場照射面21および磁場進入面22を金属管100の内側表面に対向させ、検出コイル4および励磁コイル8と金属管100との距離が1mmとなる位置で渦電流探傷プローブを金属管100内部に配置する。
このとき、励磁コイル4および検出コイル8の直径が30mmであるので、励磁コイル4および検出コイル8の端面と金属管100内側表面との距離は約5mmとなるから、励磁コイル用フェライトコア5および検出コイル用フェライトコア9の突出部5b、9bは高さを4mmの円錐台形状として、磁場照射面21および磁場進入面22と金属管100内側の探傷表面との間隔であるリフトオフ41、42を渦電流探傷の適正値である約1mmとする。
電源31によって励磁コイル4に渦電流を励磁させるための励磁電流を流すと、励磁コイル4および励磁コイル用フェライトコア5から外方へ向かう照射磁場51が発生する。
照射磁場51のうち、磁場遮蔽部材7が設けられる面を通って外方に向かおうとするものは、磁場遮蔽部材7内に流れ込み、磁場遮蔽部材7の透磁率は磁場遮蔽部材7の周囲の空気より高いため、照射磁場51は磁場遮蔽部材7内に留まり、磁場遮蔽部材7より外方へは漏洩しない。したがって、励磁コイル4によって発生した照射磁場51は、磁場照射面21のみから金属管100の内側表面に照射される。
磁場照射面21から照射された照射磁場51によって金属管100の内側表面および内部に渦電流が励起し、金属管100に傷や亀裂があるとき、この渦電流が変化し、検出磁場52が生じる。
検出磁場52のうち、検出コイル8および検出コイル用フェライトコア9に対して磁場遮蔽部材11が設けられる面を通って進入しようとするものは、磁場遮蔽部材11内に流れ込み、磁場遮蔽部材11の透磁率は磁場絶縁部材10より高いため、検出磁場52は磁場遮蔽部材11内に留まり、検出コイル8および検出コイル用フェライトコア9へは進入しない。したがって、検出磁場52は、磁場進入面22のみから検出コイル用フェライトコア9に進入する。つまり、金属管100の内側表面のうち磁場進入面22に対向した面およびその近傍において発生した検出磁場52のみが検出コイル用フェライトコア9に進入する。
検出コイル用フェライトコア9へ進入した検出磁場52によって検出コイル8に誘起電流が生じる。検出機器32は、検出コイル8で生じた誘起電流を検知し、磁場強度分布を測定し、基準値と比較して傷や亀裂の有無を判定する。
なお、磁場照射部21は、直径が98mmである励磁コイル4をコイル軸方向を金属管の長手方向と平行となるように配置し、励磁コイル用フェライトコア5の形状を突出部5bを省いた形状とする構成としてもよい。このとき、金属管100の直径100mmに対して励磁コイル4の直径が98mmであるので、金属管100と励磁コイル4のリフトオフは適正値の1mmとなる。
(効果)
本実施形態によれば、検出コイル用フェライトコア9の突出部9bによって、金属管100の内側表面と磁場進入面22との距離であるリフトオフ42を探傷試験に適正な値とすることができる。
また、金属管100の内側表面のうち磁場進入面22に対向した面およびその近傍において発生した検出磁場52のみによって渦電流探傷試験を行うことができるため、磁場遮蔽部材11を設けない場合に比べて空間分解能を高めることができる。
さらに、照射磁場51は、磁場照射面21のみから金属管100の内側表面に照射されるめ、照射磁場51が直接検出コイル8に進入して検出磁場52と干渉することを防ぐことができる。
なお、本発明の実施形態は上述した実施の形態に限られないことは言うまでもない。例えば、検出コイル4および励磁コイル8の直径は、金属管100の直径や求める検出感度に応じて適宜変更可能であるし、励磁コイル用フェライトコア5および検出コイル用フェライトコア9の突出部5b、9bの円錐台形状の高さも、金属管100の形状に応じて探傷試験に適正なリフトオフ41、42をとることができる高さに適宜変更するものとする。
図5は、本発明の実施形態に係る渦電流探傷プローブの磁場照射部の突出部の例を示す図である。本実施形態の磁場照射部1が探傷可能な凹形状の探傷表面は、上述した円筒内側形状に限られず、片側が窪んだような階段形状や、角形状の溝の内部、連続した凹凸形状等が探傷可能である。このとき、磁場照射部1の励磁用フェライトコア5の突出部5bは、それぞれの凹形状の探傷表面に対して探傷試験に適正なリフトオフを有して嵌り入れることができる形状とする。同様に磁場検出部2も、検出用フェライトコア9の突出部9bを凹形状の探傷表面に対して探傷試験に適正なリフトオフを有して嵌り入れることができる形状とすることで、様々な凹形状の探傷が可能となる。
