JP2009092388A - 渦流探傷プローブ - Google Patents
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Abstract
【解決手段】導電性被検体の検知表面上を相対的に移動して、該導電性被検体の探傷を行う自己比較方式の渦流探傷プローブにおいて、所定の間隔をあけて配設された一対の検出コイル14a,14bの移動方向前方側及び後方側にそれぞれ位置するように、透磁性材料又は導電性材料からなる一対のシールド体16a,16bを、それぞれ、一対の検出コイル14a,14bに接触しないようにして近接配置せしめ、且つ、一対のシールド体16a,16bの外周面を、一対の検出コイル14a,14bの外周面と面一となるように配置せしめて、少なくとも一対のシールド体16a,16bから移動方向の外方に向かう磁束が遮蔽されるように構成した。
【選択図】図2
Description
図2に示される如き構造の相互誘導形自己比較方式の内挿型の渦流探傷プローブを用いて、導電性被検体である薄肉アルミニウム管(外径:60mm、肉厚:1mm)の傷検査(特に、凹み傷検査)を行った。
した。かかる図14中、●は、実施例1(フェライトのシールド体)、■は、実施例2(アルミニウム合金のシールド体)、○は、比較例1(シールド体無し)を、それぞれ、示している。なお、ΔΦは、測定電圧(数十mV〜数百mVオーダーで、探傷器の増幅度は
数万〜数十万倍;約90dB〜106dB)で、次式(I)を用いて逆算した。また、当該実施例の傷(凹み)を検出する場合、ΔΦは、一般に、3×10-14〜12×10-14
(Wb/turn)のオーダーとなる。
V=−j・2π・n・f・ΔΦ ・・・ (I)
(ここで、上記式(I)中、j:虚数単位(j2=−1)、n=35(ターン)、f=100000(Hz)とした。)
ーが異なっており)、管端の影響を強く受けていることが認められた。一方、シールド体が設けられた実施例1及び実施例2に係るプローブを用いた場合には、管端近傍のX=10mmでも、ΔΦが殆ど変化しておらず、傷(凹み)による磁束変化分のみが検出コイル
間に現れ、探傷が正常に行われていることがわかった。即ち、実施例1及び実施例2を比較例1と比べると、不感帯が短くなっている。
ため有利であると言えるのであるが、実施例1と実施例2を比較すると、透磁性材料(フェライト)を用いた実施例1の方が、導電性材料(アルミニウム合金)を用いた実施例2よりも、ΔΦが大きく、検出感度が高いことが、認められた。なお、検出感度は劣るもの
の、管端の影響を軽減させる目的には、導電性材料でも充分にその効果が発現され得ることがわかった。
図2に示される如き構造の相互誘導形自己比較方式の内挿型の渦流探傷プローブを用いて、シールド体の厚みの影響を、バランス点の変化を測定することにより調べた。
図2に示される如き構造の相互誘導形自己比較方式の内挿型の渦流探傷プローブを用いて、シールド体と検出コイルの間隔の影響を、検出コイルの1ターン当たりを貫く磁束の差(ΔΦ)を測定することにより調べた。
、得られた結果を、図19(実施例6:フェライト)又は図20(実施例7:アルミニウム合金)のグラフにプロットした。
12、55,70,84,86 励磁コイル
14a,14b,54a,54b,56a,56b,58a,58b,62a,62b,72a,72b,88a,88b,90a,90b 検出コイル
16a,16b,63(63a,63b),74a,74b,92(92a,92b),94(94a,94b),96(96a,96b),98,100 シールド体
18,78a,78b ホルダ部 20,76 ボビン
22 配線用穴 28 ホルダ先端部
30 ホルダ基部 32,34 フランジ部
36 凹陥部 38 係合突部
40 ピン 42 ケーブル
44 カバー部 48 金属管
50 管端 52 内表面
60 外表面 64 金属板
66 上面
68 相互誘導形自己比較方式の貫通型の渦流探傷プローブ
80a,80b シールド体の内周面 82a,82b 検出コイルの内周面
Claims (8)
- 導電性被検体の検知表面上を相対的に移動して、該導電性被検体の探傷を行う自己比較方式の渦流探傷プローブであって、
前記導電性被検体に対する相対的な移動方向において所定の間隔をあけて配設された一対の検出コイルを有すると共に、該一対の検出コイルの移動方向前方側及び後方側にそれぞれ位置するように、透磁性材料又は導電性材料からなる一対のシールド体を、それぞれ、該一対の検出コイルに接触しないようにして近接配置せしめ、且つ、該一対のシールド体の前記検知表面側の面を、該検知表面に対して該一対の検出コイルの検知表面側の面と面一となるように、若しくは該検知表面に対して該一対の検出コイルの検知表面側の面よりも突き出た状態で近接するように、配置せしめて、少なくとも該一対のシールド体から前記移動方向の外方に向かう磁束が遮蔽されるように構成したことを特徴とする渦流探傷プローブ。 - 前記一対のシールド体が、前記導電性被検体の検知表面とは反対側の端部において、前記一対の検出コイルに接触しない状態で相互に連結されて、一体化せしめられ、前記一対の検出コイルが、該導電性被検体の検知表面側を除いて、該一体化されたシールド体により取り囲まれるように構成されている請求項1に記載の渦流探傷プローブ。
- 励磁コイルが、前記一対の検出コイルに接触せず且つ近接した状態で、該一対の検出コイル間に配設され、該励磁コイルが磁場を発生せしめる一方、該一対の検出コイルが、該磁場によって前記導電性被検体に生ずる渦電流の変化を検出するようにした、相互誘導形自己比較方式の渦流探傷プローブである請求項1又は請求項2に記載の渦流探傷プローブ。
- 励磁コイルが、前記一対の検出コイルに接触せず且つ近接した状態で、該一対の検出コイルの周りを取り囲むように配設され、該励磁コイルが磁場を発生せしめる一方、該一対の検出コイルが、該磁場によって前記導電性被検体に生ずる渦電流の変化を検出するようにした、相互誘導形自己比較方式の渦流探傷プローブである請求項1又は請求項2に記載の渦流探傷プローブ。
- 前記一対の検出コイルが、磁場を発生せしめると共に、該磁場によって前記導電性被検体に生ずる渦電流の変化を検出する、自己誘導形自己比較方式の渦流探傷プローブである請求項1又は請求項2に記載の渦流探傷プローブ。
- 同軸的に配置された前記一対の検出コイルが、前記導電性被検体の内部に挿入されて、該導電性被検体を探傷する、内挿型の渦流探傷プローブである請求項1乃至請求項5の何れか1項に記載の渦流探傷プローブ。
- 同軸的に配置された前記一対の検出コイルに、前記導電性被検体を貫通せしめて、該導電性被検体を探傷する、貫通型の渦流探傷プローブである請求項1乃至請求項5の何れか1項に記載の渦流探傷プローブ。
- それぞれの中心軸が平行となるように配置された前記一対の検出コイルを、前記導電性被検体の検知表面に対して該中心軸がそれぞれ交差するように相対的に移動せしめて、該導電性被検体を探傷する、上置型の渦流探傷プローブである請求項1乃至請求項5の何れか1項に記載の渦流探傷プローブ。
Priority Applications (1)
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JP2007260303A JP2009092388A (ja) | 2007-10-03 | 2007-10-03 | 渦流探傷プローブ |
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ID=40664528
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