また、磁場照射面21および磁場進入面22の位置および面積は、求める探傷範囲に応じて磁場絶縁部材6、10および磁場遮蔽部材7、11を設ける位置や面積を変えることによって適宜変更可能であるし、金属管100の内側表面に沿った曲面形状としてもよい。
また、磁場遮蔽部材7は、少なくとも励磁コイル用フェライトコア5の突出部5bのうち、磁場照射面21を除いた面、すなわち円錐台形状の側周面に設けられていれば、空間分解能を高めることができる。同様に、磁場遮蔽部材11も、少なくとも検出コイル用フェライトコア9の突出部9bのうち、磁場進入面22を除いた面、すなわち円錐台形状の側周面に設けられていれば、空間分解能を高めることができる。
また、磁場絶縁部材6は、磁場遮蔽部材7を励磁コイル4および励磁コイル用フェライトコア5から離間して設けられれば、磁場遮蔽部材7を設ける面下全体に設けなくてもよい。同様に、磁場絶縁部材10は、磁場遮蔽部材11を検出コイル8および検出コイル用フェライトコア9から離間して設けられれば、磁場遮蔽部材11を設ける面下全体に設けなくてもよい。
また、磁場照射部1および磁場検出部2は、予め巻線した励磁コイル4および検出コイル8に励磁コイル用フェライトコア5および検出コイル用フェライトコア9の軸心部5a、9aを挿嵌して構成する場合に限られず、軸心部5a、9aに導電性金属線を巻線して励磁コイル4および検出コイル8を形成することにより構成してもよい。
1・・・磁場照射部
2・・・磁場検出部
3・・・渦電流探傷プローブ筐体
4・・・励磁コイル
5・・・励磁コイル用フェライトコア
5a・・・軸心部
5b・・・突出部
6・・・磁場絶縁部材
7・・・磁場遮蔽部材
8・・・検出コイル
9・・・検出コイル用フェライトコア
9a・・・軸心部
9b・・・突出部
10・・・磁場絶縁部材
11・・・磁場遮蔽部材
21・・・磁場照射面
22・・・磁場進入面
31・・・電源
32・・・検出機器
41・・・リフトオフ
42・・・リフトオフ
51・・・照射磁場
52・・・検出磁場
100・・・金属管

Claims (6)

  1. 探傷表面に磁場を照射し探傷表面および内部に渦電流を発生させる励磁コイルと、
    前記探傷表面に対して一方の端面を対向させて配置され、前記渦電流の変化によって生じる磁場を検出する検出コイルと、
    前記検出コイルの軸心として設けられる軸心部と前記検出コイルの前記探傷表面に対向する端面より突出した突出部とを有する検出コイル用フェライトコアと、
    前記検出コイル用フェライトコアの前記突出部のうち、磁場進入面を除いた面に磁場絶縁部材を介して設けた磁場遮蔽部材とを備えることを特徴とした渦電流探傷プローブ。
  2. 前記磁場遮蔽部材をさらに前記検出コイルの周囲のうち少なくとも前記探傷表面に対向する端面に磁場絶縁部材を介して設けたことを特徴とする請求項1に記載の渦電流探傷プローブ。
  3. 前記検出コイル用フェライトコアの前記突出部は、前記磁場進入面と凹形状の前記探傷表面とが所定の間隔となる形状であることを特徴とした請求項1または請求項2に記載の渦電流探傷プローブ。
  4. 前記磁場進入面は、円筒内側形状の前記探傷表面に沿った曲面形状であることを特徴とした請求項1乃至請求項3に何れか一項記載の渦電流探傷プローブ。
  5. 前記励磁コイルは、前記探傷表面に対して一方の端面を対向させて配置され、
    前記励磁コイルの軸心として設けられる軸心部と前記励磁コイルの前記探傷表面に対向する端面より突出した突出部とを有する励磁コイル用フェライトコアを備え、
    前記磁場遮蔽部材をさらに前記励磁コイル用フェライトコアの前記突出部のうち、磁場照射面を除いた面に磁場絶縁部材を介して設けたことを特徴とした請求項1乃至請求項4に何れか一項記載の渦電流探傷プローブ。
  6. 請求項1乃至請求項5に何れか一項記載の渦電流探傷プローブと、
    前記渦電流探傷プローブの前記励磁コイルに電気的に接続され、前記励磁コイルに励磁電流を供給する電源と、
    前記渦電流探傷プローブの前記検出コイルに電気的に接続され、前記検出コイルで検出した前記磁場の変化を分析する検出機器と、
    を備えたことを特徴とする渦電流探傷試験装置。
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